TWI418978B - 測試裝置 - Google Patents

Description

測試裝置

本發明有關於一種測試裝置，且特別是有關於一種測試裝置及其測試方法。

主機板生產維修過程中，經常需要量測主機板上的多個連接器的品質。通常是通過量測連接器上信號的保護二極體值，並與一標準板上對應信號的標準保護二極體值進行比較，從而判斷哪個或哪些信號不良。

保護二極體就是起保護作用的二極體(Clamp Diode)，一般的IC晶片在晶片的非核心部分都設計了一些二極體線路，目的是為了保護晶片的核心部分。

測量二極體的具體操作就是萬用表，然後利用與萬用表連接的探針來測得保護二極體的阻抗值。利用歐姆定律，阻抗並聯阻抗下降，阻抗串聯阻抗上升，從測得的阻抗值，來判斷信號點接到各零件間是否有開路或短路。若測得的阻抗值過高或無阻值，便可順著線路尋找是否為線路開路或元件空焊，如果沒有任何焊接工藝或PCB板本身的問題，則可能為零件不良。若測得的阻抗值過低，就尋找是否與其他信號短路，再判斷是否為零件短路或者PCB線路短路。

然而，由於PCI插槽、PCIe X16插槽、及記憶體插槽，這些插槽的接腳數目都為100以上，想迅速找出哪個或哪些信號品質不良比較困難，因此造成維修時間較長，且操作步驟較為繁瑣。

本發明提供一種測試裝置及其測試方法，以解決上述問題。

本發明提供的具有自動切換功能的測試裝置，配合萬用表來測試主機板的第一連接器，第一連接器具有多個第一接腳，測試裝置耦接電腦裝置。測試裝置包括多個第二接腳、開關單元以及控制器。這些第二接腳用以分別耦接第一連接的這些第一接腳。開關單元耦接第二接腳。控制器耦接開關單元，且接收來自於電腦裝置的控制信號，控制器依據控制信號來控制開關單元的操作，使得測試裝置配合萬用表來測試第一連接器，且萬用表提供測試值至電腦裝置。

本發明另提供的一種測試方法，利用測試裝置與萬用表測試主機板的第一連接器。第一連接器具有多個第一接腳。測試裝置包括多個第二接腳、開關單元以及控制器。該些第二接腳分別耦接第一連接器的該些第一接腳。開關單元耦接該些第二接腳。測試方法包括以下步驟：接收控制信號；依據控制信號來控制開關單元的操作，以分別測試第一連接器的該些第一接腳的其中之一，使得測試裝置配合萬用表來測試第一連接器，萬用表提供測試值；以及比較測試值與預設值。

本發明的有益效果在於：本發明提供了一種連接器測試裝置，連接至待測試的第一連接器上。測試裝置包括開關單元，依次接通測試裝置上的多個第二接腳，以分別測試第一連接器上的多個第一接腳，達到了自動切換功能，省卻了人力控制，節省測試時間、提高了工作效率。本發明提供的測試裝置，採用了模組化設計，結構簡單，易於操作。測試裝置可以採用轉接板連接至多種類型的第一連接器上，用以測試多種第一連接器，節省測試費用。測試裝置採用了形象化的方式顯示測試結果，提供操作者易於識別的顯示介面，讓操作者能夠迅速發覺測試未通過的第一接腳。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

圖1為本發明一較佳實施例的測試裝置的功能方塊示意圖。

本實施例提供的測試裝置100可用來測試主機板200上的第一連接器201。第一連接器201可以是記憶體插槽、顯示卡插槽、擴充卡插槽、或周邊裝置介面卡插槽。

第一連接器201具有多個第一接腳202。測試裝置100通過插設在第一連接器201上，電性連接這些第一接腳202，以測試這些第一接腳202，以取得關於第一連接器201的第一接腳202的測試結果。

本實施例所提供的測試裝置100包括第二連接器101、開關單元103以及控制器104。第二連接器101具有多個第二接腳102，測試裝置100的第二連接器101配合於主機板200的第一連接器201，當第二連接器101插設於第一連接器201上時，多個第二接腳102分別耦接這些第一接腳202。

開關單元103耦接這些第二接腳102，開關單元103較佳地具有多個開關晶片1031，一個開關晶片1031可以分別控制多個(比如8個)第二接腳102的信號連通。本技術領域具有通常知識者可以根據需要設置多個開關晶片1031，在本發明中不予限制。

控制器104耦接開關單元103，用來依據外部裝置所提供的控制信號來控制開關單元103的連通或斷開，以通過所連通的第二連接器101測試第一連接器201的第一接腳202，其中外部裝置可為電腦裝置(圖未示)。控制信號較佳地為控制開關單元103依次連通這些第二接腳102。

在本實施例中，測試裝置100還包括接口105，接口105也耦接開關單元103。通過開關單元103依次連通多個第二接腳102，接口105能夠通過第二接腳102依次耦接至第一接腳202。因此，接口105的電位與跟其耦接的第一接腳202的電位相同。

圖2為本發明一較佳實施例的測試裝置應用時的結構示意圖。

在本實施例中，測試裝置100是直接插設在主機板200上的第一連接器201上的。

請結合參考圖1和圖2，電腦裝置300通過第一傳輸線301連接至測試裝置100，電腦裝置300並發出控制信號至控制器104，使得控制器104依據控制信號控制開關單元103依次自動連通和斷開。

將測試裝置100連接至主機板200的第一連接器201之後，使用萬用表400以獲得測試值。測試裝置100透過萬用表400與一第一探針(又稱黑表筆)402耦接電腦裝置300。第一探針402分別耦接測試裝置100與萬用表400，其中萬用表400的第一探針402耦接至測試裝置100的接口105(如圖1中所示)。萬用表400耦接電腦裝置300。萬用表400還耦接第二探針(又稱紅表筆)401，第二探針401耦接主機板200之接地點(接地端)。

萬用表400還通過第二傳輸線302耦接至電腦裝置300，用以傳輸測試值至電腦裝置300。電腦裝置300包括有一儲存單元(圖未示)，其儲存有第一連接器201的測量預設值。電腦裝置300可比較測試值與預設值，來判斷第一連接器201的各個第一接腳202的性能是否良好。

圖3為本發明另一較佳實施例的測試裝置應用時的結構示意圖。

在本實施例中，測試裝置100包括第一轉接板501和第二轉接板502。

請結合參考圖1和圖3，在實際操作中，主機板200的第一連接器201可以是多種規格，例如第一連接器201可為記憶體插槽、顯示卡插槽、擴充卡插槽、或周邊裝置介面卡插槽。測試裝置100可根據第一連接器201的不同規格，利用第一轉接板501或第二轉接板502插設在主機板200上。

在本實施例中，主機板200包括第一連接器201和第三連接器203，第三連接器203的規格不同於第一連接器201。第一轉接板501的一端規格與第二連接器101相適應，另一端規格與第一連接器201相適應；第二轉接板502的一端與第二連接器101相適應，另一端與第三連接器203相適應。第一轉接板501和第二轉接板502內均具有多個電性通道(圖未示)，用於耦接其兩端連接的連接器。

需要耦接第一連接器201時，測試裝置100的第二連接器101利用第一轉接板501耦接第一連接器201。在測試裝置100的第二連接器101的規格不變的情況下，需要耦接第三連接器203時，測試裝置100可以通過第二轉接板502耦接至第三連接器203。

圖4為本發明一較佳實施例應用測試裝置測試連接器的測試方法流程圖。

請結合參考圖1、圖2和圖4，本實施例揭露的測試方法包括以下步驟：

步驟S401：接收控制信號。測試裝置100通過第一傳輸線301耦接至電腦裝置300，電腦裝置300將控制信號傳輸至測試裝置100的控制器104。

步驟S402：控制器104依據控制信號來控制開關單元103的操作，使得測試裝置100配合萬用表400來測試第一連接器201，且萬用表400提供一測試值至電腦裝置300。亦即，控制器104控制開關單元103依次連通至第二接腳102之一。控制信號為依次控制開關單元103內的開關晶片1031依次開啟和關閉，以分別連通至第二接腳102之一，且透過上述連通的第二接腳102傳送信號至與其相連接的第一接腳202。藉此，測試裝置100通過萬用表400測量第一接腳202，以獲得測試值，萬用表400再提供上述測試值至電腦裝置300。亦即，萬用表400可通過這個第二接腳102測試其所對應耦接的第一接腳202的二極體值，以獲得測試值。

舉例來說，在本實施例中，通過使用萬用表400測試接通的第一接腳202的二極體值。萬用表400的第一探針402耦接至接口105，由於接口105始終耦接開關單元103，因此當開關單元103接通至某個第二接腳102上時，第一探針402通過這個第二接腳102耦接至其對應耦接的第一接腳202。

萬用表400的第二探針401連接至主機板200的第一連接器201的接地端，這個接地端可以位於第一連接器201上，也可以位於主機板200與第一連接器201接地端電位相同的電性連接部。

本步驟中的測試值為第二接腳102對應的二極體值。萬用表400通過第二傳輸線302將測試值傳輸至電腦裝置

步驟S403：電腦裝置300比較第一接腳202對應的測試值與預設值，並產生測試結果。電腦裝置300內儲存有各個第一接腳202的預設值(即第一接腳202標準二極體值)。接收到測試值之後，電腦裝置300比較測試值與預設值，以判斷第一接腳202是否符合工藝要求。測試結果包含各個第一接腳202的位置序號和比較結果。

關於這一步驟的詳細描述，請參見圖5。圖5為圖4中步驟S403的詳細描述。

S501：判斷測試值與預設值的差值是否在預設範圍內。電腦裝置300依次比較各個第一接腳202所對應的測試二極體值和預設值，並判斷測試二極體值與預設值的差值是否在一定範圍內。

預設範圍可以設定為在預設值的[1-0.5%,1+0.5%)範圍內。當工藝要求不同的時候，預設範圍可以相應地改變。

當步驟S501的結果為否，判斷測試值對應的第一接腳202為測試不通過(步驟S502)。當步驟S501的結果為是，判斷測試值對應的第一接腳202為測試通過(步驟S503)。

步驟S404：顯示測試結果。本實施例中，通過電腦裝置300根據步驟S404的比較結果，顯示測試結果。電腦裝置300可以通過顏色來顯示比較結果。例如，紅色表示測試未通過，綠色表示測試通過。

關於電腦裝置300的顯示方法，請參見圖6。

圖6為本發明一較佳實施例中測試結果的顯示介面示意圖。有關其說明，敬請一併參照圖1。

顯示介面600包括多個方格(A1-10、A11-20、…)，每個方格依次代表一個第一接腳202，例如A1-10這個方格序列，就是依次代表了第一連接器201上的第1-10個第一接腳202。通過方格來顯示第一接腳202位置序號的同時，還可以利用顏色或樣式來顯示各個第一接腳202的比較結果。例如，測試未通過的第一接腳202相應方格(例如是A3)內有陰影，測試通過的第一接腳202相應方格(例如是A4、A5等)為空白。利用顏色來區分的方式與上述方式類似。

本發明較佳實施例提供了一種連接器測試裝置，連接至待測試的第一連接器上。測試裝置包括開關單元，依次接通測試裝置上的多個第二接腳，以分別測試第一連接器上的多個第一接腳，達到了自動切換功能，省卻了人力控制，節省測試時間、提高了工作效率。本發明提供的測試裝置，採用了模組化設計，結構簡單，易於操作。測試裝置可以採用轉接板連接至多種類型的第一連接器上，用以測試多種第一連接器，節省測試費用。測試裝置採用了形象化的方式顯示測試結果，提供操作者易於識別的顯示介面，讓操作者能夠迅速發覺測試未通過的第一接腳。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100．．．測試裝置

101．．．第二連接器

102．．．第二接腳

103．．．開關單元

1031．．．開關晶片

104．．．控制器

105．．．接口

200．．．主機板

201．．．第一連接器

202．．．第一接腳

203．．．第三連接器

300．．．電腦裝置

301．．．第一傳輸線

302．．．第二傳輸線

400．．．萬用表

401．．．第二探針

402．．．第一探針

501．．．第一轉接板

502．．．第二轉接板

600．．．顯示介面

S401~S404、S501~S503．．．步驟

圖1為本發明一較佳實施例的測試裝置的功能方塊示意圖。

圖2為本發明一較佳實施例的測試裝置應用時的結構示意圖。

圖3為本發明另一較佳實施例的測試裝置應用時的結構示意圖。

圖4為本發明一較佳實施例應用測試裝置測試連接器的測試方法流程圖。

圖5為圖4中步驟S403的詳細描述。

圖6為本發明一較佳實施例中測試結果的顯示介面示意圖。

100．．．測試裝置

101．．．第二連接器

102．．．第二接腳

103．．．開關單元

1031．．．開關晶片

104．．．控制器

105．．．接口

200．．．主機板

201．．．第一連接器

202．．．第一接腳

Claims (11)

1. 一種測試裝置，配合一萬用表來測試一主機板的一第一連接器，該第一連接器具有多個第一接腳，該測試裝置耦接一電腦裝置，該測試裝置包括：多個第二接腳，分別耦接該第一連接器的該些第一接腳；一開關單元，耦接該些第二接腳；以及一控制器，耦接該開關單元，且接收一來自於該電腦裝置的控制信號，該控制器依據該控制信號來控制該開關單元的操作，使得該測試裝置配合該萬用表來測試該第一連接器，且該萬用表提供一測試值至該電腦裝置，其中，該測試裝置還包括一接口，該接口耦接該開關單元，該測試裝置通過該萬用表分別測量該些第一接腳的二極體值以獲得該測試值，該萬用表的一第一探針耦接該接口，該萬用表的一第二探針耦接該第一連接器的接地端。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該控制器控制該開關單元依次連通該些第二接腳，以通過所連通的第二接腳測試該第二接腳所對應的第一接腳，使得該萬用表提供該測試值至該電腦裝置。
3. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該電腦裝置還儲存有一預設值，該電腦裝置比較該測試值與該預設值，當該測試值與該預設值的差值在一預設範 圍內，則所測試之該第一接腳測試通過。
4. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該控制器通過一第一傳輸線耦接該電腦裝置，用來接收該控制信號。
5. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該測試裝置透過該萬用表與一第一探針耦接該電腦裝置。
6. 如申請專利範圍第5項所述之測試裝置，其中該第一探針分別耦接該測試裝置與該萬用表，該萬用表耦接該電腦裝置。
7. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該萬用表耦接一第二探針，該第二探針耦接該主機板之一接地點。
8. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該萬用表通過一第二傳輸線耦接該電腦裝置，以將該測試值傳輸至該電腦裝置。
9. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該測試裝置還包括一第一轉接板，該些第二接腳通過該第一轉接板耦接該第一連接器。
10. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，該主機板還包括一第三連接器，該第三連接器的規格與該第一連接器的規格不同，其中該測試裝置還包括一第二轉接板，該些第二接腳通過該第二轉接板耦接該第三連接器，以測試該第三連接器。
11. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該第一 連接器是記憶體插槽、顯示卡插槽、擴充卡插槽、或周邊裝置介面卡插槽。