JP2000180809A - 液晶表示パネルの検査装置 - Google Patents
液晶表示パネルの検査装置Info
- Publication number
- JP2000180809A JP2000180809A JP10362628A JP36262898A JP2000180809A JP 2000180809 A JP2000180809 A JP 2000180809A JP 10362628 A JP10362628 A JP 10362628A JP 36262898 A JP36262898 A JP 36262898A JP 2000180809 A JP2000180809 A JP 2000180809A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal line
- transistor
- inspection
- liquid crystal
- crystal display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 線順次方式の場合、従来の検査構成では信号
ラインの断線と駆動回路の検査ができなかった。 【解決手段】 検査トランジスタのゲートを隣接信号ラ
インに接続し、該当信号ラインの検査トランジスタのみ
導通状態になるよう信号ラインの波形を順番にシフトさ
せる。
ラインの断線と駆動回路の検査ができなかった。 【解決手段】 検査トランジスタのゲートを隣接信号ラ
インに接続し、該当信号ラインの検査トランジスタのみ
導通状態になるよう信号ラインの波形を順番にシフトさ
せる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、アクティブ方式の
特に駆動回路を一体化した液晶表示パネルに関し、線順
次で信号ラインを駆動する方式であっても、信号ライン
駆動回路と信号ラインの断線をアレイ段階で数個のコン
タクトで検出できる検査装置に関するものである。
特に駆動回路を一体化した液晶表示パネルに関し、線順
次で信号ラインを駆動する方式であっても、信号ライン
駆動回路と信号ラインの断線をアレイ段階で数個のコン
タクトで検出できる検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の点順次を使用した駆動回路一体型
の液晶表示パネルの構成例を図５に示し、図と共に説明
する。１０１は信号側シフトレジスタであり、Ｈスター
ト信号をドットクロック信号の周期でシフトし映像のビ
デオ信号をサンプリングするタイミングを発生する。１
０２はアナログスイッチであり、シフトレジスタ１０１
の出力タイミングでビデオ信号を信号ラインＳ１からＳ
ｎへ順次書き込んでいく。この動作で点順次方式と称さ
れる。１０３は走査ライン駆動回路で動作としてはＶス
タート信号をラインクロック信号の周期でシフトするシ
フトレジスタと各段に接続されたバッファからとなる。
１０４は液晶表示パネルであり、各画素は画素トランジ
スタと画素電極からなる。１０５は検査回路であり、検
査モード信号で検査時と通常の画像映出時の切り替えを
行う。その具体例は図６に示す。１０６は検出回路であ
り検査回路１０５からの出力を検出してシフトレジスタ
１０１とアナログスイッチ１０２からなる信号ライン駆
動回路の動作と信号ラインの断線を判定する。
の液晶表示パネルの構成例を図５に示し、図と共に説明
する。１０１は信号側シフトレジスタであり、Ｈスター
ト信号をドットクロック信号の周期でシフトし映像のビ
デオ信号をサンプリングするタイミングを発生する。１
０２はアナログスイッチであり、シフトレジスタ１０１
の出力タイミングでビデオ信号を信号ラインＳ１からＳ
ｎへ順次書き込んでいく。この動作で点順次方式と称さ
れる。１０３は走査ライン駆動回路で動作としてはＶス
タート信号をラインクロック信号の周期でシフトするシ
フトレジスタと各段に接続されたバッファからとなる。
１０４は液晶表示パネルであり、各画素は画素トランジ
スタと画素電極からなる。１０５は検査回路であり、検
査モード信号で検査時と通常の画像映出時の切り替えを
行う。その具体例は図６に示す。１０６は検出回路であ
り検査回路１０５からの出力を検出してシフトレジスタ
１０１とアナログスイッチ１０２からなる信号ライン駆
動回路の動作と信号ラインの断線を判定する。
【０００３】図６に検査回路１０５の具体構成例を示
す。各信号ラインＳ１〜Ｓ３には検出トランジスタＴｄ
１〜Ｔｄ２のドレインが接続され、ソースは検出回路１
０６に共通接続される。ゲートは検査モード信号に共通
接続され、検査時はこの信号はＨｉｇｈすなわち検出ト
ランジスタＴｄ１〜Ｔｄ３は全て導通状態となってい
る。ここで点順次ゆえに信号ラインに初期０Ｖから数Ｖ
のＶｄを順次シフトさせて印加する。ある瞬間には信号
ラインにＶｄが印加されているのは１本のみであり、こ
のときの検出回路の電流を図ることにより信号ライン駆
動回路の動作の有無と信号ラインの断線の有無が特定で
きる。これにより信号ラインの全ラインにコンタクトプ
ローブを立てることなく信号ラインの検査がアレイ状態
で可能となっている。
す。各信号ラインＳ１〜Ｓ３には検出トランジスタＴｄ
１〜Ｔｄ２のドレインが接続され、ソースは検出回路１
０６に共通接続される。ゲートは検査モード信号に共通
接続され、検査時はこの信号はＨｉｇｈすなわち検出ト
ランジスタＴｄ１〜Ｔｄ３は全て導通状態となってい
る。ここで点順次ゆえに信号ラインに初期０Ｖから数Ｖ
のＶｄを順次シフトさせて印加する。ある瞬間には信号
ラインにＶｄが印加されているのは１本のみであり、こ
のときの検出回路の電流を図ることにより信号ライン駆
動回路の動作の有無と信号ラインの断線の有無が特定で
きる。これにより信号ラインの全ラインにコンタクトプ
ローブを立てることなく信号ラインの検査がアレイ状態
で可能となっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
動作は点順次ゆえになされるものである。それに対しパ
ネルの大型化、高精細度化に伴い点順次では信号ライン
の書き込み時間に制約があり、線順次方式で信号ライン
を書き込む方式が近年実用化されつつある。構成例を図
７に示す。図７において図５と同機能のものは同一番号
をつけ説明を省略する。１１０はサンプルホールド回路
であり、シフトレジスタ１０１のタイミングでサンプル
されたビデオ信号を線順次で一括して信号ラインに書き
込む。その場合従来の図６に示す検出トランジスタを単
純に並べる方式では、同時に全信号ラインに電圧がかか
るため各信号ラインごとの駆動回路の不具合や断線は検
出できない。
動作は点順次ゆえになされるものである。それに対しパ
ネルの大型化、高精細度化に伴い点順次では信号ライン
の書き込み時間に制約があり、線順次方式で信号ライン
を書き込む方式が近年実用化されつつある。構成例を図
７に示す。図７において図５と同機能のものは同一番号
をつけ説明を省略する。１１０はサンプルホールド回路
であり、シフトレジスタ１０１のタイミングでサンプル
されたビデオ信号を線順次で一括して信号ラインに書き
込む。その場合従来の図６に示す検出トランジスタを単
純に並べる方式では、同時に全信号ラインに電圧がかか
るため各信号ラインごとの駆動回路の不具合や断線は検
出できない。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、アクティブ方
式の走査ライン駆動回路と信号ライン駆動回路を基板に
一体集積した液晶表示パネルにおいて、前記信号ライン
駆動回路が線順次方式で出力され、各信号ラインにドレ
インないしソース端子を接続しゲート端子を隣接信号ラ
インに接続し、残りのソースないしドレイン端子を検査
ラインに共通接続した検査トランジスタを設け、前記検
査ラインに流れる電流を検出して信号ライン駆動回路の
出力検査と信号ラインの断線を検出する。
式の走査ライン駆動回路と信号ライン駆動回路を基板に
一体集積した液晶表示パネルにおいて、前記信号ライン
駆動回路が線順次方式で出力され、各信号ラインにドレ
インないしソース端子を接続しゲート端子を隣接信号ラ
インに接続し、残りのソースないしドレイン端子を検査
ラインに共通接続した検査トランジスタを設け、前記検
査ラインに流れる電流を検出して信号ライン駆動回路の
出力検査と信号ラインの断線を検出する。
【０００６】
【発明の実施の形態】本発明の検査回路を図１に示す。
本発明は検査トランジスタのドレインを該当信号ライン
に接続し、ゲートを隣接信号ラインに接続し、ソースを
検出回路へ共通接続するものである。この時の信号ライ
ンの波形を図２に示す。ドレイン、ゲートに相当する波
形を順次シフトして加え、特定時間には該当する検査ト
ランジスタのみ導通させて検査するのである。例えば図
２のＴ１ＯＮ期間は信号ラインＳ１にはＶｄが、信号ラ
インＳ２にはＶｇが印加され他は０Ｖであるので検査ト
ランジスタＴ１のみ導通し、他は遮断状態である。この
期間の検出回路に流れる電流を測定すれば信号ラインＳ
１の状態が特定できる。次に右にシフトした電圧を加え
検出トランジスタＴ２を導通させて、信号ラインＳ２を
測定する。このようにして全ラインを検出できる。
本発明は検査トランジスタのドレインを該当信号ライン
に接続し、ゲートを隣接信号ラインに接続し、ソースを
検出回路へ共通接続するものである。この時の信号ライ
ンの波形を図２に示す。ドレイン、ゲートに相当する波
形を順次シフトして加え、特定時間には該当する検査ト
ランジスタのみ導通させて検査するのである。例えば図
２のＴ１ＯＮ期間は信号ラインＳ１にはＶｄが、信号ラ
インＳ２にはＶｇが印加され他は０Ｖであるので検査ト
ランジスタＴ１のみ導通し、他は遮断状態である。この
期間の検出回路に流れる電流を測定すれば信号ラインＳ
１の状態が特定できる。次に右にシフトした電圧を加え
検出トランジスタＴ２を導通させて、信号ラインＳ２を
測定する。このようにして全ラインを検出できる。
【０００７】検査終了後は映像により信号ラインの電位
は特定できないので検査トランジスタを遮断状態にする
必要がある。そこで図１に示すａ点のドレインないしｂ
点のソースをレーザー等で切断すれば良い。
は特定できないので検査トランジスタを遮断状態にする
必要がある。そこで図１に示すａ点のドレインないしｂ
点のソースをレーザー等で切断すれば良い。
【０００８】ただし、量産工程で全てのラインを切断す
るのも煩雑である。そこで切断せずとも検査トランジス
タを遮断する手段を設けた例を図３，図４に示す。図３
には検査トランジスタＴ１のドレイン側に遮断トランジ
スタＴＫ１を設けた例であり、検査時には検査制御モー
ドに電圧を印加し遮断トランジスタを導通させ、図１相
当の検査を行うが、検査後は検査制御モードを信号ライ
ンの最低電位よりもさらに低くし遮断トランジスタを遮
断する。これにより検査トランジスタはゲート電位に関
係なく電流が流れないので画像に対する影響を排除する
ことが可能となる。図４は検査トランジスタＴ１のソー
ス側に遮断トランジスタＴＫ１を設けたものであり、動
作としては図３とほぼ同等である。これらの例は図６の
従来例よりもトランジスタが２段に直列接続されるの
で、通常動作時の検査トランジスタのリークによる画質
劣化の問題が少ないという利点もある。
るのも煩雑である。そこで切断せずとも検査トランジス
タを遮断する手段を設けた例を図３，図４に示す。図３
には検査トランジスタＴ１のドレイン側に遮断トランジ
スタＴＫ１を設けた例であり、検査時には検査制御モー
ドに電圧を印加し遮断トランジスタを導通させ、図１相
当の検査を行うが、検査後は検査制御モードを信号ライ
ンの最低電位よりもさらに低くし遮断トランジスタを遮
断する。これにより検査トランジスタはゲート電位に関
係なく電流が流れないので画像に対する影響を排除する
ことが可能となる。図４は検査トランジスタＴ１のソー
ス側に遮断トランジスタＴＫ１を設けたものであり、動
作としては図３とほぼ同等である。これらの例は図６の
従来例よりもトランジスタが２段に直列接続されるの
で、通常動作時の検査トランジスタのリークによる画質
劣化の問題が少ないという利点もある。
【０００９】以上、検査トランジスタ、遮断トランジス
タともにｎチャンネルタイプのトランジスタを例にとり
説明したが、導通と遮断の動作であるので検出回路側を
グランドでなく高電位側に設定しても検査できる。その
さいソースとドレインの標記が反対となるが動作として
本質的に同一であるのは言うまでもない。
タともにｎチャンネルタイプのトランジスタを例にとり
説明したが、導通と遮断の動作であるので検出回路側を
グランドでなく高電位側に設定しても検査できる。その
さいソースとドレインの標記が反対となるが動作として
本質的に同一であるのは言うまでもない。
【００１０】
【発明の効果】本発明によれば線順次方式の駆動回路で
あっても、ごく少数のコンタクトだけで信号ラインの断
線と信号ライン駆動回路の出力状態の検査が可能とな
る。遮断トランジスタを設けることで外部から検査モー
ド制御信号を切り替えて検査動作と画像映出を両立する
ことが可能である。
あっても、ごく少数のコンタクトだけで信号ラインの断
線と信号ライン駆動回路の出力状態の検査が可能とな
る。遮断トランジスタを設けることで外部から検査モー
ド制御信号を切り替えて検査動作と画像映出を両立する
ことが可能である。
【図１】本発明による検査回路の基本構成図
【図２】図１の動作波形図
【図３】本発明の別な構成図
【図４】本発明の別な説明図
【図５】従来の液晶表示パネルの構成図
【図６】従来の検査回路の構成図
【図７】線順次方式の液晶表示パネルの構成図
Ｓ１〜Ｓ４ 信号ライン Ｔ１〜Ｔ４ 検査トランジスタ １０６ 検出回路
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０９Ｇ 3/20 ６７０ Ｇ０９Ｇ 3/36 ５Ｃ０８０ 3/36 Ｇ０２Ｆ 1/136 ５００ ５Ｃ０９４ Ｆターム(参考） 2G014 AA02 AB21 AC07 2H088 EA02 FA13 FA30 HA02 HA06 HA08 MA16 2H092 GA32 JA24 JB77 MA30 MA35 MA57 MA58 NA27 PA06 2H093 NA16 NA43 NB08 NB12 NB23 NC12 NC34 NC59 ND56 NE03 NE10 5C006 AA01 AC02 AC11 AF64 AF65 BB16 BC06 BC20 BF03 BF11 BF31 EB01 FA20 5C080 AA10 BB05 DD15 FF11 GG08 JJ02 JJ03 JJ04 5C094 AA42 AA45 AA48 BA03 BA43 CA19 DB08 DB10 EA03 GB10
Claims (4)
- 【請求項１】 アクティブ方式の走査ライン駆動回路と
信号ライン駆動回路を基板に一体集積した液晶表示パネ
ルにおいて、前記信号ライン駆動回路が線順次方式で出
力され、各信号ラインにドレインないしソース端子を接
続しゲート端子を隣接信号ラインに接続し、残りのソー
スないしドレイン端子を検査ラインに共通接続した検査
トランジスタを設け、前記検査ラインに流れる電流を検
出して信号ライン駆動回路の出力検査と信号ラインの断
線を検出する液晶表示パネルの検査装置。 - 【請求項２】 検出動作後、検出トランジスタのソース
ないしドレインを切断し画像を映出することを特徴とす
る請求項１記載の液晶表示パネルの検査装置。 - 【請求項３】 検出トランジスタのソースないしドレイ
ン端子と信号ラインの間に検出モード切り替えトランジ
スタを設け、検出動作後は切り替えトランジスタを遮断
することで画像を映出することを特徴とする請求項１記
載の液晶表示パネルの検査装置。 - 【請求項４】 検出トランジスタと検査ラインの間に検
出モード切り替えトランジスタを設け、検出動作後は切
り替えトランジスタを遮断することで画像を映出するこ
とを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10362628A JP2000180809A (ja) | 1998-12-21 | 1998-12-21 | 液晶表示パネルの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10362628A JP2000180809A (ja) | 1998-12-21 | 1998-12-21 | 液晶表示パネルの検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000180809A true JP2000180809A (ja) | 2000-06-30 |
Family
ID=18477344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10362628A Pending JP2000180809A (ja) | 1998-12-21 | 1998-12-21 | 液晶表示パネルの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000180809A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7532207B2 (en) | 2003-03-07 | 2009-05-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Drive circuit, display apparatus using drive circuit, and evaluation method of drive circuit |
| WO2010035557A1 (ja) * | 2008-09-29 | 2010-04-01 | シャープ株式会社 | 表示パネル |
| CN101826533B (zh) * | 2009-03-06 | 2011-11-16 | 华映视讯（吴江）有限公司 | 主动阵列式显示器的切换组件结构 |
-
1998
- 1998-12-21 JP JP10362628A patent/JP2000180809A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7532207B2 (en) | 2003-03-07 | 2009-05-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Drive circuit, display apparatus using drive circuit, and evaluation method of drive circuit |
| US8154539B2 (en) | 2003-03-07 | 2012-04-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Drive circuit, display apparatus using drive circuit, and evaluation method of drive circuit |
| US8159482B2 (en) | 2003-03-07 | 2012-04-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Drive circuit, display apparatus using drive circuit, and evaluation method of drive circuit |
| WO2010035557A1 (ja) * | 2008-09-29 | 2010-04-01 | シャープ株式会社 | 表示パネル |
| CN101826533B (zh) * | 2009-03-06 | 2011-11-16 | 华映视讯（吴江）有限公司 | 主动阵列式显示器的切换组件结构 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6630840B2 (en) | Array substrate inspection method with varying non-selection signal | |
| JP3086936B2 (ja) | 光弁装置 | |
| KR101093229B1 (ko) | 어레이 기판 및 이를 갖는 표시장치 | |
| US6100865A (en) | Display apparatus with an inspection circuit | |
| US5994916A (en) | LCD panel test system and test method thereof | |
| KR101502366B1 (ko) | 액정 표시 장치 및 그 검사 방법 | |
| JPH1097203A (ja) | 表示装置 | |
| JP4473427B2 (ja) | アレイ基板の検査方法及び該検査装置 | |
| KR20020026105A (ko) | 액정표시소자의 검사방법 | |
| TW200829932A (en) | A method for testing liquid crystal display panels | |
| JP2000275610A (ja) | 液晶表示装置及びその検査方法 | |
| JP2000180809A (ja) | 液晶表示パネルの検査装置 | |
| JP4587678B2 (ja) | アレイ基板の検査方法及び検査装置 | |
| JPH0320721A (ja) | 画像表示装置 | |
| JPH07199872A (ja) | 液晶表示装置 | |
| JP2004061782A (ja) | 液晶表示装置 | |
| KR100206568B1 (ko) | 게이트 라인 결함 감지 수단을 구비한 액정 표시 장치 | |
| JPH02154292A (ja) | アクティブマトリックスアレイとその検査方法 | |
| JP2001013187A (ja) | マトリクスアレイ装置及びマトリクスアレイ装置用基板 | |
| JP3062552B2 (ja) | 液晶表示装置及びその検査方法 | |
| JPH0769676B2 (ja) | アクティブマトリックスアレイおよびその検査方法 | |
| JPH085691A (ja) | 薄膜トランジスタアレイの検査方法 | |
| JPH04288588A (ja) | アクティブマトリクス型液晶表示装置 | |
| JPH09203759A (ja) | 液晶表示装置検査方法、その装置および液晶表示装置 | |
| JP2004109823A (ja) | リーク検査装置及びリーク検査方法 |