CN1764868A - 液晶面板用检查装置 - Google Patents

液晶面板用检查装置 Download PDF

Info

Publication number
CN1764868A
CN1764868A CN 200480007919 CN200480007919A CN1764868A CN 1764868 A CN1764868 A CN 1764868A CN 200480007919 CN200480007919 CN 200480007919 CN 200480007919 A CN200480007919 A CN 200480007919A CN 1764868 A CN1764868 A CN 1764868A
Authority
CN
China
Prior art keywords
liquid crystal
base plate
flexible base
crystal panel
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN 200480007919
Other languages
English (en)
Other versions
CN100541301C (zh
Inventor
外间裕康
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NHK Spring Co Ltd
Original Assignee
NHK Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NHK Spring Co Ltd filed Critical NHK Spring Co Ltd
Publication of CN1764868A publication Critical patent/CN1764868A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100541301C publication Critical patent/CN100541301C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2421—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13452—Conductors connecting driver circuitry and terminals of panels
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00—Function characteristic
    • G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)

Abstract

一种液晶面板用检查装置，是使探针块(1)的探针(2)抵接于液晶面板用阵列玻璃(3)的端子用导电图案(4)以进行检查的液晶面板用检查装置，其中，探针块(1)是以根据液晶面板的要求规格而作成的最多条数的功能线(F)以及信号线(S)构成基本端子用导电图案(4S)时，以对应整体的各布线的方式，形成插入探针(2)的多个插入孔(16)，并经将探针(2)插入在多个插入孔(16)内、与构成供试液晶面板用阵列玻璃(3)的端子用导电图案(4)的各布线一致的插入孔(16)而构成，另一方面，未插入上述探针(2)的插入孔(16)则保持空孔的状态。

Description

液晶面板用检查装置
技术领域
本发明涉及一种检查印刷于液晶面板用阵列玻璃的导电图案的短路状态、开启状态、TFT特性以及像素特性的液晶面板用检查装置。
背景技术
如图8所示，一般的液晶面板用检查装置构成为：按照在使探针块1的探针2抵接于液晶面板用阵列玻璃3的端子用导电图案4的同时，通过着探针2、一端侧连接于探针2的可挠性基板5、以及连接于可挠性基板5的另一端侧的中继基板6，由检测器主体7读取来自于端子用导电图案4的信号的方式，来进行TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)以及像素的特性检查。
此时，可挠性基板5是由对应端子用导电图案4内、第奇数个的导电体的可挠性基板5a与对应第偶数个的导电体的可挠性基板5b构成。此外，上述的中继基板6是由可挠性基板5a所连接的奇数对应基板6a以及可挠性基板5b所连接的偶数对应基板6b所构成。此外，上述检测器主体7是由输入来自奇数对应基板6a的信号的奇数地址检测器7a以及输入来自偶数对应基板6b的信号的偶数地址检测器7b所构成。
此外，在图8中，符号22以及24是分别连接于奇数以及偶数地址检测器7a与7b的奇数侧以及偶数侧地址变换基板，而符号21以及23则为分别连接于奇数对应基板6a与奇数侧地址变换基板22，以及偶数对应基板6b与偶数侧地址变换基板24的可挠性基板。此外，符号25为支撑探针块1的支撑架。
在进行构成上述液晶用阵列玻璃3的TFT阵列基板的特性检查时，在结合作为面板点亮驱动用LSI的TAB(Tape Automated Bonding，带式自动焊接)以及PCB(Print Circuit Board：安装印刷基板)的前面的步骤中，将电压施加于每一个液晶面板用阵列玻璃3的像素信号端子用导电图案4并进行特性检查。
该检查因使用了与像素信号端子用导电图案数相同数量的探针2，因此将具有多个探针2的探针块1，沿着配设有液晶面板用阵列玻璃3的端子用导电图案4的边缘排列安装。此外，检查是以分为第奇数个像素端子与第偶数个像素端子、再发送像素检查信号的方式进行。
作为上述的探针块，可提出图9所示的探针块1(参照例如日本特开平8-222299号公报(第3页、第4页、图1))。
该探针块1大致按照下述方式构成：以层叠板状绝缘体的主体20支撑用以接触每一个配设于液晶面板用阵列玻璃3的像素的多个端子用导电图案4的多个探针2。
此时的探针2如图9所示，分为分别对应端子用导电图案4的第奇数个与第偶数个的2线L1、L2(参照图10)，且各线L1、L2分别配设为格子状。此外，探针2的突出于上侧的多个导电性针状体的第奇数个导电性针状体11a比第偶数个的导电性针状体11b更突出于上侧且长，两者间在突出方向形成段差。探针2以经导电性线圈弹簧14分别连接上侧的导电性针状体11a、11b与下侧导电性针状体10的方式构成。在进行检查时，各个导电性针状体10与每一个配设于液晶面板用阵列玻璃3的像素的多个端子用导电图案4相接触。
此外，如图9所示，在下侧绝缘板13上一体叠合有绝缘板12，以使较长的第奇数个的导电性针状体11a接触贴合于上侧绝缘板12下面的可挠性基板5a的第奇数个用信号传送用导电图案8，而较短的第偶数个的导电性针状体11b接触贴合于下侧绝缘板13下面的可挠性基板5b的第偶数个用信号传送用导电图案9。
此外，如图13所示，探针可作成以同轴方式收容插入主体20的插入孔(图中未显示)内的同一长度的一对导电性针状体10、11以及弹压该导电性针状体的导电性线圈弹簧，来代替使用图9所示的长短不一的导电性针状体。
使用上述方式构成的探针块1构成液晶面板用检查装置时，应设置与端子用导电图案4同数的探针2，例如小单元化成与TAB大致相同大小(1块)的探针块1，以所需要的数量并排安装于支撑架25(参照图8)，并应将连结于各探针块1的可挠性基板5a以及5b，区分为第奇数个与第偶数个，并分别连接中继基板6的奇数与偶数对应基板6a以及6b，再经该中继基板6连接检测器主体7而构成整体。
此时，由于液晶面板的种类不同，其端子用导电图案4也不同，因此探针块1内的探针2的配列、可挠性基板5或中继基板6的布线条数以及布线位置，必须设计成与作为被检查体的液晶面板用阵列玻璃3的端子用导电图案4一致。
即图11(a)至(d)表示印刷于液晶面板用阵列玻璃3的每一块的端子用导电图案。此外，例如A种类的液晶面板的端子用导电图案4A是由384条的信号线S、以及配设于该信号线S的两侧部分4条的功能线F、F所构成(参照图11(a))。此外，例如B种类的液晶面板的端子用导电图案4B是由384条的信号线S、以及配设于该信号线S的两侧部分的2条的功能线F、F所构成(参照图11(b))。此外，例如C种类的液晶面板的端子用导电图案4C是由384条的信号线S，以及配设于该信号线S的两侧部分8条的功能线F、F所构成(参照图11(c))。此外，例如D种类的液晶面板的端子用导电图案4D由384条的信号线S、以及配设于该信号线S的两侧部分且分别以每2条分开的4条功能线F、F所构成(参照图11(d))。
此外，在图11中，如上所述，符号L1、L2是显示分别对应端子用导电图案4A(4B、4C、4D)的第奇数个与第偶数个的探针块1内的探针2的2线，是依照各液晶单元的种类适用构成2线L1、L2的探针2的配置以及条数不同的专用探针块。
也即，探针块1A适用于A种类(端子用导电图案4A)，探针块1B适用于B种类(端子用导电图案4B)，探针块1C适用于C种类(端子用导电图案4C)，探针块1D适用于D种类(端子用导电图案4D)。
此外，图12(a)、(b)表示印刷于液晶面板用阵列玻璃的每一块的端子用导电图案4、探针2、可挠性基板5与中继基板6的连接状态。
也即，图12(a)表示上述的A种类的液晶面板的连接状态，探针2以及可挠性基板5是以一对一的方式连接于端子用导电图案4A，而可挠性基板5与中继基板6亦以1对1的方式连接。
此外，图12(b)表示上述的B种类的液晶面板的连接状态，探针2以及可挠性基板5是以一对一的方式连接于端子用导电图案4B，而可挠性基板5与中继基板6亦以1对1的方式连接。另外，在图12(a)、(b)中，可挠性基板5与中继基板6的部分显示的实线，表示可挠性基板5与中继基板6的各布线。
如上所述，在可挠性基板5与中继基板6中，也依照液晶面板的各自的种类适用布线的配置与条数相异的专用可挠性基板以及中继基板。也即，具有196条布线的奇数(偶数)对应可挠性基板5a(5b)以及奇数(偶数)对应基板6a(6b)适用于A种类(端子用导电图案4A)，而具有194条布线的奇数(偶数)对应可挠性基板5a(5b)以及奇数(偶数)对应基板6a(6b)则适用于B种类(端子用导电图案4B)。
在使用以上述方式构成的现有液晶用检查装置中，是将探针2分为分别对应端子用导电图案4的第奇数个与第偶数个的2线L1、L2，此外，每条线L1、L2因配设为格子状，故能充分对应端子用导电图案的窄间距化，但由于探针块1内的探针2的针数、配设位置，以及可挠性基板5、中继基板6的布线条数或布线位置，被设计为与作为被检查体的液晶面板用阵列玻璃3的端子用导电图案4一致，因此，设计成某种类的液晶面板用的探针块、可挠性基板、以及中继基板，并不适用于其他种类的液晶面板。
因此现有的液晶面板用检查装置，无法进行探针块、可挠性基板、以及中继基板的量产，由于每次都必须与作为被检查体的液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案一致以重新制作，因而产生制造成本提高、制造时间延长以及制造过程繁杂化等问题。
因此，本发明的目的在于提供一种可在适用不同种类的液晶面板检查的检查装置间，实现探针块、可挠性基板、以及中继基板的公共化，并根据上述部件的量产化，实现制作容易、成本降低以及出货期短缩的液晶面板用检查装置。
发明内容
本发明的目的至少是用于解决上述问题。
本发明的液晶面板用检查装置是一种：通过将探针块的探针抵接于液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案，并且经所述探针、一端侧连接于所述探针的可挠性基板、以及连接于所述可挠性基板的另一端侧的中继基板用检测器主体读取来自所述端子用导电图案的信号，进行所述端子用导电图案的短路状态、开启状态、TFT特性以及像素特性的检查的液晶面板用检查装置，其特征在于，所述探针块，在根据所述液晶面板的要求规格而作成的最多条数的功能线以及信号线构成基本端子用导电图案时，以对应整体各布线的方式，形成插入所述探针的多个插入孔，并通过将所述探针插入于所述多个插入孔内、与构成供试液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的各布线一致的插入孔而构成。
因此，在本发明中，探针块的多个插入孔是假设基本端子用导电图案，而形成为对应该图案的各布线的插入孔。此时由于基本端子用导电图案是由根据液晶面板的要求规格而作成的最多条数的功能线以及信号线所构成，因此，探针块具有最大个数的插入孔，并以仅将探针插入于在该最大个数的插入孔内、与构成供试液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的各线一致的插入孔的方式构成。未插入探针的插入孔，则保持空孔的状态。由此，可将探针公共适用于不同种类的液晶面板间。
以上所述以及本发明的其他目的、特征、优点，可通过以下的发明的详细说明明确。
附图说明
图1为说明本发明的液晶面板用检查装置的、液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的每一块的探针块、插入探针块的插入孔的探针、可挠性基板以及中继基板的相互的电连接状态的模式图。
图2为说明适用于A种类的液晶面板时的本发明的液晶面板用检查装置的、液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的每一块的探针块、插入探针块的插入孔的探针、可挠性基板以及中继基板的相互的电连接状态的模式图。
图3为说明适用于B种类液晶面板时的本发明的液晶面板用检查装置的、液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的每一块的探针块、插入探针块的插入孔的探针、可挠性基板以及中继基板的相互的电连接状态的模式图。
图4为说明适用于C种类的液晶面板时的本发明的液晶面板用检查装置的、液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的每一块的探针块、插入探针块的插入孔的探针、可挠性基板以及中继基板的相互的电连接状态的模式图。
图5为说明适用于D种类的液晶面板时的本发明的液晶面板用检查装置的、液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的每一块的探针块、插入探针块的插入孔的探针、可挠性基板以及中继基板的相互的电连接状态的模式图。
图6为说明本发明的液晶面板用检查装置的由单面基板所构成的中继基板上的电连接状态的俯视图。
图7为说明本发明的液晶面板用检查装置的、由两面基板或多层基板所构成的中继基板上的电连接状态的俯视图。
图8为用以说明液晶面板用检查装置的整体的电连接系统的概略说明图。
图9为现有的液晶面板用检查装置的要部剖视图。
图10为用以说明探针抵接于现有的液晶面板用检查装置的端子用导电图案的抵接状态的说明图。
图11(a)、(b)、(c)、(d)为不同种类的液晶面板的端子用导电图案的每一块的俯视图。
图12(a)、(b)为说明适用于不同种类的液晶面板时的现有液晶面板用检查装置的、液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的每一块的探针块、插入探针块的插入孔的探针、可挠性基板以及中继基板的相互电连接状态的模式图。
图13为其他液晶面板用检查装置的立体图。
具体实施方式
以下，详细说明本发明的实施方式。此外，本发明的范围并不局限于该实施方式。
根据附图与以下的实施方式来说明本发明的液晶检查装置。
以下，根据附图说明本发明的实施方式。此外，与图8至图13所示的部分相同的部件或具有同样功能的部件，付与相同符号。
有关本发明的液晶面板用检查装置，除了构成部件的构造不同外，其整体的连接系统是以与现有装置相同的方式构成。
也即，如图8所示，适用于本发明的一般的液晶面板用检查装置的整体连接系统，在构造上是使探针块1的探针2抵接于液晶面板用阵列玻璃3的端子用导电图案4，并经探针2、一端侧连接于探针2的可挠性基板5、以及连接于可挠性基板5的另一端侧的中继基板6由检测器主体7读取来自端子用导电图案4的信号而进行端子用导电图案4的短路状态、开启状态、TFT特性以及像素特性的检查。
此时，探针2与可挠性基板5之间的连接，除了使探针2的前端直接抵接于可挠性基板5的导电部的直接连接方式之外，也可采用经固设于探针块1的印刷基板而进行连接的间接连接方式。该间接连接方式是在使探针2的前端抵接于印刷基板的一端侧的同时，通过例如连接器、异向性粘接剂、焊锡等使可挠性基板5连接于另一端侧。
图1是说明有关本发明的液晶面板用检查装置的、由探针块1到中继基板6的每一单位块的各构成部件的构造以及构成部件间的连接状态的模式图。
首先，探针块1的构造，是在由根据液晶面板的要求规格而作成的最多条数的功能线F以及信号线S构成基本端子用导电图案4S时，以对应整体的各线的方式，形成插入探针2的多个插入孔16(参照图9)，并通过将探针2插入多个插入孔16内、与构成供试液晶面板的端子用导电图案的各线一致的插入孔16而构成。图1中，基本端子用导电图案4S上的白点表示未插入探针2的插入孔16，而黑点则表示插入有探针2的插入孔16。
在此，根据上述液晶面板的要求规格而作成的最多条数的功能线F的条数少于20条。
该基本端子用导电图案4S是用根据驱动液晶面板的驱动器IC的外接数而决定的信号线S、以及根据各使用者的要求规格而由不同的功能线F所构成的依照经验法则所求得的假想图案，例如：由240至480条的布线构成，并以3至20条的布线构成配设于该信号线S的两侧部分的各功能线F而构成整体。
探针块1的构成是具有对应基板端子用导电图案4S的各线的多个插入孔16而构成，例如配设有232至520个插入孔16。此时探针块1内的探针2的2线L1、L2，分别配设有116至260个插入孔16。
上述插入孔16为232条时，设定信号线S为192条，功能线F的条数为20条。此外，上述插入孔16为520条时，则设定信号线S为480条，功能线F的条数为20条。
如上所述，探针块1的多个插入孔16，是假设基本端子用导电图案4S，而形成为对应该图案4S的各线的插入孔。此时基本端子用导电图案4S，是根据经验基于液晶面板的要求规格由最多条数的功能线F以及信号线S所构成，因此，探针块1具有根据经验法则所求得的最大个数的插入孔16，并通过仅将探针2插入该最大个数的插入孔16内、与供试液晶面板用阵列玻璃3的端子用导电图案的各线一致的插入孔16而构成。未插入探针2的插入孔16，则保持空孔的状态。由此，探针块1可公共适用于种类相异的液晶面板间。
其结果，即可汇总进行量产化，同时进行事前的库存管理。如此一来，可缩短出货的时间，并有助于降低液晶面板用检查装置的制作成本。
此外，本装置的可挠性基板5最好是由：具有基本端子用导电图案4S的功能线F以及信号线S内、分别与上述第奇数条以及第偶数条功能线F以及信号线S一致的条数以及配置的导电体17a以及17b而分别形成的奇数对应基板5a以及偶数对应基板5b所构成。奇数对应基板5a以及偶数对应基板5b，例如分别是由125～260条的导电体17a以及17b所构成。
该可挠性基板5不但具有各一个奇数对应基板5a以及偶数对应基板5b，而且当端子用导电图案的布线数增加，窄间距化更显著时，也可具有各2个(或2个以上)奇数对应基板5a以及偶数对应基板5b。
根据该构成，是由：以可挠性基板5、基本端子用导电图案4S的整体功能线F以及信号线S为对象，具有与第奇数条全功能线F以及信号线S一致的条数及配置的导电体17a的奇数挠性对应基板5a以及具有与偶数的全功能线F以及信号线S一致的条数及配置的导电体17b的偶数对应可挠性基板5b所构成，因此，不论插入有探针2的插入孔16是探针块1的所有插入孔16中的哪一个均可实现与探针2连接。此时，对应未插入探针2的插入孔16(图中，以白点显示)的导电体17a(17b)，保留作为不连接导电体。由此，可挠性基板5可公共适用于不同种类的液晶面板间。
此外，本装置的中继基板6最好具备分别对应构成基本端子用导电图案4S的功能线F及信号线S的功能部18以及信号部19，同时功能部18是由分别对应奇数对应可挠性基板5a以及偶数对应可挠性基板5b的奇数对应功能部18a以及偶数对应功能部18b所构成，而信号部19是由具有分别与上述奇数对应可挠性基板5a以及偶数对应可挠性基板5b一致的条数与配置的导电体26以及27而分别形成的奇数对应信号部19a以及偶数对应信号部19b所构成，并由奇数对应功能部18a以及奇数对应信号部19a构成奇数对应基板6a，而由偶数对应功能部18b以及偶数对应信号部19b构成偶数对应基板6b而形成整体构造。
此时，奇数对应可挠性基板5a与奇数对应功能部18a以及偶数对应可挠性基板5b与偶数对应功能部18b分别经跨接线28相连接，而奇数对应可挠性基板5a与奇数对应信号部19a以及偶数对应可挠性基板5b与偶数对应信号部19b，是通过对应插入于插入孔16的探针2的导电体26/17a以及27/17b间的连接而连接。该导电体间的连接，一般是使用连接器来连接。
在上述构成中，由于中继基板6具备：分别对应构成基本端子用导电图案4S的功能线F以及信号线S的功能部18以及信号部19，因此功能部18以及信号部19可基于液晶面板用阵列玻璃3的要求规格与最多条数的功能线F以及信号线S对应。此时由于构成功能部18的奇数对应功能部18a以及偶数对应功能部18b，经跨接线28分别连接于奇数对应可挠性基板5a以及偶数可挠性基板5b，因此可正确连接在必要的位置，而与连接无关的其他奇数对应功能部18a以及偶数对应功能部18b，则保留作为不连接功能部。
该跨接线28的连接，具体而言是以下述方式进行。也即，如图6以及图7所示，中继基板6的构成是具有：以适当距离隔开而固定配设的2个连接器C1、C2；将上述2个连接器C1、C2电连接而进行布线的信号线S；两端电连接于2个连接器C1、C2而中间部分分断而进行布线的功能线F；以及分别连接于该功能线F的上述分断部分的两端而露出配置的一对端子f1、f2，一对端子部f1、f2是通过跨接线28连接。此时2个连接器C1、C2内，在一方的连接器C1上连接有奇数(偶数)对应可挠性基板5a(5b)，而在另一方的连接器C2中连接有连接于检测器主体7的可挠性基板21(23)。
此外，图6是以单面基板构成中继基板6的构成例，图7是以两面基板或多层基板构成中继基板6的构成例。在图7中，符号h是使分别配设于基板上面及下面的布线间电连接的通孔。
此外，如图1所示，构成信号部19的奇数对应信号19a以及偶数对应信号部19b，是经对应插入于插入孔16的探针2的导电体26/17a以及27/17b间的连接，分别连接于奇数对应可挠性基板5a以及偶数对应可挠性基板5b，并且与连接无关的其他奇数对应信号部19a以及偶数对应信号部19b，保留作为不连接信号部。由此中继基板6，即可公共适用于不同种类的液晶面板间。
具体而言，导电体26(27)布线于中继基板6上，以便使连接于奇数(偶数)对应可挠性基板5a(5b)的上述一方的连接器，与连接于检测器主体7的上述另一方的连接器间得以连接。
以下，详细叙述述图2至图5所示的具体例。在图2至图5中，对应2线L1、L2的黑点表示插入探针2的插入孔16，而对应2线L1、L2的白点则表示未插入探针2的插入孔16。
适用于上述具体例的本装置的构造具备：在2线L1、L2上分别配设200个插入孔16的探针块1；由具备200个的导电体17a的奇数对应可挠性基板5a以及具备200个导电体17b的偶数对应可挠性基板5b所构成的可挠性基板5；以及由奇数对应基板6a以及偶数对应基板6b所构成的中继基板6。
更详细而言，中继基板6具备：合计384条的奇数对应信号部19a以及偶数对应信号部19b的各导电体26、27所构成，且由该奇数对应信号部19a以及配设于其两侧部分的3个端子F1、F2、F3所构成的奇数对应功能部18a、18a所构成的奇数对应基板6a；以及由上述偶数应信号部19b与配设于其两侧部分的3个端子F1、F2、F3所构成的偶数对应功能部18b、8b所构成的偶数对应基板6b。构成该奇数对应功能部18a以及偶数对应功能部18b的3个端子F1、F2、F3是配合检测器的规格。
图2为具有端子用导电图案4A的A种类的液晶面板的适用例，本装置可通过将探针2插入对应端子用导电图案4A的全布线的插入孔16，构成对应端子用导电图案4A的探针块1。探针块1的所有探针2，与对应的可挠性基板5的导电体17a、17b连接。端子用导电图案4A由384条的信号线；以及形成于该信号线的两侧部分的4条功能线构成。
此外，中继基板6的配设于奇数对应基板6a的奇数对应功能部18a、18a的各端子F1、F2是通过跨接线28连接于奇数对应可挠性基板5a的导电体17a，而配设于偶数对应基板6b的偶数对应功能部18b、18b的各端子F1、F2则经跨接线28连接于偶数对应可挠性基板5b的导电体17b，且奇数对应可挠性基板5a、奇数对应信号部19a以及偶数对应可挠性基板5b、偶数对应信号部19b的连接，是通过对应插入于插入孔16的探针2的导电体26/17a以及27/17b间的连接而形成。
图3为具有端子用导电图案4B的B种类液晶面板的适用例，本装置由与A种类液晶面板相同的探针块1、可挠性基板5以及中继基板6所构成。端子用导电图案4B由：384条的信号线；以及形成于该信号线的两侧部分的2条功能线所构成。
此时，探针块1是以将探针2插入对应端子用导电图案4B的全布线的插入孔16的方式构成。并且，探针块1内的所有探针2，连接于可挠性基板5的奇数以及偶数对应可挠性基板5a、5b中的任一端，而奇数以及偶数对应可挠性基板5a、5b的另一端，则分别连接中继基板6的奇数以及偶数对应基板6a、6b。此时功能部18的奇数以及偶数对应功能部18a、18b的端子F1经跨接线28分别连接于奇数以及偶数对应可挠性基板5a以及5b，信号部19的奇数与偶数对应信号部19a、19b以及奇数与偶数对应可挠性基板5a、5b，是通过对应插入于插入孔16的探针2的导电体间的连接而连接。
图4为具有端子用导电图案4C的C种类液晶面板的适用例，本装置是以与适用于A种类液晶面板相同的探针块1、可挠性基板5、以及中继基板6所构成。端子用导电图案4C由384条的信号线、以及形成于该信号线的两侧部分的8条功能线所构成。
此时，探针块1是以将探针2插入对应端子用导电图案4C的全布线的插入孔16的方式构成。此外，探针块1内的所有探针2是连接于可挠性基板5的奇数以及偶数对应可挠性基板5a、5b的任一端，而奇数以及偶数对应可挠性基板5a、5b的另一端，则分别连接于中继基板6的奇数以及偶数对应基板6a、6b。此时，功能部18的奇数以及偶数对应功能部18a、18b的端子F1、F2、F3是经跨接线28分别连接于奇数以及偶数对应可挠性基板5a以及5b(此时端子F2通过2条跨接线28连接)，信号部19的奇数与偶数对应信号部19a、19b以及奇数与偶数对应可挠性基板5a、5b，经对应插入于插入孔16的探针2的导电体间的连接而连接。
图5为具有端子用导电图案4D的D种类的液晶面板的适用例，本装置由与适用于A种类液晶面板相同的探针块1、可挠性基板5以及中继基板6所构成。端子用导电图案4D由384条的信号线、以及形成于该信号线的两侧部分的以2条2条分离配置的4条功能线所构成。
此时，探针块1是以将探针2插入于对应端子用导电图案4D的全布线的插入孔16的方式构成。此外，探针块1内的所有探针2是连接于可挠性基板5的奇数以及偶数对应可挠性基板5a、5b的任一端，而奇数以及偶数对应可挠性基板5a、5b的另一端，则分别连接于中继基板6的奇数以及偶数对应基板6a、6b。此时，功能部18是经奇数以及偶数对应功能部18a、18b的端子F1、F2交差的2条跨接线28分别连接于奇数以及偶数对应可挠性基板5a以及5b，信号部19的奇数与偶数对应信号部19a、19b以及奇数与偶数对应可挠性基板5a、5b，经对应插入于插入孔16的探针2的导电体间的连接而连接。
如上所述，适用于图2至图5所示的A至D种类液晶面板的液晶面板用检查装置，即使液晶面板用阵列玻璃3的端子用导电图案因种类不同而有所差异，但同样可公共构成未插入探针2的探针块1、可挠性基板5以及中继基板6。
在上述具体说明中，具体说明信号线为384条的情形，但本发明对此并未加以限定，亦可适用于例如具有420条或480条等的信号线。
如上述说明，根据本发明，插入探针的插入孔是依据经验假设依照液晶面板的要求规格而作成的最多条数的功能线以及信号线所构成的基本端子用导电图案，而形成对应上述图案的各布线的插入孔，因此探针块在构造上具有：数量远多于各种类供试液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的布线条数的上述插入孔。因此探针块可经只将探针插入与供试液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的各布线一致的插入孔的方式构成，因此，未插入探针的探针块，可公共适用于种类不同的液晶面板间，经上述探针块的量产化，可提供制作容易、成本低廉、且出货期缩短的液晶面板用检查装置。
此外，根据本发明，可挠性基板是由：以基本端子用导电图案的整体功能线以及信号线为对象，具有与第奇数条全功能线以及信号线一致的条数及配置的导电体的奇数对应挠性基板；以及具有与第偶数条全功能线以及信号线一致的条数及配置的导电体的偶数对应可挠性基板所构成，因此，不论插入探针的插入孔是探针块的所有插入孔中的哪一个，均可实现与上述探针连接，因此除了上述的发明效果外，本发明的可挠性基板可公共适用于不同种类的液晶面板间，且经可挠性基板的量产化，可达到容易制作、成本降低以及出货期缩短的目的。
此外，根据本发明，中继基板具备分别对应构成基本端子用导电图案的功能线以及信号线的功能部以及信号部，构成上述功能部的奇数对应功能部以及偶数对应功能部，经跨接线分别连接于奇数对应可挠性基板以及偶数对应可挠性基板，而构成上述信号部的奇数对应信号部以及偶数对应信号部，则是经对应插入于插入孔的探针的导电体间的连接分别连接于奇数对应可挠性基板以及偶数对应可挠性基板，因此除了上述发明效果外，本发明的中继基板也公共适用于不同种类的液晶面板间，且经中继基板的量产化，可达到容易制作、成本降低以及出货期缩短的目的。
产业的可利用性
如上所述，本发明的上述液晶检查装置，是经将探针只插入于与供试液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的各布线一致的插入孔的方式构成，因此，可使未插入探针的探针块，公共适用于不同种类的液晶面板间，达到降低成本、缩短出货期的目的，不仅可在适用于不同种类的液晶面板检查的检查装置间达到探针块的公共化，同时也适用于检查印刷于液晶面板用阵列玻璃的导电图案的短路状态、开启状态、TFT特性以及像素特性。

Claims (4)

1.一种液晶面板用检查装置，是通过将探针块的探针抵接于液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案，并且经所述探针、一端侧连接于所述探针的可挠性基板、以及连接于所述可挠性基板的另一端侧的中继基板用检测器主体读取来自所述端子用导电图案的信号，进行所述端子用导电图案的短路状态、开启状态、TFT特性以及像素特性的检查的液晶面板用检查装置，其特征在于，
所述探针块，在根据所述液晶面板的要求规格而作成的最多条数的功能线以及信号线构成基本端子用导电图案时，以对应整体各布线的方式，形成插入所述探针的多个插入孔，并通过将所述探针插入于所述多个插入孔内、与构成供试液晶面板用阵列玻璃的端子用导电图案的各布线一致的插入孔而构成。
2.如权利要求1所述的液晶面板用检查装置，其特征在于，
所述可挠性基板由具有分别与所述基本端子用导电图案的功能线以及信号线内、第奇数条以及第偶数条功能线以及信号线一致的条数及配置的导电体而分别形成的奇数对应可挠性基板以及偶数对应可挠性基板所构成。
3.如权利要求1所述的液晶面板用检查装置，其特征在于，
根据所述液晶面板的要求规格，最多条数的功能线在20条以下。
4.如权利要求2所述的液晶面板用检查装置，其特征在于，
所述中继基板，具备分别对应构成所述基本端子用导电图案的功能线以及信号线的功能部以及信号部，并且以分别对应所述奇数对应可挠性基板以及偶数对应可挠性基板的奇数对应功能部以及偶数对应功能部构成所述功能部，以具有分别与所述奇数对应可挠性基板以及偶数对应可挠性基板一致的条数与配置的导电体而分别形成的奇数对应信号部以及偶数对应信号部构成所述信号部，在以所述奇数对应功能部以及奇数对应信号部构成奇数对应基板的同时，以所述偶数对应功能部以及偶数对应信号部构成偶数对应基板，由此构成整体构造，并且在所述奇数对应可挠性基板与所述奇数对应功能部、所述偶数对应可挠性基板以及所述偶数对应功能部分别经跨接线连接的同时，所述奇数对应可挠性基板与所述奇数对应信号部以及所述偶数对应可挠性基板与所述偶数对应信号部，经对应插入于所述插入孔的探针的导电体间的连接而被连接。
CNB2004800079198A 2003-03-26 2004-03-26 液晶面板用检查装置 Expired - Fee Related CN100541301C (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP086232/2003 2003-03-26
JP2003086232 2003-03-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1764868A true CN1764868A (zh) 2006-04-26
CN100541301C CN100541301C (zh) 2009-09-16

Family

ID=33095053

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB2004800079198A Expired - Fee Related CN100541301C (zh) 2003-03-26 2004-03-26 液晶面板用检查装置

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP4115484B2 (zh)
KR (1) KR101011424B1 (zh)
CN (1) CN100541301C (zh)
TW (1) TWI323054B (zh)
WO (1) WO2004086132A1 (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101452119B (zh) * 2007-12-03 2010-07-28 比亚迪股份有限公司 一种tft的光电参数测试夹具
CN101359105B (zh) * 2007-08-01 2011-01-12 比亚迪股份有限公司 对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法
CN102165325A (zh) * 2008-12-16 2011-08-24 株式会社岛津制作所 液晶阵列检查装置系统的抽真空方法、液晶阵列检查装置系统、以及液晶阵列检查装置
CN102981094A (zh) * 2012-11-23 2013-03-20 深圳莱宝高科技股份有限公司 一种面板测试装置
CN103309064A (zh) * 2013-05-24 2013-09-18 深圳市华星光电技术有限公司 传感器、检测装置及检测方法
CN105137628A (zh) * 2015-09-28 2015-12-09 京东方科技集团股份有限公司 点灯治具和点灯测试方法
CN105896134A (zh) * 2015-02-13 2016-08-24 日本电产理德股份有限公司 中继连接器以及基板检查装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100856865B1 (ko) * 2006-11-30 2008-09-08 (주)유비프리시젼 패턴 글라스를 구비하는 프로브 조립체
KR101088857B1 (ko) 2010-04-09 2011-12-06 주식회사 프로이천 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 시트 및 이를 갖는 프로브 유닛, 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 시트 제조 방법
KR101322725B1 (ko) * 2012-03-20 2013-10-28 (주) 루켄테크놀러지스 프로브 유닛
JP2013205210A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Seiko Epson Corp 配線基板の検査方法及び検査治具
CN206892276U (zh) * 2017-07-12 2018-01-16 惠科股份有限公司 一种电路板

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3561322B2 (ja) * 1995-02-17 2004-09-02 日本発条株式会社 導電性接触子ユニット

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101359105B (zh) * 2007-08-01 2011-01-12 比亚迪股份有限公司 对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法
CN101452119B (zh) * 2007-12-03 2010-07-28 比亚迪股份有限公司 一种tft的光电参数测试夹具
CN102165325A (zh) * 2008-12-16 2011-08-24 株式会社岛津制作所 液晶阵列检查装置系统的抽真空方法、液晶阵列检查装置系统、以及液晶阵列检查装置
CN102165325B (zh) * 2008-12-16 2013-05-29 株式会社岛津制作所 液晶阵列检查装置、系统、以及其抽真空方法
CN102981094A (zh) * 2012-11-23 2013-03-20 深圳莱宝高科技股份有限公司 一种面板测试装置
CN102981094B (zh) * 2012-11-23 2016-04-13 深圳莱宝高科技股份有限公司 一种面板测试装置
CN103309064A (zh) * 2013-05-24 2013-09-18 深圳市华星光电技术有限公司 传感器、检测装置及检测方法
CN103309064B (zh) * 2013-05-24 2015-11-25 深圳市华星光电技术有限公司 传感器、检测装置及检测方法
CN105896134A (zh) * 2015-02-13 2016-08-24 日本电产理德股份有限公司 中继连接器以及基板检查装置
CN105896134B (zh) * 2015-02-13 2019-08-30 日本电产理德股份有限公司 中继连接器以及基板检查装置
CN105137628A (zh) * 2015-09-28 2015-12-09 京东方科技集团股份有限公司 点灯治具和点灯测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR101011424B1 (ko) 2011-01-28
JP4115484B2 (ja) 2008-07-09
JPWO2004086132A1 (ja) 2006-06-29
CN100541301C (zh) 2009-09-16
TWI323054B (en) 2010-04-01
KR20050113249A (ko) 2005-12-01
WO2004086132A1 (ja) 2004-10-07
TW200423481A (en) 2004-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1764868A (zh) 液晶面板用检查装置
CN103647166B (zh) 用于印刷电路板的互连组合件
CN105319787B (zh) 液晶显示模组
CN101807372B (zh) 等离子体显示装置
CN1346467A (zh) 监测数据端口连接状态的系统
CN1314671A (zh) 液晶显示板的驱动模块和具有该驱动模块的液晶显示装置
US20090244886A1 (en) Backlight assembly and display device having the same
CN112086049A (zh) 显示面板以及电子设备
CN1645985A (zh) 电子模块、装有电子模块的装置及模块上压接的确认方法
CN1132047C (zh) 驱动芯片、液晶面板、液晶装置及电子设备
CN101064277A (zh) 显示设备模块和制造该模块的方法
CN1751244A (zh) 芯片安装用带子的检验方法以及用于检验的测试装置
CN109215558A (zh) 显示装置
CN1263689A (zh) 压接连接衬底、液晶装置及电子设备
TWI353469B (en) Liquid crystal display panel and probe for testing
TWI396028B (zh) 陣列背板、用以測試陣列背板的探針及液晶顯示面板
CN100434925C (zh) 液晶面板用检查装置
WO2014180137A1 (zh) 显示板检测装置的连接头、显示板检测装置和方法
CN1955792A (zh) 液晶显示面板与其上的线路布局
CN1700840A (zh) 柔性印刷电路薄膜及包括该柔性印刷电路薄膜的液晶显示器
CN219759134U (zh) 显示装置
CN101592680A (zh) 连接装置
CN1206886C (zh) 平面显示器及其印刷电路板
CN215769242U (zh) 显示驱动基板和显示模组
CN217217026U (zh) 一种与显示屏邦定的fpc结构及显示模组

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20090916

Termination date: 20210326

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee