TW525119B - Method of addressing a plasma display panel - Google Patents

Description

525119 五、發明說明（1) -- 本發明係關於電漿顯示面板之定址方法，尤指面板類 別係分開定址和持續者。 一電漿顯示面板（以下稱PDP)是平面型顯示螢幕。PDP有 ^類，即以DC型操作和以AC型操作之pDp。一般而言， 包括二絕緣瓷碑（或基材），各帶有一或以上陣列之電 玉’並在其間界定一空間，充填氣體。瓷碑結合在一起， ^便界定在該陣列的電極間交會點。各電極交會點界定一 單元電池，氣體空間與此相對應，氣體空間部份被障壁所 匕圍，當電池被活化時，即發生放電。放電造成單元電池

内發射紫外線，而沉積在電池壁上的磷即把紫外線轉化成 可見光。 以AC型PDP而言，有兩種電池結構，一種是矩陣結構 另種疋共面結構。雖然此等結構不同，單元電池的操 作實質上相同。各電池可在點亮或「開」的狀態，或是熄 滅或「關」的狀態。電池可維持其中之一狀態，藉在需^ 維持此狀態之期間，送出繼續的脈波（稱為持續脈波）為之 —送出較大脈玻，通常稱為位址脈波，可啟用電池或^以 疋址。使用減幅放電以消除電池内的電荷，即可關閉電池 或抹消。欲得各種灰度，使用眼睛整合現象，是在影像顯 不期間，使用次掃描或次框調變開和關狀態之期間達成’、。

_ 為達成各早元電池的暫時點亮調變，主要使用二種所 ，定址模式。第一種定址模式稱為「定址兼顯示」，包含 定址各列電池，同時持續其他列電池，定址是以移動方式 逐列發生。第二種定址模式稱為「定址和顯示分開」，^

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五、發明說明（2) 含在三個分開期間定址，持續和抹消面板之全部電池。關 於此二定址模式細節，凡精於此道之士可參見美國專利 5, 420, &02和 5, 446, 344號。 第1圖表示「定址和顯示分開」模式的基本時間分隔 ，以顯示影像。影像的總顯示時間Tt〇tg 16· 6或2〇ms，因 國家而異。在顯示時間内，遂行8個次掃描SB丨至SB8，使 每電池容許有256灰度，各項掃描可使單元電池「開」或 「關」’其照明時間T e c為T 〇值的倍數。然後，參見照明 權值P’其中p相當於整數’諸如Tec=：p· τ〇。次掃描的純 期間’包括各次掃描專屬的抹消時間T e f，位址時間τ a和 照明時間Tec。位址時間Ta亦可分成單元時間Tae (相當於 一，之定址）的n倍。最大灰度所需照明時間Tec之和，等 於最大照明時間Tmax，方程式如下：Ttot = m· (Tef + n· Tae) + Tmax，其中m代表次掃描數。第j圖相當於照明時間 的二進位分解。此二進位表示方式有許多缺點。彳艮久以前 已確知輪廓描緣問題。 由於灰度很近而照明時間不相干的兩個面積靠近，引 ，輪庵描繪問題。最壞情況相當於1 2 7和1 2 8階間之過渡。 蓋因灰度127相當於前七個次掃描SB1至SB7的照明，而128 階相當於第八個次掃描SB8的照明。螢幕並列具有127和 1 2 8階的二面積，不會在同樣時間照明。若影像為靜態， 而觀看者的眼睛不在螢幕上運動，則暫時整合發生情況較 佳可以看到一面積的灰度較近。另方面，若二面積在螢 幕上運動，則整合時間磁格隨螢幕面積變化，並對於一些

525119 五、發明說明（3) 電池，從一面積至另一面積，眼晴整入 的面積移到128階的面積，具有在—°時間磁格從127階 整合效應，以致出現面積的深色輪；^間内關 間磁格從1 28階的面積移到】27階的面辖=之，眼知整。時 間内點亮電池到最大的整合效應 ：’具有在-框期 廓(比深色面積較不易感受）…示；=積Π色輪 綠、藍）單元電池的圖素作業時，此二有二個（二、 廓描繪會有色彩。 子此現象會加強.，因為輪 或大部份不同的各 困擾，因其幅度關 ’視切換權值及其 在離得相當遠的階 其相當於很醒目的

上述現象發生在切換權值完全不同 階過渡。高權值切換較低權值切換更為 係。所得效應可以感受到或大或小程度 位置而定。因此，輪廓描繪效應亦發生 ，例如6 3 - 1 2 8，但對眼睛衝擊較小，因 階（或顏色）過渡。

為解決此輪廓描繪問題，可採用若干解決方案。其— 包含「破裂」尚權值，意即增加次掃描。只有總影像顯示 時間 Ttot = m· (Tef + n· Tae) + Tinax不變，造成時間 Μ” 減少（因為Tef和Tae是不可壓縮的時期），因而減少螢幕的 最大亮度。可以用到10個次掃描，仍然有正確的亮度。1〇 個次掃描時，最大照明時間Tmax目前為總時間的30 %，而 抹消和位址時間在7 0 %左右。第2圖代表使用丨〇個次掃描 SB 1到SB10的定址例，其中高權值破裂成兩半。 為減少大過渡並增加次掃描數，而不降低螢幕亮度， 其中一技術包含對於某照明值，同時掃描二接續列。即可

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525119 五、發明說明（4) 寫成下式：Ttot + mi· (Tef + n· Tae) + m2· (Tef + Tae· n/2) + Tmax。由於在n · Tae相較之下，抹消時間Tef可略 而不計，故可寫成下式：Tt0t= (ιηβ m2/2)-(Tef + η · Tae) + Tmax。此等同時次掃描減少位址時間2，故可加額外的 次掃描，而不減少Tmax。第3圖表示有11個次掃描S1至SI 1 之定址例’其中的次掃描相當於最短照明時間，同時在二 列發生，為此二個次掃描獲得總位址時間，等於單一次掃 描的位址時間。若二接續列共同的次掃描是為照明權值i， 2，4，8進行，則可得·ι 2個次掃描，以消除權值6 4的過渡。 然而’此項解決方案的問題是，由於同時掃描二列，有損 解析度。 關於同時掃描二列的次掃描原理，其一方案包含使用 以轉動碼或多重表示法之編碼。第4圖表示使用1 2個次掃 描S1至S1 2以轉動碼加以編碼，與此相關的有下列照明權 值：1，2, 4, 6?10，14, 18, 24, 32, 40, 48, 56。轉動碼之一效應 是’在高權值的切換，減少切換權值數，以軟化高權值的 切換。欲得12個次掃描，乃對權值2, 6, ι4, 24進行二列同 時掃描。此碼又容下列數值之多重表示：34 = 32 + 2 = 24 + 10 = 24 + 6 + 4=18 + 14 + 2=等等。此項數值的多重表示可同時將二 掃描列上呈現的灰度編碼，故權值2, 6, 14, 24—致。有關 此技術之細節’凡精於此道之士可參見，歐洲專利申請案 0,874,349號（相當於美國專利申請案〇9/〇61,419號）。然 而，高權值切換的軟化效應，利用多重編碼減少，容許次 >掃描數增加。此外，解析度損失的問題依然，因為不是始

第9頁 割 525119 發明說明（5) 、"在同時掃描的權值上可具有一致的權值。 象。本發明倡議一種新穎掃描技術，旨在減 本發月知描技術包含增加至少一冗餘次 你描之目的 > _目的疋女置另外特權的照明時間。如 t私可具有擬似穩定的照明時間，無關灰 權值切換效應減到最小。 一本發明標的為視頻影像於顯示期間在顯 :方法’該裝置包括配置成列成行之複數電 中’於顯示期間：.. & 一各電池照明總時間，從零到最大顯 才曰定亮度設定言，相當於電池的最大亮度； 一進行單一的次掃描，使電池在各該 期間「開」或「關」； —每組成列進行至少一次冗餘次掃描 次掃描專屬，間「開」或「關」：以及 一各單一的次掃描專屬期間和冗餘的 間之和’大於最大顯示時間。 由如下參照附圖之說明，可以更加明白 其他特點和優點，附圖有： 第1至4圖表示前案技藝在影像顯示時的 第5至8圖表示本發明影像顯示時的次掃 第9圖表不_本發明次掃描動態編碼表； 第1 0圖表示本發明動態編碼演算。 少輪廓 掃描。 此引進 度，故 示裝置 池，在 示時間 次掃描 ，使電 次掃描 本發明 次掃描 描時間 描繪現 冗餘次 的冗餘 可將高 上之顯 此方法 ，即對 專屬的 池在該 專屬期 ，以及 時間分 分割； «

525119 五、發明說明（6) -- 為說明起見，次掃描時間分割使用重大比例，不與正 確直線比例尺相當。 第5圖表示所進行的次掃描，以便在本發明pDp上顯示 影像。8個次掃描SB1至SB2確保PDP各電池的256灰度（〇_ 255)之二進位編碼。在較佳具體例中，選擇把影像顯示時 間的30%給影像實際顯示，因而為進行8個完整的面板定 址步驟’只用到56%的影像顯示時間。未被8個次掃描用 到1 4 %影像顯示時間，構成冗餘時間Tr。冗餘時間Tr容許 進行冗餘次掃描SP1和SP2。 、 ° 首先而且最先使用冗餘次掃描SP1和SP2產生關於顯示 期間的穩疋照明期。畠几餘次掃描S P1和S P 2用於電池時， 即從要在其他次掃描SB1至SB8上編碼階，算出冗餘次掃描 SP1和SP2的權值。穩定照明面積必須呈現於二面積内，以 減少輪廓描緣效應。几餘次掃描亦應置於大約影像顯示期 的中間，以減少未照明期。冗餘次掃描SP1和SP2的總權值 亦必須具有最高可能值，以便盡量把輪廓描繪效應減到最 Ύ 少。 : 凡精於此道之士均注意到，冗餘時間Tr相當於PDP内 二完整的列定址步驟。若進行每列一掃描，則單一冗餘次 掃描即可，因而為全PDP界定與此冗餘次掃描相關之權值 。為產生輪廓描繪補正效應，應在最大面積呈現穩定照明 ’同時愈大愈好 然而’為了將輪廊描繪效應減到最小’ 冗餘次掃描權值亦應低於發生輪廓描繪效應時的灰度。所 以，更好是使用至少二次的次掃描，以便具有更大的操作

第11頁 525119 五、發明說明（7) 可行性。 為獲得右¥次掃描’而不減少pDp的亮度，本發明擬 將列做為一組列定址。第5圖是以每組二列的一定址步驟 產生二次的次掃描。每組二列的定址可將位址時間減半， 因而可以例如各權值29和30有二次的二次掃描SP1和SP2。 為提咼冗餘掃描的權值，可定址較大組列，例如一組 八列，如第6圖所示。一組八列定址的缺點是，同時定址‘ 八列以上時’具有灰度非常不同的電池之可能性，即比每 組二列的一次定址步驟為高。如此一來，即可進行較多數 的冗餘次掃描SP1至SP4。為提高同時照明的或然率，可對 數組列進行定址步驟。舉例而言，可產生分別與各冗餘次⑩ 掃描SP1至SP4相關的四組接績列，即第一組合併811至8n + 7 列，第二組合併8n-2至8η + 5列，第三組合併8n-4至8n + 3列 ，而第四組合併8 η - 6至8 η +1列。 對某些PDP結構而言，沿同行置設的電池不一定要有 同色。則必須成為相關列之組。須知「相關列」係指在同 Ύ 行的電池具有同色（紅、綠、藍）之列。以具有交錯電池結 ： 構的PDP而言，相關列相當於偶數列和奇數列交錯組。 第7圖相當於本發明變化例，使用九個次掃描SB 1至 SB9，權值128破裂成二權值64。如今冗餘時間Tr只相當於 影像顯示時間的7 %。然而’權值1 2 8不再有任何切換’因 · 此衰減期間會較短。例如執行每組四列的一次定址步驟， 即可進行權值1 4和1 5的二個次掃描。 ^ 第8圖相當於變化例，使用包括九個次掃描SB1至SB9

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的轉動瑪。冗餘時間Tr相當於影像顯示時間之7%，在此 期間利用八列組之定址，進行各權值1 6和24的二冗餘次掃 描 SP1和 SP2 。 影像可具有較大或較小亮度。此外，視影像情形，對 ~値1或十六個一組有較大或較小的優點。再者，按照本發 明，對各影像除冗餘灰度外，不必將2 5 5灰度編碼。固定 ，碼不容各影像的編碼都蕞佳。宜使用視各影像而定之動 癌編碼。易言之，對各影像可算出各冗餘次掃描專屬的照 明期。以下具體例代表顧及影像亮度的動態編碼。

第9圖一方面表示編碼表ct，另方面為一電池之編碼 例CE。對各次掃描sbi至SB8和各冗長次掃描SPO至SP4，編 碼表含有與該次掃描相關的照明權值。七個次掃描SB1至 SB7的照明權值固定。次掃描SB8相當於高權值次掃描，具 有照明權值P，各影像變化不同。冗餘次掃描SP〇至SP4的 照明權值NO至N4，亦為各影像而界定。掃描型式以至以與 各冗餘次掃描SP0至SP4相關，以表示該次掃描SP0至SP4是 如何進行。

在冗餘次掃描SP0至SP4當中可區分SP0，相當於把榮 幕上的所有列同時掃描。與次掃描SP0相關的型式το只有 二值’其一表示次掃描SP0已進行，另一表示次掃描sp〇尚 未進行。權值N0相當於PDP全部電池共同的照明期。此次 掃描SP0的位址時間降至最小期間（一列之抹消時間+位址 時間）。 冗餘次掃描SP1至SP4相當於例如八列或十六列的掃描

第13頁 525119 發明說明（9) 型式T1至T4可例如為以下七值▽丨至”之一： V1 :無掃描； V2 :每組十六列定址，從16ri至16n+15列

V3 : f組十六列定址，從16n-8至16n + 7列 V4 ·每組八列定址，從心至8n + 7列 V5 ·每組八列定址，從8n-2至8n + 5列 V6 :每組八列定址，從811_4至8n + 3列 V7 ·每組八列定址，從8n—6至8n+1列 型式T1至T4和權值N1至N4可以各種方式固定。可以使 用複!ί ί較大或較小以及效果較大或較小的各種演算。然 而’演算效果需要極高效能的計算機構，要整合於pDp内 所費不貲。下列演算例雖仍較簡單，已需某種計算力量， 並可藉調節各種參變數而簡化。 一旦要顯示的影像儲存入第一記憶體内，演算即開始 :第一步E1啟用照明權值p和剩餘冗長時間Trr之值，起先 設定在分別等於128和等於冗餘時間Tr。可用等於例如影 像顯示時間的14%之冗餘時間Tr相對值。欲得仍然最大值 的几餘時間，可用最大值Em ax ,相當於pdp的最大照明。

^此一來’測得PDP最大照明電池的照明階Ec_，並測得 最大照明階Emax和照明階ECloaxW之差值，結果為R = Emax一 Ecmax。結果可更正權值p = p —r，而其餘冗餘時間Trr = Trr +

Rx 〇· 118% 〇 其次，第二步驟E2決定是否進行次掃描sp〇。如此一 來，必須決定PDP最少照明電池的照明階.。若照明階

525119 五、發明說明（10)

Ec^等於零，對型式T0賦予數值表示次掃描SP0未進行。 若照明階Ecmin*等於零，則對型式T0賦予數值表示次掃描 SP0進行；設定權值N0 = Ecmin，所有電池的照明階均減權值 N0加以校正；校正權值，p = p-Ecmin ;校正其他冗餘時間， Trr = Trr-〇· 05% 〇 第三步驟E3啟用指數i為1。指數i指示與次掃描sp丨相 關的型式Ti和權值Ni，其中i在1至4不等。 第四步驟E4啟用權值Ni。若該值低於50，則權值Ni可 啟用至例如50或等於（Trr-0.95)/0.118之值（化成較低整 數）。

第五步驟Ε5包含測試全部可能的掃描型式一在本例中 為六個一以對指定權值N i測量全部掃描型式之效果。掃描 型式的測試一方面包含決定受到掃描型式影響的電池數， 另方面決定分佈於次掃描SB 1至SB8的最大階。 在第五步驟E5後，進行第一測試步驛ET1。第一測試 步驟ET1包含一方面決定是否至少有一掃描適用，另方面 選擇實際上所用掃描VI至V7。若無適用掃描型式VI至V7, 即進行第六步驟E6。若掃描適用，則進行第七步驟E7。

第一測試步驟ET 1進行比較的接續。n i與零比較。若 N i為零，則型式T i得數值V1，則不進行掃描，若無一掃描 型式可把要分佈於掃描SB 1至SB8的最大階減量，或指定最 少電池數（例如5 1 2 )，或者若N i在臨限值（例如2 0 )以上， 則進行第六步驟E 6。若至少有一種掃描型式可使分佈於次 掃描SB1至SB8的最大階減量，或指定最少電池數（例如5 1 2

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)’或者Ni在臨限值（例如20)以下，即決定相當於同 明電池最大值的掃描型式Vj，而型式71得相對應數值了 則進行第七步驟E7。 第六步驟E6減量Ni，例如以1〇的步驟。其次，進行第 五步驟E5以確立掃描型式VI至V7何者最適於N'i新值。 第七步驟E 7以明確方式以型式v j應用於冗餘次掃描 SPi。對各電池，相當於冗餘次掃描SPi的位元，指定為〇 或1 ’視電池是否照明而定。對於所有照明電池，從該電 池的照明階減去N i。·決定最具照明的電池之照明階e c 。

若EcEax大於127，決定降低權值Pr = P+12 7-Ecnax。其次，校 正權值，P = P-Pr，並校正其他冗餘時間，1'1^ = 1'1^-1^(1^-Pr)x 0.118% °Tj相當於與數值Vj相關的掃描位址時間， 例如每十六列掃描時為〇 · 5 %，而每八列掃描時為〇. 9 5 %。 第七步驟E 7後，進行第二測試步驟。第二測試步驟. ET2包含校對是否全部冗餘次掃描SP1至SP4已界定。測試 指數i，例如i =4，即進行第八步驟E8，否則進行第九步驟 E9 〇 第八步驟E8包含借助次掃描SB1至SB 8，將各電池的其 他照明階編碼。可例如進行前案技藝之方法。即完成照明 階之編碼，然後使用所為編碼顯示影像。 第九步驟E9把指數i增加1單元。增加後，又進行第四 步驟£4 〇 雖然此項演算可連續進行影像彼此不同的冗餘次掃描

第16頁 525119 五、發明說明（12) ，惟可藉冗餘時間Tr内的較佳電池照明，減少輪廓描繪效 應。蓋因輪廓描繪效應是發生在始終於相同時刻開始的冗 餘時間當中’同時照明的最小尺寸面積上。 正如精於此技藝之士所知，此項演算可有許多變化例 。宜令演算的複雜性配合可用之計算機構，尤其是為了成 本的理由。掃描型式數量以及所用的各種參變數，要視影 像顯示期間所為計算次數而定，尤其是因編碼所 = 元數而定。 丨井早 在本案實施例中，是在冗餘次掃描已編碼後，按照最 大照明期，改變次掃描SB8之權值P。亦可改變其他次掃描 SB 1至SB7之照明權值。也可以不改變此期間，以減少系= 之複雜性。 ' ” 此外，在此實施例中使用二效果標準來決定選用的Ni 值。不用說’其他效果標準亦可用’單獨或組合均可。 此外，以影像顯示時間的百分比表示的時間數值，相 當於有512列的螢幕。不用說此等相對期間可視。pDp可能 具有1列數’制的最大照明期，以及在此實施例内加入 位址時間内之抹消期等等而修飾。 因此，使用本案所揭示演算，不限於pDp應用。演算 於=顯示元件，包括以二種狀態（開或關）模式操作 之顯不電池。 525119 圖式簡單說明 第1至4圖表示前案技藝在影像顯示時的次掃描時間分 割； 第5至8圖表示本發明影像顯示時的次掃描時間分割； 第9圖表示本發明次掃描動態編碼表； 第1 0圖表示本發明動態編碼演算。 第18頁

Claims (1)

1. 525119 六、申請專利範圍 1. 一種視頻影像於顯示期間在顯示裝置上之顯示方法 ，該裝置包括配置成列成行之複數電池，在此方法中，於 顯示期間： 一各電池照明總時間’從零到最大顯不時間’即對 指定亮度設定言，相當於電池的最大亮度； 一進行單一的次掃描（SB 1至SB9)，使電池在各該次 掃描專屬的期間「開」或「關」； 其特徵為： —每組成列進行至少一次冗餘次掃描（SP1至SP4)， 使電池在該次掃描專屬期間「開」或「關」；以及 —各單一的次掃描專屬期間和冗餘的次掃描（SP 1至 S P 4)專屬期間之和，大於最大顯示時間者。 2. 如申請專利範圍第1項之方法，其中單一的次掃描（ SB 1至SB9)遂行逐列定址步驟者。 3. 如申請專利範圍第1或2項之方法，其中組列為一組 接續列者。 4. 如申請專利範圍第1或2項之方法，其中組列為一組 相關列者。 5. 如申請專利範圍第1或2項之方法，其中包含至少二 冗餘次掃描，在至少二不同組群内，遂行每組列之定址步 驟者。 6. 如申請專利範圍第1項之方法，其中至少一冗餘次 掃描（SP1至SP4)各專屬之照明期（N1至N4)，就各影像計算 者0

   第19頁 525119 六、申請專利範圍 7. 如申請專利範圍第6項之方法，其中在整個顯示元 件上有非零之最低照明階存在時，即進行全部列共同的次 掃描（SP 0 )，其照明期（N 0 )相當於最低照明階者。 8. 如申請專利範圍第6項之方法，其中與單一的次掃 描（SB 1至SB9 )相關的照明期之和，相當於為各影像算出的 可變期間，視冗餘次掃描（SPO至SP4)而定者。 9. 如申請專利範圍第1項之方法，其中顯示元件為電 漿顯示面板者。

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