TWI284347B - Apparatus for predicting life of rotary machine, equipment using the same, method for predicting life and determining repair timing of the same - Google Patents

Apparatus for predicting life of rotary machine, equipment using the same, method for predicting life and determining repair timing of the same Download PDF

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TWI284347B
TWI284347B TW091105327A TW91105327A TWI284347B TW I284347 B TWI284347 B TW I284347B TW 091105327 A TW091105327 A TW 091105327A TW 91105327 A TW91105327 A TW 91105327A TW I284347 B TWI284347 B TW I284347B
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dry pump
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Yukihiro Ushiku
Tsunetoshi Arikado
Shuichi Samata
Takashi Nakao
Yuichi Mikata
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Description

1284347 A7
相關申請案交互參考 申凊編號 ’其整個内 此申請案係基於並主張先前日本專利 2001-085736之優先權,其於2〇〇1年3月23日立案 容在此引用做為參考。 發明背景 1·發明領域 本發明關於一種旋轉機器壽命預期預測方法,其量 旋轉機器的壽命預期,及一種旋轉機器維修時間決定方
法,其基於一旋轉機器的該壽命預期來決定其最 Z 維修時間。 田的 2 ·相關技藝說明 失效診斷由於有效率的半導體裝置製造之原因而曰漸重 要。特別是當朝向系統LS][的大型項目/小量製造的趨勢日 漸成長時,一有效率及高度可適應的半導體裝置製造方法 已變為必要。其有可能使用一小型生產線來有效率地製造 半導體裝置。但是,如果該生產線僅是減小,.製造設備的 容量利用則會下降。因此,相較於大型生產線,其會存在 例如投資效率降低的問題。為了修正此狀況,有一種方法 是在一個半導體製造設備上執行複數個製程。舉例而言, 在一低壓化學氣相沉積(LPCVD)系統中,引入的反應氣體 及反應·產物根據該薄膜沉積的參2而不同。這些是在使用 一真空泵來由該LPCVD室抽出。因此,該薄膜沉積需求不 同,而在該真空泵内反應產物的形成狀況係根據該製程的 形式而不同。因此,該真空泵的壽命預期即受到製程歷史 -4 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1284347
的影響。 、、通常’在運作期間監測電流及溫度等的感應器係附加到 孩真空泵。藉此,一作業者可觀察到是否一真空泵有誤動 作,其係直接觀察它們或利用繪製圖形的資訊。但是,因 為根據不同的處理條件,該真空泵的電流及溫度會改變, 其非常困難來由這些數值量測該真空泵的壽命預期,其會 隨每個處ί里而改變。 〃曰
如果真芝泵必須在LPCVD的薄膜沉積期間進行異常的關 機,則正在處理的批量則成為有缺陷。再者,由於殘餘的 反應氣體所造成的微小灰塵,使得額外地維護該LpcvD系 ,成為必要,其係使用於氣體引入或真空抽出的處理室及 管路内。實施這種額外維護造成該半導體裝置的製 大幅降低。 手 如果定期維護的排程具有一安全裕度,做為在該製程期 間防止這種突然的異常關機的基準,維護該真线的頻率 將會非常龐b此不僅會增加維護成本,其也會由於改變 該真空泵而降低該LPCVD系統的容量利用率,而造成該二 導體裝置的製造效率大幅降低。為了對於複數個處理來共 同使用半導體製造設備,其需要一有效率的小型生產線, 其有需要準確地診斷真空泵壽命預期,並在沒有浪時門 之下來運作該真空泵。 先前已經提出一些方法來診·斷真空泵壽命預期。在日本 專利申請案公開文獻編號2000/283056中,其揭示了使用複 數個物理量,例如電流量,溫度或該真空泵的振動來預^ -5 -
1284347 A7 B7 五、發明説明(3 ) 真二泵失效。此外,其已揭示出該半導體製造設備的運作 *、件例如運作時間相對於待機時間,其必須被考慮來預 測真2系失效。但是,其不可能來包含真空泵壽命預期的 歷史結果,其中對於複數個處理使用一共用的半導體製造 P又備。其可〉王意到,曰本專利申請公開文獻編號2000-283056 々在於觀祭一真空系的異常,而並非預測壽命預期。 因此’有需要發展用來預測真空泵壽命預期的裝置及方法。 發明概要 一種用以預測旋轉機器之壽命預期之裝置,其包含:一 配置以取得一旋轉機器的負載狀況之負載處方輸入模組; 一配置以取得一旋轉機器的特性化特徵資料之特性化特徵 輸入模組;及一用以計算該旋轉機器壽命預期的壽命預期 預測模組,其符合於該負載狀況及該特性化特徵資料。 一種使用一旋轉機器的製造設備,其包含:一配置於一 製造處理的製程控制器;一配置於處理該製程的負載之旋 轉機咨;及一配置以計算該旋轉機器的壽命預期之壽命預 期預測控制器,其符合由該製程控制器所得到的該製程處 才’及由該旋轉機器所得到的特性化特徵資料。 其提供一種方法,其包含:讀取一旋轉機器的負載條件 之負載處方;藉由比較該負載處方與該製程的既存負載處 方來決足該負載條件是否有改雙;如果該負載條件沒有改 變,則使用一既存的決定基準.,而如果該負載條件已經改 變而非該既存的決定基準,則讀入並使用包含該製程條件 的一決定基準;藉由讀入偵測該旋轉機器的特性化特徵資 -6 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐)
裝 -訂
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料來處理時間序列資料 該旋轉機器的壽命預期 定基準。 其係對應於該決定基準;及計算 其符合於該時間序列資料及該決 、/、才疋供#方法’其包含:讀取_旋轉機器的負載條件 之負載專方;ϋ由比較該負載處方與該製程的既存負載處 万來決疋涊負載條件是否有改變;如果該負載條件沒有改 變,則使用-既存的決定基準,而如果該負載條件已經改 變而非:既存的決定基準,則讀入並使用包含該製程條件 的、決疋基準,藉由讀入偵測該旋轉機器的偵測特性化特 试二料來處理時間序列資料,其係對應於該決定基準;及 计算孩旋轉機器的壽命預期,其符合於該時間序列資料及 孩決定基準由一半導體製造模擬器來找出在一時段中 孩製程的待機時間,直到到達該計算的壽命預期;並決定 -待機時間,從該找出的待機時間中,為最少影響該製程 的-待機時間,或-包含該待機時間的時間來成為該旋轉 機器的更換或維修時間。 圖式簡單說明 圖1所示為根據本發明該第一具體實施例的一半導體製 造設備之結構的架構方塊圖; 圖2所示為根據本發明該第一具體實施例之每個包含預 測壽命預期之裝置.之控制器的區塊的結構之架構方塊 圖; 圖3所示為根據本發明該第一具體實施例,在製程運作期 間一乾式泵的隨時間改變電流之一個範例; 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210 X 297公釐) 1284347 A7 B7 五、發明説明(5 ) 圖4所7F為根據本發明該第一具體實施例,在製程運作期 間一乾式栗的隨時間改變電流之另一個範例; 圖5所示為根據本發明該第一具體實施例中,預測乾式泵 壽命預期的方法之流程圖; 圖6所示為根據本發明該第一具體實施例之修正的範例 來預測壽命預期之裝置的結構之方塊圖; 圖7所示為根據本發明該第二具體實施例之乾式泵直到 失效的隨時間改變電流之範例; 圖8所tf為圖6所示之隨時間改變電流之自動協方差分 析;
圖9所示為根據本發明該第三具體實施例之預測乾式泵 壽命預期之方法的流程圖; 圖10所示為根據本發明該第四具體實施例之預測乾式泵 壽命預期之方法的流程圖; 圖11所示為根據本發明該第五具體實施例之決定乾式泵 維修時間方法的一半導體製造系統之結構化範例之方塊 圖;及 圖12所7F為根據本發明該第五具體實施例之決定乾式泵 維修時間方法的流程圖。 發明詳細說明 本發明的不同具體實施例將^ —幸所附圖面來說明。其要 >王意到’相同或類似的參考編號係應用到所有圖面中相同 或類似部份及組件’而該相同或類似部份及組件的說明將 會省难或簡化。 -8 - 本紙張尺度適財SS家標準(CNS) A4祕(2躺297公爱) 1284347 A7 ___B7___ 五、發明説明(6~) "" (第一具體實施例) 如圖1所示,根據本發明使用一 LPCVD系統做為一半導體 製造設備,其包含一處理室1,其具有一氣密結構而能夠抽 真空,並在該處理室1的抽氣側上連接到一乾式泵5,其係 做為一真空泵,藉由一真空管路4通過一門瓣2及一閘閥3。 一泵控制器12藉由輸出泵控制信號23在該乾式泵5中控制 該運作,圭取得該乾式泵5的泵運作資訊24。複數個氣體管 路連接到該處理室1的上游側,且此氣體泵分別連接到大量 流動控制器7,8及9。該大量流動控制器7,8及9係連接到一 氣體供應系統6,其供應預定的氣體來引入到該處理室1。 一製程控制器11執行例如該處理室丨内氣體流動的壓力,溫 度及流量之控制及驗證,以符合製程控制信號2丨及製程資 訊22。一壽命預期預測控制器13係連接到該製程控制器^ 及該泵控制器I2。該乾式泵5的壽命預期係由讀取該處理室 1的製程條件來預測,例如一製程處方25,其包含來自該製 程控制器11的像是氣體種類,氣體流速,壓力及基板溫度 之製程條件,及特性化特徵資料26,其包含例如該乾式泵5 的特性化特徵量,例如來在該泵控制器12的電流,溫度及 振動。 每個控制器包含如圖2所示的功能方塊。該製程控制器η 具有一氣體供應控制單元31 ’十$力控制單元32,一溫度 控制單元33,而該泵控制器12具有一泵控制單元35, 一電流 /電壓監視器36, 一溫度監視器37’ 一振動監視器38和一壓: 監視器39。該壽命預期預測控制器13具有_製程條件處方輸 -9 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 1284347 A7 _____________ B7 五、發明説明(7 ) 入,、、且41 特性化特徵資料輸入模組42,一壽命預期預 測模組43 , 一輸出模組44 ,及一儲存單元45。該壽命預期 預測模組43執行該乾式泵5的壽命預測計算,其係藉由自該 儲存單元45讀取對應於該製程處方25的一決定基準,並統 計地處理該乾式泵5的該特性化特徵資料26。該製程處方25 及孩特性化特徵資料26係分別藉由該製程條件處方輸入模 組41及該特性化特徵資料輸入模組42來讀取。該輸出模組44 藉由該壽命預期預測模組43輸出計算的泵壽命預期資訊28 到一词服器15。此外,如果其很明顯地該乾式泵5係在失效 邊緣’該輸出模組警告並分別傳送緊急中斷信號29&及29b 到该製程控制器11及該泵控制器12。該儲存單元45儲存該 製程處方25的製程資訊22,一相對應壽命預期決定基準, 以及一計算的預期壽命預測。 包含有這種LPCVD系統,不同的半導體製造設備係經由 一區域網路(LAN) 14整合成一電腦整合製造系統(CIM),並 根據該CIM為主的伺服器(或主機電腦)15來管理。 該壽命預測預期控制器13可經由該LAN 14傳送壽命預期 結果到該CIM為主的伺服器15做為系壽命預期資訊28。此 處,除了該乾式泵壽命預期資訊28,該伺服器15可由該製 程控制器11讀入薄膜沉積製程條件做為批量處理資訊27。 此外,該壽命預期預測控制器1_3可在該失效之前立即傳送 該緊急中斷信號29a,29b到該·製程控制器11及該泵控制器 12 ° ' 該壽命預期預測控制器13,其回應於由該製程控制器11 -10 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1284347 A7 B7 五、發明説明(8 ) 所得到的該製程條件’其可驗證該乾式栗5的運作條件因 此能夠在該製程運作期間執行計算來預測該乾式泵5的壽 »p預期。此外,累積在孩乾式栗5内部的沉激材料量可藉由 參考該批量處理資訊27來估計,其係保存在該祠服器15 中,而該壽命預期決定基準數值可經由該製程歷史來更 新。再者,該壽命預期預測也可用來積極地利用製程條件 中的差異',如下所述。 使用圖i所示的LPCVD系統,其中沉積一氮化矽(si3N4) 膜一氯矽纟元(SlH2Ci2).氣體及氨氣(nh3),其經由大量流動 控制器7及8,在大致為數個100 Pa的低壓條件下,分別引 入到該處理室1中。在該處理室丨中,一矽(Si)基板被加熱到 大約650。(:,並透過該二氯矽烷及氨氣的化學反應,一氮化 矽膜即沉積在該矽基板上。除了產生該氮化矽膜,此反應 產生了氯化胺(NHKl)氣體及氫氣的副產品。一反應方程式 可表不如下: 3 SiH2Cl2 + 10 NH3 = Si3H4 + 6NH4C1 + 6H2 (1) 因為氫氣為一氣體,其可輕易地由該乾式泵5排除。另一方 面’因為在該處理室1内的該矽基板之溫度大約為65〇aC, 且其在形成期間大約是在數個1〇〇 pa的低壓之下,該氯化 胺也是為氣體相。一般而言,該LPCVD系統具有該門瓣2 用來收集置於該處理室1及該泵5之間的固體反應副產 品材料。藉由此門瓣2,其不可能在低壓條件下完全收集來 自該反應的副產品材料。因此-,未被收集到的由該門瓣2 逸出的反應副產品即會到達該乾式泵5。同時,該未反應的 -11 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 1284347 A7 B7 五、發明説明(9 ) 氣體及該副產品材料即被冷卻。在該乾式泵5中的壓力由於 該氣體的壓縮突然由該低壓狀況增加到正常大氣壓力。當 該副產品氯化胺在高溫及低壓之下為一氣體時,在其冷卻 及壓力增加時,即會固化。在該乾式泵5内,因為該抽出的 氣體受到重複地壓縮,整個抽出氣體的冷卻氣態氯化胺開 始固化,並在該乾式泵5内沉澱。有一些狀況中該沉澱的材 料即黏結Ϊ1累積,且有一些狀況中該沉澱的材料在其已經 沉澱某個量之後即會落下,其係根據在該乾式泵5内該氯化 胺沉澱的地方。此外,在該泵内的沉澱,特別是在為一旋 轉體的轉子與其外殼之間,造成空隙·減少及阻塞。在此例 中,對於該乾式泵5的電流及功率量的增加,及該乾式泵5 的溫度上升,或一振動的發展即開始立刻發生。但是,因 為該沉澱材料的平滑化及隔離係連續地發生,該電流位準 或該功率位準及該溫度即快速地回到實質上正常的位準, 而該振動降低。該乾式泵5重覆地具有如上述沉澱的該反應 副產品材料,其最終會導致其失效。
圖3所示為當已經執行LPCVD的次數仍然為低時,在該乾 式泵5之利用的早期階段中該正常電流位準之時間序列資 料。由此可瞭解到,影響該乾式泵5的運作之沉澱不會發 生另方面,^該乾式泵5就在失效之前發生磨損及撕 裂,隆起5 1及突起52可代表在碜電流中異常的增加,其可 在該電流位準時間記錄中看出_,如圖4所示。此可顯示出, 該沉澱經常在該乾式泵5内的大-範圍中發生。這種在該電流 中的異常增加,當在該乾式泵5内所累積的該沉澱材料H -12 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐)
線 ^284347 A7 B7 五、發明説明(1〇 ) 加時,即開始經常地發生。 該沉殿材科持績地增加,並正在該乾式专$的 、、 在該電流位準或該功率位準,該溫度,兮^ 文之則’ 吻派動寺即會智咕 地增加,其可由於該沉澱材料的累積而觀察到。舉例而1時 在該乾式泵5中該電流的平均位準及該標準偏差,其係 段時間來計算,其係根據沉輯料的增加而持續地辦加 因此,藉由監測此位準做為一決定基準,壽命預心 出該增加速率來預測。該乾式泵5的壽命預期決定基準係 考失效資料來決定。但是,如此處所述,在應用單一 體製造設備到不同的製程時,例如該電流的平均位準及標 準差的該壽命預期的決定基準可隨每個製程條件而變化。取 此外’該特性化特徵資料的增加速率,例如該電流的平均 位,,該標準差等,其相關於該製程條件歷史。因此,在 該第-具體實施例中,-個別決定基準位準係對於每個製 程條件的該特性化特徵資料來設定,而壽命預期係在該製 程期間經由該特性化特徵資料的增加速率來計算。再者, 在當該特性化特徵資料的增加速率偶然改變時不僅是壽 命預期要重新計算,但該壽命預期決定基準位準也會盥: 同時更m,該壽命預期制成為有可能來包^同 的製程條件,並也考慮到該製程歷史。 在當該乾式泵5中該電流的平^位準及標準差做為該乾 式泵5的该特性化特徵資料26,.該壽命預期預測即參考圖2 及5來說明。该乾式泵壽命預期為決定基準及該預測的壽命 預期值即對每個製私條件來儲存在該壽命預期預測控制器 • 13 - 本紙張尺度適财S S家標平(CNS) A樣格(210X297公董) 裝 '訂 線 1284347 A7 _B7___ 五、發明説明(11 ) 13的該儲存單元45,如圖2所示。 (a) 在圖5的步驟S201中,在該壽命預期預測控制器13中的 該製程條件處方輸入模組41由該製程控制器11讀入該製程 處方25,並察覺出目前處理室1的製程條件,例如氣體的種 類,氣體的流速,壓力及溫度。 (b) 在步驟S202中,其可決定在這些製程條件中相較於較 早的製程彳条件是否有任何改變,且如果其可判斷出沒有改 變,則目前的設定決定基準可在未經修正之下來使用。 (c) 當該製程條件中已有改變時,在步驟S203中,設定給 每個製程條件的該壽命預期決定基準值係重新由該儲存單 元45讀入。 (d) 在步驟S204中,該特性化特徵資料輸入模組42由該乾 式泵5的該特性化特徵資料26讀入電流位準。 (e) 在步驟S205中,該壽命預期預測模組43計算在一預定 時段中的該平均位準及該標準差,例如10秒,藉以平滑化 突然的改變。 (f) 在步驟S206中,該壽命預期預測模組43計算符合於所 得到的該電流之平均位準及標準差之增加的速率,並估計 直到達到每個決定基準的時間長度。 (g) 在步驟S207中,其可決定該預測的壽命預期是否正 常。 · (h) 當該預測的壽命預期為正常時,在步驟S208中可決定 是否本製程已完成。如果其未完成,該程序即重複地回到 步騾S204中。如果其已完成時,則該乾式泵5即成為待機狀 -14 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1284347
態’直到下一個製程(步驟S211)。
七⑴當在步㈣〇7中已經察覺到該預測的壽命預期並不正 乾式系5是在失效的邊、緣,在步㈣09中,該緊急 = W29a,29b即由該輸出模_傳送到該製程控制器 ^控制器12。該製程控制器u及該泵控制器Η已經 要收到孩緊急中斷信號29a,29b ’執行該處理室1及該乾式 泵5的關概序列。
⑴在步驟S210中,即執行維修$更換該乾式泵5。然後, 孩乾j泵5將會在待機狀態,直到下_個製程(步驟⑵… 該壽命預期預測控制器13可轉換該預測的時間長度,直 到到達該乾式豕5的決定基準,做為每個製程條件的录壽命 預期資訊it過LAN 14到該伺服器15,於步驟S2〇6中。芙於 該飼服器15中轉換的資料,該乾式系5的系壽命預期資^即 更新;再者,如果該壽命預期決定基準係修正符合在該特 性化特徵資料的增加速率中的改變,該更新的決定基準即 回到該復原單元45。自然地,除了伺服器15,此資料的儲 存及處理可在LAN 14上做為-資料庫的—獨立主機電腦上 來執行。 再者,當在一製程期間的該處理室丨中,該乾式泵5之電 流的平均位準及標準差,會增加超過預期,其很明顯地該 乾式泵5係在失效的·邊緣,該緊·急中斷信號2知及由該壽命 預期預測控制器13傳送到該製.程控制器u。該製程控$ ^ 11 ’其已接收到該緊急中斷信號29a,即發出指人來p止供 應反應耽體到該處理室1’並關閉該閘閥3,及中止兮製 -15 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) '一' __________ 1284347 A7 B7 五、發明説明(13 ) 此功能允許該處理室i來防止來自該乾式果5的一突然停機 所造成的污染。 根據該第一具體實施例,因為該乾式泵5的該特性化特徵 資料26的決定基準係對每個製程條件來指定,整個該乾式 录5的壽命預期的歷史可以分析,而回應於根據該製程條件 歷史的決定基準中的改變即成為可能。 此處可注意到,該壽命預期預測控制器13由該製程控制 異j 1凟入該氣體種類,氣體流速等製程處方,並察覺到 該製程條件,但是,此讀入亦有可能透過LAN 14而來自該 伺服器15。另外,做為一資料庫的—主機電腦可用來取代 遺伺服器15。此處,對於時間的該電流位準之平均值及該 標準差係做為在該壽命預期預測控制器13中該壽命預期預 測計算之統計方法;但是,除此之外,其可使用根據自動 協方差分析的自動關聯係數,該自動關聯係數的遲滯寬度 或類似者。此外,其可採用不僅是電流位準,也包含複數 個特性化特徵資料的廣泛決定。在此例中,如果使用一 Mahalanobis-Taguchi (MT)距離,該預測可用甚至更高的準確 性來達到。應用簡單回歸或多重回歸分析到該特性化特徵 S料的增加速率之方法可有益於增加該預測的效率。 (修正) * - — — •丨— 在該第一具體實施例中,所尹的該壽命預期預測控制器 13係做為一獨立裝置;但是,在另一個範例中,如圖6所示, 一製程/胥命預期預測控制裝皇18共同包含一製程控制器 11a及一壽命預期預測控制器13a。除此之外,其類似於該 -16 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4^格(210 X 297公釐)
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線 1284347 A7 B7 五、發明説明(14 ) 第一具體實施例,因此可縮短該重覆的說明。 、該氣耘控制器11a具有一氣體供應控制單元3la,一壓力 ,制單元32a ’ 一溫度控制單元33a。該壽命預期預測控制 器13a具有一製程條件處方輸入模組41&,一特性化特徵資 料輸入模組42a,一壽命預期預測模組43a,一輸出模組 44a ’及一餘存單元45a。該壽命預期預測模組“a執行該乾 式泵5的筹命預期計算,其藉由自該儲存單元彳“讀取對應 於該製程控制器11a中的製程處方的一決定基準,並統計地 處理孩乾式系5的該特性化特徵資料26〇該製程處方及該特 性化特徵資料26分別由該製程條件處方輸入模組41a及該 特性化特徵資料輸入模組42a讀取。該壽命預期預測結果可 由一輸出模組44a經由LAN 14與該製程條件共同傳送為批 量處理資訊27a到一伺服器15。該儲存單元45a亦儲存該計 算的壽命預期資料。製程控制信號21a包含來自該輸出模組 44a的一緊急中斷信號。 回應於該製程條件,該製程/壽命預期預測控制裝置18, 其係士裝在該製程控制器1 la及該壽命預期預測控制器,其 可察覺該乾式泵5的該運作條件,且因此能夠在運作期間執 行該乾式泵5的預測壽命預期之計算。此外,累積在該乾式 录5内的沉澱材料量可藉由參考該批量處理資訊27a來估 计’其係保留在該伺服器15中」:S該壽命預期決定基準值 可更新整個製程歷史^ 根據該第一具體實施例的該·修正範例,因為該乾式泵5 的該特性化特徵資料26之決定基準係對於每個製程條件來 -17 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
1284347 A7 B7 五、發明説明(15 ) 指定’整個該乾式泵5的壽命預期之歷史可以分析,並有可 能回應於符合該製程條件歷史的該決定基準之改變。 在此修正的範例中,該壽命預期預測控制器13a係結合於 該製程控制器1 la ;但是,一類似組合也自然地可能將該泵 控制器12附加該乾式系5。 (第二具體實施例) 在一範例中’其根據前述的本發明第二具體實施例而使 用孩乾式系電流的自動協方差分析做為一半導體製造設備 的預測壽命預期之方法。 藉由根據本發明的該第二具體實施例的半導體製造設備 筹命預期預測方法,其可分析由該乾式泵所得到的例如電 流,功率,内部壓力,振動及溫度之特性化特徵資料的時 間序列資料,而使用推測學技術來預測乾式泵失效。舉例 而言’ ^果可發現一關係,例如“如果乾式泵電流在某些時 間點為同,電流增加甚至在一預定遲滯寬度τ(資料區間)” 可被發現,其可用於乾式泵壽命預期預測。 首先為了为析由该乾式泵所得到的該特性化特徵資料 的時間序列資料,必須由假設恆定性開始。簡言之,恆定 性代表在每個時間的時間序列資料可用相同的推測學處理 來實施,或一推測學處理的統計特性並不隨時間改變。為 ^變’預期值E[X⑴= 不隨·時間改變的條件,或是簡而 言之為X(t)在時間上的散佈必彡員不能改變,而再者,一任意 的t,T之預期值E[x⑴χ(τ)]為僅根據該μ的函數,或換 -18 - I紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210 X 297公董)-------- 1284347 A7 __B7 ____ 五、發明説明(16 ) 之,預期值Ε[χ(ί)χ(τ)]僅根據時間上的差異。也就是說,預 期值Ε[χ⑴x(th)]成為遲滯寬度τ的函數,而預期值 Ε[χ“)]=μ成為固定。 因此,變數x(t)及在遲滯寬度τ之後的變數χ(ί+τ)共同運算 的程度,或x(t)及χ(ί+τ)的協方差為: cov (x(t)5 x(t+x)) = E[(x(t) -μ) (χ(ί+τ) -μ)] (2) 其僅為遲滯寬度(資料區間)τ的函數。此係因為 E[(x(t) — μ) (χ(ΐ+τ) — μ)] = E[x(t) χ(ΐ+τ) ] — μ2 (3) 此係稱之為自動協方差函數C(T),其定義如下: C(t) — E[(x(t) —μ) (χ(ί+τ) —μ)] (4) 再者,自動關聯係數Ρχχ(τ)係定義為: Ρχχ(τ) = C(t) / C(0) (5) 代表由遲滯寬度τ所分隔的該資料之間的連接強度。 換言之’當此量為較大的正值時,變數x(t)及在遲滯寬度 τ之後的S變數x(t+τ)會以相同的方式動作;另一方面,如 果其為較大的負值時,其顯示出變數x(t)及變數χ(ί+τ)相會 以相反的方式動作。同時,如果此量為〇,其可瞭解到變數 X(t)及變數X(t+T)彼此獨立地動作。 進一步將<:(τ)除以c(0),其為該正常散佈,ρχχ(τ)的數值 可標準化為: -1 ^ Ρχχ(τ) < 1 了 : (6) 因為該C(0)的正常散佈代表與其本身的強度關係,其並不 是比其本身要強的關聯性, - |C(x)| < |C(0)| (7) -19 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(21〇χ297公釐) 裝 •訂
線 1284347 A7 B7 五、發明説明(17 最後,當此自動關聯係數Ρχχ(τ)接近於1時,其可決定在變 數X(t)及變數χ(ί+τ)之間有一較強的關係,其允許來預測該 半導體製造設備的壽命預期。更明確的說,該乾式栗的初 始,未劣化狀態的之特性化特徵資料的時間序列資料即可 量測及製成該基準時間序列資料。該基準自動協方差& & 可由此基準時間序列資料來得到。接下來,即量測在該| 程期間該乾式泵的該特性化特徵資料的該時間序列資料, 並藉此可得到該製程期間的自動協方差函數。該自動_I 係數可由該製程及基準自動協方差函數來發現。如果該自 動關聯係數接近於11|,不論是否該數·值為正或負,其可、决 定在該乾式泵的該正常特性化特徵資料之間具有一很強的 關係;如果其接近於〇,其可決定該關聯為弱,或接近於其 哥命預期的結束。 如圖7所示,由該乾式泵5之使用的前兩個月期間,在電 流中有少數的暫時突波,但當該使用期間進展到超過兩個 月’而直到其要失效之前,如上所述(請參考圖4),其可看 出電流中的大突波。另一方面,在該乾式泵5中的電流中的 穩定改變太小,其幾乎不可能地人為偵測。基於此資料所 執行的自動協方差分析可產生如圖8所示的結果。在該自動 關聯係數中大量週期性的改變在當該乾式泵5處於正常工 作順序時成為明顯,·但當使用聲期性變得較長時,乾式渠5 會穿破^這些週期性改變即成為較小,並接近於〇。因此, 如果可追蹤這些週期性改變,該乾式泵5的條件即可診斷。 孩壽命預期預測控制器13基於此信號對該乾式泵5執行診 -20 - 本紙張尺度適用中® S家標準(CNS) A4規格(210χ297公爱) 1284347 A7 B7 五、發明説明(18 ) '~ 斷,並計算該批量數目,其可在該乾式泵5的壽命期間來處 理,並登錄此結,果在伺服器15中。 在該第二具體實施例中,該電流位準可做為該乾式泵5 的特性化特徵資料;但是,也可使用其它物理性質,例如 功率位準,溫度,振動或聲音頻譜。此外,其亦有效地預 測該乾式泵5的壽命預期,其不僅使用電流位準的一個物理 性質,而是廣泛地使用不同的物理性質做為該乾式泵5的決 定基準。 (第三具體實施例) 此說明係參考在該第一具體實施例.中所使用的該LpCVD 系統的範例,如圖2及9所示。在不僅只使用電流位,準的一 個物理性質,而是廣泛地使用多種物理性質做為該乾式系5 的特性化特徵資料,該乾式泵5的壽命預期可使用一 Mahalanobis-Taguchi(MT)距離來有效地預測。 其有需要在正常條件期間由該基準資料或一基準 Mahalanobis空間中得到一反矩陣,藉以找出與該壽命預期 預測控制器13的一 MT距離。舉例而言,關於該電流,該溫 渡的時間序列資料的該自動協方差的自動關聯係數,及該 乾式泵5的振動可做於形成該基準空間的資料。然後即可發 現由該電流,溫度及振動資料所取得的該關聯矩陣之反矩 陣。由此關聯矩陣找出該反矩計算可在該壽命預期預 測控制器13中執行;另外,其·可在該伺服器15或該CIM系 、·’先中其&電腦來執行。此基準Mahalanobis空間可事先對每 一個製程條件來設定;但是,其亦有機會來根據該不同製 -21 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4祝格(21〇χ297公釐) 裝 訂
線 1284347 A7 ___B7____ 五、發明説明(19 ) 程條件的歷史來改變。 (a) 在圖9的步驟S501中,在該壽命預期預測控制器13中的 該製程條件處方輸入模組41由該製程控制器11讀入該製程 處方25,並察覺到該處理室1的目前製程條件,例如氣體種 類或氣體流速,壓力及溫度。 (b) 在步驟S502中,其可決定在該製程條件中是否已有改 變。當在該製程條件中未發現有改變時,本基準 (Mahalanobis)空間的反矩陣可持續使用。 (c) 在步驟S503a中,當該製程條件中的改變已經由步驟 S502中的該製程處方25察覺到時,該乾式泵15的電流,溫 度及振動資料即可對一預定的旋轉數目來得到,例如20 轉,並將其基準資料重新設定,以在步驟S503b中找出一新 反矩陣。 (d) 然後在步驟S504中,該特性化特徵資料輸入模組42讀 入該電流位準之特性化特徵資料26,該乾式泵5的溫度及振 動,其係在製程期間對於一預定的旋轉數目來得到。 (e) 在步驟S505中,該壽命預期預測模組43由該電流位準 的該特性化特徵資料26,該乾式泵5的溫度及振動來計算該 反矩陣,其係設定為該驗證的Mahalanobis空間。然後該MT 距離即由此驗證的Mahalanobis空間及先前發現的該基準空 間來發現,而該乾式泵5的壽命_賴期計算即可執行。 (f) 在步驟S506中,該壽命預期預測43執行該乾式泵5的該 壽命預‘期預測。當該乾式泵5為正常時,該驗證的 Mahalanobis空間係類似於該基準空間,而該MT距離顯示約 -22 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 1284347 A7 B7 五、發明説明(2Q ) 為1的數值。該MT距離的一較大數值顯示該驗證的空間及 該基準空間已有變異,且通常一大約為1〇的MT距離即被决 足為異常。因此,如果一為1〇的Μτ距離構成該乾式泵5的 筹命預期決定基準,該乾式泵壽命預期可由在每個量測點 所計算的該MT距離或在該MT距離中該速率的增加來預 測0 該預測_的結果係由該輸出模組44儲存在該儲存單元45 中,同時透過LAN 14登錄為每一個製程條件的該泵壽命預 期資訊28在該伺服器15中。 根據該第三具體實施例,當預測該乾式泵5的壽命預期 時’不同物理性質的關聯矩陣可由考慮該乾式泵5的條件來 得到’而該MT㈣可用Μ定該乾式系5的壽命預期。 (第四具體實施例) ㈡4钱苻性化行徵貧科的該平均值與該標準差,例如+ 功率’溫度,振動’及聲音改變,其可對應於不心 I程條件’而包含此仙方法已輯明於前料具體 =中。在根據第四具體實施例的該壽命預期預測方法;, 其說明進一步簡化的方法。 如果該4導體製造設備要大略區分的話,纟可 狀態:即運作狀態,其係正在執行該製造處理,^ 其係在:出一批量及插石一批量之間。上=: 到第二具體實施例即為在該泮導體製造^ 、罘 執行的該乾式泵5之壽命預期預測範例。在対=間所 備的運作期間’該特性化特徵資料,例如電流位
1284347 A7 B7 五、發明説明(21 ) 在一活動處理期間採用,因為該未反應的氣體及該反應副 產品即由該處理室1帶入到該乾式泵5。另一方面,在該待 機狀態期間,因為該處理室1係由該不活動氣體來清洗,例 如氮(NO氣體,該乾式泵5上的負載為低,而所附著的異常 材料量較低,處理為相當地靜態。該第四具體實施例為該 乾式泵5的壽命預期預測被執行的範例,其中該半導體製造 設備處於#機狀態。在此說明中,使用圖1〇及2,該乾式泵 5的電流位準係做為該壽命預期決定基準的該特性化特徵 資料。 (a) 在步驟S601中,在該壽命預期預測控制器13中的該製 程條件處方輸入模組41由該製程控制器丨丨讀入該製程處方 25,並察覺出該處理室丨的目前製程條件,例如氣體種類, 氣體流速,處理室溫度及壓力。 (b) 在步驟S602中,其察覺出該LPCVD系統是否處於運作 狀態或一待機狀態。 (0當其察覺到該LPCVD系統處於待機狀態時,於步驟 S604中,泫特性化特徵資料輸入模組42由該乾式泵5的該特 性化特徵資料20讀入該電流位準。 (d) 在步驟S605中,該等命預期預測模組43計算符合所得 到的該電流之平均位準及標準差之增加的速率,並估計該 時間長度,直到其達到由該儲單元45讀入的每個該壽命 預期決定基準。 (e) 在步驟S606中,該壽命預期預測模組43由該計算的時 間長度預測該壽命預期,直到其達到該乾式泵5的決定基準 -24 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) 裝 訂 線 1284347
值。該預測的結果藉由該輸出模組44儲存在該儲存單元判 中,同時透過LAN 14在該伺服器15中登錄為每個製程條件 的該泵壽命預期資訊28。基於在該伺服器15中的轉換資 料,該乾式泵5的泵壽命預期資訊28即更新,而再者,如果 孩壽命預期決足基準係符合於該壽命預期的增加速率之改 變來修正,m更新的壽命預期決定基準即回復到該壽命預 期預測控制器13的該儲存單元45。 即使該乾式泵5處於待機狀態,該乾式泵5的特性化特徵 貝料26由於该内部沉澱材料的歷史結果而會對每一個製程 來改變。即使是在待機,在該乾式泵5中該電流位準對每一 個製程來增加以符合這些歷史結果,且其有可能來經由該 特性化特徵資料26的增加速率之分析來量測該乾式系5的 壽命預期。 此處,該乾式泵5的待機壽命預期預測,除了以氮氣來固 定,流動清洗之外,其亦有效於改變該氮氣流動速率。該 氮氣流動速率被改變,且量測出對應於該氣體流動中的改 ,而在該乾式泵5中該電流之平均位準及標準差之改變 量田幾乎在失效時,本作者已發現到該電流之平均位準 及該標準差的改變相較於該氮氣流動速率的變化係要降 :氐因此其有可能由該電流之,均位準與標準差中的改 較於^氮氣流動速率中的,化而來預測該乾式泵5的 哥命預期。依此方式,其較容·易來準確決定該壽命預期, 因為在待機期㈤的壽命預期預測測#可在運作自間不使用 的條件之下來執行。 -25 -
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該壽命預期預測可藉由間叙性地引入不活動氣體,並田 測該乾式泵5之負載特徵中的改變來執行。在此例中,其= 研究較簡易地平滑化及脫離所附著的材料。當該乾式泵$ 使用愈久時,能夠平滑化及脫離該附著材料的能力即下 降^此*變化可由該乾式泵5的電流位準中的變化得知,其允 許該壽命預期預測來對該乾式泵5進行。 ϋ 此外,一清洗氣體有時候用來在待機期間移除附著在該 處理室1内的材料❶在此程序中該電流位準的改變也可用I 預測。再者,甚至更多的準確預測可由在引入該清洗氣體 之後來間歇地引入並中止該不活動氣.體所得到,並量測在 該乾式豕5的負載特徵中的改變。 有效測試也可藉由引入反應氣體來執行,而非不活動氣 體。一般而言,當引入不活動氣體時,在其負載的平均位 準及該標準差中的變化變為困難來量測,因為該乾式泵5 的負載很小;在這樣的狀況下,使用一反應氣體即為有效。 不像是在製程運作期間,相同的條件可用來在該壽命預 期預測對於該乾式泵5來執行時可簡化該壽命預期預測,而 該半導體製造設備處於待機狀態。此外,因為此待機係透 過CIM來控制,執行壽命預期測試的序列可編譯成半導體 製造設備的一運作程式,並被執行。 (第五具體實施例)· 了: 如圖11所示,一半導體製造系統包含一架構,其中複數 個半導體製造設備71,72,…連接到一 LAN 14,其係連接到 一伺服器15,而一半導體製造模擬器16進一步連接到該伺 -26 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
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線 1284347 A7 B7 五、發明説明(24 ) 服器15 〇 此處,假設一小型生產線,其大約每月生產1〇〇批量,其 將約有50個半導體製造設備。該半導體製造模擬器“使用 ManSim設置一具有與此生產線相同設備架構及數量之虛 擬工廠,其已為商用軟體。來自該製造設備的資料,其用 於實際的生產工廠中,例如一設備效能,製程時間,及維 修或品質控制(QC)所需要的頻率及時間即輸入到 ManSim,而條件係建構在該電腦之内,其係完全相同於實 際工廠中的那些。此外,該半導體製造設備71,72,…具有 類似於圖1所示的該半導體製造設備的個別架構。 接下來,其提出說明一種根據本發明第五具體實施例之 決定維修時間的方法,其使用圖12所示的流程圖,及圖2 中所示的該哥命預期預測控制器。 (a) 在圖12中的步驟S801中,在該壽命預期預測控制器13 中的該製程條件處方輸入模組41由該製程控制器丨丨讀入該 製程處方25,並察覺到該處理室丨的目前製程條件,例如氣 體種類,氣體流動速率,壓力及溫度。 (b) 在步驟S802中,其可決定出相較於較早的製程條件而 在這些目前製程條件中是否有任何改變,而如果其判斷其 並沒有改變,則可使用目前設定的決;定基準,而不需要修 改。 - •了: 夕 (c) 當在製程條件中已有改變時,在步驟s8〇3中,設定終 每個製程條件的該壽命預期決定參考值即由該儲存單元二 重新讀入。 -27 -
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線 1284347 A7 B7 五、發明説明(25 ) (d) 在步驟S804中,該特性化特徵資料輸入模組42由該乾 式泵5的該特性化特徵資料26讀入電流位準。 (e) 在步驟S805中,該壽命預期預測模組43在一預定的時 段中計算該平均位準及標準差,例如1〇秒,藉以平滑化突 然的改變。 (f) 在步驟S806中,該舞命預期預測模組43計算符合於該 電流的所得到的平均位準及標準差之增加速率,並估計直 到達到每個決定基準之時間長度。該預期的結果即由該輸 出模組44儲存在該儲存單元45中,同時,透過LAN 14在該 伺服器15中對每個製程條件登錄為該.泵壽命預期資訊28。 (g) 在步驟S807中,其可決定是否該韩式泵5的壽命預期即 預測為接近圖形。 (h) 當該預測的壽命預期為正常時,則該乾式泵5成為待 機狀態,直到下一個製程(步驟S811),如平常一樣。 ⑴基於該壽命預期預測,在步驟38〇7中,如果有一個乾 式泵之筹命預期圖形為接近,例如該半導體製造設備7工 者,該伺服器15造成該半導體製造模擬器16來運作並進行 模擬。更特定而言,使用ManSim,即可發現直到失效的時 段。然後該維修時段係具有在該時段期間對半導體製造為 最少的影響,即可使用模擬來發現。對於該製造具有最少 影響者代表當沒有批量輸入,兩必須處理到該半導體製造 設備7i時,即執行更換系,或·換言之,即為當此設備處於 待機狀態時。自然地,如所預期者,有些狀況中該待機時 間長度比更換該泵所需要的時間較短。在這些情況下,如 -28 - 本紙張尺度適财a @家標準(CNS) A鐵格(2ι〇χ297公董)
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=系更換:在最長的待機時間中執行,其將對於製造具 有取小的影響。 (=由該模擬結果中可清楚看出,在步 ,其 在該半導體製造設備71中的乾式w失效之前為例_、 1 ’ 3小時’及5小時的待機時間。需要更換該乾式系5的時 =、’其包含使相半導體製造設備]的溫度下降,並在更 換足後將孩溫度恢復,其需要大约6小時。 ㈨因此’標示出5小時長的待機時間,並在步驟s8i〇中, 即執行該乾式系更換或維修。因此,該批量 即可限制為1小時。 裝 訂 根據該第五具體實施例,該半導體製造模擬器16經由模 擬找出Μ半導體製造設備的待機時段m該待機時 !,或一包含此待機時間的時段,其為該半導體製造受到 最】的gv # U其為該乾式系維修的時間;因此,梦 :半導體製造批量的時間長度可回復,其可最小化,而對: 違半導體製造的影響保持在最小。 (其它具體實施例) 線 —其可注意到,本發明並不限於上述具體實施例,其也可 ^施為其它不同的形式,而不背離其精神或基本特性,特 木構力把,運作或結果中。,確的說,該壽命預期預 測方法並秘於—乾式录,或異導體製造設備,但可廣 泛應用到-旋轉機器,例如一-壓縮機,一馬達,或應用^ 使用這種旋轉機器的製造設備。再者,該乾式泵壽命預期 預測方法並不限於一半導體製造設備的一乾式泵,但可廣 29 - 1284347 A7 B7 五、發明説明(27 ) 泛地應用到包含一乾式蝕刻系統及一噴濺系統之整個半導 體製造設備。此外,該真空泵並不限於為一乾式泵,但也 可包含任何種類的泵,例如一渦輪分子泵,一機械增壓器 栗,或一旋轉系。 本技藝專業人士在瞭解了本發明原理之後,有可能在不 背離其範圍之下,進行不同的修正。 因此,本發明自然地包含未在此處提到的不同具體實施 例。因此,本發明的技術範圍僅限於由上述說明所合理推 斷的申請專利範圍之内所提出的創新特徵。 -30 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

  1. 1284347 B8 C8
    係使用千均值、標準差、自動關聯係數、一 α^^ ^ ^ f力關聯係 數的遲滯寬度、及在該特性化特徵資料的時間序列資料 中有限時段的一 Mahalanobis-Taguchi距離的績4 值中之任何一個。 、’、叶$析 8·如申請專利範圍第6項之裝置,其中該壽命預期計 由孩統計分析值的變化速率、一簡單回歸戈 /係 析來得到。 @歸分 其中該計算的壽命預期 9 ·如申請專利範圍第2項之裝置 被輸入到一局部區域網路。 H).如申請專利範圍第2項之裝置’其中基於該計算… 預期,即提供該製程的一緊急中斷信號。 可叩 11·一種半導體製造設備,其包含: 一製程控制器,配置以基於複數個製程處方中之一 標製程處方來控制一製造程序,該製程▲ 入:目 體; G吕夕種.氣 万疋锝機蒜,配置以處 式入 — V π貝載;及 一哥印預期預測控制器’配置以計算該旋轉 命預期’其可符合對應於由該製程控: 製程處方之-決定基準,及由該旋轉機器所 化特徵資料,該決定基準係藉由參考該 資料來決定。 付艰存的失y 12.如申請專利範圍㈣項之半導體製造設備 足基準係被更新以符合該特性化特徵資料之一/、 13·如申請專利範圍第㈣之半導體製造設備;Ί 1284347 六、申請專利範圍 處方定義-處理室的製程條件,其中引人氣體,並計 半導體製造程序,而該旋轉機器為一真空泵。 14’如申請專利範圍第11項之半導體製造設備,其中該壽务 預期預測控制器係提供複數個製程處方。、μ可叩 申4專利範圍第13項之半導體製造設備,其中該製程 I件包含該氣體的種類及該氣體的流速。 16::螓專利範圍第13項之半導體製造設備,其中該特性 彳政資料包含該真空泵的電壓、電流、功率、严 振動、及聲音之一。 ’皿又、 I7.如申請專利範圍第13項之半導體製造設備,其中該壽命 預期的計算使用該特性化特徵資料的時間序列資料可π 18^申請專利範圍第17項之半導體製造設備,其中該壽命 w的該計算係使用平均值、標準差、自動關聯係數、 自動關聯係數的遲滞寬度、及在該特性化特 ^序列資料中-有限時段的—MahalanGbis_Taguci^ 離的統計分析值中之任何一個。 19·如申請專利範圍第17項之半導體製造設備,其中該壽务 ,期計算係由該統計分析值的變化速率、一簡單回:: 夕重回知分析來得到。 2〇.如:請專利範圍第13項之半導體製造設備,其中該計算 的壽命預期被輸入到一局部區域網路。 21卞:料利範圍第13項之半導體製造設備,其中基於該 计异的壽命預期,即提供該製程的—緊急中斷信號。 22.如申請專利範圍第13項之半導體製造設備,其中該製程 本紙』長尺度適用中g g豕標準(CNS) Μ規格(⑽X297公爱) 1284347 A8 B8 C8
    1284347 六、申請專利範圍 28·如申請專利範圍第24項之方法,其中該壽命預期的計算 使用該特性化特徵資料的時間序列資料。 29·如申請專利範圍第28項之方法’其中該壽命預期的計算 係使用平均值、標準差、自動關聯係數、一自動關聯係 數的遲滯寬度、及在該特性化特徵資料的時間序列資料 中一有限時段的一 Mahalan〇biS-TagUchi距離的統計分析 值中之任何一個。 30.如申請專利範圍第28項之方法,其中該壽命預期的計算 係由該統計分析值的變化速率,一簡單回歸或多重回 分析來得到。 •如申請專利範圍第24項之方法,其中該計算的壽命預期 被輸入到一局部區域網路。 命 32.如申請專利範圍第24項之方法,其中基於該計算的壽 預期,即提供該製程的一緊急中斷信號。 33·—種決定旋轉機器維修時間的方法,其包含·· 讀取一旋轉機器的負載條件的一負載處方; 方 藉由比較該負載處方與一既存的該製程的負載處 來決定該負載條件是否存在有改變; 基 如果該負載條件並無改變,即使用一既存的決定I 準,如果該負載條件已經改變,則讀入並使用包含該製 程條件的一決定基準,而非該既存的決定基準; 藉由讀入該旋轉機器的偵測特性化特徵資料來處理 時間序列資料,其係對應於該決定基準; 計算符合於該時間序列資料及該決定基準的該旋轉 本紙張尺度適用中國國家^準 5- 、申請專利範園 機器的壽命預期; 藉由一半導體製造模产时十 的待機時間,直到達到二…時段中該製程 決定該找出的待機時;7异為的Λ;?塑期;及 機時間,或一包本 為取y矽曰孩製程的一待 的更換或維修時;相時間的時間來成為該旋轉機器 34.:::::::::;二_載條件… 二製造程序,二:r=並執行-半 導°體;ΐ:Γ為第 室中進-步地執行。 +U “序在該處理 ::π專利範圍第34項之方法’其 氣體的種類及該氣體的流速。 仏件包含孩 37·如申請專利範圍第34 ::該真 38. 如申請專利範圍第34 係使用該特性化特徵資料的時間㈣7^Ρ。預期的計算 39. 如申請專利範圍第38项之方法,其中該壽命預期的計算 f使用平均值、標準差、自動關聯係數、-自動關聯係 數的遲滯寬度、及在該特性化特徵資料的時間序列資料 中有限時段的一 Mahalanobis-Taguchi距離的統計分析 值中之任何一個。 -6 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 8 8 8 8 ABCD 1284347 六、申請專利範圍 40.如申請專利範圍第38項之方法,其中該壽命預期的計算 係由該統計分析值的變化速率、一簡單回歸或多重回歸 分析來得到。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X 297公釐). 1284347 第091105327號專利申請案 中文圖式替換頁(92年11投_)
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