TW591667B - Semiconductor memory device and data output buffer thereof - Google Patents
Semiconductor memory device and data output buffer thereof Download PDFInfo
- Publication number
- TW591667B TW591667B TW089102426A TW89102426A TW591667B TW 591667 B TW591667 B TW 591667B TW 089102426 A TW089102426 A TW 089102426A TW 89102426 A TW89102426 A TW 89102426A TW 591667 B TW591667 B TW 591667B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- output signal
- data output
- inverter
- data
- signal
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/02—Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
- G11C5/025—Geometric lay-out considerations of storage- and peripheral-blocks in a semiconductor storage device
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Description
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 591667 A7 B7 五、發明說明(2) 暫存器14-1,14-2,…,14-(η_η,14 n皂罢、尺丄、仏_ , 、·υ ’ l4_n女置於此記憶體細 胞陣列區塊之下,具有輸入/輸出墊片,18_2,…,18_ (η-1),18-η和輸出驅動器 16-1,16_2,…,16 (η1),ΐ6 η安 置於此記憶體細胞陣列區塊之上.,具有資料線對D〇u, DOD安置於此側面相鄰的記憶體細胞陣列區塊之間。 如圖1所示,爲了使此感應放大器12-1,12_2,…, 12-(η-1),12-η和第一和第二暫存器 14-1,14 2,…, 14-(η-1),14-η之間信號線的長度及此輸入/輸出墊片18-1, 18-2,…,18-(η-1),18-η和輸出驅動器 16-1,16-2,…, 16-(η-1),16·η之間信號線的長度最小化,此第一和第二暫 存器14-1,14-2,…,14-(η-1),14-η安置於緊鄰此感應放 大器12-1 ’ 12-2,…,12-(η-1),12-η,而此輸出驅動器 16-1,16-2,…,16_(η-1),16-η安置於緊鄰此輸入/輸出墊 片18-1,18·2,…,18-(η-1),18-η。當然,最好此第一和第 一暫存器14-1,14_2,…,14-(η-1),14-η安置於緊鄰此輸 出驅動器16-1 ’ 16-2,…,16-(η-1),16-η。然而,此輸出驅 動器16_1 ’ 16-2,…,16-(η-1),16-η安置於緊鄰此輸入/輸 出墊片18-1,18-2,…,18-(η-1),18-η,因爲此輸出驅動 器16_1,16-2,…,16-(η-1),16-η和此輸入/輸出塾片 18-1,18-2,…,18-(η-1),18·η之間額外的電阻/電容發揮 一較此第一和第二暫存器 14-1,14-2,···’ 14-(η-1),14-η 和此輸出驅動器16-1,16-2,···,16-(1^1) ’ 164之間差的 影響在此半導體記憶裝置的工作速度上。 因此,顯示於圖1中的佈局。是一半導骨豆冗憶裝置的典 -5 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------------------訂----1 (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 591667 A7 B7 五、發明說明(4 ) 位準和“高”位準的資料輸出信號對DATAAb,DATAA。鎖 定L 1將此資料輸出信號對DATAAb,DATAA鎖定以將其輸 出。 暫存器200接收一對資料輸出信號DATAAb,DATAA以將 其相應於一 “高”位準的計時控制信號KDATA反相,並產 生一對資料輸出信號DATAC,DATACb以鎖定此資料。 此計時的CMOS反相器CI1,CI2可作爲打開此PMOS電晶 體P5,P7和NMOS電晶體N4,N6相應於此“高’’位準的計 時控制信號KDATA。當此“高”位準和“低”位準的資料輸 出信號對DATAAb,DATAA被輸入時,此NMOS電晶體N 3 和PMOS電晶體P 8被打開,由此產生此“低”位準和“高”位 準的資料輸出信號對DATAC,DATACb。此外,當此“低,, 位準和“高”位準的資料輸出信號對DATAAb,DATAA被輸 入時,此PMOS電晶體P6和NMOS電晶體N5被打開,由此 產生此“高”位準和“低,,位準的資料輸出信號對DATAC, DATACb。此具有反相器I 6,I 7的鎖定將此資料輸出信號 對DATAC,DATACb鎖定。此NAND閘ΝΑΙ,NA2和反相器 I 8,I 9產生此資料輸出信號對DATAC,DATACb像一對資 料輸出信號DOU,DOD相應於一“高,,位準的輸出開啓信號 OE。此NAND閘ΝΑΙ,NA2和反相器18,19產生此“低,,位準 的資料輸出信號對DOU,DOD相應於此“低,,位準的輸出開 啓信號Ο E。 此輸出驅動器300允許此NMOS電晶體N 7被打開相應於 此“高’’位準和“低”位準的資料輸出信號對DOU,DOD以產 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -----·—-------------^訂-------- (請先閱讀背面之注咅?事項再填寫本頁) 591667
、發明說明( 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 生 π ”位準的輸出信號XI0。此外輸出驅動器3 ο 0允許 此nmos電晶體Ν 8被打開相應於此“低,,位準和“高”位準 的貝料輸出信號對D0U,D0D以產生一“低,,位準的輸出俨 3虎 X1 〇 〇 圖3疋時序圖説明顯示於圖2中之資料輸出缓衝器。如 果此計時信號XCLK被輸入此半導體記憶裝置中,此計日^ 控制信號被產生。此外,在第-,第二,第四讀取指令周 、月1 II ’ IV的期間,如果一用以輸出資料之“低,,位準的反 相=料輸出開啓信號又〇讥被輸入此半導體記憶裝置中, 21唬被反相和緩衝,由此產生一 “高,,位準的資料輸出開 啓k唬Ο E。然後,此資料輸出緩衝器操作以產生此資料 輸出信號XIO。 ’ 、在第一周期I期間,此資料輸出緩衝器的第一暫存器ι〇〇 接收、對來自於感應放大器之“高,,位準和“低,,位準的感應 輸出U對SASb ’ SAS,以由此產生此“高,,位準和“低,,位 準的資料輸出彳“虎對DATAAb,DATAA。而此暫存器將 此问位準和‘‘低,,位準的資料輸出信號對DATAAb, DATAA反相相應於一“高,,位準的計時控制信號, 由此產生此“低,,位準和“高,,位準的資料輸出信號對 =TAC ’ DATACb。而此暫存器2〇〇也產生此“低,,位準和 位準的資料輸出信號對d〇u,相應於此輸出開啓 L ^虎Ο E的一咼’’位準。而輸出驅動器操作此“低,,位準 和“高,,位準W資料輸出信號對d〇u,d〇d以產生此輸出資 料信號XIO的“低,,位準。 規格(210 X 297公釐) ^-------—-----^訂-------- (請先閱讀背面之注音心事項再填寫本頁)
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 物“二和第四週期„’IV的期間’此資料輸出缓衝器的 弟—暫存器議接收-對來自於感應i大器之“低,,位準和 南”位準的感應輸出信號對SASb,sAS,以由此產生此 “低,,位準和“高,,位準的資料輸出信號對DATAAb, DATAA。而此暫存器200將此“低”位準和“高,,位準的資料 輸出信號對DATAAb,DATAA相應於一“高,,位準的計時控 制信號K D A T A,由此產生此“高,,位準和“低,,位準的資料 輸/信號對DATAC,DATACb。而此暫存器細也產生此 “向”位準和“低,,位準的資料輸出信號對DOU,DOD相應於 此輸—出開啓信號0E的-“高,,位準。而輸出驅動器则操作 此“高,,位準和“低”位準的資料輸出信號對d〇u,d〇d以產 生此輸出資料信號XIO的‘‘高,,位準。 在第一週期III的期間,因爲此輸出開啓信號〇 E是一 ‘‘低”位準,此資料輸出信號對D〇u,D〇D二者都變成“低,, 位準,顯示此輸出資料信號XI〇是在高阻抗的狀態。 、大概地回頭參考圖2,可以瞭解此輸出驅動器安置於此 1己憶體細胞陣列之上,此資料輸出緩衝器安置於此記憶體 細胞陣列之下,及二信號線D〇Ui*D〇Di(i=1-n)安置於此 記憶體細胞陣列的區塊之間,像在圖1中的。然而,其中 已有一問題,此裝置產生一相當無效率的佈局因爲遞送在 側面相鄰的記憶體細胞之間二資料線的需求。 以及,因爲在此資料輸出緩衝器和此墊片之間的信號線 疋長的,其中已有一問題,其花費許多時間直到此計時控 制信號KDATA被產生和輸出通過此輸入/輸出墊片。亦 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) · --------^訂 -------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 五、發明說明(8) 出緩衝器包含-第-暫存器用以儲存一對資料一 產生一第一資料輸出信號用科輸入信號及 此第-暫存器之第—資料私山—暫存器用以接收輸出自 及-輸出開啓信號,相時控制信號 輸出驅動器用以驅動來自此第器:出:號,和- 號對。 w々罘一 ^料輸出信 , 国例概述 爲了本發明之性質和目的之占敕 下的詳述連同伴随的圖例中=、料’料考在以 ==圖説明—慣用之半導體記憶裝置的佈局; 馬%路圖况明顯示於圖i中的半 料輸出緩衝器的一具體裝置; +導…思裝置《資 作圖3爲-時序圖説明顯示於圖2中之資料輸出緩衝器的操 局圖4爲-方塊圖顯示根據本發明之半導體記憶裝置的佈 圖5爲-電路圖用以説明顯示於圖 之資料輸出緩衝器的一具體裝置;+導“匕裝置 作圖6為—時序圖説明顯示於圖5中之資料輸出緩衝器的操 發明詳述 月之半導體圮憶裝置和資料輸出緩衝器的較佳具體 裝置,現在將參考伴隨的圖例更詳細的描述。 在所有的圖中,同樣的參考數字和術語用於同樣的或相 -11 - 591667 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(9 ) 等的零件或邵分的指定,爲了説明和解釋的簡易性,其不 必要的詳述將被省略。 圖4爲一方塊圖顯示根據本發明之半導體記憶裝置的佈 局。此記憶體細胞陣列區塊1 〇-1,1 〇-2,...,】rw ,、 ,1ϋ-(η-1), 10-η ;感應放大器12·1,12-2,…,ΐ2-(η-ΐ),12_η ;輸出驅 動器 16-1,16-2,…,16-(η-1),16·η;及墊片 181, 18-2,…,18-(η-1),18-η的結構和安排等於那些顯示於圖i 中之慣用的半導體記憶裝置。然而,此組成資料輸出緩衝 器 30-1,30-2,…,30-(n_l),30-n之第一暫存器 321, 32-2,…,32-(n-l),32-n和第二暫存器3H,34-2,…, 34-(n-l),34-n在結構和安排上不同於那些顯示於圖i中之 慣用的半導體記憶裝置。其不同在於此第一暫存器32_ i, 32-2,…,32-(n-l),32-n安置在相鄰於此感應放大器 12-1,12-2,…,12-(n_l),12-n,而此第二暫存器 34-1, 34_2,…,34-(n-l),34-n安置在相鄰於此輸出驅動器 16-1,16-2,…,16_(n-l),16-n,且僅有一信號線對於每 一 s己憶體細胞陣列區塊延伸自此第一暫存器3 2 _ 1, 32-2,…,32-(n-l),32-n至此第二暫存器 34-1,34-2,…, 34-(n-1),34-n 0 在顯示於圖4中之本發明的半導體記憶裝置中,此第二 暫存器被重新放置較靠近此輸出驅動器側,且僅有一信號 線耑要在此第一和第二暫存器之間和在此側面相鄰的陣列 區塊之間從上到下,由此增加佈局的效率。 圖5爲一電路圖説明根據本發明之半導體記憶裝置之資 -12- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) - -------------------- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 591667 A7 ____B7 五、發明說明(1〇) 料輸出緩衝器的一具體裝置,包含一第一暫存器110,一 第二暫存器210,和一輸出驅動器3 〇〇。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 此第一暫存器110具有一額外的反相器〗丨〇未發現於顯示 於圖2中之慣用的第一暫存器1〇〇中。此第一暫存器11〇的 結構可以被瞭解如下。 多工器MUX1包括一反相器ϊ丨用以將此反相的感應輸出 信號SASB反相;二PMOS電晶體Pi,P2其連續地連接於内 電源電壓VDD和此反相的資料輸出信號DATAAb之間產生 被此感應輸出#號SAS和此反相器I 1之輸出信號所控制的 線;和一 NMOS電晶體N 1連接於產生線之反相的資料輸出 信號DATAAb和地電壓之間,並被此感應輸出信號SAS所 控制。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 多工器MUX2包含一反相器I 2用以將此感應輸出信號 SAS反相’·一 PMOS電晶體P 3,P 4其連續地連接於内電源 電壓VDD和此資料輸出信號DATAA之間產生被此反相器 I 2之感應輸出信號SAS和輸出信號所控制的線;和一 NMOS電晶體N2連接於產生線之資料輸出信號DATAA和 地電壓之間,並被此反相的感應輸出信號SASB所控制。 鎖定L 1包括一反相器I 3用以將一輸出自產生線之資料輸 出信號DATAA的信號反相以傳遞其至產生線之反相的資料 輸出信號DATAAb,和一反相器I 4用以將一輸出自產生線 之反相的資料輸出信號DATAAb的信號反相以傳遞其至產 生線之資料輸出信號DATAA。 此第二暫存器210包含一具有一反相器in之計時的 -13- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 591667 A7 ___ B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(11) CMOS反相器CI3 ; PMOS電晶體P9,P10和NMOS電晶體 N9,N10 ; —鎖定L3包括反相器112,113 ; —反相器η# ; 和NOR閘N0R1,N0R2。 此CMOS反相器CI3包含一反相器111用以將此計時控制 信號KDATA ;二PMOS電晶體P9,P10和二NMOS電晶體 N9,N10,所有的都連續地連接於内電源電壓VDD和地電 壓之間以個別地由此反相器111的輸出信號,資料輸出信 號DATABb和此計時控制信號KDATA所控制。 鎖定L3由一用以將此計時的CMOS反相器CI3之輸出信號 反相以產生反相的資料輸出信號DATACb的反相器112,和 一連接至反相器112之一輸入端子以將此反相器112的輸出 信號反相由此產生此資料輸出信號DATAC的反相器113所 組成。 反相器114將此輸出開啓信號〇 E反相,而此NOR閘 N0R1,N0R2完成此反相器114之輸出信號的NORing和此 資料輸出信號對DATACb,DATAC,由此產生此資料輸出 信號對DOU,DOD。 輸出驅動器300由NMOS電晶體N7,N8所組成,其連續地 連接於電源電壓和地電壓之間,且其由此資料輸出信號對 DOU,DOD所控制。 顯示於圖5中之電路的操作可以暸解如下。 第一暫存器110接收此感應輸出信號對SASb,SAS以產生 此資料輸出信號對DATAAb,DATAA並鎖定他們。此第一 暫存器110的操作,參考顯示於圖2中之第一暫存器100的 -14 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -—
I I I I 線·· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 591667 A7 五、發明說明(12) f 員 工 消 費 操作將會進一步瞭解。反相器11〇將資料輸出信號1)入丁八入 反相由此產生資料輸出信號DATABb。亦即,此產生資料 輸出信號DATABb被傳遞在如圖4中之記憶體細胞陣列的 區塊之間。 第二暫存器210接收輸出自第一暫存器11〇的資料輸出信 號DATABb以產生第二資料輸出信號對DATACb,datac 相應於一‘‘高”位準的計時控制信號kdata,及產生此資 料輸出信號對D〇U,DOD相應於此輸出開啓信號〇e。 ’ 在此計時的CMOS反相器CI3中,此pM〇s電晶體”和 NMOS電晶體N10被打開相應於一“高,,位準的計時"作 號,由此將此“高,,位準的資料輸出信號^丁娜反相以輸 出一低位準的信號,及將此“低,,位準的資料輸出信號 DATABb反相以產生一“高,,位準的信號。反相器ιΐ4將此輸 出開啓信號OE反相。此N0R閘N〇R1,職2將此資料輸 信號對DATACb,DATAC反相以產± &資料輸出信號 DOU’DOD相應於此反相器114的一 “低,,位準輸出,及 生此“低”位準之資料輸出信號對咖,卿的高阻抗狀 相應於此反相器114之“高,,位準的輸出信號。 參考顯示於圖2中之資料輸出緩衝器的操作會進一步 解此輸出驅動器3〇〇的操作。 顯击於圖5中的資料輸出缓衝器具有相較於顯示於圖2 慣用的資料輸出緩衝器簡化的電路結構。因此,此半導 記憶裝置和此資料輸出緩衝器在其巾增加佈局的效率。, 圖6是-時序圖用以説明顯示於圖5中之資料輸出缓衝 中 體 器
I -15 - 本紙張尺度適用中關家標準(CN&4規格⑵Q χ撕 出 對 產 態
----------, (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ^ · I I I I 1 ϋ ί I I I ϋ _ 五、發明說明(13) 的操作,且將用於顯示於圖5中之電路的解釋如下。 像在圖3之時序圖中解釋的,當此計時信號xclk輸入至 ,半導體記憶裝置時,此計時控制信號KDATa被產生。在 第一,第二,第四讀取指令周期ί,π,ιν中,當一用以輸 出資料之“低,,位準的反相資料輸出開啓信號XOEb被輸入 此半導體㈣裝置中時,此信號被反相和㈣,由此產生 一“高”位準的資料輸出開啓信號0E。㈣,此資料輸出 緩衝器操作以產生此資料輸出信號χΐ〇。 在第一周期I中,此資料輸出緩衝器的第一暫存器11〇接 收來自於感應放大器之“高’’位準和‘‘低,,位準的感應輸出信 號對SASb ’ SAS ’以產生此“高,,位準和“低,,位準的資料輸 出信號對DATAAb,DATAA。反相器11()在其中將此“低” =準的資料輸出信號DATAA反相以產生此“高,,位準的資 料輸出仏唬DATABb。此第二暫存器21〇產生此“高,,位準 ‘和:低二立準的資料輸出信號對㈣鳩,DAW相應於此 门位準的计時控制信號KDATA,而此“低,,位準和‘‘高” 位準的資料輸出信號對D〇u,D〇D個別地相應於此“高:位 ‘準的,輸出開啓信號〇 E。以及,此輸出驅動器则驅動此 低位準和“高,,位準的資料輸出信號對D〇U,D〇D以產 生此^低,,位準的輸出資料信號XIO。 if第二和第四週期11,IV中,此資料輸出緩衝器的第一 子器110接收來自於感應放大器之“低,,位準和“高,,位準 的感應輸*信號對SASb,SAS,以產生此“低,,位準和“高” 位準的資料輸出信號對D ATAAb,D ATAA。反相器Σ i 0在其 -16- 本紙張尺度_㈣規格— X 297公釐) 591667
五、發明說明(14) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
中將此“高,,位準的資料私山A α ’ 輸出仏號dataa反相以產生jrt “低”位準的資料輸出信號DATai3u , 4 n 观D ATABb。此第二暫存器2i〇J 生此“低,,位準和“高,,位準 ,仔印 & — +的貝枓輸出信號對DATACb, 相應於此“高,,位準的計時控制信號KDATA,而血 间位準和低,,位準的資料輸出信號對D0U,D0D個別祕 相應於此“高”位準的輸出開啓信號〇E。以及,此輸出驅 驅動此“高,,位準和“低,,位準的資料輸出信號到 DOU,麵以產生此“高,,位準的輸出資料信號χι〇。 在第三週期咐,因爲此輸出開啓信號〇ε是在一“低, 位準,所有資料輸出信號對D〇u,D〇D都變成“低”位準。 結果、’此輸出資料信號XI〇是在—高阻抗的狀態。亦即, 顯示於圖5中之半導體s己憶裝置的資料輸出緩衝器僅要求 此資料輸出信號DATABb的—線在此第—暫存器和此第二 暫存器之間遞送。 因此’本發明的半導體記憶裝置是以在相鄰記憶體細胞 陣列的區塊之間僅通過—信號線這樣的方法設計電路和組 成佈局,由此增加此佈局的效率。 批以及,本發明之半導體記憶裝置的資料輸出緩衝器以此 罘一暫存器安置於緊鄰此感應放大器,而此第二暫存器安 置於緊都此輸出驅動器的^去來建構,由此降低從此計時 信號的產生至此資料輸出信號χΐ〇的產生之信號延遲。因 此,根據本發明之半導體記憶裝置可以在比用慣用之設計 和佈局爲高的速度下確實地工作。 此本發明之半導體記憶裝置的資料輸出緩衝器具有 簡單的電路結構使得此佈局在其中有效地完成。 ---------Ρ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂-----
n H I I 線·· 17- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格( χ 297公髮)
Claims (1)
- 、申請專利範圍 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 L ~種半導體記憶裝置,包含: 右干記憶體細胞陣列區塊; 若干安置於該記憶體細胞陣列區塊之上或下的感應放 大器’用以放大和輸出由該若干記憶體細胞陣列區塊之 每一個輸出的資料; 若干安置於相鄰於該若干感應放大器之每一個的第一 暫存器’用以儲存一對輸出自該若干感應放大器之每一 個的感應輸出信號,和產生一第一資料輸出信號; 若干個別地安置於該若干記憶體細胞陣列區塊之下或 上的第二暫存器,用以接收輸出自該若干第一暫存器之 每一個之該第一資料輸出信號以回應於該區塊控制信號 及一輸出開啓信號和產生一對第二資料輸出信號; 右干輸出驅動器個別地安置於該若干記憶體細胞陣列 ::之下或上,用以驅動輸出自該若干第二暫存器之該 ί弟一資料輸出信號;及 連接至該若干輸出驅動器之每一個的若干輸入/輸出 片02.根據中請專利㈣第Η的裝置器之每一個包含: /右干弟—暫存 第一和第二多工器用以接收該感應輸出 -對第三資料輸出信號; ”虎對和產 一第一鎖定連接於輸出自該第一和第二 。 資料輸出信號對之間以鎖定該第三資料 ^器又第 -第-反相器用以將該第三資料輸出:二對·’ 塾 生 及 反相 I-----ΙΦ--------訂·!------線· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) _ 18 · 本紙張尺度適財國規格⑽X 297公爱 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 591667 Α8 Β8 C8 — D8 六、申請專利範圍 以產生該第一資料輸出信號。 3·根據申請專利範圍第2項的裝置,其中該第一多工器包 含: 一第二反相器用以將該輸出信號對的反相感應輸出信 號反相; 第一和第一 PM〇s電晶體連續地連接於内電源電壓和 琢反相的第一資料輸出信號之間產生被該感應輸出信號 和蔹第二反相器之輸出信號所控制的線; 一 NMOS電晶體連接於產生線之反相的第一資料輸出 仏唬和地電壓之間,並被該感應輸出信號所控制。 4.根據申請專利範圍第2項的裝置,其中該第一多工器包 含: 一第三反相器用以將該感應輸出信號對之一反相; 第二和第四PMOS電晶體連續地連接於内電源電壓和 該第:資料輸出信號之間產生被該反相的感應輸出信號 和該第二反相器之一輸出信號所控制的線; 一第一 NMOS電晶體連接於產生線之第一資料輸出信 號和地電壓之間,並被該反相的感應輸出信號所控制/ 5·根據中請專利範園第2項的裝置,其中該第_鎖定包 含: 一第四反相器用以將該反相的第三資料輸出信號反相 使其傳遞至該第三資料輸出信號產生線; -第五反相器用以將該第三資料輸出信號反相使 出至該第三資料輸出信號產生線。 -19- ^氏張尺度適財國_標準(CNS)A4規彳^ χ撕公髮) --------------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 591667 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 / 6·根據申請專利範園第i項的裝置,其中該第二暫存器包 含·· 口 一計時的C Μ 0 s反相器用以將該第一反相器的輸出信 號相應於该計時控制信號反相使其輸出; 一第一鎖足用以將該計時的CM〇S反相器之輸出信號 反相和鎖定以產生一第四資料輸出信號對; 邏輯閘用以將輸出自該第二鎖定的第四資料輸出信號 對反相以產生像一第二資料輸出信號對相應於該輸出開 啓信號。 7·根據申請專利範圍第6項的裝置,其中該計時的CM〇s反 相器包含: 一第六反相器用以將該計時控制信號反相; 第五,第六PMOS電晶體和第三,第四^^]^〇8電晶體其 連續地連接於内電源電壓和地電壓之間,個別地由該第 六反相器的一輸出信號,該第一反相器的一輸出信號, 一計時控制信號所控制; 由此將該第一反相器的輸出信號反相以使其輸出。 8 ·根據申請專利範圍第6項的裝置,其中該第二鎖定包 含: 一第七反相器用以將該計時的CMOS反相器之輸出信 號反相以產生該反相的第四資料輸出信號;及 一第八反相器具有一輸入端子連接至該第七反相器的 一輸出端子和一輸出端子連接至該第七反相器的一輸入 端子,用以將該第七反相器的輸出信號反相使其後產生 -20 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .--------tr---------線經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 591667 A8 B8 C8六、申請專利範圍 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 孩第四資料輸出信號。 9·根據申請專利範圍第6項的裝置,其中該邏輯閘包含: 一第九反相器用以將該輸出開啓信號反相; 一第一反或閘用以將該反相的第四資料輸出信號和該 第九反相器的輸出信號作反或處理以產生該第二資料輸 出信號; 一第二反或閘用以將該第四資料輸出信號和該第九反 相器的輸出信號作反或處理以產生該反相的第二資料輸 出信號。 ⑴·根據申凊專利範圍第1項的裝置,其中每一輸出驅動器 包含第五’第六NM〇s電晶體連續地連接於電源電壓和 地電壓之間,並由輸出自該第一和第二反或閘的第二資 料輸出信號對來控制。 u· 一半導體記憶裝置的資料輸出緩衝器,包含: 第—暫存器用以儲存一對資料輸入信號和產生一第 一資料輸出信號; 一第二暫存器用以接收該輸出自第一暫存器的第一資 =輸出=號相應於-計時控制信號和一輸出開啓信號以 生第二補充的資料輸出信號對;及 輸出驅動器用以驅動輸出自第二暫存器之第二補充 的資料輸出信號對。 請專利範圍第11項的資料輸出缓衝器,其中該第 暫存器包含: μ和第一多工器用以接收該資料輸入信號對以產生 21 ^ Γ · I ϋ i_i ·ϋ ϋ ϋ ϋ ^1 ϋ ϋ ^1 ^1 0 ϋ ϋ I ·ϋ ϋ i iw ^ ^ · ϋ ^1 ϋ I I ϋ \ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 線[紙張尺度適 x 297公釐) 591667 A8 B8 C8 D8申請專利範圍 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 一對第三資料輸出信號; 一第:鎖定連接於輪出自第―和第二多工器的第 料輸出信號對之間以鎖定該第三資料輸出信號對;/ 、:第=相器用以將該第三資料輸出信號對之一反相 以產生該第一資料輸出信號。 13. 根據中請專利範圍第12項的資料輸出緩衝器,直中 一多工器包含: 八以不 二第二反相器用以將該資料輸入信號對的反相資料輸 入k號反相; 、、第一和第 該反^的第三資料輸出信號之間產生被該資料輸入信號 和該第二反相器的一輸出信號所控制的線; 一 NMOS電晶體連接於產生線之反相的第三資料輸出 信號和地電壓之間,並被該資料輸入信號所控制。 14. 根據申請專利範圍第丨2項的資料輸出緩衝器,其中該第 二多工器包含·· 以 一第三反相器用以將該資料輸入信號對之一反相; 第二和第四PMOS電晶體連續地連接於内電源電壓和 該第三資料輸出信號之間產生被該反相的資料輸入信號 和該第三反相器的一輸出信號所控制的線; 一 NMOS電晶體連接於產生線之第三資料輸出信號和 地電壓之間,並被該反相的資料輸入信號所控制。 15. 根據申請專利範圍第1 2項的資料輸出緩衝器,其中該第 一鎖定包含: -22- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 請 先 閱 言i 背 面 之 注 意 事 項 再 填 寫 I I訂 線591667 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 一第四反相器用以將該反相的第三 以將其輸出至第三資料輸出信號產生線^信號反相 -第五反相器用以將該第三資料輸出信號反相豆 輸出至反相的第三資料輸出信號產生線。 將,、 16·根據申請專利範圍第n項的資料輸出緩衝器,龙 > 二暫存器包含: -計時的CMOS反相器用以將該第一反相器 號相應於該計時控制信號反相使其輸出; " 一第二鎖定用以將該計時的CM〇s反相器之輸出信 反相和鎖定以產生一第四資料輸出信號對; 。 邏輯閘用以將輸出自該第二鎖定的第四資料輸出信 對反相以產线一第=資料輸出信號對相應於該 啓信號。 17·根據申請專利範圍第11項的資料輸出緩衝器,其中 CMOS反相器包含: ’、 一第六反相器用以將該計時控制信號反相; 第五,第六PMOS電晶體和第三,第wNM〇s電晶體 連續地連接於内電源電壓和地電壓之間,個別地由該 六反相器的一輸出信號,該第一反相器的一輸出信^ 和一計時控制信號所控制; 由此將該第一反相器的輸出信號反相以使其輸出。 18.根據申請專利範圍第1 6項的資料輸出緩衝器,其中該 二鎖定包含:一第七反相器用以將該計時的CMOS反相器之輪 -23- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 號 號 開 該 其 第 第 出信 r ϋ 1 ϋ ϋ ϋ ΙΒ1 ϋ ϋ ^1 ^1 ^1 « I ϋ ϋ ϋ ϋ I I ^ f · ϋ ^1 ^1 «^1 I -^1 · (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ,線591667 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 號反相以產生該反相的第四資料輸出信號;及 一第八反相器具有一輸入端子連接至該第七反相器的 一輸出端子和一輸出端子連接至該第七反相器的一輸入 端子,用以將該第七反相器的輸出信號反相使其後產生 該第四資料輸出信號。 19·根據申請專利範圍第16項的資料輸出緩衝器,其中該邏 輯閘包含: / 一第九反相器用以將該輸出開啓信號反相; _ 一第一反或閘用以將該反相的第四資料輸出信號和該 第九反相器的輸出信號作反或處理以產生該第二資料輸 出信號; 二第二反或閘用以將該第四資料輸出信號和該第九反 相器的輸出信號作反或處理以產生該反相的第二資料輸 出信號。 2〇·根據申請專利範圍第1 1項的資料輸出緩衝器,其中該輸 出驅動器包含第五,第六1^]^/1〇8電晶體連續地連接於電 '電壓和地電壓之間,並由輸出自該第一和第二反或閘 的第二資料輸出信號對來控制。 21· —半導體記憶裝置,包含: 若干記憶體細胞陣列區塊; 若干第暫存器安置於該記憶體細胞陣列區塊之上或 下用以儲存一輸出自該若干記憶體細胞陣列區塊的資 料,出,號及用以產生—第一資料輸出信號; 若干第二暫存器個別地安置於該記憶體細胞陣列區塊 -24- 木紙張尺度_中準(CNS)A4 i格⑽ X 297公釐) --------------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 591667 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 冬上或下,用以接收輸出自該若干第一暫存器的每一個 ,資料輸出仏虎相應於該計時控制信號和—輸出開啓信 號,產生一對第二資料輸出信號;及 口 、若干輸出驅動器個別地安置於該記憶體細胞陣列區塊 之上或下,用以驅動輸出自該若干第二暫存器的第二資 料輸出信號對。 〃 22· —半導體記憶裝置,包含·· 至少二相鄰記憶體細胞陣列區塊安置於該半導體記憶 裝置之内; & ^感應放大器和每一記憶體細胞陣列區塊一致,用以 感應一在該記憶體細胞陣列區塊内的資料和用以輸出該 感應的資料; ~ 一第一暫存器和每一記憶體細胞陣列區塊一致,用以 儲存一輸出自經由該相關之感應放大器的該相關之記憶 體細胞陣列區塊的資料輸出信號,及用以產生一表示在 孩記憶體細胞陣列區塊内的一資料之邏輯狀態的第一單 軌資料輸出信號,該第一暫存器置於靠近該相鄰記 細胞陣列區塊的一端點; 心a 一第一暫存器和每一記憶體細胞陣列區塊_致,用以 接收輸出自一相關第一暫存器的第一資料輸出信號相應 於一計時控制信號和一輸出開啓信號,該第二暫存哭產 生一第二雙軌資料輸出信號對補充地表示在該記憶體細 胞陣列區塊内的一資料之邏輯狀態,該第二暫存器置於 靠近該相鄰記憶體細胞陣列區塊的另一端點;及 -25- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -----------— --------訂---------線 (請先閱讀背面之注咅?事項再填寫本頁)591667 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 一輸出驅動器和每一記憶體細胞陣列區塊一致,用以 驅動該第二雙軌資料輸出信號對在一相關於隨其之輸入 /輸出線上,該輸出驅動器置於靠近該相關的第二暫存 器, 因此僅有一資料信號延伸於至少二相鄰記憶體細胞陣 列區塊之間,從其一端點至另一端點。 ---------------------tr---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -26- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-1999-0020418A KR100384056B1 (ko) | 1999-06-03 | 1999-06-03 | 반도체 메모리 장치 및 그 장치의 데이터 출력버퍼 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW591667B true TW591667B (en) | 2004-06-11 |
Family
ID=19589732
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW089102426A TW591667B (en) | 1999-06-03 | 2000-02-14 | Semiconductor memory device and data output buffer thereof |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6198650B1 (zh) |
JP (1) | JP3316482B2 (zh) |
KR (1) | KR100384056B1 (zh) |
TW (1) | TW591667B (zh) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6346832B1 (en) * | 2000-05-22 | 2002-02-12 | Motorola, Inc. | Multi-channel signaling |
JP2002298582A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-10-11 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
US6781860B2 (en) * | 2002-05-01 | 2004-08-24 | Ovonyx, Inc. | High voltage row and column driver for programmable resistance memory |
US7342846B2 (en) * | 2005-07-22 | 2008-03-11 | Lattice Semiconductor Corporation | Address decoding systems and methods |
KR20100081156A (ko) | 2009-01-05 | 2010-07-14 | 삼성전자주식회사 | 면적 감소를 위한 구조를 갖는 반도체 장치, 및 이를 포함하는 반도체 시스템 |
CN112951811A (zh) * | 2019-11-26 | 2021-06-11 | 长鑫存储技术有限公司 | 芯片组合及芯片 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69124286T2 (de) * | 1990-05-18 | 1997-08-14 | Nippon Electric Co | Halbleiterspeicheranordnung |
EP0895162A3 (en) * | 1992-01-22 | 1999-11-10 | Enhanced Memory Systems, Inc. | Enhanced dram with embedded registers |
JPH08138377A (ja) * | 1994-11-08 | 1996-05-31 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
KR0184493B1 (ko) * | 1996-04-19 | 1999-04-15 | 김광호 | 싱글 데이타라인을 갖는 반도체 메모리 장치 |
JP3736942B2 (ja) * | 1996-07-03 | 2006-01-18 | 株式会社リコー | Rom回路 |
US5953278A (en) * | 1996-07-11 | 1999-09-14 | Texas Instruments Incorporated | Data sequencing and registering in a four bit pre-fetch SDRAM |
JPH10188556A (ja) * | 1996-12-20 | 1998-07-21 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JPH10247387A (ja) * | 1997-03-05 | 1998-09-14 | Mitsubishi Electric Corp | クロック同期型の半導体メモリ |
KR100265758B1 (ko) * | 1997-08-05 | 2000-09-15 | 윤종용 | 반도체장치의 병합된 데이터 입출력 회로 및 방법 |
-
1999
- 1999-06-03 KR KR10-1999-0020418A patent/KR100384056B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-11-04 JP JP31416299A patent/JP3316482B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-02-14 TW TW089102426A patent/TW591667B/zh not_active IP Right Cessation
- 2000-06-05 US US09/587,644 patent/US6198650B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3316482B2 (ja) | 2002-08-19 |
KR100384056B1 (ko) | 2003-05-14 |
JP2000348486A (ja) | 2000-12-15 |
US6198650B1 (en) | 2001-03-06 |
KR20010001292A (ko) | 2001-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW381265B (en) | Semiconductor integrated circuit having triple-state logic gate circuits | |
TW412747B (en) | Semiconductor storage device | |
TW508800B (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
EP0554489B1 (en) | Multi-port static random access memory with fast write-thru scheme | |
TWI222073B (en) | Multiple bank simultaneous operation for a flash memory | |
TW550590B (en) | Semiconductor memory device | |
TW439060B (en) | Synchronous burst semiconductor memory device | |
TW426857B (en) | Semiconductor integrated circuit memory | |
KR20170018002A (ko) | 감지 회로를 사용하는 논리 연산의 수행 | |
TW550595B (en) | Semiconductor memory device having error correction function for data reading during refresh operation | |
TW407234B (en) | Semiconductor memory device, non-volatile semiconductor memory device and data reading method thereof | |
TW591667B (en) | Semiconductor memory device and data output buffer thereof | |
TW508906B (en) | Semiconductor memory device capable of adjusting sensing gain of current sense amplifier | |
TWI320187B (en) | Integrated circuit memory and operating method thereof | |
GB2226900A (en) | Memory timing circuit | |
TW410341B (en) | Synchronous semiconductor memory device | |
TW451458B (en) | Semiconductor memory device | |
TW396596B (en) | Logic semiconductor integrated circuit device with built-in dynamic random access memory | |
TW498344B (en) | A SDRAM with a maskable input | |
TWI233126B (en) | Semiconductor memory | |
TW384484B (en) | Row address control circuit for semiconductor memory device | |
TW386311B (en) | Semiconductor memory device having independent isolation gates | |
TW311223B (zh) | ||
JPH0520834B2 (zh) | ||
TW448562B (en) | Static random access memory |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |