TWI352979B - Method and apparatus for dynamic write strategy mo - Google Patents

Description

1352979 第95131696號之專利說明書修正本 修正日期：99.12.28 且特別有關於動態 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於寫入策略修正 寫入束略修正。 【先前技術】 寫入策略的好壞將是影響光碟 重要因素。光碟機中通常具有一寫入策略：寫入-貝的 數組寫入策略。在將資料寫入光碟之兮，：’以儲存複 光碟識別碼（Manufacture ID，MID):…碟機將根據 -特定寫入策略。然而，在寫入‘:f;桌：表中選出 特疋寫入朿略並非持續為最佳的寫入策略 原因有·⑷光碟之内圈及外圈的材料特性 同碟片製造商或不同種類的光碟片卻使用相同光碟2 :二機構:纖學讀取頭的發光效率在光碟二 卜，疋不-樣的；（d)由環境溫度造成的寫 =⑷來自於光碟機内驅動1(：及光碟讀寫頭之^、。， 由於以上種種原因，將造成制式的寫人策 二 ㈣入環境需求’因此在寫入期間，需要一動入 朿略修正方法以修正制式的寫入策略。某些用以；升次 ^入品質之動態寫入策略修正方法已被揭露。例如貝 於舄入過程期間，光碟機暫停寫入，並確 所 然後根據該寫入品質修正寫入策略。然而:二：:… 寫入品質以修正寫人策略則從未被提及。 可艮據邊 0758-A31800TWF2(201〇i1〇8) 1352979 . 第95】3]696號之專利說明書修正本 修正曰期：99.12.28 【發明内容】 本發明提供一種動態寫入策略修正方法，包括：根 據複數個預設寫入策略將資料寫入至一光碟上，每一預 設寫入策略對應一型樣組合（pattern combination);停止 寫入及測量已寫資料所對應之型樣組合之一品質指標； 根據該寫入品質指標，調整該型樣組合之預設寫入策 . 略，以產生複數個修正寫入策略；以修正之寫入策略寫 • 入資料，其中，該寫入品質指標主要從包括一平均長度 誤差值、一平均上升邊緣誤差值、.一平均下降邊緣誤差 值、及一内部校驗碼錯誤率（PI . error rate )之群組中選 出。. 本發明亦提供一種用於光碟寫入系統之動態寫入策 - 略修正裝置，該系統具有一讀寫頭以將資料寫入光碟， 該裝置包括一寫入雷射控制模組、一測量模組以及一寫 入策略發展模組。寫入雷射控制模組用以根據複數個預 ® 設寫入策略控制該讀寫頭以將資料寫入，其中各預設寫 入策略對應至一型樣組合（pattern combination);及停 止寫入，並控制該讀寫頭以讀取資料。測量模組則用以 測量已寫資料所對應之型樣組合之一品質指標。寫入策 略發展模組，用以根據該寫入品質指標調整該型樣組合 之預設寫入策略，以產生複數個修正寫入策略。其中該 寫入雷射控制模組並根據修正之寫入策略寫入資料，且 該寫入品質指標主要從包括一平均長度誤差值、一平均 0758-A31800TWF2(20101108) 7 1352979 第95131696號之專利說明書修正本 修正日期：99.12.28 · 上升邊緣誤差值、一平均下降邊緣誤差值、及一内部校 驗碼錯誤率（PI error rate )之群組中選出。 為使本發明之上述目的、特徵和優點能更明顯易 懂’下文特舉實施例，並配合所附圖示，詳細說明如下。 【實施方式】 本發明詳細敘述提供如下。將資料寫入至一碟片上 之寫入策略包括了複數參數。一些是與型樣（pattern)相 關，一些則與型樣無關。與型樣相關參數包括：上升及 下降時間；與型樣無關參數包括：寫入功率、增強功率 比（OverDrive power ratio, OD power ration )、粗略延遲、 及緩和時間（cooling time)。於寫入期間，這些參數並非總 是最佳參數而需要被修正。詳細敘述提供如下。 請參考第1圖，係顯示依據本發明第一實施例之一 光碟寫入系統800方塊圖。光碟寫入系統800包括：一 碟片810、一讀寫頭（PUH)820、一測量模組830、一寫入 策略發展模組840、及一寫入雷射控制模組850。碟片810 為一可寫之記錄媒介，例如：DVD+-RW/DVD+-R。於寫 入期間，測量模組830根據讀寫頭820之回饋訊號測量 寫入資料之品質而產生一品質指標。寫入策略發展模組 840根據該品質指標選擇一最佳參數，並且修正一預設策 略WXR_I (圖中未標示），以產生一修正之寫入策略 WXR_II (圖中未標示）。寫入雷射控制模組850，根據 該修正寫入策略而控制PUH 820，以將資料寫入碟片 0758-A31800TWF2(20101108) 8 1352979 修正日期：99.12.28 第95131696號之專利說明書修正本 81〇。於該光碟寫入系統8〇〇中，將重覆上述的寫入策略 修正程序直到完成所有資料寫入為止。 本只知例之寫入策略修正方法，修正了用以在光碟 片810上寫入各種平面/凹洞（Land/pit)型樣組合的寫 入控制脈衝中的部分型樣相關參數（例如：上升及下降時 間）。該光碟寫入系統8〇〇，根據一寫入策略WXRj，將 一資料段110(例如：正常資料或測試型樣）寫入至該碟片 • =〇。並於—既定位置P1暫停寫入，接著移動讀取頭以 項取該資料段1 i 〇而獲得一處理後之RF訊號RF— RF signal或稱EFMI)。分析kRF訊號可獲得一品質指 標’可據以修正該寫入策略WXR_I(例如：上升及下降時 間）。最後乃根據一修正之寫入策略WXR—n，從之前中 斷寫入點，即既定位置P1，繼續將另一段資料12〇寫入 至。亥碟片810。於是由該資料12〇所讀回之片段RF訊號 RF—ii相似於-理想RF訊號RF—IDEAL。接下來將詳細 φ 描述寫入策略修正程序。 請參考第2圖。第2圖係顯示一特定型樣組合(m平 面11凹洞）之該理想Rjp訊號、處理後的 訊號RF」和RF一Π、以及該寫入策略WXR—工和η 之波形圖，其中變數m及η均為正整數。該型樣組合可 為（m凹洞，η平面）或平面，η凹洞）。請注意各型樣 組合包括至少大於3Τ之型樣，而3丁〜5丁之型樣一般較常 見。當應用於藍光技術方面時，2Τ型樣也應該被包括。 換句活說，並非需要測量所有型樣組合之誤差，不過， 0758-Α31800TWF2(2010IT 08) 1352979 第95131696號之專利說明書修正本 修正曰期：99.12.28 至少需要測量短型樣之組合（如3T〜5T)。比較該理想RF 訊號RF_IDEAL與該處理後之RF訊號RF_I，於一上升 邊緣具有一邊緣誤差〇fs_top_I，而於一下降邊緣具有另 一邊緣誤差Ofs_last_I。為了補償這些差異，將利用修正 後之該寫入策略WXR_II以取代該寫入策略WXR_I。修 正之後，比較該理想訊號RF_IDEAL與根據修正後之寫 入策略WXR_II寫入資料而讀回之該處理後之RF訊號 RF_II，該上升邊緣差Ofs_top_II以及該下降邊緣差 Ofs_last_II均為0。換言之，該片段RF訊號RF_II幾乎 等於該理想訊號RF_IDEAL。 以上升邊緣之補償為例，一上升時間Ttop_I被修正 為另一上升時間Ttop_II。該上升時間Ttop_II被決定如 下：

Ttop_II - Ttop_I = Tdiff= X*ofs_top + Y 5 其中X及Y為可調之變數。為了提高實驗準確性， 請注意須重覆測量該邊緣誤差以得到一平均邊緣誤差。 值得注意的是，除了該平均邊緣誤差之外，本發明亦可 使用一平均長度誤差、於上升及下降邊緣之邊緣誤差、 内部校驗碼（ΡΙ)錯誤率、或DC/DD時基誤差（jitter) 作為該品質指標以修正該寫入策略。 請同時參考第1圖、第2圖、及第3圖。第3圖係 顯示依據本發明第一實施例之動態寫入策略修正方法流 程圖。詳細描述提供如下。 步驟302 :開始將資料寫入光碟。 0758-A31800TWF2(20101108) 10 1352979 . 第95131696號之專利說明書修正本 修正日期：99.12.28 步騾304 :於位置p]暫停寫入。 步驟306 ··測量一特定（平面，。 之型樣組合對應之一品質指桿，凹洞）或（凹洞，平面） 上升及下降邊緣之邊緣誤差如：平均長度誤差、 差，作為特定（平面，凹洞）或（凹=、或DC/DD時基誤 步驟308 :若嗜口所护如。平面）之型樣組合。 310，·不然則進入步驟3]2 ; &界值，進行步驟 步驟训：修正該型樣組& 步驟川:用修正之寫入策略"广二入一朿略。 料。 ％ P1恢復寫入後續資 請參考第4圖。第4圖係將 發明第二實施例之動態寫入策略修改方 ，之示意圖。本實施例之寫入策略修正方法二以：： ::與型樣無關之參數，例如：寫入功率、增強功 (OverDrive Power, 〇D Powers , 午 門笙、，a )、粗略延遲以及緩和時 碟寫入系統800根據一寫入策略 WXR—I ’將資料段4〗〇(例如 „ ^ μ 01Λ 正吊身料或測試型樣）寫入 ^碟片810。並於一既定位置Μ暫停寫入，接著移動讀 取頭以項取該育料段41〇而獲得_處理後之灯訊號 巧分析此RF訊號可獲得一品質指標，可據以修正該 寫入策略WXR一I。再根據一修正後之寫入策略wxr』， 繼續將另—段資料寫人至碟片8i()。接下來將 詳細描述上述寫入策略修正程序。 以該增強功率（OD)為例，當將資料41〇寫入時，首 〇758-A3]80〇TWF2(20101108) 1352979 修正日期：99.12.28 第95131696號之專利說明書修正本 先該光碟寫入系統利用一預設〇

將該資料410寫人，並 羊比0D-DEFAULT _ _ 亚且利用不同〇D功率屮1 〇D—2、〇D_3、〇D 4、⑽；八·力羊比 〇D_l ' 413、414、415、416宜_ ’刀別將複數短資料4I2、 後，今光^人以。將該等短資料⑷2〜416)寫入 〜先碟禺入乐統於p2暫停寫入並 (412〜416)讀回該時基誤差、了 2、 …丑貝料 後從這些時基誤差丨 ' —、—4、J—5，然 若該時基誤差找，小值。舉例來說， 用相肺3 4 接考該光碟寫入系統決定使 用相對叙OD功率比㈤」來 便 OD—DEFAULT。換句話★兒，节㈣皆預5又〇〇功率比 〇D ^ ,, ρ ^ ° "先碟寫入系統利用修正之 ^功：比，即相等於〇D—3,於打繼續將該 寫入。值得注意的是，除 使用-此1〜衍Γ 基誤差之外，本發明亦 产㈣7、：。。質指標，例如：平均邊緣誤差、平均長 度疾差、上升及下降邊緣之邊繞 狄

時㈣^ 邊 錯誤、或DC/DD 牯土涘差等，以修正該寫入策略。 :㈣參考第4圖及第5圖。第5圖係顯示依據本 :月弟一貫施例之動態寫入策略修正方法流程 描述提供如下。 、、' 步驟502 :開始將資料寫入光碟。 步驟504.利用-預設策略WXR」將資料寫入光碟。 v驟506 .準備—選擇參數之複數值（例如：⑽ ¥ 比 ODJ、0D—2 ' 〇D」、〇D—4 ' 〇d—5)。 步驟508 :利用該選擇參數之不同值（〇d_]〜〇d 分別將複數筆短資料（412〜416)寫入。 ~ 0758-A3 丨 800TWF2(20101108) 12 修正日期：99.12.28 第95131696號之專利說明書修正本 步驟510·暫停並移動讀寫頭以分別測量寫入該等 短資料(412〜416)之-品質指標(例如：時基誤差)。 步驟512 .選擇對應於該最佳品質指標（例如：一最 小時基誤差）之一最佳參數值。 步驟514 .根據該最佳參數以修正該預設策略 WXR—I ’亚且利用該修正寫入策略，繼續寫入資 進行步驟518 ;不然則進入 步驟516 :若寫入完成 步驟506。 步驟518 :停止寫入。 &黎月一多，第6圖。第6圖係將一寫入資料600依據本 《明第三實施例之動態寫人策略修改方法而寫入至 ㈣之示意圖。類似於第二實施例，第三實施例之寫入策 略修正方法修正一此盘创揭“ Λ 二，、^•樣猓關之蒼數（例如：寫入功 率、立曰強功率、粗略延遲、缓釦眭 統咖根據一寫入策先光碟寫入系 ，碟片。在位置”將資料65〇寫入之後，該系統J 丁=入’並且由該等資才斗61〇〜65〇讀回複數個鮮 :修正該寫入策略™—卜然後根據一新寫入:略 广―Π ’從Ρ7繼續將另一段資料66〇寫入 中歡R_jeWXRj之修 略，、 詳細描述提供如下。 ㈣肖人朿略修正之 以修正增強功率⑽)此—參數為例 貧料610〜650寫入時， 斤將該寺 先碟寫入糸統利用—預設〇d ί3 0758-A3 1800TWF2(20J 〇] i 〇gj 1352979 第95131696號之專利說明書修正本 修正日期：99.12.28 功率比 OD_DEFAULT 將資料 611、621、631、641、及 651寫入，並且利用不同0D功率比0D_1、0D—2'0D_3、 0D_4、0D_5，分另ij 將複數短資料 612、622、632、642、 652寫入。將資料650寫入後，該光碟寫入系統於P7暫 停寫入，以從該等短資料（612、622、632、642、652)讀 回該時基誤差J_1、J_2、J_3、J_4、J_5，然後從這些時 基誤差（J_1〜J_5)中找出最小值。舉例來說，若該時基誤 差J_3為最小，接著該光碟寫入系統決定使用相對應之 OD功率比OD_3來取代預設OD功率比OD—DEFAULT。 換句話說，該光碟寫入系統利用修正之OD功率比，即 相等於OD_3，於P7繼續將該資料660寫入。值得注意 的是，除了該時基誤差之外，本發明亦使用一些其它品 質指標，例如：平均邊緣誤差、平均長度誤差、上升及 下降邊緣之邊緣誤差、PI錯誤、或DC/DD時基誤差等， 以修正該寫入策略。 請同時參考第6圖及第7圖。第7圖係顯示依據本 發明第三實施例之動態寫入策略修正方法流程圖。詳細 描述提供如下。 步驟702 :開始將資料寫入光碟。 步驟704:利用一預設策略WXR_I將資料寫入光碟。 步驟706 :準備一選擇參數之複數值（例如：OD功 率比 OD_l、OD_2、OD_3、OD_4、OD_5)。 步驟708 :透過選擇一之前未被利用之選擇參數以 將一短資料寫入。 0758-A31800TWF2(20101108) 14 丄 /9 修正日期：99.12.28 第9513】696號之專利說明書修正本 之一 f二Γ :暫停並移動讀寫頭以分別測量該短資料 之 °口貝才日私（例如：時基誤差）。 各自乂n㈣擇參數之全部值是㈣選擇用來將 ^刀散之讀短資料寫人？若是，進人步驟71缺 則進入步驟714。 步驟714 步驟716 步驟718 將一標準資料寫入。 等待一既定時間或一既定寫入長度。 根據該最佳品質指標（例如：—最小 誤I)而選擇該選擇參數之一最佳值。 、土 步驟720: _該參數之最佳值來修正該預設 、’且於P7利用該修正寫入策略繼續寫入。 步驟t 722:…心進行步驟724;不然則進入 步驟724 :停止寫入。 與^相較之，本發明之動態寫人策略修正方法根 據且型樣組合（至少大於3T，#應用於藍光技術時可至 叫之-測量結果來修正型樣相關參數，以及與麵並關 蝴如寫入功率)。因此能充份提高資料之寫入品質。 :士然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用 二=發明’任何熟悉此項技藝者’在不脫離本 之保㈣圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 075S-A31800TWF2(20101108) 15 1352979 第95131696號之專利說明書修正本 修正曰期：99.12.28 · 第1圖係顯示依據本發明一實施例之一光碟寫入系 統方塊圖； 第2圖係顯示理想RF訊號、處理後之RF訊號、及 該寫入策略之波形圖； 第3圖係顯示依據本發明第一實施例之動態寫入策 略修正方法流程圖； 第4圖係將一寫入資料依據本發明第二實施例之動 態寫入策略修改方法而寫入至光碟之示意圖； 第5圖係顯示依據本發明第二實施例之動態寫入策 略修正方法流程圖； 第6圖係將一寫入資料依據本發明第三實施例之動 態寫入策略修改方法而寫入至光碟之示意圖； 第7圖係顯示依據本發明第三實施例之動態寫入策 略修正方法流程圖。 【主要元件符號說明】 110〜資料段； 120〜另一資料段； 800〜光碟寫入系統； 810~碟片； 820〜讀寫頭； 830〜測量模組； 840〜寫入策略發展模組； 850〜寫入雷射控制模組。 0758-A31800TWF2(20101108) 16

Claims (1)

1352979 . 第95131696號之專利說明書修正本 修正曰期：99.12.28 十、申請專利範圍： 1.一種動態寫入策略修正方法，包括： 根據複數個預設寫入策略將資料寫入至一碟片上， 每一預設寫入策略對應一型樣組合（pattern combination )； 暫停寫入，並測量已寫資料所對應之型樣組合之一 品質指標； 根據該寫入品質指標，調整該型樣組合之預設寫入 鲁 策略，以產生複數個修正寫入策略；及 以修正之寫入策略寫入對應之型樣組合， 其中，該寫入品質指標主要從包括一平均長度誤差 值、一平均上升邊緣誤差值、一平均下降邊緣誤差值、 及一内部校驗碼錯誤率（PI error rate)之群組中選出。 2.如申請專利範圍第1項所述之動態寫入策略修正 方法，其中，該預設及該修正寫入策略間之一上升時間 差Tdiff，對應於該平均上升邊緣誤差值ofs_top，被表示 ®如下： Tdiff= X*ofs_top + Y j 其中X及Y為可調之變數。 3.如申請專利範圍第1項所述之動態寫入策略修正 方法，其中，該預設及該修正寫入策略間之一下降時間 差Tdiff，對應於該平均下降邊緣誤差值ofs_last，被表示 如下： Tdiff = X*ofs_last + Y 5 0758-A31800TWF2(2〇]〇1108) 17 1352979 修正日期：99.12.28 第95131696號之專利說明書修正本 其中X及Y為可調之變數。 古土 1申料㈣圍第1項所述之動態寫人策略修正 =，其中該型樣組合為一「平面，凹洞」（Land,pi〇 平面歲㈣組合，而且為一短型樣組 ° /、中該紐型樣的長度包含3T、4T和5丁。 ' 5·如申請專·圍第1項所述之耗寫人策略修正 方法’根據複數個預設寫入策略將資料寫入光碟之後， 更包括： ％ ^仪 選擇該寫入策略之一選擇參數； 決定該選擇參數之複數個值； 根據該選擇參數之鱗值所對應之寫人策略來寫入 Μ料。 6=請專㈣圍第5項所述之動態寫人策略修正 、/、中’ 5亥修正寫入策略透過選擇一最佳品質指# 所對應之選擇參數之一最佳值而產生。 °質“ 方法專利範圍第5項所述之動態寫入策略修正 料寫選擇參數之該等值所對應之寫入策略而將資 科舄入先碟’母筆不同值之寫入策略之寫入，交錯 设寫入策略之寫入。 ’’曰預 8.^請專利範圍第5項所述之動態寫人策略修正 方法、中’該寫人策略之選擇參數主要包括： 下降時間、—寫人功率、-加速驅動功率… 粗略延遲、及一緩和時間。 0758-Aj 1800TWF2(201 〇] ] 〇g) 18 1352979 . 第95131696號之專利說明書修正本 修正日期：99.12.28 9. 一種動態寫入策略修正裝置，用於光碟寫入系 統，該系統具有一讀寫頭以將資料寫入光碟，該裝置包 括： 一寫入雷射控制模組，用以 根據複數個預設寫入策略控制該讀寫頭以將資料寫 入，其中各預設寫入策略對應至一型樣組合（pattern combination);及 暫停寫入，並控制該讀寫頭以讀取資料； ® 一測量模組，用以測量已寫資料所對應之型樣組合 之一品質指標；及 一寫入策略發展模組，根據該寫入品質指標調整該 型樣組合之預設寫入策略，以產生複數個修正寫入策略； 其中該寫入雷射控制模組並根據修正之寫入策略寫 入資料，且該寫入品質指標主要從包括一平均長度誤差 值、一平均上升邊緣誤差值、一平均下降邊緣誤差值、 • 及一内部校驗碼錯誤率（PI error rate )之群組中選出。 10. 如申請專利範圍第9項所述之動態寫入策略修正 裝置，其中，該預設及該修正寫入策略間之一上升時間 差Td咐，對應於該平均上升邊緣誤差值ofs_top，被表示 如下： Tdiff= X*ofs_top + Y 5 其中X及Υ為可調之變數。 11. 如申請專利範圍第9項所述之動態寫入策略修正 裝置，其中，該預設及該修正寫入策略間之一下降時間 0758-Α31800Τ WF2(20101108) 19 U52979 修正日期：99J2.2S 第9513Γ696號之專利說明書修正本 對應於該平均下降邊緣誤差值〇fsJast，被表示 差丁 d i ff 如下： Tdiff = X*〇fsjast + γ， 其中X及Y為可調之變數。 梦晋it申請專利範圍第9項所述之動態寫入策略修正 「、，，、中该型樣組合為-「平面，凹洞」（Land :二面」㈣山琳组合’而且為一短型樣組合' 中紐型榼包含3丁、4T及5T之型樣。 U盆如申請專利範圍第9項所述之動態寫入策略修正 裝置，其中該寫入雷射控制模組見包括： 選擇該寫入策略之一選擇參數； 決定該選擇參數之複數值； 資料根據該選擇參數之該等值所對應之寫入策略來寫入 正裝Γ.如專利範圍第13項所述之動態寫入策略修 ，祕正寫人11略透過該寫人策略發展根 產且=擇指標所對叙選擇參數之—最佳值t 15·如申請專利範圍第13 正裝置’該寫入雷射控制模組更包括：動〜寫入束略修 料寫選擇參數之該等值所對應之寫入策略而將資 碟’母筆不同值之寫入，交錯-預設寫入】： 16.如申請專利範圍第13項所述之動態寫人策略修 〇758-A3180〇TWF2(2〇1〇„〇8) 20 1352979 . 第95131696號之專利說明書修正本 修正日期：99.12.28 正裝置，其中，該寫入策略之選擇參數包括：一上升時 間、一下降時間、一寫入功率、一加速驅動功率、一粗 略延遲、及一缓和時間。

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