TW499344B - Switchable wavelength laser-based etched circuit board processing system - Google Patents
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Description
經濟部智慧財產局員Η消費合作社印製 499344 A7 _____ B7 五、發明說明(I) 相關申請案 本申請案主張於1999年12月7日提出申請之美國臨 時專利申請案號60/253,120之優先權。 發明領域 本發明是關於以雷射爲基礎之微機械加工,特別是指 一種可以雙換波長的雷射用以形成鈾刻電路板中導體與介 電層的通孔。 發明背景 在習知技術中有許多種技術使用不同的雷射能量波長 來切割蝕刻電路板(ECBs)的導體與介電層。例如,之前的 工作人員在單一蝕刻電路板處理系統中使用紅外線(IR)Nd :YAG雷射與C〇2雷射。YAG雷射光束處理銅層的品質能 夠被接受,CCb雷射處理介電層的產出較高。 在其他的例子中,美國專利第5,847,960號“多工具定 位系統”,其讓與給本申請案的受讓人,其中描述一種多 種速度、多種工具的定位裝置用以切割蝕刻電路板的盲通 孔。這些工具有一半是紫外線(UV)雷射,能夠很容易地切 開導體與介電層。另一半的工具是紅外線雷射,只能夠輕 易地切開介電層。紫外線雷射被控制來切割上面的導體層 以及底下介電層的一部份,而紅外線雷射則是被控制來切 割剩下的介電層,其沒有切穿或損害到底下的第二導體層 。追樣組合的雷射處理步驟對於切割触刻電路板的盲通孔 具有一寬廣的製程窗。 在蝕刻電路板處理的工作人員都知道紫外線雷射的波 3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線— _ 499344 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(y) 長展現出較高的聚合材料處理品質,例如一寬廣的製程窗 、小光束尺寸、以及淸潔的孔洞。然而由於紫外線雷射受 到現有紫外線功率的限制,在許多應用上其處理的產出受 到限制。再者,使用二種雷射過於複雜及昂貴,並且典型 地需要各別的光學以及使人厭煩的對準過程。 由於這些問題,某些先前的工作人員建議使用具有可 變換波長的單一雷射。特別是在美國專利號碼第5,321,268 號中提出一種「可變換二種波長的頻率轉換雷射系統以及 其功率控制」,其讓與給本申請案的受讓人,其中描述了 這樣的一種雷射以及其使用在半導體通孔切割方面。然而 ,它的效率也相當的低落,並且對於蝕刻電路板處理其紫 外線輸出功率不足。 因此,有必要提出一種較簡單、有效率、具經濟效益 、高產出的方式來處理蝕刻電路板的通孔。 本發明之槪要 因此,本發明之一目的在提供一種可變換波長的電射 裝置及方法,能夠適用於蝕刻電路板的處理。 本發明之另一目的在提供一種高產出之鈾刻電路板通 孔的形成方法與裝置。 本發明之一種可變換波長的雷射係基於一種固態的頻 率轉換雷射源,其類型爲通常使用一第四諧波紫外線雷射 光束來進行處理,而一第二諧波“綠光”雷射光束被拋棄並 且被浪費。然而,本發明之一較佳的實施例係使用通常被 浪費的綠光雷射光束來處理蝕刻電路板的銅層,由於綠光 4 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線丨 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 499344 A7 B7 五、發明說明(巧) 能量的功率高於紫外線能量因而能夠增加製程的產出。本 發明使用一M Pockel晶胞爲基礎的波長選擇技術,因此切 換綠光束或者紫外線光束射到工件上處理不同的材料。 綠光雷射能量的銅通孔處理品質相信是優於紅外線雷 射能量’這是因爲銅對於綠光能量高度的吸收之緣故。紫 外線能量優越的介電層處理品質被維持。本發明只需要單 一軌雷射源,因此較爲簡單、較具經濟效益、較有效率、 不需繁複的對準步驟,且具有較高的製程產出。 本發明之其他的目的及優點將伴隨著底下較佳實施例 的詳細說明及對應的圖式而變得更加的淸楚。 圖式簡要說明 第1圖顯示本發明之一種可變換波長雷射的微機械加 工系統的簡單方塊圖。 第2A至第2C圖係在使用第1圖所示之可變換波長雷 射處理的情況下,鈾刻電路板其導體與介電層的剖視圖。 元件圖號說明: (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 10 可變換波長之雷射 12 雷射源 14 非線性晶體 15 綠光雷射光束 16 Pockel晶胞 18 Pockel晶胞驅動器 20 鏡子 22 綠光傾倒中止 5 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 499344 A7 __ B7 五、發明說明() 24 工件 26 紫外線光束 28 綠光束 30 蝕刻電路板 32 第一導體層 34 第二導體層 36 第三導體層 38 第一介電層 40 第二介電層 42 孔洞 44 孔洞 46 孔洞 48 孔洞 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) - 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 詳細說明 第1圖顯示一可變換波長之雷射10,其使用一雷射源 12產生一第二諧波綠光波長的雷射能量。一產生第四諧波 的非線性晶體(NLC)接收綠光能量,並且將其中一部份轉換 成紫外線能量。 雷射源12可以是,例如,一 l,064nm的Nd:YAG或者 Nd:YV〇4 雷射,或者一 l,053nm 或 l,047nm 的 Nd:YLF 電射 。一 Q切換、產生第二諧波的非線性晶體、以及共振鏡即 是雷射源12的所有部份。儘管波長少於大約355nm較爲適 當,雷射源較佳者爲一 l,064nm的Nd:YAG雷射,其係產 生一 532nm的綠光雷射光束15。本發明中的非線性晶體可 6 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
一-口, ϋ n ϋ 1_ I- n ϋ I I 1 n I n n I n n n n n ϋ 1 n n ϋ ϋ n n ϋ n I I 499344 A7 B7 五、發明說明(ζ ) 以是由BB〇、LBO、或CLBO晶體,或且任何其他適用於 產生紫外線的非線性晶體材料所形成。 波長的選擇係使用一 Pockel晶胞16,其係介於雷射源 12與非線性晶體14之間。Pockel晶胞16被一 Pockel晶胞 驅動器18啓動。當Pockel晶胞驅動器18沒有送出驅動電 壓給Pockel晶胞16時,來自雷射源12的一部份綠色雷射 光束15被非線性晶體14轉換成紫外線能量,剩餘的是殘 留的綠光能量。紫外線能量偏振被非線性晶體14相對於綠 光雷射光束旋轉90度。一鏡子20被設計來幾乎100%地反 射進來之具有與紫外線能量相同偏振的雷射光束能量。因 此,剩餘的綠光能量經由鏡子20傳導至一綠光傾倒中止 22,而大部份的紫外線能量被反射至一工件24,例如鈾刻 電路板,來進行處理。反射的紫外線能量在以下被稱爲紫 外線光束26,其具有之波長少於大約266nm。 當Pockel晶胞驅動器18送出一預定的電壓至Pockel 晶胞16,綠光雷射光束15的偏振被旋轉90度。這避免非線 性晶體14產生任何的紫外線,因爲綠光能量偏振此時並不 適於頻率轉換。然而,綠光能量偏振對於鏡子20的反射是 恰當的,因而,基本上所有的綠光能量被反射至工件24以 進行處理。反射的綠光能量在以下稱爲綠光束28,其具有 之波長少於大約532nm。 本發明一典型的運用係處理工件24的孔洞,例如切割 單或多層、單面或雙面之蝕刻電路板的通孔。多層蝕刻電 路板的製作典型地係由定位、堆疊在一起、形成薄板、並 7 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) n I ϋ ϋ n ϋ· 一0Jt n I n n n n n I n - 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 499344 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(G) 且壓成0.05〜0.08毫米(0.002〜0.003英吋)厚的電路板層。每 一層典型地包含一不同的內連接墊與導體圖案,在經過處 理之後組成一複雜的電氣元件安裝與內連接裝置。蝕刻電 路板之組成與導體密度的趨勢是隨著積體電路的高度集積 化而增加。因此,鈾刻電路板之孔洞的定位準確度、以及 尺寸容許度亦成比例地增加。 對於任何的孔洞處理工具來說,處理通孔都是一項困 難的挑戰,這是因爲牽涉到嚴格的深度、直徑、以及位置 容許度。這是因爲通孔典型地係穿過一第一導體層(例如銅 、鋁、金、鎳、銀、鈀、錫、鉛)來處理,穿過一層或多層 的介電層(例如聚醯亞胺、FR-4樹脂、苯並環丁烯、雙馬來 醯亞胺三氮啡、氫酸鹽酯爲基礎的樹脂、陶瓷)直到、但未 穿過第二導體層。結果產生的通孔係典型地鍍上一層導體 材料以電性連接第一與第二導體層。 某些應用需要切割出較大的孔洞,直徑大約200微米 左右。由於紫外線雷射光束典型地具有一只有大約20微米 的光束直徑’紫外線能量應沿著螺旋狀與環狀路徑來切割 孔洞。然而’綠光能量具有較大的光束直徑,因此將切割 出具有相對較大直徑的孔洞。 藉由可變換波長雷射10之範圍的正負0.13毫米(正負 0.005英吋)的深度,蝕刻電路板厚度變化是很容易能夠適 應的。 可變換波長之雷射10所產生之紫外線光束26與綠光 束28原本便呈同一直線,適用於使用在處理不同材料形成 8 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 夢 . -丨線· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 X 297公釐) 499344 A7 -------------B7____ 五、發明說明(q ) 的触刻電路板’例如銅導體層與聚醯亞胺介電層。綠光束 28較佳者用來處理銅層,紫外線光束%較佳者用來處理 聚醯亞胺或者其他聚合材料形成的介電層。一般而言,本 發明提供的綠光能量多於紫外線能量。藉由使用綠光束28 來處理銅,可以實現較高的處理產出,而藉由使用紫外線 光束26處理介電層,能夠維持較高的處理品質。 第2A圖至第2C圖顯示一示範的多層蝕刻電路板3〇, 其具有一第一、第二、以及第三導體層32、34以及30分 別被第一與第二介電層38與40隔開。在這個典型的例子 中,在壓合第一與第二介電層38與4〇之前,第一與第二 導體層32與34被蝕刻至預定的圖案。在這個例子中,第 三導體層36係一導電平面的“接地平面,,層。鈾刻電路板 30較佳者係隨著可變換波長之雷射1〇進行處理,其起始 地切換至產生綠光束28。 第2Α圖顯示綠光束28落在第一導體層32。 第2Β圖顯示綠光束28穿過第一導體層32來處理一孔 洞42 ’其落在並且部份地處理第一*介電層38。在這個時候 ’可變換波長之雷射10從產生綠光束28切換至產生紫外 線光束26。 弟2C圖顯不紫外線光束26透過第一^介電層38處理孔 洞44,並且落在第二導體層34上。如同前面所描述的, 紫外線光束26較佳者沿著螺旋狀或者環狀路徑處理在第一 介電層38中的孔洞44。由於紫外線光束26相對較低的能 量,以及導體層的反射,孔洞44自我終止在第一導體層 9 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) - 訂---------線丨 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 499344 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(^ ) 34,導致一寬廣的製程窗。 第2C圖更進〜步顯示孔洞46與48分別延伸穿過第三 導體層36與第二介電層4〇。孔洞46與48較佳者係以如同 孔洞42與44相同的方式進行處理,但隨著蝕刻電路板% 顛倒,使得綠光束28與紫外線光束26分別處理第三導體 層36與第二介電靥4〇。 熟習該項技藝者將能夠了解本發明的部份也許可以使 用不同於上述實施例的描述來實施。例如,不同的雷射、 不同的諧波、波長、以及功率準位可以被使用來處理蝕刻 電路板中許多不同的材料組合以及其他的微機械加工應用 。雷射源12典型地需要一發出雷射光的媒介(弧光燈、雷 射二極體等等)光學幫浦源、一光學幫浦源的冷卻系統、以 及控制電子裝置。一雷射二極體幫浦源是較佳的。倍頻紅 外線雷射源12之基本頻率係第二諧波綠光能量,然後再次 倍頻係產生第四諧波紫外線能量。亦可以是混合紅外線與 綠光能量的頻率係產生第三諧波紫外線能量。 對於一般具有本項技術者而言,許多其它的修改係可 對於本發明的上述實施例之細節進行,而不脫離本發明的 基礎原理。於是,將可體認到本發明也可應用至除了在飩 刻電路板製造以外之以雷射爲基礎的爲機械加工應用。因 此,本發明的範疇應該只藉由以下的申請專利範圍來決定 10 --------訂---------線丨» (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
Claims (1)
- 499344 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1、 一種用以處理在一蝕刻電路板之孔洞的裝置,該蝕 刻電路板係包括被一介電層分隔開之至少第一與第二導體 層’該裝置係包括: 一單一軌雷射系統,其係可選擇性地產生一綠光波長 光束與一紫外線波長光束,該綠光波長光束係穿過該第一 導體層以及該介電層的一部份以處理一孔洞,該紫外線波 長光束係穿過該介電層剩餘的部份來完成處理該孔洞,並 且在該第二導體層上,該紫外線波長光束係中止處理動作 〇 2、 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該單一軌 雷射系統係包括一紅外線雷射與一倍頻非線性晶體以產生 該綠光波長光束。 3、 如申請專利範圍第2項所述之裝置,其中該非線性 晶體係由BB〇、LB〇、或者CLBO晶體形成。 4、 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該單一軌 雷射系統更包括: 一偏振切換晶胞,用以在第一與第二偏振狀態之間切 換該綠光波長光束; 一產生諧波的非線性晶體,當其在該第一偏振狀態接 收到該綠光波長光束時,在該第二偏振狀態下產生紫外線 波長光束,並且在該第一偏振狀態下傳導剩下的綠光波長 光束,並且當其在該第二偏振狀態接收該綠光波長光束時 ,在該第二偏振狀態下傳導該綠光波長光束;以及 一偏振選擇鏡,其係反射在該第二偏振狀態的光束, 1 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、言.經齊部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 499344 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 α D8 六、申請專利範圍 使得該紫外線波長光束與該綠光波長光束反射至該蝕刻電 路板,並且剩下的綠光波長光束透過該鏡子傳導,而遠離 該蝕刻電路板。 5、 如申請專利範圍第4項所述之裝置,其中該非線性 晶體係由BB〇、LB〇、或者CLBO晶體形成。 6、 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該單一軌 雷射系統係包括一 Nd:YAG、Nd:YV〇4、或Nd:YLF雷射。 7、 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該綠光波 長光束之波長少於532nm。 8、 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該第一與 第二導體層之材料係由銅、鋁、金、鎳、銀、鈀、錫、以 及鉛中至少一種所構成的。 9、 如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該介電層 的材料係選自聚醯亞胺、FR-4樹脂、苯並環丁烯、雙馬來 醯亞胺三氮啡、雙馬來醯亞胺三氮啡、以及陶瓷所組成的 群組中。 10、 一種用以處理蝕刻電路板之孔洞的方法,該t虫刻 電路板包括被一介電層分隔開之至少第一與第二導體層, 該方法係包括下列步驟: 提供一單一軌雷射系統,該單一軌雷射系統可選擇性 地產生一綠光波長光束與一紫外線波長光束; 切換該單一軌雷射系統,以產生綠光波長光束; 以該綠光波長光束穿過該第一導體層與該介電層的一 部份來處理一孔洞; 2 ( CNS ) ( 210 X 297^¾ ) 一 '~~ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1T 線 499344 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 切換該單一軌雷射系統,以產生紫外線波長光束;以 及 以該紫外線波長光束穿過該介電層剩下的部份處理該 孔洞。 11、 如申請專利範圍第10項所述之方法,其中提供該 單一軌雷射系統的步驟更包括下列步驟: 提供一偏振切換晶胞用以在第一與第二偏振狀態下切 換該綠光波長光束; 提供一諧波產生非線性晶體,其在該第一偏振狀態接 收到該綠光波長光束時,在該第二偏振狀態產生紫外線波 長光束,並且在該第一偏振狀態傳導剩下的綠光波長光束 ’並且其在該第二偏振狀態接收該綠光波長光束時,在該 第二偏振狀態傳導該綠光波長光束;以及 提供一偏振選擇鏡,其反射在該第二偏振狀態的光束 ’使得該紫外線波長光束與該綠光波長光束反射至該蝕刻 電路板,並且剩下的綠光波長光束透過該鏡子傳導,遠離 該餘刻電路板。 12、 如申請專利範圍第10項所述之方法,其中更包括 沿著螺旋狀或者一環形路徑偏斜該紫外線波長光束,以便 在該介電層剩下的部份處理該孔洞。 13、 如申請專利範圍第10項所述之方法,其中更包括 在該第二導體層中止處理該孔洞。 14、 如申請專利範圍第13項所述之方法,其中該中止 處理的步驟是由於該紫外線波長光束的功率準位不足以處 3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 499344 A8 B8 ___J__ 六、申請專利範圍 理該第二導體層所導致之自我中止的步驟。 15、 如申請專利範圍第13項所述之方法,其中該中止 處理的步驟係由於該紫外線波長光束在該第二導體層產生 的反射所導致之自我中止的步驟。 16、 如申請專利範圍第13項所述之方法,其中該中止 處理的步驟是由於該紫外線波長光束的功率準位不足以處 理該第二導體層以及由於該紫外線波長光束在該第二導體 層產生的反射中至少一種所導致之自我中止的步驟。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 釐 9 2
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US25312099P | 1999-12-07 | 1999-12-07 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW499344B true TW499344B (en) | 2002-08-21 |
Family
ID=22958949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW089125953A TW499344B (en) | 1999-12-07 | 2000-12-06 | Switchable wavelength laser-based etched circuit board processing system |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20010030176A1 (zh) |
EP (1) | EP1236383A2 (zh) |
JP (1) | JP2003516625A (zh) |
KR (1) | KR100670841B1 (zh) |
CN (1) | CN1413428A (zh) |
AU (1) | AU4517701A (zh) |
CA (1) | CA2393541A1 (zh) |
TW (1) | TW499344B (zh) |
WO (1) | WO2001041969A2 (zh) |
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- 2000-12-05 KR KR1020027007239A patent/KR100670841B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2000-12-05 WO PCT/US2000/042580 patent/WO2001041969A2/en active IP Right Grant
- 2000-12-05 AU AU45177/01A patent/AU4517701A/en not_active Abandoned
- 2000-12-05 JP JP2001543296A patent/JP2003516625A/ja not_active Withdrawn
- 2000-12-05 CA CA002393541A patent/CA2393541A1/en not_active Abandoned
- 2000-12-05 CN CN00817764A patent/CN1413428A/zh active Pending
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---|---|
CA2393541A1 (en) | 2001-06-14 |
WO2001041969A3 (en) | 2002-02-07 |
AU4517701A (en) | 2001-06-18 |
US20010030176A1 (en) | 2001-10-18 |
WO2001041969A2 (en) | 2001-06-14 |
JP2003516625A (ja) | 2003-05-13 |
CN1413428A (zh) | 2003-04-23 |
KR100670841B1 (ko) | 2007-01-18 |
EP1236383A2 (en) | 2002-09-04 |
KR20020060781A (ko) | 2002-07-18 |
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