TWI323054B - Testing device for liquid crystal panel - Google Patents

Testing device for liquid crystal panel Download PDF

Info

Publication number
TWI323054B
TWI323054B TW093108254A TW93108254A TWI323054B TW I323054 B TWI323054 B TW I323054B TW 093108254 A TW093108254 A TW 093108254A TW 93108254 A TW93108254 A TW 93108254A TW I323054 B TWI323054 B TW I323054B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
numbered
odd
flexible substrate
liquid crystal
substrate
Prior art date
Application number
TW093108254A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200423481A (en
Inventor
Hiroyasu Sotoma
Original Assignee
Nhk Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nhk Spring Co Ltd filed Critical Nhk Spring Co Ltd
Publication of TW200423481A publication Critical patent/TW200423481A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI323054B publication Critical patent/TWI323054B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/22Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2421Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13452Conductors connecting driver circuitry and terminals of panels
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00Function characteristic
    • G02F2203/69Arrangements or methods for testing or calibrating a device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)

Description

狄、發明說明 [發明所屬之技術領域] 本發明係關於一種檢查印刷於液晶面板用陣列玻璃之 導電圖案的短路狀態、開啟狀態、TFT特性以及像素特性 之液晶面板用檢查裝置。 [先前技術] 如第8圖所示,一般的液晶面板用檢查裝置的構成 係.以在使探針塊1的探針2抵接於液晶面板用陣列玻璃 3的端子用導電圖案4的同時,隔著探針2、一端侧連接於 探針2之可撓性基板5、以及連接於可撓性基板$的另一 端侧之中繼基板6以檢測器主體7讀取來自於端子用導電 圖案4的訊號之方式進行薄膜電晶體TFT(Thin Transistor)以及像素的特性檢查β 此%,可撓性基板5係由:端子用導電圖案4内,對 應奇數之導電體的可撓性基板53與對應偶數之導電體的 可換性基板5b所構成。此外,前述之中繼基板6係由:可 撓性基板5a所連接之奇數對應基板以以及可撓性基板讣 所連接之偶數對應基板6b所構成。此外,前述檢測器主體 7係由:輸入來自奇數對應基板以之訊號的奇數位址檢測 器7a以及輸入來自偶數對應基板补之訊號的偶數位址檢 測器7b。 此外,在第8圖中,符號22以及24係分別連接於奇 數以及偶數位址檢測器以與7b的奇數側以及偶數側位址 變換基板,而符號以及23則為分別連接於奇數對應基 5 f S j (修正本)315679 1323054 板6a與奇數側位址變換基板22,以及偶數對應基板6b與 偶數側位址變換基‘板24的可撓性基板。此外,符號25係 為支撐探針塊1之支撐架。 在進行構成前述液晶用陣列玻璃3之TFT陣列基板的 特性檢查時,係在結合作為面板點亮驅動用LSI之 TAB(Tape Automated Bonding,捲帶自動接合)以及 PCB(Print Circuit Board:安裝印刷基板)的前步驟中,一 -地將電壓施加於液晶面板用陣列玻璃3的像素訊號端子 用導電圖案4以進行特性檢查。 該檢查因使用了與像素信號端子用導電數相同數量的 探針2’因此係將具有複數個探針2之探針塊卜沿著配設 ^液晶面板料列玻璃3的端子用導電圖案4的邊緣排列 女裝此外’檢查之方式係以分開奇數號像素端子與偶數 號像素端子再分別傳送像素檢查訊號之方式進行。 .有關上述之探針塊,可提出第9圖所示之探針塊工(例 如·參照日本特開平8_222299號公報(第3頁 、 第1圖))。 係大略依照下列方式構成 琢採針塊
晶a ......... '々、叩係籍E ^層之板狀絕緣體的主體20支H支用以接觸 设於液晶面板用陣列玻璃3之像素的複數個端子 案4的複數個探針2。 用導針2係如第9圖所示,區分為分別對^ 且各I 與偶數的2、^L1、L2(參照第10田 ' 1、L2分別配設為格子狀。此外,探針2之突 [S1 (修正本)315679 6 於上側之複數個導電性針狀體的奇數導電性針狀體山係 比偶數的導電性針狀體nb更突出於上側,兩者間在突出 方向形成段差。探針2係以藉由導電性線圈彈簧i4分别連 接上側之導電性針狀體lla、llb與下側導電性針狀體ι〇 之方式構成。在進行檢查時,各個導電性針狀冑ι〇係_ — 接觸配設於液晶面板用陣列玻璃3之像素的複數 導電圖案4。 此外,如第9圖所示,在下側絕緣板13 一體疊合有絕 緣板12,藉此可使較長之奇數的導電性針狀體山得以接 觸貼合於上側絕緣板12下面之可撓性基板&的奇數用訊 號傳送用導電圖案8,而較短之偶數之導電性針狀體叫 得以接觸貼合於下側絕緣板13下面之可撓性基板讣的偶 數用訊號傳送用導電圖案9。 此外,取代第9圖所示之使用長短不一的導電性針狀 體,如第13圖所示,探針可作成以同軸方式收容插入於主 體20之插入孔(未顯示於圖中)之同一長度的一對導電性針 狀體10、11以及彈壓該導電性針狀體之導電性線圈彈簧。 使用上述方式構成之探針塊1作成液晶面板用檢查裝 置時,必須配設與端子用導電圖案4同數之探針2,例如: 將小裝置化成與TAB大約相同大小(i區塊)之探針塊工, 以所需要的數量並排安裝於支撐架25(參照第8圖),並將 連結於各探針塊1之可撓性基板5a以及5b,區分為奇數 與偶數並分別連接中繼基板6之奇數與偶數對應基板& U及6b ’再隔著該中繼基板6連接檢測器主體7而構成整 7 (修正本)315679 1323054
此時’由於液晶面板之種類不同,其端子用導電圖案 4亦有所不同’因此探針塊1内的探針2的配列,可撓性 基板5或中繼基板6的配線條數以及配線位置,必須設計 成符合作為被檢查體之液晶面板用陣列玻璃3的端子用導 電圖案4的形態。 亦即’第11圖(a)至(d)係顯示印刷於液晶面板用陣列 玻璃3之每一區塊的端子用導電圖案。此外,例如a品種 的液晶面板的端子用導電圖案4A係由384條的訊號線s、
以及配設於該訊號線s的兩側部分之4條的功能線f、F 所構成(參照第U圖(&))。此外,例如B品種的液晶面板 々端子用導電圖案4B係由384條的訊號線;§、以及配設於 該訊號線S的兩側部分之2條的功能線F、F所構成(參照 3 (b))此外,例如C品種的液晶面板的端子用導電 案C係由3 8 4條的訊號線s,以及配設於該訊號線s 的兩側#分之8條的功能線F、F所構成(參照第U圖⑷)。 此外,例如D品種的液晶面板的端子用導電圖案係由 條的訊號線s '以及配設於該訊號線$的兩側部分且 刀別以2條分開之4條功能線F、F所構成(參照第11圖 ⑷)。 八此外,在第U圖中,如前所述,符號L1、L2係顯示 刀別對應導電用端子圖帛4A(4B、4C、4D)的奇數與偶數 2針塊1内的探針2的2、線,係依照各液晶胞的品種適 成2線L1、L2之探針2的配置以及條數相異的專用 (修正本)315679 的探針塊。 '、17探針塊1A適用於A品種(端子用導電圖案4A), 鬼1B適用於B品種(端子用導電圖案4B),探針塊1C 用 Γ""' σ / 、σο糕子用導電圖案4C)探針塊ID適用於D品 種(端子用導電圖案4D)。 ^第12圖(a)、(b)係顯示印刷於液晶面板用陣列玻璃之 每區塊的端子用導電圖案4、探針2、可撓性基板$與中 繼基板6的連接狀態。 亦即,第12圖(a)係顯示前述之A品種之液晶面板的 連接狀態’探針2以及可撓性基板5係以一對一之方式連 接於端子用導電圖案4A,而可撓性基板5與中繼基板6 亦以1對1的方式連接。 此外,第12圖(b)係顯示前述之B品種的液晶面板的 連接狀態,探針2以及可撓性基板5係以一對一之方式連 接於k子用V電圖案4B,而可撓性基板5與中繼基板6 亦以1對1的方式連接。另外,在第12圖(a)、⑻中,可 撓性基板5與中繼基板6的部分顯示的實線,係顯示可撓 性基板5與中繼基板6的各配線。 如上所述’在可撓性基板5與中繼基板6中,係依照 液晶面板的品種適用配線之配置與條數相異的專用可撓性 基板以及中繼基板。亦即,具有i 94條配線之奇數(偶數) 之可撓性基板5a(5b)以及奇數(偶數)對應基板6a(6b)係適 用於A品種(端子用導電圖案4A),而具有194條配線之奇 數(偶數)之可撓性基板5a(5b)以及奇數(偶數)對應基板 [S] 9 (修正本)315679 6a(6b)則適用於B品種(端子用導電圖案4b)。 在使用以上述方式構成之傳統液晶用檢查裝置中,係 將奴針2區分為分別對應端子用導電圖案4的奇數與偶數 的2線LI、L2,此外,每條線L1、L2因配設為格子狀, 故得以充分對應端子用導電圖案的窄間距化,但由於探針 塊1内的採針2的針數、配設位置,以及可撓性基板5、 中繼基板6的配線條數或配線位置,係被設計為符合作為 被檢查體之液晶面板用陣列玻璃3的端子用導電圖案4的 形態,因此,設計成某品種之液晶面板用的探針塊、可撓 性基板、以及中繼基板,並不適用於其他種類的液晶面板。 因此習知之液晶面板用檢查裝置,無法進行探針塊、 可撓性基板、以及中繼基板的量產,由於每次都必須符合 作為被檢查體之液晶面板用陣列玻璃的端子用導電圖案= 檢查裝置以重新製作,因而產生製造成本提高、製造時間 延長以及製造過程繁雜化等問題。 因此,本發明之目的係在提供一種: j在適用不同種 類之液晶面板檢查的檢查裝置間,達到禊私 ^秌針塊、可撓性基 板、以及中繼基板的共通化,並藉由上述構件之旦產化 達到製作容易、成本降低以及出貨期短縮的 %曰]履晶面板用檢 查裝置。 [發明内容] 將探針塊的探 圖案之同時, 本發明之目的至少係為解決上述問$。 本發明之液晶面板用檢查裝置係一種: 針抵接於液晶面板用陣列玻璃的端子用導電 (修正本)315679 10
-L 曰引述奴針、一端側連接於前述探針之可撓性基板、以 。。、接於4述可撓性基板之另一端側之中繼基板於檢測 Γ山體中項取來自月,J述端子用導電圖案的訊號,以檢查前 、〔端子用導電圖案的短路狀態、開啟狀態、丁FT特性以及 像素特性’則迷探針塊係以下列方式構成:亦即,係以在 =根據刖这液晶面板之要求規格而作成之最大條數的功 亂線以及訊號線構成基本端子用導電圖案時對應全體之 線的方式,形成用以供前述探針插入之複數個插入 同%將别述探針插入於前述複數個插入孔中之符合 構成供試液晶面板用陣列玻璃之端子用導電圖案之各配 線的插入孔。 因此,在本發明中,探針塊的複數個插入孔係假設基 本端子用導電圖案,而形成為對應該圖案之各配線的插入 孔。此時由於基本端子用導電圖案係由根據液晶面板之要 求規格而作成之最大條數的功能線以及訊號線所構成,因 此針塊具有最大個數之插入孔,並以僅將探針插入於 在該最大個數的插入孔中,符合構成供試液晶面板用陣列 玻璃之端子用導電圖案之各線的插入孔的方式構成。未插 入探針的插入孔,則保持空孔的狀態。藉此即可將探針共 通適用於不同種類的液晶面板間。 以上所述以及本發明之其他的目的、特徵、優點,可 由以下之發明之詳細說明中明瞭。 [實施方式] 以下,詳細說明本發明之實施形態。此外,本發明之 π E S 3 (修正本)315679 ^^3054 範圍並不侷限於該實施形態。 根據附加圖式與以下實施形態說明本發明之液晶檢查 裝置。 以下,根據圖式說明本發明之實施形態。此外,與第 8圖至第13圖所示之部分相同之構件或具有同樣功能之構 件’係標示相同符號。 本發明之液晶面板用檢查裝置’除了構成構件的構造 "外其整體的連接系統係以與習知裝置相同的方式構 成0 亦即’如第8圖所示’適用於本發明之一般的液晶面 板用檢查裝置的整體連㈣統,在構造上係使探針塊i的 探針2*抵接於液晶面板用陣列玻璃3的端子用導電圖案 4 ’並藉由探針2、一端側連接於探針2之可撓性基板$、 以及連接於可撓性基板5之另—端側的中繼基板6於檢測 盗主體7讀取來自端子用導電圖案4的訊號而進行端子用 導電圖案4之短路狀態、開啟狀態、TFT特性以及像素特 此時’探針2與可撓性基板5之間的連接,除了使探 針2的前端直接抵接於可撓性基板5之導電部之的直接連 ==亦可採用藉由固設於探針塊1之印刷基板而 切連接的間接連接方式。該間接連接方式係在使探針2 的前端抵接印刷基板的一端側的同時,藉由例如針2 異向性黏合劑、焊料等使可撓性基板5連接於另一^ 第】圖係說明本發明之液晶面板用檢查裳置中由探針 12 1
o J 2 (修正本)315679 1323054 塊1到中繼基板6之每一區塊之各構造構件的構造以及構 造構件間的連接狀態的模式圖。 首先,探針塊1之構造,係在由根據液晶面板之要求 規格而作成之最大條數的功能線F以及訊號線8構成基本 端子用導電圖案4S時,以對應整體之各線的方式,形成 供探針2插入之複數個插入孔1 6(參照第丨9圖),並藉由將 探針2插入複數個插入孔1 6中’符合構成供試液晶面板之 端子用導電圖案的各線的插入孔16而構成。第1圖中,基 本端子用導電圖案4S上的白點係顯示未插入探針2的插 入孔1 6,而黑點則顯示插入有探針2的插入孔} 6。 在此,根據液晶面板的要求規格而作成之最大條數的 功能線F的條數為未滿2 0條。 該基本端子用導電圖案4S係由,根據驅動液晶面板之 驅動器1C的外接數而決定的訊號線s;以及根據各使用者 之要求規格而由不同之功能線F所構成之依照經驗法則所 求得之假想圖案,例如:藉由以24〇至48〇條的配線構成 配没於中央的訊號線s,並以3至2〇條的配線構成配設於 該訊號線S之兩側部分之各功能線f而構成整體圖案。 探針塊1之構成係具有對應基板端子用導電圖案4S 之各線之複數個插入孔i 6而構成,例如配設有23 2至5 個插入孔。此時探針塊!内的探針2的2線L1、L2,分別 配設有116至260個插入孔16。 前述插入孔16為232條時,係設定訊號線s為192 條’功Hb線F的條數為2 〇條。此外,前述插入孔1 6為$ 2 〇 [S] (修正本)315679 13 1323054 條時,則設定訊號線S為480條,功能線F的條數為2〇 條。 如上所述,探針塊1的複數個插入孔16,係假設美本 端子用導電圖案4S ’而形成為對應該圖案4S之各線的插 入孔。此時基本端子用導電圖案4 S,係根據經驗法則由配 合液晶面板之要求規格之最大條數的功能線F以及訊號線 S所構成’因此,探針塊1具有根據經驗法則所求得之最 大個數的插入孔16,並藉由僅將探針2插入於該最大各數 之插入孔1 6中,符合供試液晶面板用陣列玻璃3之端子用 導電圖案之各線的插入孔16而構成。未插入探針2之插入 孔16,則保持空孔的狀態。藉此,探針塊丨可適用於種類 相異之液晶面板間。 藉此,即可匯總進行量產化,同時進行事前之庫存管 理◊如此一來,可縮短出貨的時間,並有助於降低液晶面 板用檢查裝置的製作成本。 此外本裝置之可撓性基板5最好係由:具有基本端 子,導電圖案4S的功能線F以及訊號線s内、條數與配 刀別付σ剛述奇數以及偶數的功能線F以及訊號線$之 激電體17a以及17b而分別形成之奇數對應基板以及偶 :應基板5b所構成。奇數對應基板以及偶數對應基 例如係由125條至260條的導電體17a以及17b所 構成。 1 偶數Γ可撓性基板5不但具有各一個奇數對應基板5a以及 于應基板5b,而且當端子用導電圖案的配線數增加, [s 3 14 (修正本)315679 1323054 窄間距化更顯著時,亦可具有各2個(或2個以上)奇數對 應基板5a以及偶數對應基板%。 在該構成中,由於可撓性基板5係由:以基本端子用 導電圖案的整體功能線F以及訊號線s為對象,具有條數 及配置符合奇數之全功能線F以及訊號線s的導電體% 的奇數撓性對應基板5a;以及具有條數及配置符合偶數之 全功能線F以及訊號線s的導電體nb的偶數對應可撓性 基板5b所構成,因此,不論插入有探針2之插入孔16係 探針塊1之所有插入孔16中的任一個均可達到與探針2連 接的目的。此時,對應未插入探針2之插入孔16(圖中,以 白點顯示)之導電體l7a(17b),係保留作為不連接導電體。 藉此,可撓性基板5可適用於不同種類的液晶面板間。 此外,本裝置之中繼基板6最好具備分別對應於構成 基本端子用導電圖# 4之功能線F以及訊號線s的功能部 18以及訊號部19,同時功能部18係由分別對應前述奇數 對應可撓性基板5a以及偶數對應可撓性基板外之奇數對 應功能部1 8a以及偶數對應功能部} 8b所構成,而訊號部 19係由具有條數與配置分別符合前述奇數對應可撓性基 板5a以及偶數對應可撓性基板5b之導電體26以及27而 形成之可數對應訊號部i 9a以及偶數對應訊號部丨所構 成,並利用奇數對應功能部1 8a以及偶數對應訊號部丨9b 構成奇數對應基板6a ’而利用偶數對應功能部丨8b以及偶 數對應訊號部19b構成偶數對應基板6b而形成整體構造。 此時,奇數對應可撓性基板5a與奇數對應功能部i 8a 15 (修正本)315679 以及偶數對應可撓性基板5b與偶數對應功能部i 8b係分別 藉由跨接線28相連接,而奇數對應可撓性基板5a與奇數 對應訊號部19a以及偶數對應可撓性基板讪與偶數對應訊 號β 1 9 b係藉由對應插入於插入孔丨6之探針2的導電體 26/1 7a以及27/1 7b間的連接而連接。該導電體間的連接, 一般係使用連接器來連接。 在上述構成中,由於中繼基板6係具備:分別對應於 構成基本端子用導電圖案4S之功能線f以及訊號線$之 功月b部18以及訊號部19,因此功能部18以及訊號部b 可對應根據液晶面板用陣列玻璃3之要求規格而作成之最 大條數的功能線F以及訊號線s。此時由於構成功能部Μ 奇數對應功^ι部! 8 a以及偶數對應功能部⑽,係藉由 跨接線28分別連接於奇數對應可撓性基板&以及偶數可 撓性基板%,因此可正確連接在必要的位置,而與連接無 關之其他奇數對應功能部18a以及偶數對應功能部⑽, 則保留作為不連接功能部。 該跨接線28的連接,具體而言係以下述方式進行。亦 即,如第6圖以及坌7同& - , ^ 第7圖所7F,中繼基板6之構成係具有: 、广虽距離隔開而固定配設的2個連接器Cl、C2;使前 述2個連接考p; 缓s .兩* D 間付以電性連接而進行配線之訊號 2,心電性連接於2個連接器C1、C2而中間部分分 心:配線的功能線F;以及分別連接於該功能線F之 =刀斷部分的兩端而露出配設的一對端子m,一對 ϋ係藉由跨接線28進行連接。此時”固連接器 [S 1 (修 JL 本)315679 】6 丄323054
Cl、C2内,在一方的連接器C1上連接有奇數(偶數)對應 可撓性基板5a(5b),而在另一方的連接器C2則連接有連 接於檢測器主體7之可撓性基板2 1 (23)。 此外’第6圖係以單面基板構成中繼基板6的構成例, 第7圖係以兩面基板或多層基板構成中繼基板6的構成 例。在第7圖中’符號h係為使分別配設於基板上面及下 面之配線電性連接之通孔。 此外’如第1圖所示,構成訊號部1 9之奇數對應訊號 部19a以及偶數對應訊號部】9b,係藉由對應插入於插入 孔16之探針2的導電體26/17a以及27/17b間的連接,分 別連接於奇數對應可撓性基板5a以及偶數對應可撓性基 板5b ’與連接無關之其他奇數對應訊號部1 9a以及偶數對 應訊號部1 9b,則保留作為不連接訊號部。藉此中繼基板 6 ’即可適用於不同種類的液晶面板間。 具體而言’導電體26(27)係配線於中繼基板6,俾使 連接於奇數(偶數)對應可撓性基板5a(5b)之前述一方的連 接器’與連接於檢測器主體7之前述另一方的連接器間得 以連接。 以下’詳述第2圖至第5圖所示之具體例。在第2圖 至第5圖中’對應2線L1、L2的黑點係顯示插入探針2 的插入孔16,而對應2線L1、l2的白點則顯示未插入探 針2的插入孔16。 適用於上述具體例之本裝置的構造係具備:在2線 LI、L2分別配设200個插入孔〗6之探針塊】;由具備2〇〇 [S ] (修正本)315679 17 上奶〇54 條的導電體17a之奇數對應可撓性基板5a以及具備200 條的導電體17b之偶數對應可撓性基板讣所構成之可撓性 基板5,由奇數對應基板6a以及偶數對應基板6b所構成 之中繼基板6。 更詳細而言,中繼基板6係具備:合計384條之奇數 對應訊號部19a以及偶數對應訊號部丨9b的各導電體26、 27所構成,且由該奇數對應訊號部】9a以及配設於其兩側 部分之3個端子F1、F2、F3所構成的奇數對應功能部18a、 1 8a所構成的奇數對應基板6& ;以及由前述偶數應訊號部 19b與配設於其兩侧部分的3個端子F1、F2、F3所構成之 偶數對應功能部1 8b、8b所構成的偶數對應基板6b。構成 該可數對應功能部1 8a以及偶數對應功能部〗8b的3個端 子F 1、F2、F3係配合檢測器的規格。 第2圖為具有端子用導電圊案4八之八種液晶面板的 適用例,本裝置係可藉由將探針2插入對應端子用導電圖 案4A之全配線的插入孔16 ’構成對應端子擁導電圖案4人 之探針塊1。探針塊1的所有探針2,係與對應之可撓性基 板5的導電體17a、17b連接。端子用導電圖案4A係由3料 條的訊號線;以及形成於該訊號線之兩側部分的4條功能 線構成。 此外,中繼基板6之配設於奇數對應基板6&之奇數對 應功能部18a、18a的各端子F卜F2係藉由跨接線28連接 於奇數對應可撓性基板5a的導電體17a,而配設於偶數對 應基板6b之偶數對應功能部1 8b、1 8b的各端子F}、 * ^ 18 , * [ S ] (修正本)315679 貝丨藉由跨接線28連接於偶數對應可撓性基板5b的導電體 1 7 b 且奇數對應可撓性基板5a、奇數對應訊號部19a以 及偶數對應可撓性基板5b、偶數對應訊號部1 9b的連接, 係藉由對應插入於插入孔丨6之探針2的導電體26/1 &以 及27/1 7b間的連接而形成。 第3圖為具有端子用導電圖案4b之b品種液晶面板 之適用例,本裝置係以與A品種液晶面板相同之探針塊 卜可撓性基板5以及中繼基板6所構成。端子用導電圖案 仏由.3 8 4條的訊號線;以及形成於該訊號線的兩側部 分的2條功能線所構成。 此%,探針塊1係以將探針2插入對應端子用導電圖 案4B之全配線之插入孔16的方式構成。此外,探針塊工 内的所有探針2,係連接於可撓性基板5之奇數以及偶數 對應可撓性基板5a、5b的其中-端,而奇數以及偶數對應 可撓性基板5a、5b的另一端,則分別連接中繼基板6之奇 數以及偶數對應基板6a、6b。此時功能部丨8之奇數以及 偶數對應功能部18a、18b的端子F1係藉由跨接線28分別 連接於奇數以及偶數對應可撓性基板5a以及5b,訊號部 19之奇數與偶數對應訊號部19a、19b以及奇數與偶數對 應可撓性基板5a、5b,係藉由使與插入於插入孔之探 針2對應的導電體相互連結而連接。 第4圖為具有端子用導電圖案化之。品種液晶面板 之適用例,本裝置係以與A品種液晶面板相同之探針塊 1、可撓性基板5以及中繼基板6所構成。端子用導電圖案 (修正本)315679 19 ϊ323054 4C係由:384條的訊號線;以及形成於該訊號線的兩側部 分的8條功能線所構成。 此時,探針塊1係以將探針2插入對應端子用導電圖 案4C之全配線之插入孔16的方式構成。此外,探針塊^ 内的所有探針2係連接於可撓性基板5的奇數以及偶數對 應可撓性基板5a、5b的其中-端,而奇數以及偶數對應可 棱性基板5a、5b的另—端,則分別連接於中繼基板6之奇 數以及偶數對應基板6a、6b。此時,功能部18之奇數以 及偶數對應功能部18a、18b的端子Fi、F2、f3__ 接線28分別連接於奇數以及偶數對應可撓性基板&以及 5b(此時端子F2係以2條跨接線28連接),訊號部μ之奇 數與偶㈣應訊號部19a、19b以及奇數與偶數對應可撓性 基板5a、5b,係藉由使與插人於插人孔16之探針2對應 的導電體相互連結而連接。 第5圖為具有端子用導電圖案4〇之〇品種液晶面板 之適用例,本裝置係以與A品種 裡狀日日面板相同之探針塊 、可撓性基板5以及中繼基板6 & , 土极6所構成。端子用導電圖案 4D係由:384條的訊號線;以 八 次开/成於該訊號線的兩側部 刀以2條2條分離配置的4條功能線所構成。 此時,探針塊1係以將探針? 国安/ 針2插入於對應端子用導電 圖术4D之全配線之插入孔丨 ! J万式構成。此外,探針塊 1内的所有探針2係連接於可繞性 斟庙視性基板5之奇數以及偶數 對應可撓性基板5a、5b的1中— 、 碼’而奇數以及偶數對應 了撓性基板5a、5b的另一端, 只J刀別連接於令繼基板6 [S1 (修正本)315679 20 1323054 之奇數以及偶數對應基板6a、6b。此時,功能部1 8係藉 由奇數以及偶數對應功能部1 ga、〗8b之端子f 1、F2交差 的2條跨接線28分別連接於奇數以及偶數對應可撓性基板 5a以及5b ’訊號部19之奇數與偶數對應訊號部19a、1 9b 以及奇數與偶數對應可撓性基板5a、5b,係藉由使與插入 於插入孔16之探針2對應的導電體相互連結而連接。 如上所述’適用於弟2圖至第5圖所示之A至D品種 液晶面板的液晶面板用檢查裝置,即使液晶面板用陣列玻 璃3的端子用導電圖案會因種類不同而有所差異,但同樣 可共通構成未插入探針2的探針塊丨、可撓性基板5以及 中繼基板6。 在上述具體說明中,係具體說明訊號線為384條的情 形,但本發明對此並未加以限定,亦可適用於例如具有々μ 條或480條之訊號線。 如上述說明,根據本發明,供探針插入之插入孔係依 據經驗法則假設依照液晶面板之要規格而作成之最大條數 之功能線以及訊號線所構成的基本端子用導電圖案,而形 成應上it®案之各配線的插人孔’因此探針塊在構造上 :八有數里遠夕於各〇口種供試液晶面板用陣列玻璃之端 子用導電圖案之配線條數的前述插人孔。因此探針塊可夢 由只將探針插人符合供試液晶面㈣陣列«之端子^ 電圖案之各配線的插人孔的方式構成,因此,未插入探針 之探針塊,可適用^種類相異之液晶面板間,#由前述探 針塊的量產化,可提供製作容易、成本低廉、且出貨期縮 [S ] (修正本)315679 21 短之液晶面板用檢查裝置。 此外,根據本發明,可撓性基板係由:以基本端子用 導電=案的整體功能線以及訊號線為對象,具有條數及配 置符。奇數之全功能線以及訊號線的導電體的奇數對應撓 性對應基板;以及具有條數及配置符合偶數之全功能線以 及訊號線的導電體的偶數對應可撓性基板所構成,因此, 不論插入探針之插入孔是探針塊之所有插入孔中的任一 個均可達到與前述探針連接之目的,因此除了前述之發 月效果外本發明之可撓性基板可適用於不同種類的液晶 面板間,且藉由可撓性基板之量產化,可達到容易製作、 成本降低以及出貨期縮短的目的。 此外,根據本發明,中繼基板係具備;分別對應於構 成基本端子用導電圖案之功能線以及訊號線的功能部以及 訊號部,構成前述功能部之奇數對應功能部以及偶數對應 功能部,係藉由跨接線分別連接於奇數對應可撓性基板以 及偶數對應可撓性基板,而構成前述訊號部之奇數對應訊 號部以及偶數對應訊號部,則是藉由使與插入於插入孔之 探針對應的導電體相互連結而分別連接於奇數對應可撓性 基板以及偶數對應可撓性基板,因此除了前述發明效果 外,本發明之中繼基板亦適用於不同種類之液晶面板間, 且藉由中繼基板之量產化,可達到容易製作、成本降低以 及出貨期縮短的目的。 (產業之可利用性) 如上所述’本發明之液晶檢查裝置,係藉由將探針插 (修正本)315679 22 1323054 入於符合供試液晶面板用陣列玻璃之端子用導電圖案的各 配線的插入孔的方式構成,因此’即可使未插入探針之探 針塊,適用於不同種類之液晶面板間,達到降低成本、縮 短出貨期之目的,不僅可在適用於不同種類之液晶面板檢 查的檢查裝置間達到探針塊的共通化,同時亦適用於檢杳 印刷於液晶面板用陣列玻璃的導電圖案的短路狀態、開啟 狀態、丁FT特性以及像素特性。 [圖式簡單說明j 第1圖為說明本發明之液晶面板用檢查裝置之液晶面 板用陣列玻璃的端子用導電圖案的每一區塊之探針塊、插 入探針塊的插入孔之探針、可撓性基板以及中繼基板的相 互的電性連接狀態之模式圖。第2圖為說明適用於A種的 液晶面板時之本發明的液晶面板用檢查裝置之液晶面板用 陣列玻璃的端子用導電圖案的每一區塊之探針塊、插入探 針塊的插入孔之探針、可撓性基板以及中繼基板之相互的 電性連接狀態的模式圖。第3圖為說明適用於5種液晶面 板時之本發明之液晶面板用檢查裝置之液晶面板用陣;:玻 璃之端子料電㈣之每-區塊的探針塊、插人探針車^ 插入孔,探針、可接性基板以及中繼基板之相互間的電性 連接狀態的模式圖。第4圖為說明適用於c種的液晶面板 時之本發明的液晶面板用檢查裝置之液晶面板用陣列玻璃 之端子用導電圖案之每-區塊之探針塊、插入探針塊的插 入孔之探針、可撓性基板以及中繼基板之相互間的電性連 接狀態的模式圖。第5圖為說明適用於〇種的液晶時之本 (修正本)315679 23 發明的液晶面板用檢查裝置之液晶面板用陣列玻璃之端子 用導電圖案之每一區塊之探針塊'插入探針塊的插入孔之 乂針、可撓性基板以及中繼基板之相互間的電性連接狀態 的模式圖。苐6圖為說明本發明之液晶面板用檢查裝置之 由單面基板所構成之中繼基板上的電性連接狀態的俯視 圖。第7圖為說明本發明之液晶面板用檢查裝置之由兩面 土板或^層基板所構成之中繼基板上的電性連接狀態之俯 視圖。第8圖為用以說明液晶面板用檢查裝置的整體的電 =連接系統之概略說明圖1 9圖為習知之液晶面板用檢 查裝置的要部剖視圖^ 1G圖為“說明探針抵接於習知 ^液晶面板用檢查裝置的端子用導電圖案的抵接狀態之說 ^圖。第η圖⑷、⑻'⑷、⑷為不同種類之液晶面板之 子用導電圖案的每-區塊的俯視圖1 說明適用於不同種類之液晶面板時 m 败吁之白知液晶面板用檢查 裝置之液晶面板用陣列玻璃的端 夕挪力丄仏上 π等電圖案之每一區塊 之探針塊、插入探針塊的插 φ Μ ^ α 札之如針、可撓性基板以及 〒繼基板之相互間的電性遠垃 说'“ 連接狀態的模式圖。第13圖為其 他液日曰面板用檢查裝置的斜視圖。 [主要元件符號說明]
1 3 4 4Α 4S 探針 探針塊 ^ 液晶面板用陣列破璃 導電圖案 4B、4C、4D料用導電圖案 基本端子用導電圖案 (修正本)315679 24 W〇54 5 5b 6 6b 7 a 8 9 10、11 12 16 18 18b 19a 22 24
25 F LI、L2 可撓性基板 5 a 奇數對應可撓性基板 偶數對應可撓性基板 中繼基板 6a 奇數對應基板 偶數對應基板 7 檢測器主體 奇數位址檢測器 7b 偶數位址檢測器 奇數用訊號傳送用導電圖案 偶數用訊號傳送用導電圖案 11a、lib 導電性針狀體 上側絕緣板 13 下側絕緣板 插入孔 17a、17b ' 26 ' 27 導電體 功能部 18a 奇數對應功能部 偶數對應功能部 19 訊號部 奇數對應訊號部 19b 偶數對應訊號部 奇數側位址變換基板 偶數側位址變換基板 支撐架 Cl、C2 連接器 功能線 FI > F2 ' F3、fl、f2 端子 線 S 訊號線 f S ] (修正本)315679 25

Claims (1)

  1. 拾、申請專利範圍: 1 · 種液晶面板用檢查裝罟,#时^ 曰二α 一 置k將探針塊之探針抵接於液 曰日面板用陣列玻璃的端j Λ, 導電圖案之同時,藉由前述 私針'一端側連接於前述 认&… k%針之可撓性基板、以及連接 ;則述可撓性基板之另—碑九丨J 驶& 另端側的中繼基板於檢測器主 取來自前述端子用導電圖案的訊號,以進行前述端 去用導電圖案的短路狀態、開啟狀態、TFT特性以及像 素特性的檢查, 其特徵為:前述探針塊係:以在由前述液晶面板的 線以及訊號線構成基本端子帛導冑目案時對應全 之各配線的方式,形成供前述探針插入之複數個插入 並藉由將前述探針插人於前述複數個插人孔中之符 合構成供試液晶面板用陣列玻璃之端子用導電圖案之 各配線的插入孔而構成; -一 ώ則述中繼基板係具備有分別對應於構成前述基本 ,子用導電圖案之功能線以及訊號線之功能部以及訊 號部,而且以分別對應前述奇數對應可撓性基板以及偶 數對應可撓性基板之奇數對應功能部以及偶數對應功 犯邛構成前述功能部,而前述訊號部係由具有條數與配 置分別符合前述奇數對應可撓性基板以及偶數對應可 撓性基板的導電體而分別形成之奇數對應訊號部、以及 偶數對應訊號部所構成,並以前述奇數對應功能部以及 奇數對應訊號部構成奇數對應基板,而以前述偶數對應 功能部以及偶數對應訊號部構成偶數對應基板,藉此構 26 (修正本)315679 成整體構造,且於·+. * 應功能部π㈣應τ撓性基板與前述奇數對 應功能部偶數對應可撓性基板與前述偶數對 可撓性基板1前错二:接線連接’同時,前述奇數對應 。 /、⑴述奇數對應訊號部以及前述偶數對應 :換性基板與前述偶數對應訊號部,係藉由使與插入於 月y述插入孔之探針對應之導電體相互連結而連接。 如申請專利範圍第1項之液晶面板用檢查裝置,其中, 根據前述液晶面板之要求規格而作成的功能線係在20 條·以下。 27 (修正本pi 5679
TW093108254A 2003-03-26 2004-03-26 Testing device for liquid crystal panel TWI323054B (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003086232 2003-03-26
PCT/JP2004/004308 WO2004086132A1 (ja) 2003-03-26 2004-03-26 液晶パネル用検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200423481A TW200423481A (en) 2004-11-01
TWI323054B true TWI323054B (en) 2010-04-01

Family

ID=33095053

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW093108254A TWI323054B (en) 2003-03-26 2004-03-26 Testing device for liquid crystal panel

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP4115484B2 (zh)
KR (1) KR101011424B1 (zh)
CN (1) CN100541301C (zh)
TW (1) TWI323054B (zh)
WO (1) WO2004086132A1 (zh)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100856865B1 (ko) * 2006-11-30 2008-09-08 (주)유비프리시젼 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체
CN101359105B (zh) * 2007-08-01 2011-01-12 比亚迪股份有限公司 对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法
CN101452119B (zh) * 2007-12-03 2010-07-28 比亚迪股份有限公司 一种tft的光电参数测试夹具
JP5163749B2 (ja) * 2008-12-16 2013-03-13 株式会社島津製作所 液晶アレイ検査装置システムの真空引き方法、液晶アレイ検査装置システム、および液晶アレイ検査装置
KR101088857B1 (ko) 2010-04-09 2011-12-06 주식회사 프로이천 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 시트 및 이를 갖는 프로브 유닛, 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 시트 제조 방법
KR101322725B1 (ko) * 2012-03-20 2013-10-28 (주) 루켄테크놀러지스 프로브 유닛
JP2013205210A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Seiko Epson Corp 配線基板の検査方法及び検査治具
CN102981094B (zh) * 2012-11-23 2016-04-13 深圳莱宝高科技股份有限公司 一种面板测试装置
CN103309064B (zh) * 2013-05-24 2015-11-25 深圳市华星光电技术有限公司 传感器、检测装置及检测方法
JP6520179B2 (ja) * 2015-02-13 2019-05-29 日本電産リード株式会社 中継コネクタ、及び基板検査装置
CN105137628A (zh) * 2015-09-28 2015-12-09 京东方科技集团股份有限公司 点灯治具和点灯测试方法
CN206892276U (zh) * 2017-07-12 2018-01-16 惠科股份有限公司 一种电路板

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3561322B2 (ja) * 1995-02-17 2004-09-02 日本発条株式会社 導電性接触子ユニット

Also Published As

Publication number Publication date
CN1764868A (zh) 2006-04-26
CN100541301C (zh) 2009-09-16
KR101011424B1 (ko) 2011-01-28
TW200423481A (en) 2004-11-01
JP4115484B2 (ja) 2008-07-09
KR20050113249A (ko) 2005-12-01
WO2004086132A1 (ja) 2004-10-07
JPWO2004086132A1 (ja) 2006-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI323054B (en) Testing device for liquid crystal panel
JP3442137B2 (ja) 導電性接触子ユニット
US20100242259A1 (en) Electronic module and method of manufacturing electronic module
TWI362713B (en) Coordinate transforming apparatus for electrical signal connection
JPWO2009004894A1 (ja) 表示モジュール、液晶表示装置、及び表示モジュールの製造方法
WO2014046099A1 (ja) 画像表示装置およびその実装検査方法
CN111308815A (zh) 阵列基板及显示面板
US6300998B1 (en) Probe for inspecting liquid crystal display panel, and apparatus and method for inspecting liquid crystal display panel
JP2005010147A (ja) 検査機能付きモジュール及びその検査方法。
TWI279549B (en) Inspection probe, inspection device for optical panel and inspection method for the optical panel
JP2004184839A (ja) 表示装置
JP3076600B2 (ja) 表示パネル用プローバ
KR20120009241A (ko) 필름타입의 프로브 장치 및 프로브 제조방법
TWI325499B (en) Apparatus for inspecting a liquid crystal display panel
JP3604233B2 (ja) 検査用ヘッド
JP3561322B2 (ja) 導電性接触子ユニット
JP2019219368A (ja) プローブカード
CN113945864B (zh) 治具、检测系统、基板检测方法
CN213242909U (zh) 光源模块连接器
US20240030123A1 (en) Electronic apparatus
JP3150866B2 (ja) ディスプレイパネル検査用の信号印加装置
KR20080049558A (ko) 프로브 검사장치
US6579106B1 (en) Electrical connecting structure of a tape carrier package for a LCD driver
CN113517593A (zh) 光源模块连接器
JP2000022298A (ja) 表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees