TWI313754B - A method for testing liquid crystal display panels - Google Patents

Description

K13754 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於液晶顯示器面板之測試方法，其中將 閘極驅動電路整合於液晶顯示器面板之上。 【先前技術】 隨著電子商品市場日漸蓬勃，對於液晶顯示器面板的 需求量也越來越大。此需求是因為許多電子產品採用液晶 顯不器（Liquid Crystal Display，LCD)，例如電視銀幕，電 腦銀幕，以及手機銀幕。相對的，液晶顯示器面板之測試 也成為量產液晶顯示器面板的關鍵步驟。目前液晶顯示器 面板之測試方法包括全面接觸測試法（Fuii c。獻〇以及 短路桿測試法（ShGning細卜全面接觸測試法的優點是其 良好的測試功能，但會消耗許多許多晶片測試時間。短路 可縮短測試時間，因為此測試法將所有掃描線分 連：：：及偶數條兩組，並將每組所有的時序信號輸入端 有的有的起始信號輸入端連接在-起，以及所 =下拉信號輸入端連接在一起。因一 線輸入獨立的信號，而可於 广條“ 號。測試可先由開 〜 接點輸入一個信 線後將其關閉，並打==開始。完成奇數掃描 試區域將決定於—調變器，調變：田：進行測試。面板測 於所有的區域。 益、會同時提供像素電壓 短路桿測試法係適用於不具有閉極驅動器之液晶^ Κι 3 754 器面板。但是當間極驅動器整合於液晶顯示器面板上 ray，G〇A)時，短路桿測試法即無法以習知之方式使 Z。原因是在短路桿測試法裡，用於啟動掃描線的信號是 直接由掃描線的輸入端輸入，並不需經過間極驅動琴。告 閘極驅動器與掃描線電性連接時，短路桿測試法即益法: 接套用於掃描線之輸入端。 目前用於測試G0A技術面板之方法是由整合於面板上 之第-個間極驅動器之輸入端輸入驅動信號。當第一個閑 極驅動器被驅動時，即開啟第一條掃描線。驅動作號合由 第一個間極驅動器傳至第二個閑極驅動器，並關閉第^ 極驅動器，而開啟第二條掃描線，以此類推。

凊參照第1圖，並絲·千曰乂· m A …'.曰不目則GOA面板測試模式示意 圖。如果依序從最上方夕德μ & 万之掃描線彺下測試，當發 一 掃描線101上出現—個缺陷點1〇2時，測試即終止了缺陷 點102以後的其餘掃描線103皆無法再測試。有待於修復 被發現的缺陷點時再進行第二次測試。如再次發現另-缺 陷未表示於圖示中)，測試即終止，缺陷點102以後的其 餘掃描線103皆盈愛里，、目彳〇 …、而再測试，並拋棄此面板。因此，測試 者ft悉缺陷點1〇2之後是否還具有缺陷，若缺陷點⑽ 之後的知晦線無缺陷，而此μ仏# 面板的拋棄形成一種物料的浪費並 降低產出。 、 因此，目前需^ i 、而要種可以同時測試GOA面板上多條掃 “線=方4 §多條掃描線可被同時測量時，即可降低或 解決掃描線因順相題而無法被賴的可能性。 〆 1313754 【發明内容】 因此，本發明的目的就是在提供一種液晶顯示器面板 之測試方法，用以當將閘極驅動電路整合於液晶顯示器面 板其上時，可同時測試多條掃描線上之薄膜電晶體（ThiE Film Transistor ’ TFT)。本發明一實施例將所選定區域的閘 ，驅動器的正相時序信號輸人端（CK)，反相時序信號輸入 而（XCK)以及下拉k號端（pull D〇職）分別連接於一正相時 序測試墊'一反相時序測試墊以及一下拉信號測試墊。由 此即可將正相時序信號，反相時序信號，以及下拉信號， 同時分別輸入至所選定區域的閘極驅動的正相時序化號輸 入端、反相時序信號輸人端以及下拉信號端。相同^將 =ϋ域的閘極驅動器的起始信號（stan Pulse)輸入端連 =-起始信號測試塾，並將起始信號同時輸人至所選定 2:閘極驅動器的起始信號輸人端。上述之較區域可 面板。當上述信號同時輸人後，即開啟所選定區 =線：的所有薄膜電晶體。當測試信號同時由所有信 唬線輸入時，所選定區域 同時進行測試。 场m的所有相f晶體即可 分區揭的另—個實施例是將液晶顯示器面板以 其中每個i域將面板劃分為多個區域， Γ的起始信號端連接於-起始信號測試墊：:= 中之閑極驅動器的正相時序信號輸入端連接 1313754 :: 每個區域中之閘極驅動器的反相時序信號輸入 j接於'反相時序測試墊上，以及每個區域中之間極驅 $的下拉k號輪人端連接於—下拉信號試墊上。因此， 上述的號可料分別輪人至不同區域之閘極驅動器，且 對不同區域進行測試。 、/亍則σ式之$不需要隔離每個區域之所有信號連接線 可將每们區域之所有信號連接線彼此電性隔離，避免各

區域之：號進入其他區域之閘極驅動器中。若將每個區域 之所有t號連接線彼此電性隔離時，測試完畢之後，即需 將所有區域之信號連接線重新互相電性連接，使整片 重新整體運作。 本么月中提供二種隔離與重新連接各區域的結構或 方法作為範例’其他任何可利於隔離與㈣連接各區域 的-構或方法均可運用於此。以起始信號為例(其他如正相 夺序l號反相時序#號，以及下拉訊號皆相同），第一種 係於區域之間的起始信號連接線形成焊接橋接處，分別電 (生連接於兩起始信號連接線之間，並於測試之後以焊接的 方式重新連接所有起始信號連接線H係於區域之間 的起始信號連接線間形成金氧半導體橋接處，分別電性連 接於兩起始k波連接線之間，並於測試之後以電壓衝穿的 方式重新連接所有起始信號連接線。第三種係不需電性隔 離二可達到面板分區的目的，此方法是以下拉信號關閉非 測式:之#描線，以至起始信號無法開啟非測試中之閉極 驅動器。雖然所提供之_與重新連接各區域的結構或方 1313754 法揭露如上1其並非用以限^本發明。本發明 :试塾’包括正相時序測試墊、反相時序測試$ 广 號測試塾及起始信號測試塾，均是形成在基板之非工^ 之上，在測试完成後被切除。

一本發明所揭露之實施例提供一種液晶顯示器面板之測 试方法，此方法可同時測試多數液晶顯示器面板之掃描 '亡士此即可避免因為依序測試而可能無法測試到之缺陷 盲點。並且此測試方法可以提昇缺陷檢測率，即不需將只 發現兩個缺陷的面板拋棄，而是可以同時檢測出所有缺： 並加以修復。另外’測試速度可因為同時測試而比先 術之依序測試方法快。 【實施方式】 本發明是一種液晶顯示器面板之測試方法，用以當將閘 極驅動電路整合於液晶顯示器面板之上時，可同時測試多 條掃描線上之薄膜電晶體。本發明之第一實施例是將 顯示器面板上選定區域的閘極驅動器之正相時序輸入端阳 反相時序輸入段，以及起始信號輸入端分別電性連接於對 應之測試墊。當選定區域之閉極驅動器開啟掃描線後，'即 可對所有選定區域内薄膜電晶體所代表之像素進行測試。 請參照第2圖，其繪示依照本發明第—實施例的液晶顯 示器面板選定區域之示意圖。閘極驅動器2〇1與掃描線 整合於面板玻璃203上。將選定區域裡的閘極驅動器 之正相時序輸入端204電性連接於一正相時序測試墊 1313754 205。此測試墊205可延伸至面板玻璃2〇3以外，用以輸入 正相％序化號。相同的，反相時序輸入端2〇6，下拉信號輸 入端212以及起始信號輸入端2〇7皆可以相同模式連接。 將選定區域裡的閘極驅動器2〇1之反相時序輸入端2〇6電 性連接於一反相時序測試墊208。此測試墊2〇8可延伸至面 板玻璃203以外，用以輸入反相時序信號。將選定區域裡 ' 的閘極驅動器201之下拉信號輸入端212電性連接於一下 '鲁 拉信號測試墊213。此測試墊可延伸至面板玻璃203以外， 用以輸入下拉# 5虎。將選定區域裡的閑極驅動器2〇工之起 始信號輸入端207電性連接於一起始信號測試墊2〇9。此測 試墊可延伸至面板玻璃2G3以外，用以輸人起始信號。當 正相時序信號，反相時序信號，下拉信號以及起始信號分 別輸入正相時序測試墊2〇5，反相時序測試墊2〇8，下拉信 號測試塾213,以及起始信號測試塾2Q9冑，閘極驅動器 2〇1則開始驅動所有選定區域中之掃描線2〇2及其上之薄 • 膜電晶體210。測試信號傳送至所有信號線2U，選定區域 巾之所有薄臈電晶體21〇㈣時承受測試電壓以進行測 試。第2圖之選定區域範圍是為舉例而放大，其並非被限 於所緣不之範圍。選定區域可以包括整片液晶顯示器面板 之所有掃描線。 請參照S 3目，其繪示本發明g0A面板測試模式示意 圖。當可以同時測試面板所有掃描線3〇1時，面板上所^ 缺陷點302即可同時被發現，且不存留任何測試盲點。 本《明之第—實施例是將液晶顯示器面板劃分於多個區域 11 1313754 而分別對區域進行測試。將液晶顯示器面板劃分為多個區 域。請參照第4圖，其繪示依照本發明第二實施例的液晶 顯示器面板分區示意圖。每個區域至少包括—條掃描線 彻。閘極驅動器402與掃描線4〇1|合於面板玻璃彻上。 在此以劃分後之兩個區域為例，以繪示區域之間的劃分 點。分別將區域中的閘極驅動器術之正相時序輸入端楊 電性連接於-正相時序測試塾。此測試塾4〇5可延伸至面 板玻璃403以外，用以分別輸入正相時序信號。分別將區 域中的閘極驅動器4G2之反相時序輸入端傷電性連接於 一反相時序測試塾術。此測試墊彻可延伸至面板玻璃 4〇3以外’用以分別輸入反相時序信號。分別將區域中的閉 極驅動器402之下拉信號輸入端414電性連接於—下拉信 號測試塾415。此測試塾可延伸至面板玻璃如以外，用以 刀別輸入下拉號。分別將各區域中的閑極驅動器術之 起始信號輸入端彻電性連接於一起始信號測財4〇9。此 測試塾可延伸至面板玻璃彻以外，用以分別輸入起始作 號。 ° 所有起始信號測試墊4〇9，正相時序測試墊，反相 時序測試塾407,以及下拉信號測試塾415纟相電性隔離。 舉例而言，當起始信號傳送至區域41〇之起始信號測試塾 4〇9 ’正相時序傳送至區域41〇之正相時序測試墊々Μ，反 相時序傳送至區域410之反相時序測試墊4〇7,以及下拉信 號傳送至區域410之下拉信號測試墊415時，區域的 閘極驅動器則開始驅動區域4丨〇中之掃描線1及其上之 12 1313754 薄膜電晶體411。測試信號傳送至所有區域的信號線々η， 區域4H)中之所有薄膜電晶體411即同時承受測試電壓以 進行測試。區域410測試完成後，此時再利用另一組起始 信號傳送至區域412之起始信號測試墊4〇9， 至區域-之正相時序測試塾彻，反相時序== 412之反^目時序測試墊4〇7，以及下拉信號傳送至區域々η 之下拉信號測試墊415，並停止驅動區域41〇之掃描線 4(H。區域412的閘極驅動器4〇2則開始驅動區域412中之 掃描線4〇1&其上之薄膜電晶體411。測試信號傳送至所有 區域的信號線413,區域412中之所有薄膜電晶體411即同 時承受測試電塵以進行測試。分區測試的測試順序不限於 由上方的區域依序往下測試，而可由面板下方的區域由下 往上進行測試，並可同時從上方以及下方的區域 測試。 〜 如此類推，液晶顯示器面板之所有區域將分別進行測 試。當所有區域測試完畢後，將所有區域之信號連接線重 新電性連接。 上述之第二實施例中，為要達到區域之間之信號測試塾 ， 隔離’以及於測試完畢後互相電性連接，在此舉 ==及連接方式。第一種請參照第5圖，其緣示依 Γ岡貫施例的液晶顯示器面板分區焊接橋接處示 思圓。本範例是於區域之起始信號測試墊5〇1及起奸號 成焊接橋接處地，正相時序信號測㈣ 正相％序#號挪試墊507之間形成样接橋接處彻， 13 1313754 反相時序信號測試墊509及反相時序信號測試墊51〇之間 形成焊接橋接處511，以及下拉信號測試墊512及反相時序 k 5虎測試墊513之間形成焊接橋接處514。所有橋接處皆設 置於面板玻璃515(基板工作區）上。以焊接橋接處5〇2為 例其焊接橋接處放大圖502a由箭頭所指出◊其他焊接橋 接處之放大圖皆相同。舉例而言，區域5〇3及區域5〇4之 » 間之焊接橋接處502、508、511以及514使傳送至起始信 5虎測試墊501、正相時序信號測試墊506、反相時序信號測 試墊509以及下拉信號測試墊512的信號無法傳送到起始 信號墊505、正相時序信號測試墊5〇7、反相時序信號冽試 墊5 10以及下拉信號測試墊5 13。當所有區域測試完畢後， 以焊錫電性連接焊接橋接處502、508、511以及514，則可 進一步進行後續之測試，例如面板之全面測試。 第一種請參照第6圖，其緣示本發明第二實施例的液晶 顯示器面板分區金氧半導體橋接處示意圖。本例子是於區 φ 域之起始信號測試墊601及起始信號測試墊605之間形成 金氧半導體橋接處602，正相時序信號測試墊606及正相時 序信號測試墊607之間形成金氧半導體橋接處6〇8，反相時 序信號測試墊609及反相時序信號測試墊6丨〇之間形成金 氧半導體橋接處611 ’以及下拉信號測試墊612及反相時序 信號測試墊613之間形成金氧半導體橋接處614。所有橋接 處皆设置於面板玻璃615 (基板工作區）上。以金氧半導體件 接處602為例，其金氧半導體橋接處放大圖6〇2a由箭頭所 指出。舉例而言’區域6〇3及區域604之間之金氧半導體 14 1313754 橋接處6〇2、6〇8、611以及614使傳送至起始信號墊6〇1、 正相時序信號測試墊606、反相時序信號測試墊609以及下 拉信號測試塾612的信號無法傳送到起始信號塾6〇5、正相 時序信號測試墊607、反相時序信號測試墊61〇以及下拉信 號測試墊613。當所有區域測試完畢後，因工作信號電壓高 於測試信號電壓，所以當工作電壓為信號電壓時，即可衝 穿金氧半導體，以電性連接金氧半導體橋接處術、6〇8、 611以及614，則可進一步進行後續之測試，例如面板之全 面測試。 設置橋接處的目的是為區域做分割，使各區域可獨立進 行载。如不設置橋接處，也可利用下拉信號來開啟或關 閉測j中及非測試中的區域。參照第7圖，其緣示本發明 第二實施例的液晶顯示器面板以下拉信號分區之示意圖。 圖中每一個區域之内的開極驅動器7〇1皆可 入端7〇2輸入—下拉俨垆。 彳輸 乜號下拉至接地。如此一來 起口 區域703,即可”「輸人下拉“至非測試中的 ^ 將，貝“式中的區域704分別獨立測試。 毛明之實施例係提供一種同時測試⑻， 面板上區域内之所右灌 阳，..、員不 有4膜電晶體的方法。當薄 同時進行測試時，即楹古1 田潯膜電晶體可 試速度。另—方面，面板缺陷的檢测率，並可加快測 板所產生的資# + φ 拋棄良好面 雖铁亦即提高面板生產效率。 &日月已以實施例揭露如上，铁苴i非 本發明，任何熟習此技菽者，在…7、並非用以限定 π者在錢離本發明之精神和範 15 1313754 圍内’當可作各種之更動盘、、簡偷 夂保護範圍 人切興潤飾，因此本發明 當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 優點與實施例 為讓本發明之上述和其他目的、特徵、 能更明顯易懂，所附圖式之詳細說明如下： 第1圖是目前GOA面板測試模式示意圖。 第2圖是依照本發明第一實施例的液晶顯示器面板選 定區域示意圖。 第3圖是本發明GOA面板測試模式示意圖。 第4圖是依照本發明第二實施例的液晶顯示器面板分 區示意圖。 第5圖是依照本發明第二實施例的液晶顯示器面板分 區焊接橋接處示意圖。 第6圖是本發明第二實施例的液晶顯示器面板分區金 氧半導體橋接處示意圖。 第7圖是本發明第二實施例的液晶顯示器面板以下拉 k號分區之示意圖。 102 :缺陷點 201=閘極驅動器 203:面板玻璃 【主要元件符號說明 1〇1 :掃描線 1Q3:其餘掃描線 2Q2:掃描線 16 1313754 204:正相時序輸入端 206:反相時序輸入端 208:反相時序測試墊 210:薄膜電晶體 212:下拉信號輸入端 3 01 ·掃描線 4 01 .掃描線 403:面板玻璃 4〇5:正相時序測試墊 407:反相時序測試墊 409:起始信號測試墊 411:薄膜電晶體 413 :信號線 415:下拉信號測試墊 502:焊接橋接處 503:區域 505:起始信號測試墊 5 07:正相時序測試墊. 5〇9:反相時序測試墊 5 11:焊接橋接處 513:下拉信號測試墊 5 1 5 :面板玻璃 6〇2:金氧半導體橋接處 6〇3:區域 205:正相時序測試墊 207:起始信號輸入端 209:起始信號測試墊 211:信號線 213:下拉信號測試墊 302:缺陷點 402 :閘極驅動器 404.正相時序輸入端 406:反相時序輸入端 408:起始信號輸入端 410:區域 412 ·區域 414 :下拉信號輸入端 501:起始信號測試墊 5〇2a:焊接橋接處放大圖 504:區域 506:正相時序測試墊 508·焊接橋接處 510:反相時序測試墊 512:下拉信號測試墊 514:桿接橋接處 601 ·起始信號測試墊 6〇2a:金氧半導體橋接處放 大圖 17 1313754 604： 606: 608： 610： 612： 614： 701 ： 703 ： 區域 605 ： 起始信號測試墊 正相時序測試墊 607： 正相時序測試墊 金氧半導體橋接處 609： 反相時序測試墊 反相時序測試墊 611 ： 金氧半導體橋接處 下拉信號測試墊 613 ： 下拉信號測試墊 金氧半導體橋接處 615 ： 面板玻璃 閘極驅動器 702： 下拉信號輸入端 非測試中區域 704： 測試中區域

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Claims (1)

1313754 十、申請專利範圍： 1.—種測試液晶顯示器面板之方法，其中液晶顯示器 面板具有複數個閘極驅動電路與複數條掃描線整合於其 上，該方法至少包含： 同時輸入一正相時序信號，一反相時序信號，以及一 下拉信號至所選定區域之閘極驅動器之一正相時序輸入 端，一反相時序輸入端，以及一下拉信號輸入端； 同時輸入一起始信號至該閘極驅動器之一起始信號輸 入端，以同時啟動該選定區域之掃描線，且同時開啟該選 定區域之薄膜電晶體；以及 同時由複數條信號線送入一測試信號。 2·如申請專利範圍第丨項所述之測試液晶顯示器面板 之方去，其中该選定區域之正相時序輸入端連接至一正相 時序測試墊。 3,如申請專利範圍第1項所述之測試液晶顯示器面板 之方法，其中該選定區域之反相時序輸入端連接至一反相 時序測試墊。 、·如申β專利範圍帛i項所述之測試液晶顯示器面板 去其中忒選定區域之下拉信號輸入端連接至一下拉 信號測試墊。 19 1313754 5. 如申請專利範圍帛丨項所述之測試液晶顯示器面板 之方法’其中該選定區域之起始信號輸人端連接至一起始 信號測試墊。 6. -種測試液晶顯示器面板之方法，液晶顯示器面板 具有複數個閘極驅動電路與複數條掃描線整合於其上，該 方法至少包含： 劃分複數條掃描線為複數個區域； 同時輸入一正相時序信號，一反相時序信號，以及一 下拉信號至每一該些區域中之該些閘極驅動器之一正相時 序輸入端，一反相時序輸入端’以及一下拉信號輸入端； 同時由所有複數個信號線送入一測試信號；以及 分別輸入一起始k號至每一該些區域中之閘極驅動器 之一起始信號輸入端，用以先後啟動該些區域之該些掃描 線，且分別開啟該些區域之複數個薄膜電晶體以進行測試。 7. 如申請專利範圍第6項所述之測試液晶顯示器面板 之方法，其中該些區域之正相時序輸入端連接至一正相時 序測試墊。 8. 如申請專利範圍第6項所述之測試液晶顯示器面板 之方法，其中該些區域之反相時序輸入端連接至一反相時 序測試墊。 20 1313754 9_如申請專利範圍第6項所述之測試液晶顯示器面板 之方法，其中每一該些區域中之下拉信號輸入端連接至一 下拉#號剛試塾。 1 〇_如申請專利範圍第6項所述之測試液晶顯示器面 板之方法，其中每一該些區域中之起始信號輸入端連接至 一起始信號測試墊。 Π·如申請專利範圍第6項所述之測試液晶顯示器面 板之方法，其中每一該些區域包含至少一條掃描線。 12. 如申請專利範圍第6項所述之測試液晶顯示器面 板之方法，其中分區測試可透過輸入一下拉訊號於複數個 非測試中之區域之閘極驅動器，以關閉該些區域中之薄膜 電晶體。 13. 如申睛專利範圍第6項所述之測試液晶顯示器面 板之方法，其中各區域進行測試之順序係由面板上方之區 域開始由上往下進行測試，由面板下方之區域開始由下往 上進行測試，或同時由面板上方以及下方之區域開始進行 測試。 14. 如申凊專利範圍第11項所述之測試液晶顯示器 面板之方法，其中每一該些區域中之該起始信號測試墊， 21 1313754 以及該下拉信號 該正相時相料，該反相時序測試塾 測試墊分別電性隔離。 a、如申請專利範圍第14項所述之測試液晶顯示器 信二：ί ’ f中更包括於面板測試完成後重新將該起始 ^ 忒正相時序測試墊，該反相時序測試墊，以 及该下拉信號測試墊分別電性連接。 16.如申請專利範圍第14項所述之測試液晶顯示器 面板之方4 #中電性隔離每—該些區域中之該起始作號 測試墊的方法包㈣成金氧半導體橋接處分別電性連接; 兩該起始㈣輯塾之連接敎間，㈣正相時序測試塾 之連接線之間’兩該反相時序測試墊之連接線之間，以及 兩该下拉信號測試墊之連接線之間。 纟中1專利|&圍第14項所述之測試液晶顯示器 面反之方法，#中電性隔離每一該些區域中之該起始信號 測试塾的方法包括形成焊接橋接處分別電性連接於兩該起 始U測試塾之連接線之間，兩該正相時序測試墊之連接 線之間’兩該反㈣相試塾之連接線之間，以及兩該下 拉信號測試墊之連接線之間。 々申明專利la圍第15項所述之測試液晶顯示器 面板之方法，纟中重新電性連接的方法包括施加-電麼於 22 1313754 該起始信號職墊，該正相時序賴塾，該反相時序測試 墊’以及下拉偽號洌試墊，以衝穿該些金氧半導體橋接處。 I專利圍第15項所述之測試液晶顯示器 、，其中重新電性連接的方法包括以焊錫連接該 起始信號測試墊，兮不士口 D 士产、 叶物逆接及 ^ τ序測試墊，該反相時序測試墊， ^ ^號測試墊之該些焊接橋接處。 23