TWI227454B - Electro-optical device, method of driving electro-optical device, and electronic apparatus - Google Patents

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Description

1227454 (1) 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明關於光電裝置、光電裝置之驅動方法及電子機 器0 【先前技術】
習知光電裝置、例如有機E L (電激發光)顯示裝置 中,係藉由適當選擇基板上形成之掃描線與資料線之各交 叉部所對應位置上分別設置之有機E L元件而使之發光之 方法,例如有主動矩陣驅動方法(以下稱主動矩陣驅動 法)。主動矩陣驅動法一般以掃描線選擇發光之E L元件 之畫素電路,介由資料線對該選擇之畫素電路供給資料値 (用於決定流入有機E L元件之電流値的資料)用以決定 有機E L元件之灰階。
但是此種顯示裝置中,附加於上述資料線之寄生電容 較大,因此會發生寫入資料線之資料寫入不足之問題。資 料線係和掃描線不同,對同一資料線位於上方位置而形成 於近距離位置之陰極配線呈交叉而形成。結果,和掃描線 比較,資料線之寄生電容較大。 爲防止寫入不足導致於特定時間內無法將特定資料供 至畫素電路,可以採用預充電電路(參照例如專利文獻 1 )。詳言之爲,在資料寫入畫素電路前之階段,由將資 料線升壓至中間位準之預充電電路對各資料線供給電荷。 依此則,介由資料線將資料寫入畫素電路時,因資料線事 -4- 1227454 (2) 先被預充電爲中間位準,因此可以縮短大到達目的資料値 之時間,因此,此種顯示裝置中,預充電電路乃高精確度 控制不可缺少者。 (專利文獻1 ··特開2 002 — 1 7 5 04 5號公報) 【發明內容】 (發明所欲解決之課題) 但是,各畫素電路及各E L元件於基板上形成時會因 製程誤差導致無法以同一精確度製造各畫素電路或各E L 元件。因此出廠前需進行各項檢測。 但是檢測主要以脫點等簡單之外觀檢測爲主,電氣檢 ‘測僅止於電源電壓短路、或斷線等簡單之檢測。 因此,針對資料寫入是否如預期達成、有機E L元件 是否成爲目的之動作狀態等需要進行高精確度之檢測。特 別是考慮資料線寄生電容而於資料線進行預充電之後寫入 資料,該寫入不足之有無之定量檢測現實上雖進行線上檢 測,但其之進行乃極爲困難。因此,進行此種定量檢測對 於高品質顯示而言往後此種定量檢測之進行之必要性將日 益增加。 本發明係爲解決上述問題,目的在於提供一種簡單構 成之光電裝置、其驅動方法以及電子機器,其可以在良好 精確度下進行預充電資料線上之寫入資料之寫入不足之檢 測。 1227454 (3) (用以解決課題的手段) 本發明之光電裝置,係包含有:多數掃描線;多數資 料線;及多數光電元件,其對應於上述多數掃描線與上述 多數資料線之交叉部被設置;其特徵爲包含有:第1開 關,用於控制上述多數資料線中至少1條資料線所連接預 充電信號供給線之對該至少1條資料線之預充電信號之供 給;第2開關,用於控制上述多數資料線中至少1條資料 線所連接之,由該至少1條資料線對檢測線之檢測信號之 輸出;及資料線選擇電路,用於設定上述第2開關之〇N 狀態或〇F F狀態。 依此構成,於資料線選擇電路,藉由資料線上設置之 第2開關之動作可以將來自資料線之檢測信號輸出至檢測 線。結果,可以簡單構成、在良好精確度下進行預充電資 料線之寫入資料之寫入不足之檢測。 本發明之光電裝置,係包含有:多數掃描線;多數資 料線;及多數光電元件’其對應於上述多數掃描線與上述 多數資料線之交叉部被設置;其特徵爲包含有:第3開 關,用於控制上述多數資料線中至少1條資料線所連接輸 出入信號線之對該至少1條資料線之預充電信號之供給、 以及控制該至少1條資料線對上述輸出入信號線之檢測信 號之輸出;及資料線選擇電路,用於設定上述第3開關之 〇N狀態或〇F F狀態。 依此構成,於資料線選擇電路,藉由資料線上設置之 第2開關之動作可以將來自資料線之檢測信號輸出至輸出 -6 - 1227454 (4) 入信號線。結果,可以簡單構成、在良好精確度下進行預 充電資料線之寫入資料之寫入不足之檢測。又,電路規模 可以更小型化。 本發明之種光電裝置,係包含有:多數掃描線;多數 資料線’及多數光電元件,其對應於上述多數掃描線與上 述多數資料線之交叉部被設置;其特徵爲包含有:預充電 線’用於對上述多數資料線中至少2條資料線之預充電信 號之供給;第1開關,分別控制上述至少2條預充電線對 上述至少2條資料線之預充電信號之輸出;及第2開關, 分別控制上述多數資料線中至少2條資料線對檢測線之檢 測信號之輸出。 依此構成’藉由第1開關對多數條資料線之中至少2 條資料線供給預充電信號,藉由第2開關,可由2條預充 電線將來自上述至少2條資料線之預充電信號作爲檢測信 號而輸出至檢測線。結果對至少2條資料線可供給最適當 之預充電信號之同時,可輸出預充電結果。 於該光電裝置中,設有資料線選擇電路,用於依序使 上述第2開關動作,控制上述至少2條資料線對檢測線輸 出之預充電信號。 依此構成,則於資料線選擇電路依序使第2開關動 作,即可由各資料線依序輸出檢測線。結果,針對被預充 電有預充電信號之資料線上之寫入資料可以在良好精確度 下檢測寫入不足之有無。 本發明之光電裝置之驅動方法,係針對具備以下構成 -7- 1227454 (5) 之光電裝置··多數掃描線;多數資料線,其與上述各掃描 線壬父叉配置,電子電路,其分別對應上述多數掃描線與 · 上述夕數貝料線之父叉部被設置;第1開關,用於控制上 - 述多數資料線中至少1條資料線所連接預充電信號供給線 之對該至少1條資料線之預充電信號之供給;及第2開 關,用於控制上述多數資料線中至少1條資料線所連接 之’由該至少1條資料線對檢測線之檢測信號之輸出;其 特徵爲由以下步驟構成:當選擇多數掃描線中之i條時, g 介由第1開關對上述資料線供給來自預充電信號供給線之 預充電號的第1步驟;介由上述資料線,對上述選擇之 1條掃描線所連接電子電路供給資料信號的第2步驟;及 介由上述第2開關,以供至上述資料線之資料信號作爲檢 : 測信號輸出於檢測線的第3步驟。 · 依此構成’藉由資料線上設置之第2開關之動作可以 將來自資料線之檢測信號輸出至檢測線。結果,可以簡單 構成、在良好精確度下進行預充電資料線之寫入資料之寫 · 入不足之檢測。 本發明之光電裝置之驅動方法,係針對具備以下構成 之光電裝置者:多數掃描線;多數資料線,其與上述各掃 描線呈父叉配置,電子電路,其分別對應上述多數掃描線 與上述多數資料線之交叉部被設置;預充電線,用於對上 述多數資料線中至少2條資料線供給預充電信號;第1開 關,分別控制上述至少2條預充電線對上述至少2條資料 線之預充電信號之輸出;及第2開關,分別控制上述多數 -8- 1227454 (6) 資料線中至少2條資料線對檢測線之檢測信號之輸出;其 特徵爲由以下步驟構成·當選擇多數掃描線中之1條日寺, 介由上述第1開關對上述資料線分別供給來自預充電信號 供給線之預充電信號的第1步驟;介由上述資料線,對上 述選擇之1條掃描線所連接電子電路供給個別之資料信號 的第2步驟;及介由上述第2開關,以供至上述資料線之 資料信號作爲檢測信號分別輸出於上述檢測線的第3步 驟。 依此構成,依序使第2開關動作即可由备資料線依序 輸出檢測線。結果,針對被預充電有預充電信號之資料線 上之寫入資料可以在良好精確度下檢測寫入不足之有無。 本發明之電子機器,係安裝有申請專利範圍第1〜4 項中任一項之光電裝置者。 依此構成,針對被預充電有預充電信號之資料線上之 寫入資料可以在良好精確度下檢測寫入不足之有無。 【實施方式】 (第1實施形態) 以下依圖1〜5說明本發明具體之第1實施形態。 圖1爲作爲光電裝置之有機EL顯示裝置10之電路 構成方塊圖。圖2爲顯示面板部及檢測電路之內部電路構 成之電路圖。圖3爲畫素電路及預充電電路之內部電路構 成之電路圖。 於圖1,有機E L顯示裝置1 〇具備:顯示面板部 -9- 1227454 (7) 1 1,資料線驅動電路1 2,掃描線驅動電路1 3,記憶體電 路1 4,振盪電路1 5,預充電電路! 6,檢測電路1 7,及作 爲資料線選擇電路的控制電路1 8。 有機E L顯示裝置1 〇之顯示面板部1 1及各電路1 2 〜18,可由各自獨立之電子元件構成。例如各電路12〜 18可由單晶片半導體積體電路裝置構成。又,顯示面板 部11及各電路12〜18之全部或一部分可由一體化之電子 元件構成。例如於顯示面板部1 1 一體形成資料線驅動電 路1 2及掃描線驅動電路1 3亦可。各電路1 2〜1 7之全部 或一部分以可程式化I C晶片構成,其機能由寫入I C晶 片之程式以軟體實現亦可。 如圖2所示’顯示面板部1 1,係具有R (紅)、G (綠)、B (藍)用之畫素電路20R、20G、20B之多 數電子電路被以矩陣狀配置。亦即,1個R、G、B用畫 素電路20R、20G、20B成爲1組,以該1組做爲1畫 素而分別連接於沿列方向延伸之多數資料線X 1〜X m (m爲整數),與沿行方向延伸之多數掃描線γ 1〜Υ η (η爲整數)之間。因此,1個R、G、Β用畫素電路 2 0 R、2 0 G、2 Ο Β構成之組被配列呈矩陣狀。
R、G、Β用畫素電路20R、20G、20Β具有發光 層以有機材料構成之有機E L元件2 1作爲光電元件。詳 言之爲,R用畫素電路20 R具有放射紅色光之有機E L 元件21。G用畫素電路20 G具有放射綠色光之有機e L 元件21。B用畫素電路20 B具有放射藍色光之有機EL -10- 1227454 (8) 元件21。又,各用畫素電路20 R、20 G、20 B內形成 之後述電晶體通常以T F T構成。 如圖3所示,各畫素電路20R、20G、20B具備: 驅動用電晶體Q 1,程式用電晶體Q 2,及作爲電容元件 之保持電容器C 1。驅動用電晶體Q 1及程式用電晶體 Q2由N通道FET構成。 驅動用電晶體Q 1,其之源極接於有機E L元件2 1 之陽極,汲極接於驅動電源線V L。於驅動用電晶體Q 1 之閘極與驅動電源線V L間連接有保持電容器C 1。 本實施形態中,驅動電源線V L由R用驅動電源線 V L R,及G用驅動電源線V L G及B用驅動電源線 V L B構成。R用畫素電路2 0 R之驅動用電晶體Q 1接 於R用驅動電源線V L R ,被施加電源電壓V R。G用畫 素電路2 0 G之驅動用電晶體Q 1接於G用驅動電源線 VLG,被施加電源電壓VG。B用晝素電路 20 G之驅 動用電晶體Q 1接於B用驅動電源線V L B,被施加電源 電壓V B。 此乃因有機E L元件2 1之特性依放射R、G、B各 色光之各個有機E L元件2 1而不同。因此,使放射R、 G、B各色光之各個有機E L元件2 1發光時,係使供至 其之驅動用電晶體Q 1之電源電壓VR、VG、VB和該 有機E L元件2 1對應地呈現互異。又,各有機E L元件 2 1之陰極接於陰極線L 0。 各畫素電路20R、20G、20B之程式用電晶體Q 2 -11 - 1227454 Ο)
之閘極,分別連接於對應之掃描線γ 1〜γ η。程式用電 晶體Q 2 ,其之汲極接於資料線X 1〜X m,源極接於驅 動用電晶體Q 1之閘極及保持電容器C 1。各資料線X 1 〜X m,係由R用資料線D L R、G用資料線D L G、B 用資料線D L B構成。因此,R用畫素電路2 0 R之程式 用電晶體Q 2接於R用資料線D L R,G用衋素電路 20 G之程式用電晶體Q 2接於G用資料線DLG。B用 畫素電路2 Ο B之程式用電晶體Q 2接於B用資料線 D L B。 亦即,由資料線驅動電路1 2介由R用資料線d L R 對R用畫素電路20 R輸出R用資料信號(資料電壓 V R data )。由資料線驅動電路1 2介由G用資料線 DLG對G用畫素電路20 G輸出G用資料信號(資料電 壓V G d at a )。由資料線驅動電路1 2介由B用資料
線D L B對B用畫素電路2 0 B輸出B用資料信號(資料 電壓 V B dat a )。 資料線驅動電路1 2,係輸入來自控制電路1 8之視頻 訊號,對介由資料線X 1〜X m被選擇之1條掃描線上之 各畫素電路2 0 R、2 0 G、2 0 B依序供給亮度灰階對應之 位準之電氣信號(資料信號(資料電壓V R d at a、 V G data、 V B data))。 亦即,本實施形態中,係以行方向、亦即選擇之掃描 線上連接之1個R、G、B用之各畫素電路2 0 R、 2 0 G、2 0 B所構成1畫素爲1個單位依序對列方向供給 -12 - 1227454 (10) 資料電壓 VR data、VG data、VB data。 因此,例如假設亮度灰階爲6階時分別產生6階位準 之資料電壓V R data、V G data、V B data,由資料線驅 動電路1 2依各組分別輸出和灰階對應之位準之資料電壓 VR data、VG data、VB data。各畫素電路 20R、 20 G、20 B 依該資料電壓 VR data、V G data、
V B data設定該各畫素電路20 R、20 G、20 B之內部 狀態。依此則,流入各畫素電路2 0 R、2 0 G、2 0 B之有 機E L元件2 1的電流値分別被控制,該有機E L元件2 1 之亮度灰階被控制。
又,資料線驅動電路1 2,係將對應R、G、 B用之 各畫素電路20 R、20 G、20 B之灰階而輸出之資料電壓 VR data、VG data、VB data之位準分別設爲不同。 如上述,有機E L元件2 1之特特會依放射R、G、B各 色光之每一有機E L元件而不同,因此,以同一灰階分別 放射R、G、B各色光之有機E L元件2 1發光時,由資 料線驅動電路12輸出之資料電壓V R data、V G data、 VB data亦依各畫素電路20 R、20 G、20 B而呈不 同。因此,各資料電壓VR data、VG data、VB data 之最大値〜0 V間之各灰階之電壓位準亦分別不同。 掃描線驅動電路1 3,係選擇驅動上述多數條掃描線 Υ π之中之丨條而選擇1行分之畫素電路群。記憶體電路 1 4,用於記憶電腦23供給之影像資料。又,記憶體電路 1 4記憶檢測裝置2 2供給之檢測用影像資料。振盪電路} 5 -13- 1227454 (11) 將基準動作信號供至有機E L顯示裝置1 0之其他電路。 預充電電路1 6,係設於顯示面板部u與資料線驅動 笔路12之間,具備有弟1聞極電路31,R用預充電電_ 產生電路3 2,G用預充電電壓產生電路3 3,及B用預充 電電壓產生電路34。 第1閘極電路3 1係由類比開關s P R、 S P G、 s P B構成,類比開關S P R、 S P G、 S P B則連接於 各資料線X 1〜X m之R、G、B用資料線D L R、 D L G、D L B的N通道F E T形成。R用資料線D l R 所連接之R用類比開關S P R之各汲極,係介由作爲預充 電供給線之R用預充電電源線P R E L R連接於R用預充 電電壓產生電路32。又,G用資料線DLG所連接之G 用類比開關S P G之各汲極,係介由作爲預充電供給線之 G用預充電電源線P R E L G連接於G用預充電電壓產生 電路3 3。B用資料線D L B所連接之B用類比開關 S P B之各汲極,係介由作爲預充電供給線之B用預充電 電源線P R E L B連接於B用預充電電壓產生電路3 3。 又,本實施形態中,類比開關S P R、 S P G、 S P B係構成申請專利範圍之第1開關。 R用預充電電壓產生電路3 2,係對R用資料線 D L R供給預充電電壓V D C PRER。本實施形態中,係 以資料線驅動電路1 2輸出至R用畫素電路20 R之資料電 壓VR data之最大値之1/2之電壓値値作爲預充電電壓 V D C PRER予以輸出。又,G用預充電電壓產生電路 1227454 (12) 3 3,係對G用資料線D L G供給預充電電壓 V D C PREG。 本實施形態中,係以資料線驅動電路1 2輸出至G用 畫素電路20 G之資料電壓V G data之最大値之1/2之 電壓値値作爲預充電電壓VDC PREG予以輸出。又,B 用預充電電壓產生電路3 4,係對B用資料線D L B供給 預充電電壓V D C PREG。本實施形態中,係以資料線驅 動電路12輸出至B用畫素電路20 B之資料電壓VS data 之最大値之1/2之電壓値値作爲預充電電壓VD C PREB 予以輸出。因此,各預充電電壓產生電路32〜34所輸出 之預充電電壓 VDC PRER、VDC PREG、VDC PREB 分別爲不同。 預充電控制信號PREINR、PREING、PREINB被由控 制電路1 8輸出至上述類比開關S P R、 S P G、 S P B 之閘極。因此,類比開關S P R、 S P G、 S P B響應於 預充電控制信號PREINR、PREING、PREINB而被設爲 〇N (導通)狀態。依該〇N狀態而由各預充電電壓產生 電路32〜34將預充電電壓VDC PRER、VDC PREG、 V D C P R E B供至對應之資料線X 1〜X m ( R、G、B 用資料線 D L R、D L G、D L B )。 如圖2所示,檢測電路1 7具有檢測線τ L及第2閘 極電路4 1,檢測線T L係介由弟2聞極電路4 1連接於資 料線X 1〜X m。檢測線T L由R用檢測線T L R、 G用 檢測線T L G及B用檢測線T L B構成。R用檢測線 -15- I227454 (13) τ L R係介由R用資料線D L R及第2閘極電路4 1連 接 〇 G用檢測線T L G係介由g用資料線D L G及第2閘 極蜂q 〜喝路41連接。B用檢測線τ L B係介由B用資料線 ^ B及第2閘極電路4 1連接。 第2閘極電路4 1,係挾持資料線χ 1〜X m設於第1 y鼇路3 1之相反側。第2閘極電路4 1,係由類比開關 以下稱爲檢測開關)S T R、 s T G、 S Τ B構成,類 比開關S T R、 S T G、 S Τ B則由連接於各資料線X 1 〜X m之R、G、B用資料線DLR、DLG、DLB 的N通道f e τ形成。亦即,本實施形態中,係依行方 向、亦即選擇之掃描線上連接之丨個R、G、B用之各畫 素電路20R、20G、20B構成之每一組,而構成之每一 組,而設置1組檢測開關S 丁 R、 S T G、 S Τ B。又, 本實施形態中,類比開關(檢測開關)S T R、 S T G、 S Τ B係構成申請專利範圍之..第2開關。 R用檢測開關S T R,其之源極接於r用檢測線 T L R,汲極接於對應之R用資料線D L R。G用檢測開 關S T G,其之源極接於G用檢測線τ L G,汲極接於對 應之G用資料線D L G。B用檢測開關S Τ B,其之源極 接於B用檢測線T L B,汲極接於對應之B用資料線 D L B。 各資料線X 1〜X m之各組檢測開關s T R、 S T G、 S Τ B,係依輸入其閘極之控制信號S G X1〜 S G X m被設爲〇N狀態。本實施形態中,當各組檢測開 -16- 1227454 (14) 關S T R、 S Τ G、 s T B被設爲〇N狀態時,施加於各 資料線D L R、D L G、D L B之電壓分別被輸出至對應 之之R用檢測線T L R、G用檢測線T L G及B用檢測線 T L B。詳言之爲,依據各資料線D L R、D L G、
D LB被供給之資料電壓VR data、VG data、VB data 而將施加於該各資料線D L R、D L G、D L B之電壓作 爲檢測信號V mr、V mg、V mb分別輸出至R用檢測線 T L R、G用檢測線T L G及B用檢測線T L B。 檢測電路1 7具有信號產生電路4 2用於產生上述控制 信號S G X1〜S G 。信號產生電路42具有:將閂鎖
器電路部4 3以資料線X 1〜X m之數目個予以串接而成 之移位暫存器,該閂鎖器電路部4 3則由:以時脈反相器 (clocked inverter)形成之輸入部43a;及以2個時脈反 相器形成之閂鎖器部4 3 b構成。因此,使由初段閂鎖器電 路部43輸入之高電位(Η位準)之1脈衝之檢測信號 D I Ν Τ,響應於互補信號構成之第1及第2檢測用時脈 信號C L Τ、C L Τ Β而依序移位至次段之閂鎖器電路部 43 ° 又,1脈衝之檢測信號D I Ν Τ,係由控制電路1 8 產生,當使用檢測裝置2 2進行各畫素電路2 0 R、 20 G、20 Β之檢測之檢測模態時依特定時序被輸出,而 於通常動作(通常模態)時不被輸出。又,第1及第2檢 測用時脈信號C L Τ、 C L Τ Β,係由控制電路1 8產 生,於檢測模態時一特定週期被輸出,於通常模態時不被 -17 - 1227454 (15) 輸出。因此,於通常模態時彼寺fg號線成爲低電位(L位 準)。 詳言之爲,奇數段閂鎖器電路部4 3,其之第1檢測 用時脈信號C L T被輸入於輸入部4 3 a,第2檢測用時脈 信號C L T B被輸入於閂鎖器部4 3 b。
反之,偶數段閂鎖器電路部4 3,其之第2檢測用時 脈信號C L T B被輸入於輸入部4 3 a,第1檢測用時脈信 號C L T被輸入於閂鎖器部4 3 b。 因此,當第1檢測用時脈信號C L T被輸出時,奇數 段閂鎖器電路部4 3之輸入部4 3 a將輸入輸入信號,偶數 段閂鎖器電路部4 3之閂鎖器部4 3 b則將輸入部4 3 a所輸 出之輸出信號予以反轉、閂鎖而繼續輸出。反之,當第2 檢測用時脈信號C L T B被輸出時,偶數段閂鎖器電路部 4 3之輸入部4 3 a將輸入輸入信號,奇數段閂鎖器電路部 4 3之閂鎖器部4 3 b則將輸入部4 3 a所輸出之輸出信號予 以反轉、閂鎖而繼續輸出。 亦即,依據第1及第2檢測用時脈信號C L T、 C L T B之每一半週期,輸入於初段閂鎖器電路部43之 檢測信號D I N T將依序被移位至次段閂鎖器電路部 43。因此,僅被輸入有Η位準檢測信號D I N T之閂鎖器 電路部4 3,其之輸入端子與輸出端子會因檢測信號 D I NT而同時成爲Η位準。 信號產生電路42,係和各閂鎖器電路部43對應地具 有信號輸出電路部44。各信號輸出電路部44,係依據分 -18- 1227454 (16) 別對應之閂鎖器電路部4 3之輸入信號及輸出信號而分別 產生控制信號S G X 1〜S G xm。信號輸出電路部44,係 具有N A N D電路44a,用於輸入閂鎖器電路部43之輸 入信號及輸出信號。N A N D電路4 4 a,當同時輸入Η位 準信號(檢測信號D I Ν Τ )時,輸出L位準之輸出信 號。N A N D電路44a,係介由反相器電路44b輸出至 〇R電路4 4 c。 〇R電路4 4 c爲2輸入端子之〇R電路,另一輸入端 子介由反相器電路44d接於模態選擇線M D L。模態選擇 線M D L,係介由反相器電路4 5由控制電路1 8輸出檢測 致能信號Ε Ν Β Τ。檢測致能信號Ε Ν Β Τ係由控制電路 18產生, 使用檢測裝置2 2進行各畫素電路2 0 R、2 0 G、 2 〇 Β之檢測之檢測模態時成爲低電位(l位準),通常 模態時成爲Η位準。 因此,於檢測模態(檢測致能信號Ε Ν Β Τ爲L位 準)當N A N D電路44a輸出L位準之輸出信號時,〇R 電路44c係輸出η位準之輸出信號(控制信號s G x丨〜 S G X m )。又,於檢測模態當N A N D電路4 4 a輸出Η 位準之輸出信號時,〇R電路44c係輸出L位準之輸出信 號。 相反地,於通常模態(檢測致能信號Ε Ν Β T爲Η位 準)則不受N A N D電路4 4 a之輸出信號影響,〇R電路 4 4 c係輸出L位準之輸出信號。 -19- 1227454 (17) 各〇R電路4 4 c,係介由偶數個(本實施形 個)反相器電路44e、44f連接於上述各組對應之 開關S T R、 S 丁 G、 S T B之閘極。亦即,各信 電路部44之〇R電路44c之Η位準輸出信號,係 爲控制is號S G X 1〜S G X m被輸出至上述各組對 測開關S T R、 S 丁 G、 S T B之閘極。 因此,於檢測模態當Η位準檢測信號D I N 丁 時,介由響應於第1及第2檢測用時脈信號C l Τ C L Τ Β而動作之各閂鎖器電路部4 3依序對上述 應之檢測開關S T R、 S T G、 S Τ Β之閘極輸出 號 S G xl 〜S G xm。 控制電路1 8,係統合控制上述顯示面板部j工 路1 2〜1 7。控制電路1 8,係將表示顯示面板部i i 狀態的來自電腦而記憶於記憶體電路1 4之影像資 換爲矩陣資料用於表示各有機E L元件2 1之發光 灰階。矩陣資料包含:掃描線驅動信號,用於依序 行分之畫素電路群;及用於決定資料電壓V R data V G data、V B d at a之位準的資料線驅動信號, 電壓VR data、VG data、VB data用於設定所 素電路群之有機E L元件2 1之亮度。因此,掃描 信號被供至掃描線驅動電路1 3。資料線驅動信號 資料線驅動電路1 2。 又,控制電路1 8,在有機e L顯示裝置1 〇使 裝置22進行顯示面板部丨丨之各畫素電路2 〇 R、 態爲 2 .之檢測 ‘號輸出 :分別作 應之檢 被輸出 各組對 控制信 及各電 之顯示 料,轉 之亮度 選擇 1 該資料 選擇畫 線驅動 被供至 用檢測 20 G 、 -20- 1227454 (18) 2 0 B之檢測時,係成爲檢測模態。成爲檢測模態時,控 制電路1 8,係將來自檢測裝置2 2而記憶於記憶體電路i 4 之檢測用影像資料,轉換爲矩陣資料(檢測用矩陣資料) 用於表示各有機E L元件2 1之發光之亮度灰階。 該檢測用矩陣資料包含:檢測用掃描線驅動信號,用 於依序選擇i行分之畫素電路群;及用於決定檢測用資料 電壓VR data、VG data、VB data之位準的檢測用資 料線驅動信號,該檢測用資料電壓V R data、V G data、 VB data用於設定所選擇畫素電路群之有機el元件21 之檢測用亮度。因此,檢測用掃描線驅動信號被供至掃描 線驅動電路1 3。檢測用資料線驅動信號(視頻訊號)被 供至資料線驅動電路1 2。 又,於檢測模態,控制電路1 8係依特特4時序輸出 檢測信號D I N T、第1及第2檢測用時脈信號c L 丁、 C L T B,以及檢測致能信號e N B T。 以下依晝素電路2 0之動作說明上述上述構成之有機 E L顯示裝置1 〇之作用。 說明驅動方法之一態樣之檢測模態。有機E L顯示裝 置1 〇連接於檢測裝置2 2而成檢測模態。詳言之爲’本實 施形態之檢測,係於有機E L顯示裝置丨〇之製程中,除 有機E L元件2 1以外形成有上述顯示面板部n及各電路 1 2〜1 8的狀態下,於最後組入有機£ l元件2 1之製程前 階段進行之檢測。 亦即,僅在各晝素電路20R、20G、20B不存在有 -21 - 1227454 (19) 機E L元件2 1之狀態、亦即不進行有機E L元件2 1之發 光動作時,顯示面板部1 1及各電路1 2〜1 7被提升至通常 ^ 之動作模態一事被由檢測裝置2 2施予檢測。屬於有機 · E L元件2 1組入前之檢測,因此可以事先檢測不良品, 減少有機E L元件2 1之無謂浪費之組裝作業。
又,當檢測裝置22對有機E L顯示裝置1 〇輸出檢測 用影像資料時,控制電路1 8成爲檢測模態而將檢測用影 像資料轉換爲矩陣資料(檢測用矩陣資料)用於表示各有 H 機E L元件2 1之發光之亮度灰階。 亦即,首先控制電路1 8輸出預充電控制信號 PREINR、PREING、PREINB,使各類比開關 SPR、 S P G、 S P B設爲〇N狀態。依據各類比開關s P R、 SPG、 SPB之成爲〇N狀態,各預充電電壓產生電路 32〜34之預充電電壓VDC PRER、VDC PREG、 V D C P R E B將被供至各資料線X 1〜X 1T1之r、g、B 用資料線D L R、D L G、D L B。各資料線X 1〜X m φ 之R、G、Β用資料線DLR、DLG、DLB被預充電 爲預充電電壓VDC PRER、VDC PREG、 VDC PREB。 之後’控制電路18使預充電控制信號PREINR、 PHEING、PREINB消失而將各類比開關S p r、 s P G、 S P B設爲〇 F F狀態,據以結束預充電動作。 預充電動作結束後,控制電路丨8將檢測用掃描線驅 動信號及檢測用資料線驅動信號(視頻訊號)輸出至掃描 -22- 1227454 (20) 線驅動電路1 3及資料線驅動電路1 2。 於掃描線驅動電路1 3,當掃描線Υ η被選擇時,掃 描線Υ η上某一組之各畫素電路2 〇 r、2 〇 g、2 0 Β之程 式用電晶體Q 2被設爲〇ν狀態。 與此同時,資料線驅動電路1 2輸入來自控制電路1 8 之視頻訊號,依序對各資料線X 1〜X m之r、G、Β用 資料線D L R、D L G、D L B供給資料電壓V R data、
V G data、V β data。因此,於所選擇之1條掃描線上之 各畫素電路2 0 R、2 〇 G、2 0 B將依序被供給和亮度灰階 對應之之位準之資料電壓VR data、VG data、 V B data。亦即,以所選擇之掃描線上連接丨個r、G、 B用之各畫素電路20 R、20 G、20 B構成之組爲1單 位,而依序於列方向被供給資料電壓V R d at a、 V G data、V B data。 依序對列方向之資料電壓VR data、VG data、
V B data之供給開始經過特定時間後,使檢測電路1 7設 爲活化狀態。亦即,控制電路1 8對檢測電路1 7輸出1脈 衝之檢測信號D I N T之同時,輸出第1及第2檢測用時 脈信號C L T、 C L T B。又,控制電路1 8,對檢測電 路1 7輸出L位準之檢測致能信號E N B T。 結果,響應於第1及第2檢測用時脈信號C L T、 C L T B ,由各資料線X ;[〜X m之R、G、B用資料線 D L R、D L G、D L B上設置之檢測開關S T R、 S T G、 S T B構成之每一組依序輸出控制流S G X 1 -23- 1227454 (21) 〜S G x m。 各檢測開關S T R、 S Τ G、 S T B將依序被寫入有 · 貝料電壓VR data、 VG data、VB data之畫素電路 4 0 a、2 0 G、2 0 B 之 R、G、B 用資料線 D L R、 D L G、D L B ,依序連接於對應之之R、G、B用檢測 線T L R、 丁 L G、 丁 L B 。結果,於R、 G、 B用檢測 線T L R、T L· G、丁 L B ,將依據供至各資料線x !〜 X m之R、G、B用資料線DLR、DLG、DLB的 _ 具料電壓VR data、V G data、VB data,而以該時點之 R、G、B用資料線DLR、DLG、DLB之電壓作爲 檢測信號V mr、V mg. v m b依序被讀出。又,由R、 G、B用檢測線T L R、T L G、T L B讀出之檢測信號 V mi*、V mg、V mb被輸出至檢測裝置22。 檢測裝置22,係依該檢測信號v mr、v mg、v mb 檢測各畫素電路2 〇 R、2 G2 Ο B之特性。亦即,檢測 裝置22可依據預充電寫入資料電壓V R data、 φ V G data、V B data之實際動作而進行各畫素電路 2 R、2 0 G、2 Ο B之特性檢測。 因此,檢測裝置22,當檢測結果不在基準範圍內時 可將製造中途之有機E L顯示裝置1 0判斷爲不良品,如 此則可以作爲是否移行至次一製程之判斷材料。 以下’說明上述構成之有機E L顯示裝置1 〇之特 徵。 (1 )依本實施形態,於具備預充電電路1 6之有機 -24- 1227454 (22) E L顯示裝置l 〇設置檢測電路1 7。藉由檢測電路1 7,將 資料線X 1〜X m施予預充電後執行寫入資料電壓 V R data、V G data、V B data之通常動作,寫入資料 電壓VR data、VG data、VB data後之資料線上之電 壓(檢測信號V m r、V mg、 V m b )可以被取出。因 此,以該取出電壓作爲檢測信號輸出至檢測裝置22,則 於檢測裝置2 2即可在良好精確度下進行對各畫素電路之 資料寫入不足之有無之檢測、亦即進行對包含資料線之各 畫素電路之檢測。 (2 )依本實施形態,於檢測裝置2 2設置由移位暫存 器構成之信號產生電路4 2,僅藉由該信號產生電路4 2使 資料線X 1〜X m連接之檢測開關S 丁 R、 S T G、 S T B設爲Ο N狀態,依此即可取出和資料線上寫入之資 料電壓VR data、VG data、V B data對應之之檢測信 號V mr、V mg、V mb,因此可以簡單電路構成,在良 好精確度下進行上述檢測。 (3 )於本實施形態,資料線X 1〜X m分別由R、 G、B用資料線D L R、D L G、D L B構成,於檢測電 路1 7和該各R、G、B用資料線D L R、D L G、 D L B對應地設置R、G、B用檢測線T L R、T L G、 T L B。因此,可使用該各R、G、 B用檢測線T L R、 T L G、T L B檢測出由對應之之各R、g、B用資料線 DLR ' DLG、DLB所寫入之資料電壓vr data、 mr )
V G data、V B data (亦即檢測信號v -25- 1227454 (23) 因此,針對有機E L元件2 1之發光色各不同、各個 預充電電壓 VDC PRER、VDC PREG、VDC PREB 等 動作狀態不同之各畫素電路2 0 R、2 0 G、2 Ο B可以在良 好精確度下個別進行檢測。 (4 )本實施形態中,檢測係在除去有機E L元件2 1 以外之其他顯示面板部1 1及各電路1 2〜1 8被形成狀態 下,於最後有機E L元件2 1組裝製程之前階段被進行。 因此,有機E L元件2 1組裝製程之前可以判斷各畫 素電路2 0 R、2 0 G、2 Ο B之良否,檢測結果不在基準範 圍內時,不進行有機E L元件2 1之製程。 (5 )本實施形態中,檢測電路1 7係依第1及第2檢 測用時脈信號C L T、 C L 丁 B之每一半週期,依序選擇 R、G、B用資料線D L R、D L G、D L B所構成之資 料線X 1〜X m。因此,依序對R、G、B用資料線 D L R、D L G、D L B所構成之資料線X 1〜X m寫入 資料電壓VR data、VG data、VB data之後,依序取 出該R、G、B用資料線D L R、D L G、D L B所構成 之資料線X 1〜X m之被寫入電壓。結果可以縮短檢測時 間。 (6 )本實施形態中,信號產生電路42之各信號輸出 電路部4 4,係使用1個控制信號S G X1〜S G X m針對 構成資料線X 1〜X m之R、G、B用資料線D L R、 D L G、D L B ,將各個R、G、B用資料線D L R、 DLG、DLB之電壓分別輸出至對應之之R、 G、 B用 -26- 1227454 (24) 檢測線T L R、T L G、T L B。因此,電路構成可以簡 單化。 (第2實施形態) 以下依圖4及5說明本發明第2實施形態。本實施形 態之特徵在於共用上述第1實施形態1說明之R、G、 B 用檢測線T L R、T L G、T L B及R、G、B用預充電 電源線 PRELR、 PRELG、 PRELB。因此,爲 方便起見僅說明該特徵部分。 於圖4,兼作爲預充電之檢測電路5 0,係設有閘極電 路5 1,其兼作爲上述第1實施形態之第1閘極電路3 1與 第2閘極電路4 1之用。 閘極電路 5 1,係由類比開關Q R、 Q G、 Q B構 成,類比開關Q R、Q G、Q B則由連接於各資料線X 1 〜X m之R、G、B用資料線D L R、D L G、D L B 的N通道F E T形成。亦即,本實施形態中,係和行方 向、亦即選擇之掃描線上連接之1個R、G、B用之各畫 素電路2 0 R、2 0 G、2 Ο B構成之每一組對應地設置1組 之類比開關Q R、Q G、 Q B。 R用各類比開關(以下稱R用開關)Q R,其之源極 接於作爲輸出入信號線之兼作爲檢測之R用預充電線 T P L R,汲極分別接於對應之R用資料線D L R。G用 各類比開關(以下稱G用開關)Q G,其之源極接於作爲 輸出入信號線之兼作爲檢測之G用預充電線τ p L G,汲 -27- 1227454 (25) 極分別接於對應之G用資料線D L G。B用各類比開關 (以下稱B用開關)Q B,其之源極接於作爲輸出入信號 線之兼作爲檢測之B用預充電線T P L B,汲極分別接於 對應之B用資料線D L B。 R、G、B用類比開關QR、QG、QB,係依來自 信號產生電路5 3之控制信號S G X 1〜S G X m控制其之 〇N /〇F F狀態。本實施形態之信號產生電路5 3之電 路構成中不同點在於,僅有檢測致能信號E N B T構成兼 作爲檢測之預充電致能信號P R E I N,其他電路構成則 和上述第1實施形態之信號產生電路42相同。因此,爲 方便說明而於各電路元件附加和第1實施形態1相同之符 號,並省略詳細說明。 於通常模態時,檢測信號D I N T被輸出,第1及第 2檢測用時脈信號C L T、C L T B未被輸出,成爲L位 準狀態。當兼作爲檢測之預充電致能信號P R E I N成爲 預充電時序時,由L位準變爲Η位準。因此,當預充電結 束後,兼作爲檢測之預充電致能信號P R Ε I Ν由Η位準 變爲L位準。因此,於通常模態時,和各資料線X 1〜 X m對應之全部控制信號S G X 1〜S G X m同時成爲Η 位準,全部之R、G、Β用類比開關Q R、Q G、Q Β被 設爲〇Ν狀態,因此全部資料線X 1〜X m同時被預充 電。 另外,於檢測模態時,兼作爲檢測之預充電致能信號 P R Ε I N成爲L位準,1脈衝之檢測信號D I Ν T被輸 -28- 1227454 (26) 出,和第1實施形態同樣地和第1及第2檢測用時脈信號 C L T、 C L 丁 B同步地產生控制信號S G X1〜 s G X m。之後,響應於控制信號S G X 1〜S G X m而使 R 、G 、B用類比開關Q R、Q G、Q B設爲〇N狀態。 依此則可由各資料線X 1〜X m之R、G、B用資料線 DLR、DLG、DLB將和預充電電壓VDC PRER、 VDC PREG、VDC PREB對應之之電壓輸出至兼作爲 檢測之R、G、β用預充電線T P L R、T P L G、 T p L Β。 兼作爲檢測之R、G、Β用預充電線T P L R、 T P L G、T P L Β之一端分別接於切換電路5 2 R、 5 2 G、5 2 Β。如圖5所示,各切換電路5 2 R、5 2 G、 5 2 Β分別由第1閘極電晶體Q 1 1及第2閘極電晶體Q 1 2 構成。又’本實施形態之第1閘極電晶體Q 1 1及第2閘 極電晶體Q 1 2係構成第3開關。 各切換電路5 2 R之第1閘極電晶體Q 1丨,係依第i 閘極信號0 1被設爲〇N狀態。依第1閘極電晶體Q 1 1 之被設爲〇N狀態,則分別來自上述R、G、B用預充電 電壓產生電路32〜34之預充電電壓VD C PRER、 V D C PREG、V D C PREB,將分別B被供至對應之兼 作爲檢測之R、G、B用預充電線T P L R、T P L G、 T P L B。又’本實施形態中,第1閘極信號0 1係由控 制電路1 8 出,於通常模態及檢測模態時,僅於預充電 時序被輸出Η位準之第1閘極信號0 1。 -29 - 1227454 (27) 各切換電路5 2 R之第2閘極電晶體Q 1 2,係依第2 閘極信號0 2被設爲〇N狀態。依第2閘極電晶體q j 2 之被設爲〇N狀態,則介由分別對應之之兼作爲檢測之 R、G、 B 用預充電線 TPLR、TPLG、TPLB 被 取入之R、G、B用資料線DLR、DLG、DLB之電 壓,將被輸出至上述檢測裝置22 (未圖示)。又,本實 施形態中,第2閘極信號0 2係由控制電路1 8輸出,於
檢測模態,於控制信號S G X 1〜S G xm被輸出期間時被 輸出Η位準之第2閘極信號0 2。
於本實施形態中設置兼作爲檢測之R、G、Β用預充 電線T P L R、T P L G、T P L Β,藉由兼作爲檢測之 R、G、Β 用預充電線 TPLR、TPLG、TPLB, 可以兼作爲上述第1實施形態說明之R、G、Β用檢測線 TLR、TLG、TLB與R、G、B用預充電電源線 PRELR、PRELG、PRELB。又,本實施形態 中設有閘極電路5 1,藉由閘極電路5 1之設置,可以兼作 爲上述第1實施形態之第1閘極電路3 1與第2閘極電路 4 1° 因此,除上述第1實施形態之效果以外,本實施形態 更能達成縮小電路規模之目的。 (第3實施形態) 以下依圖6說明本發明第3實施形態。 於上述第1實施形態中,分別對應R、G、B用資料 -30- 1227454 (28) 線DLR、DLG、DLB設置R、G、B用預充電電源 線 P R E L R、 P R E L G、 P R E L B 。相對於此,本 實施形態中之特徵在於對應R、G、B用資料線D L R、 D L G、D L B分別供給同一預充電電壓。因此,爲方便 說明僅說明特徵部分。 圖6爲本實施形態說明用之畫素電路及預充電電路之 內部電路構成之電路圖。於圖6,針對各資料線X 1〜 X m 之 R、G、B 用資料線 D L R、D L G、D L B , 本實施形態之預充電電路1 6設有做做爲預充電信號供給 線之1條預充電電源線P R L。因此,預充電電源線 P R L ,係介由第1閘極電路3 1之各類比開關S P R、 S P G、S P B連接於各資料線X 1〜X m之R、G、B 用資料線D L R、D L G、D L B。又,預充電電源線 PRL接於預充電電壓產生電路55,由預充電電壓產生 電路5 5供給預充電電壓V D C p。 又’第1閘極電路3 1之各類比開關S P R、 S P G、 S P B ’其之共通預充電控制信號p R E係由控 制電路1 8輸入。因此,當由控制電路丨8對各類比開關 SPR、 SPG、 SPB輸入預充電控制信號PRE時, 於各資料線X 1〜X m之R、G、B用資料線D L R、 D L G、D L B同時被供給預充電電壓v D C p。 依本實施形態,可以藉由1條預充電電源線P R L對 各資料線X 1〜X m之R、G、B用資料線D L R、 D L G、D L B供給預充電電壓產生電路5 5之預充電電 -31 - 1227454 (29) 壓v D C p。因此,和第1實施形態比較可減少配線數 目。結果,除上述第1實施形態之效果(1 ) 、 ( 2 )、 (4 )〜(6 )以外,本實施形態可以縮小電路規模。 (第4實施形態) 以下依圖7及8說明第1實施形態〜第3實施形態之 光電裝置之有機EL顯示裝置1〇適用電子機器之適用 例。有機E L顯示裝置1 〇適用攜帶型個人電腦、行動電 話及數位相機等各種電子機器。 圖7爲攜帶型個人電腦之構成斜視圖。於圖7,個人 電腦6 0,係具備:具鍵盤6 1之本體部6 2,及使用上述有 機E L顯示裝置1 0之顯示單元6 3。此情況下,使用上述 有機E L顯示裝置1 0之顯示單元6 3可發揮和上述實施形 態相同之效果。結果’個人電腦6 0可以實現缺陷較少之 影像顯示。 圖8爲攜帶電話之構成斜視圖。圖8中,攜帶電話 7 0具備:多數操作按鈕7 1、受話器7 2、送話器7 3、及使 用上述有機E L顯示裝置1 〇之顯示單元74。此情況下, 使用上述有機E L顯示裝置1 〇之顯示單元7 4可發揮和上 述實施形態相同之效果。結果,攜帶電話7 0可以實現缺 陷較少之影像顯示。 又’本發明之實施形態可做以下變更。亦即, 於上述實施形態中,檢測係在除去有機E L元件2 ! 以外之其他顯示面板部1 1及各電路丨2〜丨8被形成狀態 -32- 1227454 (30) 下,於最後有機E L元件2 1組裝製程之前階段被進行。 但亦可於組裝有機E L元件2 1之後實施。 於上述實施形態中,對資料線X 1〜X m施予預充電 後執行寫入資料電壓VR data、VG data、VB data之 通常動作,據以取出寫入資料電壓V R data、V G data、 V B data後之資料線之電壓。 但亦可不寫入資料電壓V R data、V G data、 V B d at a,對資料線X 1〜X m施予預充電取出依據該預 充電電壓而施加於資料線之電壓,而執行資料線X 1〜 X m之配線電容檢測等亦可應用於其他檢測。 又,上述實施形態中係依各色有機E L元件2 1之電 氣特性變化預充電電壓VDC PRER、VDC PREG、 V D C PREB,但是例如R、 G用之有機E L元件爲相同 電氣特性時,預充電電壓可設爲相同。此情況下,可減少 預充電電源線及預充電電壓產生電路之數目。 又,上述實施形態中,電子電路係以畫素電路2 〇之 具體化例而得較佳效果,但亦可取代有機E L元件2 1, 改用驅動例如L E D或F E D等發光元件之電流驅動元件 的電子電路予以具體化。 上述實施形態中,各畫素電路2 〇 R、2 0 G、2 0 B之 電流驅動兀件係以有機E L元件2 1爲例,但亦可使用例 如無機E L元件。亦即’亦可用於無機e l元件構成之無 機E L顯示裝置。 上述實施形態中各畫素電路2 0 R、2 0 G、2 0 B係以 -33- 1227454 (31) 電壓驅動型畫素電路爲例,但亦適用電流驅動型畫素電路 之有機E L顯示裝置。又,亦適用分時、面積灰階等數位 之畫素電路之有機E L顯示裝置。 上述實施形態中,爲針對3色有機E L元件2 1設置 各色用畫素電路20 R、20 G、20 B之有機EL顯示裝 置’但亦可用於以1色構成之E L元件之畫素電路所構成 之E L顯示裝置。
【圖式簡單說明】 圖1 :第1實施形態說明用之有機E L顯示裝置之電 路構成方塊圖。 圖2 :顯示面板部及檢測電路之內部電路構成之電路 圖。 圖3 :畫素電路及預充電電路之內部電路構成之電路 _。 圖4 :第2實施形態說明用之顯示面板部及兼作爲檢 測用之預充電電路之內部電路構成之電路圖。 圖5 :兼作爲檢測用之預充電電路之閘極電路構成之 電路圖。 圖6 :第3實施形態說明用之畫素電路及預充電電路 之內部電路構成之電路圖。 圖7 :第4實施形態說明用之攜帶型個人電腦之構成 斜視圖。 圖8 :第4實施形態說明用之行動電話之構成斜視 -34- 1227454 (32) 圖。 ( 符 號 說 明 ) 10 作 爲 光 電裝置之有> 機 E L顯示裝置 11 顯 示 面 板部 16 - 預 充 電 電路 17 > 檢 測 電 路 18 作 爲 料線選擇電i 洛 之控制電路 20 R > 作 爲 f電子電路之 R 用畫素電路 20 G 、 作 '爲 •電子電路之 G 用畫素電路 20 Β 作 爲 ,電子電路之 B 用畫素電路 2 1 > 有 機 Ε L元件 22 > 檢 測 裝 置 3 1 構 成 第 1開關之第 1 閘極電路 4 1 構 成 第 2開關之第 2 閘極電路 50 兼 作 爲 預充電之檢; 側 電路 5 1 閘 極 電 路 T L 檢 測 線 Τ L R R 用檢測線 Τ L G G 用檢測線 Τ L Β ' Β 用檢測線 Υ 1 Υ η、 掃描線 X 1 X m , .資料線 D L R R 用資料線 -35- 1227454 (33) D L G、G用資料線 D L B、 B用資料線 S P R、 SPG, S P B、作爲第丨開關之類比開關 S T R、 S T G、 S 丁 B、作爲第2開關之類比開關 (檢測開關)
P R E L R '作爲預充電供給線之r用預充電電源線 P R E L G、作爲預充電供給線之〇用預充電電源線 P R E L B、作爲預充電供給線之B用預充電電源線 T P L R、作爲輸出入信號線的兼作爲檢測之R用預 充電線 T P L G、作爲輸出入信號線的兼作爲檢測之G用預 充電線 T P L B、作爲輸出入信號線的兼作爲檢測之B用預 充電線
Q 1 1、構成第3開關之第1閘極電晶體 Q 1 2、構成第3開關之第2閘極電晶體 V m r、V m g、V m b、檢測信號 D I N T、檢測信號 -36-

Claims (1)

1227454 (1) 拾、申請專利範圍 1 · 一種光電裝置,係包含有: 多數掃描線; 多數資料線;及 多數光電元件,其對應於上述多數掃描線與上述多數 資料線之交叉部被設置;其特徵爲包含有: 桌1開關’用於控制上述多數資料線中至少1條資料 線所連接預充電信號供給線之對該至少1條資料線之預充 電信號之供給; 第2開關,用於控制上述多數資料線中至少1條資料 線所連接之,由該至少1條資料線對檢測線之檢測信號之 輸出;及 資料線選擇電路,用於設定上述第2開關之〇n狀態 或〇F F狀態。 2· —種光電裝置,係包含有: 多數掃描線; 多數資料線;及 多數光電元件’其對應於上述多數掃描線與上述多數 資料線之交叉部被設置;其特徵爲包含有: 第3開關,用於控制上述多數資料線中至少1條資料 線所連接輸出入信號線之對該至少1條資料線之預充電信 號之供給、以及控制該至少1條資料線對上述輸出入信號 線之檢測信號之輸出;及 資料線選擇電路,用於設定上述第3開關之〇N狀態 -37- 1227454 (2) 或〇F F狀態。 3· —種光電裝置,係包含有: 多數掃描線; 多數資料線;及 多數光電元件’其對應於上述多數掃描線與上述多數 資料線之交叉部被設置;其特徵爲包含有:
預充電線’用於對上述多數資料線中至少2條資料線 之預充電信號之供給; 第1開關,分別控制上述至少2條預充電線對上述至 少2條資料線之預充電信號之輸出;及 第2開關,分別控制上述多數資料線中至少2條資料 線對檢測線之檢測信號之輸出。 4 ·如申請專利範圍第3項之光電裝置,其中 設有資料線選擇電路,用於依序使上述第2開關動 作’控制上述至少2條資料線對檢測線輸出之預充電信 號。 5·,一種光電裝置之驅動方法,該光電裝置爲具備: 多數掃描線; 多數資料線,其與上述各掃描線呈交叉配置· 電子電路,其分別對應上述多數掃描線與上述多數畜 料線之交叉部被設置; 第1開關,用於控制上述多數資料線中至少丨條畜料 線所連接預充電信號供給線之對該至少1條資料線之預充 電信號之供給,及 -38 - 1227454 (3) 第2開關’用於控制上述多數資料線中至少i條資料 線所連接之’由該至少1條資料線對檢測線之檢測信號之 _出;其特徵爲由以下步驟構成: 當選擇多數掃描線中之1條時,介由第1開關對上述 資料線供給來自預充電信號供給線之預充電信號的第1步 驟; 介由上述資料線,對上述選擇之1條掃描線所連接電 子電路供給資料信號的第2步驟;及 介由上述第2開關,以供至上述資料線之資料信號作 爲檢測信號輸出於檢測線的第3步驟。 6. —種光電裝置之驅動方法,該光電裝置爲具備: 多數掃描線; 多數資料線,其與上述各掃描線呈交叉配置; 電子電路,其分別對應上述多數掃描線與上述多數資 料線之交叉部被設置; 預充電線’用於對上述多數資料線中至少2條資料線 供給預充電信號; 第1開關,分別控制上述至少2條預充電線對上述至 少2條資料線之預充電信號之輸出;及 第2開關,分別控制上述多數資料線中至少2條資料 線對檢測線之檢測信號之輸出;其特徵爲由以下步驟構 成: 當選擇多數掃描線中之1條時,介由上述第1開關對 上述資料線分別供給來自預充電信號供給線之預充電信號 -39- 1227454 (4) 的第1步驟; 介由上述資料線,對上述選擇之1條掃描線所連接電 子電路供給個別之資料信號的第2步驟;及 介由上述第2開關,以供至上述資料線之資料信號作 爲檢測信號分別輸出於上述檢測線的第3步驟。 7 . —種電子機器,係安裝有申請專利範圍第1〜4 中任一項之光電裝置者。
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