TWI379527B

TWI379527B - Periodic calibration for communication channels by drift tracking

Info

Publication number: TWI379527B
Application number: TW094101310A
Authority: TW
Inventors: Craig E Hampel; Frederick A Ware; Richard E Perego
Original assignee: Rambus Inc
Priority date: 2004-01-28
Filing date: 2005-01-17
Publication date: 2012-12-11
Also published as: US20220278759A1; US20150063433A1; US10819447B2; US9160466B2; US7400670B2; WO2005072299A3; WO2005072299A2; US20190349097A1; TW200601718A; US20200195357A1; US11664907B2; US20050163202A1; US20170317768A1; US8165187B2; US8929424B2; US20150256325A1; US20070230549A1; US20230388028A1; US20140133536A1; US20120236917A1

Description

月f曰修正替換頁 1379527 ' (1) 九、發明說明【發明所屬之技術領域】本發明係有關系統，包含介同步系統中之通訊通道參數之校準，其中，二（或更多）組成件經由互接通訊鏈通訊；及計及通訊通道之操作期間中有關此等參數之條件漂移所需之校準。【先前技術】在介同步通訊通道中，一基準時脈普通提供頻率及相位資訊給通訊鏈之任一端處之二組成件。一組成件上之發射機及另一組成件上之接收機各連接至通訊鏈。發射機及接收機操作於不同之時脈領域，此等與基準時脈具有隨意 (但固定）之相位關係。選擇發射機及接收機間之相位關係，俾由自發射機通過至接收機之信號波前所見之傳播延遲不構成發訊率之時間預算。而是，發訊率主要由發射機之驅動窗及接收機之抽樣窗決定。發訊率亦受各種第二級效應之影響。此系統以介同步方式定時，二組成件鎖定於與基準時脈相關之特定相位，及每一通訊鏈之驅動時間點及抽樣時間點固定於使發訊率最大化之相位値。此等固定相位値可由多種方法決定。一側頻帶通訊鏈可伴隨資料通訊鏈，使相位資訊可傳輸於發射機及接收機之間。或且，當系統爲第一特定動力時，可使用一初始化程序，由設定一發射驅動時間點決定適當之相位値，並執行一校準程序，此包含發送校準圖案通過實際通訊鏈至接 -5- 月，修正替換頁 1379527 (2) . 收機，並調整接收抽樣時間點，直至在接收機處成功抽樣 i 資料爲止。一旦每一通訊鏈之驅動時間點及抽樣時間點固定，該系統即可開始正常操作。設計在初始化上用以建立適當相位値之校準程序，俾在廣大不同之環境條件及通訊鏈上廣大不同之操作條件上提供可靠之結果。爲提供可靠之結果，校準程序發送校準圖案，此包含許多資料，且花費相當多時間。 • 校準程序使用具有長或許多代碼之圖案，設計在發現接受校準之參數之通過區之最壞情形之前邊緣及最壞情形之後邊緣，諸如上述之驅動時間點及抽樣時間點。邊緣値爲包括例如矽處理變化之許多系統參數，及諸如竄擾，端電阻精確度，系統板阻抗，模組阻抗，蹤跡長度，連接器位置等封裝參數之一函數。除此等變數之不確定性外，製造最壞情況符號間干擾或諧掁所需之圖案可非常長且難以預測。爲應付此等不確定性，圖案產生最壞情況通過區之 # 前或後邊緣，許多系統使用一暴力方法於校準程序，使用具有非常釀之校準圖案之程序。例如，一暴力方法以使用假隨機位元序列PRBS爲基礎，此包含長而相當隨機之圖案’以決定通過區。其他系統使用許多初始化圖案，此等爲百萬計位元長度，以呈現特定組態之最壞情況圖案，且欲涵蓋所有可能之條件。如非經常執行校準程序，則使用長而複雜之圖案通常足夠。例如’如僅在初始系統建立之期間中執行該演算法’則校準圖案之長度通常無關緊要。然而，在正常操作 -6- 7中丨月气日修正替換頁 1379527 (3) 之期間中，系統條件改變。周圍溫度，組成件溫度，供應電壓’及基準電壓自其初始値漂移。而且，散佈之頻譜時脈系統刻意移動時脈頻率，以配合發射標準。當條件漂移時，發射機及接收機之最佳時間點及其他參數改變。雖可定期執行校準程序，以調整漂移，但圖案之長度及複雜性及程序中所用之演算法干擾系統之發射關要之操作。具有長或許多代碼之圖案之長校準程序主要需要儲存器，輸入/輸出電路之進出及互接，及處理資源，以完成校準程序。在重行校準時之期間中，系統不提供於該應用上。此產生至少二重大問題。第一，性能一般降低。第二，許多應用可僅容忍最少之潛伏加進，而無不足或過度執行其流入之資料。需提供技術，以補償條件漂移，並改善系統及組成件設計，俾可利用此等技術。【發明內容】本發明利用一項發現，即通訊通道中由例如溫度改變所引起之時間，電壓，或其他參數中之長期漂移可大部份與用以計算參數之操作値之校準圖案不關聯。換言之，可追蹤參數中之漂移，而不使用以決定參數之最佳操作値所需之長及/或許多代碼爲基礎之圖案。而是，可應用較簡單之校準程序，在裝置操作期間中追蹤特定參數之漂移。用以追蹤參數漂移之該較簡單之校準程序使用較之更澈底之初始較準程序爲少之通訊通道之資源（即是，此佔用通 W月呻日修正替換頁 1379527 . (4) 訊鏈，發射機，及接收機較少時間）。根據計算，由使用較簡單之校準程序所產生之參數中之變化用以調整使用較澈底之初始程序所產生之操作値。其中，操作値爲在通訊通道之正常操作期間中通常所用之參數之値或該値之函數。故此，本發明提供一種系統及方法，用以校準通訊通道之參數之操作値，此可最佳化參數之操作値，同時有效計及波道性質之漂移。用以校準通訊通道（包含一第一組成件具有一發射機，一第二組成件具有一接收機，及一通訊鏈連接第一及第二組成件，通訊通道具有一參數，具有由校準決定之操作値）之方法包含建立通訊通道之參數之一操作値；時常執行漂移校準程序，以決定通訊通道之參數之漂移値，其中，漂移校準程序包含一演算法，與用以建立操作値者不同；及反應漂移値，更新操作値。在本發明之實施中，由執行一第一校準程序建立該操作値，以設定通訊通道之參數之操作値，且其中，漂移較準程序使用較之第一校準程序爲少之通訊通道之資源。執行第一校準程序，俾於系統初始化時，建立該操作値，此使用設計者意爲澈底之一演算法，俾可對系統設計操作之大部份條件決定適當之操作値。執行一第二校準程序，以決定參數中之漂移値，並反應該漂移値，更新該操作値。在通訊通道之正常操作期間中，第二校準程序時常執行，且使用較之第一校準程序執行時爲少之通訊通道之資源。在一實施例中，用以量度操作値之第一校準程序使用長校準圖案，諸 -8- 月今曰修立聲狭頁 1379527 % * (5) 如包含多於2 00位元之代碼，大於30位元組之代碼，及具有長度2Ν-1(其中，Ν等於或大於7)位元之假隨機位元序列基礎之代碼。第二校準程序使用短校準圖案，諸如少於1 3 0位元，諸如少於或等於丨6位元組，及例如短至2 位元組長度之固定代碼。如此，在本發明之實施例中，第一校準程序使用許多較短之代碼，較短及較長代碼之組合’而第二校準程序則使用一短代碼，或少數短代碼，在此’用於第二程序中之位元總數遠少於用於第一程序中之位元總數。在一些實施例，校準程序包含多個校準循環。校準循環包含解交連，邏輯使用軟體或物理使用切換，來自發射機之正常信號來源，並供應校準圖案於其位置中。使用第一組成件上之發射機發射校準圖案於通訊鏈上。在發射校準圖案後，重行連接正常信號來源於發射機。使用第二組成件之接收機接收來自通訊鏈之校準圖案。分析所接收之校準圖案，使其與預期之校準圖案比較。比較指示所接收之校準圖案中之若干誤差，此等用以指示在校準程序期間中所用之參數値是否可使通訊通道成功操作。反應所接收之校準圖案之分析，決定通訊通道之一參數，或前建立之參數之漂移之校準値。本發明之一些實施例包含根據以上討論之第一及第二校準程序之一校準方法，其中，第二校準程序包含：調整該參數至第一邊緣値；使用第一組成件上之發射機發射校準圖案於通訊鏈 -9- 1379527 4 1 (6) . 上； . 使用第二組成件上之接收機接收通訊鏈上之校準圖案；決定所接收之校準圖案是否指示遇到一新邊緣値，且如爲否’則回至該調整，以重覆執行次一校準循環，且如遇到一新邊緣値，則儲存指示第一邊緣値之漂移之資料；及然後調整該參數至第二邊緣値； • 使用第一組成件上之發射機發射校準圖案於通訊鍵上；使用第二組成件上之接收機接收通訊鏈上之校準圖案；決定所接收之校準圖案是否指示遇到一新邊緣値，且如爲否，則回至該調整，以重複執行次一校準循環，且如遇到一新邊緣値，則儲存指示第二邊緣値之漂移之資料；及 # 反應第一及第二邊緣値之漂移之一函數，決定參數之漂移。在本發明之一些實施例，第二校準程序僅量度第一及第二邊緣値之一，或有關操作値之其他値，並反應一量度値之函數，決定參數之漂移。本發明之一些實施例之方法包含：執行一第一校準程序；第一校準程序包含重複調整一第一邊緣參數之一値，使用第一組成件上之發射機發射一長校準圖案，使用第二 -10- W月，修正替換頁 1379527 % ' (7) 組成件上之接收機接收該長校準圖案，及分析所接收之長校準圖案，以決定第一邊緣參數之値；第一校準程序亦包含重複調整一第二邊緣參數之一値’使用第一組成件上之發射機發射一長校準圖案，使用第二組成件上之接收機接收該長校準圖案，及分析所接收之長校準圖案，以決定第二邊緣參數之値；及由於第一校準程序之結果，根據第一及第二邊緣參數之函數，決定該參數之操作値；執行一第二校準程序：第二校準程序包含重複調整第一邊緣參數之—値，使用第一組件上之發射機發射一短校準圖案，使用第二組成件上之接收機接收該短校準圖案，及分析所接收之短校準圖案，以決定第一邊緣値之一値；第二校準程序亦包含重複調整一第二邊緣參數之一値，使用第一組成件上之發射機發射一短校準圖案，使用第二組成件上之接收機接收該短校準圖案，及分析所接收之短校準圖案，以決定第二邊緣參數之一値；及由於第二校準程序之結果，根據第一及第二邊緣參數之函數，決定該參數之漂移；及根據該漂移’更新操作値，其中，長校準圖案具有至少30位元組之長度，及短校準圖案具有16位元組或以下之長度。檢視附圖，詳細說明，及申請專利部份，可明瞭本發明之其他方面及優點。 -11 - (8) 【實施方式】參考附圖，提供本發明之實施例之詳細說明。發射機及接收機時間參數圖1顯示二組成件10，11由互接媒體，稱爲通訊鏈 12連接。其一具有發射電路13，此驅動通訊鏈12上之符號（位元），普通反應內部CLKT信號14上之上升邊緣時間事件。此序列之位元形成信號DATAT。另一組成件1 1 具有一接收電路15，此抽樣通訊鏈12上之符號（位元），普通反應內部CLKR信號16上之上升邊緣時間事件。此序列之位元形成信號DATAR。DATAT及DATAR 信號相關聯：DATAR爲DAT AT之一衰減及時間延遲之複製。當信號波前沿通訊鏈12之互接媒體傳播時，發生衰減及時間延遲。包含發射機13，通訊鏈12，及接收機15 之通訊通道之特徵爲多個參數，在波道之正常操作期間中，此等具有一操作値。該波道之代表性參數包含時間參數指定驅動時間及抽樣時間，驅動器及比較器之電壓位準，電阻値，諸如通訊鏈端電阻，驅動器強度，適應性等化係數，雜訊消除係數，引起信號衝過頭及衝不足之參數，諸如驅動器切換功率或速度等。此等參數受漂移飛掠時間，發射機輸出延遲，接收機失配，輸入延遲等影響，或造成此等。圖2顯示介同步波道之時間參數，包含在蹤跡20上 -12- 1379527 0衿月哼日修正替換頁 (9) 之發射時脈CLKT信號14’在蹤跡21上之發射機信號 DATAT，在蹤跡22上之接收時脈CLKR信號，及在蹤跡 23上之接收機信號DAT AR。亦顯示發射機眼24及接收機眼25。在CLKT之上升邊緣後，不遲於時間tQ ΜΑΧ，發射電路13開始驅動一位元（標示” a")，且繼續驅動此，直至在次一上升邊緣31後至少一時間tV，M|N爲止。tQ,MAX及 tv，MIN爲發射電路13之主要時間參數。此二値指定於通信波道之操作條件及處理條件之整個範圍上。結果， tQ,MAX大於tv, MIN，及其差代表發射電路13之死時間或死帶32。發射死帶32(tDEAD，T)爲位元時窗之部份（亦稱爲位元時間或位元窗），此由發射電路1 3消耗：

tDEAD，T=tQ，MAX_tv，MIN • 在變遷31周圍之時窗之邊緣可由如下界定： t. 1 +tQ，MAX 及 t + tv,MIN，在此，r1爲較之轉變31早一時脈週期之轉變30，及t爲轉變31。

在CLKR之上升邊緣35(或36)之前，不早於一時間 tS，MIN，接收電路15開始抽樣一位元（標示"a")，且繼續抽樣，直至在上升邊緣35後，不晚於一時間tH，MIN爲止。ts,MIN及tH，MIN爲接收電路之主要時間參數。此二値指定於電路之操作條件及處理條件之整個範圍上。tS，mN -13- 1379527 (1〇) 及tH,MIN之和代表接收機之死時間或死帶37，38。接收機死帶37，38(tDEAD,R)爲位元時窗之部份（亦稱爲位元時間或位元窗），此由接收電路消耗：

tDEAD,R=ts,MIN + tH,MIN 在轉變35周圍之時窗之邊緣可由如下界定： t - t s , Μ I N 及 t + t Η，Μ I Ν，在此，t爲轉變35。在此例中*位兀時窗爲tcYCLE減tDEAD，T及t〇EAD，R 値，在此例中各約爲一tcYCLE之1/3。其餘l/3tcYCLE計及其他不確定性。此不確定性可包含例如CLKT及CLKR之上升邊之位置之變化。在一些系統，可指定該變化爲 tDEAD,T及tDEAD，R定義之一部份。其他不確定性可包含互接媒體上之傳播延遲之變化。單向通訊鏈選擇圖3顯示由稱爲通訊鏈1〇2之互接媒體連接之二組成件1〇〇(發射組成件）及101 (接收組成件）。假定該通訊鏈僅在一方向上（單向）攜帶信號，故一組成件100具有發射電路103連接至標示"正常徑路"之一信號來源11〇，及一組成件1 〇 1具有一接收電路1 04連接至標示”正常徑路” 之目的地111。另有電路存在，俾可在正常系統操作之各 -14- 月，曰修正替換頁 1379527 (11) . 週期之間定期調整驅動點及抽樣點。此等調整補償系統操作條件之變化。發射組成件包含標稱"圖案"之一區塊105，此可包含圖案儲存器，圖案產生電路或二者，且此用作依本發明使用之第一及第二校準程序之發射校準圖案之來源。在其他實施例，第一校準程序由主軟體提供於"正常"資料徑路上，而第二校準程序則由發射機中之"圖案"區塊提供，及 Φ 反之亦然。一般言之，用於第一澈低校準程序及第二漂移校準程序之圖案來源可相同或不同。在所示之實施例中，標示"mux"之一多工器區塊106 例如使用一邏輯層或物理層切換實施，能由發射電路驅動發射校準圖案集於通訊鏈上。發射驅動點可由標示"調整" 之區塊1 07調整。顯示一側頻帶通信波道1 1 3連接於組成件1 〇 1及組成件1 〇 0之間，由此，在組成件1 〇 1處接收之校準圖案之分析結果供應至組成件100之調整區塊107。 # 接收組成件101包含標示"圖案”之一區塊108’此可包含主軟體，圖案儲存器，或圖案產生電路’且此用作預期圖案之來源。標示"比較"之一區塊109能使接收之圖案集與預期圖案集比較，分析結果，並引起對發射機或接收機執行調整。接收抽樣點可由標示"調整"之區塊112調整。圖4顯示由單向通訊鏈102連接之二組成件1〇〇, 101，其中，圖3之組成件具有相同之參考編號。在圖4 之實施例中，在系統操作期間中，僅接收抽樣點可調整； -15- •i月气日修正替換頁 1379527 (12) 發射驅動點保持固定。如此，在組成件100中無調整區塊 107，亦無需圖4之側頻帶通訊通道113。圖5顯示二組成件100，101由單向通訊鏈102連接，其中，圖3之組成件具有相同之參考編號。在圖5之實施例中，在系統操作之期間中，僅發射驅動點可調整；接收抽樣點保持固定。如此，圖5之組成件101中無調整區塊1 1 2。一般言之，可在所有三例上執行定期時間校準，因爲由於條件漂移所引起之時間變化可在發射機端或接收機端補償。在實際上，置調整電路僅於通訊鏈之一端，而非二端較爲低廉，故圖4或5之系統具有優點。而且，應注意圖4之系統無需自接收組成件101中之"比較"區塊1〇9送回資訊至發射組成件100，且故此，在圖5之系統上可具有實施利益。在實際應用中。大體宜先校準接收機，及然後使用此設定來執行發射機校準。打被雞及蛋之問題之一方法爲經由側頻帶介面下載已知之發射圖案至波道之雙方。雙方具有匹配圖案，則吾人可執行接收抽樣點校準。然後，在接收機偏置設定於一可靠値後，吾人可執行初始發射驅動點校準。圖6爲一表，顯示發射驅動時間點參數使用澈底校準程序之量度値，與使用上述短校準程序所量得之相同參數値比較。在圖6中，引起漂移之條件繪於垂直軸，而參數之變化則繪於水平軸。在所示之例中，引起漂移之條件爲溫度，及所量度之參數爲發射驅動點TX之相位。如所 -16- /?柙月今9修正替換頁 1379527 ' (13)

示，澈底校準程序計算蹤跡200及201之邊緣値TXa及 TXB ’俾蹤跡202上所示之操作値TX可作爲邊緣値之函數計算。在此情形，澈底校準程序使用長校準圖案，包含一假隨機位元序列，具有長度2N-1，在此，N至少爲7，及在一實施例中，N爲15。使用長假隨機位元序列，決定邊緣値TXA，TXB之澈底中心及操作値TX。在圖6 中，使用短校準程序追蹤漂移，在此，短程序包含一簡單之二位元組代碼或二位元組（16位元）代碼集，諸如 AAAA，5555，或0F0F(16進位如可見，使用短校準程序所量度之邊緣値TXAS及TXBS繪於蹤跡203及204 上。如簡單根據短校準程序之邊緣値TXAS及AXBS，則操作値TXS會在蹤跡205上。然而，如顯示於圖6，垂直軸上之條件及沿水平軸上之短校準圖案之邊緣値TXAS， TXB S間之關係具有與該條件及使用長校準圖案所決定之操作値間之關係相同之坡度。如顯示於圖6，如在校準點 C1，操作値建立於TX，則使用短圖案所決定之TXAS之邊緣値具有由點206所代表之値。在校準點C2，邊緣値 TXAS自水平軸上之點206漂移一漂移値△ TXAS。同樣，操作値TX漂移一漂移値△ TX。至該程度’値TX之蹤跡 202之坡度與値TXAS之蹤跡203之坡度相同或其他關聯，漂移値△ TXAS可直接應用於計算漂移ΔΤΧ’及更新操作値TX，而不執行澈底校準程序。相似之關係存在於圖6中之TXAB及TX之間及TXS及TX之間。TX之漂移爲TXAS之漂移單獨，TXBS單獨，或TXAS及TXBS -17- _月’修正替換買 1379527 « • (14) 聯合之函數。如此，由使用短校準圖案量度參數之邊緣値之一或二者中之變化，並應用此變化來改變使用長校準圖案所計算之操作値，可調整參數之操作中心，以計及漂移，使用通訊通道之較少資源。圖7爲一表，顯示接收抽樣時間點參數使用澈底校準程序之量度値，與使用短校準程序之相同參數之量度値比較。在圖7中，引起漂移之條件繪於垂直軸，而參數之變化則繪於水平軸。在所示之例中，引起漂移之條件爲溫度，及所量度之參數爲接收抽樣點RX之相位。如所示，澈底校準程序計算蹤跡210及211上之邊緣値RX A及 RXB，俾蹤跡2 1 2上所示之操作値RX可作爲邊緣値之函數計算。在此情形，澈底校準程序使用長校準圖案，包含 —假隨機位元序列，具有長度2N-1，在此，N至少爲7, 及在一實施例中，N爲15。使用長假隨機位元序列，決定邊緣値RXA，RXB之澈底中心及操作値RX。在圖7 中，使用短校準程序追蹤漂移，在此，短程序包含簡單之二位元組代碼或二位元組（16位元）代碼集，諸如 AAAA，5555，或OFOF(16進位）。如可見，使用短校準程序所量度之邊緣値RXAS及RXBS繪於蹤跡213及214 上。如簡單根據短校準程序之邊緣値RXAS及RXBS，則操作値RXS會在蹤跡215上。然而，如顯示於圖7，垂直軸上之條件及沿水平軸上之短校準圖案之邊緣値RXAS， RXBS間之關係具有與該條件及使用長校準圖案所決定之操作値間之關係相同之坡度。如顯示於圖7，如在校準點 -18- 1379527 % ' (15) ci，操作値建立於ΤΧ，則使用短圖案所決定之RXAS之邊緣値具有由點2 1 6所代表之値。在校準點C2，邊緣値 RX AS自水平軸上之點216漂移一漂移値△ RX AS。同樣，操作値RX漂移一漂移値△ RX。至該程度，値RX之蹤跡212之坡度與値RX AS之蹤跡213之坡度相同或成其他關係，漂移値△ RXAS可直接應用於計算漂移ΔΙΙΧ，及更新操作値RX，而不執行澈底校準程序。相似之關係存在於圖7中之RXAB及RX之間及RXS及RX之間。RX 之漂移爲RXAS單獨，TXBS單獨，或TXAS及TXBS聯合漂移之函數。如此，由使用短校準圖案量度參數之邊緣値之一或二者中之變化，並應用此變化來改變使用長校準圖案所計算之操作値，可調整參數之操作中心，計及漂移，使用通訊通道之較少資源。在圖6及圖7之例中，使用短校準圖案所量度之邊緣値中之漂移及使用長校準圖案之操作値中之漂移之函數爲線性或接近線性。在其他例中，該函數可更爲複雜，及/ 或使用短圖案昕量度之値可與所示者不同。然而，只要使用短校準圖案所量度之値中之漂移，及使用長校準圖案之操作値中之漂移相關聯，不管是否偶然，使用短校準圖案所量得之値可應用於調整參數之操作値。故此，在系統之開動或初始化期間中，諸如由使用以長校準圖案爲基礎之澈底校準常式，可建立參數之操作値。然而，可根據適於決定漂移値之較短之校準程序，諸如根據短校準圖案者，執行由於漂移所引起之操作値之調 -19- 令件叫月今曰修正替換頁 1379527 (16) - 整。可時常，諸如在定期之基礎上，當由操作條件之外部 .監視器告知時，或在視通訊通道之使用之其他條件而定之時刻’執行較短之漂移校準程序，而不使用與較不頻常，諸如僅在開動期間使用之較爲澈底之校準常式所需同樣多之通訊通道資源。單向通訊鏈之發射機之校準步驟 φ 圖8顯示圖5所示之實例系統之校準步驟。 (步驟300)在初始化或其他情況時，執行一第一校準程序’根據長校準圖案或較澈底之常式，建立發射驅動點之一操作値。 (步驟301)定期或於指示漂移量度到期之情況，暫停進行中之發射及接收操作。 (步驟302)在”調整”區塊中改變發射組成件之驅動點自"TX”操作値（用於正常操作）至"TXAS"或"TXBS"値 ·(用於漂移校準操作）。在此步驟中，可能需施加安定延遲’使新驅動點可穩定。 (步驟3G3)改變發射組成件之"mux"區塊，俾能"圖案" 區塊輸入。 (步驟304)在發射組成件之"圖案"區塊中製造一圖案集，並使用TXAS或TXBS驅動點發射於"通訊鏈"上。 (步驟305)在接收組成件中接收圖案集。注意接收機之抽樣點對系統之基準時脈固定且不調整。 (步驟306)所接收之圖案集在"比較"區塊中與由接收 -20- (17) (17)1379527 組成件中由”圖案"區塊所產生之預期圖案集比較。二圖案集相符或不符。由比較結果（或可能在前之比較）’決定通過或失敗。 (步驟307)由於通過或失敗決定之結果’調整發射組成件中之"TXAS"或"TXBS"邊緣値。發射組成件中之"ΤΧ” 操作値中之漂移由調整之TX AS及TXBS値之函數表示。亦根據該函數調整"TX”値。此調整可僅在已執行包含發射二或更多校準圖案之校準程序後執行，以確保一些可重複程度。而且，可施加"低通濾波"於漂移或操作値之量度上’以防止操作値之波動。 (步驟308 )在發射組成件之”調整”區塊中改變發射之驅動點自”TXAS"或” YXBS”邊緣値（用於校準操作）至新 "TX”操作値（用於正常操作）。在此步驟中可能需施加安定延遲，使新驅動點穩定。 (步驟309)改變發射組成件之"mux"區塊，俾能”正常徑路"輸入。 (步驟3 10)回復正常發射及接收操作。在一實施例中，第一校準程序爲恰與以上有關步驟 301·310所述相同之重複，唯第—循環之校準圖案爲長圖案’及第二校準程序之校準圖案爲短圖案。例如，可使用具有長度2ν-1(Ν等於7或Ν等於15)之一假隨機位元序列作爲第一校準程序之長校準圖案。在另一例中，長校準圖案爲一短圖案集，預定爲用諸如通訊通道之符號間干涉圖案之條件上之一澈底集。另一方面，短校準圖案可爲— -21 - 1379527 ”年,’修王替換頁 (18) 簡單之二位元組代碼或二位元組（17位元）代碼集，諸如 AAAA，5555，或 0F0F916 進位）。在一些實施例，澈底校準程序可使用與較簡單之校準程序相同之代碼，但應用較短之演算法於計算調整。例如，當量度漂移時，可調整該等値，而無需重複性，或需要較之量度澈底操作値時爲少之重複性。 φ 發射機之重複步驟時間圖9包含由澈低校準步驟使用之時間波形，以決定操作値，與在圖5之系統中決定漂移之圖8所示之校準程序同樣。此等時間波形與圖1相似，唯調整驅動點，以跨坐接收機之抽樣窗，俾追蹤發射機之有效窗之邊緣，並顯示 —實例校準程序。在一漂移校準程序之期間中，圖9之邊緣値（tpHASET(TXA)及tpHASER(TXB))由使用短校準程序所決定之關聯値取代。 φ 發射組成件中之”調整”區塊維持三値於儲存器中： TXA，TX ’及TXB。TX値爲用於正常操作之操作値。 TXA及TXB爲"邊緣"値，此追蹤發射機之位元窗之左及右極端。TX値普通初始自使用澈底校準程序所決定之 TXA及TXB値之平均獲得，但其他關係亦可。如上述’ TX値之漂移由在使用短圖案之校準程序之期間中所決定之TXAS及TXBS之函數決定。所用之 TX AS及TXBS之函數取決於參數如何漂移，如由澈底校準圖案所量得’如與短圖案所量度之其如何漂移比較。只 -22- 1379527 » • (19) 要此關係關聯，則用以量度漂移之短圖案技術直截明確。在一些系統，短圖案量度中之漂移非常接近長圖案量度中之漂移，故任一決定之漂移可直接應用於調整參數之操作値。發射組成件中之”調整"區塊維持三値於儲存器中： ΤΧΑ，ΤΧ，及 ΤΧΒ，用於此處所示之澈底校準程序上。爲計算漂移，亦儲存TXAS及TXBS。ΤΧ値爲用於正常操作之操作値，ΤΧ Α及ΤΧΒ爲邊緣値，此等追蹤發射機之位元窗之左及右極端。TX値普通初始自TXA及TXB値之平均獲得。但其他値亦可。ΤΧA及TXB値可由校準操作維持，此時常，或在一些實施例，定期岔斷正常操作，用於澈底校準程序。然而，在本發明之實施例中，可無需儲存TXA及TXB，以追蹤漂移。在圖9中CLKT之上升邊緣之位置對一固定基準（普通爲一基準時脈，此分配於所有組成件）具有一偏置 tpHASET ° 當選擇TX値（tPHASET(TX>，在顯示CLKT時間波形之中間蹤跡401中）用於操作時，CLKT之上升邊緣402 使包含値”a”之DATAT窗403對齊，俾在接收組成件處之 D AT AR信號（未顯示，但構想上重疊於DAT AT信號）對齊連續接收之接收時脈，且理想上在接收機眼之中心。當選擇TXA時（tpHASET(TXA)，在顯不CLKT時間波形之頂蹤跡中），CLKT之上升邊緣置於一時間，此使 DATAT窗406 (包含"a")之右邊緣及接收機建立/保持窗 -23- 竹年。I月邾修正替楼頁 1379527 * ' (20) 410(陰影）重合。在CLICR上升邊緣周圍之ts建立時間及 tH保持時間一起界定該建立/保持窗410(不可與圖2之接收機眼混淆），其中，DAT AR之値需穩定，俾在一特定之 CLKR上升邊緣404周圍可靠抽樣。由於DATAT窗及結果之DAT AR窗大於此建立/保持窗410，故發射機具有時間餘裕。然而，在具有發射時脈上升邊緣在偏置 tPHASET(TXM處之蹤跡405所示之情形，所有時間餘裕在建立/保持窗410之發射機眼之左邊上，在tQ時間參數後加上延遲。蹤跡40 5中之tv時間參數基本上無餘裕，故該偏置界定校準窗之左邊綠。 TXA之校準程序比較所接收之圖案集及預期之圖案集，並決定其是否相符。如相符（通過），則TXA値減量 (tpHASET(TXA)偏置變爲較小，移動發射窗406至圖9之左方），或其他調整，俾tv時間參數對接收窗410較小餘裕。如此等並不相符（失敗），則 TXA 値增量 (tPHASET(TxA)偏置變爲較大，移動發射窗409至圖9之右方），或其他調整，俾tv時間參數有較大餘裕。如早前所述，在調整TX A之前，可累積包含發送二或更多校準圖案之程序之結果。此提高校準程序之可重複性。例如，校準圖案可重複"N"次，通過數累計於一儲存元件中，如所有N通過符合，則TXA値減量。如任一 N 通過不符合，則決定TXA値已到達該窗之邊緣，並減量。在另一選擇中，在第N圖案後，如少於N/2(或其他臨限數）通過，則TXA値可增量，及如N/2或更多通 -24- 7細肝曰修正聲換頁 1379527 « 、 (21) 過，則減量。當更新TXA時，亦更新TX値。在此例中，由用以更新TXA之量之一半更新TX値，因爲TX爲TXA及TXB 値之平均値。如TX具有與TXA及TXB不同之關係，則 TX更新値不同。注意在一些實施例，TX値需較TXA及 TXB値稍爲精確，以防止捨入誤差。在另外實施例，可在已決定TXA及TXB値之通過/失敗結果後，更新TX値。在一些情形，此等結果可對消，且對最佳TX値不產生改變。在其他情形，此等結果可累積，及累積之結果用於決定TX設定之適當調整。依據此實施例，可不需要較TX A 及TXB設定更精確之TX設定。當選擇TXB値（tPHASER(TXB)，在顯示CLK時間波形之底蹤跡407中）用於校準時，CLKT之上升邊緣設定於使發射機有效窗408(包含"a")之左邊緣及接收機建立/保持窗4 1 0(陰影）重合之一時間。在此情形，由發射時脈上升邊緣在tpHASER(TXB>處，所有時間餘裕在發射窗408之右邊，提供較之tV時間參數所需爲多之餘地。此意爲tQ 時間參數在窗408之左邊幾無餘裕，界定校準窗之右邊緣。校準程序比較所接收之圖案集及預期之圖案集，並決定此等是否相符。如相符（通過），則TXB値增量（偏置變爲較大），或其他調整，故tQ時間參數較少餘裕。如此等不符合（失敗），則TXB値減量（偏置變爲較小）’或其他調整，故tQ時間參數較多餘裕。 -25- 1379527 « , (22) 如早前所述，在調整TXB値之前，可累積二或更多校準圖案之傳輸結果。例如，圖案之傳輸可重複"N"次，通過數累積於儲存元件中。在第N程序後，如少於N/2 通過，則TXB値可減量，且如N/2或更多通過，則增量。此提高校準程序之可重複性。當更新TXB時，亦更新TX値。在此例中，由用以更新TXB之量之一半更新TX，因爲TX爲TXA及TXB値之平均値。如TX具有與TXA及TXB不同之關係，則TX 更新値不同。注意TX値需稍較TXA及TXB値精確，以防止捨入誤差。可使用似程序執行漂移之決定，唯使用不同之校準圖案，如上述。單向通訊鏈之接收機之校準步驟與圖4之例相似之系統中，圖1 0顯示對接收機執行時間校準所需之步驟，注意僅步驟（區塊502)，（區塊 5〇7)，及（區塊508)與圖8之步驟不同。 (步驟500)在初始化或其他情況上執行一第一校準程序’根據預定爲澈底之長校準圖案，建立接收抽樣點之操作値"R X ”。 (步驟50 1)定期或於指示漂移量度到期之情況，暫停進行中之發射及接收操作。 (步驟502)在"調整"區塊中改變接收組成件之抽樣點自"RX"操作値（用於正常操作）至"RXAS"或"RXBS"邊緣 -26- 胸月，日修正替換頁 1379527 ， (23) 値（用於校準操作）。在此步驟中可能需施加安定延遲，俾新抽樣點穩定。 (步驟5 03 )改變發射組成件之"mux"區塊，俾能"圖案” 區塊輸入。 (步驟504)在發射組成件之”圖案"區塊中製造一圖案集’並使用TX驅動點發射至"通訊鏈”上。圖案集包含一或更多短代碼，例如一或更多2位元組代碼。 (步驟5 05 )在接組成件中接收圖案集。 (步驟506)所接收之圖案集在”比較"區塊中與由接收組成件中"圖案"區塊所產生之預期之圖案集比較。二圖案集相符或不符。由比較結果（及可能其他先前之比較），決定通過或失敗。 (步驟507)由通過或失敗決定之結果，調整接收組成件中之"RXAS"或"RXBS"邊緣値。接收組成件中之"RX"操作値中之漂移由調整之RX AS及RXBS値之函數指示。亦根據該函數調整"RX"値。此調整可僅在已執行二或更多 lit等校準校準程序後執行，以確保一些可重複程度。 (步驟508)在接收組成件之"調整"區塊中改變接收機之抽樣點自"RXAS"或"RXBS"邊緣値（用於校準操作）至 ” RX"操作値（用於正常操作）。在此步驟中可能需施加安定延遲，俾新驅動點穩定。 (步驟509)改變發射組成件之"mux"區塊，俾能"正常徑路”輸入❶ (步驟510)回復正常發射及接收操作。 -27- 1379527 外和月啣修正替换頁 (24) 在一實施例中，第一校準程序爲恰如以上有關步驟 501-510所討論之重複，唯第一循環之校準圖案爲長圖案，及第二校準程序之校準圖案爲短圖案。例如，可使用具有長度2n-1(N等於7或N等於15)之一假隨機位元序列作爲第一校準程序之長校準圖案。在另一例中，長校準圖案爲一短圖案集，預定爲用於條件之一澈底集，諸如通訊通道之符號間干涉圖案。另一方面，短校準圖案可爲一簡單之二位元組代碼或二位元組代碼集，諸如AAAA , 5555，或 OFOF ° 接收機之重複步驟之時間圖11顯示決定操作値之澈底校準步驟，與圖8所示用以諸如在圖4之系統中決定操作値之漂移之校準程序相似。此等時間波形與圖1相似，唯調整位元窗內之抽樣點’俾追蹤該窗之邊緣。在漂移校準程序之期間中，圖 11之邊緣値（tpHASER(RXA)及tpHASER(RXB))由使用短校準程序所決定之關聯値取代。接收組成件中之"調整”區塊維持三値於儲存器中： RXA，RX，及RXB用於澈底校準程序。rx値爲用於正常操作之操作値。RXA及RXB爲”邊緣"値，此追蹤位元窗之左及右極端。RX値自第一澈底校準程序獲得，且根據第一校準程序中所決定之RXA及rxb之平均値，但其他關係亦可。RX AS及RXBS値在使用短校準圖案之第二校準程序中決定’並由校準操作維持，此等定期岔斷正常操 -28- θ年咄7日修正替提頁 1379527 、 (25) 作。RXAS及RXBS値，或僅其中之一之改變用以決定 RX値之漂移。RX値根據此漂移更新。在時間圖中，CLKR之上升邊緣之位置對一固定基準 (未顯示，普通爲一基準時脈，此分配至所有組成件）具有一偏置tPHASER。此偏置由所儲存之RXA，RX，及RXB 値決定。當選擇RX値（tpHASER(RX)，在顯不CLKR時間波形之中間蹤跡401中）用於接收資料時，CLKR之上升邊緣 602約在包含値’’a”之 DATAR信號之接收眼之中心。 DATAR信號爲在發射機處所發射傳播橫過該通訊鏈後之 DATAR信號，且在構想上可視爲與圖11所示之DATAT 相同之寬度。接收眼顯示於圖 2。ts建立時間爲時脈 CLICR上升邊緣（此需在DATAR窗603內）前之最少時間，及tH保持時間爲時脈 CLKR上升邊緣（此需在 DATAR窗603內）後之最少時間，二者一起界定建立/保持窗604 (不與圖2之接收機眼混淆），其中，DATAR値需穩定，俾在特定之CLKR上升邊緣周圍可靠抽樣。由於 DATAR信號之有效窗604大於建立/保持窗604，故接收機在二方向上具有時間餘裕。當選擇RXA時（tPHASER(RXA)，在顯示CLKR時間波形之頂蹤跡中），CLKR之上升邊緣接近較之包含値"a"之 DATAR窗之左邊緣（最早時間）晚ts之一時間。在此情形，CLKR上升邊緣在接收機眼之左邊緣，及所有時間餘裕在建立/保持窗604之右邊，提供較之tH時間參數所需 -29- 1379527 (26)

爲多之餘地。此意爲界定校準窗之左邊緣之ts時間參數幾無餘裕。校準程序比較所接收之圖案集及預期之圖案集，並決定其是否相符。如相符（通過），則RXA値減量（偏置變爲較小），或其他調整，俾ts時間參數有較小餘裕。如此等並不相符（失敗），則RXA値增量（偏置變爲較大），或其他調整，俾ts時間參數有較大餘裕。如早前所述，在調整TX A之前，可累積二或更多校準圖案之發送及接收之結果。例如，校準圖案可重複”N” 次，通過數累計於儲存元件中。在第N程序後，如少於 N/2通過，則RXA値可增量，且如N/2或更多通過，則減量。此提高校準程序之可重複性。當更新RXA時，亦更新RX値。在此例中，由用以更新RXA之量之一半更新RX，因爲RX爲RXA及RXB 値之平均値。如RX具有與RXA及RXB不同之關係，則 RX更新値不同。注意在一些實施例，RX値需稍較RXA 及RXB値精確，以防止捨入誤差。在另‘外實施例，可在已決定RXA及RXB値之通過/失敗結果後，更新RX値。在一些情形，此等結果可對消，且對最佳RX値不產生改變。在其他情形，此等結果可累積，及累積之結果用於決定RX設定之適當調整。依據此實施例，可不需要較RX A 及RXB設定更精確之RX設定。當選擇RXB値（tpHASER(RXB)，在顯示CLKR時間波形之底蹤跡406中）時，CLKR之上升邊緣接近較之包含 -30- 1379527 ^丨月,修正替換頁 (27) . 値"a”之DATAR窗之右邊緣（最晚時間）早tH之間。在此情形，CLKR上升邊緣在接收機眼之右邊緣及所有時間餘裕在窗604之左邊，提供較之ts時間所需爲多之餘地。此意爲界定校準窗之右邊緣之tH 參數幾無餘裕。校準程序比較所接收之圖案集及預期之圖案集，定此等是否相符。如相符（通過），則RXB値增量（ φ 變爲較大），或其他調整，故tH時間參數有較少餘裕此等不符合（失敗），則RXB値減量（偏置變爲較> 或其他調整，故tH時間參數有較多餘裕。如早前所述，在調整RXB之前，可累積二或更準圖案之傳輸及接收之結果。例如，該程序可重衣次，通過數累積於儲存元件中。在第N程序後，如 N/2通過，則RXB値可減量，且如爲N/2或更多通則增量。此提高校準程序之可重複性。 # 當更新RXB時，亦更新RX値。在此例中，由更新RXB之量之一半更新RX，因爲RX爲RXA及値之平均値。如RX具有與RXA及RXB不同之關係 RX更新値不同。注意如欲防止捨入誤差，則RX値較RXA及RXB値精確。可使用相似程序執行漂移之決定，唯使用不同之圖案，如上述。雙向通訊鏈選擇一時上，參數時間並決偏置。如 I、），多校 ["N" 少於過，用以 RXB ，則需稍校準 -31 - 射日修正替换頁 1379527 « 、 (28) 圖12顯示雙向通訊鏈之一例。在此情形，組成件 A(70 0)及組成件B(70 1)各包含一發射機及一接收機連接至通訊鏈，俾資訊可發射自A至B或自B至A。複製（二份）圖3中之單向實例之元件，以提供圖11中之雙向實例。圖1 1顯示二雙向組成件700，701連接於稱爲通訊鏈 702之一互接媒體。正常徑路710作用如資料信號之來源，在發射操作之期間中用於組成件700之正常操作。正常徑路73 1作用如資料信號之目的地，在正常接收操作期間中用於組成件700。同樣，正常徑路73 0作用如資料信號之來源，在發射操作之期間中用於組成件70 1之正常操作。正常徑路7 1 1作用如資料信號之目的地，在正常接收操作期間中用於組成件701。第一雙向組成件包含標示"圖案"之一區塊705，此可包含圖案儲存器，圖案產生電路，或二者，且此用作發射校準圖案之來源，用於澈底校準程序及量度漂移之校準程序二者。標示"mux"之一多工區塊例如使用邏輯層或物理層切換實施，使發射校準圖案集能由發射電路70 3驅動於通訊鏈上。發射驅動點可由標示”調整”之區塊707調整。側頻帶通訊通道713顯示連接於組成件701及組成件70 0 之間，由此，在組成件701處所接收之校準圖案之分析結果供應至組成件700之調整區塊707。’組成件700亦支持校準接收機724，包含標示"圖案"之區塊728，此可包含圖案儲存器，圖案產生電路，或二者，且此用作預期圖案之來源，用於與接收之圖案比較。標示"比較"之區塊729 -32- 方~/月今曰修正替換頁 1379527 (29) 使接收之圖案集能與預期之圖案集比較，並導致對發射機或接收機執行調整。接收抽樣點可由標示"調整"之區塊 732調整。第二雙向組成件701包含互補元件，支持發射機723 及接收機704。用於接收操作，使用標示"圖案"之一區塊 70 8作爲預期圖案之來源，此可包含圖案儲存器，圖案產生電路，或二者。標示"比較"之一區塊70 9使所接收之圖案集可與預期之圖案集比較，並導致對發射機或接機執行調整。接收抽樣點可由標示"調整"之區塊712調整。第二雙向組成件70 1支持發送操作，具有元件包含標示"圖案" 之一區塊7 25，此可包含圖案儲存器或圖案產生電路，且此用作發射校準圖案之來源。標示"mux"之一多工區塊 726例如使用邏輯層或物理層切換實施，使發射校準圖案集可由發射電路723驅動於該通訊鏈上。發射驅動點可由標示”調整”之區塊727調整。一側頻帶通訊通道73 3顯示連接於組成件7〇〇及組成件701之間，由此，在組成件 700處所接收之圖案之分析結果供應至組成件7〇1之調整區塊727中。圖12顯示欲調整之二接收抽樣點及二發射驅動點。然而，如每一方向中僅有一個可調整元件，則可達成可調整時間之利益。圖13之例（使用與圖12相同之參考編號）顯示一例，其中，僅接收抽樣點可調整。故此，此實施例中不包含圖12之元件707及727。此等於二份圖4之例之元 -33- ”年。丨月，修正5頁

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V ' (30) 件。圖14之例（使用與圖12相同之參考編號）顯不一例，其中，僅發射驅動點可調整。故此’此實施例中不包含圖12之元件712及732。此等於二份圖5之例之元件。圖15之例（使用與圖12相同之參考編號）顯示一例，其中，第一雙向組成件700之接收抽樣點及發射驅動點可調整。如此’此實施例中不包含元件712 ’ 708， 709，727，726，725。一儲存區塊750加於接收機及一： mux"區塊751之間。"mux”區塊751用以選擇信號730之正常來源及儲存區塊750之間。而且’比較區塊75 2用以分析發射及接收校準操作二者，並連接至發射機之調整區塊707及接收機之調整區域732二者。此方法重要，因爲所有調整資訊可保持於一組成件內，省除需要側頻帶信號用於校準程序。如組成件70 1特別成本敏感，則此亦爲一優點，因爲僅組成件之一需負擔調整電路之成本。雙向通訊鏈之發射機之校準步驟圖12’丨3’及14中之雙向實例之校準步驟基本上與圖4及5中之已討論之單向實例之校準步驟相同。然而，圖之雙向實例中之不對稱引進一些額外校準步驟，且接受進一步討論。圖16包含需對諸如圖15之系統執行時間校準更新之步驟。 -34- 1379527 ~— 、牌月，日修正替換頁 ' (31) -- * (步驟800)在初始化或其他情況上，根據預定爲澈底 - 之長校準圖案，執行第一校準程序，以建立發射驅動點之胃作値"TX"，或提供在預定條件中可用於系統上結果。 (步驟801)定期或於指示漂移量度到期之情況，暫停進行中之正常發射及接收操作。 (步驟802)在"調整"區塊中改變發射組成件（A)之驅動點自"TX"操作値（用於正常操作）至"TXAS，，或"TXBS” • a胃値（用於漂移校準操作）。在此步驟中可能需施加安定延遲，俾新驅動點穩定。 (步驟803 )改變發射組成件（A)之"mux”區塊，俾能” 圖案"區域輸入。 (步驟804)在發射組成件（A)之"圖案"區塊中製造一圖案集，並使用TXAS或TXBS驅動點發射於"通訊鏈" 上。 (步驟805 )在接收組成件（B)中接收圖案集。注意接 ® &@之抽樣點對系統之基準時脈固定且不可調整。所接收之圖案集保持於組成件（B)之"儲存"區塊中。 (步驟806)使"mux"區塊輸入能連接至組成件B之·•儲存"區塊。由組成件B再發射該圖案集於通訊鏈上。 (步驟8 07)由組成件B接收來自通訊鏈之圖案集。 (步驟808)所接收之圖案集在"比較"區塊中與由接收組成件（A)中之"圖案"區塊所產生之預期圖案集比較。二圖案集相符或不符，由比較結果（或可能在前之比較），決定通週或失敗。 -35- 1379527 π年。/的日修正替換頁 (32) (步驟809)由於決定漂移値之通過或失敗決定之結果，調整發射組成件（A)中之"TXAS"或"TXBS”邊緣値。由於所決定之漂移値之結果，亦調整發射組成件（A)中之 "TX”操作値。此調整可僅在已執行二或更多此等校準程序後執行，以確保一些可重複程度。 (步驟810)在發射組成件（A)之”調整”區塊中改變發射機之驅動點自"TXAS"或"YXBS"邊緣値（用於校準操作）至” TX，，操作値（用於正常操作）。在此步驟中可能需施加安定延遲，俾新驅動點穩定。 (步驟811)改變發射組成件（A)之”mux”區塊’俾能” 正常徑路，，輸入。 (步驟812)回復正常發射及接收操作。雙向通訊鏈之接收機之校準步驟圖12，13，及14中之雙向實例之校準步驟基本上與圖4及5之已討論之單向實例之校準步驟相同。然而’圖 15之雙向實例中之不對稱引進一些額外校準步驟，且接受進〜歩討論。 _ 17包含需對諸如圖15之系統執行接收機時間校準更新之步騾。 (多騾900)在初始化或其他情況上’根據長校準圖案’執行第一校準程序，以建立接收抽樣點之操作値 "RX"。 (歩驟901)定期或於指示漂移量度到期之情況，暫停 -36- ⑸9527 ^一*^ % /7年W月吁日修正替振頁 Λ ^ 一 (33) "' 中之正常發射及接收操作。 ' (步驟902)在"調整"區塊中改變接收組成件（A)之抽樣點自，，RX"操作値（用於正常操作）至"RXAS"或"RXBS" 胃緣値（用於校準操作）。在此步驟中，可能需施加安定延遲’俾新驅動點穩定。 (步驟903)改變發射組成件（A)之"mux"區塊，俾能" 圖案"區塊輸入。 ^ (步驟904)在發射組成件（A)之"圖案"區塊中製造一 ®案集，並發射於"通訊鏈"上。使用正常發射驅動點。 (步驟905)在接收組成件（B)中接收圖案集。注意組 (B)中之接收機之抽樣點對系統之基準時脈固定且不 #_整。所接收之圖案集保持於組成件（B)之"儲存"區塊中〇 (步驟906)使"mux"區塊輸入能連接至組成件B中之" 儲存”區塊。由組成件B再發射該圖案集於通訊鏈上。 ® (步驟907)由組成件A接收來自通訊鏈之圖案集，使用RXAS或RXBS値決定接收抽樣點。 (步驟908)所接收之圖案集在"比較"區塊中與由接收組成件（A)中之"圖案"區塊所產生之預期圖案集比較。二圖案集相符或不符。由比較結果（或可能在前之比較），決定通過或失敗。 (步驟90 9)由於決定漂移値之通過或失敗決定之結果’調整接收組成件（A)中之"RXAS"或"RXBS"邊緣値。亦根據漂移値，調整接收組成件（A)中之"RX"操作値。 -37- 1379527 叫月洵修正替換頁 (34) 此調整可僅在已執行二或更多此等校準程序後執行，以確保一些可重複程度。 (步驟910)在接收組成件（Α)之”調整"區塊中改變接收機之抽樣點自"RXAS"或"RXBS”邊緣値（用於校準操作）至"RX”操作値（用於正常操作）。在此步驟中可能需施加安定延遲，俾新驅動點穩定。 (步驟91 1)改變發射組成件（A)之"mux"區塊，俾能" 正常徑路”輸入。 (步驟912)回復正常發射及接收操作。圖18顯示與圖15相同之一例，唯圖15之點至點雙向通訊鏈由多條通訊鏈取代，連接組成件1 000至多個組成件1 05 1，1 0 5 2。多條通訊鏈組態可應用於其他組態上。在圖1 8所示之代表性實例中，第一雙向組成件1 000 及多個其他雙向組成件1051，1052由稱爲通訊鏈1002之一互接媒體連接成一點至多點組態，或多點至多點組態。正常徑路1 0 10作用如組成件1 000在發射操作期間中正常操作之資料信號之來源。正常徑路1 03 1作用如組成件 1〇〇〇在正常接收操作期間中資料信號之目的地。在此實施例中，校準操作與正常通訊如上述交插及重排，以提高通訊媒體之產出及利用。第一雙向組成件 10 00包含標示"圖案"之一區塊 1005，此可包含圖案儲存器或圖案產生電路，且此用作發射校準圖案之來源。標示"mux"之多工器區塊1 006例如使用邏輯層或物理層實施，使發射校準圖案集能由發射電路 -38- 料日修正替換頁 1379527 (35) 1 003驅動於通訊鏈上。發射驅動點可由標示"調整"之 1 007調整。在此施例中，調整區塊1 007包含儲存器以儲存多個參數集，此等應用取決於通訊鏈上接受傳其他組成件1051，1052，…之一。組成件1000並支準接收機1 024，包含標示"圖案"之一區塊1 028，此含圖案儲存器或圖案產生電路，且此用作預期圖案源，用以與接收之圖案比較。標示"比較"之一區塊使所接收之圖案集能與預期之圖案集比較，並引起對機或接收機執行調整。接收抽樣點可由標示"調整"之 1032調整。在此實施例中，調整區塊1007包含儲存用以儲存多個參數集，此等應用取決於該通訊鏈上接送之其他組成件1051，1 052，...之一。在第一組 1 000中，使用比較區塊1 029，用以分析發射及接收操作，並連接至發射機之調整區塊1 007及接收機之區塊1032。在圖18之例中，第一雙向組成件1000 收機抽樣點及發射機驅動點可調整。在此例中，其他件1051，1052，…參考圖15所述實施，無調整資源不在此說明。在其他實施例中，在通訊鏈上之組 1051，1052，...可設有調整及校準資源，如以上其他例所述》上述實施例涉及時間參數之校準。本發明之其他例應用於通訊通道之其他參數之校準，包括驅動器及器之電壓位準，電阻値，諸如通訊鏈端電阻，驅動度，適應性等化係數，雜訊對消係數，引起信號衝過區塊，用送之持校可包之來 1029 發射區塊器，受傳成件校準調整之接組成，且成件實施實施比較器強頭或 -39- 1379527

_/月吟日修正替換頁 .J ' (36) 衝不足之參數，諸如驅動器切換功率或速度等。此等參數反映於漂移飛馳時間，發射機輸出延遲，接收機失配，及輸入延遲上。而且，由於散佈頻譜時脈發生漂移。時常執行用以追蹤漂移之校準程序。在本發明之一些實施例中，反應一定時器，或於感測會引起漂移之條件，諸如周圍溫度，組成件或印刷電路板之溫度之改變，電力供應電壓變化，系統狀態改變，諸如低及高速，或操作功率模式間之切換，主系統或系統管理命令等時，發動用以追蹤漂移之校準程序。在較宜系統中，選擇校準程序之時間，視預期漂移情況可能對校準之參數有影響之時刻而定。依據本發明，通訊系統提供支持定期校準，以追蹤漂移，同時保留受校準之通訊通道之資源。本發明減少校準所需之硬體及儲存需求，降低對通訊通道上之頻帶寬及產出之影響，及維持受校準之參數之操作値之精確度，同時使用較少之通訊通道之資源。追蹤漂移之校準程序可更常時執行，因爲開銷較之先前技藝之設計爲少。而且，本發明之技術提高通訊通道在改變操作條件中之整個潛伏特性。雖參考以上詳述之較宜實施例及實例發表本發明，但應明瞭此等實例僅爲例解，而無限制意味。精於本藝之人士容易想出修改及組合，此等修改及組合在本發明之精神內，且在後附申請專利之範圍內。 -40- 1379527 卿丨fl今日修正替換頁 (37) 【圖式簡單說明】圖1爲由通訊通道互接之二組成件之簡單圖。圖2爲時間圖，顯示與圖i所示同樣之一通訊通道之時間參數。圖3顯示本發明之一實施例，在此，發射驅動點及接收抽樣點二者均可調整。圖4顯示本發明之一實施例，在此，僅接收抽樣點可調整。圖5顯示本發明之一實施例，在此，僅發射驅動點可調整。圖6爲一表，顯示使用長及短校準參數之一通訊通道之發射時脈參數TX之操作値之量度及漂移之量度。圖7爲一表，顯示使用長及短校準參數之一通訊通道之接收時脈參數RX之操作値之量度及漂移之量度。圖8爲流程圖，顯示在單向通訊鏈上發射機之發射驅動點之校準步驟。 . 圖9顯示校準發射驅動點之重複步驟之時間。圖1〇爲流程圖，顯示在單向通訊鏈上接收機之抽樣點之校準步驟。，圖11顯示校準接收抽樣點之重複步驟之時間。圖12顯示本發明之一實施例，在此，在雙向通訊鏈之組成件上之發射驅動點及接收抽樣點爲可調整者。圖13顯示本發明之一實施例，在此，雙向通訊鏈之組成件上之接收抽樣點爲可調整者。 -41 - 1379527 费丨月1曰修正替換頁 (38) 圖14顯示本發明之一實施例，在此，二組成件具有可調整之發射驅動點。圖15顯示本發明之一實施例，在此，在雙向通訊鏈上僅一組成件之發射驅動點及接收抽樣點爲可調整者。圖16爲流程圖，顯示雙向通訊鏈之發射驅動點之校準步驟。 « 17爲流程圖，顯示雙向通訊鏈之接收抽樣點之校準步驟。 ® 18顯示本發明之一實施例，在此，雙向通訊鏈上射.驅動點及一接收抽樣點可由多個參數集調整，且其Φ ’雙向通訊鏈連接至與該多個參數集對應之多個其他組成件。【主要元件符號說明】 10,11 組成件 12 通訊鏈 13 發射電路 14 內部CLKT信號 15 接收電路 16 內部CLKT信號 20,2 1,22,23 蹤跡 24 發射機眼 25 接收機眼 30,31,35 上升邊緣 -42- 1379527 月01曰修正替換頁

(39) 32 發射機 37,3 8 接收機 100,101 組成件 102 通訊鏈 103 發射電 110 信號來 104 接收電 105 標示” 3 106 標示"η 107 標示”i 108 標示"a 109 標示"t 111 目的地 112 標示”謂 113 側頻帶 200,20 1,202,204,205 蹤 206 點 2 10.211,212,213,214,215 2 16 點 402 上升邊 403 DATA 404 CLKR 405 頂蹤跡 406 DATA 死帶死帶路源路 E案"之區塊 1 U X ”之區塊荀整”之區塊’調整區塊 β案"之區塊匕較”之區塊，比較區塊竜整”之區塊，調整區塊通訊電路跡蹤跡緣窗上升邊緣窗，發射窗 -43- 1379527 ' (40) 408 發射機有效窗 4 10 建立/保持窗，接收窗 60 1 中間蹤跡 602 上升邊緣 603 DATR 窗 604 建立/保持窗 700 組成件A 70 1 組成件B 702 通訊鏈 703 發射電路 704 接收機 705 標示”圖案"之區塊 707,708,709,725,726,727,7 1 2，732

。辦/月邗修正替換頁元件 707 708 710,711,731 7 12 7 13 723 724 725 726 727 728 標示"調整”之區塊，調整區塊標示"圖案”之區塊正常徑路標示”調整”之區塊側頻帶通訊電路發射電路接收機標示”圖案”之區塊標示”mux"之區塊標示”調整"之區塊，調整區塊標示”圖案”之區塊 -44- 1379527 疗年3/月1日修正替換頁;

V ' (41) 729 標示”比較”之區塊 73 3 側頻帶通訊電路 73 2 標示n調整”之區塊 75 0 儲存區塊 751 "mux” 區塊 752 比較 1000,1051,1052 組成 1002 通訊 1003 發射 1005 標示 1006 標不 1007 標示 1010,1031 正常 1028 標示 1029 標示 1032 標示

區塊件鏈電路 "圖案"之區塊 m u X ”之區塊 "調整”之區塊，調整區塊徑路 ”圖案”之區塊 "比較”之區塊，比較區塊 "調整"之區塊 -45-

Claims

斤年。鲁曰修正替換頁附件3A :第094101310號申請專利範圍修正本民國100年8月12曰修正十、申請專利範圍 1. —種用以校準雙向通訊通道之.方法，包含一第一組成件具有一發射機，一第二組成件具有一接收機，及一通訊鏈連接該第一組成件及該第二組成件，該通訊通道具有一時間參數’其具有由校準決定之一操作値；該方法包含：建立該通訊通道之一時間參數之操作値；及時常執行一漂移校準程序，以決定該通訊通道之該時間參數之漂移値，其中，漂移校準程序包含一演算法，與用以建立該操作値者不同；及反應於該漂移値而更新該操作値。 2. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中，該建立包含執行一第一校準程序，以設定該通訊通道之該時間參數之該操作値，且其中，該漂移校準程序使用較該第一校準程序爲少之該通訊通道之資源。 3. —種用以校準雙向通訊通道之方法，包含一第一組成件具有一發射機，一第二組成件具有一接收機，及一通訊鏈連接該第一組成件及該第二組成件，該通訊通道具有一參數，其具有由校準決定之一操作値；該方法包含：使用第一校準程序建立該通訊通道之一參數之操作値；及時常執行一漂移校準程序，以決定該通訊通道之該參麗麗月卜日修正替換頁 t 數之漂移値，其中，漂移校準程序包含一演算法，與用以建立該操作値之該第一校準程序之演算法不同：及反應於該漂移値而更新該操作値’其中該第一校準程序包含交換第一校準圖案於該第一組成件及該第二組成件之間，及該漂移校準程序包含交換第二校準圖案於該第一組成件及該第二組成件之間，其中，該等第二校準圖案較該等第一校準圖案爲短。 4. 如申請專利範圍第3項所述之方法，其中，該等第 φ 一校準圖案包含200位元以上之序列，及該等第二校準圖案包含具有130位元以下之序列。 5. 如申請專利範圍第3項所述之方法，其中，該等第一校準圖案包含30位元組以上之序列，及該等第二校準圖案包含少於或等於1 6位元組之序列。 6. 如申請專利範圍第3項所述之方法，其中，該等第一校準圖案包含30位元組以上之序列，及該等第二校準圖案包含少於或等於8位元組之序列。 φ 7. 如申請專利範圍第3項所述之方法，其中，該等第一校準圖案包含具有長度2N-1之假隨機位元序列，在此，N等於7或以上，及該等第二校準圖案包含具有長度小於或等於4位元組之代碼》 8. 如申請專利範圍第3項所述之方法，其中，該漂移校準程序包含重複調整該參數至一第一邊緣値：使用該第一組成件上之該發射機發射校準圖案於該通訊鏈上； -2- MKH修正替換頁 1379527 ：V*- ‘ 使用該第二組成件上之該接收機接收該通訊鏈上之該等校準圖案：決定所接收之該等校準圖案是否指示遇到一新邊緣値，且如爲否，則回至該調整，且如遇到一新邊緣値，則 '儲存指示該第一邊緣値之漂移之資料，並反應該第一邊緣値之該漂移之函數，決定該漂移値。 9.如申請專利範圍第3項所述之方法，其中，該第二 φ 校準程序包含重複調整該參數至第一邊緣値；使用該第一組成件上之該發射機發射校準圖案於該通訊鏈上：使用該第二組成件上之該接收機接收該通訊鏈上之該等校準圖案；決定所接收之該等校準圖案是否指示遇到一新邊緣値，且如爲否，則回至該調整，且如遇到一新邊緣値，則儲存指示該第一邊緣値之漂移之資料；及然後 • 調整該參數至第二邊緣値；使用該第一組成件上之該發射機發射校準圖案於該通訊鏈上；使用該第二組成件上之該接收機接收該通訊鏈上之該等校準圖案；決定所接收之該等校準圖案是否指示遇到一新邊緣値，且如爲否，則回至該調整，且如遇到一新邊緣値，則儲存指示該第二邊緣値之漂移之資料：及反應該第一及該第二邊緣値之該漂移之函數，決定該 -3- 1379527 &年4月〜曰修正替換頁 ♦ · - ‘，漂移値 10·如申請專利範圍第1項所述之方法，其中，該時間參數包含該第一組成件上之該發射機之驅動時間點。 11. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中，該時間參數包含該第二組成件上之該接收機之接收時間點。 12. —種用以校準通訊通道之方法，包含一第一組成件具有一發射機連接至一信號來源，一第二組成件具有一接收機連接至一信號目的地，及一通訊鏈連接該第一及該第二組成件，該通訊通道使用該第一組成件上之該發射機自該信號來源發射資料，及使用該第二組成件上之該接收機接收資料，該通訊通道之一參數設定於一操作値；該方法包含：執行一第一校準程序；該第一校準程序包含重複調整一第一邊緣參數之一値，使用該第一組成件上之該發射機發射一長校準圖案，使用該第二組成件上之該接收機接收該長校準圖案，及分析所接收之該長校準圖案，以決定該第一邊緣參數之一値；該第一校準程序亦包含重複調整一第二邊緣參數之一値，使用該第一組成件上之該發射機發射一長校準圖案，使用該第二組成件上之該接收機接收該長校準圖案，及分析所接收之該長校準圖案，以決定該第二邊緣參數之一値；及由於該第一校準程序之結果，根據該第一及第二邊緣參數之該等値之該函數，決定該參數之該操作値；執行一第二校準程序；該第二校準程序包含重複調整一漂移校準函數之漂移基準參數之一値’使用該第一組成件上之該發射機發射一短校準圖案，使用該第二組成件上之該接收機接收該短校準圖案，及分析所接收之該短校準圖案，以決定該漂移基準參數之一値；及由於該漂移基準參數之該値之結果，決定該參數之該操作値之漂移値：及根據該漂移値，更新該操作値，其中，該長校準圖案具有長度至少30位元組，及該短校準圖案具有長度16位元組或以下。 13. 如申請專利範圍第12項所述之方法，其中，該參數之該操作値爲該第一及該第二邊緣値之平均値。 14. 如申請專利範圍第12項所述之方法，其中，該參數之該操作値爲該第一及該第二邊緣値之加權平均値》 15·如申請專利範圍第12項所述之方法，其中，該參數包含該第一組成件上之該發射機之驅動時間點。 16. 如申請專利範圍第12項所述之方法，其中，該參數包含該第二組成件上之該接收機之接收時間點。 17. 如申請專利範圍第12項所述之方法，其中，該長校準圖案包含具有長度2N_1之假隨機位元序列，其中，N 等於7或以上。 18. 如申請專利範圍第12項所述之方法，其中，該短 13795¾ J.

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校準圖案包含固定代碼。 19. 一種連接至雙向通訊通道之裝置，該通道包含第一組成件具有一發射機，一第二組成件具有一接收機，及一通訊鏈連接該第一組成件及該第二組成件，該通訊通道具有一時間參數，其具有由校準決定之一操作値；包含用以建立該時間參數之操作値之邏輯；及用以時常執行一漂移校準，以決定該時間參數之漂移値之邏輯，其中，漂移校準程序包含一演算法，與建立該操作値所用者不同；及用以反應該漂移値，更新該操作値之邏輯。 2 0.如申請專利範圍第19項所述之裝置，其中，用以建立該操作値之該邏輯包含用以執行第一校準程序之資源，以設定該通訊通道之該時間參數之該操作値，且其中，該漂移校準程序使用較該第一校準程序爲少之該通訊通道之資源。 21.—種連接至雙向通訊通道之裝置，該通道包含第 —組成件具有一發射機，一第二組成件具有一接收機，及 —通訊鏈連接該第一組成件及該第二組成件，該通訊通道具有一參數，其具有由校準決定之一操作値；包含用以使用第一校準程序建立該參數之操作値之邏輯；及用以時常執行一漂移校準，以決定該參數之漂移値之邏輯，其中，漂移校準程序包含一演算法，與用以建立該操作値之該第一校準程序之演算法不同；及 -6- /令月〜日修正替換頁 1379527 .反應於該漂移値而更新該操作値，其中該第一校準程序包含交換第一校準圖案於該第一組成件及該第二組成件之間，及該漂移校準程序包含交換第二校準圖案於該第一組成件及該第二組成件之間，其中，該等第二校準圖案較該等第一校準圖案爲短。 22.如申請專利範圍第21項所述之裝置，其中，該等第一校準圖案包含2 0 0位元以上之序列，及該等第二校準 φ 圖案包含1 3 0位元以下之序列。 23 _如申請專利範圍第21項所述之裝置，其中，該等第一校準圖案包含30位元組以上之序列，及該等第二校準圖案包含少於或等於1 6位元組之序列。 24.如申請專利範圍第21項所述之裝置，其中，該等第一校準圖案包含3 0位元組以上之序列，及該等第二-校準圖案包含少於或等於8位元組之序列。 25·如申請專利範圍第21項所述之裝置，其中，該等鲁第—校準圖案包含具有長度2N-1之假隨機位元序列，其中’ N等於7或以上，該等第二校準圖案包含具有少於或等於4位元組。 26· —種用於校準通訊通道之參數的方法，該通訊通道包含一第一裝置、一第二裝置，及一雙向鏈耦接於該第 —及第二裝置，該方法包含：該第一裝置：使用包含第一校準程序的第一演算法，以建立— 用於該參數的操作値’其中該第一校準程序包含，經 1379527 ' · · ^ 厶寺吻/>日修正替換頁由該雙向鏈從該第一裝置發送至該第二裝置的圖案：使用用於資料通訊的該操作値，以操作該雙向鏈：使用包含第二校準程序的第二演算法，以追蹤調整資訊，該第二校準程序在該雙向鏈的該操作期間，間隔執行兩次或更多次，其中該兩次或更多次的第二校準順序包含，經由該雙向鏈在該第一及該第二裝置之間發送的圖案，及該第一演算法異於該第二演算法；使用該調整資訊計算用於該參數的漂移値；以及使用該漂移値調整該參數的該操作値。 27·如申請專利範圍第26項所述之方法，其中該第一校準順序包含，複合相關於用於該第二校準程序之該—者的圖案。 28. 如申請專利範圍第26項所述之方法，包含產生該第一裝置上的該第一校準程序所用之從該第一裝置發送至該第二裝置的圖案。 29. 如申請專利範圍第26項所述之方法，包含執行在至少該第一裝置及該第二裝置之一之初始化下的建立。 30. 申請專利範圍第26項所述之方法，包含在該第一及該第二裝置操作期間，始終使用該第二校準程序。 31. 申請專利範圍第26項所述之方法，包含在該第一及第二裝置操作期間，使用該第二校準程序N次，及 /。年狀月卜日修正替換頁

在每次使用該第二校準程序期間’產生一傳遞或失效決定；以及在第N次第二校準程序之後，如果傳遞決定少於一預定量則減少該計算的漂移値，如果失效決定多於一預定量則增加該計算的漂移値。 32.—種用以校準通訊通道之第一及第二參數的方法，該通訊通道包含一第一裝置、一第二裝置及一雙向鏈耦 • 合於該第一及第二裝置，該方法包含：該第一裝置：使用包含第一校準程序的第一演算法，以第一建立用於該第一參數的一操作値，其中該第一校準程序包含經由該雙向鏈，從該第一裝置發送至該第二裝置的圖案；使用用於資料通訊之該第一參數的該操作値，操作該雙向鏈；使用第二演算法追蹤第一調整資訊，該第二演算法包 • 含在該雙向鏈操作期間間隔地執行兩次或更多次的第二校準程序，其中該兩次或更多次的第二校準順序包含經由該雙向鏈在該第一裝置及該第二裝置之間發送的圖案，及該第一演算法異於該第二演算法；使用該第一調整資訊及一第一預設定限，計算用於該第一參數的一第一漂移値；以及使用該第一漂移値，調整該第一參數的該操作値；及該第二裝置：使用包含第三校準程序的第三演算法，以第二建立用 -9 - 1379527 峰㈣狂替換頁於該第二參數的一操作値，其中該第三校準程序包含經由該雙向鏈’從該第二裝置發送至該第一裝置的圖案；使用資料通訊之該第二參數的該操作値，操作該雙向鏈：使用第四演算法追蹤第二調整資訊，該第四演算法包含在該雙向鏈操作期間間隔地執行兩次或更多次的第四校準程序，其中該兩次或更多次的第四校準順序包含經由該雙向鏈在該第一裝置及該第二裝置之間發送的圖案，及該第三演算法異於該第四演算法；使用該第二調整資訊及一第二預設定限，計算用於該第二參數的一第二漂移値；以及使用該第二漂移値，調整該第二參數的該操作値。 33.如申請專利範圍第32項所述之方法，其中該第一及第三校準程序，分別包含複合相關於用於該第二及第四校準程序之該等圖案的圖案。 3 4.如申請專利範圍第32項所述之方法，包含產生該第一裝置上的該第一校準程序所用之從該第一裝置發送至該第二裝置的圖案。 35.如申請專利範圍第32項所述之方法，包含執行在至少該第一裝置及該第二裝置之一之初始化下的該第一建立及該第二建立。 3 6.如申請專利範圍第32項所述之方法，包含在該第 —及第二裝置操作期間，使用該第三校準程序N次，及在每次使用該第三校準程序期間，產生一傳遞或失效決 -10- 13.79527 ；V •定，以及在第N次第三校準順序之後，如果傳遞決定少於— 預定量則減少該計算的漂移値，如果失效決定多於一預定量則增加該計算的漂移値。 37. 如申請專利範圍第32項所述之方法，包含使用該第一參數的該操作値，控制該第一裝置上的發送機及接收機之其一’及使用該第二參數的該操作値，控制該第二裝 φ 置上的發送機及接收機之其一。 38. —種用以校準多點下傳通訊通道之第一及第二參數的方法，該多點下傳通訊通道包含一第一裝置、一第二裝置、及一第三裝置，及一雙向鏈耦合於該第一、第二及第三裝置，該方法包含：該第一裝置：使用包含第一及第二校準程序的第一演算法，以建立用於該第一參數及該第二參數的操作値，其中該第一校準 • 程序包含經由該雙向鏈，從該第一裝置發送至該第二裝置的圖案’及該第二校準程序包含經由該雙向鏈，從該第一裝置發送至該第三裝置的圖案；使用資料通訊之該第一參數的該操作値及該第二參數的該操作値，操作該雙向鏈；使用第二演算法追蹤調整資訊，該第二演算法包含經由該雙向鏈在該第一裝置，與該第二裝置及該第三裝置之其一或兩者之間傳送的第二校準程序，該第二校準程序在該雙向鏈操作期間，被執行兩次或更多次，其中該第三校修正替換頁 mm. 準程序包含發送於該第一裝置，與該第二裝置及該第三裝置之其一或兩者之間的圖案，及該第一演算法異於該第二演算法；使用該調整資訊，計算用於該第一參數的一第一漂移値；以及使用該調整資訊，計算用於該第二參數的一第二漂移値使用該第一漂移値，調整該第一參數的該操作値；及使用該第二漂移値，調整該第二參數的該操作値。 φ 39. 如申請專利範圍第38項所述之方法，其中該第一及第二校準程序包含複合相關於用於該第三校準程序之圖案的圖案。 40. 如申請專利範圍第38項所述之方法，包含產生該第一裝置上的該第一校準順序所用之從該第一裝置發送至該第二裝置的圖案。 41. 如申請專利範圍第38項所述之方法，包含執行在至少該第一裝置及該第二裝置之一之初始化下的建立。鲁 42. 如申請專利範圍第38項所述之方法，包含在該第一及第二裝置操作期間，使用該第三校準程序N次，及在每次使用該第三校準程序期間，產生一傳遞或失效決定；以及在第N次第三校準順序之後，如果傳遞決定少於一預定量則減少該計算的漂移値，如果失效決定多於一預定量則增加該計算的漂移値。 43. 如申請專利範圍第38項所述之方法，包含使用用 -12- 1379527

/♦月“日修正替換頁於與該第二裝置通訊之該第一參數的該操作値，控制該第一裝置上的發送機及接收機之其一。 44.如申請專利範圍第38項所述之方法，包含使用用於與該第三裝置通訊之該第二參數的該操作値，控制該第 —裝置上的發送機及接收機之其一。

-13- 1379527 f則竹日修正替換頁七、指定代表圖： (一）、本案指定代表圖為：第（6 )圖 (二）、本代表圖之元件代表符號簡單說明： 200,20 1,202,204,205 蹤跡 206 點

八、本案若有化學式時，請揭示最能顯示發明特徵的化學式：無

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