1258179 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種積體電路元件測試載具，尤指一種 t用灰如LFCSP、…等超薄超微型積體電路元件產品開/ 斷路測試用途之測試載具設計。 【先前技術】 積體電路元件經構裝製成產品後，為判斷該產品之功 能是否正4 ’故在該元件構裝完成後’通常須對該元件内 的積體電路進行正確性測試。 目前積體電路元件因其型體小、接點數多，故該積體 電路凡件都係透過測試載具來進行，因此，該測試載且設 什之良窥，即關係到元件測試之精準度，特別u用於 =電般傳統型積體電路元件小之超薄超微型 '電1兀件產品（如：LFCSP、···等）測試之測試載具。 知應用於如LFCSp、···等超薄超微式
兀件產品測試用之測試載具，如第四圖主要包括有-基座 電路板、—托座以及數測試針， 基座上，該承載件設 板仿〜於该 置放槽，對應於待洌試元社尺+ 兀件 針孔提供該一針…：且於該元件置放槽中設 電性連接。一 K式針組§又其中，並分別與電路板上之電路
Bo 揭之測4載具係組設於測試機台的承載板（Load #lr該承載板上的測試系統經由基座周邊的電連^妾 件與電路板電性連接，#進行元件測試時，係利用^ = 4 1258179 置將待測元件移置 槽中m ϋ 、J忒載具中，置入其托座的元件置放 ^甲’使該待測元件庙 再由w ^ 〇接點舁托座中的測試針接觸， '二==:τ測試針對待測元件作功能 件取屮，^ 疋否正確，之後，由取置農置將該元 辛入另一待測元件接續進行檢測作業。 用的ΙΓΓ試载具雖可提供—項應用於元件檢測時定位 ”"：用旦：測試裁具中的托座長時間被應用於元件置 ==而磨損，造成定位不準確時，必須整個托座予 Π 換成本偏高之問題，且該托座為-體式構造 兩者間之間隙 原存在於槽内 不利於元件置 於t之元件置放槽槽捏小，一旦有異物殘留其中，不利 二矛、’且異物殘留會影響檢測的精準度，此外，該托座 上的凡件置放槽是對應待測元件形狀尺寸 甚小’故當待測元件置入該元件置放槽時 的空氣不易排放，而對元件產生排擠作用 入疋位，造成檢測作業的困擾。 【發明内容】 具 養 本：明之主要目的在於提供一種積體電路元件測試載 希精此6又6十’改善目前既有—體式耗座不便於清潔保 更換成本高以及元件置入產生排擠作用缺點。 為達成前揭目的，本發明所提出之技術方案係令該積 體電路元件測試載具包括基座、電路板以及組合式托座， 該電路板組設於基座上，並與基座周邊的電連接件電性連 接’該組合式托座包括一托座本體及二座板，該托座本體 組設於該電路板’其測試區中分佈裝設數測試針，與該電 1258179 路板電性連接’該二座板各藉螺絲對稱組設於托座本體上 γ兩者間形成一通過測試區的通道，並於其上共同形成〜 兀件置放槽，對應於測試區，且該元件置放槽上緣形 上擴張開口狀的導槽，供待測元件置人定位之用。 本發明以前揭技術方案與先前技術揭示之測試載呈相 較’本發明之特點在於： 1、本發明所提供之測試載具係利用組合式托心， ’當其托座長時間被應用於元件置入測試使用而磨H 成^立不準確時’因磨損的部位_般係在該托座上的二座 :二故可針對磨損的座板作局部性的更[而無須整個 坐凡全更換，降低更換成本，減少不必要的浪費。 ^本發明利用該組合式托座設計，可藉由拆解其座 板頌硌出測試針，使其可便清除殘留^ $ 針端以3 $ |牙、奴邊於忒細小的測試針 丁而以及兀件置放槽中之異物。 3 ·本發明之組合式托座中 -置放榉孩一座板間相對於元件 曰“貝1具有排氣通道，藉此，可於待測元件置入 件置放槽時，可令# v人 置入定位 “θ内的…由該通道排出，以利元件 【實施方式】 士第一圖所示，係揭示本發明積體電路 之一較社每 1丁州式載具 ^ ^例，㈣巾可以見及該測試載具包括^ (10、 + Μ 机/、匕枯一基座 U )、一電路板（2 0 )以及一具有數 )的組合式托座（3。），其中：有數^針“。 亥基座（1 〇)周邊設有數電連接件（1 6 1258179 6亥電路板（2 〇 )係一具有圖案化線路之板體，並以 螺絲鎖固於該基座（i Q ) ±，其線路並連接該基座（丄 0)周邊的電連接件（11)。 D亥組合式托座（3 0 )係裝設於該電路板（2 〇 )上 ，其包括有-托座本體（3 i )以及二座板（3 2 ) ( 3 3 ) 4托座本體（3 1 )係藉由螺絲鎖固於該電路板（ 2 0 )’或者螺絲深及基座（i 〇 )，將三者固接一起， 該托座本11 ( 3 1 )中央定義有測試區，對應於待測元件 之面積，並於該測試區中設有數個上下貫穿的針孔，提供 數測試針（4 (D )》別裝設其中，使該些測試針（4㈧ 底端與電路板（2 〇 ) ±的料電性連接，該些測試 ⑷以為彈菁式測試針為佳，並可適用於較小尺寸的待 測元件，該二座板（q ?、( Λ ^ # 3 )係對稱狀的板體，並 ^猎數螺絲組設於托座本體（3丄）i，兩者相“不接 觸形成一通過測試區的通道（35) ’該通道（ 度小於測試區寬度，該二座板（3 、 邊相對於托座本體（3 "設有測2 相鄰之端 丨下μ 士々 飞計（4 〇 )的測試區 方各设凹部，#同形成一元件置放 提供蒋、、則士姓里— 日、3 4 )，用以 上緣進’、牛入疋位之用’另於該元件置放槽（3 4 ) 測元件導入對位。 導匕（3 6)，以利待 本發明以前揭測試載具應用於 係將該測試載具組設於測試機台的承載=元件測試時， 上的測試系統電性連接基座（丄〇 ’並使承載板 )周邊的電連接件（i 7 1258179 1 ) ’之後，利用取置梦罟脸4、， 移置該測試载且中，置入\待測積體電路元件（5〇) 托座（3〇)上的元件置放槽 ，且該待測積體電路元件（ 接點與托座（？ η、山iύ u j底面的 _ )中的測試針（4 0 )接觸，其中葬由 〇測試針（4 〇 )彈筈式構 /、曰 5〇)提供緩衝作用：降低：下==體電路元件（ & 下壓力1，減少電路板（p ::待：積體電路元件（50)接點上鍍金層磨損，之 二機台上的測試系統經由測試針對待測積體電路 作功能性檢測，並判斷該元件之功能是否正確，再由 取^置將該檢測後的元件移出測試载具，移入另一待測 兀件接續進行檢測作業。 、 經由前述說明中可以瞭解本發明所提供的測試載呈， ^要係利用其組合式托座之可拆組結構設計，使其托座長 :門被使用而磨知’造成定位不準確時，可針對該托座上 車乂易磨抽的座板予以更換’無須整個托座完全更換，減少 '、、、要的/良費，另―該組合式托座設計可予以拆解，顯露 、Ί忒針，以便於清除殘留於該細小的測試針針端以及元 件置放槽中之異物；且該組合式托座於使用，因該二座板 間相對於元件置放槽兩側具有排氣用通道，則元件置 入该兀件置放槽時，才曹内的空氣可經由該通道排出，以利 元件置入定位，以利元件檢測作業之進行，故此，本發明 確可提供一項極具產業利用價值之積體電路元件測試載且 【圖式簡單說明】 8
1258179 第一圖係本發明積體電路元件測試載具之一較卜
例之立體外觀示意圖。 土 A 第二圖係第一圖所示積體電路元 T W式載具較佳 例之托座立體放大示意圖。 、 第三圖係第-圖所示積體電路元件測試載具較佳實 例之托座與電路板之組合剖面示意圖。 灵 第四圖係目前公知積體電路元件測試載具之立體示 圖。 【主要元件符號說明】 施 施 施 咅、
(10)基座 (2 〇 )電路板 (3 〇 )托座 (3 2 )座板 (3 4 )元件置放槽 (3 6 )導槽 (4 〇 )測試針 (5 〇 )元件 (6 〇 )基座 (1 1 )電連接件 (31)托座本體 (3 3 )座板 (3 5 )通道 9