TWI244112B - Plasma processing apparatus and method for manufacturing the same - Google Patents
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Description
1244112 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關―於一種裝置,其用以將處理氣體電漿化而碰 到被處理物,亦即工件,以進行洗淨、成膜、蝕巧、一面 改質等的表面處理,特別係關於一種所謂的遠距式電漿處 理裝置’其用以在電漿化空間外配置工件。 【先前技術】 電漿處理裝置大致可區分為以下二種:戶斤謂的直接式, 其將工件配置於電極間的電漿化空間内;及所謂的遠距 式’其將工件配置於外部。 遠距式電漿處理裝置方面,例如特許文獻—所揭示者係 具備-對電極’其呈垂直平板狀而左右相對。_電極係連 接南頻電源而形成電遷施加電極,另一電極則接地而形成 接地電極。在該等電極τ側係設有陶究製下部座。該座下 面與工件相對。 μ =由^電源之電場施加,使電極間的空間形成電裝化 =體處理氣體可導入該空間而電衆化。將已電聚化的處 聚表面處理。 #如此’可進行工件的電 述之#置中,必須從工件將電極進而電聚化空間至少 隔開陶瓷製下部座的厚度量。 此,處理氣體到達工件前 的去活化比例會擴大,使表 災衣由處理的效率不佳。, 大致常壓下(大氣壓附近的壓 八 合爭力被丄 下)進行處理時,去活化比例 运更加擴大,並使效率更惡化。 乃 方面,下部座過薄時, 93030.doc 1244112 當電極接近工件,電弧會落到工件 或工件指# 约於招致處理不良 相锆。尤其大致常壓下電弧易掉落。 電場,可能會〜使玉件受到影響。 ^自電極的 時亦:使:種遠距式電聚處理裝置中,與工件的距離較短 曰使私弧易於從電壓施加電極落至工 、, 距離日”電漿氣體難以到達工件而使處理效率亞化 長 大致沓颅丁, 人千思化。尤其, 塗下的電漿處理中,其傾向顯著。 ^,特許文獻二之裝置中,至少在電源側的電壓施加 面經由絕緣構件而設置金屬板。金屬板係電性接 I屬板係、與工件相對。在絕緣構件係形成導出路,直 、以連接電漿化空間下流,在金屬板係形成吹出口,其用 以連接導出路下流。先將電極的電漿化空間形成面、絕緣 的^出路形成面、及金屬板的吹出口緣面相互形成一 面,使電漿化空間、導出路及吹出口連成直線,流路剖面 體相同纟電漿化空間,已電漿化的處理氣體經由導 出路而從吹出口吹出。如此’可防止電弧對工件放電,且 屯水化空間可靠近工件,並提高處理效率。此外,藉由金 屬板可進行a極與工件間的電場遮蔽,防止電場漏茂至工 件,並使工件不受電場影響。 【特許文獻一】曰本特開平9一 92493號公報 【特許文獻二】日本特開2003— 100646號公報 【發明内容】 上述文獻二之裝置中,在絕緣構件與金屬板間有微小間 隙等的工氣層日守’恐怕會於該處產生放電。此外,絕緣構 93030.doc 1244112 件的導出路形成面等可能會因電 能合軔絲』 弘水而跫到損傷。如此,可 g心致粒子產生,並使處理品質受損。 電極的電漿化空間形成面、絕 1 ^ U ^ , 稱件的導出路形成面及 I屬板的吹出口緣面不一定形 — ^ ig ^ _ 面’猎由使其相互突出 或,可防止從電極或絕緣構 並#错^ 至泠电構件等的放電, 工保叹、%緣構件。或改變流路 形成所希望者。 J面積’使大量的處理氣體 本發明係鑑於上述情事而成者,t ^ ΑΛ /、王目的係在應向著雷 極的工件之侧經由 牡㈣者Ϊ 邱h丄 有導電構件之遠距式電㈣ 理裝置中,防止絕緣體的損傷或放電等,並接1 水處 太欲卩口 ^ 甩寻亚提向處理品質。 义之弟一特徵係一種裝置,直 、 漿產生办十老 /、將通過電漿化空間(電 水產生工間)之處理氣體吹出至 工件,並進行工件的表面處理’該穿置1=工間外部的 用以形成前述電漿化空間;導 :、有.電極’其 止放電之導電性的構件),;;在=(具用以電場遮蔽或防 痒向著义、+、 ^ 包丨生接地的狀態,以遮蔽 2者4電極的卫件之側的方式而設置,·及絕緣構件, /、系由介在耵述電極與導電出 絕緣構件係且右兮N W、,巴、,彖體所構成,前述 (亦即不絕緣破培# 毒件間未達到火花電壓 不、、巴、、彖破壞)程度的介電常數與厚度(參 此外,在則述絕緣構件與導電構件間舍、,87 使該間隙所消耗的/曰並以 小_述之式(2))之方十A:!屋,亦即絕緣破壞電壓 數與厚度。如此,可才έ "疋前述絕緣構件的介電常 花)等的放電產生 h構件間防止電弧(火 21而提鬲處理品質。 93030.doc 1244112 也可在前述電極的電漿 面設置固體電介質… 與應朝向工件之側 缝士n “ ” ' 在工件側的固體電介質重疊前述絕 緣構件(芩照圖1)。肤车 考慮固體電介質的介電常數與工 件側部分的厚度而決定 这、吧緣構件的介電常數與厚度。 了 體構成工件伯丨】 > 同_ 口體電介質與絕緣構件。也可將工 件側之固體電介;^ I^ Γ _ 包"貝看作「絕緣構件」的一部份。 前述絕緣構件择呈古.ά & 接”… 、彳.朝别述電極之面'用以形成可連 接别述電漿化空間的處 構件之面,·最好朝及朝㈣導電 央自;面與導出路形成面所構成之 九角及導出路形成面盥朝兩 s丨, ^朝導私構件之面所構成之夾角中, 至 >、將前者倒角丨包含R>f 者 幻角、角倒角)(參照圖9等)。藉由前
所#μ μ防止朝絕緣構件的電極之面與導出路形成面 尸坏構成之夹角因雷將& L 包水而缺口,並防止粒子產 ::角將:更加確實地防止在絕緣構件與導電構= 电將一個角彼此倒角時, r 取好朝電極之面與導出路形 之面;=之夹角的倒角大於導出路形成面與朝導電構件 + 取好則述導電構件的吹出口緣面,並 朝别述絕緣部件之導電 ’、 ^ ^ ^ u 电稱仵之面及導出路形成面所構成 之夹角的倒角與朝導電構 其退縮。如此, 面之父界大致相同位置或比 更加確貫地防止在絕緣構件盥導 間引起放電。 舟V电構件 不管兩述絕緣構件盘導恭 間的間隙厚卢,最好' 的間距,亦即該等構件 花1 度取好以使該等構件間所消耗的的電麗比火 化电屋小之方式,進行前述絕緣構件的介電常數與厚度之 93030.doc 1244112 ::二Γ即使改變絕緣構件與導電構件間的間距,亦 予度,也可確貫地防止在該等構件間產生,電狐 動之前述設定最好在可假設間距,亦即間隙的變 时效。將絕緣構件與導電構件完 最好錢料構件間所消耗的的 盥導日日 包书歎料度。在絕緣構件 籌件間形成厚“的間隙時,即使多少增減該厚声 亦p不’d的大小,最好以使 - 消耗的的電麼比火花電麼小之η 構件間所 常數與厚度(參照圖3)。 ;⑨仏緣構件的介電 最:進行前述火花„的檢測實驗,並依據以較平均低 構件之間的間距,亦即該等構述絕緣構件與導電 的關係。如此,可更加確實地防隙厚度之火花電壓 間引起電弧等的放電。 在、、、-緣構件與導電構件 =代絕緣構件而以氣體層構成介在前述電極與導電構件
;_(稱為「氣體層介在構成」。參照圖7、圖8),也 了以使前述電極與導電構株R 之士 4 — 冓件間所消耗的電麗比火花電壓小 ::::氣體層的厚度。如此,可 电構件間引起電弧(火花)等的放電。 -v 兩述氣體層介在構成中,為^ 面與應朝工件側之面設有固體電㈣間形成 側之固體電介質與前述導電气='知圖7)’猎由工件 午w成珂述氣體層,最好以
93030.dOC 1244112 使前述工件伽+ η J之固體電介質與導電構件間 火花電壓小之方4、 〒間所/肖耗的電壓比 ^ , —万式,設定該氣體層的厚度工件。 朽:仃剛述氣體層介在構成的設計.製造時,不技、、 極與導電構件間的間距,最好以使前述工=闕電 質與導電構件間$ $ ± a件側之固體電介 再仵間所湞耗的電壓比火花電壓 前述氣體層的犀皮τ Μ ^之方式,設定 予度工件。如此,即使改 間的間距,也可磁杏& 灸电極與導電構件 乜了確霄地防止在該等構件間 電。前述設定最好在 弧專的放 心〜、+、〃 距文動之特定範圍内有效。 丁則迷乳體層介在構成的設計.製, 述火花電壓的檢測杳、 取好進行前 花之檢測資料,=、::據以較平均低的位準引起火 係。如此,可的厚度之火花電厂堅的關 弧等的放電。#地防止在電極與導電構件間引起電 電構件係具有:朝前述絕緣體之面、用以形成可 ί接則述電漿化空間之吹出口之緣面、及應朝工件之面; 最好朝前述絕緣體$ &你Α τ 之面與吹出口緣面所構成之夾角及吹出 口緣面與應朝工件之而 斤構成之夾角中,至少將前者倒角 (匕含R倒角、角倒角)。是义 ^ 月)取好别述吹出口緣面分別向著朝絕 緣體之面及應朝工件之面而呈圓形(參照圖9)。如此,可更 加確實地防止在電極與導電構件間,或絕緣構件與導電構 件間引起放電。 、,本發明係-種電漿處理裝置’其藉由將處理氣體電聚化 朝件人出以進订電聚處理,其第n turn t 極構造,其係由可形成用以前述電聚化的空間之一對電極 93030.doc 1244112 2成m件(放電遮蔽板、放電遮蔽構件),其係在電 妾地的狀態—以遮蔽應朝前述電極構造的卫件之側的方式 、置’及絕緣體’其介在前述電極構造與導電構件間, 2將兩者絕緣,前述絕緣體可分成以下二部分 部(第一絕緣體),並用以采a 、、、巴、、豪 )/、用以形成可連接前述電漿化空間下产
处理氣體的導出路(吹出路、· L 呈 ,及弟二絕緣部(第二絕緣體), ,、1乐另外配置於盥镇_ 圖11等)。 ^ 、’、、°的蜍出路側的相反側(參照 :此,絕緣體的第一絕緣部因電聚而損傷 父換即可,不需交換絕緣體全體。此外,可以^將二 緣部由耐電漿材料構成 、、、巴 成。其結果,可削減材料成本 第-絕緣部)彼此相接,可防止:::二㈣ 田 々止电何畜積於絕緣體0 取:以:《性絕緣材料構成前述第一 使用比丽述第u 4取野 一絕緣部。如二。^ 的絕緣材料構成前述第 俨的莫#由已電漿化的處理氣體,可防止絕緣 =出路形成面受損傷。從而,可防絲子產::: 升處理品質。未子產生,並知 必確保耐電聚性,可由較便宜的材料:=絕緣部,不 料成本。“的材料構成相比,可削減絕緣體的材 氮::⑹絕緣材料可―英柄、氧化,、 也可以空氣等氣趙層構成前述第二绝緣部(參照圖17、圖 93030.doc -12- 1244112 2υ。由於空氣等氣體具有良好的絕緣耐力 電極構造與導電構件間絕緣。此外,可更 只地將 材料成本。 丨減絶緣體的 取好丽述電極構造係由以下構件 搞,1在、由# Λ ^ ^ 包%施加電 、連接电場施加機構(電源);及接地電極 接地,最好前述絕緣體及導電…、电 -^ ^ 丹#对應該寻電極中至少雷 %%加電極而設置。如此,可確實 夕免 或電場漏洩。 、 电弧放電至工件 最好前述第-絕緣部的導㈣形成面 電盤介处游上、T k包極構造的 甩水化工間形成面退縮(參照圖11#)。如此,可更 防止第一絕緣部的損傷。 、 前述導電構件也可具有緣面, 出路下流的吹出口;該吹出 成可連接前述導 電漿化H 人出口緣面也可比前述電極構造的 (參照圖11等)。如+ _ 路心成面退縮 )女此’可防止在電極盥導 面間引起放電。 構件的吹出口緣 月IJ述導電構件的吹出口緣面也可 、 化办門开;^ 1述电極構造的電漿 玉間形成面大出(參照圖13等 宴屮政擗士、I… 也J比則述弟一絕緣部的 料成面大出(參照圖13等如此,可华 大詈派$蛛山 J木〒處理乳體而 人出口,並提升處理 出口相反側之外側面(背… ^導電構件的吹 卜側面(月面)也可與前述電極 相反側的外側而(北;、β 弘水化工間
卜側面(月面)呈一面(參照圖13等),A 前述電極外側面艰扩$ ★ y , ,、也了位於比 、縮至内側(吹出口側) 15),其也可位於比疗 )、位置(芩照圖 '匕别述笔極外側面突出於外側的位置(參照 93030.doc -13 - 1244112 圖1 1等)。 隶好將朝鈾述第一絕緣部的電極構造之面與導出路形成 面所構成之夾角倒角(包含R倒角(圖19)、角倒角(圖18)), 以形成第一倒角部(參照圖18〜圖20等)。如此,可防止朝前 述第一絕緣部的電極構造之面與導出路形成面所構成之: 角因電漿而缺口,並防止粒子產生。 將則述第一絕緣部的導出路形成面與朝導電構件之面所 構成之夾角倒角(包含&倒角(圖19)、角倒角(圖⑻),以妒 成第二倒角部(參照圖18〜圖2〇等)。如此,可防止在第一^ 緣部與導電構件間引起放電。 心 仗防止可朝前述第一絕緣部的電極構造之面 :面所構成之夹角的缺損,比防止在第一絕緣部= 件間的放電優先之觀點來看,最好前述第一部 述第二倒角部(參照圖18〜圖2。等)。 …大於則 取好月述導電構件的吹出 部的導雷播杜+二=^ 、朝則逑弟一絕緣 弟二倒角部之交界大致相同位 其退縮(參照圖18、圖19箄 置或比 邱偽道+ 寺)如此,可確實地防止第一嗜续 邛與導電構件間的放電產生。 弟、、,巴緣 最好將前述導電構件的吹出口緣面與 成之夾角倒角(包含汉倒角、角倒角), 之面所構 緣面與庫朝工杜 取好將吹出口 分別向著朝絕緣體之面及應朝工件之吹出口緣面 20)。如此,可防止在+ 圓形(苓照圖 “極與導電構件間’或在第-絕緣部
93030.dOC '14- 1244112 與導電構件間引起放電。 弟一特徵中,在前述導命—# & 一 & XL V私構件使孔部開口,並在該孔部 内側配置前述繁_紹@立r? n i 、、、緣4的處理氣體導出路,藉由前述導 電構件與第一絕緣部劃成吸入路,以將前述孔部作為吸入 可提U吸入路作為前述第二絕緣部的氣體層(參照 圖21)。如此,不僅可腺恭 了將电極與導電構件絕緣,也可進行處 理完的氣體的吸引排裔 & 、 ;、 使别述電極構造的一電極形成同 輛環狀而包圍另一雷;, , 電桎如此,前述電漿化空間也可形成 壞狀。前述第一構件的邋 以出路也可連接前述環狀的電漿化 工间全周。 =發明之第三特徵係使電極的電聚化空間 Γ的導出路形成面及導電構件的吹出1成面相互突、I 或退縮(參照圖11、圖!3、圖14等)。 互大出 根據弟三特徵之一能接 處理气雜㈣、, 一種電漿處理裝置,其藉由將 備:電極;化亚朝工件吹出’以進行電聚處理;其係具 :°每’其係由可形成用以前述電漿化的空間之— 由㈣辨 h構件,其係在電性接地的狀態,絰 由、、、巴緣體而配置於靡乂 、、工 #n 、, 應朝則述電極構造的工件之側(吹ά 側),珂述導電構件係 u人出 漿化空間下流之吹出σ /戏了連接則述電 化空間並非开q Α 豕㈣⑴述包極的電漿 h 亦即,前料電構件的吹出口 h 也可比前述電極的兩將儿 )人囬口緣面 突出(參照圖13)。、艮Γ士形成面㈣(參照圖11等),或 φ D ,可防止從電極放電至導電構件 口人出口緣部。突屮 U冉1千的 、,可良好地吹出大量處理氣體,並提 93030.doc 1244112 高處理效率。 有在電極的電漿化空間形成面設置固 此時,前述導電構件的吹出口緣面不停止於電極=兄: 空間形成面,其也可比固體電介質的表面突出。的〇化 也可由©體的I緣性材料所構成之㉟、緣構 刀 緣體,也可由空氣等氣體声义 則乂 I巴 體層構成別述絕緣體,或由紹餘播 '與氣體層兩方構成前述絕緣體(參照圖16、圖1 * m… ,、用以形成可連接前述電漿化空間下 =% 口上流之導出路(吹出路)。最好用以形成導出 之邛分的絕緣性材料具有耐電漿性。若將導帝 緣構件相互連接,可防止電 ^ 畜積於、乡巴緣體。前述翕鲈思 可设於與絕緣構件的導出路側的相反側。 9 ^據弟二#徵之其他態樣,—種電漿處理裝置, =理氣體電漿化並朝工件吹出,以進行電漿處理^ 置係具備:電極構g1 ^ 門… & #係由可形成用以前述電漿化的空 間之-對電極所構成;及導的工 怨,經由絕緣體而配置於庫 狀 出伽…+ 罝於應朝則述電極構造的工件之側(吹 〇,則述絕緣構件係具有 1 裝化空間下流之導出路^可連接則述電 面,其用以形成述導電構件係具有緣 风了連接削述導出路下流之吹出口,該吹屮 口緣面對前述絕緣構件 即……稱件的ν出路形成面並非形成-面。亦 出口緣面也可比前述絕緣構件的導 出路形成面退縮(參照圖丨丨 ν 縮時,可更加確實地防止二其突出(參照圖13)。退 、 止攸电極放電至導電構件的吹出口 93030.doc -16- 1244112 緣部。突出時,可提高處理氣體的吹出量,並更加提高處 理效率。前述絕緣體不僅包含固體的絕__^ 空氣等氣體層。 弟二特徵中,最好前流纟S @ /丄 好月J逑1巴 '緣構件的導出路形成面比前述 '極的電漿化空間形成面退縮(參照圖U、圖U等)。如此, 可防止絕緣構件因電漿而受到損傷。最好前述絕緣構件之 至”出路形成部分具有耐電聚性。如此,可更加確實地 防止損傷。 第匕三特徵中,Μ述導電構件的前述吹出口相反側的外 面(¾面)也可與前述電極之電聚化空間相反側的 面)呈一面(參照圖13等)’其也可位於比前述電極外面退缩 =的内^欠出口側)的位置(參照圖15),其也可位於比前述 私極外面突出於外側的位置(參照圖丨^。 ^特财,最好㈣前職輯件的電極構造之面盘 咖形成面所構成之夹角倒角(包含,倒角(圖19)、角倒角 (圖18、_),以形成第_倒角部(參照_〜_。如 此,可防止朝絕緣部件的雷朽塞 “亟構造之面與導出路形成面所 構成之夾角因電漿而缺口,並防止粒子產生。 第三特徵中’將前述絕緣構件的導出路形成面與朝導恭 :鼻件之面所構成之夾角倒角(包含尺倒角(圖19)、角: 18、圖·,以形成第二倒角部(參照_〜圖2〇)。如此 可防止在絕緣構件與導電構件間引起放電。 ’ 乐特徵中攸防止朝兩述絕緣構件的電極構造之面盘 V出路形成面所構成之夹角的缺損,比防止在絕緣構件與 93030.doc -17- 1244112 第一倒角部 導電構件間的放電優先之觀點來看,最好^
比前述第二倒—角部大(參照圖18〜圖20)。月1J 第三特徵中,最好前述導電構件的 前述絕緣構件的導電構件之面及第二倒與朝 同位置或比其退縮(參照圖18、圖19)。如二二= 絕緣構件與導電構件間的放電。 ^地防止 緣最好將前述導電構件的…緣面與朝絕 最好將^ 夹角倒角(MR倒角、角倒角),此外, :反::出口緣面與應朝工件之面(朝絕緣體之面的 所構成之夹角倒角吻角、角倒角)。或最 之广出口緣面分別向著朝前述絕緣體之面及應朝工件 Π:,參照圖2〇)。如此,可防止在電極與導電構: 或在、%緣構件與導電構件間引起放電。 千第-特徵中,最好前述電極構造係由以下構件所構成: =施加電極,其係連接電場施加機構;及接地電極,其 ,電性接地’最好前述導電構件係對應該等電極中至少電 ⑽加電極而設置。如此,可確實地防止放電至工件或電 場漏茂。 ,發:中’前述電極構造之—對電極係形成與彼此相對 方=直交而延伸之長尺狀;前述絕緣體與導電構件係與前 &私極朝同方向延伸’進而使形成於前述導電構件的吹出 /、鈉述包極朝同方向延伸,以連接前述導出路及其下流 端,刖述吹出口也可朝與前述相對方向及延伸方向大致直 又之方向開口(苓照圖4〜圖6等)。換言之,一對電極分別朝 93030.doc -18- 1244112 與彼此相對方向及吹出軸 電構件與其朝同方向延伸,户理^向延伸,且上述導 盥—— 纥伸處理虱體的吹出方向也可朝向 刖述相對方向及延伸方向 吹屮n +、,目 置乂之方向。如此,可使 一曰長’亚可一次進行該長度量的表面處理。 :述長尺構造令,在一對電極的長邊方向相互同側的端 。間夾有絕緣材料所構成的間隔物;最好形成前述導電 構件,以避開前述間隔物與電極之交界(參照圖⑺。如此, 在間隔物與電極之交界可引起沿面放電時,可防止其傳遞 至導電構件。 本發明中,制導電構件可防止電弧對卫件放電並使電 極接近工件。因此,可確實防止處理不良或卫件的損傷, 且在已電漿化的處理氣體未去活化中確實碰到卫件,並提 升電漿表面處理的效率。尤其,在大致常壓下處理時,其 評價高°必匕外,可防止電場漏鴻至工#,並使工件不受電 場影響。若將導電構件與絕緣構件相互連接,可防止電荷 蓄積於絕緣構件。 本發明之大致常壓(大氣壓附近的壓力)係指1〇13χ1〇4〜 50_663xl04 Pa之範圍,考慮壓力調整的簡單化或裝置構成 的簡便化日守’敢好為1.333xl〇4〜l〇.664xl04Pa,以9 331χ 104〜10·397χ104 Pa為佳。 【實施方式】 以下,參照圖面說明本發明之實施形態。 說明第一實施形態。圖1係顯示常壓電漿處理裝置的概略 構成者。常壓電漿處理裝置Μ係具有一對彼此相對的電極 93030.doc -19- 1244112 3 1、32。在一電壓施加電極3丨連接作為電壓施加機構之電 源3,另一接地電極32則接地。在該等電極3丨、32間係形成 電漿產生空間30a。在電漿產生空間3〇a,利用電源3施加電 場而引起輝光放電。將來自處理氣體源2的處理氣體導入該 處而電漿化。從後述之吹出口 4〇b將已電漿化的處理氣體吹 至下方的工件W,亦即被處理物。如此,完成工件w的表面 處理。該處理可在常壓下實行。 以/谷射將用以防止於空間3〇a電弧放電之固體電介質33 被膜於與各電極3 1、32另一相對面的下面。另外,圖面中, 固體電介質33的厚度係放大圖示。 在電極31、32下面側(工件側)的固體電介質33下側係設 有絕緣構件40,其係由固體的絕緣體所構成。在絕緣構件 40的中央部係形成處理氣體導出路4〇a,其用以連接電漿產 生空間30a的下流。 在絕緣構件40下側係設有導電構件51,其係由金屬板所 構成。在導電構件51的中央部係形成吹出口 5〇a,其用以連 接導出路40a下流。導電構件51係經由接地線5而電性接 地導電構件5 1藉由電極3 1、32而配置於處理氣體的吹出 側亦即工件…側,並使電極構造30遮蔽與工件w直接相對 者導甩構件5 1中,與電極3 1、32相反側的下面係與應處 理的工件W直接相對。 如此,可防止電弧從電極3丨落至工件w,且可使吹出口 5〇a接近工件…,以使電漿氣體確實到達工件w,並確保處 放率此外,可防止電場漏洩至工件W,使工件w不受電 93030.doc -20- 1244112 場影響。導電構件51係構成可防止電弧等的放電之放電防 止構件或用以―遮蔽來自電極3 1的電場之電場遮蔽構件。 另外,導電構件5 1最好設於一對電極3丨、32中至少電屙 施加電極3 1的下側。 包土 在絕緣構件40與導電構件51間係形成間隙4〇b。使空氣進 入常壓下的間隙働。間隙働有用以提高絕緣幸而積:形 成的情況’亦有原先不應形成但因某種原因而形成的产 況。例如,只將另體的絕緣構件4〇與導電構件51相互重:
時,可形成間隙。 且 上述間隙40b所消耗的的電壓从以系由下式表示。 Vx=abVPp d/2( AtB+BtA+ ABd) (式 1} 在此hi隙4〇b的厚度,亦即絕緣構件4〇 51間的間距
Vpp :電極3 1的峰值間電壓 a ·固體電介質33的介電常數 b ·絕緣構件40的介電常數
U :固體電介質33的電極下側部分的厚度 h :絕緣構件4〇的厚度 另外,間隙40b,亦即空氣的介電常數係%。 在例如數kV〜數十kv的範圍決定峰值間電壓〜,以得 到所希望的輝光放電電漿。 固體電介f 33的電極下側部分的厚度U係與電漿產当 間術側部的厚度相等。設定該固體電介質33的介電弟 A(亦即材質)與厚度tA,以可維持良好的輝光放電。 93030.doc -21 - 1244112 口又疋黾水處理裝置Μ的絕緣構件的介電常數B與厚度t B, 以考慮上述VPP、A、tA,且使間隙4〇b的空氣不會引起絕緣 破壞亦即’間隙40b的火花電壓(絕緣破壞電壓)為Vxo時, 係ά又疋為滿足下式:
Vxo > Vx>-A B γρρ d/2( Α tB+ Β tA+ Α Β d) (式 2) 如此,可在間隙4〇b防止形成電弧者。從而,可防止絕緣 構件40燒焦而產生粒子,其結果,可確保處理品質,並提 升良率。 但是,絕緣構件40的介電常數8係取決於其材質。氧化 鋁中係約7.5,鹼玻璃中係約6〜9,帕雷克斯(登錄商標)玻 璃中係4.5〜5.0,石英玻璃中係3·5〜4·5,氯乙烯中係3〇〜 3.5。因此,決定材質時,最好依據其介電常數β而設定厚 度tB 〇 可使用下述之已知文獻式3求出間隙4〇b的火花電壓νχ〇。
Vxo = 2.405 d(l+ 0.328( d/l〇)-1/2) (式 3) 〔文獻:電力學會大學講座電離氣體論P. 116(歐姆社 刊)〕 式3中,火花電壓Vxo的單位係rkv」,間隙4〇b的厚度d 的單位係「mm」(與式5相同)。係相對空氣密度,間隙4〇b 内的溫度為T〔〕、壓力為P〔 mmHg〕時, = 〇.386P/(273 +T) (式 4) 例如,20、760 mmHg中,=1〇〇122867。此時之式3,亦 P將對間隙4〇b的厚度d之火花電壓Vx〇(文獻值)圖表化 時’係形成圖3之一點鍊線。 93030.doc -22- 1244112 但是,上述文獻式3係顯示平均值,實際上亦有以較低電 壓引起火花之情況。因此,發明者等利用實驗改變火花電壓 Vx〇而公式化。亦即,如圖2所示,在相當於電極3丨之電壓 鈀加側的電極板3丨又下面依次安裝與介電常數相同(介電常 數一4.4)且厚度不同之玻璃49,並在玻璃料與其下方的導電 構件相當的接地金屬板51Χ的間隙40b調整引起火花電壓時 的峰值間電壓Vpp。間隙4〇b的厚度係d=〇5 mm。在此,^ 璃49相當於電漿處理裝置的固體電介質33及絕緣構件40。因 此,其厚度相當於tA + tB。此外,A = B = 4.4。 其、、、。果,對上述式3的文獻值之不均於負向最大者,其厚 度(tA+tB)*2.9 mm時,Vpp=U4 kv。藉由將該結果代入 式1右邊,如下所述,可得到對間隙40b的厚度d之火花電壓 Vxo之式。 (式5)
Vxo= 8.65d/(1.52d+ 1) 該式5係表示相對於間隙4〇b的厚度d,引起火花,亦即最 低位準的火花電塵Vxo者。式5為圖表日夺,係如圖3的虛線。 當然,該虛線係位於較文獻式3的一點鍊線下方。 在電聚處理裝置Μ的製造中,設定絕緣構件4()的介電常 數B與厚度^時,以亦即最低位準的火花㈣VXa為基 準判斷間隙杨的電壓Vx是否比其小,亦即是否滿足式2。 如此’可更加確實防止電弧等的放電產生於間隙楊。 此外如圖3所不,圖表中,式丨所表示電壓的曲線(該 圖的實線)於全體(或取得d的範圍中部分的)係形成於比用 以表示式5的最低位準火花電屋νχ〇的虛線低之下方。其下 93030.doc • 23 · 1244112 限取好使對厚度d的電壓νχ值為相同厚度之火花電壓Vx〇 勺值^如〇·8:〇·9倍左右。如此,不管間隙條的厚度d大 J可防止電弧等的放電產生於該間隙40b。尤其,原先不 應形成但因某種原因而形成間隙杨,對不能預測其厚度d 時有效。 & 另外,圖3的實線需依據以下條件。 固體電介質33的材f :氧化銘(α=7·5)厚度:tA=〇.5_
絕緣構件40的材質:驗玻璃(b=7〇)厚度:一62咖 峰值間電壓:Vpp= 13 kV 當然,為積極形成間隙4〇b而知道其厚度心夺,在該厚度d 中^滿足式2即可。以圖3的圖表上而言,電虔νχ的線最又好 至少在該厚度d的地點(或其周邊)位於比最低位準火花電壓 Vxo的線下方。 準備個人電腦等的計算機所實行之附有圖表製作功能的 表計算軟體,先將式1或式5登錄進去,將A、B、tA、tB等作 為輸入參數而描繪如圖3的圖表時,可簡單地進行上 斷。 j 取代最低位準的火花電壓Vx〇 (式5),以平均的火花電壓 Vx(文獻式3)為基準,也可決定絕緣構件4〇的介電 厚度tB。 ΒΛ 態樣 圖4〜圖6係顯示常壓電漿處理裝置的具體構 者0 該電漿處理裝置⑷係具有:卫件傳送機構4 ;電聚喷嘴 頭1’其係支持於架台(未圖示),以位於該傳送機構4上;、處 93030.doc -24- 1244112 理氣體源2,其係連接該噴嘴頭ι;及電源3。 在處理氣體源2儲存有依槠 在古从* 一 據處理内谷之處理氣體。例如健 乍為電滎洗淨用處理氣體之N2純氣 合氣體。也可以液相儲存,並適量汽化。 里〇2 % 電源3係輸出例如脈衝狀高頻電壓。該脈衝的上 /或下降時間最好10 s以 〶及 1Π 1Α 卜私極31、32間的電場強度最好 0〜H)〇〇kV/cm,頻率最好為05kHz。另外,電塵形狀也 可為正弦波狀㈣代_狀。如上述概略構成所述,在數 kv〜數十kv的範圍決定峰值間電壓、。在此,例如設定 為 vpp= 14〔 kv〕〇 如圖5所示,傳送機構4係具有多數滚筒4a,其係水平並 列。在該等滾筒4a上可載置大面積的板狀工件w,並朝左 右傳送。以上述噴嘴頭1將已電漿化的處理氣體吹至該工: W’並進行例如洗淨等的電聚表面處理。當然、,也可將工 件W固定,另一方面,移動噴嘴頭工。 洋述電漿處理裝置Μ1的喷嘴頭1。 噴嘴頭1係具備:上側氣體整流部10、及下側放電處理部 2〇,其朝與圖5之紙面相直交的前後方向延長。 氣體整流部10係具有呈前後細長容器狀的本體11,在該 本體11係收容管零件12。管零件12係具有:左右一對管 13,13、及用以夾持該等之上下一對管夾14,14;其與本體^ 朝同方向延伸。利用管零件12將本體丨丨内部區分為上下二 個處理室11a、lib。如圖4及圖ό所示,在氣體整流部10的 長邊方向一端部設置一管13的輸入口 13a,在另一端設置另 93030.doc -25- 1244112 一管13的輸入口 13a。另外,與各管13,13的輸入口 I3a,13a 側的端部相反侧之端部係使用插塞而塞住。 來自處理氣體源2的氣體供應管2a係分成二邊,其分別與 一管13的前端部、另一管π的後端部相連接。處理氣體源2 的處理氣體經由管2a而導入二個管13,13,並於該等管π,π 内相互朝逆向流動。孔11 e係朝前後長邊方向延伸於各管 13,13的上側部及上側的管夾14。孔ue也可呈點狀而按短間 隔多數設於前後,也可呈裂縫狀而朝前後延伸。管13,丨3内 的處理氣體通過孔lie而往上側處理室Ua漏洩。之後,通 過官零件12兩腋的裂縫狀間隙π c而流出於下側處理室 lib。如此,可於長邊方向將處理氣體均勻化。 針對電漿噴嘴頭1的放電處理部2〇作說明。 如圖5及圖6所示,放電處理部2〇係具有··電極構造3〇, 其係由左右一對電極31、32所構成;及容器21,其用以保 持此電極構造30。 各電極3 1、32係由例如不鏽鋼等導電性材料所構成,其 呈剖面四角形而朝與圖5的紙面直交之前後方向延伸為直 線狀。各電極3卜32的角係形成R,以防止電弧。在該等電 極31、32之間係形成電漿產生空間3()a朝前後方向延伸為裂 縫狀。《產生空間30a的厚度(電極31、32間的間隔)係例 如2 mm。施以噴砂時,以溶射使例如介電常數^75的鋁 所構成之固體電介質33被膜於各電極3〇的相對面、上面及 下面。固體電介質33的厚度tA係例如u=imm。 另外SI 5中,符號3a係從電源3至電壓施加電極^的供 93030.doc -26- 1244112 應電線,符號3b係來自接地電極32的接地線。此外,符號 30c係電極調温用冷媒路(於圖6中省略)。 用以保持電極30,30之容器21係具備:頂板22、左右一對 側板23、左右一對角構件(角容器)24、及底板部5〇(於圖4 中省略)。各角構件24係由絕緣樹脂所構成,其呈剖面逆L 字形而朝與圖5的紙面相直交之前後方向延伸。角構件% 係使各電極30上面與背面分開。在二個角構件以,“上側部 者間係形成間隙24a。間隙24a係連接電極3丨、32間的電漿 產生空間30a的上流。 角構件24,24上面係覆蓋由剛性鋼材所構成 板22。在頂板22的左右中央部係形成朝前後延伸之裂縫 22a。裂縫22a連接氣體整流部1〇的下側處理室ub的下流, 且連接間隙24a的上流。如此,來自氣體整流部⑼的處理氣 體經由裂縫22a及間隙24a而導入電漿間空間3〇a。 在各角構件24的背面(外側面)分別使由剛性鋼材所構成 之側板23分開。以拴緊螺栓將各側板23的上端部連結且剛 性結合於頂板22。利用頂板22與左右的側心構成門型框。 在各側板23分別於長邊方向間隔設置複數緊固螺检緊固 螺栓25(電極接近機構)與拉拔螺检拉拔螺检%(電極離間機 構)。緊固螺栓25拴入側板23且前端抵接於角構件24背面, ,而經由角構件24而使電㈣朝接近另—電極之方向推 堡。拉拔螺栓26在收容於樹脂製螺栓色(螺拴座)27之狀能拴 入電極30,使電極30拉至遠離另一電極的方向。調2 忒等螺栓25、26的栓入量,可矯正長吸雨 ° 贫及弘極3〇,3〇的歪曲, 93030.doc -27- 1244112 使電極間空間30a的厚度全長固定。此外’可阻止電極31、 32因庫倫力或,電極31、32的金屬本體與表面的介電常數 層33之熱膨脹率不同或電極内部溫度差所造成熱應力等熱 力而正曲。其結果,可確實地朝下方(亦即沿著與電極 3卜32者的相對方向直交之吹出軸)均勻吹出處理氣體進 而可確實地均勻電漿處理工件W。 針對構成容H21底部之絲部5〇作說明。底板部5〇係具 備板狀絕緣構件40及金屬板所構成之導電構件Η,·其係朝 圖5的、,、氏面相直父之前後方向水平延伸。底板部%橫跨左 右側板23,23與角構件24,24及電極構造3〇下面,且自身支持 上側噴嘴頭1的構成要素。因此,底板部5〇覆蓋應向著電極 構造30的工件W下面,並將其遮住,以使電極構造儿不直 接”工件w相對。換吕之,以底板部的導電構件51覆蓋 應朝電極構造30的工件W的下面,且使可絕緣兩者之絕緣 體45介在並裝填於該等電極構造3〇與導電構件51之間。底 板部50的左右兩端部係較側板23,23突出。該左右突出部由 未圖不之支持機構而支持。另外,也可以螺栓等連結底板 部50與側板23。 絕緣構件40的材質,可使用例如介電常數β=4·4的玻 璃。 在絕緣構件40的上面係形成凸條4〇c朝與圖5的紙面相直 交之前後長邊方向延伸。在形成於角構件24下端面之凹溝 24b嵌入該凸條40c。 在絕緣構件40的左右寬度方向中央部係形成導出路 93030.doc -28- 1244112 40a(吹出路)。導出路4〇a係呈裂縫狀,其朝與圖3的紙面相 直父之前後方向細長地延伸,並連接電漿化空間3〇a的下 流。絕緣構件40中,導出路40a的左右兩側内端面,亦即導 出路形成面只退縮至電極31、32的相對面,亦即較電漿化 空間形成面的左右外側。如此,導出路4〇a的寬度比電漿產 生空間30a廣,亦即使流路剖面面積擴大。 絶緣構件40的左右兩端部係比側板23,23突出。 導私構件51全體覆蓋絕緣構件4〇下面。導電構件5丨係由 例如不鏽鋼板所構成。在導電構件51的左右寬度方向中央 部係形成吹出口 50a。吹出口 5〇a係呈裂縫狀,其朝與圖5的 紙面相直交之前後長度方向細長地延伸,並連接導出路術 的I抓進而,經由導出路4〇a*連接電極構造30的電漿產 生空間3〇a。(如此,底板部5()係形成可容許處理氣體吹出 =造1導電構件51的以口⑽緣面僅較絕緣構件仙的 形成面退縮至外側。如此,吹出口心的寬度係 〇a廣,亦即使流路剖面積擴大。 ’也可洲左右—對板構件構成絕緣構件40以取代 可二:在該等板構件者間形成導出路4〇a。同樣地,也 在兮等㈣株對板構件構成導電構件51以取代一體者,並 X荨板構件者間形成吹出口 5〇a。 在導電構件51下方可配置工
的電弧’並使噴嘴頭10接 …:防止對工件W 實到達工件w。 以件W’以在常壓下使電漿確 溶接將螺帽55固定於導電構相的左右兩側部 93〇3〇.d〇c -29- 1244112 另-方面’在絕緣構件4G下面係形成凹部·,其用^入 螺帽55。此外’在絕緣構件4〇係形成螺栓插穿孔條,盆用 以從上面到達凹部楊。接著,金屬製螺栓%通過插穿孔撕 而螺合螺帽55。如此,將導電構件”固定於絕緣構件4〇。 在螺栓56頭部係扣合接地引線5的端子&。該接地引線% 接地。如此,導電構件51係經由螺栓56及螺帽加電性接 地。 在絕緣構件40之電極31、32下側部分4〇χ的下面係形成凹 部術。如此,在絕緣構件懒導電構件51間係積極形成間 隙40b。凹部4时進而間隙4〇b係連接導出路4如與吹出口 5〇a °間隙40b的厚度d係例如d= 1 mm。 下 質 常麼電漿處理裝置⑷中,設定絕緣構件4G(b=44)的電極 側部分40x(間隙40b除外)的厚度t b,以滿足式2。例如(^ 5 nun。如此,可防止間隙4〇b的電弧,並確保處理品 其次’說明第一實施形態之變形態樣。 如圖7所示,在電極3卜32與導電構件51間也可不需絕緣 構件40。亦即,電極31、32與導電構件51只間隔特定距離d, 且在兩者間係形成間隙40b。詳言之,厚度:u、介電常數: :的人固:電介質33被臈於電場施加電極31下面,藉由此固體 電介質33下面與導電構件51上面劃成間隙4仙。間隙4此内 係充滿空氣。空氣係形成具良好絕緣耐力之絕緣體。如此, 間隙亦即氣體層(空氣層)4〇b係構成可將電極31與導電構件 5U巴緣之絕緣體。另外,圖7中,固體電介質33只被膜於電 93030.doc -30- 1244112 昜施力包極3 1的相對面與下面,並未被膜於接地電極u, 但與圖1相同丄也可被膜於兩電極31、32。 以不引起該氣體層4〇b的絕緣破壞之方式,設定氣體層 40b的厚度d換吕之,電極31下側的固體電介質與導電 構件51間所消耗的電壓Vx係設定為比火花電壓Vx〇小。具 體而s ’係設定為滿足下式。
Vxo> Vx= A Vpp d/2(tA+ Ad) (式 6) 式6在上述式2中係置有SB=1、tB=〇者。與式3的文獻值⑽ 3的一點鍊線)相比,構成基準之火花電壓νχ〇最好使用式$ 的最小位準實驗值(同圖的虛線)。如此,可防止在氣體層働 產生電弧。此外’與圖3的實線相同,νχ不管d值,藉由降 低Vxo,即使因某種原因變動氣體層4〇b的厚度心也可確實 防止電弧產生。另外,在d包含原先之值的一定範圍内,若 滿足Vxo > Vx即可。 如圖8所示,在電極31、32與導電構件51間也可不需絕緣 構件40,在電場施加電極31也可不需設置固體電介質μ。 如此,藉由電極31的金屬本體與導電構件51,可劃成氣體 層40b。另外,此時,在與接地電極32的至少另一電極” 的相對面必須設置固體電介質3 3。 圖8態樣中’以使電極31與導電構件51間所消耗的電壓 Vx(=Vpp)比火花電壓Vx。小之方式,設定氣體層楊的厚度 d。與既述態樣相同,火花電壓νχ。與式3的文獻值(圖3的一 點鍊線)相比,最好使用式5的最小位準實驗值(同圖的虛 線)〇 93030.doc -31 - 1244112 換言之,藉由最小位準實驗值之式5 VPP<8.65d/(1.52 d+ 1) (式 7) 為滿足上式,對使用電壓Vpp設定氣體層4〇b的厚度d。如 此’可防止在氣體層4〇b產生電孤。 另外,圖8態樣的裝置中,將氣體層儀的厚度d設定為i 並增減供應電MVpp,~使;咸少電H則可確認的 車巳圍時係vpf^3 kv。如此,可確認式7為相當安全域。 圖W顯示絕緣構件4 〇之導出路形成部的形狀的變形態 樣,。該態樣中,將絕緣構件4〇上面(朝向電極構造%之面) 與導出路4〇a形成面所構成之夹角為厌倒角,且形成第一倒 角術。此外,將絕緣構件侧導出物a形成面與下面(朝 電極構造30之面)所構叙夹角Μ倒角,且形 40s。 Π 藉由第-倒角部撕,可防止絕緣構件4〇上面與導出路形 成面所構成之夾角因電渡而缺口,並防止粒子產生。進而, 可提升處理品質,並提高良率。 第一倒角部撕係大於第二倒角部40s。亦即,第一倒角 曲率半㈣大於第二倒角部他。如此,可防 構件概面與導出路形成面所構叙㈣的缺損 確實防止粒子產生。 另外,也可以角倒角形成第一、第- $ 土 罘一倒角,以取代R倒角。 再者,請樣中,導電構件51的吹“ 著朝絕緣構件4 〇的上面與應朝工 別白 丨卞VV的下面而為半 圓形。換言之,使導電構件51的上面盥 /、人出口 50a緣面所構 93030.doc -32- 1244112
成之夾角可為R倒角, A 使17人出口 5〇a緣面與下面所構成 :角可為R倒角。如此,可更加確實防止在電二 件51間,或在絕緣板41與導電構件51間跳出電弧。^構 也可/、將導電構件51的上面與吹出口 5崎面所構成之夹 角倒角,或只將吹出口 5Ga緣面與下面所 也可為角倒角而取似倒角。 x角倒角。 其次,依據圖10〜圖12說明第二實施形態。 如圖10所不’第二實施形態之常壓電漿處理裝置M2係具 有:處理氣體源2、脈衝電源3、工件傳送機構4、門型框⑽、 及左右一對噴嘴頭(處理頭)1。處理氣體源2、電源3、工件 傳送機構4係與圖4〜圖6之裝置M1相同。 門型框60係具有左右腳62,其配置於傳送機構4的上方。 門型框60内係形成空洞,其構成用以排出處理完的氣體(包 S處理所產生的副生成物)之排氣管道。亦即,門型框的 各腳62内部藉由間隔壁64而區分為内外二個吸引室62a、 62b。在腳62的底板63係内外形成二個吸入口 63a、63b,其 分別連接該等吸引室62a、62b。吸入口 63a、63b係呈裂縫 狀,其朝與圖丨的紙面相直交之前後方向延伸,但也可為與 該紙面直交方向並列之複數點狀孔。 另一方面,内外的吸引室62a、62b上端部係連接於用以 構成門型框60中空之上架框部61内。吸引管6a從上架框部 61的中央部延伸,該吸引管6a係連接排氣泵6。藉由排氣泵 6的驅動’將噴嘴頭1處理完的氣體從内側吸入口 63a吸入内 側吸引室62a,且將該處未吸完之處理完的氣體或外面空氣 93030.doc 33· 1244112 從外側吸入口 63b吸入外側吸引室62b。如此,可確實地防 止處理元的氣體的吸入漏洩,且防止内側吸入口 6 3 a的外面 空氣吸入,而只將處理完的氣體吸入内側吸入口 63a。吸入 各至62a、62b之氣體在上架框部61内部合流後,經由吸引 管6a而從排氣泵6排出。 在各腳62上側部以可出沒方式設置内外二個節流孔板 6 5 A 6 5 B。藉由该荨卽流孔板6 5 A、6 5 B可分別調節室6 2 a、 62b的集中量,進而可分別調節從各吸入口63&、63b的氣體 吸入量。 常壓電漿處理裝置M2的喷嘴頭1係呈左右一對,其位於 滾筒4a上方,亦即工件w的移動平面上方,而支持於門型 框60的左右兩腳62間。左右的噴嘴頭1係相互形成同一構 成。 如圖10所示,裝置M2中,底板部50的左右片側經由連結 板5 9而與相鄰的贺嘴頭1的底板部$ 〇相連結。連結板$ 9與底 板部50係以螺栓56而相連結。 如圖11所不,裝置M2的喷嘴頭1中,底板部5〇的構成係 邛伤與裝置Ml者不同。詳言之,裝置M2的底板部5〇係具備 絕緣體45、及導電構件51 ;其朝與圖u的紙面相直交之前 後方向水平延伸。絕緣體45係由内側的第一絕緣板41及外 側的第二絕緣板42所構成。換言之,絕緣體45係由第一絕 緣部41,其係由板狀固體絕緣體所構成;及第二絕緣體42, 其係由構成與該第一絕緣部41另體之板狀固體絕緣體所構 成0 93030.doc -34- 1244112 第一絕緣板41係呈寬度窄而朝前後延伸。第二絕緣板42 係呈寬度廣,一其左右兩端部係比側板23突出。在第二絕緣 板42的左右中央部係形成朝前後方向延伸的裂縫狀開口, 將第一絕緣板41嵌入該裂縫狀開口。在第二絕緣板“的裂 縫狀開口的左右兩側内緣與第一絕緣板42的左右兩側外係 刀別形成ί又差,藉由使该等段差相互咬合,相繼接合第一、 第二絕緣板41、42者。 在第一絕緣板41左右寬度方向的中央部係形成導出路 4〇a(吹出路)。導出路40a係呈裂縫狀,其朝與圖3的紙面相 直交之前後方向細長延伸。該導出路40a的前後全長係連接 前述電極構造30的電漿化空間30a下端部,亦即下流端。第 一絕緣板41的導出路4 0 a形成面係與上述裝置M丨的絕緣構 件40相同,其分別只較電極31、32的相對面,亦即電漿化 空間30a退縮至左右外側。如此,導出路4〇a的寬度比電漿 化空間30a廣,亦即使流路剖面積擴大。 第二絕緣板42係配置於與第一絕緣板41的導出路4如側 的相反側。在第二絕緣板42上面係形成凸條4〇c,該凸條4〇c 係嵌入角構件24的凹溝24b。 以相互不同的固體絕緣材料構成第一、第二絕緣板“'Μ。 以耐電漿性材料構成第一絕緣板41。進一步言之,使用 比第二絕緣板42耐電漿性高的絕緣材料構成第一絕緣板 41。例如,以石英構成第一絕緣板41,以氣乙烯構成第二 絕緣板42。一般而言,如石英之耐電漿性高的材料係比非 耐電漿性高的氣乙烯等高價。 93030.doc -35· 1244112 導電構件51係完全重疊於第一、第二絕緣板41、42下面。 在導電構件5 1與絕緣體45間並未形成間隙。但是,假設設 有厚度d的間隙,不管d的大小,為滿足式(2),藉由設定絕 緣體45(尤其第一絕緣板41)的介電常數與厚度,可在導電構 件5 1與絕緣體45間防止電弧跳出。 與上述裝置Ml相同,導電構件51的吹出口 5(^緣面僅較 第一絕緣板41的導出路4〇a形成面退縮至外側。如此,吹出 口 5如的寬度比導出路4〇a廣,亦即使流路剖面積擴大。 另外,也可藉由左右一對板構件構成第一、第二絕緣部 41、42,以分別取代一體者,且也可在第一絕緣板“的一 對板構件者間形成導出路40a。同樣地,也可藉由左右一對 板構件構成導電構件5丨,以取代一體者板,且在該等板構 件者間形成吹出口 50a。 如圖12所不,在電極3丨、32的長邊方向兩端部間係夾有 用以維持電漿化空間3〇a的厚度之絕緣樹脂製間隔物34。最 好在導電構件51的吹出口形成端面的長邊方向兩端部形成 R狀避開部51a,以避開電極31、32與間隔物34之交界。 祀據上述構成之常壓電漿處理裝置M2,即使在絕緣材 41、42蓄積電荷,也可以導電構件51將其接地,並防止從 絕緣材41、42至工件W的放電。 糟由以石英破璃構成用以形成導出路40a之第一絕緣板 41可確保耐電漿性,另一方面,藉由以便宜的氯乙烯構 成不會暴露於電漿之第二絕緣板42,與以石英構成絕緣體 45王體相比,可削減材料成本。由於第一絕緣板41的導出 93030.doc -36- 1244112 路40a形成面較電極構造30的電漿化空間3〇a形成面退縮, 故可更加確實地防止電漿損傷第一絕緣板41。 由於導電構件51的吹出口 5〇a緣面較電極構造3〇的電漿 化空間30a形成面退縮,且較第一絕緣板41的導出路形 成面退縮,故可確實地防止在電極3丨與導電構件5丨的吹出 σ緣部間引起放電。 長呎喷嘴頭1的長邊方向兩端部中,藉由形成導電構件51 =開間隔物34與電極31、32之交界之構成,在間隔物“與 電極31、32之交界引起沿面放電時,可防止其傳遞至導電 構件51。 % 其次’說明第二實施形態之變形態樣。 乂如上所述,圖U的裝置M2t,導電構件51的吹出口緣面 係較電極構造30的電漿化空間形成面退縮,以防止從電極 31至導電構件51的放電,但也可因情況而使該等面之位置 關係相反。 亦即’如圖13所示,導電構件51的吹出口5〇a緣面也可比 絕緣構件41的導出路4Ga形成面突出,且比電極3卜32的電 浆化空間3〇a形成面突丨。如此"欠出口5〇a比電槳化空^ 3〇a見度窄。如此,可在吹出口池大量集中處理氣體,以 確實碰到^牛W。其結果,可更加提升處理效率。又,可 直接保持高溫將電漿化空間3〇a所加熱的處理氣體吹至工 件W。 或如圖14所示,導電構件51的吹出口 5〇a緣面也可比絕緣 構件41的導出路術形成面突出,且與電極化μ的電聚化 93030.doc -37- 1244112 空間30a形成面形成一面。如此,可防止處理氣體的吹出量 減少,並確保處理效率。 此外’圖ιΓ之裝置M2t,導電構件51料端面,亦即爽 有導電構件51的吹出n5Ga而與左右各部之吹“則目反 側之背面係位於比電極31、32的外側面,亦即與電漿化空 間30a相反側之背面^ k . f ^ 月囟大出於外側,但如圖13、14所示,也可 構成該等面彼此為一面。 再者^圖15所不,導電構件51的外端面係位於比電極 31、32外側面之内側的吹出口 5〇a附近的位置。 緣體45不僅包含第_、第二絕緣板4ι、亦即固體絕 =構件,切包含空氣等所構成之氣體層,亦即氣體絕緣 。例如’如® 16所*,絕緣㈣、42與導電構件51也可 門Ik特疋距離d,並在兩者間形成間隙娜。間隙他内係 ,氣:氣係具良好絕緣耐力之絕緣體。間隙,亦即 氣體層(空氣層)條與固體的絕緣板4卜42一同動作,以構 成可將電極31與導電構件51絕緣之絕緣體45。設定氣體層 杨的厚度,亦即絕緣板41、42與導電構件η之距離d,以/ 使軋體層杨所消耗的電壓比火花電壓小。 、卜也可以氣體層構成絕緣機構45的第二絕緣部,以 取代絶緣板42。詳言之,如圖17所示,在比電極構造 導電構件㈣的第一絕緣板41外側(與導出路術相反側)係 劃成間隙,亦即氣轉jg
^ ,、體層42S(絶緣空氣層)。藉由該氣體層42S 可才成弟二絕緣部。根據該變形態樣,由於不需第二絕緣 板42,故可更加削減材料成本。 93030.doc -38- 1244112 另外,圖13〜圖17中 33 〇 係省略電極31、32的固體電介質 圖1 8係弟一絕緣板41的導出敗并/ Λ J等出路形成部之形狀,其加上盥 圖9態樣相同的改變。亦即,第一 π ^ 、、、巴緣板41上面(朝電極構 造30之面)與導出路4〇a形成面所 风甶所構成之夾角係角倒角為特 定角度(例如45度),並形成第—倒角部仏。此外,第一絕 緣板41的導出路術形成面與下面(朝導電構件觀面)所^ 成之夾角係角㈣為特定角度(例如45度),並形 部41b。 月 藉由第-倒角部41a,可防止電漿造成第一絕緣㈣上面 與導出路形成面所構成之夾角缺口,並防止粒子產生。進 而,可提升處理品質,並楹宾_专 墙 t 貝五挺间良率。弟一倒角部41以系比第 二倒角部川大。如此,可防止第一絕緣板41上面與導出路 形成面所構成之夹角的缺損,進而可確實防止粒子產生。 再者,圖18的態樣中,導電構件51的吹出口他緣面係相 對於第-絕緣板41㈣二倒角部41b與下面之交界而位於 左右方向的同位置。如此,可確實在電極31與導電構件η 之間防止電孤跳躍。此外,吹出D5()a比導出路恤廣,可 流暢地吹出處理氣體。 另外,電構件51的吹出口 50a緣面係較第—絕緣部之第二 倒角部41b與下面之交界退縮至左右外側。 ”圖19係顯示上面倒角之其他態樣。該變形態樣中,第— 絕緣板41的倒角係形絲倒角,以分別取代角倒角。詳言 之’弟—絕緣板41上面與導出路術形成面所構成之夾角係 93030.doc -39- 1244112 R倒角,且形成有第一倒角部 涂出路40a形成面與下 所構成之夾角—係係R倒角,且形成有第二倒角部4id。第 倒角部41(^的‘率半徑R係比第二倒角部41d大。 圖20係針料電構件51的吹出口形成部之形狀加上與圖 9態樣相同的改變者。亦即,導電構件的吹出口 50a緣面 分別向著朝第—絕緣板41的上面與應朝工件w的下面而為 半圓狀呈圓形°換言之,導電構件51的上面與吹出口 50樣 面所構成之夾角可形成尺倒角,且吹出口 5〇a緣面與下面所 構成之夾角可形成R倒角。如此,可更加確實防止在電極η 與導電構件51間,或在絕緣板41與導電構件51間跳出電 弧。、另外’也可只將導電構件51的上面與吹出口術緣面所 構成之夹角倒角,或只將吹出口⑽緣面與下面所構成之爽 角倒角。也可為角倒角而取代尺倒角。 其次’依據圖21〜圖2?# 贫- —^ 理裝置犯。 理如圖= 斤示’常屢電聚處理裝置M3係進行電浆表面處 衆姓刻之裝置。在裝置奶的處理氣體源⑽蓄 積电水蝕刻用處理氣體,例如CF4等。 裝置M3係具備筒狀喷嘴頭7〇,以取代 1。該筒狀噴嘴頭70孫.L 我凡育嘴頭 二“:〇係在上下朝軸線之狀態支持於架台(未 ',、在问狀噴嘴碩70下方係配有可蝕刻之工件w。 詳述筒狀噴嘴頭70。 Η狀賀嘴碩70係具備··軸線朝上下之 本體7!内之絕緣支持架 衣填於该 及私極構ie30X。本體71係呈三 93030.doc -40- 1244112 段筒狀,其係上下連接三個導電金屬製本體構成構件72、 :3、74。絕緣支持架嶋呈筒狀,其係上下連接三個絕緣 樹脂製本體構成構件81、82、83。 、 裝置M3的電極構造3〇χ係形成同轴雙環狀。亦即, 段本體構成構件83係裝設電場施加電極沿。電場施加電極 似係形成與本體71同軸的有底筒狀。在電場施加電極31χ 外面係被膜固體電介質33。在電場施加電極似内部係插入 可構成與本體71同軸之導電金屬製管35的下端部。導電管 35於中間部㈣導電環%而導通電極Μχ,且上端部朝支持 架81上方突出,並連接脈衝電源3(電場施加機構卜 在下段本體構成構件74内周係裝設接地電極32χ。接地電 極32Χ經由可從導電性本體71及該本體71延伸之接地引線$ 而接地。接地電極32Χ係與本體71同軸,且形成比電場施加 電極31Χ大徑.短小的筒狀。在接地電極32χ内部係插入配 置電場施加電極3 IX。亦即,接地電極32χ包圍電場施加電 極31Χ。如此,在該等31又、32χ間係形成環狀電漿化空間 3 0b。在接地電極32Χ内周面係被膜固體電介質33。 另外,在管35的上端開口係送入調溫用冷媒。該冷媒通 過管35後,藉由通過電場施加電極31χ的内周及管35的外周 間,將電極3 IX調溫。此外,藉由經過形成於支持架構成構 件83及本體構成構件74之連通水路(未圖示),環繞接地電極 32Χ外周與本體構成構件54間的環狀空間7〇d,將電極32χ 調溫。之後,冷媒經由依序通過本體構成構件74、支持架 構成構件83、82及本體構成構件72之排出通路(未圖示)而排 93030.doc -41 - 1244112 出。 來自處理氣體源2X的處理氣體經由噴嘴㈣的本體構成 構件72或形成於支持轉成構件…83等之處理氣體供岸 路·,此外,經過環(旋回流形成構件)84的旋回流形成路 84a後,導入環狀電漿化空間鳩。另一方面,來自脈衝電 源3的脈衝電壓經由導電管35及導電環%而施加至電極 31X。如此,在電聚化空間遍形成電場,並使處理氣體電 漿化。 另外,旋回流形成環84在接地電極32χ上側係裝設於支持 架構成構件83’以包圍電場施加電極31χ。旋回流形成路… 係具有··環狀路84b,其沿著環84外周;及複數旋回導孔 84c,其從環狀路84b周方向的複數位置貫通至環料内周 面。環狀路84b將來自處理氣體供應路7〇b的處理氣體行渡 周方向的全周。旋回導孔84c係大致沿著環84内周的接線方 向,且朝内周面下傾之細通路。來自環狀路84b的處理氣體 藉由通過旋回導孔84c而形成沿環狀電漿化空間3〇b周方向 的咼速旋回流。如此,可增長處理氣體的電漿化空間3牝 内的流通距離,提高電漿密度,並良好地大量吹出,以確 實碰到工件W,,進而提升蝕刻率。 在筒狀喷嘴頭70的下段本體構成構件74下側係配置底部 90(贺鳴端構成部)。底部9〇係具有··外部喷嘴部9丨、及内部 噴嘴部92。 内°卩喷嘴部92係由例如聚四氯乙烯等的絕緣樹脂所構 成’其係構成「第一絕緣部」。内部喷嘴部92係形成比外部 93030.doc -42- 1244112 小徑,且比接地電極32X若干大徑之圓盤狀。在内 HP92令—央部係形成導出路…。導出路仏係呈盘電 極3则軸的漏斗狀,其上部錐部耗連接電漿化空間 3〇b。此外,在導出路仏的上部錐部份係靠近電極3以的下 :部。如圖u所示,漏斗狀導出路92a的下部直部分係形成 底面視長圓形。導出路92_下端部係朝開口 4構成吹出 口 〇 如圖21所示,在内部噴嘴部92下面中央係設有反凸部 咖’以形成上述導出路仏的下部直部分。反凸部灿的外 周面係隨朝下方而縮徑。該外周面藉由與導出路92a的下部 :部分的内周面交又,使反凸部92b的下端(前端)形成刀緣 狀。 、例士不鏽鋼等的導電金屬形成外部噴嘴部9 i,其係構 成「導電構件」。外部噴嘴部91係形成與本體構成構件Μ 同徑之圓盤狀。外部喷嘴部91藉由螺栓(未圖示)而固定於本 體構成構件74的下端面。外部噴嘴部91經由本㈣及接地 引線5而電性接地。 在外4喷酱部91上面係形成凹部91a。在該凹部仏係收 =内部噴嘴部92。在外部喷嘴部91的凹部9ia内底或内部喷 嘴部9 2下面係一體設有可漂浮内部噴嘴部& 2之間隔物(未 圖不)。如此,在外部噴嘴㈣與㈣嘴嘴部训係形成間 :9〇s。間隙90s係構成「由氣體層所構成的第二絕緣部」。 精由/乍為第二絕緣部之間隙90s及作為第-絕緣部之内部 贺紫部92,可構成絕緣體,其用以將電極構造3GX及外部嘴 93030.doc -43- 1244112 嘴部91,亦即導電構件絕緣。 間隙90s上巧部係連通吸引路7〇c。吸引路7〇c係依序形成 本體構成構件74、支持架構成構件83、82及本體構成構件 72。吸引路70c的上端部係經由吸引管以而連接排氣泵6。 在外部噴嘴部91的凹部91a中央部係形成可朝下方開口 之孔部91b。如圖22所示,朝孔部91b的部分91下面之開口 係形成比上述反凸部92b的下端緣若干大之長圓形。如圖2ι 所不,在孔部91b係插入配置内部噴嘴部92的反凸部92匕。 (亦即,在外部喷嘴部91係形成孔部91b,其用以將内部喷 嘴部92的吹出路92a配置於内側。)前述間隙9〇s經由與孔部 叫内周面與反凸部92b的外周面之間,而朝外部噴嘴㈣ 的下面開口。如此,作為第二絕緣部之間隙構成「吸入 路」,其用以將前述孔部91b作為吸入口。如上所述,藉由 反凸部92b的前端形成尖的刀緣狀,使間隙9Qs構的部糾 下:開口的内周緣與導入路92a前端開口的外周緣崩壞。 二置M3中,由於在電極構造3()χ與工件w間以電性接地 大=配置導電金屬製外部噴嘴部9卜故不會招致電弧放電 所,xe成處理不良或工件W’的損傷’可使喷嘴頭顺近工件 w’’並確實提升電漿處理效率。藉由内部噴嘴部%與間隙 9〇s所構成的絕緣機構, 州之間絕緣。了確貫將-極構造30Χ與外部喷嘴 :P m 91與内部噴嘴部92間的間隙90s作為第 緣部,不僅可將電極31χ與外部噴嘴部Μ絕緣,利 氣泵6的驅動可作為用 為用以吸入處理完的氣體(包含蝕刻所產 93030.doc -44- 1244112 生的副生成物)之吸入路。處理完的氣體可從作為吸入路的 間隙90s依序經由吸引路7〇c、吸5if6a而從排氣果6排出。 另外,在吸引管6a係介有流量控制閥补(吸入流量調節機 構)’以調節吸入流量。 本發明並不限於上述實施形態者,在不違反其精神的範 圍内可採用各種形態。 例如,最好導電構件至少相對於電壓施加電極而設置, 也可相對於接地電極而設置。 最好絕緣體至少設於電壓施加電極與導電構件之間,也 可設於接地電極與導電構件之間。 也可以與電極31、32的金屬本體另體之電介質薄板構成 在電極Μ、32的相對面或下面所設置之固體電介㈣,以 取代溶射膜。 本發明不僅使用於常Μτ,也可使用於減壓下的電聚處 理’不僅使用於輝光放電,也可使用於利用電暈放電等其 他放電之電漿處理。再者,可使用於洗淨、_、成膜Ϊ 一面改質、灰化等各種電漿處理。 、 【產業上可利用性】 本發明可利用於例如半導體製 成膜等的表面處理。 程中基材的洗淨 、名虫刻 【圖式簡單說明】 實施形態之電漿處 理裝置的概略 圖1係顯示本發明第一 構成正剖面圖。 圖2係用以求出最低位準的火花電壓式之實驗裝置的相 93030.doc -45- 1244112 略圖。 圖3係顯示對絕緣構件與金屬板(導電構件)間的間隙厚 度之電壓圖。 圖4係第一實施形態一具體態樣之常壓電漿處理裝置的 喷嘴頭斜視圖。 圖5係上述具體態樣之裝置的正剖面圖。 圖6係沿著圖5之VI—VI線之上述裝置的側剖面圖。 圖7係顯示第一實施形態之變形態樣的剖面圖。 圖8係顯示第一實施形態之變形態樣的剖面圖。 圖9係顯示第一實施形態之變形態樣的剖面圖。 圖10係本發明第二實施形態之常壓電漿處理裝置的正面 圖。 圖11係第二實施形態之喷嘴頭的剖面圖。 圖12係第二實施形態之喷嘴頭長邊方向端部份的放大底 面圖。 圖13係顯示第二實施形態之變形態樣的剖面圖。 圖14係顯示第二實施形態之變形態樣的剖面圖。 圖15係顯示第二實施形態之變形態樣的剖面圖。 圖16係顯示第二實施形態之變形態樣的剖面圖。 圖17係顯示第二實施形態之變形態樣的剖面圖。 圖1 8係顯示第二實施形態之變形態樣的剖面圖。 圖19係顯示第二實施形態之變形態樣的剖面圖。 圖20係顯示第二實施形態之變形態樣的剖面圖。 圖21係本發明第三實施形態之常壓電漿處理裝置的筒狀 93030.doc -46- 1244112 喷嘴頭的縱剖面圖。 圖22係上述筒狀喷嘴頭的放大底面圖。 【主要元件^夺號說明】 M,M1, M2, M3 常壓電漿處理裝置 W,W, 工件(被處理物) 1 長尺喷嘴頭 5 接地引線 3 脈衝電源(電場施加機構) 30, 30X 電極構造 30a、30b 電漿化空間 31 、 31X 電壓施加電極 32、32X 接地電極 33 固體電介質 34 間隔物 40a 導出路 40b 間隙、氣體層 40 絕緣構件 40r、40s 倒角部 41 第一絕緣板(第一絕緣部) 42 第二絕緣板(第二絕緣部) 42S 間隙(第二絕緣部) 45 絕緣體 51 導電構件 93030.doc -47- 1244112 51a 避開部 50a 吹出口 70 筒狀喷嘴頭 90s 間隙(第二絕緣部及吸入路) 91 外部喷嘴部份(導電構件) 91b 孔部 92 内部噴嘴部份(導電構件) 92a 導出路 93030.doc -48-
Claims (1)
- I24^y以11376。號翻申請案 ;-· 中文申請專利範圍替換本(94年8月)丨fp S 十、申睛專利範圍: 1 . 以遮蔽前述電極 電構件間的絕緣 電極其用以形成前述電浆化空間; ‘電構件,其係在電性接地的狀態, 應朝向工件之側的方式設置;及 絕緣構件,其係由介於前述電極與導 體所構成; 火 —前述絕緣構件具有該絕緣構件與導電構相未 花電壓程度的介電常數與厚度。 2. 3· 。申睛專利範圍第旧之電漿處理裝置’纟中在前述電極 ::電漿化空間形成面與應朝向工件側之面設置固體電介 質,並在工件側的固體電介質重疊前述絕緣構件。 如申請專利範圍第!項之電聚處理褒置,纟中前述導電構 2具有:朝向前述絕緣構件之面、形成連接前述電衆化 空間之吹出口之緣面及應朝向卫件之面;朝向前述絕緣 構件之面與吹出σ緣面之失角及吹出口緣面與應朝向工 件之面之夾角中,至少將前者倒角。 4_如申請專利範圍第1項之電漿處理裝置,其中前述導電構 件具有:朝向前述絕緣體之面、形成連接前述電漿化空 間之吹出口之緣面及應朝向工件之面;前述吹出口緣面 係分別向著朝向絕緣體之面及應朝向工件之面被倒圓。 5· 一種電漿處理裝置之製造方法,其特徵在於:其係盤造 93030-940826.doc . 1244112 如申-專利範圍第1項之電漿處 前述絕緣構件盥導A Ik方去,不管 隙严戶) 電構件間的間距(亦㈣等構件間的間 糸子度)’以施加於該等構件 寸傅彳干間的電壓比火花電壓小 6.式,進行前述絕緣構件的介電常數與厚度之設定。方 一種電漿處理裝置之萝诰太 L ^ k方法,其特徵在於··其係,! 如申請專利範圍第】項之電f 、製乂 東水處理裝置之製造方法,進行 刖述火花電壓的檢測實驗, 沒仃 ^ ^ 並依據以較平均低的位準引 起火化之檢測資料,求出相 ^ K出相對於别述絕緣構件與導電槿 件之間的間距(亦即該等構 電構 的關係。 構件間的間隙厚幻之火花電屬 電漿化空間之 工件,進行工 一種電li處理裝置,其特徵在於係將通到 處理氣體吹出至配置於電漿化空間外部的 件的表面處理,且具備·· 以遮蔽前述電極 電極,其用以形成前述電漿化空間 導電構件,其係在電性接地的狀態 應朝向工件之側的方式設置;及 絕緣構件’其係由介於前 體所構成; 述電極與導電構件間的絕緣 在前述絕緣構件與導電構侔 ▼电偁仵間形成間隙,並以施加於 前述間隙的電壓比火花雷壓」令女^ 化冤&小之方式,設定前述絕緣構 件的介電常數與厚度。 8· -種電漿處理裝置,其特徵在於係將通_化空間之 處理氣體吹出至配置於電漿化空間外部的卫件,進行工 件的表面處理,且具備: 93030-940826.doc 〇 1244112 電極,其用以形成前述電漿化空間;及 導電構件,其係在電性接地的狀態,以遮蔽前述電極 應朝向工件之側的方式設置; 在前述電極與導電構件間形成氣體層作為絕緣體,並 以施加於前述電極與導電構件間的電壓比火花電壓小之 方式’設定該氣體層的厚度。 9.如申請專利範圍第8項之電聚處理裝置,其中在前述電極 的電漿化空間形成面與應朝向工件側之面設有固體電入 =^由1側之固體電介質與前述導電構件區劃料 轧體層’以施加於前述工件側之固體電介質與導 間的電壓比火花電壓小之方式’設定該氣體層的厚声。 从如申請專利範圍第8項之電激處理裝置,其中前述導又電構 件具有·朝向前述電極之面、形成連接前述電聚化空 口之緣面及應朝向工件之面;朝向前述電極二 Ά出口緣面之夾角及吹出口緣面與應朝向工件 夾角中,至少將前者倒角。 11 一種電滎處理裳置之製造方法,其特徵在於:其係^ 如申請專利範圍第8項之電漿處理裝置之製造方法,二 花電壓的檢測實驗,並依據以較平均低的位準J 二雷二之私測資料’求出相對於前述氣體層的厚度之火 化電壓的關係。 火 12’ 了漿處理農置之製造方法,其特徵在於:其係梦造 j述:專利範圍第9項之電漿處理裝置之製造方法,不管 93030-940826.doc^ 極與導電構件間的3間距,以施加於前述工件側二 1244112 固體電介質與導電構件間的電壓比火花電壓小之方式, 設定前述氣體層的厚度。 1 3 · —種電漿處理裝置,其特徵在於係將處理氣體電漿化並 朝工件吹出,以進行電漿處理,且具備: 電極構造,其係由形成用以前述電漿化的空間之一對 電極所構成; ’ 導電構件,其係在電性接地的狀態,以遮蔽前述電極 構造應朝向工件之側的方式配置;及 絕緣體,其介於前述電極構造與導電構件間; 前述絕緣體分成··第-絕緣部,其形成連接前述電货 化空間下游之處理氣體料出路;及第:絕緣部, 14, 另外配置於與此第一絕緣部的導出路側相反側。…、 如申請專利範圍第13項之電漿處 第一绍綠如, 八τ从比前述 部。、、、…耐電漿性高的絕緣材料構成前述第一絕緣 其中以耐電 15.如申請專利範圍第13項之電漿處理裝置 性的絕緣材料構成前述第一絕緣部。 其中以氣體 16·如申請專利範圍第13項之電裝處理裝置 構成前述第二絕緣部。 17·如申請專利範圍第13項之電漿處 絕緣部的導出路來成而士乂 + /、中則述弟 成面退縮成比别述電極構造的電激化空間 18·如中請專利範圍第13項之電漿處理裝置, 絕緣部朝向電極構造 ’、則述苐 _4。826加 構 ^與導出路形成面之夾角及導 1244112 =成面與朝向導電構件之面之夾角中,至少將前者倒 19:ΓΓ範圍第13項之電衆處理裝置,其中分別將前 及導7緣部朝向電極構造之面與導出路形成面之央角 前者倒:形成面與朝向導電構件之面之夾角倒角,且使 ⑴者倒角大於後者。 利範圍第13項之電漿處理裝置,其令將前述第 角緣㈣導出路形成面與朝向導電構件之面之夹角倒 的=電:?Γ緣面,其形成連接前述導出路下游 構件之面及§1、緣面係與前述第一絕緣部朝向導電 縮件之面及别述倒角部之交界大致相同位置或比其退 申"月專利軌圍第13項之電II處理裝置,其 構件具有朝向第一絕緣部 2 吹出口之緣面及應朝向工件之面=導出路下游的 之面與吹出口緣面之夾角及第-絕緣部 面之央角中,至少將前者㈣緣面與應朝向工件之 22_=’=圍Γ項之電漿處理裝置,其中前述導電 上有緣面,其形成連接前述導出路下游的吹出口; ^人出Π緣㈣比前述f極構 前述第—絕緣部的導出路形成面退縮。尺化工間形成面成 23·如中請專利範圍第13項之錢處理裝置, 具有緣面,其形,接前述導出路下游:二“ 1244112 該吹出口緣面# 义 前述第绍電極構造的電漿化空間形成面或 这弟—絕緣部的導出路形成面突出。 24·如申請專利範圍第13項之電衆處理裝置, 1 ;二電極係形成與彼此相對方向正交而延伸之長 伸,緣體與導電構件係與前述電極朝同方向延 導電構件==出路及使其連接其τ游端而形成於前述 ::係朝與前述相對方向及延伸方向大致正1之::: 25·=專利範圍第24項之電聚處理裝置,其中在前述- 料所错的長邊方向相互同侧的端部彼此間夾有由絕緣材 冓成的間隔物;以避開前述間隔物與電極之交界之 方式形成前述導電構件。 之又界之 26. ϊ=專利範圍第16項之電毁處理裝置’其中在前述導 " 開有孔部,並在該孔部内側配置前述第一絕緣部 的立導出路,藉由前述導電構件與第一絕緣部區劃== 孔口Ρ作為吸人口之吸人路;提供該吸人路作為前述第二 絕緣部的氣體層。 27. 如申請專利範圍第26項之電漿處理裝置,其中另一電極 形成同轴環狀而包圍前述電極構造之一電極,藉此前述 電槳化空間形成環狀。 28·-種電漿處理裝置,其特徵在於係將處理氣體電漿化並 朝被處理物吹出,以進行電漿處理,且具備·· 極構造’其係由形成用以前述電漿化的空間之一對 -6 - 1244112 電極所構成;及 =電構件’其係經由、絕緣體在電性接地的狀態, ;則述電極構造應朝向被處理物之側,· 下前述導電構件具㈣面,其形成連接前述《化空間 游之吹出口;該吹出口緣面對前述 形成面形成非齊平面。 κ化二間 .如申凊專利範圍第28項之電漿處 體包含固體的㈣n 我置其中别述絕緣 A m 1前㈣緣構件具㈣成連接 K化空間下游並連接前述吹出Π上游之導出路 ^該導出路形成面係比前述電極構造的電約 成面退縮。 间仏 3〇.如申請專利範圍第29項之電漿處理農置, 構件具有··朝向電極構造之面 /、别也'邑緣 =導電構件之面;朝向前述電極構造之面與導出路形= 之夾角及導出路形成面與朝向導電構件之面之夾 中,至少將前者倒角。 31·:申請專利範圍第2δ項之電浆處理裳置,其 體包含氣體層。 緣 泣如申請專利範圍第28項之電聚處 , . 八丫刖迹導雷 構件/、有··朝向絕緣體之面、前 被處理物之面;朝……出緣面及應朝向 朝向則述絕緣體之面與吹出口緣面之 角及17人出口緣面盘朝& ^士走 ”朝向被處理物之面之夾角中, 前者倒角。 /將 3 3. —種電漿處理裝詈, 93030-940826.doc 置八,被在於係將處理氣體電漿化並 1244112 朝被處理物吹出,以進行電漿處理,且具備: 對 電極構造’其係由形成用以前述電漿化的空間之 電極所構成;及 間之 二構件’其係在電性接地的狀態,經由絕緣體而配 ;别述電極構造應朝向被處理物之側; 2料電構件具有緣面,其形成連接前述電㈣空間 /之吹出口;該吹出口緣面比前述電極的電浆化空間 艰烕面退縮。 34.:種電毁處理襄置’其特徵在於係將處理氣體電漿化並 月被處理物吹出,以進行電漿處理,且具備: 電極構造,其得、由形成用以前述電聚化的空間之 電極所構成;及 V:構件’其係在電性接地的狀態,經由絕緣體而配 置於如述電極構造應朝向被處理物之側; 下3料電構件具有緣面,其形錢接前《聚化空間 下游之吹出口;該吹出口緣面比前述電極的電漿化空間 形成面突出。 種電水處理裝置,其特徵在於係將處理氣體電漿化並 朝被處理物吹出,以進行電漿處理,且具備·· 電極構造,其係由形成用以前述電漿化的空間之一對 電極所構成;及 V電構件,其係在電性接地的狀態,經由包含固體的 、、s緣構件之絕緣體而配置於前述電極構造應朝向被處理 物之側; 93030-940826.doc 上244112 前述絕緣構侔i + 出路之面;成連接前述電漿化空間下游之導 之Hr具有緣面’其形成連接前述導出l 面形成非齊平面。 邑緣構件的導出路形成 申π專利乾圍第35項之電漿處理 構件的導出路形成面比 其中前述絕緣 面退縮。 ^電極構造的電“空間形成 3人如申請專利範圍第%項之 構件具有:朝向電極構造之面、二出=述絕緣 向導電構件之而·如人 路形成面及朝 面之夾i導二向/述咖^ 中,至少將;者=成面與朝向導電構件之面… 38.==圍第35項之電衆處理裝置,其中 心進一步包含氣體層。 、 •如申%專利範圍第36項之電漿處理裝置,其中前述導電 構件具有:朝向絕緣體之面、前述吹出口緣面及應朝向 被處理物之面;朝向前述絕緣體之面與吹出口緣面之夾 角及°人出口緣面與應朝向被處理物之面之夾角中,至少 將前者倒角。 ^ 4〇·種電漿處理裝置,其特徵在於係將處理氣體電漿化並 朝被處理物吹出,以進行電漿處理,且具備: 電極構造,其係由形成用以前述電漿化的空間之一對 電極所構成;及 93030-940826.doc 1244112 性接地的狀態,經由包含固體的 置於前述電極構造應朝向被處理 導電構件,其係在電 絕緣構件之絕緣體而配 物之側; 緣構件具有形成連接前述電漿化空間下游之導 出路之面; v 前述導電構件具有緣面,其形成連接前述導出路下游 之吹出口,該呤ψ η从 ㈣縮。 、緣面比前述絕緣構件的導出路形成 女申-月專利乾圍第4〇項之電漿 绦媸处ΑΑ、苦, ^ 1 T W則述絕 角.1、、、V路形成面與朝向導電構件之面之失角倒 角,月ϋ述導雷;1:盖杜& A t 導電構件之面及:緣面係與前述絕緣構件朝向 退縮冓件之面“述倒角部之交界大致相同位置或比其 42·::二Γ:裝置’其特徵在於係將處理氣體電聚化並 二广物17人出,以進行電漿處理,且且備· ::::係由形成一電㈣間之-對 、絕在電性接地的狀態,經由包含固體的 物之側;緣11而配置於前述電極構造應朝向被處理 •述邑緣構件具有形成連接前述電漿化* 出路之面; < 电水化工間下游之導 引述導電構件具有緣面,其 之吹出口,〜山 4戚連接別迷導出路下游 93030-940826.doc ^ ^人出口緣面比前述絕緣構件的道山μ -10- 」守tn路形成 1244112 面突出。93030-940826.doc -11 -
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003136295 | 2003-05-14 | ||
JP2004028339 | 2004-02-04 | ||
JP2004077216 | 2004-03-17 | ||
JP2004077217 | 2004-03-17 | ||
JP2004142333A JP3853803B2 (ja) | 2004-02-04 | 2004-05-12 | プラズマ処理装置およびその製造方法 |
JP2004142334A JP3686662B1 (ja) | 2003-05-14 | 2004-05-12 | プラズマ処理装置 |
JP2004142335A JP2005302681A (ja) | 2003-05-14 | 2004-05-12 | プラズマ処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200428469A TW200428469A (en) | 2004-12-16 |
TWI244112B true TWI244112B (en) | 2005-11-21 |
Family
ID=33459412
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW093113760A TWI244112B (en) | 2003-05-14 | 2004-05-14 | Plasma processing apparatus and method for manufacturing the same |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20090044909A1 (zh) |
EP (1) | EP1631128A4 (zh) |
KR (1) | KR101098083B1 (zh) |
CA (1) | CA2524484A1 (zh) |
TW (1) | TWI244112B (zh) |
WO (1) | WO2004103035A1 (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI384087B (zh) * | 2008-12-24 | 2013-02-01 | Ind Tech Res Inst | 常壓電漿系統及由該系統製造材料層的方法 |
TWI397350B (zh) * | 2008-01-25 | 2013-05-21 | Se Plasma Inc | 用於量產之大氣壓電漿產生裝置 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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- 2004-05-13 WO PCT/JP2004/006434 patent/WO2004103035A1/ja active Application Filing
- 2004-05-14 TW TW093113760A patent/TWI244112B/zh not_active IP Right Cessation
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EP1631128A4 (en) | 2010-07-28 |
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CA2524484A1 (en) | 2004-11-25 |
KR101098083B1 (ko) | 2011-12-26 |
TW200428469A (en) | 2004-12-16 |
KR20060010798A (ko) | 2006-02-02 |
WO2004103035A1 (ja) | 2004-11-25 |
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