TWI253071B - Optical head and method of adjusting optical path thereof - Google Patents

Description

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案號 &31Q581Q 修正 五、發明說明（1) 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種使用在光學讀取元件的光學讀取 頭（optical head)及調整其光徑的方法。 【先前技術】 光學讀取元件一般包括一光學讀取頭，具有一雷射二 極體（laser diode，LD)放射光到一記錄媒質（recording medium)，與一光電二極體（photo diode) 接收從記錄媒 質反射的光。 圖1說明一傳統光學讀取頭的結構，披露在專利合作 條約（PCT)其國際公開號為WO 0 1 /43 1 26 A2。傳統光學讀 取頭包括一基底8、一雷射二極體5、一反射鏡6、具有一 偏極分光功能稜鏡4、一四分之一波片3、一物鏡1與光偵 檢器（photodetector，PD) 7。上面所述之結構，從雷射 二極體5放射的光，經由反射鏡6、稜鏡的反射面4a與反射 面4b反射，之後，由四分之一波片3將反射光轉變成圓形 偏極光。由物鏡1聚焦圓形偏極光，然後，到達一光碟D的 記錄面。之後，從光碟D的記錄面反射光，由四分之一波 片3將光改變成直線偏極光。其次，直線偏極光通過反射 面4a ’從反射面4c反射直線偏極光，以及再回到光偵檢器 7。光學讀取頭的高度η大約3mm。 光學讀取頭一般根據下列過程組裝。如圖2所示，依序 堆疊及裝上稜鏡4、四分之一波片3、隔離物2與物鏡1，由 此完成第一裴配體10。如圖3所示，結合第一裝配體10與 第二裝配體2〇，第二裝配體20由基底8、光偵檢器7組裝而 成 參考數字9代表一輻射板。

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第8頁 1253071 案號 93105816 五、發明說明（2) 月孚曰 修正 但是，在組裝過程之後，觀察放射光與接收光的測 試，光經常偏離設計的光徑。使用一對準標記（a丨i忌乃 mark)作為簽考原點（zero reference)能精準完成光風& 取頭的光學元件堆疊與組裝。然而，在製造光學元件^寺項有 公差（tolerance)存在，即使精準組裝光學元件，光仍、备 偏，（deviates)光徑。因此，當在組裝時，第一裝配體^ 與第二裝配體2〇的相對位置必須調整，以彌補光與光徑 偏離。換言之，第一裝配體1〇與第二裝配體2〇的相對位置 必須加以調整，以使光從雷射二極體5放射，從光碟^的記 錄面反射，然後到達光偵檢器的中心。如圖4所示，將第 一裝配體10環繞著Z軸（對應從反射鏡6反射出來的光）旋轉 與檢查光點（op tic a 1 spot)聚焦在光偵檢器7中的變化， 來調整第一裝配體1 〇與第二裝配體2 0的相對位置。在圖5 中的虛線表示光點聚焦在光偵檢器中的執道。

然而’組裝過程藉由光偵檢器7感測的信號（s i gna i sensed)完成之時，第一裝配體丨〇繞著z軸旋轉。如此，組 裝過耘不會影響光發射的光徑，亦即，從雷射二極體5到 物鏡1的光徑。然而，假如由於製造的誤差產生位移，光 徑的執道未能通過光偵檢器的中心，則第一裝配體1 〇必須 朝向圖4的X軸或γ軸水平移動，以使軌道通過光摘檢器的 中二广再凋整聚焦在光偵檢器上的光徑，重新校正光發射 的光徑2因此，校正偏離的光相當困難，並且光學讀取頭 的結構是在基底8上堆疊數個光學元件，因此光學讀取頭 的高度變得更高。 '

第9頁 Ψ 日 案號 93105816 1253071

五、發明說明。（3) 這些問題。 【發明内容】 本發明提供一種光學讀取頭的改良結構與其光押 正方法，適用於使產品精巧與容易調整光徑。 ι 凋 、、發明的附加目的與優點將在隨後描述部份提出， 述中可明顯了解，或可由本發明實作習得。 々田 本發明的目的就是在提供一種光學讀取頭，包括一 :::雷射二極體、一光债檢器、一物鏡、一稜鏡；二 予兀件。雷射二極體安裝在基底上且可放射光，二 = 則安裝在基底上且可接收光。且物鏡安裝在基底的第一 π 側，並從雷射二極體將光聚焦到光碟的記錄面上。 安裝在基底的第二侧，從雷射二極體發射的 达，並把從記錄面反射的光朝光偵檢器傳送。 _、見傳 調整基底與稜鏡之間形成的光徑。 予凡件則 本發明的再一目的是提供一種光學讀 方法’提供一光學讀取頭，包括··提供 射二極體在基底之上以放射光，安裝—先 ^衣田 以接收光，安裝一物鏡在基底的第一側上，、=W基底上 極體放射的光聚焦到光碟的記錄面上。將—把從雷射二 底的第二側，把從雷射二極體放射的光 2鏡安裝在基 從記錄面反射的光朝光偵檢器傳送，並形=傳送丨並把 調整基底與稜鏡之間形成的光徑。使一 光學兀件以 一第二裝配體移動，以調整第一光徑，其:裝，體相，於 光徑被傳送至光碟記錄面，第一裝配體肖光疋透過弟

11961pifl.ptc 第10頁 在基底的第一側上之第一光學元件，第—·基底與裝配 --—一一 —裝配體則包括：

五、發3月說明（4) 基底與裝配在基底的第二側上之箆-尖與-从 心弟一九學兀件。藉由調整 全像片與四分之一波片相對於第一奘阶鱗从^^ ^ 衣配體的位置，以調整 第二光徑。由光碟的記錄面發出的光，可經由第二光徑被 吸收。 本發明的又一目的是提供—種光學讀取頭，包括：一 基底，裝設有一雷射一極體與—光偵檢器、位於基底的第 一側上並且具有一物鏡的第一梦阳辦 * 衣配體、位於基底的第二側 上並具有一稜鏡的第二裝配體。 本發明的又一目的是提供一種光學讀取頭，包括：一 基底安裝有一雷射二極體與一光偵檢器、一第一裝配 位於基底的$ —側上並具有一物鏡，此物鏡是可移動地裝 設於基底的第-側’以調整從雷射二極體到物鏡的外側^ 第一光徑，以，―第二裝配體，*有-稜鏡與全像元件， 配置在基底的第：側上，以調整從物鏡到光彳貞 一 光徑。 示一 a本發明一的另一目的是提供_種光學讀取頭中調整第一 與第二光徑的方法，此方法包枯·.狀亡 /左巴栝·在裝设有一雷射二極體 與一光偵檢器的基底的第一側p献婆目古 .^ 版 ^ w上配置具有一物鏡的第一奘 配體’在基底的第二側上配置 拉庐沾笛 壯 1吳有一稜鏡的第二裝配體， 且在基底的第二侧與稜鏡之間，酉己置一全像元件，移動第 一裝配體以調整從雷射二極體到物鏡的外側的第一光徑， 並移動全像元件以調整從物鏡到光偵檢器的第二光徑。 本發明的另一目的是提供一種光學讀取頭中調整第一 光徑與第二光徑的方法，此方法包括：在架設有一雷射二 極體與一光偵檢器的基底的第一側上配置具有一物鏡的第

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一裝配體，且在基底的第二側上配置具有一稜鏡的第二裝 配體，亚在基底的第二側與稜鏡之間配置一全像元件，移 動全像元件以調整從物鏡到光偵檢器的第二光徑，而不調 整從雷射二極體到物鏡的外側的第一光徑。 >為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯 易懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說 明如下。 【實施方式】 以下將以參考圖詳細說明本發明之較佳實施例，其範 例將繪圖說明，相似的參考數字表示相近的元件，本實例 用參考圖來描述以解釋本發明。 一圖6與圖7闡明本發明一較佳實施例的一種光學讀取 頭。請參照圖6與圖7，光學讀取頭包括一基底14〇， 由具有較佳熱導電性的矽微平台（Si〇B，silic〇n — 〇n — bench)加工製成，基底ho的底部表面上裝有一雷射二極 體141與光偵檢器142，在基底14〇的上方裝置著一物鏡 110 且在基底14〇的下方裝置著一稜鏡18〇，此稜鏡18〇具 有偏極分光功能，並在基底140與稜鏡180之間裝置著一全 像元件與四分之一波片17〇，且在基底14〇中形成的一貫孔 143與物鏡11 〇相連通，以形成一光徑。參考數字丨2〇、 與16〇表示隔離物，而參考數字13〇表示輻射板，參考數字 19 0,表示支撐光學讀取頭的板彈簣spring)，以使 光學頃取頭伸縮移動自如，並以使用在雷射二極體丨4 1與 光摘檢為1 4 2的控制器（未繪示）之間傳送訊號與接收訊

1253071 五、發明說明（6). 几件，但有光學元件安裝在基底丨4 〇的第一侧與第二侧之 上。這裡，包括基底1 40的數個第一光學元件，組裝在基 底1 4 0的上侧（第一側），被稱為第一裝配體丨〇 〇，而數個第 二光學元件組裝在基底1 40的下側（第二側），被稱為第二 裝配體2 Q 0。 如圖7所示’為上述所描述光學讀取頭形成光徑之結 構。換言之，從雷射二極體1 4 1放射的光，從基底的反射 鏡144反射後，再從稜鏡18〇的偏極面（p〇larized surf ace) 181反射。反射光再從到反射鏡182反射，由全像 疋件與四分之一波片1 7 0將反射光轉變成圓形偏極光，再 經由物鏡110將反射光入射（incident)在光碟D的記錄面 上。從光碟D的記錄面反射出來的光，由全像元件與四分 之波片1 7 〇轉變成直線偏極光，再從反射鏡1 § 2反射，再 通過稜鏡1 8 0的偏極面1 8 1，然後從反射鏡丨8 3反射，以及 入射到光偵檢器1 4 2上。 根據上述之結構，與如圖丨所示之傳統光學讀取頭的高 f相比較’依照本發明光學讀取頭的高度能可被降低。換 。之’傳統光學讀取頭的光徑範圍一層接一層地從裝在基 底上的雷射二極體到物鏡。然而，在本發明，從裝在基底 之下的雷射二極體1 4〇放射的光，先向下然後再向上行進 以形成一U形光徑。依照本發明光學讀取頭從雷射二極體 141 一到物鏡；[1〇的弟一物距（〇bject distance)，相當於傳 統光學讀取頭從雷射二極體丨4 1到物鏡丨丨〇的第二物距。因 此|依照本發明光學讀取頭的結構可以做得更小。另外， 光^學i取頭頂板上放置著輻射板13〇，例如物鏡丨丨〇，有利 第13頁 11961pifl.ptc 丨案歲 9310581ft 五、發明說明（7) 。 於製造小型光學讀取頭。換士 ^ ^ ® ^ ^ ^ 換5之，在傳統光學讀取頭裡， 輪射板被附屬在基底的底部本 ^ γ曰β ^ β 表面上被當作額外多加的一 層，但疋依,日、?、本發明光學靖％

夢朴甘+子咳取碩，輻射板130被附屬在一 空間之上，緊鄰基底1 4 0上而AA W 一 的物鏡11 0。因此，輻射板 130不會形成附加層，而與物鏡U0分享一個層。所以光 學讀取頭的高度被降低。像子1U s n 九 n n t 1家k樣，輻射板1 3 0裝置在已安 裝物鏡110的頂層上，可以進-步增強輻射效率。當使； 光學讀取頭從光碟D記錄且/或複製f料時， ^ 讀取頭上:”旋轉。在這案例，當輕射板U。被放置在； 層上’則輻射板130將暴露在光碟“走轉期間形成的氣流、 (air current)中，使空氣產生最大的冷卻效率（c〇〇h effUiency)。由此，輻射板13〇能快速輻射由 1 4 1產生的熱。 Μ篮 …此外，當光學讀取頭被組裝時，它是非常容易去調整 第一光徑，並將光透過第一光徑被傳送到光碟1)，且以 整第二光徑，並由光碟D所發出的光，可經由第二光俨被 接收。換言之，當組裝光學讀取頭時，第一裝配體1〇^ 弟一裝配體2 〇 〇是可被分開各自組裝，然後再組裝—起 在這過程令’當將光透過第一光徑被傳送到光碟D，亦 即’從雷射二極體141到物鏡110的第一光徑範圍，需要調 整時’將第一裝配體100相對於第二裝配體2〇〇移動，以:周 整第一光徑。同樣地，調整第二光徑’並由光碟D所發出° 的光，可經由第二光徑被接收，亦即，調整全像元件x盘四 分之一波片170相對於第一裝配體1〇〇的位置，以調整/第二 光徑’由光碟D所發出的光可經由第二光徑朝光偵檢"器 1253071 案號93105816_年ff月Φ日_^___ 五、發明說明（8) ;‘。 。 反射。雖然其位置被改變，全像元件與四分之一波片1 7 0 應被設計成不會影響光經由第一光徑傳送到光碟D。換言 之，使用在全像與四分之一波片1 7 0的全像元件，設計成 僅對光碟D反射的光產生像散（astigmatism)，不會對在光 碟D上的入射的光產生像散。如圖8 A所示，由於全像元件 的作用’使具有相同岔度次光點（sub-optical spots)的 光點，在聚焦狀態可以聚焦於光偵檢器1 4 2的四分割感測 H (quarterly divided sensors)上 〇 當物鏡 110 與光碟 D 的記錄面之間的距離太長或太短時會發生像散。因此，如 圖8 B與圖8 C所示的光點形狀變形。調整全像元件和四分之 一波片1 7 0 ’以調整第二光徑，且光可經由第二光徑被接 收，如圖8A中，以便形成光點。 調整第二光徑，且光可經由第二光徑被傳送，之後，調 整全像元件和四分之一波片1 7 〇，以調整第一光徑，且光 可經由弟一光徑被接收，因此，光經由第一光徑被傳送與 光纽由第一光徑被接收，是可以獨立調整不會在第一光徑 與第二光徑間產生干擾。也就是說，不同於傳統光學讀取 頭，在本發明中，當第一或第二光徑其中之一調整時，第 一光徑或弟一光徑的另一個不會產生扭曲。

從雷射二極體1 41放射的光其波長可能在4 〇 〇 nm — 8 0 0nm的範圍之内，物鏡110的數值孔徑（numerical aperture，ΝΑ)在0.43 - 〇· 85的範圍之内或是〇·85或者更 多。例如’當雷射二極體丨4 1放射出具有波長7 8 〇 nm紅外線 (infrared)的放射光時，其物鏡11()的數值孔徑在〇.4 /

compact di sc，CD)記錄資料且/或複製資料，並且，舍 雷射二極體1 4 1具有波長6 5 〇 nm紅色的放射光，其物鏡丨工〇 的數值孔徑在0 · 6 - 〇 · 7的範圍之内時，根據本發明光與 e賣取頭，可適於數位影音光碟versatiie disc，DVD)與光碟之相容性記錄資料且/或複製資料。此 外，當雷射二極體U1具有波|4〇5nm藍色的放射光而物鏡 11 0的數值孔徑在0 · 8 5時，根據本發明光學讀取頭， 於高密度光碟（high-density disc)、數位影音光碟與 碟之相容性記錄資料且/或複製資料。此外，根據本發明 光學讀取頭，可應用在具有〇· 85的數值孔徑的光學 例如是固態浸沒透鏡（solld immersion lens，SIL)”或相 似系統。 如上所述，在根據本發明光學讀取頭，基底可 裝在光學讀取，裝配體的中間，以形成[形光徑。因此女 同樣可確保獲侍相同物距且光學讀取頭能做得細小。 同樣地，Λ於僅影響光被接收的第二光徑，因此可以 使用全像，光經由第一光徑被傳送與光經 收，所以第一光徑盥第-朵仰可八日日神姑 尤位破接 程可以方便地執行 “了刀開调整…’調整過 右物H TfW板‘射由雷射二極體產生的熱，可放置在 有物鏡的頂層上，暴露於ΦM u =、路於先碟疑轉期間形成的氣流之中。 因此，產生取大的輻射效率（radlation effi 光學讀取頭能做得更細小。 y)卫使 雖然本發明已以較传會#也丨4巨+ , , ^ SH 心軚仫κ施例揭路如上，然其並非用以

11961pi fl.ptc 第16頁 本舍明」壬，習此技藝纟，在不脫離本發明之籍抽 1253071案號931Q5816 叫年/丨月’f a 修正

11961pifl.ptc 第17頁 1253071 案號 93105816 年"月日 修正 圖式簡單說明 ° 圖1說明一傳統光學讀取頭。 圖2與圖3說明在圖1中光學讀取頭的組裝過程。 圖4是說明在圖1中光學讀取頭的光徑調整方法。 圖5說明當調整圖4中光學讀取頭的光徑時，光點通過 光偵檢器時的軌道。 圖6是揭露依照本發明實施例光學讀取頭的分解圖。 圖7是說明在圖6中光學讀取頭的光徑。 圖8A至圖8C是說明在圖6中，當調節光學讀取頭的光徑 時，形成光點的變化。 【圖式標示說明】 卜 110 : :物 鏡 2、 120 、 •150 >16 0 ： 隔離物 3 ^ 170 ： :四 分 之 一波 片 4、 180 ： :稜 鏡 4a 、4b， 、4c 6 、144 ^ 182 5、 141 雷 射 二 極體 7、 142 光 偵 檢 器 8、 140 基 底 9 ^ 130 輻 射 板 1 8 2、1 8 3 :反射鏡 1 0、1 0 0 :第一裝配體 20、200 :第二裝配體 1 4 3 :貫孔 1 81 :偏光面 190 :板彈簧

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Claims (1)

1. γ^^53071案號93105816 qcf年if月令曰__修正 六、申請專利範圍 。 1 · 一種光學讀取頭，包括： 一基底； 一雷射二極體，安裝在該基底上並可放射光； 一光偵檢器，安裝在該基底上並可接收光； 一物鏡’安裝在該基底的一第一侧，以及從該雷射二 極體將該光聚焦到一光碟的一記錄面上； 稜鏡’安裝在該基底的一第二側，把從該雷射二極 體發射的該光朝該物鏡傳送，以及把從該記錄面反射的該 光朝該光偵檢器傳送；以及 一光學元件，調整該基底與該稜鏡之間形成的一光 徑。 2 ·如申請專利範圍第1項所述之光學讀取頭，更包括： 一賴射板，配置在該基底的該第一侧，且該輻射板輻 射出由該雷射二極體產生的熱。 3 ·如申請專利範圍第2項所述之光學讀取頭，其中該輻 射板被配置相鄰於該光碟，使該輻射板直接地暴露於該光 碟旋轉期間所形成之一氣流中。 4·如申請專利範圍第1項所述之光學讀取頭，其中該基 底包括：

   一貝孔，連結該基底的該第一側與該第二側，以形成 光仅’貝穿該貫孔，該光經由該光徑被傳送及被接收。 5 ·如申清專利範圍第1項所述之光學讀取頭，更包括： 夕數個隔離物，配置在該基底與該物鏡之間。 6 ·如申晴專利範圍第1項所述之光學讀取頭，更包括：

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   第20頁 案號 93105816 六、申請專利範圍 年Μ月斗曰 修正 多數個隔離物，配置在該基底與該稜鏡之間。 7 ·如申請專利範圍第1項所述之光學讀取頭，其中該稜 鏡為一偏極分光稜鏡。 8 ·如申請專利範圍第1項所述之光學讀取頭，其中該光 學元件包括： 一全像元件與一四分之一波片。 9 ·如申請專利範圍第1項所述之光學讀取頭，其中該物 鏡包括： 一塑膠材質、一玻璃材質與一使用繞射元件的材質的 其中之一。 1 0 · —種光學讀取頭的調整光徑的方法，該方法包括： 提供一光學讀取頭，該光學讀取頭包括一基底、一雷 射二極體’配置在該基底上並可放射光、一光偵檢器，配 置在該基底上並可接收該光、一物鏡，安裝在該基底的一 第一側上，從該雷射二極體將該光聚焦到一光碟的一記錄 面上、一稜鏡’安裝在該基底的一第二側，把從該雷射二 極體發射的該光朝該物鏡傳送，並把從該記錄面反射的該 光朝該光偵檢器傳送；以及一光學元件，調整該基底與*亥 棱鏡之間形成的一第一光徑與一第二光徑； 使一第一裝配體相對於一第二裝配體移動，以調整該 第一光徑，其中，該光是透過該第一光徑被傳送至該光碟 的該記錄面，該第一裝配體包括：該基底，與裝配在該基 底的該第一側上之一第一光學元件，該第二裝配體包括： 該基底，與裝配在該基底的該第二側上之一第二光學元

   H961pifl -ptc 第21頁 Ι253Ό11 案號 93105816 a ^ η Q 佟不 六、申請專利範圍 。 / 。 件； 调整该光學元件相對於該第一裝配體的位置，以調整 該第一光徑，由該光碟的該記錄面發出的該光，可經由該 第二光徑被接收。 11 · 一種光學讀取頭，包括： ，且該第 ，且該第 一基底，安裝有一雷射二極體與一光偵檢器 一第一裝配體，配置在該基底的一第一側上 一裝配體具有一物鏡；以及 一第二裝配體，配置在該基底的一第二側上 二裝配體具有一稜鏡。

   1 2 ·如申請專利範圍第11項所述之光學讀取頭，其中該 基底包括一表面，形成在該第二側上以面向該稜鏡，且該 雷射二極體與该光偵檢器是配置在該基底的該表面上。 13·如申請專利範圍第11項所述之光學讀取頭，其中該 基底的該第一側與該第二侧是該基底相對的兩侧。

   1 4 ·如申請專利範圍第11項所述之光學讀取頭，其中該 雷射二極體放射光，該稜鏡接收從該雷射二極體而來的該 光並傳送該光到該物鏡，且該光從該基底的該第二側運行 到該基底的該第一側。 1 5 ·如申請專利範圍第1 1項所述之光學讀取頭，其中該 基底包括： 一貫孔，該物鏡透過該貫孔與該稜鏡相連通。 16.如申請專利範圍第15項所述之光學讀取頭，其中該 稜鏡包括：

   11961pi fl.ptc 第22頁 1253071 案號 931(15816 年Π月C日 修正 六、申請專利範圍 。 一第一部份，相鄰於該雷射二極體與該光偵檢器；以 及 一第二部份，相鄰於該貫孔。 1 7.如申請專利範圍第1 6項所述之光學讀取頭，其中該 第一部份包括： 一第一表面，反射從該雷射二極體朝該第二部份放射 的該光；以及 一第二表面，把從該第二部份接收到的該光反射至該 光偵檢器。 1 8.如申請專利範圍第1 7項所述之光學讀取頭，其中該 基底包括： 一基底鏡，形成在該基底的該第二側的一表面上，以 把從該雷射二極體射出的該光反射到該稜鏡的該第一部份 的該第一表面。 1 9.如申請專利範圍第1 7項所述之光學讀取頭，其中該 第一表面平行於該第二表面。 2 0.如申請專利範圍第11項所述之光學讀取頭，更包 括： 一全像元件，被配置在該稜鏡的一部份與該基底的該 第二側之間。 2 1.如申請專利範圍第2 0項所述之光學讀取頭，其中該 物鏡被配置在相對於該基底的該全像元件的相反側。 2 2.如申請專利範圍第2 0項所述之光學讀取頭，其中該 全像元件、該物鏡與該稜鏡的該部份是被配置在該基底的

   11961pi fl.ptc 第23頁 1253071«__93105816 1/月《日 修正

   六、申請專利範圍 L ^ /、第/側與該第二側的一弟 23如申請專利範圍第22 雷射二極體與對應於該雷射 二配置在垂直於該基底的該第一侧與該第二側的一第 直線上，且該第二垂直線與該第一垂直線彼此隔開。 %4. —種光學讀取頭，包括： 一基底，裝設有一雷射二極體與一光偵檢器； 一第一裝配體，配置在該基底的一第一側上，且該第 一裝配體具有一物鏡，該物鏡是可移動地裝設於該基底的 該第一侧’以調整從該雷射二極體到該物鏡的外側的一第 、垂直線上。 I所述之光學讀取頭，其中該 -極體之該棱鏡的另一部份是 -垂 一光徑；以及 一第二裝配體，具有一稜鏡與一全像元件，配置在該 基底的一第二側上，以調整從該物鏡到該光偵檢器的一第

   二光徑。 25· —種光學讀取頭，包括·· 一基底’裝設有一雷射二極體與一光偵檢器； 一第一裝配體，配置在該基底的一第一侧上，且該第 一裝配體具有一物鏡，該物鏡是可移動地裝設於該基底的 該第一側上；以及

   一第一裝配體，具有一稜鏡與一全像元件，配置在該 基底的一第二側上， 帝其中一第一光徑與一第二光徑是分別位於該物鏡與該 雷射二極體及該光偵檢器之間，個別地為形成一第一U形 光徑與一第二U形先徑。

   1253071 案號 93105816 q屮年（I月+ 3_ 六、申請專利範圍 ； ° 光徑 26· —種在光學讀取頭中調整一第一光徑與一第 的方法，該方法包括： 第 在裝設有一雷射二極體與一光偵檢器的一基底的— 一側上，配置具有一物鏡的一第一裝配體； 裝 在該基底的一第二側上，配置具有一棱鏡的一第二 配體； 在該基底的該第二侧與該稜鏡之間，配置一全像元 件； 移動該第一裝配體以調整從該雷射二極體到該物鏡白勺 外側的一第一光徑；以及 、 移動該全像元件以調整從該物鏡到該光偵檢器的—第 二光徑。 27· —種在光學讀取頭中調整第一光徑與第二光徑的方 法，該方法包括： 在裝設有一雷射二極體與一光偵檢器的一基底的一第 一側上，配置具有一物鏡的一第一裝配體； 在該基底的一第二側上，配置具有一稜鏡的一第二穿 配體； & 件； 在該基底的該第二側與該稜鏡之間，配置一全像 兀 移動該全像元件以調整從該物鏡到該光偵檢器的—第 光徑，而不調整從該雷射二極體到該物鏡的外側的一 光徑。

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   修_ 1253071 案號 93105816 六、申請專利範圍 射一極體與一光偵檢器，該光學讀取頭包括： 一單元π’配置在該物鏡、該雷射二極體與該光偵檢器 之間，该早元具有一全像元件與一四分之一波片· 光徑，將從該雷射二極體產生的光透過該單元 傳运到ό亥物鏡；以及 1，徑，將該光透過該單元傳送到該光偵檢器； ' 早元疋相對於該物鏡、該雷射二極體盘該光偵 檢器而移動，以獨自地調整該第二光徑，二體:在該光/一 光徑與該第二光徑之間產生干擾。 而不曰在-亥弟 2 9 —牙童百亡 與括取頭的;f 一物鏡、一雷射二極體與一光偵檢器的光 學項取頭的调整方法，包括： 在该物鏡、兮+ ^ _ 有-全像元件盘？四八極體與該光偵檢器之間，配置具 形成一第_：光徑^之,Γ波片的一單元； 單元傳送到該物鏡^ :攸該雷射二極體產生的光透過該 形成一第二夯你 器；以及 ：該光透過該單元傳送到該光偵檢 相對於該物鏡、 φ 一 元，以獨自地調整# 一 士，^極體輿該光偵檢器調整該單 二光徑之間產生弟—光徑，而不會在該第一光徑與第

   11961pifl.Ptc 第26頁 Ι25307Ί案號931058|6_q牛年μ月斗日 修正 六、指定代表冒。 (一） 、本案代表圖為：第圖 (二） 、本案代表圖之元件代表符號簡單說明： 1 0 0 :第一裝配體 1 1 0 :物鏡 1 2 0、1 5 0、1 6 0 :隔離物 1 3 0 ·輪射板 140 :基底 1 4 1 :雷射二極體 142 :光偵檢器 143 ··貫孔 170 :四分之一波片 180 :稜鏡 1 9 0 :板彈簧 2 0 0 :第二裝配體

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