TWI286839B - Signal processing method and image acquiring device - Google Patents
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Description
1286839 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關自CCD所代表的影像輸入裝置輸出的信 號的信號處理方法及影像取得裝置。 【先前技術】 於來自CCD等影像輸入裝置的信號的處理中,習知信號 處理方法仍舊使用稱為像素的光電二極體等構成的光電轉 換元件的信號,或使用自類比將此信號轉換成數位的信 號。使用圖1 3至圖1 7說明習知信號處理方法。圖1 3至圖 1 7依序顯示自輸入本身為目標影像信號的光信號起,至輸 出至顯示裝置或記憶裝置為止的動作。 圖1 3係有關攝影機等所代表形成於半導體基板的影像 取得裝置内部構造的概念圖,具有CCD等影像輸入裝置1、 處理自影像輸入裝置1輸出的影像信號的類比一數位轉換 等信號處理裝置 2以及影像資料的顯示裝置或記憶裝置 3。於影像輸入裝置1中,本身為光電轉換裝置的光電二極 體1 1為複數個,分別具有(X,y)座標。於此,為簡化,顯 示x=l〜5、y=l〜5的區域。又具有沿垂直方向(圖面的縱 向)轉送電荷的複數垂直方向電荷轉送區域 1 2,以及沿水 平方向(圖面的橫向)轉送電荷的複數水平方向電荷轉送區 域1 3。圖1 3顯示對應影像的光信號輸入,於各個光電二 極體1 1顯示發生由光所產生信號電荷的狀態,於各座標的 光電二極體1 1發生自Q (1,1 )至Q ( 5,5 )所表示的電荷。 圖1 4顯示光電二極體1 1的電荷移動至垂直方向電荷轉 6 312XP/發明說明書(補件)/94·03/93137875 1286839 送區域 1 2的狀態。圖1 5顯示垂直方向電荷轉送區域 1 2 的電荷朝垂直方向轉送,於 y = 1的座標所示光電二極體 1 1發生的電荷移動至水平方向電荷轉送區域1 3的狀態。 圖1 6顯示在圖1 5中轉送存在於水平方向電荷轉送區域1 3 的電荷,於信號處理裝置2中自電荷Q轉換成信號強度S 之後,此信號輸入顯示裝置或記憶裝置 3的狀態。圖17 顯示反覆進行圖1 5至圖1 6的動作的結果,所有光電二極 體1 1的資訊移動至顯示裝置或記憶裝置3的狀態。習知影 像取得裝置如以上動作。 然而,由於在習知構造中,例如依圖1 3的座標(2,2) 像素所示,在微少灰塵2 1附着於光電二極體部分情況下, 僅此處之電荷與周邊相較極小,故如圖 1 8 ( a )所示,於晝 面上呈現黑點。又由於如圖1 3的座標(4,4 )像素所示,在 半導體基板的結晶缺陷 22出現於光電二極體部分情況 下,即使未照射光,仍發生漏電流,以致於僅此處之電荷 與周邊相較極大,故如圖1 8 ( b )所示,於晝面上呈現白點。 由於其顯現在晝面上,故作為影像輸入裝置,難謂具有充 分性能,構成影像輸入裝置的製造良率降低的主要原因。 雖為解決此種問題而於製程中進行灰塵的減低或結晶缺陷 的抑制,不過,製程變得複雜,或者須使用高昂的製造裝 置,結果,對影像輸入裝置的製造成本的降低造成限制。 曰本專利特開平 9 一 4 6 6 0 1 號公報為解決有關上述問 題,提議對各像素的像素信號與此像素周邊的像素信號的 平均值加以比較,判定有無缺陷的方法。然而,此方法會 7 3 ] 2XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 有因比較平均值,故而在周邊像素全體的雜訊位準變 時,缺陷的有無判斷隨著雜訊位準而異的情形發生。又 對相鄰像素間帶有信號強度急遽變化的影像,會因相對 複數像素的平均值,特定影像信號強度差大,從而發生 認為具有與信號強度變化交界的特定像素的信號強度相 的信號強度區域全部係缺陷的判定,有難以據此進行信 強度彌補,提高對比等解析度的問題。 【發明内容】 本發明係為解決上述習知問題而開發者,其目的在於 供可作灰塵或結晶缺陷等所造成的缺陷像素的正確判定 彌補缺陷像素所造成的像素上的缺陷的信號處理方法及 像取得裝置。 用來解決以上問題的本發明信號處理方法及影像取謂 裝置的主要手段列舉之如以下。 本發明第1信號處理方法係對依序輸出自沿水平方 及垂直方向排列複數個光電轉換入射光的像素的影像輸 裝置的像素的影像信號加以處理,求出影像信號強度的 號處理方法,其特徵為包含:第1步驟,其求出排列於 一像素周邊的複數像素的影像信號強度的最大值、最小 及平均值;以及第2步驟,其在任一像素的影像信號強 大於最大值乘以第1係數的值情況下,或小於最小值乘 第2係數的值情況下,根據平均值校正任一像素的影像 號強度。 根據本發明,由於比較任一像素的影像信號強度與其 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 動 於 誤 等 號 提 影 向 入 信 任 值 度 以 信 周 8 1286839 邊像素的影像信號強度最大值乘以某一係數後的 比較值),故在任一像素的影像信號強度大於第1 況下,可正確判斷此任一像素係發生於影像輸入 素陣列基板的結晶缺陷等所造成的缺陷像素,藉 周邊像素的影像信號強度平均值,校正此缺陷像 信號強度,可彌補缺陷像素所造成影像上的缺陷 又由於比較任一像素的影像信號強度與其周 影像信號強度最小值乘以某一係數後的值(第2 t 故在任一像素的影像信號強度小於第2比較值情 正確判定此任一像素係附着於影像輸入裝置的像 灰塵等所造成的缺陷像素,藉由根據其周邊像素 號強度平均值,校正此缺陷像素的影像信號強度 缺陷像素所造成影像上的缺陷。 如以上,藉由對特定像素(任一像素)與根據其 的信號強度最大值或最小值加以比較,可容易並 識、找出缺陷像素,又藉由以由其周邊像素的信 均值算出的信號來替代缺陷像素的信號強度,可 陷,自顯示影像消除缺陷。又,可抑制如習知因 入裝置製程中進行灰塵的減低或結晶缺陷的抑制 程變得複雜或須使用高昂的製造裝置的情形,而 的影像輸入裝置。 於此苐1信號處理方法中,第2步驟可藉由以 以第3係數的值替換任一像素的影像信號強度來 正 〇 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 值(第1 比較值情 裝置的像 由根據此 素的影像 0 〔像素的 b較值), 況下,可 素陣列的 的影像信 ,可彌補 周邊像素 正確辨 號強度平 彌補缺 在影像輸 而發生製 使用低廉 平均值乘 進行校 9 1286839 本發明第 2信號處理方法係對依序輸出自沿水平方向 及垂直方向排列複數個光電轉換入射光的像素的影像輸入 裝置的像素的影像信號加以處理,求出影像信號強度的信 號處理方法,其特徵為包含:第1步驟,其成光信號實質 上未輸入影像輸入裝置的狀態,求出排列於任一像素周邊 的複數像素的影像信號強度的最大值;第2步驟,其在光 信號實質上未輸入影像輸入裝置的狀態中,任一像素的影 像信號強度大於最大值乘以第1係數的值情況下,記憶像 素排列中任一像素的位置資訊;第3步驟,其於將影像光 信號輸入影像輸入裝置時,求出排列於位置資訊記憶於第 2 步驟的任一像素周邊的複數像素的影像信號強度的平均 值;以及第4步驟,其將在影像光信號輸入影像輸入裝置 時求出的影像信號強度中位置資訊記憶於第2步驟的任一 像素的影像信號強度,換成於第3步驟求出的平均值乘以 第2係數的值。 於此第2信號處理方法中,排列於第1步驟求出影像信 號強度最大值的任一像素周邊的複數像素以及排列於第 3 步驟求出影像信號強度平均值的任一像素周邊的複數像素 可為依影像信號自影像輸入裝置輸出的順序,在任一像素 前輸出的像素。 於此第2信號處理方法中,最好可在影像輸入裝置的電 源通電時進行第1步驟及第2步驟。 本發明第 3信號處理方法係對依序輸出自沿水平方向 及垂直方向排列複數個光電轉換入射光的像素的影像輸入 10 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 裝置的像素的影像信號加以處理,求出影像信號強度的信 號處理方法,其特徵為包含:第1步驟,其成均一光信號 實質上輸入影像輸入裝置的狀態,求出排列於任一像素周 邊的複數像素的影像信號強度的最小值;第2步驟,其在 均一光信號實質上輸入影像輸入裝置的狀態中任一像素的 影像信號強度小於最小值乘以第1係數的值情況下,記憶 像素排列中任一像素的位置資訊;第3步驟,其於影像光 信號輸入影像輸入裝置時,求出排列於位置資訊記憶於第 2 步驟的任一像素周邊的複數像素‘的影像信號強度平均 值;以及第4步驟,其將在影像光信號輸入影像輸入裝置 時求出的影像信號強度中位置資訊記憶於第2步驟的任一 像素的影像信號強度,換成於第3步驟求出的平均值乘以 第2係數的值。 於此第3信號處理方法中,排列於第1步驟求出影像信 號強度最小值的任一像素周邊的複數像素以及排列於第 3 步驟求出影像信號強度平均值的任一像素周邊的複數像素 可為依影像信號自影像輸入裝置輸出的順序,在任一像素 前輸出的像素。 於此第3信號處理方法中,最好可在影像輸入裝置的電 源通電時進行第1步驟及第2步驟。 於上述第1〜第3信號處理方法中,影像信號強度可為 至少一種顏色信號強度,或者,影像信號強度可為複數顏 色信號強度的和。 本發明第1影像取得裝置之特徵為具備:影像輸入裝 11 3】2XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 置,其沿水平方向及垂直方向排列複數個光電轉換入射光 的像素;信號處理裝置,其對依序輸出自影像輸入裝置的 像素的影像信號加以處理,求出影像信號強度;以及影像 顯示裝置或記憶裝置,其輸入藉信號處理裝置求出的影像 信號強度;信號處理裝置具有求出排列於任一像素周邊的 複數像素的影像信號強度的最大值、最小值及平均值,在 任一像素的影像信號強度大於最大值乘以第1係數的值情 況下,或小於最小值乘以第2係數的值情況下,根據平均 值校正任一像素的影像信號強度的功能。 本發明第2影像取得裝置之特徵為具備:影像輸入裝 置,其沿水平方向及垂直方向排列複數個光電轉換入射光 的像素;位置資訊記憶裝置,其記憶像素於影像輸入裝置 中的位置資訊;信號處理裝置,其對依序輸出自影像輸入 裝置的像素的影像信號加以處理,求出影像信號強度;以 及影像顯示裝置或記憶裝置,其輸入藉信號處理裝置求出 的影像信號強度;信號處理裝置具有成光信號實質上不輸 入影像輸入裝置的狀態,求出排列於任一像素周邊的複數 像素的影像信號強度的最大值,在任一像素的影像信號強 度大於最大值乘以第1係數的值情況下,將像素排列中任 一像素的位置資訊記憶於位置資訊記憶裝置的功能,以及 在將影像光信號輸入影像輸入裝置時,求出排列於位置資 訊記憶於位置資訊記憶裝置的任一像素周邊的複數像素的 影像信號強度平均值,將在影像光信號輸入影像輸入裝置 時求出的影像信號強度中位置資訊記憶於位置資訊記憶裝 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 12 1286839 置的任一像素的影像信號強度,換成平均值乘以第2係數 的值的功能。 本發明第 3影像取得裝置之特徵為具備:影像輸入裝 置,其沿水平方向及垂直方向排列複數個光電轉換入射光 的像素;位置資訊記憶裝置,其記憶像素於影像輸入裝置 中的位置資訊;信號處理裝置,其對依序輸出自影像輸入 裝置的像素的影像信號加以處理,求出影像信號強度;以 及影像顯示裝置或記憶裝置,其輸入藉信號處理裝置求出 的影像信號強度;信號處理裝置具有成均一光信號實質上 輸入影像輸入裝置的狀態,求出排列於任一像素周邊的複 數像素的影像信號強度的最小值,在任一像素的影像信號 強度小於最小值乘以第1係數的值情況下,將像素排列中 任一像素的位置資訊記憶於位置資訊記憶裝置的功能,以 及在將影像光信號輸入影像輸入裝置時,求出排列於位置 資訊記憶於位置資訊記憶裝置的任一像素周邊的複數像素 的影像信號強度平均值,將在影像光信號輸入影像輸入裝 置時求出的影像信號強度中位置資訊記憶於位置資訊記憶 裝置的任一像素的影像信號強度,換成平均值乘以第2係 數的值的功能。 【實施方式】 以下參考圖式說明本發明實施形態。 (第1實施形態) 圖1顯示自本發明第1實施形態的影像輸入裝置輸出的 影像信號的處理流程。此例係顯示將影像輸入裝置的光信 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 13. 1286839 號轉送至顯示裝置或記憶裝置的過程的流程,其說明於 後。圖2係有關攝影機等所代表影像取得裝置的内部構造 的概念圖,其由CCD等影像輸入裝置1、類比數位轉換等 的影像信號處理裝置2、影像資料的暫時記憶裝置4、影像 信號處理裝置5以及影像資料的顯示裝置或記憶裝置3, 特徵為設置影像信號處理裝置5。於影像輸入裝置1中, 本身為光電轉換裝置的光電二極體1 1為複數個,各像素具 有(X,y )座標。於此為簡化,顯示X = 1〜5、y = 1〜5的區域。 又具有沿垂直方向(圖面的縱向)轉送電荷的複數垂直方向 電荷轉送區域1 2,以及沿水平方向(圖面的橫向)轉送電荷 的複數水平方向電荷轉送區域1 3。 其次,參考圖2至圖6,說明本實施形態的影像取得裝 置的動作。圖2至圖6依序顯示自輸入本身為影像的光信 號起,至輸出到影像顯示裝置或記憶裝置3為止的過程。 首先,於圖2顯示輸入本身為影像的光信號,在各光電 二極體1 1發生電荷的狀態,於各座標的光電二極體1 1發 生自Q ( 1,1 )至Q ( 5,5 )所示電荷。 於此,作為例子,假定灰塵2 1附着於座標(2,2)的光 電二極體1 1上’半導體基板的結晶缺陷2 2存在於座標(4 ’ 4 )的光電二極體1 1下。由於入射光為灰塵2 1所遮蔽,故 與本來的電荷 Q ( 2,2 )相較,僅極小量的電荷 Q ’ ( 2,2 ) 發生於座標(2,2 )的光電二極體 1 1,又由於結晶缺陷 2 2 造成電子自本來絕緣的區域流入,故與本來的電荷 Q ( 4, 4 )相較,有極大量的電荷 Q ’ ( 4,4 )發生於座標(4,4 )的 14 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93】37875 1286839 光電二極體1 1。 圖3顯示光電二極體11的電荷(電子)移動至垂直方向 電荷轉送區域1 2的狀態。圖4顯示垂直方向電荷轉送區域 12的電荷朝垂直方向轉送,於y=l座標所示所有光電二 極體1 1發生的電子移動至水平方向電荷轉送區域1 3的狀 態。圖5顯示轉送圖4中存在於垂直方向電荷轉送區域12 的電子,經由信號處理裝置2(A/D轉換裝置),從而,自 電荷Q ( X,y)轉換成第1信號強度S ’ ( X,y),此後,輸入 暫時記憶裝置 4,進一步經由信號處理裝置(缺陷彌補裝 置)5,藉此,第1信號強度S ’ ( X,y)轉換成第2信號強 度S ( X,y),此後,輸入影像顯示裝置或記憶裝置3。 於此,使用圖1詳細說明本身為缺陷補償裝置的信號處 理裝置5的信號處理流程。且圖1亦一併顯示信號處理裝 置2中的處理。記載於圖1的步驟101的函數F係將轉送 自影像輸入裝置1的電荷Q(x,y)轉換成第1信號強度S’ (X,y )的函數,此處理係信號處理裝置2中的處理。此後, 經由暫時記憶裝置 4輸入信號處理裝置 5,進行步驟 102〜107的處理。 於信號處理裝置5中,如步驟1 0 2所示,在就針對特定 像素的第1信號強度S ’ ( X,y)進行信號處理情況下,首 先,由相鄰像素的信號強度S’ (X — l,y)及S’ (x+l,y) 求得最大值Smax。於此,函數Fmax係由所給予信號強度 求出最大值的函數。其次,由相鄰像素的信號強度 S’ ( X 一 l,y)及S’ (x+l,y)求得最小值Smin。於此,函數Fmin 15 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 係由所給予信號強度求出最小值的函數。進一步由相鄰像 素的信號強度S ’ ( X — 1,y )及S ’ ( X + 1,y )求得其平均值 S a v e。於此,函數F a v e係由所給予信號強度求出平均值的 函數。 其次,比較特定像素的信號強度 S ’( X,y )與最大值 S m a X乘以某一係數A後的強度(步驟1 0 3 ),於S ’ ( X,y ) > S m a X X A情況下,使特定像素的信號強度S ( X,y ) = S a v e x C (步驟1 Ο 7 )。於此,C為預定係數。於信號強度S ’ ( x, y )過大情況下,藉此處理,可抑制於適當強度 S ( X,y )。 另一方面,於S ’ ( X,y) $ S m a X X A情況下,比較信號強 度S ’ ( X,y )與最小值S m i η乘以某一係數B後的強度(步 驟 104),於 S’ (X,y)<Smin X Β 情況下,使 S(x,y)= Save x D(步驟 106),於 S’ (x,y)2Smin x B 情況下, 使S ( x,y ) = S ’ ( x,y )(步驟1 Ο 5 )。於此,D為預定係數。 信號處理裝置5進行以上處理。 於此,使用圖7來說明可藉由上述信號處理方法彌補影 像缺點。平常自然界的一般影像信號如圖7 ( a )所示徐徐變 化,或如圖7 (b)所示,自某一像素處急遽變化,雖然強度 相同的像素可為複數個,不過,於CCD等固態攝影元件中 有 1 0萬個以上的像素,通常不存在僅一像素與其周邊相 較,信號強度特別大的情形或特別小的情形。據此,可於 來自特定像素的信號強度與其周邊像素相比,較任一個大 或小時,認為係缺陷。比較圖7中正常信號曲線(實線)與 本身為缺陷的某像素(像素2、4 ),此情形即一目瞭然。然 16 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 而,由於每一像素含有製造上的誤差或各種雜訊, 單純比較信號強度本身,會有誤認正常信號為缺 形。因此,藉由按像素間的誤差或雜訊的程度任意 1中所說明各係數,可提高缺陷辨識的精度,可避 的誤認。圖7雖顯示一次元方向的信號強度變化, 即使是二次元方向的信號強度變化,所指仍然相同 圖6顯示反覆進行圖4至圖5的動作的結果,所 二極體1 1的資訊移動至顯示裝置或記憶裝置3的片 由進行圖1所示本發明的信號處理,使S ( 2,2 )= S a 俾於座標(2,2 )的光電二極體 1 1發生的極小量電 (2,2 )相較於相鄰信號強度,通常比其最小值小,ί 4)=SavexC,俾於座標(4,4)的光電二極體11發 大量電荷 Q ’ ( 4,4 )相較於相鄰信號強度,通常比 值大。藉此,光電二極體的不良所造成特定影像信 其附近的信號強度的平均,或與其接近者,可消除 上呈現缺陷的情形。 且本實施形態雖然於信號處理裝置5的信號處JI 於特定像素(X,y)使用(x+1,y)及(X — 1,y)左右 信號,不過,當然可使用關於(X + η,y + m ) ( η,m 負數的實數)的像素的信號。 且,係數A及B可按各光電二極體或轉送區域的 差等來決定,例如有關係數 A,可根據在均一光入 像素之狀態下動作時獲得的像素間的信號強度誤 定。於此情況下,由於通常信號強度分布為常態分 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 故若僅 陷的情 設定圖 免缺陷 不過, 〇 有光電 史態。藉 v e X D » 荷 Q, t S(4, 生的極 其最大 號成為 於晝面 :中,對 的像素 係包含 製造誤 射全部 差來決 布,故 17 1286839 由此分布所得σ可為除以平均值或中間值的值,以A = 1 + σ /平均值(或中間值)較佳。又,有關係數 Β,可根據在 無入射光態下動作時獲得的像素間的信號強度誤差來決 定。於此情況下,由於通常信號強度的對數為常態分布, 故由此分布所得σ可為除以平均值或中間值的值,以Β = 1 一 σ /平均值(或中間值)較佳。當然,即使σ為 3 σ ,仍 可使用其他值。 其次,係數 C及 D的適當值因影像取得裝置的用途而 異。因此,藉由使用故意形成缺陷情形下實際缺陷的感應 檢查,設定適度係數。然而,一般說來,進行缺陷校正的 座標以較其周邊明亮(信號強度強)來強調,容易辨識,相 反地,在陰暗情況下則變得不敏感。因此,係數C及D以 1至0.5左右較佳。進一步由於在相同程度的信號強度差 情況下,明亮者較陰暗情形更容易就差來辨識,故以C為 1至0.8左右,D為0.8至0.5左右較佳。 (第2實施形態) 圖8顯示本發明第2實施形態的影像取得裝置的影像信 號的信號處理流程,圖9顯示有關攝影機等所代表影像取 得裝置的内部構造的概念圖。於圖9中,除了第1實施形 態的影像取得裝置構造外,增加記憶信號處理裝置5所辨 識的缺陷像素座標資訊的缺陷位置資訊記憶裝置 6。又, 此第2實施形態所用係數A、C與第1實施形態所用係數Α、 C相同。 如圖8 ( a)的流程所示,首先,第2實施形態的影像缺 18 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 陷處理方法在圖9的影像取得裝置中光信號未輸入狀態 (無入射光狀態)下,作動影像輸入裝置1等。於此狀態下, 無光線自各座標(X,y)的像素輸入狀態的電荷量Q ( X,y) 自影像輸入裝置1輸入進行A / D轉換等的信號處理裝置 2,轉換成各信號強度S ’ ( X,y )(步驟2 0 1 ),此各信號強 度S ’ ( X,y )經由暫時記憶裝置4輸入信號處理裝置5。於 此情況下,自無缺陷的像素輸出的像素信號強度全在製造 上的誤差或雜訊位準以下。 亦即,來自正常像素的信號強度相較於圖9的結晶缺陷 2 2所造成的大信號強度,變得十分小。因此,發生結晶缺 陷 2 2等所造成大信號強度的像素的信號強度甚至成為較 其周邊像素的信號強度最大值Smax更大的值,可容易且正 確辨識缺陷。因此,於信號處理裝置5内,對各像素,求 出其周邊像素的信號強度的最大值S m a X (步驟2 0 2 ),比較 此最大值 Smax 乘以係數 A 的值與此像素的信號強度 S’ (X,y)(步驟 203),在 S’ (X,y)>Smax X A 情況下, 辨識此像素為缺陷,將其座標資訊記憶於缺陷位置資訊記 憶裝置6 (步驟2 0 5 )。 於缺陷像素的位置記憶如此結束後,實際使用影像取得 裝置來攝影情況下,如圖8 ( b )的流程所示,在將對應影像 的光輸入影像輸入裝置1狀態下,各座標(X,y )的像素的 電荷量Q ( X,y )自影像輸入裝置1輸入信號處理裝置2,轉 換成各信號強度 S ’ ( X,y )(步驟 2 1 1 ),此各信號強度 S’ ( X,y )經由暫時記憶裝置4輸入信號處理裝置5。信號 19 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 處理裝置5僅就對應記憶於缺陷位置資訊記憶裝置6的缺 陷座標的像素,求出來自其周邊像素的信號的平均值 Save,轉換成其平均值Save乘以係數C的值(步驟212、 214、215),非缺陷座標者的信號強度為3(又,乂)=3’(父, y )(步驟2 1 2、2 1 3 ),輸入影像顯示裝置或記憶裝置3。可 如此彌補、消除影像缺陷。 由於如圖7所示,平常自然界的信號並無僅一像素相較 於其周邊特別大的情形或小的情形,故在對所記憶缺陷位 置給予其周邊的平均信號情況下,保持與其周邊間的連續 性。因此,不會呈現影像上的缺陷。 藉此,可利用僅針對特定缺陷像素的信號處理彌補缺 陷,相較於如第 1 實施形態所示針對所有像素的信號處 理,即使在信號處理裝置的計算能力不充分情況下,仍可 實現,可實現處理速度的提高。進一步不但可彌補在製造 上於影像輸入裝置1中發生的缺陷,亦可彌補製造後發生 的缺陷,例如於裝入機器後,因施加電壓歷時劣化等而發 生的結晶缺陷等所造成的缺陷。 且顯然就用來求出平均值Save的周邊像素數η而言, 可僅使用來自η = 1,亦即相鄰像素,亦可使用來自η =複 數的多數像素的信號。 (第3實施形態) 圖1 0顯示本發明第3實施形態的影像取得裝置的影像 信號的信號處理流程。影像取得裝置的構造與圖9相同。 又,此第3實施形態所用係數Β、D與第1實施形態所用係 20 312ΧΡ/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 數B、D相同。 如圖1 Ο ( a )所示,首先,此實施形態於圖9的影像取得 裝置中,在對所有像素輸入均一的光信號狀態下,作動影 像輸入裝置1,辨識缺陷像素。於此狀態下,自各座標(X, y )的像素輸入均一光狀態的電荷Q ( X,y )自影像輸入裝置1 輸入進行A ./ D轉換等的信號處理裝置2,轉換成各信號強 度S ’ ( X,y )(步驟3 0 1 ),此各信號強度S ’ ( X,y )經由暫 時記憶裝置4輸入信號處理裝置5。於此情況下,自無缺 陷的像素輸出的影像強度信號為在一定強度以上,加上製 造上的誤差或雜訊位準的值。 亦即,正常像素的信號強度相較於圖9的灰塵21所造 成的小信號強度,變得十分大。因此,發生灰塵21等所造 成小信號強度的像素的信號強度甚至成為較其周邊像素的 信號強度最小值S m i η更小的值,可辨識係缺陷。因此,藉 由對各像素,比較其周邊像素的信號強度最小值Sm i η乘以 係數Β的值,可容易且正確辨識缺陷。於如此辨識後,將 缺陷像素的座標資訊記憶於缺陷位置資訊記憶裝置 6。因 此,於信號處理裝置5内,對各像素求出其周邊像素信號 的最小值S m i η (步驟3 0 2 ),比較此最小值S m i η乘以係數Β 的值與此像素的信號強度S ’ ( X,y )(步驟3 0 3 ),在S ’ ( X, y ) < S m i η X B情況下,辨識此像素為缺陷,將其座標資訊 記憶於缺陷位置資訊記憶裝置6 (步驟3 0 5 )。Β值係對雜訊 的裕度,通常Β = 1。然而,於雜訊大情況下,可Β > 1。將 如此辨識的缺陷像素的座標資訊記憶於缺陷位置資訊記憶 21 312ΧΡ/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 裝置6。 於缺陷像素的‘位置記憶如此結束後,實際使用影像取得 裝置來攝影情況下,如圖 1 0 ( b )的流程所示,在將對應影 像的光輸入影像輸入裝置1狀態下,各座標(X,y)的像素 的電荷量Q ( X,y)自影像輸入裝置1輸入信號處理裝置2, 轉換成各信號強度 S ’ ( X,y )(步驟 3 1 1 ),此各信號強度 S’ ( X,y )經由暫時記憶裝置4輸入信號處理裝置5。信號 處理裝置5僅就對應記憶於缺陷位置資訊記憶裝置6的缺 陷座標的像素,求出來自其周邊像素的信號的平均值 Save,轉換成其平均值S a v e乘以係數D的值(步驟3 1 2、 3 1 4、3 1 5 ),非缺陷座標者的信號強度為S ( X,y ) = S ’ ( X, y )(步驟3 1 2、3 1 3 ),輸入影像顯示裝置或記憶裝置3。可 如此彌補、消除影像缺陷。 由於如圖7所示,平常自然界的信號並無僅一像素相較 於其周邊特別大的情形或小的情形,故在對所記憶缺陷位 置給予其周邊的平均信號情況下,保持與其周邊間的連續 性。因此,不會呈現影像上的缺陷。 藉此,不僅可彌補在製造上於影像輸入裝置1中發生的 缺陷,亦可彌補製造後發生的缺陷,例如於裝入機器後附 着的灰塵等所造成的缺陷。 且顯然就用來求出平均值Save的周邊像素數η而言, 可僅使用來自η = 1,亦即相鄰像素,亦可使用來自η =複 數的多數像素的信號。 (第4實施形態) 22 312ΧΡ/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 圖1 1顯示本發明第4實施形態的影像取得裝置的影像 信號的信號處理流程。影像取得裝置的構造與圖9相同。 又,此第4實施形態所用係數A、C與第1實施形態所用係 數A、C相同。 如圖1 1 ( a )所示,首先,此實施形態於圖9的影像取得 裝置中,在無光信號輸入狀態下,作動影像輸入裝置1, 進行缺陷像素辨識。於此狀態下,無光線自各座標(X,y) 的像素輸入狀態的電荷Q (X,y)依序自影像輸入裝置1輸 入進行A / D轉換等的信號處理裝置2,轉換成各信號強度 S ’ ( X,y )(步驟4 0 1 ),此各信號強度S ’ ( X,y )依序輸入 信號處理裝置 5。於此情況下,自無缺陷的像素輸出的影 像強度信號全部在製造上的誤差或雜訊位準以下。 亦即,來自正常像素的信號強度相較於圖9的結晶缺陷 2 2所造成的大信號強度,變得十分小。因此,結晶缺陷2 2 等所造成大信號強度的像素的信號強度甚至成為較此缺陷 像素以前輸入的像素的信號強度最大值Smax更大的值,可 容易且正確辨識係缺陷。因此,藉由於信號處理裝置5中 對各像素,求出此像素以前輸入的N ( N為自然數)個像素的 信號強度的最大值 S m a X (步驟 4 0 2 ),比較此最大值 S m a X 乘以係數 A 的值與此像素的信號強度 S ’ ( X,y)(步驟 403),在S’ (X,y)>Smax X A情況下,辨識此像素為缺 陷,將其座標資訊記憶於缺陷位置資訊記憶裝置 6 (步驟 4 0 5 )。 於缺陷像素的位置記憶如此結束後,實際使用影像取得 23 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 裝置來攝影情況下,如圖 1 1 ( b )的流程所示,在將對應影 像的光輸入影像輸入裝置1狀態下,各座標(X,y )的像素 的電荷量Q ( X,y )自影像依序輸入裝置1輸入信號處理裝 置2,轉換成各信號強度S ’ ( X,y )(步驟4 1 1 ),此各信號 強度S ’ ( X,y )依序輸入信號處理裝置5。信號處理裝置5 僅就對應記憶於缺陷位置資訊記憶裝置6的缺陷座標的像 素,求出來自此像素以前輸入的N ( N為自然數)個像素的信 號的平均值Save,轉換成其平均值Save乘以係數C的值 (步驟4 1 2、4 1 4、4 1 5 ),非缺陷座標者的信號強度為S ( X, y ) = S ’ ( X,y )(步驟 4 1 2、4 1 3 ),輸入影像顯示裝置或記 憶裝置3。可如此彌補、消除影像缺陷。 由於如圖7所示,平常自然界的信號並無僅一像素相較 於其周邊特別大的情形或小的情形,故在對所記憶缺陷位 置給予其周邊的平均信號情況下,保持與其周邊間的連續 性。因此,不會呈現影像上的缺陷。於一般影像處理中, 為保持信號的連續性,C = 1很適當。然而,於重視影像的 對比情況下,可藉由C > 1,強調影像的邊緣。 藉此,不僅可彌補在製造上於影像輸入裝置1中發生的 缺陷,亦可彌補製造後發生的缺陷,例如於裝入機器後附 着的灰塵所造成的缺陷,其可藉簡單構造來實現。 且顯然就用來求出平均值Save的周邊像素數N而言, 可僅使用來自N = 1,亦即相鄰(前不久輸入)像素,亦可使 用來自N =複數的多數像素的信號。於N =複數情況下,例 如於N = 1 0情況下,無法針對N < 1 0的像素,計算1 0個像 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 24 1286839 素信號。於此情況下,可使用前不久的像素信號,可計算 至此為止的所有像素的平均值,亦可使用其他方法來計算。 (第5實施形態) 圖1 2顯示本發明第5實施形態的影像取得裝置的影像 信號的信號處理-流程。影像取得裝置的構造與圖9相同。 又,此第5實施形態所用係數B、D與第1實施形態所用係 數B、D相同。 如圖1 2 ( a )所示·,首先,此實施形態於圖9的影像取得 裝置中,在輸入均一的光信號狀態下,作動影像輸入裝置 1,辨識缺陷像素。於此狀態下,自各座標(X,y )的像素輸 入均一光狀態的電荷Q ( X,y )自影像輸入裝置1依序輸入 進行 A / D轉換等的信號處理裝置 2,轉換成各信號強度 S ’ ( X,y )(步驟5 0 1 ),此各信號強度S ’ ( X,y )依序輸入 信號處理裝置 5。於此情況下,影像強度信號在一定強度 以上,加上製造上的誤差或雜訊位準的值。 亦即,正常像素的信號強度相較於圖9的灰塵2 1所造 成的小信號強度,變得十分大。因此,發生灰塵21等所造 成小信號強度的像素的信號強度甚至成為較此缺陷像素以 前輸入的像素的信號強度最小值S m i η更小的值,可辨識係 缺陷。因此,藉由對各像素,比較此像素以前輸入的 N (Ν 為自然數)個像素的信號強度最小值 S n] i η乘以係數 Β的 值,可容易且正確辨識缺陷。在如此辨識之後,將缺陷像 素的座標資訊記憶於缺陷位置資訊記憶裝置 6。因此,於 信號處理裝置5内,對各像素,求出此像素以前輸入的N ( Ν 25 312ΧΡ/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 為自然數)個像素的信號強度最小值S m i η (步驟5 Ο 2 ),比較 此最小值 S m i η 乘以係數 B 的值與此像素的信號強度 S’ (X,y)(步驟 503),在 S’ (X,y)<Smin X B 情況下, 辨識此像素為缺陷,將其座標資訊記憶於缺陷位置資訊記 憶裝置6 (步驟5 0 5 )。B值係對雜訊的裕度,通常B = 1。然 而,於雜訊大情況下,可B > 1。將如此辨識的缺陷像素的 座標資訊記憶於缺陷位置資訊記憶裝置6。 於缺陷像素的位置記憶如此結束後,實際使用影像取得 裝置來攝影情況下,如圖 1 2 ( b )的流程所示,在將對應影 像的光輸入影像輸入裝置1狀態下,各座標(X,y)的像素 的電荷量Q (X,y )自影像輸入裝置1依序輸入信號處理裝 置2,轉換成各信號強度S ’ ( X,y)(步驟5 1 1 ),此各信號 強度S ’ ( X,y )依序輸入信號處理裝置5。信號處理裝置5 僅就對應記憶於缺陷位置資訊記憶裝置6的缺陷座標的像 素,求出來自此像素以前輸入的N ( N為自然數)個像素的信 號的平均值S a v e,轉換成其平均值S a v e乘以係數D的值 (步驟5 1 2、5 1 4、5 1 5 ),非缺陷座標者的信號強度為S ( X, y ) = S ’ ( X,y )(步驟 5 1 2、5 1 3 ),輸入影像顯示裝置或記 憶裝置3。可如此彌補、消除影像缺陷。 由於如圖7所示,平常自然界的信號並無僅一像素相較 於其周邊特別大的情形或小的情形,故在對所記憶缺陷位 置給予其周邊的平均信號情況下,保持與其周邊間的連續 性。因此,不會出現影像上的缺陷,於一般影像處理中, 為保持信號的連續性,D = 1很適當。然而,於重視影像的 312XP/發明說明書(補件)/94-03/9313 7875 26 1286839 對比情況下,可藉由D > 1,強調影像的邊緣。 藉此,不僅可彌補在製造上於影像輸入裝置1中發生的 缺陷,亦可彌補製造後發生的缺陷,例如於裝入機器後附 着的灰塵等所造成的缺陷,可藉簡單構造來實現缺陷消除。 且顯然就用來求出平均值Save的周邊像素數N而言, 可僅使用來自N = 1,亦即相鄰(前不久輸入)像素,亦可使 用來自N =複數的多數像素的信號。 於以上說明雖僅記載在第2、第4實施形態下無光信號 情形、在第3、第5實施形態下入射均一光信號情形的缺 陷像素辨識方法,不過,由於可藉由組合此二者的缺陷像 素辨識方法,將黑缺陷及白缺陷二者記憶於缺陷位置資訊 記憶裝置6,故當然可彌補二者。 又,藉由第 2〜第5實施形態及其組合的缺陷像素辨識 方法於影像取得裝置的電源通電時或動作時、停歇時的任 意時刻進行,可對在影像輸入裝置的使用中或保管中發生 的缺陷加以彌補。於此情況下,藉由附加在電源通電時自 動進行缺陷像素辨識的功能,機器使用者當然可無意識地 達到對缺陷的保證。 又,第1〜第5實施形態雖然顯示比較像素信號,針對 物理缺陷像素位置的彌補方法,不過,於顏色資訊情況下, 藉由對紅、綠、藍的顏色信號,比較有關相同顏色信號的 缺陷像素信號與其周邊的像素信號,可進行精度更高的缺 陷保證。 又,自然界的影像資訊使用紅、綠、藍的顏色信號作為 27 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 一像素來表現。由於若僅進行各顏色信號的缺陷保證,藉 由紅、綠、藍的顏色信號組合實現的顏色資訊的平衡即變 化,故有不自然的色調發生,因此,可藉由以此紅、綠、 藍的顏色信號的組合信號作為一像素信號,進行影像信號 強度的比較,相較於僅對每一相同顏色比較的情形,可進 行自然的缺陷彌補。於此情況下,對於各顏色信號實施上 述信號處理,對於需進行缺陷保證的像素,以及對於作為 一個顏色資訊之其它顏色信號的像素,皆可進行相且信號 處理而實現。 且於上述第1〜第 5實施形態中,雖就數位式構成信號 處理系統的情形加以說明,不過,不限於此,亦同樣適用 於類比式構成的情形。本發明不限於上述實施形態,在不 悖離本發明要旨下,當然可為其他種種構造。 本發明可進行針對物理缺陷像素的像素信號的彌補,其 對CCD攝影機等有用。 【圖式簡單說明】 圖1係本發明第1實施形態的影像信號的信號處理流程 圖。 圖2係顯示本發明第1實施形態的影像取得裝置的内部 構造及影像信號電荷的流動的示意圖。 圖3係顯示本發明第1實施形態的影像取得裝置的内部 構造及影像信號電荷的流動的示意圖。 圖4係顯示本發明第1實施形態的影像取得裝置的内部 構造及影像信號電荷的流動的示意圖。 28 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 圖5係顯示本發明第1實施形態的影像取得裝置的内部 構造及影像信號電荷的流動的示意圖。 圖6係顯示本發明第1實施形態的影像取得裝置的内部 構造及影像信號電荷的流動的示意圖。 圖7 ( a )、( b )係顯示影像信號強度的一次元分布的示意 圖。 圖8 ( a )、( b )係本發明第2實施形態的影像信號的信號 處理流程圖。 圖9係顯示本發明第2至第5實施形態的影像取得裝置 的内部構造及影像信號電荷的流動的示意圖。 圖1 0 ( a )、( b )係本發明第 3實施形態的影像信號的信 號處理流程圖。 圖1 1 ( a )、( b )係本發明第 4實施形態的影像信號的信 號處理流程圖。 圖1 2 ( a )、( b )係本發明第5實施形態的影像信號的信 號處理流程圖。 圖1 3係顯示習知影像取得裝置的内部構造及影像信號 電荷的流動的示意圖。 圖1 4係顯示習知影像取得裝置的内部構造及影像信號 電荷的流動的示意圖。 圖1 5係顯示習知影像取得裝置的内部構造及影像信號 電荷的流動的示意圖。 圖1 6係顯示習知影像取得裝置的内部構造及影像信號 電何的流動的不意圖。 29 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 圖1 7係顯示習知影像取得裝置的内部構造及影像信號 電荷的流動的示意圖。 圖1 8 ( a )、( b )係具有缺陷像素情形的顯示影像圖。 【主要元件符號說明】 1 2 影像輸入裝置 影像信號處理裝置 3 顯示裝置或記憶裝置 4 暫時記憶裝置 5 影像信號處理裝置 11 光電二極體 12 垂直方向電荷轉送區域 13 水平方向電荷轉送區域 2 1 灰塵 22 結晶缺陷 Q ( X,y ) 電荷量 Save 平均值 S m a x 最大值 S m i n 最小值 S ( x,y ) 第2信號強度 S’ (x,y ) 第1信號強度 (x,y ) 座標 30 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875
Claims (1)
1286839 十、申請專利範圍: 1 . 一種信號處理方法,在對依序輸出自沿水平 直方向排列複數個光電轉換入射光的像素的影像 的像素的影像信號加以處理,求出影像信號強度 包含: 第1步驟,其求出排列於任一像素周邊的複數 像信號強度的最大值、最小值及平均值;以及 第2步驟,其在上述任一像素的影像信號強度 最大值乘以第1係數的值情況下,或小於上述最 第2係數的值情況下,根據上述平均值校正上述 的影像信號強度。 2 .如申請專利範圍第1項之信號處理方法,其 第2步驟可藉由以上述平均值乘以第3係數的值 像素的影像信號強度來進行校正。 3. —種信號處理方法,於對依序輸出自沿水平 直方向排列複數個光電轉換入射光的像素的影像 的像素的影像信號加以處理,求出影像信號強度 包含: 第1步驟,其成光信號實質上未輸入上述影像 的狀態,求出排列於任一像素周邊的複數像素的 強度的最大值; 第2步驟,其在光信號實質上未輸入上述影像 的狀態中上述任一像素的影像信號強度大於上述 以第1係數的值情況下,記憶像素排列中上述任 312XP/發明說明截補件)/94-03/93137875 方向及垂 輸入裝置 情況下, 像素的影 大於上述 小值乘以 任一像素 中,上述 替換任一 方向及垂 輸入裝置 情況下, 輸入裝置 影像信號 輸入裝置 最大值乘 一像素的 31 1286839 位置資訊; 第 3步驟,其在將影像光信號輸入上述影像輸入 時,求出排列於位置資訊記憶於上述第2步驟的上述 像素周邊的複數像素的影像信號強度平均值;以及 第4步驟,其將在影像光信號輸入上述影像輸入裝 求出的影像信號強度中位置資訊記憶於上述第2步驟 述任一像素的影像信號強度,換成於上述第3步驟求 上述平均值乘以第2係數的值。 4. 一種信號處理方法,於對依序輸出自沿水平方向 直方向排列複數個光電轉換入射光的像素的影像輸入 的像素的影像信號加以處理,求出影像信號強度情況 包含: 第1步驟,其成均一光信號實質上輸入上述影像輸 置的狀態,求出排列於任一像素周邊的複數像素的影 號強度的最小值; 第2步驟,其在均一光信號實質上輸入上述影像輸 置的狀態中上述任一像素的影像信號強度小於上述最 乘以第1係數的值情況下,記憶像素排列中上述任一 的位置資訊; 第3步驟,其於影像光信號輸入上述影像輸入裝置 求出排列於位置資訊記憶於上述第2步驟的上述任一 周邊的複數像素的影像信號強度平均值;以及 第4步驟,其將在影像光信號輸入上述影像輸入裝 求出的影像信號強度中位置資訊記憶於上述第2步驟 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 裝置 任一 置時 的上 出的 及垂 裝置 下, 入裝 像信 入裝 小值 像素 時, 像素 置時 的上 32 1286839 述任一像素的影像信號強度換成於上述第 述平均值乘以第2係數的值。 5 .如申請專利範圍第3項之信號處理方 於上述第1步驟求出影像信號強度最大值 周邊的複數像素以及排列於上述第3步驟 度平均值的上述任一像素周邊的複數像素 自上述影像輸入裝置輸出的順序,在上述 的像素。 6 .如申請專利範圍第4項之信號處理方 於上述第1步驟求出影像信號強度最小值 周邊的複數像素以及排列於上述第3步驟 度平均值的上述任一像素周邊的複數像素 自上述影像輸入裝置輸出的順序,在上述 的像素。 7. 如申請專利範圍第3項之信號處理方 述影像輸入裝置的電源通電時進行上述第 2步驟。 8. 如申請專利範圍第4項之信號處理方 述影像輸入裝置的電源通電時進行上述第 2步驟。 9. 如申請專利範圍第1至 6項中任一 法,其中,上述影像信號強度可為至少一種 1 0.如申請專利範圍第1至6項中任一 法,其中,上述影像信號強度可為複數顏色 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 3步驟求出的上 法,其中,排列 的上述任一像素 求出影像信號強 可為依影像信號 任一像素前輸出 法,其中,排列 的上述任一像素 求出影像信號強 可為依影像信號 任一像素前輸出 法,其中,在上 1步驟及上述第 法,其中,在上 1步驟及上述第 項之信號處理方 顏色信號強度。 項之信號處理方 信號強度的和。 33 1286839 π. —種影像取得裝置,具備:影像輸入裝置,其沿水 平方向及垂直方向排列複數個光電轉換入射光的像素;信 號處理裝置,其對依序輸出自上述影像輸入裝置的像素的 影像信號加以處理,求出影像信號強度;以及影像顯示裝 置或記憶裝置,其輸入藉上述信號處理裝置求出的影像信 號強度; 上述信號處理裝置具有求出排列於任一像素周邊的複 數像素的影像信號強度的最大值、最小值及平均值,在上 述任一像素的影像信號強度大於上述最大值乘以第1係數 的值情況下,或小於上述最小值乘以第 2 係數的值情況 下,根據上述平均值校正上述任一像素的影像信號強度的 功能。 1 2. —種影像取得裝置,具備:影像輸入裝置,其沿水 平方向及垂直方向排列複數個光電轉換入射光的像素;位 置資訊記憶裝置,其記憶像素於上述影像輸入裝置中的位 置資訊;信號處理裝置,其對依序輸出自上述影像輸入裝 置的像素的影像信號加以處理,求出影像信號強度;以及 影像顯示裝置或記憶裝置,其輸入藉上述信號處理裝置求 出的影像信號強度; 上述信號處理裝置具有成光信號實質上不輸入影像輸 入裝置的狀態,求出排列於任一像素周邊的複數像素的影 像信號強度的最大值,在上述任一像素的影像信號強度大 於上述最大值乘以第1係數的值情況下,將像素排列中上 述任一像素的位置資訊記憶於上述位置資訊記憶裝置的功 34 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93 ] 37875 1286839 能;以及 在將影像光信號輸入上述影像輸入裝置時,求出排列於 位置資訊記憶於上述位置資訊記憶裝置的上述任一像素周 邊的複數像素的影像信號強度平均值,將在影像光信號輸 入上述影像輸入裝置時求出的影像信號強度中位置資訊記 憶於上述位置資訊記憶裝置的上述任一像素的影像信號強 度換成上述平均值乘以第2係數的值的功能。 1 3 . —種影像取得裝置,具備:影像輸入裝置,其沿水 平方向及垂直方向排列複數個光電轉換入射光的像素;位 置資訊記憶裝置,其記憶像素於上述影像輸入裝置中的位 置資訊;信號處理裝置,其對依序輸出自上述影像輸入裝 置的像素的影像信號加以處理,求出影像信號強度;以及 影像顯示裝置或記憶裝置,其輸入藉上述信號處理裝置求 出的影像信號強度; 上述信號處理裝置具有成均一光信號實質上輸入上述 影像輸入裝置的狀態,求出排列於上述任一像素周邊的複 數像素的影像信號強度的最小值,在上述任一像素的影像 信號強度小於上述最小值乘以第1係數的值情況下,將像 素排列中上述任一像素的位置資訊記憶於上述位置資訊記 憶裝置的功能,以及 在將影像光信號輸入上述影像輸入裝置時,求出排列於 位置資訊記憶於上述位置資訊記憶裝置的上述任一像素周 邊的複數像素的影像信號強度平均值,將在影像光信號輸 入上述影像輸入裝置時求出的影像信號強度中位置資訊記 35 312XP/發明說明書(補件)/94-03/93137875 1286839 憶於上述位置資訊記憶裝置的上述任一像素的影像信號強 度換成上述平均值乘以第2係數的值的功能。
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