TWI333558B - Detecting device and detecting method of detected object by using optical sensor - Google Patents

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1333558 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明有關於檢測檢出物之有無之裝置和方法，特別 有關於利用組合有發光元件和受光元件之光學傳感器以檢 測檢出物之裝置和方法。 【先前技術】 至目前爲止已知有以下之技術，係利用光學傳感器以 作爲檢出物之檢測手段。首先，在構成光學傳感器之發光 • 二極體等之發光元件和光電晶體等之受光元件間之光通過 位置’配置檢出物。然後來自受光元件之光電流輸出經由 電阻變換成爲電壓輸出，以指定之臨限電壓作爲基準，將 . 此電壓位準二進制化和進行輸出。依照此種方式根據被二 進制化後之輸出，判斷從發光二極體等之發光元件放射之 光是通光狀態或遮光狀態，用來檢測在位置上有無檢出物。 但是，在未進行「發光元件之放射強度」和「受光元 件之光電流」之選別和分級之各元件組合之情況時，由於 ® 元件之組合會在傳感器輸出上產生數十倍程度之變動。 在傳感器輸出變大之元件組合之時，有考慮到利用檢 出物之「厚度/色/材質」等引起之檢出物之透過率，使從 發光元件放射之光透過檢出物之情況。在此種情況，傳感 器輸出之電壓位準會超過進行二進制化用之臨限電壓之位 準’變成不能正常地檢測遮光狀態，會產生不能正常地進 行傳感器之功能問題。 另一方面，在傳感器輸出變小之元件組合之時，即使 1333558 在沒有檢出物之通光狀態，會有傳感器輸出之電壓位準， 未達到進行二進制化用之臨限電壓之位準之情況。在此種 情況，會變成不能正常檢測通光之狀態，會產生不能正常 進行傳感器之功能問題。 另外，發光元件之放射強度由於長期之劣化使傳感器 輸出降低，或由於灰塵使傳感器輸出降低，會有傳感器輸 出之高位準之電壓位準因爲不能達到進行二進制化所須之 臨限電壓之位準之情況。在此種情況不能正常地檢測通光 之狀態，亦會產生不能正常地進行傳感器之功能之問題。 依照此種方式，由於光學傳感器之發光元件和受光元 件之變動，會有檢測發生錯誤之問題，包含因爲傳感器輸 出不足而產生之錯誤，或由於傳感器輸出過大以致於檢出 物透過而產生之錯誤，和由於灰塵和發光元件之長期劣化 使傳感器輸出降低而產生之錯誤。 曰本專利特開平7 - 3 03 9 8號公報（以下稱爲專利文獻1) ，揭示利用比較手段使受光元件之輸出電壓位準和檢測用 基準電壓進行比較，根據比較結果判別檢出物之有無》與 其一起所揭示之技術是使輸出位準和調整用基準電壓進行 比較，根據比較結果變化發光元件之發光量，用來調整敏 感度，藉以解決由於傳感器輸出之降低所產生之檢測錯誤 之問題。 日本專利特開平1 1 -2488 54號公報（以下稱爲專利文獻 2)所揭示之技術是求得受光元件之輸出電壓位準之一定期 間平均値，從其値減去依照其輸出電壓位準可以變化之常 數，使用減算後之値作爲比較器之基準電壓。 -6- 1333558 r r [專利文獻1]日本專利特開平7-3 03 98號公報 [專利文獻2]日本專利特開平1 1 -24 8 8 54號公報 【發明內容】 (發明所欲解決之問題） 在專利文獻1中，在調整時由於光學傳感器對發光控 制電壓之回應性遲延，所以要使光學傳感器之輸出電壓到 穩定爲止需要長時間，會產生等待期間之問題。其理由， 在調整時必須根據光學傳感器輸出位準和調整用基準電壓 • 之比較結果來調整敏感度使變化發光元件之發光量。 另外在該文獻，當由於長期之劣化和污染等使傳感器 輸出位準降低時，爲著獲得最佳之傳感器輸出電壓，所以 使發光元件之發光量增大，但是發光量之增大會加速發光 元件之長期劣化，另外亦會有消耗電力增加之問題。 另外，在專利文獻2，運用時之處理速度降低，需要 施加傳感器位準之AD變換或數位處理，因此會有控制電 路（LSI)之負載增大等之問題。其理由在檢測檢出物時（運用 ^ 時）需要逐次檢測現在之受光元件之輸出電壓位準，與此同 時亦需要進行決定基準電壓之處理。 因此，本發明之目的是提供利用光學傳感器之檢出物 檢測裝置和檢測方法，用來解決上述之先前技術之問題在 調整時光學傳感器輸出電壓直至穩定爲止需要長時間之問 題。本發明之另一目的是提供利用光學傳感器之檢出物檢 測裝置和檢測方法，用來解決上述之先前技術之問題運用 時由於逐次檢測現在之受光元件之輸出電壓位準，和由於 1333558 基準電壓之決定處理所造成之速度降低等問題。 (解決問題之手段） 爲達成上述目的，本發明之檢出物檢測裝置，包含具 有發光元件和受光元件之光學傳感器，將光學傳感器配置 成使從發光元件到受光元件之光通過檢出物之位置，利用 光學傳感器之輸出狀態檢測檢出物之有無；其特徵在於具 備有：基準電壓產生部；比較器，使光學傳感器輸出値和 從基準電壓產生部輸出之基準電壓進行比較，依照其結果 φ 檢測檢出物之有無；和控制部，對基準電壓產生部供給控 制信號藉以輸出基準電壓；控制部依照需要，在檢測檢出 物之前取得光學傳感器輸出値，根據光學傳感器輸出値決 定檢測檢出物之有無時之基準電壓。 本發明之檢出物檢測裝置，其特徵在於最好使裝置依 照光學傳感器輸出是通光狀態或遮光狀態用來檢測檢出物 之有無；控制部依照需要，在檢測檢出物之前，依照使基 準電壓變化時之比較器之輸出變化，取得光學傳感器輸出 $ 値，根據此光學傳感器輸出値決定檢測檢出物之有無時之 基準電壓。 _ 本發明之檢出物檢測裝置，亦可以在使光學傳感器輸 出成爲通光狀態，依照基準電壓在減少方向變化時之比較 器之輸出變化，取得通光狀態之光學傳感器輸出値，根據此 光學傳感器輸出値決定檢測檢出物之有無時之基準電壓。 本發明之檢出物檢測裝置，亦可以最好在使光學傳感 器輸出成爲通光狀態，依照基準電壓在增加方向變化時之 比較器之輸出變化，取得通光狀態之光學傳感器輸出値， C £ -8 - 1333558 根據此光學傳感器輸出値決定檢測檢出物之有無時之基準 電壓。 本發明之檢出物檢測裝置，亦可以在使基準電壓階梯 狀地變化，取得比較器之輸出反相時或其之前時之基準電 壓作爲通光狀態之光學傳感器輸出値，根據此光學傳感器 輸出値決定檢測檢出物之有無時之基準電壓。 本發明之檢出物檢測裝置，亦可以在使基準電壓各以 多個階梯，階梯狀地變化，在比較器之輸出反相後，在相 反方向每次變化1個階梯，取得再度使比較器輸出反相時 或其之前時之基準電壓作爲通光狀態之光學傳感器輸出値 ，根據此光學傳感器輸出値決定檢測檢出物之有無時之基準 電 Μ。 本發明之檢出物檢測裝置，亦可以在從通光狀態之光 學傳感器輸出値算出遮光狀態之光學傳感器輸出値，在其 輸出加上一定値，以加算後之値作爲基準電壓。 本發明之檢出物檢測裝置，亦可以以檢出物之透過率 乘通光狀態之光學傳感器輸出値，在乘算後之値加上一定 値α，以加算後之値作爲基準電壓。 本發明之檢出物檢測裝置，亦可以從通光狀態之光學 傳感器輸出値算出遮光狀態之光學傳感器輸出値’以指定 値β(0<β<1)乘兩者之光學傳感器輸出之差分，在其輸出加 上乘算後之値作爲基準電壓。 本發明之檢出物檢測裝置，亦可以以檢出物之透過率 乘通光狀態之光學傳感器輸出値之値，以此値和指定値 β(〇<β<1)乘通光狀態之光學傳感器輸出之差分之値’以相

i. S 1333558 加之値作爲基準電壓。 本發明之檢出物檢測裝置，亦可以更具備有使發光元 件ΟΝ/OFF之開關，控制部對開關元件發送使開關元件ON/ OFF之控制信號，用來使脈波狀電流在發光元件流動。 本發明之檢出物檢測裝置，亦可以使控制部與發光元 件之ΟΝ/OFF同步地檢測比較器之輸出。 本發明之控制裝置，包含有：光學傳感器，具有發光 元件和受光元件；基準電壓產生部；和比較器，用來使光 φ 學傳感器之輸出和從基準電壓產生部輸出之基準電壓進行 比較；將光學傳感器配置成使從發光元件到受光元件之光 通過檢出物之位置，利用光學傳感器之輸出狀態檢測檢出 物之有無，以構成檢出物’檢測裝置；其特徵在於具備有： 對基準電壓產生部供給控制信號，用來輸出基準電壓，依 照需要在檢測檢出物之前，取得光學傳感器輸出値，根據 光學傳感器輸出値決定檢測檢出物之有無時之基準電壓。 本發明之檢出物檢測方法，係依照具有發光元件和受 | 光元件之光學傳感器是通光狀態和遮光狀態之那一方，用 來檢測檢出物之有無；其特徵在於包含有：第1步驟，依 照需要，在檢測檢出物之前，取得光學傳感器輸出値；第 2步驟，根據光學傳感器輸出値決定檢測檢出物之有無時 之光學傳感器輸出値之基準電壓；和第3步驟，使光學傳 感器輸出値和基準電壓進行比較，依據其之比較結果用來 檢測檢出物之有無。 本發明之檢出物檢測方法，其特徵在於最好在第1步 驟，依照需要在檢測檢出物之前，依照使基準電壓變化時 .10- 1333558 f 之比較結果變化，取得光學傳感器輸出値。 本發明之檢出物檢測方法，亦可以在第1步驟，使光學 傳感器輸出成爲通光狀態，依照使基準電壓在減小方向變 化時之比較結果變化，取得通光狀態之光學傳感器輸出値。 本發明之檢出物檢測方法，亦可以在第1步驟，使光學 傳感器輸出成爲通光狀態，依照使基準電壓在增加方向變 化時之比較結果變化，取得通光狀態之光學傳感器輸出値β 本發明之檢出物檢測方法，亦可以在第1步驟，使基 # 準電壓階梯狀地變化，取得比較結果反相時或其前時之基 準電壓作爲通光狀態之光學傳感器輸出値。 本發明之檢出物檢測方法，亦可以在第1步驟，使基 準電壓各以多個階梯，階梯狀地變化，在比較結果反相後 ，在相反方向每次變化1個階梯，取得再度使比較結果反 相時或其之前時之基準電壓作爲通光狀態之光學傳感器輸 出値。 本發明之檢出物檢測方法，亦可以在第2步驟，從通光 • 狀態之光學傳感器輸出値算出遮光狀態之光學傳感器輸出 値，在其輸出加上一定値，以加算後之値作爲基準電壓》 本發明之檢出物檢測方法，亦可以在第2步驟，以檢 出物之透過率乘通光狀態之光學傳感器輸出値，在乘算後 之値加上一定値α，以加算後之値作爲基準電壓。 本發明之檢出物檢測方法，亦可以在第2步驟，從通 光狀態之光學傳感器輸出値算出遮光狀態之光學傳感器輸 出値，以指定値β(〇<β<1)乘兩者之光學傳感器輸出之差分 C £ > -11- 1333558 ，在其輸出加上乘算後之値作爲基準電壓。 本發明之檢出物檢測方法，亦可以在第2步驟，以檢 出物之透過率乘通光狀態之光學傳感器輸出値之値，將其 値和以指定値p(0<p<l)乘通光狀態之光學傳感器輸出之差 分之値相加，將相加後之値作爲基準電壓。 本發明之檢出物檢測方法，亦可以在第1和第3步驟 中，經由使發光元件ΟΝ/OFF，用來使脈波狀電流在發光 元件流動。 本發明之檢出物檢測方法，亦可以在第1和第3步驟 ，與發光元件之ΟΝ/OFF同步地，取入光學傳感器輸出値 和基準電壓之比較結果。 (發明之效果） 本發明所具有之效果是在檢測檢出物之運用時，逐次 檢測現在之傳感器輸出位準，因爲不需要進行決定基準電 壓之處理，所以具有在運用時可以獲得處理速度之高速化 效果。其理由是在進行檢出物之檢測運用前，取得現在之 傳感器輸出位準，根據此光學傳感器輸出値檢測檢出物之 有無時，決定和運用該基準電'壓。 【實施方式】 下面，參照圖式用來詳細地說明實施本發明之最佳形 能〇 [實施例1] 第1圖是方塊圖，用來表示本發明之實施例1之構造 〇 本發明之實施例1利用光學傳感器之檢出物檢測裝置 -12- 1333558 具有：光學傳感器1，包含發光元件2和受光元件3;比較 器4，被輸入有從受光元件3輸出之傳感器輸出電壓]]和 從DA變換器5輸出之作爲類比電壓位準之基準電壓之臨 限電壓1 4，使其進行比較，輸出二進制化之比較結果；LSI 6，被輸入比較器4之輸出之二進制化輸出12，用來對〇Α 變換器5輸出控制信號13 ;和DA變換器5，對來自LSI 6 之控制信號1 3進行DA變換，用來將臨限電壓14輸出到 比較器4。 φ 另外，本發明之實施例1之光學傳感器之檢出物檢測 裝置具有：電阻9，連接到受光元件3之輸出端子，用來 將受光元件3之電流輸出變換成爲電壓輸出；和電阻8, 連接到發光元件2。 發光元件2由發光二極體等構成，受光元件3由光電 晶體等構成。 在本實施例中是以光學傳感器1爲例進行說明，但是 在光學傳感器1亦可以包含使用可視光線以外之紅外線傳 _ 感器等》 光學傳感器1之發光元件2和受光元件3被配置在從 發光元件2至受光元件3之光，可以通過檢出物位置之位 置。 另外，由比較器等構成之比較器4接受DA變換器5 輸出之臨限電壓14，使用其作爲基準電壓。然後，假如傳 感器輸出電壓11大於臨限電壓14時，比較器4之二進制 化輸出1 2成爲「1」位準，判斷爲通光狀態》輸出作爲基 準電壓之臨限電壓14之DA變換器5成爲產生基準電壓之 -13- 1333558 裝置。在基準電壓爲類比信號，LSI 6之輸出爲數位信號時 之本實施例之情況，使用有DA變換器5爲其一實例。 假如傳感器輸出電壓1 1小於臨限電壓1 4時，比較器 4之二進制化輸出1 2成爲〇位準，判斷爲遮光狀態。判斷 之結果可以從該檢測裝置傳達作爲輸出信號，亦可以以人 類可以感覺之形式顯示。 L S I 6擔任作爲控制部之任務，用來進行檢出物檢測裝 置全體之控制。另外，LSI 6所具有之功能是依照現在之光 • 學傳感器1之狀態，算出最佳之臨限電壓14，用設定來自 DA變換器5之臨限電壓。具體上，LSI6以檢出物21之光 線透過率（以下簡稱爲透過率）乘現在之通光時之傳感器輸 出電壓11之値，假想爲遮光時之傳感器輸出電壓11，使 一定値α加此値之値決定作爲最佳之臨限電壓1 4而保存。 另外，LSI 6,在光學傳感器1之輸出電壓位準大於標 準（典型値）之情況時，可以以臨限電壓14大於標準之方式 ，設定對DA變換器5之控制信號13。另外，LSI6在光學 • 傳感器1之輸出電壓位準小於標準之情況時，可以以使臨限 電壓14小於標準之形式，設定對DA變換器5之控制信號 13 °

具體地說明LSI 6時，LSI 6如第8圖所示，具備有： 輸入部6a，被輸入有來自比較器4之二進制化輸出12:主 控制部6b，用來進行全體之控制；演算部6c，用來算出加 算過檢出物21之透過率之運用時之臨限電壓；記憶部6d ，用來記憶檢出物之透過率和算出之臨限電壓14;和DA -14- 1333558 變換器控制部6e，用來產生控制信號1 3，藉以控制DA變 換器5。 在沒有檢出物21之狀態取得傳感器輸出電壓11之動 作時，在主控制部6b於來自輸入部6a之比較器4之二進 制化輸出1 2從遮光狀態到變化爲通光狀態之期間，經由 DA變換器控制部6e，使從DA變換器5輸出之臨限電壓 1 4每次減少1個級距。 DA變換器控制部6e具有產生對DA變換器5之控制 信號之功能，用來產生依照主控制部6b指定之控制信號 1 3。比較器4之二進制化輸出1 2在從遮光狀態變化成爲通 光狀態時，主控制部6b根據在變化成爲通光狀態時之臨限 電壓1 4之値，利用演算部6c算出運用時之臨限電壓1 4。 LSI 6在運用時之臨限電壓14之算出時，參照事先被 儲存在記憶部6d之檢出物21之透過率之値進行。另外， 記憶部6d記億算出之運用時之臨限電壓14作爲維護資訊 。主控制部6b從記憶部6d讀出在演算部6c算出之運用時 之臨限電壓1 4 ·經由DA變換器控制部6e將控制信號1 3 發送到DA變換器5，用來將臨限電壓14輸出到DA變換 器，轉移到實運用。 另外，檢出物21之透過率之資料亦可以在製造時作入 記憶部6d。另外，主控制部6b亦可以依照需要經由圖中未 顯示之上位介面部，形成與圖中未顯示之外部上位系統連 接，主控制部6b接受來自此上位系統之透過率資料，將其 寫入記憶部6d»如此一來，在因爲檢出物之變更等產生需 £ ) -15- 1333558 要變更透過率之情況，主控制部6b接受來自此上位系統之 透過率資料，經由寫入到記憶部6d可以用來變更透過率。 在檢出物21之內容不只一種之情況時，亦可以因應多 種之情況。本發明之實施例裝置在事前對檢出物21有任何 辨識之情況時，亦可以控制LSI 6，設定配合檢出物21從 LSI 6朝向DA變換器5之與檢出物21對應之臨限電壓14 。另外在成爲檢測之對象之多個檢出物21中，亦可以配合 最大透過率者，將透過率資料儲存在記憶部6d之中，用來 設定臨限電壓14。在此種情況’配合透過率最大者’可以 防止遮光狀態被錯誤檢測成爲通光狀態。 下面，參照第2圖用來說明本發明之實施例1之動作。 在本發明中將受光側電路構建成爲使進行二進制化用 之臨限電壓14能夠進行可變控制。另外’將傳感器輸出電 壓11辨識爲現在之通光時之傳感器輸出位準’根據傳感器 輸出電壓11決定和運用最佳之臨限電壓14。 首先，當在光學傳感器1之光學路徑中沒有檢出物21 之狀態，將DA變換器5之輸出’亦即臨限電壓14設定成 爲最大（步驟S1) ° 其次，爲著辨識通光狀態之傳感器輸出電壓11’進行 使臨限電壓14下降一個階梯之操作（步驟S2)。在此處判定 傳感器輸出電壓11是否大於或等於臨限電壓14 (步驟S3) ，當小於時（步驟S3’否）’重複進行步驟S2和步驟S3° 假如判定爲傳感器輸出電壓11大於或等於臨限電壓 14時（步驟s3’是）’ LSI 6判斷爲比較器4之輸出狀態從 -16- 1333558 遮光狀態變爲通光狀態，檢測取得這時之臨限電壓作爲傳 感器輸出電壓11(步驟S3)。 其次’根據在步驟S3辨識到通光狀態之傳感器輸出電 壓11’加上檢出物21之透過率’算出實運用時之臨限電 壓Μ之値（步驟S4)。所舉之算出一實例是例如當檢出物之 最大透過率爲30%之情況時，以在步驟S3辨識到通光狀態 之傳感器輸出電壓之「30 %+ α」電壓値作爲實運用時之臨 限電壓。 φ 在此處，第4圖係表示傳感器輸出電壓11和比較器4 之二進制化輸出12之關係之圖，第4Α圖、第4Β圖、第 4C圖分別表示傳感器輸出電壓1 1爲標準 '小、大之情況 ，包含臨限電壓1 4。 參照第4Α圖，在步驟S3辨識到通光狀態之傳感器輸 出電壓11爲V2,成爲遮光時之傳感器輸出電壓11成爲V2 之3 0 %値之V 1。 其中，臨限電壓14成爲。在此種情況，臨 ® 限電壓14之値VtQ因爲成爲遮光時之傳感器輸出電壓値乂！ 和間之値，所以檢測遮光時和通光時不會發生錯誤。 其次最後之步驟是LSI 6將控制信號13發送到DA變 換器5，成爲在步驟S4算出之實運用時之臨限電壓14。依 照此種方式，LSI 6進行臨限電壓14之設定（步驟S5)。然 後，轉移到實運用，利用光學傳感器1檢測檢出物2 1之有 無（步驟S6)。 在此處參照第4B圖檢討當傳感器輸出電壓11較小之 -17- 1333558 情況時之臨限電壓1 4値成爲何镡方式。在步驟S 3辨識到 通光狀態之傳感器輸出電壓11爲V4’成爲遮光時之傳感 器輸出電壓11成爲v4之3 0%値之V3。在此處’臨限電壓 Μ成爲V3 + a = Vtl。在此種情況，因爲臨限電壓14之値Vtl 成爲遮光時之傳感器輸出電壓値V3和V4間之値，所以檢 測遮光時和通光時不會發生錯誤。 然後，參照第4C圖，檢討當傳感器輸出過大之情況時 臨限電壓14之値成爲何種方式。在步驟S3辨識到通光狀 態之傳感器輸出電壓Η爲遮光時之傳感器輸出電壓 11成爲乂6之30°/〇値之乂5。其中臨限電壓14成爲¥5 + (! = 乂12 。在此種情況，因爲臨限電壓14値之Vt 2成爲遮光時之傳 感器輸出電壓値V 5和V 6間之値，所以檢測遮光時和通光 時不會發生錯誤。 另外，光學傳感器輸出之取得和臨限電壓決定之處理 (S 1〜S 5 )可以依照需要定期地或不定期地進行。可以考慮 在每日、每月、每次電源上升時，定期檢查時之光學傳感 器1之清掃時等進行，但是並不只限於此種方式。 另外，在上述之實例是當將臨限電壓14設定在通光時 之傳感器輸出位準之30%之情況，使傳感器輸出位準朝向 增加方向變動時造成檢測錯誤。因此，a之値附加作爲用 來防止此種檢測錯誤之餘裕（margin)。具體上，其決定要考 慮到電源/周圔溫度/傳感器之面對（光軸）之變動和電雜訊 ，外來混亂光等之影響。 當α之値大太時，因爲在傳感器輸出位準朝向降低方 1333558 向變動時，其檢測會發生錯誤，所以需要決定可以防止此 錯誤之値。實質上，需要考慮到電源/周圍溫度/傳感器之 面對（光軸）之變動和電雜訊與在至下一次之調整期間所產 生之發光元件2長期劣化和由於灰塵造成之污染。 檢出物21之透過率隨著材質 '厚度、色（顏料）之而變 化其値。另外，因爲亦與測定時之光源波長有關，所以實 際上需要評估、測定檢出物，求得透過率。檢出物21之透 過率之測定方法因爲是業者廣泛習知手法，所以在此處將 其說明省略。 在檢出物21之光線透過率之一實例，第11圖表示塑膠 (聚碳酸酯）之透過率與波長、與厚度關係。另外，第12圖 表示塑膠和塑膠以外之透明材料（射出成形PC(聚碳酸酯 [polycarbonate])、壓縮成形PC、射出成形PMMA(聚甲基丙烯 酸甲酯[polymethl Methacrylate]))之透過率和波長關係。在 此等添加充塡材料或顏料時，可以使透過率成爲較此等爲 更低之値。此資料是三菱工程塑膠股份公司製，製品名稱 爲優比龍（註冊商標）/諾比勒克斯（註冊商標）之製品資料。 另外’第11圖、第12’圖引用三菱工程塑膠股份公司之首 頁所揭示之技術資料。 檢出物之一實例可以視爲是 ATM(Automated Teller Machine)之現金卡、收據、存摺、傳票、或媒體交替型儲 存裝置之記錄媒體等，但是此等只作爲一實例，並不只限 於此等者。 如以上所說明之方式，本實施例依照現在之傳感器狀 態’可以以可變之方式設定和運用最佳之「用來判斷是通 -19- 1333558 光或是遮光狀態之臨限電壓」。因此，所具有之效果是可 以避免由於光學傳感器之發光元件和受光元件之變動造成 之「因傳感器輸出之不足產生之檢測錯誤」和「因爲傳感 器輸出過大，由於檢測物透過產生之檢測錯誤」。 另外，本發明之實施例所具有之效果是在檢測檢出物 之運用時，逐次地檢測現在之傳感器輸出位準，因爲不需 要進行決定基準電壓之處理，所以可以獲得運用時之處理 速度之高速化。其理由是在進行檢出物之檢測運用之前， φ 取得現在之傳感器輸出位準，在根據此光學傳感器輸出値 檢測檢出物之有無時，決定和運用該基準電壓。 另外，本實施例之效果是在檢測檢出物前進行調整， 可以以短時間進行。其理由如下所述。在專利文獻1，調 整時調整發光量，經由使傳感器對發光控制電壓之回應延 遲，傳感器輸出電壓至穩定需要長時間，成爲需要等待時 間。但是，在本實施例中，不進行發光量之調整，只使臨 限電壓成爲可變，所以不需要等待時間。 # 另外，本實施例之效果是即使檢出物爲高光線透過率 之透明材料或其接近者，亦可以以較少之錯誤動作進行正 確之檢出物之檢測。其理由是因爲所具有之構造設定有臨 限電壓成爲可以依照檢出物之透過率，確保對傳感器輸出 電壓之變動餘裕。 其次根據第5圖、第8圖用來說明實施例1變化之變 化例1。變化例1之構成元件係第1實施例之第1圖和第8 圖之構造。

-20- 1333558 參照第8圖，在取得沒有檢出物2 1之狀態之傳感器輸 出電壓11之動作時，主控制部6b在來自輸入部6a之比較 器4之二進制化輸出1 2從通光狀態變化成爲遮光狀態之期 間，經由D A變換器控制部6 e，使從D A變換器5輸出之 臨限電壓1 4每次增加1個級距。 DA變換器控制部6e具有產生對DA變換器5之控制 信號13之功能，用來產生由主控制部6b指定之控制信號 1 3。其次，當比較器4之二進制化輸出1 2從通光狀態變化 成爲遮光狀態時，主控制部6b根據變化成爲通光狀態時之 臨限電壓1 4之値，利用演算部6c算出運用時之臨限電壓 14。 在運用時之臨限電壓14之算出時，參照事前被儲存在 記憶部6d之檢出物之透過率之値進行。另外，記憶部6d 記憶算出之運用時之臨限電壓14作爲維護資訊。其次主控 制部6b從記憶部6d讀出在演算部6c算出之運用時之臨限 電壓，經由DA變換器控制部6e，對DA變換器5發送控 制信號1 3，將臨限電壓14輸出到D A變換器5，轉移到寶 運用。 其次利用第5圖用來說明變化例1之動作。首先，在 光學傳感器1之光學路徑中沒有檢出物21狀態之DA變換 器5之輸出，亦即臨限電壓1 4，被設定爲最小（步驟S 1 1) 〇 其次，爲著辨識通光狀態之傳感器輸出電壓11，進行 使臨限電壓14上升一個階梯之操作（步驟S12)。在此處， -21 - 1333558 判斷傳感器輸出電壓11是否小於或等於臨限電壓14(步驟 S13)’在大於時（步驟S13，否），重複進行步驟S12和步驟 S 1 3 〇 假如判斷爲傳感器輸出電壓11小於或等於臨限電壓 14(步驟S13，是），LSI 6判斷爲比較器之輸出狀態從通光 狀態變爲遮光狀態，檢測保存此時之一個前之臨限電壓1 4( 步驟S 1 3 )。這時之臨限電壓1 4嚴格地講已成爲遮光狀態。 但是，1個級距部分之臨限電壓1 4被視爲誤差範圍，所以 此時之臨限電壓14被視爲通光狀態之傳感器輸出電壓11 ，可以檢測保存其値（步驟S1 3)。 其次，根據在步驟S13辨識到之通光狀態之傳感器輸 出電壓11，加上檢出物之透過率算出實運用時之臨限電壓 14之値（步驟S14)。所舉之算出之一實例是在檢出物之最 大透過率爲30%之情況，使在步驟S13辨識到通光狀態之 傳感器輸出電壓11之「30% + α」電壓値成爲實運用時之臨 限電壓1 4。 在此處，第4圖係表示傳感器輸出電壓11和比較器4 之二進制化輸出12之關係之圖，第4Α圖、第4Β圖、第 4C圖分別表示傳感器輸出電壓11爲標準、小、大之情況 ，包含臨限電壓14。此變化例1之動作與第4圖有關之說 明因爲與實施例1相同，所以其說明加以省略。 其次在最後之步驟，LSI 6將控制信號13發送到DA 變換器5，成爲在步驟S14算出之實運用時之臨限電壓。 依照此種方式，LSI 6進行臨限電壓14之設定（步驟S15) -22- 1333558 。然後，轉移到實運用，利用光學傳感器1檢測檢出物2 1 之有無（步驟S16)。 關於上述之變化例說明以外之部分，包含作用和效果 之部分，因爲與實施例1相同，所以其說明加以省略。 其次說明實施例1之變化例2。其與實施例1之不同 在於步驟S14，對於此點利用第2圖和第10圖進行說明。 根據在步驟S 3辨識到通光狀態之傳感器輸出電壓1 1 ’加上檢出物21之透過率，算出實運用時之臨限電壓14 之値（步驟S4)。算出檢出物21所具有之狀態之光學傳感器 輸出之方法，是使用以檢出物21之透過率乘以在步驟S3 辨識到通光狀態之光學傳感器輸出電壓1 1所獲得之値。在 此値，加上以指定値β(〇<β<〗）乘此値與通光狀態之光學傳 感器輸出之差分所獲得之値，以加算後之値作爲臨限電壓 1 4之値。 此處之第10圖，表示作爲一實例之透過率爲3 0 %之檢 出物之情況，當β = 〇.5時之傳感器輸出電壓11和比較器4 之二進制化輸出12.之關係之圖’第1〇Α圖、第10Β圖、 第10C圖分別表示傳感器輸出電壓11爲標準、小、大之情 況，包含臨限電壓14。 參照第10Α圖，在步驟S3辨識到通光狀態之傳感器輸 出電壓11爲V2，遮光時之傳感器輸出電壓11成爲乂2之 3 0%値之V! » 其中，臨限電壓14成爲Vi + P(v2-Vi) = Vt〇。在此種情 況，臨限電壓14之値V,〇因爲成爲遮光時之傳感器輸出電 -23- 1333558 壓値v !和V 2間之値之（V , + V 2 ) / 2之値，所以檢測遮光時和 通光時不會發生錯誤。 在此處參照第10B圖檢討當傳感器輸出電壓11變小之 情況時之臨限電壓14之値成爲何種方式。在步驟S3辨識 到通光狀態之傳感器輸出電壓11爲V4，遮光時之傳感器 輸出電壓11成爲V4之3 0%値之V3。因此，臨限電壓14 成爲V3 + p(V4-V3) = Vtl。在此種情況，因爲臨限電壓14之 値Vtl成爲遮光時之傳感器輸出電壓値V3和V4間之2等 分之値，所以檢測遮光時和通光時不會發生錯誤。另外當 與第4Β圖進行比較時，因爲通光側之餘裕變大，所以即使 有傳感器輸出電壓變低等之變動，亦可以使檢測發生錯誤 之可能性變低成爲變化例2之特有效果。 再參照第10C圖檢討傳感器輸出過大之情況時臨限電 壓14之値成爲何種方式。在步驟S3辨識到通光狀態之傳 感器輸出電壓11爲v6，成爲遮光時之傳感器輸出電壓11 成爲乂6之30%値之V5。其中臨限電壓14成爲ν5 + β(ν6-ν5) = V,2。在此種情況，因爲臨限電壓14値之· Vt2成爲遮光時 之傳感器輸出電壓値V 5和V 6間之値，所以檢測遮光時和 通光時不會發生錯誤。 在變化例2中，除了實施例1之效果外，更具有之效 果是對於成爲遮光時之傳感器輸出電壓，加上與遮光時之 傳感器輸出電壓11和通光時之傳感器輸出電壓11之差成 正比例之値，用來決定臨限電壓1 4，所以可以避免餘裕變 少之情況，可以使檢測發生錯誤之可能性變低。 -24- 1333558 另外，亦可以考慮組合有變化例1之特徵和變化例1 2 之特徵之變化例，此種之構造、效果由以上之說明業者當 可明白地理解，所以詳細說明在此加以省略。 [實施例2] 下面，參照第1圖和第6圖而說明實施本發明之實施 例2之動作。實施例2之方塊圖與第1圖相同。 在本發明之實施例2中，與實施例1同樣地，爲著進 行二進制化將受光側電路構建成爲對臨限電壓14可以進 • 行可變控制。另外，辨識現在之通光時之成爲傳感器輸出 位準之傳感器輸出電壓11，根據傳感器輸出電壓11，決定 和運用最佳之臨限電壓。 首先，在光學傳感器1之光學路徑中沒有檢出物21之 狀態，將DA變換器5之輸出，亦即將臨限電壓14設定成 爲最大（步驟S2 1 )。 其次，爲著辨識通光狀態之傳感器輸出電壓U，進行 使臨限電壓14下降X階梯（X爲2以上之整數）之操作（步 ® 驟S22)。在此處判斷傳感器輸出電壓11是否大於或等於臨 限電壓14(步驟S23)，假如小於時（步驟S23，否），重複進 行步驟S22和步驟S23。 假如判斷爲傳感器輸出電壓11大於或等於臨限電壓 14時（步驟S23’是）’ LSI 6判斷爲從遮光狀態變成通光狀 態’臨限電壓過度下降，其次使臨限電壓上升1個階梯（步 驟S 24)〇在此處判斷傳感器輸出電壓η是否小於或等於臨 限電壓14 (步驟S25)，假如大於時重複進行步驟24和步驟 -25- 1333558 S25 〇 假如判斷爲傳感器輸出電壓1 1小於或等於臨限電壓 14時（步驟S2 5、是），LSI 6判斷爲比較器4之輸出狀態從 通光狀變成遮光狀態’檢測、保存其時之—個前臨限電 壓14(步驟S25)。亦即這時之臨限電壓14嚴密地講已成爲 遮光狀態。但是1個級距部分之臨限電壓1 4被視爲在誤差 範圍內’所以這時之臨限電壓1 4被視爲通光狀態之傳感器 輸出電壓，可以良好地檢測、保存其値（步驟S25)» # 其後之步驟S26、S27、S28因爲與實施例1之第2圖 步驟S4、S5、S6相同，所以其說明加以省略。 在本實施例中，可以具有2個級距以上之常數幅度成 爲可變地變化二進制化輸出1 2之狀態，在變化狀態後以相 反方向一次變化1個級距之二進制化輸出1 2之狀態，成爲 檢測之級距。因此，除了實施例1之效果外，可以使傳感 器輸出位準之檢測速度更增加藉以縮短時間成爲本實施例 之特有效果。 φ 下面參照第1圖和第7圖用來說明實施例2之變化之 變化例3。 變化例3之方塊圖與第1圖相同。 本發明之變化例3，與實施例1同樣地’爲著進行二 進制化將受光側電路構建成爲能夠可變地控制臨限電壓1 4 。另外，辨識現在之通光時成爲傳感器輸出位準之傳感器 輸出電壓11，根據傳感器輸出電壓11決定和運用最佳之 臨限電壓1 4。

-26- 1333558 首先，在光學傳感器1之光學路徑中沒有檢出物21之 狀態，將D A變換器5之輸出，亦即將臨限電壓1 4設定在 最小（步驟S3 1)。 其次，爲著辨識通光狀態之傳感器輸出電壓11，對臨 限電壓14進行提高X階梯（X爲2以上之整數）之操作（步 驟S32)。在此處判斷傳感器輸出電壓11是否小於或等於臨 限電壓14(步驟S33)，假如大於時（步驟S33，否），重複進 行步驟S32和步驟S33。 • 假如判斷爲傳感器輸出電壓11小於或等於臨限電壓 14時（步驟S33,是），LSI 6判斷爲從通光狀態變成遮光狀 態，臨限電壓1 4上升過度，其次使臨限電壓下降1個階 梯（步驟S34)。在此處判斷傳感器輸出電壓11是否大於或 等於臨限電壓14(步驟S35)，假如小於時，重複進行步驟 3 4和步驟S 3 5。 假如判斷爲傳感器輸出電壓11大於或等於臨限電壓 14時（步驟S35,是），LSI 6判斷爲比較器4之輸出狀態從 φ 遮光狀態變爲通光狀態’將這時之臨限電.壓Μ視爲通光狀 態之傳感器輸出電壓1 1 ’檢測、保存其値（步驟S3 5)。 其後之步驟S36、S37' S38因爲與實施例1之第2圖 步驟S 4、S 5、S 6相同，所以其說明加以省略。 變化例3之作用和效果與實施例2相同，在變化例3 以2個級距以上之常數變化二進制化輸出1 2之狀態’在使 狀態變化後在相反方向，以各1個級距變化二進制化輸出 1 2之狀態，成爲被稱爲檢測之步驟。因此，除了實施例1 ί： £ -27- 1333558 之效果外，可以更進一步地縮短傳感器輸出位準之檢測速 度之效果。 下面說明實施例2之變化之變化例4。與實施例2之 不同的是步驟S26，對於此點利用第6圖和第10圖和實施 例1之變化例2之步驟S4之說明當可理解。 根據在步驟S25辨識到之通光狀態之傳感器輸出電壓 11，算出加上檢出物之透過率之實運用時之臨限電壓14之 値（步驟S2 6) »所舉之算出之一實例，是在檢出物之最大透 過率爲30%之情況，對在步驟S3辨識到通光狀態之傳感器 輸出電壓11乘以檢出物之透過率，對乘算後之値，以其値 和通光狀態之光學傳感器輸出電壓11之差分乘以指定値 β(〇<Ρ<1)之値，作爲加算後之値。依照此種方式，因爲利 用實施例1之變化例2之說明同樣地可以理解，所以其說 明加以省略。 [實施例3] 下面，參照第3圖和第9圖用來說明本發明之實施例 3 〇 發光元件2和受光元件3之各個元件間之面對距離（光 路長度）變遠之情況時，在實施例1之構造，傳感器輸出電 壓11會減小。爲著解決此種問題，在面對距離變遠之情況 ’使振幅比直流順電流大之脈波順電流在發光二極體等之 發光元件2流動，增加放射強度，可以用來使傳感器輸出 電壓1 1增大。 但是’當有脈波順電流流動之情況時，需要使發光元 -28- 1333558 件2之發光閃亮。因此，實施例3除了第1圖所示之實施 例1之構造外’在發光電路側更具備有電晶體等之開關元 件7。實施例3之其他之構成元件除了後面所述之LSI 61 外’因爲與實施例1者相同，所以其各個之說明加以省略 〇 另外’在LSI 61需要具有檢測功能，與發光元件2之 閃亮同步地檢測點亮發光元件2時之傳感器輸出1 1。爲著 實現本功能’除了實施例1之LSI 6之構造外更具備有同 # 步時序產生部6f和ΟΝ/OFF控制信號產生部6g。 同步時序產生部6f和ΟΝ/OFF控制信號產生部6g，利 用ΟΝ/OFF控制信號〗5控制開關元件7，使比直流順電流 大之脈波順電流在發光元件2流動。 當開關元件7爲0 F F時，因爲發光元件2熄滅，所以 在點亮發光元件2時根據傳感器輸出電壓11和臨限電壓 1 4 ’利用主控制部6b閂鎖從比較器4輸出之二進制化輸出 1 2 ’作爲有效資料。此點相當於在運用時檢測檢出物之時 ♦ 點，和調整時取得光學傳感器輸出電壓11之時點。 同步時序產生部6f產生ΟΝ/OFF時序信號17用以產 生ΟΝ/OFF控制信號15，和產生與此信號同步之供給到主 控制部6b之閂鎖時序信號1 6，經常發光元件2在點亮時 ，可以由主控制部6b閂鎖有效資料。 另外，ΟΝ/OFF控制信號產生部6g，係用來產生適於 開關元件7之ΟΝ/OFF控制信號15之電路，實質上進行信 號位準之變換等。 -29- 1333558 依照此種方式，與開關元件7之〇N(點亮）時之ON/OFF 控制信號1 5同步地，利用L SI 6 1閂鎖從受光側電路之比 較器等之比較器4輸出二進制化輸出1 2 »然後以被閂鎖之 資料作爲光學傳感器1之狀態之有效資料。 依照本實施例之方式，使比直流順電流大之脈波順電 流在發光二極體等之發光元件2流動，當使放射強度增加 地使用之情況時，容易產生由於透過檢出物造成之檢測錯 誤。但是利用與上述實施例1所說明之動作同樣之步驟（第 2圖之步驟S1至S6)，經由適當地設定臨限電壓可以避免 此種問題。此種情況之本實施例動作與實施例1所說明之 動作相同。 另外，使本實施例之構造成爲相同地適用在變化例1 、變化例2、變化例3、變化例4之情況時，在檢出物檢測 前之調整時，設定臨限電壓之步驟等因爲與各個實施例、 變化例之動作所記載之內容相同，所以其說明加以省略。 在本實施例中，利用開關元件7和控制其之LSI 6之 構造，使比直流順電流大之脈波順電流在發光二極體等之 發光元件2流動，使放射強度增加藉以增大傳感器輸出電 壓11。因此即使在面對距離較遠之情況時，亦可以以依照 現在之傳感器狀態之最佳臨限電壓運用，具有可以防止檢 測發生錯誤之效果。 (產業上之利用可能性） 本發明可以適用在具有使用機械電子製品以外之光學 傳感器用來檢測檢出物之構造機器。 -30- 1333558 【圖式簡單說明】 第1圖是方塊圖’用來表示本發明之實施例1和2之 檢出物檢測裝置之構造。 第2圖是流程圖’用來說明本發明之實施例1之檢出 物檢測裝置之槪略動作。 第3圖是方塊圖，用來表示本發明之實施例3之檢出 物檢測裝置之構造。 第4A圖〜第4C圖是表示本發明之實施例之比較器之 φ 傳感器輸出電壓、臨限電壓和二進制化輸出之關係之圖。 第5圖是流程圖’用來說明本發明之變化例丨之檢出 物檢測裝置之槪略動作。 第6圖是流程圖，用來說明本發明之實施例2之檢出 物檢測裝置之槪略動作。 第7圖是流程圖，用來說明本發明之變化例3之檢出 物檢測裝置之槪略動作。 第8圖是方塊圖，用來表示本發明之實施例1和2之 LSI 6之構造。 ^ 第9圖是方塊圖’用來表示本發明之實施例3之LSI 6 之構造。 第10A圖〜第l〇C圖是表示本發明之變化例2和變化 例4之比較器之傳感器輸出電壓、臨限電壓和二進制化輸出 之關係之圖。 第11圖是表示聚碳酸酯之光線透過率和波長之關係 之一實例之曲線圖。 第12圖是表示聚碳酸酯外之透明材料之光線透過率 -3 1- 1333558 和波長之關係之一實例之曲線圖。 【主要元件符號說明】 1 光學傳感器 2 發光元件 3 受光元件 4 比較器 5 DA變換器

6 LSI

6 a 輸入部 6b 主控制部 6 c 演算部 6 d 記憶部 6e DA變換器控制部 6f 同步時序產生部 6g ON/OFF控制信號產生部 7 開關元件 8,9 電阻 11 傳感器輸出電壓 12 —進制化輸出 13 控制信號 14 臨限電壓 15 ΟΝ/OFF控制信號 2 1 檢出物

6 1 LSI

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Claims (1)

1333558 十、申請專利範圍： 1. 一種檢出物檢測裝置’包含具有發光元件和受光元件之 光學傳感器，將該光學傳感器配置成使從該發光元件到 該受光元件之光通過檢出物之位置’利用該光學傳感器 之輸出狀態檢測該檢出物之有無；其特徵在於具備有： 基準電壓產生部，用來產生基準電壓； 比較器，使該光學傳感器輸出値和從該基準電壓產 生部輸出之基準電壓進行比較，依照其結果檢測該檢出 物之有無；和 控制部，對該基準電壓產生部供給控制信號藉以輸 出該基準電壓； 該控制部依照需要，在檢測該檢出物之前取得該光 學傳感器輸出値，根據該光學傳感器輸出値決定檢測該 檢出物之有無時之該基準電壓。 2 .如申請專利範圍第1項之檢出物檢測裝置，其中 係依照該光學傳感器輸出是通光狀態或遮光狀態而 檢測該檢出物之有無之裝置； 該控制部依照需要，在檢測該檢出物之前，依照使 該基準電壓變化時之該比較器之輸出變化，取得光學傳 感器輸出値，根據此光學傳感器輸出値決定檢測該檢出 物之有無時之該基準電壓。 3 .如申請專利範圍第2項之檢出物檢測裝置，其中 該控制部使該光學傳感器輸出成爲通光狀態，依照 該基準電壓在減少方向變化時之比較器之輸出變化，取 -33- 1333558 得通光狀態之光學傳感器輸出値，根據此光學傳感器輸 出値決定檢測該檢出物之有無時之該基準電壓。 4 .如申請專利範圍第2項之檢出物檢測裝置，其中 該控制部使該光學傳感器輸出成爲通光狀態，依照 該基準電壓在增加方向變化時之比較器之輸出變化，取 得通光狀態之光學傳感器輸出値，根據此光學傳感器輸 出値決定檢測該檢出物之有無時之該基準電壓。 5.如申請專利範圍第3項之檢出物檢測裝置，其中 # 該控制部使該基準電壓階梯狀地變化，取得比較器 之輸出反相時或其之前時之該基準電壓作爲通光狀態之 光學傳感器輸出値，根據此光學傳感器輸出値決定檢測 該檢出物之有無時之該基準電壓。 6 ·如申請專利範圍第4項之檢出物檢測裝置，其中 該控制部使該基準電壓階梯狀地變化，取得比較器 之輸出反相時或其之前時之該基準電壓作爲通光狀態之 光學傳感器輸出値，根據此光學傳感器輸出値決定檢測 • 該檢出物之有無時之該基準電壓。 7 .如申請專利範圍第2項之檢出物檢測裝置，其中 該控制部使該基準電壓各以多個階梯，階梯狀地變 化，在比較器之輸出反相後，在相反方向每次變化1個 階梯，取得再度使比較器之輸出反相時或其之前時之該基 準電壓作爲通光狀態之光學傳感器輸出値，根據此光學 傳感器輸出値決定檢測該檢出物之有無時之該基準電壓。 8·如申請專利範圍第2項之檢出物檢測裝置，其中 •34· 1333558 該控制部從通光狀態之光學傳感器輸出値算出遮光 狀態之光學傳感器輸出値，在其輸出加上一定値，以加 算後之値作爲該基準電壓。 9.如申請專利範圍第2項之檢出物檢測裝置，其中 該控制部以該檢出物之透過率乘通光狀態之光學傳 感器輸出値，在乘算後之値加上一定値α，以加算後之値 作爲該基準電壓。 1 〇.如申請專利範圍第2項之檢出物檢測裝置，其中 該控制部從通光狀態之光學傳感器輸出値算出遮光 狀態之光學傳感器輸出値，以指定値β(0<β<1)乘兩者之 光學傳感器輸出之差分，在其輸出加上乘算後之値作爲 該基準電壓。 1 1 ·如申請專利範圍第2項之檢出物檢測裝置，其中 該控制部以該檢出物之透過率乘通光狀態之光學傳 感器輸出之値，將此値和以指定値β(0<β<1)乘通光狀態之 光學傳感器輸出之差分之値，以相加之値作爲基準電壓。 1 2 ·如申請專利範圍第1項之檢出物檢測裝置，其中 更具備有使該發光元件ΟΝ/OFF之開關，該控制部 對該開關元件發送使該開關元件ΟΝ/OFF之控制信號， 用來使脈波狀電流在該發光元件流動。 1 3 ·如申請專利範圍第1 2項之檢出物檢測裝置，其中 該控制部，與發光元件之ΟΝ/OFF同步地，檢測該比 較器之輸出》 14. 一種控制裝置’構造上包含有：光學傳感器，具有發光 -35- 1333558 元件和受光元件；基準電壓產生部；和比較器，用來使 該光學傳感器之輸出和從該基準電壓產生部輸出之基準 電壓進行比較；將該光學傳感器配置成使從該發光元件 到該受光元件之光通過檢出物之位置，利用該光學傳感 器之輸出狀態檢測該檢出物之有無；其特徵在於： 對該基準電壓產生部供給控制信號，用來輸出該基 準電壓，依照需要在檢測該檢出物之前，取得該光學傳 感器輸出値，根據該光學傳感器輸出値決定檢測該檢出 物之有無時之該基準電壓。 15.—種檢出物檢測方法，依照具有發光元件和受光元件之 光學傳感器是通光狀態和遮光狀態之那一方，用來檢測 該檢出物之有無；其特徵在於包含有： 第1步驟，依照需要，在檢測該檢出物之前，取得 光學傳感器輸出値； 第2步驟，根據該光學傳感器輸出値決定檢測該檢 出物之有無時之該光學傳感器輸出値之基準電壓；和 第3步驟，使該光學傳感器輸出値和該基準電壓進 行比較，依據此比較結果用來檢測該檢出物之有無。 1 6.如申請專利範圍第1 5項之檢出物檢測方法，其中 在該第1步驟，依照需要在檢測該檢出物之前，依 照使該基準電壓變化時之比較結果變化，取得光學傳感 器輸出値。 i 7 .如申請專利範圍第1 6項之檢出物檢測方法，其中 在該第1步驟，使該光學傳感器輸出成爲通光狀態 -36- 1333558 ，依照使該基準電壓在減小方向變化時之比較結果變化 ，取得通光狀態之光學傳感器輸出値。 1 8 .如申請專利範圍第1 6項之檢出物檢測方法，其中 在該第1步驟，使該光學傳感器輸出成爲通光狀態 ，依照使該基準電壓在增加方向變化時之比較結果變化 ，取得通光狀態之光學傳感器輸出値。 1 9.如申請專利範圍第1 7項之檢出物檢測方法，其中 在該第1步驟，使該基準電壓階梯狀地變化，取得 比較結果反相時或其前時之該基準電壓作爲通光狀態之 光學傳感器輸出値。 2 0 .如申請專利範圍第1 7項之檢出物檢測方法，其中 在該第1步驟，使該基準電壓各以多個階梯，階梯 狀地變化，在比較結果反相後，在相反方向每次變化1 個階梯，取得再度使比較結果反相時或其之前時之該基 準電壓作爲通光狀態之光學傳感器輸出値。 2 1 .如申請專利範圍第1 5項之檢出物檢測方法，其中 在該第2步驟，從通光狀態之光學傳感器輸出値算 ' 出遮光狀態之光學傳感器輸出値，在其輸出加上一定値 ，以加算後之値作爲該基準電壓。 2 2 ·如申請專利範圍第1 5項之檢出物檢測方法，其中 在該第2步驟，以該檢出物之透過率乘通光狀態之 光學傳感器輸出値，在乘算後之値加上一定値α，以加算 後之値作爲該基準電壓。 2 3 .如申請專利範圍第1 5項之檢出物檢測方法，其中

-37- 1333558 在該第2步驟，從通光狀態之光學傳感器輸出値算 出遮光狀態之光學傳感器輸出値，以指定値Ρ(0<β<：ι)乘 兩者之光學傳感器輸出之差分，在其輸出加上乘算後之 値作爲該基準電壓。 24 .如申請專利範圍第1 5項之檢出物檢測方法，其中 在該第2步驟，以該檢出物之透過率乘通光狀態之 光學傳感器輸出之値，將此値和以指定値β(0<β<1)乘通 光狀態之光學傳感器輸出之差分之値，以相加之値作爲 基準電壓。 2 5.如申請專利範圍第15項之檢出物檢測方法，其中 在第1和第3步驟中，經由使該發光元件ON/OFF ，用來使脈波狀電流在發光元件流動。 2 6 .如申請專利範圍第2 5項之檢出物檢測方法，其中 在第1和第3步驟，與發光元件之ΟΝ/OFF同步地， 取入該光學傳感器輸出値和該基準電壓之比較結果。

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