TWI354508B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TWI354508B
TWI354508B TW096112817A TW96112817A TWI354508B TW I354508 B TWI354508 B TW I354508B TW 096112817 A TW096112817 A TW 096112817A TW 96112817 A TW96112817 A TW 96112817A TW I354508 B TWI354508 B TW I354508B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
layer
heating element
item
heating
plate
Prior art date
Application number
TW096112817A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200808100A (en
Inventor
Noboru Kimura
Yoshihiro Kubota
Waichi Yamamura
Shoji Kano
Original Assignee
Shinetsu Chemical Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2006110696A external-priority patent/JP4654151B2/ja
Priority claimed from JP2006110700A external-priority patent/JP4654152B2/ja
Application filed by Shinetsu Chemical Co filed Critical Shinetsu Chemical Co
Publication of TW200808100A publication Critical patent/TW200808100A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI354508B publication Critical patent/TWI354508B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67103Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B3/00Ohmic-resistance heating
    • H05B3/10Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor
    • H05B3/12Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor characterised by the composition or nature of the conductive material
    • H05B3/14Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor characterised by the composition or nature of the conductive material the material being non-metallic
    • H05B3/141Conductive ceramics, e.g. metal oxides, metal carbides, barium titanate, ferrites, zirconia, vitrous compounds
    • H05B3/143Conductive ceramics, e.g. metal oxides, metal carbides, barium titanate, ferrites, zirconia, vitrous compounds applied to semiconductors, e.g. wafers heating
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B2203/00Aspects relating to Ohmic resistive heating covered by group H05B3/00
    • H05B2203/002Heaters using a particular layout for the resistive material or resistive elements
    • H05B2203/003Heaters using a particular layout for the resistive material or resistive elements using serpentine layout

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Resistance Heating (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Surface Heating Bodies (AREA)

Description

1354508 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於-種加熱元件,其至少具有:耐 導電層,具有形成於綱熱性基材上之加 保護層,形成於該導電層上。 、’丨之 【先前技術】 ΐ,於半導體7"件之製造製程,關 Β曰圓之加熱态,吾人係採用以鉬、鎢箅离 ”,、千等體 發熱體,纏繞或黏接於由氧化紹、氮化銘、氧化二做為 所構成之賴錄·。. 魏料之燒結陶兗 MU,如^之加熱器中,存在有如下之問題點:由於發鄉 為金屬製,而易於變形或揮發、壽命短、且 且因為使用燒結喊作為耐熱性 此之黏接劑成為雜質,凡此皆其問題點。 π賴包5於 人讲if4為防止如此之熱循環造成之熱變形或雜質之飛散,右 熱之熱分解l㈣⑽:PyrGlltid„大且可南效率加 熱性基材;及妨該耐熱性成之耐 例如非專利文獻卜專利文獻1-3等)。’導電層(參照 如此之加熱器之加熱元件2〇,例如 熱部20a,在_之耐熱性基材21上形】教」2,有:發 4,供電端編雜之保護/ 對氧;t=l;列熱體之熱分解石墨,由於 t之高溫氣體具有反應性,it吏基而3程内所 Μ部之熱分解石墨因殘存於製程内之氧=;:::;卜::= 5 1354508 4耗’導致該加熱元件壽命減短。 而為解決朗題’有人嘗試使供電端子 如,有人提案使供電端子透過具有因“d 作為包覆加熱H圖案之保護層,=供 電端子之壽命(參照專利文獻子。k過熱以延長供 組合碳製之供電端子1後形有人提案在以裝配之方法 6等),衣之供_子錢軸倾層之方法(參照專利文獻! ^、 然而,如此之加熱器加熱元件由於於加埶面側有玄赵从如 與被加熱物之間需設置空間等,而存在法物从在 完成之連接部附近之保護層易因使用而# 數令件之方法 層之腐細導朗加熱元件壽命減〖開始導電 素系飯刻氣體等會腐軸化物之環境使I ^使用鹵 =會因缺乏她受到腐一 =元二= 靜二器,賦予其 (參照專利文獻2、3、5) 加熱器上 ,夹持性能,或使所失持之_損傷而導致其破且 益之耐熱性及耐蝕性亦如上述不夠充分。 、且關於加熱 【非專利文獻1】「真空」n〇12,(33), 碳化4=務公司製熱分解石墨/熱分解氮細加熱^載之^合 【專利文獻1】美國專利第53碰2號說明書 【專利文獻2】日本特開平5-129210號公報 【專利文獻3】日本特開平6_61335號公報 【專利文獻4】日本特開平my·號公報 【專利文獻5】曰本特開平5_1〇9876號公報 · 【專利文獻6】崎公㈣腦Q4/Q68541號小冊 6 1354508 【發明内容】 螢明所欲解決之諉韶 -點:行’本發,的係為提供 環境下,腐蝕生氣體亦難以透身广:避:溫·腐蝕性氣體 電端子部受到賴所造成之劣化。避免日導〶層,特別是因供 電阻係數或硬度之而1=之=;^、:,護層上形成有調整過 高功能。 、*A持圖料亦可做為靜電夹盤發揮 解決課顳之丰鉛 具有為達成上述目的,依本剌,可提供—種加熱元件,其至少 耐熱性之基材; 導電層,具有形成於該耐熱性基材上 絕緣性之保護層,形成於該導電層上;—圖案’及 其特徵在於: 於該保護層上至少具有氮氣透射率在1x1G_2 耐蝕層(申請項丨)。 ω /sec以下之 =此2’於該保護層上具有一耐蝕層,氮氣透射率在 =10二on2/sec以下,因此該耐蝕層之氣體透射率低, 體環境下腐錄氣體亦難以透射,而使該加=元件 元件’可避免0導電層’特別是因^部受 此時,該耐蝕層之孔隙率宜為7%以下(申請項2)。如此, 耐蝕層之孔隙率為7%以下,因此可更有效地抑制腐蝕氣體之透 7 又以5〇8 射。 並且,該耐歸之材f宜為n梦 等中之任一種化合物(申請項3)。 種,或此 如此,耐蝕層之材質宜為鋁、釔、 之任-種化合物,因此即使於4素纽 或,等中 亦可穩定使用。 、x乳體或乳荨腐韻環境中 做為如此之化合物之例,該耐韻 銘、氟他、氧化紀、氮化妃、氟=之為,、氮化 —種、,或係此等之組合(申請項4)。、 氮化石夕中之任 並且,該耐蝕層宜藉由C奶法、反岸性逾 法中之任―種, 成之(申請項5)。如此,耐钱層葬由_土于2、、且口之方法形 二之宜==== 二之厚度為, _上:二、離子鍍膜: b)。如此,若該耐蝕層係鋅, c .層(甲明項 法中之任一種方法以#^曰 /、反應性濺鍍法、離子鍍膜 藉由此等之方法使==隙率低之耐飯層,因此 «以上20 Μ以其柄相較之下㈣之厚度為(U 率低之耐钕層。 S 17以形成’則可以低成本形成氣體透射 以上;00_ 溶膠凝膠法形成為厚l"m 法或溶膠凝膠法形成^ 1項7)。如此,該耐餘層係藉由噴敷 以低t形成,透之層者,因此可 CVD氮化石夕U之=5為氮化硼、熱分解氮化硼、氮化矽、 請項8)。如此,該保_財之任—種,或係此等之組合(申 化石夕、CVD氮化石夕t曰之=若為氮化侧、熱分解氮化蝴、氮 虱化紹、CVD氮化铭中之任一種,或係此等之 8 1354508 組合,姐*含有成為鱗仙之金狀此魏雜材質, 而,為-保護層,該保護層可以高絕緣性保護導電層,且不發生 造成之剝離或雜質之飛散’在被要求有高純度之 加熱步驟中亦可以低成本對應。 亚且’該導電層之材質宜域分解碳或朗;δ墨(中請項9)。 如此導電層之材質若為熱分解碳或玻璃石墨,則其可加敎至高 ΐ且因此易將加熱器圖案製作為曲折圖案,藉由變 更,、見度或Α度等,設定任意之溫度梯度,或
環境之發熱分布而使其均熱化。 (…、有相應L 又該耐熱性基材可為―體成形之物,至少形成有: 板狀部,形成有加熱器圖案; ,狀部’形成有自該板狀部之其中一面突出之導電路;及 電端Ϊ端Ϊ,位於該棒狀部之與該板狀部相反之—端,形成有供 於„亥耐熱⑦基材之表面形成有絕緣性之介電質層, 層 3^電質層上,該保護層包覆該加熱器圖案與該導電路之 表面而一體形成(申請項10)。 如此,該耐熱性基材形成有: 板狀部,形成有加熱器圖案; 棒狀部’形成有自該板狀部之其卜面突出之導電路;及 電^端部’位㈣棒狀部之與該板狀部相反之—端,形成有供 成有ίΓ埶狀部形成有該導電路之導電部將於該板狀部形 -瑞ϋ、、,案之加熱部與於該尖端部形成有該供電端子之供 二而使,'因此,電端子部難以因步驟中之高溫氣體消 好Α =、,、疋件成為一壽命長之加熱元件。並且,該耐埶性基 物,非由複數之零件組合裝配者,因么2 '且、n /、有小體積且製造成本低,形成於該耐埶性基材之声不 易因使用龜細使該加熱元件成為—壽命長之加熱元件。又^導 9 1354508 ,、導電路與供電端子,該加熱器圖 該加熱;積以=元;保護層不易因使用龜裂而使 基材之材質若為':材石^Π11)。如此耐熱性 此可使製造成本更為降低,且财f性^加工為複雜之形狀,因 ™ 層之材f宜為氮化爛、熱分解氮化蝴、氮化石夕、 。月項)如此;丨電質層之材質若為氮、^ t cv_、氮化㈣氮她中:任:二解 5,則絕緣性高,不會產生於高溫中使用所造成之雜晳、飞、,且 亦可對應被要求具有高純度之加熱=用心成之雜質之飛散, 並且,該棒狀部長度宜為10〜200刪(主 狀=長度為1G〜2GGmiii ’㈣於端子部與加^間取=棒 J J :戒?㈣ ,,靜電夾持圖案,即可固持被加熱體並一面加土有:= 被加熱體之位置精密度時,可更為二^ 有:為達成上述目的,依本發明,可提供一種加熱元件,至少具 耐熱性之基材; 導電層,具有形餅酬紐基材上之加熱賴案;及 1354508 絕緣性之保護層,形成於該導電声上· 其特徵在於: s ’ 層(申15^至八有由含有第三元素之化合物所構成之耐钱 護層:熱口電!上形成-保護層,在該保 3熱元件成為一壽命長之加熱構^則, 化亦可避免_層,_是_端子部^腐= 做二夾體,通常其 夹持性能,然而如上述,若”向而無法產生 熱元件具有—_層,岭有Ί件做為靜電夹盤,該加 阻係數及硬度經過調整,可降低^所構成,則電 使被夹f之晶圓不發生損傷或破1。’省發揮向度之夹持性能, 圖案上形成有該保護層及該耐 黃於雜電夹持 層及該耐姓層,則可更為有效地成有該保護 力姻並-面高效率地加熱並可以; 為正確地進行所鱗之加齡驟。”,、體之位置精讀時,可更 做為如此之化合物之例,該耐蝕 鋁、氧她、氟化紀中之任一種,或传=質·、氮化 如此,铜之材質為氧化紹、氮此 一種’或係此等之組合,則即徒於.去多,化紀、鼠化紀令之任 境下亦可穩定使用β 、 p使於齒素系餘刻氣體或氧等腐姓環 11 1354508 且,該第三元素宜為m碳 銳,ί!之任—種,或係此等之組合(申請二又i第 二:素ί :有1宜為〇. 01%〜霸(申請項19)。該第三元辛ί 如此之第3族元素、第4族元素、第13族元素、第14 ί為 稀土類元素中之任一種,或係此等之组合,苴含旦武/、 膠、疑層宜藉由cvd法、反應性讀法、噴敷法、、容 2^。;:此=^由=^方//_以形成之(申請項 或以此等方法加以組合以形成之,則可ίΓί 。.二=====所形成之厚度為 薄耐韻性又高之•層,因此藉由於可形成既 較之下較薄之厚度為0.^^匕專之方法中之任-種形成相 ❿ 形成耐餘性高而薄之耐钱層。 —以下之層’則可以低成本 為二⑵所形成之厚度 層,則可以低成本形成耐储高^上⑽_下之 ^ ^ ^ 1« ,T (t. 最表面之表面粗糙度夠9小,m面粗輪度如為—以下, 于蝕層之取表面之電阻係數為ι〇8〜 12 1354508 1>〇^Ω ·αη (室溫),因此可使其成為一作為靜電夾盤使用時具有 咼度之夹持性能之加熱元件。 又該而層之最表面之維氏硬度宜為丨GPa卩上8GPa以下(申 請項25)。如此,該耐姓層之最表面之維氏硬度為1Gpa以上沉以 nm严且,該保護層之材質宜為氮化观、熱分解氮化蝴、氮化石夕、 、氮她、⑽氮化財之任—種,或侃等之組合(申 g 1該保護層之材質若為氮化、熱分解氮化领、氮 2 、氮化銘、⑽氮化銘中之任-種,或係此等之 用緣性保護導電層,並且成為不發生於高溫中使 亦可 ’即使於要求高純度之加熱靖 ^時,該導電層之材質宜為熱分解碳或玻璃石墨( 若為熱分解碳或玻璃石墨,則可加熱至 更a官声,因此易於使加熱器圖案為曲折圖案,藉由變 之發熱定任意之溫度梯度,或使其具有對應熱環境
Si部該Sit㈡万體成形之物’至少形成有: ,成有自該板狀部之其中一面突出之導電路;及 電端ΐ;i該棒狀部之與該板狀部相反之—端,形成有供 形成緣性之介電質層,該導電層 表面而-體形成曰 (申請層包覆該加熱器圖案與該導電路之 如此,該耐熱性基材形成有: 板狀部’形成有加熱器圖案; 棒狀部,形成有自該板狀部之其中-面突出之導電路;及 13 1354508 帝山尖端部,位於該棒狀部之與該板狀部相反之一端,形成有供 電端子; 立/因此藉由於該棒狀部形成有該導電路之導電部而將於該板狀 部形成有該加熱器圖案之加熱部,與於該尖端部形成該^ 子部加以關,因此可使供電端子部低溫化,不、易因 乂驟中之鬲溫氣體消耗而使該加熱元件成為一壽命長之加熱元 ί ° f且,該耐紐基材為—體成形之物,非由複數之i件組 者,因此可使該加熱元件僅具有小體積,製造成本低, 該耐熱性基材之層,不易因使縣裂而使該加熱元件成 熱元件。又該導電層如上述形成為加熱器圖案與 體形成’因此可使該加熱元件僅具有小體積,製 熱i:保護層不易因使用龜裂而使該加熱元件成為-壽 材夕ίϊϊΐ性基材之材質宜為石墨(申請項29)。如此耐熱性基 材之材質右為石墨,則材料舰,易於加卫為 可使製造成本更加降低,糾熱性亦Α。城雜之械’因此 石夕電質層之材質宜為氮化蝴、熱分解氮化爛、氮化 =應==生;驟高溫中使用所造成之雜質之飛散 以料度宜為10〜200麵(申請項31)。如此使棒狀邱 則端子部與加熱部可保持充分之距離,因: 了使卩充分低溫化,可更為有效地防止端子部之雜。 並且,宜於該板狀部之該棒狀部突出之一 持圖案(h項32)。如此,若於該板狀部之該棒狀部突出之1 14 1354508 =形成有加熱器圖案,贿 力二,之靜電夾持圖案,則可側之面开巧有固持被 南效率地加熱並可以高精密度^…f亚一面加熱,因此可 賤錢等要求被加熱體之位置$密 =子植入、電襞侧、 之加熱步轉。又,如上述1 ’可更為正確地進行所期待 过、亦具有可防止端子部之劣化之優點。 可避免因導電層,特別是因體亦難以透射, f做為靜電缝使用時可使電阻係成Ϊ劣化。 電路之導又’若藉由於棒狀部形成有導 -“長溫氣體而消耗’更使該加熱元件成為 【實施方式】 省知之加熱元件在使用虐素系蝕刻氣 ;ί用丄最表層,層若為硼化二==:= 有時即使於最外層施關如耐錄之^ m人·^之研丸’ ,電阻龜過“造成無法產生夾持性。又 im導體晶圓等之被加熱物之最表面之硬度過硬,則合$ 造,y且最外面之粗财若众貝 題 1會損傷被加涵,或導朗細轉小^不產生鱗力之問 發生。 、在此’本案發明人等不峨力於研究而思考出 完成本發明。其係一種加熱元件,具備有: 、·、 15 耐熱性之基材; Ϊ:之耐熱性基材上之加熱器圖案;及 、也緣性之保蠖層,形成於該導電 其特徵為: ΗΓ2:?呆濩層之上至少具有一種耐蝕層’其氮氣透射率為lx 含有第三元素之化合物所構成 體成本低之加熱元件,其即使於高溫·腐 受至ί無法透射,可避免因導電層或端子部 !腐巧造成之<化,即使做為靜電錢亦具有高功能。 本;面詳細説明關於本發明之實施形態,然而 圖。圖1及圖2為本發明之加熱元件之概略 圃。本發明為一種加熱元件10,至少具有: 耐熱性之基材1 ; ~ ί ί f 3:具/形成於該耐熱性基材上之加熱器圖案3a ;及 絶緣性之保護層4,形成於該導電層上; 3該,严4之上至少具有一種耐餘層知,其氮氣透射率 cm /sec 以下。 亦難1該加件即使於高溫•腐錄氣體環境下腐姓氣體 二、^透射’可確’、防止導電層3之腐姓,因此可避免因導電層, 特別是因端子部受到腐蝕所造成之劣化。 —在此使用如圖5所示之測定裝置3〇以進行氮氣透射率之測 =百先’將與_層_之败縣之成為試樣之形成在 牡-ί31上’如圖5,設置其於可抽真空之測定裝置3Q。'然後流入 、疋1之氮至石墨板側容器33,計測試樣側容器34之壓力變化, ,進行氮氣透射率之測定。關於石墨板之尺寸,可使關如直# 50mm,厚l〇mm者。 氣脰透射率K (cm/sec)以K=QL/ ( ΔρχΑ)表示。在此Q (atm . cm3/sec)表示氣體透射量,以Q= (ρι_ρ2) χνβ/ΐ表示。 (cm)表示試樣之厚度。(atm)表示初始設定差壓,以 16 丄354508 spo—pi表示。A (cm2)表示透射面積。 (Pi—P2) xVo/i:中,Pi (atm)表示試樣側容器34之初始 内壓,h (atm)表示氣體透射後之試樣側容器34之内壓。Vg (cm3) 表示試樣側容器34之内部容積。t (sec)表示透射時間。 △ P=P。一Pi中’ p〇 (atm)表示石墨板側容器33之壓力。 ,且’耐蝕層4p之孔隙率宜為7%以下。以此可有效地抑制 腐蝕氣體之透射。耐蝕層4p之孔隙率係指耐蝕層4P之未被構成 成^占據之孔隙之部分之比率,孔隙率之測定可藉由成膜所致之 重量增大與利用顯微鏡觀察進行之空隙計測與厚度測定而施行 之。 耐餘層知之材質為具有氣體非透射性與耐熱性者即可,但宜 ,紹、紀、种之任一種,或係此等之任一種之化合物。以此即 <於鹵素系射彳氣體或氧等腐#環境下亦可穩定使用。亦即可使 51紀ΐ屬,或做為銘、紀、或碎中之任—種化合物之氧化銘、 =鋁、齓化鋁、氧化釔'氮化釔、氟化釔、氧化矽、氮 種’或此等之組合,亦可使用以此等之任—以上之種二 4ρ可藉由CVD法、反應性濺 '離 CVD法、反應性濺鍍法、離子鑛膜法中之任一種方法, 較薄之0. 射率低之耐蝕層 此等樹之任—種可使其成為相 簡。_以下厚之層’而可形成成本低且氣體透 以下喷敷法或溶勝凝膠法使其成為1 _以上1〇。《 液於層氧她溶膠 氧化_液若為具有含有氧聽之化 17 乜54508 巧邊導電層’且不會發生因在高溫中使用而造成 ’即使知皮要求高純度之加熱步驟中亦可以 且层if ί3 若為熱分解碳或玻璃石墨,則可加熱至高溫, 使加熱器圖案為曲折圖案等,適於藉由變化 :文:ί5ί没疋任意之溫度梯度,或使其具有對應熱環境之發 。特別是若為熱分解石墨,製造成本更 i材=Γϊί可因通電而發熱之耐熱性高之材f則亦可為其他 亦m案形狀不限定於如圖1之曲折圖案(鑛齒狀圖 茶 >> 亦可為例如同心圓狀之旋渦圖案。 口 之間加於板狀部1a上’介電質層2與保護層4 之充二錯此提供用以達成其加熱被加熱物之目的 餅圖、圖2,連接導電路3b之電流導入部可為1 之形Γ 上’藉此以成為2區以上獨立之加熱器控制 之棒狀1⑻或圖2⑻宜形成於板狀部1a 形成於板狀部la 亦可應其目的如圖3⑼ 宜為——體成形之物,至少形成有: f狀°Ma’形成有加熱器圖案3a; 及+狀部1b’自該板狀部之其中一面突出’形成有導電路3b,· 有供位於轉狀部之與該板狀部1a相反之-端,形成 電層1之表面形成有絕緣性之介電質層2,該導 與該導電路3b 彡^髓層4包覆該加熱器圖案3a 有加熱器圖i將於板狀部la形成 "、、。卩10a,與於尖端部ic形成有供電端子 19 供帝j 1Gc加以隔開’因此使供電端子部10c中外露之 g件成/ ^目步射之高溫氣體雜而使該加 开ί : dii加熱元件。且該耐熱性基材1為--體i 具有小體積,Ϊ造成=組合而裝配者,因此可使該加熱元件僅 3a、導電路3b與㈣端子b該= 因。此可使該覆而-趙形成: 不易:=使該it元件加=護層4 福雜夕;Μ - 土材之材貝右為石墨,則材料價廉,即使欲使1為 因此:=易,因此可使製造成本更低,且耐熱性亦大 材質。田心,而右其具有耐熱性則亦可為氮化硼燒結體等其他 成^反la若形成有介電f層2、加熱器圖案3a與保護層4 即可,不需非如圖卜2為圓板狀不可,亦可為多 ❹ίΪ部1b若自板狀部18之其中一面突出,如圖1 (C)所示 電質層2、導電路3b、保護層4及更位於此等者上之耐 b P而成為導電部l〇b即可’不需非如圖丨、2為圓柱狀不可, /、可為多角柱。且棒狀部lb如圖J為i支,如圖2為2支或為 Y上者皆可。此圖2之加熱元件中,加熱器_ 3a形成於板狀 。丨la之兩面’藉由2支棒狀部lb通電而加熱。 使棒狀部lb之長度為1〇〜200 mm,因而端子部與加熱部間可 取得充分之距離,因此可使端子部充分低溫化,可更有效地 端子部之消耗。 介電質層2之材質宜為氮化硼、熱分解氮化硼、氮化矽、CVD ^化矽、氮化鋁、CVD氮化鋁中之任一種,或係此等之組合。藉此, 絕緣性高,不會發生在高溫中使用所造成之雜質飛散,亦可9對應 20 要求rfj純度之加熱步驟。 導电層3 ^於板狀部ia开多成數 化形成為導桃3b,於該尖 ^ 鱗狀^ 器圖案3a與該導電路3b之声乂二j為供电端子3c,该加熱 加熱元件即成為^且有4包覆而—體形成,該 非以複數之零件加;;組合;且由於導電層3 之加熱元t ί==ί:ΐ該加熱元件成為一壽命長 4p ^ 突出之侧之面形成J力=2 (Di於板狀部1a之棒細 相反側之面形t㈣3⑹於板狀部h之 加Ϊ,因而可以高精密度設定加熱位置, = * χ1雜等要求被加熱體之位置精密麟,可更為 正確地進行所期待之加熱步驟。 」更马 加二:加熱元件10中’於加熱部版上載置係被 即f而力,之,藉此 L ^ί 腐氣體亦難以透射,因此可避免因導電層,特別 疋口ί、包知子部受到腐蝕所造成之劣化。 a為^ 1藉甴在棒狀部lb上形成有導電路北之導電部l〇b將 =與供電端子部10c力口以隔開,則可使供電端子部10e 壽之步驟中之高溫氣體消耗而使該加熱元件成為— 本發明之加熱元件10至少具有: 耐熱性之基材1 ; ,屯層3,具有形成於該耐熱性基材上之加熱器圖案3a ;及 '%緣性之保護層4,形成於該導電層上; 21 1354508 之耐護層之上至少具有以含有第三元素之化合物所構成 導電;上,層 f成’藉此魏魏及硬度受職整,而所 高溫•腐飯性氣體環境下,亦可避免ϋΐ声,口牲、凡 疋因供電端子部受到腐蝕所造成之劣化。 s,特別 最外由於其缺乏耐·, 而如上述,將具有一耐钱兮2寺=热法發揮之問題。然 加熱元件做為靜電夹盤使=,含有該第三元素之-調整電阻係數,特別是盥於二,調正第二元素之含有量來 高度之夾持性能 雜時相比可使電阻係數低,可發揮 圖‘之^相^^^^在^性基材之與形成有加熱器 圖1此於ΪΓ夾持圖案6上形=2^皮層t物之靜電夹持 ^面高效率地持被加熱體 半圓=圖=等可r梳齒狀、旋渴狀、同心圓狀、 耐钱層4p之材質若具有耐埶 J化纪、氟化紀中之任—種,^^即了而J由氧她、氮化紹、 蝕刻氣體或氧等腐蝕環境; 二’可,其即使於鹵 =以ί::所構成_=2層= 22 丄妁4508 釔ί且,该第二疋素宜為硼、鋁、鎵、碳、矽、鈦、鍺、鍅' 素、、ί 系元素,亦即第3族元素、第4族元素、第isi元 哕第一上70素、稀土類元素中之任ϋ係此等之組合。又 if 之含有量宜僅為〇1%〜3Q%。藉此,在高溫·腐敍 f日士體,即使其㈣為具有高耐錄之氧化铸氧化物陶 Ϊ;;性S有效控制電_數於所期待之値内,可成為 m宜藉㈣D法、反應顧駭、敍法 ί’ f 法所岭者形成。藉此,可形成 性如™法或反應性_法’可形成薄而· #由此料法巾之任-觀其成為相較之 高rC壤夕以上2〇_以下厚之層’可形成成本低,耐健 。而^專之耐姓層。且藉由噴敷法或溶膠凝膠法使其成為 低,:較厚之厚度之層,細此而形成成本 产例如藉由CVD法進行氧化釔層之形成時吏且 匕?昇?壓f化合物做為氣體原料即可,例如以ΪG载;ί 氧化膜t乙醋、二新戍酸甲烧紀等,使用氫氧火焰於大氣下势造 絲板至_,於含綠之蒙氣下吹科華氣 取胁隸域由轉凝縣形絲尬層之際,塗布氧化纪溶 雀乙:液若為具有含有氧化纪之化合物之“= Ξ ϊί=ϊ。例如可舉使包含較量之紀之化合物ί解於i 體例,可舉靖之鹵 紀有機酸、異丙軌聽錯合物等統合物為例。如级鹽 to 4之材f宜域侧、熱分解氮_、氮Μ、 ==用=Γ _中往—種’ 匕错由使用不含成為短路原因之金屬之此等絕緣性材質,可成 23 1354508 為保濩層,可以高絕緣性保護導電層,且不會發生在高溫中使 用所造成之剝離或雜質之飛散,在要求高純度之加熱步驟中亦可 以低成本對應。 ^ ’耐姓層知之最表面之表面粗糙度Ra宜為1 以下。藉 此二最表面之表面粗糙度夠小,因此可使其與被加熱物之接觸面 積變大,不損傷被加熱物,穩定地使其吸附固持於該耐蝕層上。 f且耐蝕層知之最表面之電阻係數宜為1〇8〜1013Ω ·αη(室曰溫)。 藉此可成為做為靜電夾盤使用時具有高度夾持性能之加熱元件。 、又^耐钱層4ρ之最表面之維氏硬度宜為1(^pa以上8GPa以下。 表面之硬賴小,因此可使其不損傷被加熱物,穩定地
亥耐蝕層上。此等之表面粗糙度、電阻係數、硬度可 稭由調,第三元素之攙雜量控制。 又J α s導电s 3之材寅右為熱分解碳或玻璃石墨,則可加轨至其、, 43=可使加熱器圖案為曲折圖案等’藉由變更其寬^ 制、!二Ϊ因此相當理想。特別是若為熱分解石墨,可更為降柄 之Ϊ質則係想’而若為可藉由通電而發熱之耐熱性高 加上案)’亦可為例如同心圓狀之旋渦圖案。 之間,形成在板f部1aJl,介電質層2與保護層4 所需之充分之ί ^之發熱提供為達成用以加熱被加熱物之目的 為為1、圖2 ’連接導電㈣之電流導入部? 之形^。 為2對以上’使其為2區以上獨立之加熱器控制 成於板狀部!a i 之二= 可兮目的如圖3⑻形 耐熱性基材3=;;面$亦可形成於兩面。 板狀指,形成有加熱器圖案3&; 有 24 丄*5:)4观 及棒狀部1b,自該板狀部之其中一面突出,形成有導電路3b; 有供位於該棒狀部之與該板狀部h相反之一端,形成 與該導電路3b之表面而—體形成/、"包覆δ亥加熱器圖案3a 有加la形成 === 不易件因步*高溫氣體== 物,且該耐熱性基材1為—一體成形之 並且熱元件成為—壽命長之加熱元件。 子12 述形成為加熱器圖案3a、導電路3b盥供電端 圖案3&與該導電路35之表面被保護層忒3 且兮伊加熱元件僅具有小體積,製造成本低, 熱= 易因使用龜裂而使該加航件成為—壽命長之加 複雜之材質若為石墨’則材料價廉,即使欲使其為 ίΐϋίί 心因此可使製造成本更低,且耐熱性亦大, 材質。田心',而右其具有耐熱性則亦可為氮化硼燒結物等其他 “ ίf f la若形成有介電質層2、加熱器圖案3a與保護層4, =°a即可’不需非如圖卜2為圓板狀不可’亦可為多角 若自板狀部1&之其中一面突出,如圖1 (C)所示 形成有;丨電質層2、導電路3b、保護層4及更位於此等者上之耐 25 亦可為多,不需非如圖卜2為圓柱狀不可, 此以上者皆可。中為1Λ,如圖2為2支,或為 部,勤2 形成於板狀 取得充分之_奸部與加熱部間可 端子部之消耗。 使知子。卩充分低溫化,可更有效地防止 氮化化蝴、熱分解氮化蝴、氮化石夕、⑽ 對應要求高純度之力使騎造成之㈣之飛散,亦可 lb形電為咖_a,於該棒狀部 器圖案如與該導電路端子把,該加熱 加熱元件即成為僅且右丨鱗# :皮保5蒦層4包覆而一體形成,該 非以複數之零件加積低^並且由於導電層3 長之加熱元======元件成為-壽命 腐蝕氣體亦不透射至内部,使以劣士有耐蝕層4P,因此 圖案ί,彳供給靜電之電極目案之靜電夾持 板狀部° _妓如圖3⑻、⑻於 3⑴、CO於招壯邱】犬出f側之面形成有加熱器圖案如,如圖 之靜電夹持圖案6,^可^=^面开^成有用以固持被加熱物 高精密度設定加熱位置於 加熱f將並一面加熱,因而可以 加熱體之位置精^'卢時,可争 電水蝕刻、濺鍍等要求被 圓狀、格子狀或契子狀。 狀%舰、同心圓狀、半 如以上之本發明之加熱元件1Q中,於加熱部咖上載置本身 26 1354508 為被加熱物之举導體晶圓等,以電源端子 即可^為—壽命長,製造成本低之加熱元件,即熱二 性氣體環境下亦可避免因導電層,特別是因供二', 値,可發揮高度之夾持性能。又,且^^為所期待之 路3b之導電部10b將加熱部1〇a與供曰子 ,成 ===步驟中之高溫 實施例 以下示以實施例及比較例以更為具體 發明並不限定於此等。 凡林知明,然而本 實施例1 ! π Λ圖Λί備為—體成形之物之碳製之耐熱性基材1,里自厚 1 〇 mm外徑250 mm之板狀部la之其中一面之中央形 ”自尽 直徑30 ΠΜ長100麵1之棒狀部lb ;及 f端部k,位於該棒狀部比之與板狀部“相反之側^一 Πίπιϊ孔醜厚1Q mm之小圓板,形成有可連接錢端子5之4直徑6 ^置此^熱性基材】於熱⑽爐内,於其表面做為反應 谷確夏混合比流入氨與三氯侧,於19。0。。、1To- 4 =ίί?。,於此表面形成由厚〇. 3趣之熱分解氮化顿構成 π η ΐ次於i8〇〇°C、3Τ〇ΓΓ之條件下使甲烧氣體熱分解,形成由 ll夕^之…、分解石墨所構成之導電層3。使導電層3於板狀部 飛ίί道、ί側形成為加熱器圖# 3a,於其側面、背面與棒狀部lb j為導電路3b ’於尖端部lc形成為供電端子3c而加工。此 七、電端子3c為2,殘餘之2孔未使用。 τ 然後,對供電端子部把施以遮罩,再設置於熱CVD爐内 為反應氣體以4 : !之容量混合比流人氨與三氯化领,於围 27 1354508 伴確芦形成由厚〇. 1麵之熱分解I化硼所構成之Ρ @ Η: 保1 4於加熱器圓案3續導電路3b之表面上轉成之、%緣性 化铭以s=i元4p以反應性雜法形成·m之氮 氮氣s率is 示置3°同樣進行製作之試樣之 樣之層32^成1石墨^ f與耐歸相同之測定對象之成為試 驻㈣Λ 墨板3i上,如圖5設置其於可抽直空之心 裝予3〇'、、、、後向石墨板側容器33流入特定量之 ,、]疋 了 34之愿力變化以進行氮氣透射 透
小,為lXl(T5cmVsec。 才如及表1透射率夠 所進^ίίΐίΪ^2之成膜所產生之重量增大與顯微鏡觀察 =仃之工__厚度測定剌嫌_之孔_夠小,= 電性連接如以上製造之加熱元件1〇,於1χι〇、之直 ί二7以h 5M力加熱加熱部*至·c。此際 2 10g為150 C ’可使2其相較於加熱部1〇a大幅度地低溫;j匕。在 導入4使其為1X10 Pa *即使置放200小時亦可無變 熱,確認其即使於高溫•腐錄氣體環钉雜氣難 ^此可避免轉騎,制是因供f端子部❹域麵造^劣 實施例2 如圖2形成為一體成形之物之碳製之耐熱性基材1,i係於 厚10·外徑250mm之板狀部la之其中一面之兩端部之2處形^有:、 一對直徑2Qmin長50mm之棒狀部比;及 尖端部lc ’於戎棒狀部lb之與板狀部1&相反之侧形成有Mu之 10mm之陰螺孔,使其可以螺釘進行電性連接。 設置此雜性基材1於熱GVD爐β,於其表面做為反應氣體 以4 : 1之容量混合比流入氨與三氣化硼,於19〇〇cc、1T〇汀之條 件下使其反應’於此表面形成由料3 mm之熱分解氣化棚所構成 28 1354508 之介電質層2。 厚。 為加熱器圖案3a,於尖端部丨。“為供電㊁ 做為;以,再:置其於議爐内, 之條件下,於力‘二二 由厚0.1 mol之埶分解,、導包路3b之表面上形成 再於J做;Ϊ二Γ構成之絕緣性保護層4。 層後以大氣熱t 法形f >之氧化紀 姓層之加熱元件1〇。 軋釔層,以2造具有2層之耐 並且’與實施例i相同,測产 作之試樣之氮氣之透射率時,如合氧化鋪相同製 量增大與顯微鏡觀察進行2 二=樣層之形成產生之重 隙率。其結果如上述層之孔 之氧化纪層之孔隙率為7%,以=喷敷法形成之 紀層之孔隙率為2%,為十分小的隙=法形成之^之氧化 熱時電力:10,於lxl0_4pa之真空中加 ΐ fo ll 200 t 導電層受到雜所溫•腐錄缝魏下亦可避免因 實施例3 嘴敷=:=;元_ 層之氮氣透射率、孔隙率時’如:述之表 29 1354508 /sec ’ 7%,氣體透射率低,孔隙圭你 a . 行加熱實驗及CF4導入實驗時,可得盥奋° 施例2相同,進 確認本發明奏效。 ^ 了传與貝施例2幾乎相同之結果, 實施例4 如圖1 (D)、(E) ’準備為——妒忐 J丨,其自厚丨◦麵外徑25〇咖之板狀部以之其中=== 直徑30腿長100 mm之棒狀部lb ;及 尖端部lc,位於該棒狀部lb之與板狀部la相反 徑60 mm厚1〇 _之小圓板,形成有 彳j為直 mm之孔。 7取畀了連接電源端子5之4直徑6 設置此耐熱性基材1於熱CVD爐内,於 以4 ]之容量混合比流入氨與 件下使其反應,於此表面形成由犀〇 ^ 之條 之介電質層2。 域由尽〇. 3 _之熱分解氮化领所構成 料f〇rr之條件下使甲烧氣體熱分解,於兩面 形成由厗0,1麵之熱分解石墨所構成之導電層。然後, (^)於板狀部之加熱面之_形成加熱器_ %,於棒狀 ,導1 3b,於尖端部形成為供電端子3“加卫板 部之加熱面側以機械加工形成靜電夾持圖案6。 於坂狀 μ Ϊ供,端子部3C施以遮罩,再設置其於熱⑽爐内,做為反 ic以it ·1. 容量混合比流入氨、三氣化硼與丙烷,·於 ί於加熱器圖案3a與導電路北之表面上 解氮化爾構成之絕緣性保護層4。於常溫 下測疋此保禮層4之電阻係數時,其為1Χ1012Ω · cm。 靜ί用同時流人氨氣錢量之f絲體之反應性 歲,法开/成做為耐钱層4P之2〇—之含有跳之第 相同條件形成於石墨板而於常溫下測定電阻 係歡f八為1X1G Q . on,維氏硬度為7. 5GPa (維氏測定·(荷 30 1354508 重9.8M) JISR1610),可確認電阻係數低,硬度亦低。 電性連接如以上製造之加熱元件,於lxl〇-4Pa之直空中加執 二’可以^^之電力加熱加熱部至㈣。c。此際’供電端子部為、 =〇 C,相較於加熱部可大幅度地低溫化。並且,載放矽晶圓施加 5謝電愿時可良好地吸附。重複此i萬:欠而夹持面之磨耗 觀察到少許之程度’石夕晶圓上亦無損傷。以此確認含有第^元"* ^耐姓層之電_數低,硬度小,可發揮高度之祕性能了在此 其為Uir2Pa而即使置放咖小時亦可無變化而加執。 以此確遇即使於高溫•腐雜氣體環境下,亦可避免 二 特別是因供電端子部受到腐儀所造成之劣化。 a 實施例5 糾圖、⑼形成有為——體成形之物之碳製之耐敎性基 =有 外徑25()腿之板狀部1把其中一面之兩端部之2處 一對直徑20mm長50mm之棒狀部ib ; _之尖於該雜雜之與板狀物相狀側,形成有 Μ10之冰10咖之陰螺孔,使其可以螺釘進行電性連接。 以於,爐内,於其表面做為反應氣體 件下#盆只庙里心比机入虱與三氯化硼,於1901TC、ΙΤοιτ之條 之介ϊ#ί1,於絲面形成鱗G·3mm之熱分職侧所構成 面开件下使^氣體熱分解,於兩 3 ίΪΐί導電路5,於央端部形成為供電端子3。而加工。 、铁力t面側以機械加工形成靜電夾持圖案6。 做為, 烧,於I_t、1Torr之條件下,於力:熱;匕「::電:與: 31 UM508 面;iC0.1麵之熱分解氮化硼所構成之絕緣性之保護 1吊/里下測定此膜之電阻係數時,其為1Χ10"Ω · cm。 之:=使其包含有棚,進行⑽法時同時流入莫爾比20分之i ,之:件 ® ^ ^ Κ™Ι7Γ"5 ° ^ + 租杈度尺鈿小至〇_5#m而加以拋光。 時,ί如,製造之加熱元件’於Μ10、之真空中加敎 150t可#^之/力加熱加熱部至働。此際,供電端子部為' 50 C可使其相較於加熱部大幅度地低溫化。並且,載 g 2導入®使其為mo’a而即使置放t 而 t:以此確遇即使於高溫•腐银性氣 電層受到雜騎狀劣彳t。 w IT避免因導 比較例1
如圖4形成為一一體成形之物之碳製之耐埶性灵姑9 厚=外徑250麵之板狀之基材21之表面之兩端有J 麵之陰螺孔,以使其可以螺釘進行電性連接。使二J 紋補大0.4mm,以使其後可以螺釘進行電性連接。 螺 、設置此气熱性基材21於熱CVD爐内,於其表面做為反 以4 . 1之容量混合比流入氨與三氯化爛,於19 ' =之條 之介電質層2。 4由厚0· 3咖之熱分解氮化爾構成 其次於180(TC、3Torr之條件下使甲烧氣體熱分解, 厚0.1 mm之熱分解石墨所構成之導電層3。為使導電層3於^材之 1354508 ^熱面側形成為加_案33,於兩_成為供電端子此而加 做為;;氣子之部容3=以;置其於細爐内, ΐ、ΙΤοιτ之條件下,於t = 風與三氣化棚’於_ 之熱分解氮化顺構成之絕表面场成由厚0.1晒 表^=^==€述之 相同,進行以因4媒夕士γ4 透射率再與實施例1 不,其結果為10%之大孔隙率。 攻之表1所 中力之真空 °C,幾乎無法防止加熱。,、GGC°此際,供電端子部為 並且以l.Okw之電力加熱至5〇〇。匸,暮入ΓΡ ,n , ^ 為最表面之層之氧化⑯層剝落,駐基礎 4 r時後本身 圖案3a或導電路北等之導電層二化则失,加熱器 較例2 21,耐熱,材 成有M1G之深1〇腿之陰螺孔,以使其可以 之螺紋部稍大0.4丽,以使其後可以螺釘進行電連接M10 設置此封熱性基材21於熱CVD爐内,於其表面做為反 t 4 : 1之容量混合比流人氨與三氯物,於⑽此、iTot;: j ίΐί ίίΐ,於此表面形成由厚Q.3 mm之熱分解氮化_構成 其次,於1800°C、3T〇rr之條件下使甲院氣體熱分解,於兩 1354508 夹持圖案。俾使於加熱器圖案“部== 然後,對供電端子部3C施以遮罩,再# 氣體以4 : i之容量混合 2氣 C、ITorr之條件下,於加熱器圖案% 硕’於1900 之熱分解氮化辑構成之絕緣性保護層4。、 滅由厚〇. 1顺 仓、—ϊΐ上’做為耐#層,以溶膠凝膠法塗布、乾烤、㈣气於 妃浴膠液,形成厚1()卿之均勻之 =Λ、烤乳化 加熱元件完成。此層以相同條件 ^ ^乳化紀層,使 電阻係數高,硬ίΐ 舰上,維氏硬度為11啦,可確認 時,之加熱元件,於ixi(r4pa之真空中加熱 幾乎益法防止加教電力加熱至5〇0 C。此際,供電端子部為400t, 足而時時發生定二^且=放石 =圓施加500V電壓時因吸附不 疋位不良。重複此1萬次而夾持 察到少許之程度,然而石夕晶圓已損傷而破損磨耗為僅歧 盘·定於上述實施形態。上述實施形態為例示, 元素之碳、爛之it於ί述實施例,描述了使其含有做為第三 亦發生相同lit然而並不限於此,使其含有鈦、鍺等時 【圖式簡單說明】 —ϊϋϊί明之加熱元件之一例(實施例υ之概略圖。⑴ i力二元圖。(β)為自加熱元件除去保護層之立體圖。(c) 為加‘、,、件之導電部之部分剖面目(圖1 (Α)之虛線部分)之放 34 1354508 大圖二⑻為耐熱性基材之剖面 圖2係本發明之加熱元件之复)為耐熱性基材之立體圖 圖。(A)為加熱元件之剖面圖b ^—例(實施例2)之概略 立體圖。(C)為耐熱性基材之 “·、自加熱元件除去保護層之 圖。 圖。(D)為耐熱性基材之立體 圖3係形成靜電夹持圖案之本 f。(A)、⑹為加熱元件之剖面圖例之概略 去耐簡及簡叙自下錢看之立^圖)、()為自加熱元件除 圖4係習知之加熱元件之—例(比^例) *
整二為於耐熱性基材形成有導電i之部分: 體圖。⑹為賴性基材之細,為耐熱二 圖5係n収氣體透射率之啦裝置的說明圖。 【主要元件符號說明】 1、21〜耐熱性基材 h〜板狀部 lb〜棒狀部 lc〜尖端部 2〜介電質層 3〜導電層 3a〜加熱器圖案 3b〜導電路 3C〜供電端子 4〜保護層 4p〜耐蝕層 5〜電源端子 6〜靜電夾持圖案 10、20〜加熱元件 35 1354508 10a〜加熱部 10b〜導電部 10c、20c〜供電端子部 20a〜發熱部 30〜測定裝置 31〜石墨板 32〜成為試樣之層 33〜石墨板側容器 34〜試樣側容器

Claims (1)

  1. ΐΟθΓ-1 100年8月丨日修正替 096112817(無劃線)、只 年月Q 十、申請專利範圍 L —種加熱元件,至少具有 耐熱性之基材;^ ί'ίΊϋΐ成2耐紐基材上之加熱器圖案;及 其特徵在成於該導電層上; 耐^該保4層上至少具有氮氣透射率在ixirw/sec以下之 成有材物’至少,有姻,形 導電路;及尖踹邱你认〆成有自忒板狀部之其中一面突出之 成供電端子;。M於該棒狀部之與該板狀部相反之一端,形 形成:之;緣性之介電質層’該導電層 表面而一體形成 ^保5處層包覆該加熱器圖案與該導電路之 ㈣範之嫣 4法如=咖第1項之加熱元件,其中該耐蝕層係藉由⑽ ΐ所开^性濺舰、錢魏法中之任—種,或以此等組合之方 i如範圍第1項之加熱元件,其中該耐簡係藉由CVD 財之任,成鱗度狀 利範圍第1項之加熱元件’其中該保護層之材質為熱 第1項之加熱元件’其中該導電層之材質為熱 1354508 ▲ w 丁 υ · 口 1梦 8·如申請專利範圍第1項之減元件 為石墨。 ",、兀件’射該耐紐基材之材質 範圍第1項之加熱元件,其中該介電質層之材質為 =申:,專利範圍第1項之加熱元件,其中該棒狀部長度為1。 形成有用來固持被加熱物之靜電夾持圖幸:σ相反側之面 有專第 fe /, λ ^ 一 項之加熱兀件,其中該耐餘声之;bf*皙 為亂化紹、乳倾中之任—種,或此等之έ且人^描層之材貝 範圍第12或13項之加熱元件,^該第:元辛為卿 及石厌70素巾之任-種,或轉之組合。 Τ 為卿 16. 如申請專利範圍第12哎i苜口 含有量為5%。 & 13項之加熱兀件,其中該第三元素之 17. 如申請專利範圍第12或13 - 由CVD法、反應性錢鑛法$之任:加;、、^牛,其中該咖層係藉 所形成。 種或错由以此等組合之方法 18. 如申請專利範圍第a啖μ珀 :法或反應性一成之以=:= 由反應性雜法成加熱元件’其中該耐蝕層係藉 趾如申請專利範圍第成=;之=上,m以下之層。 A W項之加熱轉,其中該保護層之材 38 】00年8月I日修正替換 質為熱分解氦化硼。 質為熱分或13項之加熱元件’其令該導電層之材 『或13項之加熱元件, 成有加教哭圖體成形之物,至少形成有:板狀部,形 導電路St,,形成有自該錄部之其中-*突出之 成有供電端子;1彳_棒狀部之與該板狀勒反之-端,形 形』之:緣性之靖層,剛 表面而—體形成。〜羞μ匕覆該加熱器圖案與該導電路之 2質3為如石ΐ專利瓣22項之力如件,其中該耐熱性基材之材 第22項之加熱元件,其中該介電質層之材質 範圍第22項之加熱元件,其中該棒狀部娜 狀部突出ϋ:之圍面弟形該板狀部之該棒 面形成有用來固持被加熱物之靜電夾ς酸°省狀部之相反側之 十一、圖式: 39 %
TW096112817A 2006-04-13 2007-04-12 Heating element TW200808100A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006110696A JP4654151B2 (ja) 2006-04-13 2006-04-13 加熱素子
JP2006110700A JP4654152B2 (ja) 2006-04-13 2006-04-13 加熱素子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200808100A TW200808100A (en) 2008-02-01
TWI354508B true TWI354508B (zh) 2011-12-11

Family

ID=38230037

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW096112817A TW200808100A (en) 2006-04-13 2007-04-12 Heating element

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8115141B2 (zh)
EP (1) EP1845754B1 (zh)
KR (1) KR101329630B1 (zh)
TW (1) TW200808100A (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101122719B1 (ko) * 2009-05-27 2012-03-23 (주)티티에스 기판 가열 장치 및 이의 제조 방법 그리고, 이를 포함하는 기판 처리 장치
TW201110800A (en) * 2009-09-08 2011-03-16 Ai Ke Er Internat Co Ltd Hot aluminum plate structure
CN103871928B (zh) * 2012-12-14 2017-02-08 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 半导体设备及其加热器
JP5996519B2 (ja) * 2013-03-13 2016-09-21 信越化学工業株式会社 セラミックヒーター
KR20160124992A (ko) * 2015-04-20 2016-10-31 삼성전자주식회사 기판 제조 장치, 및 그의 세라믹 박막 코팅 방법
KR102616691B1 (ko) * 2019-02-12 2023-12-20 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 챔버 부품들을 제조하기 위한 방법

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5155652A (en) 1991-05-02 1992-10-13 International Business Machines Corporation Temperature cycling ceramic electrostatic chuck
JP3155792B2 (ja) 1991-11-01 2001-04-16 電気化学工業株式会社 ホットプレート
JPH0661335A (ja) * 1992-08-04 1994-03-04 Ulvac Japan Ltd 半導体製造装置用の基板保持プレート
US5343022A (en) * 1992-09-29 1994-08-30 Advanced Ceramics Corporation Pyrolytic boron nitride heating unit
JPH06326175A (ja) 1993-04-22 1994-11-25 Applied Materials Inc 集積回路処理装置において使用されるウエハサポートの誘電材への保護被覆とその形成方法
JP3481717B2 (ja) 1995-03-20 2003-12-22 信越化学工業株式会社 静電吸着機能を有するウエハ加熱装置
JPH11354260A (ja) 1998-06-11 1999-12-24 Shin Etsu Chem Co Ltd 複層セラミックスヒータ
US6410172B1 (en) * 1999-11-23 2002-06-25 Advanced Ceramics Corporation Articles coated with aluminum nitride by chemical vapor deposition
JP2002057207A (ja) 2000-01-20 2002-02-22 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体製造装置用ウェハ保持体およびその製造方法ならびに半導体製造装置
EP1191002A4 (en) * 2000-02-24 2005-01-26 Ibiden Co Ltd SINTERED ALUMINUM NITRIDE PIECE, CERAMIC SUBSTRATE, CERAMIC HEATING BODY, AND ELECTROSTATIC CHUCK
JP2001313330A (ja) * 2000-02-24 2001-11-09 Ibiden Co Ltd 半導体製造・検査装置用セラミック基板
JP3914377B2 (ja) 2000-07-17 2007-05-16 信越化学工業株式会社 静電吸着機能を有するウエーハ加熱装置
JP3963788B2 (ja) * 2002-06-20 2007-08-22 信越化学工業株式会社 静電吸着機能を有する加熱装置
JP2006517740A (ja) 2003-01-17 2006-07-27 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ ウェーハ加工装置及びその製造方法
JP4539035B2 (ja) * 2003-06-05 2010-09-08 住友電気工業株式会社 半導体あるいは液晶製造装置用保持体およびそれを搭載した半導体あるいは液晶製造装置
JP4326874B2 (ja) 2003-08-07 2009-09-09 太平洋セメント株式会社 静電チャック及びその製造方法
JP2005339828A (ja) 2004-05-24 2005-12-08 Shimadzu Corp 有機エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法
US20060165994A1 (en) 2004-07-07 2006-07-27 General Electric Company Protective coating on a substrate and method of making thereof
JP4435742B2 (ja) 2005-08-09 2010-03-24 信越化学工業株式会社 加熱素子

Also Published As

Publication number Publication date
US8115141B2 (en) 2012-02-14
KR20070102383A (ko) 2007-10-18
EP1845754A1 (en) 2007-10-17
EP1845754B1 (en) 2012-09-05
US20070241095A1 (en) 2007-10-18
TW200808100A (en) 2008-02-01
KR101329630B1 (ko) 2013-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI354508B (zh)
Ao et al. Novel thermal diffusion temperature engineering leading to high thermoelectric performance in Bi2Te3‐based flexible thin‐films
TWI317156B (en) Heating element
TWI321163B (en) Gas providing member and processing device
TW407298B (en) The joint structure of the ceramic member and the manufacture method thereof
TWI296431B (en) Electrostatic chuck and method of manufacturing electrostatic chuck
TWI244720B (en) Aluminum nitride sintered body, electrostatic chuck conductive component, component for semiconductor fabrication device, and method for producing aluminum nitride sintered body
TW201246443A (en) Electrostatic chuck
KR20140115814A (ko) 기판 구조체, 상기 기판 구조체를 형성하는 방법, 및 이를 구비하는 전기소자
WO2019109752A1 (zh) 一种钨铼热电偶高温抗氧化涂层及其应用
WO2019109717A1 (zh) 一种钨铼热电偶高温抗氧化涂层的致密化方法
TW200937995A (en) Corrosion-resistant laminated ceramic member
JP5331263B1 (ja) 炭化珪素材料、炭化珪素材料の製造方法
Chen et al. Pressure induced unstable electronic states upon correlated nickelates metastable perovskites as batch synthesized via heterogeneous nucleation
Guenther et al. Size-dependent phase transformations in bismuth oxide nanoparticles. II. Melting and stability diagram
TW200526822A (en) Method for predicting precipitation behavior of oxygen in silicon single crystal, determining production parameter thereof, and storage medium storing program for predicting precipitation behavior of oxygen in silicon single crystal
Wang et al. Measuring nanowire thermal conductivity at high temperatures
WO2012073946A1 (ja) 熱電変換素子及び熱電変換モジュール
JP4296263B2 (ja) 基板加熱用清浄超高温ヒータ
TW200414287A (en) Heating apparatus capable of electrostatic suction
Zhang et al. A thermodynamic assessment of Ni–Sb system
JPH11312570A (ja) セラミックヒータ
TW201250195A (en) Heat treatment apparatus and temperature measuring method thereof
Henschel et al. Crucible‐Free Preparation of Transition‐Metal Borides: HfB2
TW446997B (en) Corrosion-resistant members against a chlorine based gas

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees