1375800 - 九、發明說明： • 【發明所屬之技術領域】 纟^月"及帛對鏡頭模組之鏡座進行表面電阻測 試之測試裝置及測試方法。 【先前技術】 隨著攝像技術之發展，鏡頭模組於各種用途之攝像裝 置中得到廣泛之應用，鏡頭模組與各種可携式電子裝置如 籲手機、電腦等之結合，更得到眾多消費者 然而’隨著可擒式電子裝置朝著功能多樣化之方向發 展，其4亦變得越來越複雜，且所述元件大多需通電才 能工作’這導致所述可携式電子農置很容易因為電磁干擾 而影響正常工作。 鏡頭模組通f作為攝像裝置之元件而廣泛地應用於 可携式電子裝置令’其-般包括鏡片、鏡座、滤光片及用 於間隔鏡片與濾光片之間隔部件，如墊片等。於鏡頭模組 • 組裝過程中，通常需將所述鏡片、濾光片及墊片等元件藉 由一定順序裝入鏡座，再將鏡座旋入鏡座以組裝成一完整 之鏡頭模組。另外，為降低所述鏡頭模組受電磁干擾之程 度’ 一般還茜於所述鏡座之表面塗上一層防電磁干擾 (Electromagnetic Interference，EMI)塗層。 當鏡座之表面塗上防電磁干擾(EMI)塗層後，還需要利 用靜電計（Electrometer)測試該塗層之電阻值是否達到要 求’以將達不到防電磁干擾需求之鏡座淘汰掉，保證產品 之良品率。而通常之做法係人手拿住靜電計之探針直接對 1375800 • 塗層之電阻值進行測試。然而，由於探針尖端十分銳利， . 很容易劃破塗層而造成測試誤差，是故測試時探針需跟塗 層表面保持一定距離以確保測試之品質，可以理解的是， 採用人手操作之方式將難以達到上述之測試要求。 有鑒於此，提供一種能精確快捷之測試鏡座表面防電 磁干擾塗層之電阻之鏡座測試裝置及測試方法實為必要。 【發明内容】 ^ 下面將以具體實施例說明一種能精確快捷之測試鏡 座表面防電磁干擾塗層之電阻之鏡座測試裝置及測試方 法，其可實現測試過程中測試單元與鏡座間保持一定距離 及實現該測試之自動化。 一種鏡座測試裝置，所述鏡座測試裝置包括：一固持 單元，所述固持單元用以固持鏡座；一測試單元，所述測 試單元用以對所述固持單元固持之鏡座之表面防電磁干擾 塗層進行電阻測試；至少一夾持單元，用於夾持及輸送所 • 述鏡座；以及一控制單元，用以控制所述測試單元對所述 鏡座進行測試時所述測試單元與所述鏡座之距離保持一定 值，同時接收處理所述測試單元之測試值而檢定所述鏡座 是否為正品並控制所述至少一夾持單元對所述鏡座進行夾 持及移動。 以及，一種採用上述鏡座測試裝置之鏡座測試方法， 其包括以下步驟：所述夾持單元夾持所述鏡座並將所述鏡 座輸送至所述固持單元；所述固持單元將所述鏡座固持 住；所述控制單元控制所述測試單元與所述鏡座間之距離 磁干擾塗h =時由所述K單兀斟所述鏡座之表面防電 測試單元且進行測試；所述控制單元接收處理所述 值而檢定所述鏡座是否為正品。
藉由設置至，卜:技術i所述鏡座測試I置及測試方法，其 由設置^—失持單元以失持並移動所述鏡座，同時經 之元以控制測試過程中職單元與鏡座之間 測試品質僅實現了鏡座測試之自動化，亦達成了較佳之 【實施方式】 =將結合圖式對本發明作進—步詳細說明。 /閱圖1，本發明第一實施例提供之一種鏡座測試 ^ 用於對鏡座之表面防電磁干擾塗層之電阻進行測 所述鏡座測試裝置1〇包括一固持翠元η，一測試單元 至少一夾持單元133，以及一控制單元14。
2〇所，固持單元11包括一固持部111及一用於承載鏡座 :之平至112。該固持部lu用於固持所述鏡座2〇，優選地， ，固持部可為—失爪’當鏡座2G放置於平臺112上時，所述 口持單元11之固持部ηι，亦即所述夾爪閉合，可將所述鏡 座20固持住。 所述測試單元12用以對所述固持單元11固持之鏡座2 0 表面防電磁干擾(Electromagnetic Interference，EMI)塗層 行電阻/|'丨4，其可為一靜電計(Eiectr〇meter)，且所述靜 電計包括一對探針121。 所述控制單元14控制所述測試單元12，使其於對所述 1375800 ' 鏡座20進行測試時與所述鏡座2〇之距離保持一定值，同時 . 接收處理所述測试單元12之測試值而檢定所述鏡座2〇是否 為正品。該控制單元14進一步控制所述至少一夾持單元 133，使其對所述鏡座20進行夹持及移動。 所述夾持單元133用於夾持所述鏡座2〇，其可為一夾 爪，優選地，所述鏡座測試裝置1〇還進一步包括—懸臂W， 所述夾持單元133及所述測έ式單元12連接於所述懸臂u之 •兩端，由所述懸臂18帶動其運動。另外，所述鏡i測試裝 置10可進一步包括一旋轉單元19,其連接於所述懸臂μ 上，如懸臂18之中部，並可帶動所述懸臂18旋轉。可以理 解的是，該旋轉單元19可為一伺服馬達。 本發明實施例一提供之鏡座測試裝置1〇之工作過程 如下： 所述失持單元133夾持所述鏡座20並將其輪送至所述 固持單元11。如圖1所示，第一托盤21中盛裝有若干個鏡座 瞻20,所述控制單元14控制所述懸臂18帶動所述夾持單元1幻 移至該第—托盤21，並靠近所述鏡座20，此時，由所述控 制單7G14控制所述夾持單元133之夾爪閉合，即可將所述鏡 座20固持住，從而可再經由所述懸臂18帶動所述夾持單元 133及其夾持之鏡座2〇移至所述固持單元乜。 所述固持單元11將所述鏡座20固持住。具體地，各所 述控制單元14控制所述懸臂18帶動所述夾持單元其 夹持^鏡座20移動至所述固持單元η ’並將所述鏡座观 置於平臺112上時，料时部m之夹爪閉合，可將所述 鏡座20固持隹。 間之:14控制所述測試單元12與所述鏡座20 # 一定值，同時由所述測試單元12對所述鏡座 控H 擾塗層之電阻進行職。具體地，所述 二，=制所述f;f18帶動所述測試單元12 ’亦即所述 ==:持單元U，鏡座2°，並控制 121之h # Η #稍述鏡座2G之表面，當所述探針 所述未?不）與所述鏡座2G之達到距離時，啟動 ^2〇 凡2，亦即所述靜電計之開關，開始對所述鏡 肯之伤7面防電磁干擾塗層之電阻進行測試。需要特別注 2為保持測武品質，當所述測試單元12對所述鏡座 面防電磁干擾塗層之電崎行測試時，需保持所述 探針121相對所述鏡㈣之表面之距離不變。 =述控制單兀14接收處理所述測試單元Η之測試值 二疋=述鏡座2〇是否為正品。具體地，由實驗方法可得 ^檢與正品之基準值，當所制試值小於或等於 /土準值時’經由所述控制單元14可檢定與該測定值相對 應之鏡座2〇為正品，當所述測試值大於該基準值時，經由 所述控制單兀14可檢定與該測定值相對應之鏡座20為次 品。 a進v地，當經由所述控制單元14檢定所述鏡座2〇為 ""人如時，可由所述控制單元14控制所述旋轉單元19，亦即 所述词服馬達旋轉而帶動所述懸臂I8旋轉，使所述夾持單 兀133移至該被檢定為次品之鏡座2〇並將其夾持從而可藉 11
相雇^ ’18▼動該鏡座2GiL所述托盤22並放置於其上。 時了q當經由所述控制單元14檢定所述鏡座20為正品 诚紅I經由㈣方法藉由所㈣臂18帶動所述鏡座20至所 句9 21亚放置於其上。綜上所述’經由設置托盤21及托 t可將所述域定為次品或正品之鏡座2Q分開處理。 M2’本發明第二實施例提供之鏡座測試裝置 於實施例提供之鏡座測試裝置_比，其差別在 131、+述，座測試裝置3°包括複數夾持單元如夾持單元 持單元132及夾持單元133。相對應地，所述控制單 ^甘4控制所述爽持單元131、夹持單元132及爽持單元133， 使其對所述鏡座20進行失持及移動。
進-步地，所述夾持單元131、夾持單元132及失持單 兀133用以夾持及輸送所述鏡座2〇，且其分別為一失爪。所 述夾持單元m用於續經所㈣試單元12測試，並為所 控制單S14檢定為次品之鏡座2G。另外，所述鏡座測試褒 置30還包括，臂16，所述线單元131及所述失持單^ 132連接於所述懸臂16之兩端，並由所述懸臂16帶動其運 動。優選地，所述之鏡座測試裝置3〇可包括—旋轉單元口， 其連接於所述懸臂16上’如懸臂16之中部，並可帶動所述 懸臂16旋轉。可以理解的是，該旋轉單元17可為一伺服^ 達。 與本發明實施例一提供之鏡座測試裝置1〇之工作過 程相比，實施例二提供之鏡座測試裝置3〇之工作過程之差 別在於： 12 首先，由所述夹持單元131及夾持單元132夾持所述鏡 -座20至所述固持單元11。具體地，第一托盤21中盛裝有若 干個鏡座20，所述控制單元14控制所述懸臂16帶動所述失 持單7L131與所述夹持單元132移至該第一托盤21，並靠近 所述鏡座20 ’此時’由所述控制單元14控制所述夾持單元 131與所述夾持單元132之失爪閉合即可將所述鏡座2〇固 持住’從而可再經由所述懸臂16帶動所述夾持單元i3i與所 _ 述夾持單元132及其夾持之鏡座20移至所述固持單元11。 其次，當所述夹持單元131或所述夾持單元132將所述 f座20失持至所述固持單元u，並放置於所述平臺後， 可由所述控制單兀14控制所述旋轉單元17，亦即所述伺服 馬達旋轉而帶動所述懸臂旋轉某個角度，使所述夹持單 元或所述夾持單元132與所述固持單元^偏離某個角 度，從而可使所述測試單元12移動至所述固持單元u時， • 不會與所述夾持單元⑶或所述夾持單元⑶發生干涉。 ^進—步地，當經由所述控制單元14檢定所述鏡座2〇為 人時，可由所述控制單元14控制所述旋轉單元19，亦即 所述伺服馬達旋轉而帶動所述懸臂18旋轉，使所述夾持單 凡133移至該被檢定為次品之鏡座2()並將其夾持從而可藉 由所述懸臂18帶動該鏡座2〇至所述托盤22並放置於其上。 相應地，當經由所述控制單元14檢定所述鏡座2〇為正品 f ’可由所述控制單元14控制所述旋轉單元17，亦即所述 ，服馬達旋轉而帶動所述懸fl6旋轉，使所述夾持單元⑶ 或所述夾持單元132移至所述固持單元n，從而可藉由所述 13 ^75800 +早S131賴述㈣單元132將該被檢定為正品之鏡座 夹持’並藉由所述懸臂16移動並放置於所述托盤21上。 另外，由上述可知，所述懸臂16可帶動所述連接於直 :端之夹持料m及夾持單元132移動至所述托盤21，'從 而可-次性分別藉由料㈣單元131及所述祕單元132 =兩個鏡座。可歧_是，所述鱗單元ΐ3ι或所述夹 符早疋132將所述鏡座20放置於所述平臺112上之先後次 序’可由所述控制單元14進行控制。 本發明實施例提供之鏡座測試敦置1〇及測試方法，其 2設置至少-夾持單元，如失持單仙丄、夾持單元132 及夾持單元133以夾持並移動所述鏡座2〇，同時經由設置一 控制單心以㈣職雜巾賴單元u與鏡㈣之間之 距離，不僅實現了鏡座細m之自動化，亦達成了較佳之 測試品質。
θ综上所述，本發明確已符合發明專利之要件，爰依法 提出專利申請。惟’以域述者僅為本發明之較佳實施方 本發明之範圍衫以上述實施方式為限，舉凡熟習本 ^技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化， 皆應涵蓋於以下申請專利範圍内。 【圖式簡單說明】 圖1係本發明第-實關提供之鏡座測試裝置之 不意圖。 圖2係本發明第二實_提供之鏡朗試裝置之結構 14 1375800 【主要元件符號說明】 鏡座測試裝置 10、30 固持單元 11 固持部 111 平臺 112 測試單元 12 探針 121 夾持單元 131、132、133控制單元 14 懸臂 16、18 旋轉單元 17、19 鏡座 20 第一托盤 21 第二托盤 22
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