591206 玖、發明說明 (發明說明應敘明：發明所屬之技術領域、先前技術、内容、實施方式及囷式簡單說明） 【發明戶斤屬之技術領域】 發明領域 本發明係有關於螢光體檢測方法及螢光體檢測裝置， 5 特別係有關一種用以檢測塗佈於電漿顯示器等玻璃基板上 之螢光體的塗佈缺陷之螢光體檢測方法及螢光體檢測裝置 〇
L先前技術3 習知技術 10 以第3圖說明習知技術其中一例。第3圖係用以例示 螢光體檢測裝置其中一例之概略構成的區塊圖，而該螢光 體檢測裝置係用以檢測塗佈於電漿顯示器等玻璃基板上之 螢光體的塗佈缺陷。
第3圖中，31係塗佈有螢光體之玻璃基板、32係由 15 CCD攝影機等構成之攝影部、33係攝影部32之光學系、 34係可使螢光體發光之紫外線照明部、35係用以檢測塗佈 不均缺陷之影像處理部、36係用以顯示檢測結果之顯示部 。此外，亦可取代顯示部而以印表機（印刷機）構成。37係 螢光體檢測裝置之操作部。 20 第5圖係用以說明電漿顯示器之螢光體塗佈面之圖。 第5圖中，21係塗佈有電漿顯示器之螢光體的基板，譬如 玻璃基板。22係條狀（或細長狀）塗佈於基板21上之紅色螢 光體塗佈層（以下略稱為R螢光體條）。23係條狀塗佈於基 板21上之綠色螢光體塗佈層（以下略稱為G螢光體條）。24 5 591206 玖、發明說明 係條狀塗佈於基板21上之藍色螢光體塗佈層（以下略稱為 R螢光體條）。又，25係R、G、B螢光體條間之部分（以下 稱隔壁）。如前述，電漿顯示器之螢光體塗佈面係構造成於 基板21上，R、G、B螢光體條22、23、24挾隔壁25而 5周期性配置。以下稱此種構造為電漿顯示器發光面。 習知之螢光體檢測裝置，係對電漿顯示器發光面的整 個顯示面照射電磁放射光，使塗佈於基板上之螢光體條發 光。譬如第5圖所示，對電漿顯示器發光面的整個顯示面 照射由紫外線照明部34輸出之紫外線，使塗佈於基板21 1〇上之螢光體條發光。即，R螢光體條22發出紅色光、¢5螢 光體條23發光綠色光、B螢光體條24則發出藍色光。 攝影部32聽光學系33 @呈發光狀態之電漿顯示器 發光面進行拍攝，並將由此而得之影像信號送出至影像處 理部35。此時，依作為_對象之#光體條的螢光塗料種 15類（紅色（R)、綠色（G)、藍色（Β))，將對應各個螢光體條之 彩色;慮光器安裝於光學系33，而於攝影部32得到各色之 輸出信號。 影像處理部35由輸入之影像信號算出最大亮度、最小 冗度、平均值、偏差等，並依該算出結果檢測亮度不均， 再將檢測出之亮度不均資訊輸出至顯示部％。此外，有關 最大亮度、最小亮度、平均值、偏差等將於後再述。 然而，如刚述說明般，以螢光體檢測裝置檢測電聚顯 示器發光面時，譬如檢測R帛光體條22時，由於在光學 系33女|有紅色濾光器時，攝影部將僅檢測出來自r 6 591206 玖、發明說明 螢光體條22之發光信號，故隔壁25部分與G、B螢光體 條部分的攝影影像將變暗。雖然G、B螢光體條部分本來 會發光，但由於安裝有紅色濾光器，故在攝影裝置6無法 檢測出該發光。因此，將隔壁25部分與G、B螢光體條部 5 分稱為非發光部分。 故’為評價電漿顯示器發光面整面上之塗佈不均，習 知係利用如下之方法，即，藉空間濾光片等而將攝影影像 之亮度信號加以平均化（譬如將預定期間之亮度信號位準加 以積分）’然而，單純的平均化卻具有如下之問題，也就是 10將產生干涉現象，且把所發生之干涉當作塗佈不均，導致 產生誤檢測等。 第4圖之影像，係例示藉由使用CCD攝影機之攝影部 32、透過R濾光器拍攝R螢光體條22時之影像。由該影 像可知，電漿顯示器41之發光面42整面上均產生有干涉 15 現象。 又，由於紫外線照明部34係以設置於塗佈有螢光體之 玻璃基板31兩側的狀態來照射紫外線，故紫外線無法均勻 地照射於玻璃基板31，因而產生照明不均，此亦成為導致 塗佈不均之誤檢測原因。 20 又，有關電漿顯示面板之檢測方法（譬如，參照專利文 獻1)，雖知有一利用彩色電視攝影機或黑白電視攝影機來 檢測R、G、B螢光體之塗佈不均的方法，但該方法對於前 述干涉現象卻未有任何言及。 專利文獻 7 玖、發明說明 曰本專利公開公報特開平η·16498號（第4、5頁；第 1、8-13 圖） t日月内3 欲解決之課題 前述之I知技術具有一如下之缺點，即，由於攝影影 像產生干涉現象以及電磁波或粒子線（譬如紫外線）並未均 勻地照射於攝影影像而導致之誤檢測等。 本發明之目的係在於提供螢光體檢測方法及螢光體檢 測裝置’其係可減少受到條狀塗佈之螢光體中非發光部分 之〜晏而產生之干涉現象，並高精確度地檢測條狀塗佈之 螢光體的塗佈不均。 本發明之另一目的係在於提供螢光體檢測方法及螢光 體檢測裝i，其係可減輕紫外線等照明之照明不均，並高 精確度地檢測條狀塗佈之螢光體的塗佈不均。 用以解決課題之手段 本發明之螢光體檢測方法，係對多數形成於基板上之 條狀螢光體等照射紫外線等之電磁放射光（電磁波或粒子線 )，並拍攝由前述條狀螢光體發出之光，以檢測前述經拍攝 之影像的信號位準，再算出前述信號位準_相當於預定值 以上之信號位準部分的平均值，以依前述算出之平均值檢 測前述條狀螢光體之塗佈不均 又，本發明之螢光體檢測方法中，該算出相當於前述 信號位準中預定值以上之信號位準部分的平均值之動作， 係於每一預定區間進行。 玖、發明說明 又，本發明之螢光體檢測方法中，前述多數條狀螢光 體係R、G、B螢光體條巾至少丨種類之螢光體條，且前述 預疋區間專同於刖述螢光體條之大略反覆週期。 又，本發明之螢光體檢測方法，係檢測前述信號位準 中預定值以上之信號位準的最大值，並將該最大值區間作 為前述預定區間。 又，本發明之螢光體檢測方法，係由前述經拍攝之影 像的信號位準算出最大信號位準、最小信號位準、平均值 、及偏差，並依該算出結果檢測螢光體條之塗佈不均。 進而，本發明之螢光體檢測裝置係由係由以下構件構 成即·照射部，係用以對多數形成於基板上之條狀螢 光體照射電磁波或粒子線者；一攝影部，係用以拍攝由前 述條狀螢光體發出之光者；&，_影像處理部，係用以處 理刖述經拍攝之影像信號者；其特徵在於：前述攝影部係 由可於前述條狀方向上移動之線條傳感器構成，而前述影 像處理部具有以下機能，即，可檢測前述經拍攝之影像的 化號位準，算出前述信號位準中相當於預定值以上之信號 位準部分的平均值，並依前述算出之平均值檢測前述條狀 螢光體之塗佈不均。 又，本發明之螢光體檢測裝置中，前述影像處理部係 由用以於前述影像信號之每-預定區間内丨出相#於前述 L號位準中預疋值以上之信號位準部分之平均值的構件構 成0 又，本發明之螢光體檢測裝置中，前述多數條狀螢光 591206 玖、發明說明 體係R、G、B螢光體條中至少1種類之螢光體條，且前述 影像處理部具有一用以檢測前述預定區間之 疋區間等同於前述螢光體條之大略反覆週期。 又，本發明之螢光體檢測裝置中，前述影像處理部具 5有一位準檢測部，該位準檢測部係用以檢測前述信號位準 中預定值以上之信號位準的最大值，並將該最大值區間設 定為前述預定區間設定該最大值區間。 進而，本發明之螢光體檢測裝置中，前述影像處理部 · 具有一位準檢測部及一塗佈不均檢測部，該位準檢測部係 10用以由前述經拍攝之影像的信號位準算出最大信號位準、 最小信號位準、平均值、及偏差，而前述塗佈不均檢測部 係依該算出結果檢測螢光體條之塗佈不均。 圖式簡單說明 第1圖係例示本發明一實施態樣之區塊圖。 15 第2(a)〜(d)圖係例示用以說明本發明原理之亮度信號 波行之圖。 · 第3圖係例示習知之螢光體檢測裝置其中一例之概略 構成的區塊圖。 - 第4圖係以習知之螢光體檢測裝置拍攝之影像產生干 . 20 涉現象之例圖。 第5圖係用以說明電漿顯示器之螢光體塗佈面之圖。 第6圖係用以說明本發明之動作之圖。 第7圖係將本發明一實施態樣之一部分加以擴大之擴 大圖。 10 591206 玖、發明說明 塗佈有各色螢光體條之電漿顯示器發光面，且表示線條冑 ' 感器攝影機於虛線A上以箭頭61之方向移動的狀態。此 · 外，第6圖雖例示塗佈有R、G、B等三種榮光體條之狀態 ’但依塗佈程序之異，並不限定需塗佈所有之榮光體條。 5 又，第8圖係例示虛線A上之電漿顯示器發光面的部 ' 分剖面，與第6圖相同之構件即附予同樣的元件標號。此 外R、G、B各螢光體條之節距，譬如可分別約卿降。 第8⑷圖係例示於光學系5安裝有紅色之渡光器並以線 φ 條傳感器攝影機6拍攝R勞光體條時之亮度信號位準。因 10此，R勞光體條之部分將明亮地發光，表示為（明）。然m ，由於來自勞光體條部分的發光會被紅⑽光器遮 蔽而變暗，故表示為（暗）。 其次，使用第2圖說明處理部8之動作。第2⑷圖與 第8⑷圖相同地，表示譬如以位於虛線a上之線條傳感器 15攝影機進行拍攝之R螢光體條的亮度信號位準。第2〇))圖 係表示任意而定之區間Ta。該區間Ta可於檢測塗佈不均 Φ 時’將第2 (a)圖所示之R螢光體條的亮度信號位準加以平 均化，使塗佈不均之判定易於進行。因此，區間Ta雖可隨 意決定，不過本實施例係以位準檢測部12檢測各色螢光體 . 20條之節距，即檢測R螢光體條之亮度信號位準的峰值，才 將區間Ta定為該亮度信號位準之峰值與峰值之間（約對應 900//m)。此外，前述區間Ta輸出有線條傳感器攝影機 像素之傳感器的亮度信號。又，線條傳感器攝影機丨像素 之尺寸約50 // m。 13 玖、發明說明 接著，平均化處理部13將區間Ta之亮度信號位準平 句，即，如第2(c)圖所示，第2(a)圖所示之信號係於每 一區間Ta平均化後之信號位準（亮度信號區間Ta之乘算值 )由第2(c)圖可知，儘管將亮度信號位準平均化後之信號 準係如第2(a)圖般，即亮度信號位準約為一定（顯示出大 致句等塗佈有R螢光體條之狀態），但仍會如LI、L2、L3 般大te變動。此係由於乘算發光領域與非發錢域(雖然隔 以分實際上有發光，但由於據光器之顏色不同，故線條 傳感器攝影機將之作為無法檢測之螢光體條的信號），故於 發光領域之面積中信號位準將大幅變化之故。 第2(d)圖係表示將第2(a)圖所示之臨界值τη以上的 亮度信號位準平均化後之信號位準。由該圖可知，信號位 準L4、L5、L6約為相同之位準。即，於區間Ta内，發光 部分區分為螢光體的2個條時與區分為丨個條時，並不會 產生位準差。因此，可知本發明於藉由線條傳感器攝影機 6拍攝之螢光體條3的亮度信號位準内，利用於每一區間 Ta平均化臨界值TH以上之亮度信號位準而算出之位準， 並未受到未發光領域之影響，故可減低前述之干涉現象。 此外，臨界值TH雖設定為亮度信號位準最大值之7〇%左 右，但由於信號亮度位準亦會因螢光體條之寬度、塗佈膜 之厚度等而產生變動，故臨界值TH宜依實驗而定。又， 作為於每一區間Ta平均化臨界值th以上之亮度信號位準 的方法，由第2(a)圖所示之亮度信號位準減去臨界值τη 以下之亮度信號位準，亦可算出該區間平均值。 玖、發明說明 出至顯不部9 °即，如第8(b)圖所示，將最適當之螢光體 條（譬如平均值）的發光量度位準作為100%，較該位準 +2〇%以上之位準者或-20%以下之位準者即為瑕疵品等， 或者’算出各像素之發光位準，以平均值位準為基準而算 5出各像素之發光位準的偏差。對玻璃基板2所有的像素進 仃前述演算，再由該最大值、最小值、平均值、及偏差等 判定結果來紀錄 '管理所有像素之良秀位置與個數。藉此 ’可譬如定量地評價電漿顯示面板之螢光體條的塗佈不均 ，而改善塗佈程序。 10 以上，雖針對本發明作詳細敘述，但，不用說，本發 明並不限於此說明書中所載之螢光體檢測方法及螢光體檢 測裝置之實施例，本發明亦可廣泛地應用於塗佈有前述螢 光體以外之等物件的檢測方法及檢測裝置上。即，螢光體 不僅是三原色，亦可為其互補色。又，前述3種螢光體產 15生之發光宜保有良好之白平衡，且3種螢光體於照射電磁 放射光後個別之餘輝亦短。 又，前述實施例中，雖以紫外線作為電磁放射光之例 而作說明，但只要是於照射對象螢光體時可發光之電磁放 射光，譬如電磁波、γ線、及X線等粒子線等均可。 20 依本發明，由於可除去因隔壁等非發光部分而產生之 干涉現象，故可適當地檢測螢光體條等的塗佈不均，而使 瑕疵品之檢測易於進行。又，可定量地進行測定，因而可 改善螢光體條等的塗佈程序。進而，更可減輕紫外線照明 之照射不均，應用於電漿顯示面板等之螢光體條的塗佈不 16 591206 玖、發明說明 均檢測上時，可得極大之效果。 【圖式簡單說明】 第1圖係例示本發明一實施態樣之區塊圖。 第2(a)〜(d)圖係例示用以說明本發明原理之亮度信號 5 波行之圖。 第3圖係例示習知之螢光體檢測裝置其中一例之概略 構成的區塊圖。 第4圖係以習知之螢光體檢測裝置拍攝之影像產生干 涉現象之例圖。 10 第5圖係用以說明電漿顯示器之螢光體塗佈面之圖。 第6圖係用以說明本發明之動作之圖。 第7圖係將本發明一實施態樣之一部分加以擴大之擴 大圖。 第8(a)〜(b)圖係用以說明本發明之原理之圖。 15 【圖式之主要元件代表符號表】 1.. .載置台 10.. .驅動部 11.. .控制部 12.. .位準檢測部 13.. .平均化處理部 14.. .塗佈不均檢測部 15.. .操作部 2…玻璃基板 21···級
22···紅色螢光體塗佈層(R螢光體 條) 23…綠色螢光體塗佈層(G螢光體 條） 24.. .藍色螢光體塗佈層(B螢光體 條） 25…隔壁 3.. .R、G、B等之螢光體條 31···玻璃級 17 591206 玖、發明說明 32...攝影部 61...箭頭 33...光學系 7...移動機構部 34...紫外線照明部 71…支撐構件 35...影像處理部 72...紫外線 36...顯示部 8...影像處理部 37...操作部 9...顯示部 4…紫外線照明用光源 TH...臨界值 41…電漿顯示器 Ta...區間 42…發光面 L1〜L6…信號位準 5...光學系 6...攝影裝置、攝影部
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