TW445189B - Laser processing apparatus and method - Google Patents

Description

44^189 五、發明說明（1) [發明之詳細說明] [發明所屬之技術領域] 本發明係有關於/種藉由雷射光束，在電子電路基板等 的被加工物上而進行開孔加工等之雷射加工之雷射加工裝 置及方法。 [先前技術] 該種雷射加工裝置的一例，則如圖4所示，已知是藉由 照射雷射光束，針對基板7等之被加工物實施雷射加工而 形成微細孔。該雷射加工裝置，其中雷射光束2，在從雷 射振盪器1被射出’而藉由反射鏡3 a被轉換方向後，則藉 由分歧機構9被分歧為2。被分歧出的雷射光束2a、2b，則 分別藉由反射鏡3b、3c與反射鏡3d〜3f，而被引導到備有 X-Y 2轴之電流鏡（ga 1 vanomirror)的電流計 (galvanometer)4、5的方向，在分別藉由各電流計4、5之 引導改變照射方向’而入射到f 0透鏡6 扑祐 則針對在藉由[Y機台8被定位之基板7上之加 工區域B 一邊掃描一邊照射，之後，則讓XY機台8移動，對 下一個的加工區域實施雷射加工，而依序對下一 區域進行加工。 [本發明所欲解決之問題] 但是在使用上述雷射加工裝置的雷射加工 由被f 0透鏡6a、6b所集束之雷射光束2C，針 : 開孔加工日寺，由於孔之真圓度必須要準’因此對基板丄？ 透鏡6a、6b之有效直徑，加工區域b在χ、γ

89101790.ptd 個方向分別

189 五、發明說明（2) 要限定在大約50關。由於基板7的尺寸為200〜500ram左 右，連其全部加工區域A也大約相同’因此，假設為X方向 5〇〇mm、Y方向350mni的尺寸時’則加工區域B必須要成為70 個矩陣（matrix)。 但是，基板7的尺寸乃有各式各樣，當2個的f(9透鏡 6 a、6 b之間的間隔為一定時，會發生雖然在其中一個的f Θ透鏡的加工已經結束，但是在另一個的f θ透鏡的加工 仍未結束，之後，仍必須要花費相當的時間來繼續在另一 個的f0透鏡中的加工作業的情形，因此，加工效率會浪 費掉。又’在對另一個的f 0透鏡實施加工時，則必須使 得其中一個的f Θ透鏡之雷射光束不會照射到基板7、而且 會因為此其間白白地照射雷射光束，而導致能量的損失。 在此’本發明即在於解決以上的問題，其目的在於提供 一種可以根據被加工物之尺寸的變化，來進行生產性高， 且效率高之雷射加工的雷射加工裝置及方法。 [解決問題之手段] /本發明之雷射加工裝置，為了要達成上述目的，其主要 係針對一除了藉由各自的掃描機構，將利用分歧機構而將 從雷射振盪器所射出的雷射光束所分破出的雷 到被加工物的加工位置外，也藉由集束機= = 被加工物上’藉由各雷射光束，對在被加工物上之一定範 圍的加工區域進行雷射加工，讓上述被加工物相對於上述 各集束機構移動，根據從各集束機構所照射之各雷射光 東，依序對下一個的加工區域實施雷射加工之雷射加工裝

4^5189 五、發明說明（3) 置，其特徵在於： 具有可使各集束機構之 工物上之全部加工區域的 根據本發明，在使基板 移動，而依序對各加工區 機構之中心點間的間隔， 區域的大小自動地調整， 加工的結束時間成為一致 射加工之結束時間的不一 射雷射光束的情形，結果 雷射加工。 又，在上述發明中，則 雷射光束的分歧點，經由 集束之各集束點為止的各 般地來調整光路#長度的 上述中心點間隔的調整而 形’藉著將各雷射光束的 良好地同時對被加工物實 本發明之雷射加工方法 係針對一利用以下之雷射 置除了藉由各自的掃描機 振盪器所射出之雷射光束 工物的加工位置外，也藉 物上，藉由2個雷射光束， 中心點 大小而 等之被 域進行 對應於 能夠使 ，可以 致所導 能夠進 間的間隔 自動調整 加工物對 加工之際 在被加工 在所有之 消除在習 致之浪費 行有效率 ，對應於在被加 的調整機構。 集束機構相對地 ’藉著使各集束 物上之全部加工 集束機構之雷射 知例中，因為雷 時間或是浪費照 ’且生產性高的 備有從藉由分歧機構被分歧之各 各掃描機構’到被各集束機構所 光路徑長度，能夠成為同一距離 光路徑長度調整機構β修正隨著 產生之光路徑長度不一致的情 集束狀態維持在相同，能夠精度 施加工。 ’為了要達到上述目的，其主要 加工裝置的雷射加工方法，該裝 構’將利用分.歧機構而將從雷射 所分歧出的雷射光束引導到被加 由集束機構而集束照射在被加工 對在被加工物上之一定範圍的

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44518 S 五、發明說明（4) " 加工區域進行雷射加工’該上述被加工物相對於2個集束 機構移動，而藉由從各集束機構所照射的各雷射光束'， 序對下一個加工區域進行雷射加工，其特徵在於. & 使2個集束機構之中心點間的距離，對應於在被加工物 上之所有的加工區域的大小’經常自動調整成上述全部加 工區域之長度的1/2，而進行雷射加工。 ° 根據本發明，利用2個的雷射光束，可以確實地對2個集 束機構之中心點間的間隔作自動調整，而進行有效率，^ 生產性高的雷射加工。 [發明之實施形態] 以下請參照圖1以及圖2來說明本發明之一實施例。 圓1係表在本發明之第1實施形態之雷射加工方法中所使 用之雷射加工裝置的構造。從雷射振盡器1所射出的雷射 光束2 ’則藉由反射鏡3a轉換方向，藉由分光器（分歧機 構）9而分歧成2個雷射光束2a、2b。被分歧的雷射光束 2a、2b ’則分別藉由反射鏡3b、3c與反射鏡3d、3f —邊被 導引’而一邊從在X-Y 2轴掃描雷射光束2之各電流計（掃 描機構）4、5中所備有的各電流鏡（8&^311〇11111^〇1_)4&、 5a ’而入射到各f 0透鏡（集束機構），在藉由各f 0透鏡 6a、6b被集束後’則針對被χ_γ機台8所定位的基板（被加 工物）7的一定範圍的加工區域β照射，而實施開孔加工。 由電流計4、5與f 0透鏡6a ' 6b所構成的雷射照射部則 被分成2組’備有ί 透鏡6a的雷射照射部I則被固定，而 備有f Θ透鏡6b之雷射照射部π，則為了要定位設成可以

4 4518 9 五、發明說明（5) ' ^-__ 調整移動。 在雷射照射部I I則安裝有機台（調整機構）1 0，藉著根據 基板7的尺寸（全部加工區域A)，而自動地調整在各f 0透 鏡6a、6b之間之中心點的間隔c ’可以將f <9透鏡6b移動到 最適當的加工位置。因此，可以使2個f Θ透鏡6a、6b中之 雷射加工的結束時間成為一致’能夠避.免因為雷射加工之 結束時間的不一致所造成之浪費的作業時間、以及浪費 雷射照射。 ’ 接著則說明第1實施形態之雷射加工方法。 首先’讓機台10移動’使各透鏡6a、6b在X方向之中 心點間的間隔C成為在基板7上之全部加工區域a之X方向之 全部長度的1/2般地讓機台1〇移動，而加以定位。 例如當設成基板7之全部加工區域a = 5 0 0 mm時，則f Θ透 鏡6a、6b之X方向之中心點間的間隔C被設定為 C=500/2:250mm 接著’則藉由機台8 ’將基板7定位在一定的位置，藉由 設在各電流計4、5的各電流鏡4a、5a，而將雷射光束2c引 導到基板7上的加工位置，藉由f θ透鏡6a、6b，將雷射光 束2集束而照射’可以在基板7上，藉由各雷射照射部I、 II分別一次相當於一個加工區域B的一定範圍地，依序進 行開孔加工。 請參照圖2詳細地說明根據上述雷射光束2c進行開孔加 工的情形。 在本實施形態中’則針對全部加工區域A分成4 X 10共40

89l01790.ptd 第10頁 五 、發明說明（幻 ί Θ透鎊B 域 外’ 11著使雷射照射部1、11之名 卜2、卜3、卜4 5- 4(E點）結束 6- 1 (s’點）開始 的順序來加工 产後:：、讣之中心點間的間隔c作自動調整，如圖2之 虛線箭碩所示，在雷射照射部1，從卜1(s點）開始’依照 Ί4、2-3、....的順序來加工，而在 而在另一個的雷射照射部II中，則從

依照6-2、6-3、6-4、7-4、H 而在1 0-4(E’點）結束。 如上所述，藉著將f 0透鏡6 a、6 b之中心點間的距離c自 動調整成為全部加工區域A之X方向之全部長度的1/2，可 以消除在任一個的雷射照射部I或I I中無法加工的時間， 由於連加工資料也不會浪費，因此能夠進行有效率且生產 性高的雷射加工。 圖3係表在本發明之第2實施形態之雷射加工方法中所使 用之雷射加工裝置的構造。在本實施形態中，藉著讓載置 了反射鏡3e ' 3f的機台（光路徑長度調整機構）〗1移動，在 第1實施形態中’即使雷射照射部I I之雷射光朿2b的光路 徑長度，隨著機台1 0移動對上述中心點間隔c進行調整， 而變得不同於雷射照射部I之雷射光束2 a的光路徑長度 時’也可以對其加以修正，而構成能夠自動地調整雷射光 束2b的光路徑長度。 在圖3中，與第1實施形態同樣地，從雷射振盪器1所射 出的雷射光束2，則被分光器9分歧為2，而被引導至備有 電流計4、5與f 61透鏡6 a、6 b之2組的雷射照射部I與11。 被分歧為2的各雷射光束2a、2b，其中從其分歧點到藉由

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五、發明說明（7) 各雷射照射部I與I I之各f Θ透鏡6a、6b到達在基板7上之 各集束點（加工點）為止的各光路徑長度，則會因為雷射昭 射部II的相對移動而變化β但是在本實施形態中，藉著^ 已載置了反射鏡3 e、3f的機台η移動，可以調整盆光路俨 長度。 ^ 二 亦即，藉由分光is 9被分歧，且朝向雷射照射部〖的雷射 光束2,，被反射鏡3b、3e所反射，而人射到電流鏡化的光 學路徑長度、以及藉由分光器9被分歧的雷射光束2b，經 由反射鏡3d，被載置在機台u上之反射鏡3e、^所反射， 而入射到電流鏡4a的光路徑長度，則藉由調整移動機台】] 而成為相同的距離，而可以定位出雷射照射部π。例如每 只讓各雷射照射部I、u的間距（pitch)動作D的距離時田 則機台11的移動量成為〇/2(未圖示）。 如此般，藉著讓被分光器9所分歧之雷射光束2從分 到在各雷射照射部卜Π之集束點為止之光路徑長為 ，由於可以將被分歧之雷射光束2&，的集束狀態維 持在相同，因此能夠精度良好地同時對基板7進行加工。 [發明之效果] 如上所i，根據本發明，藉著根據在基板等之被加 部加工區域的大小’㈤自動地調整在集束機構之間 亡4 可以消除浪費的加工時間’能夠精度良好地 有效率，且生產性高之開孔加工等的雷射加工。 [元件編號之說明]

89101790tptd 第12頁 五、發明說明（8) 2 雷射光束 3a〜3f 反射鏡 4、5 電流計（掃描機構） 6a、6b f Θ透鏡（集束機構） 7 基板 10 機台（調整機構） 11 機台（光路徑長度調整機構） Α 全部加工區域 B 加工區域 C 集束機構之中心點間的間隔

89101790.ptd 第13頁 445 1 8 9 圖式簡單說明 圖1係表在本發明之第1實施形態之雷射加工方法中所使 用之雷射加工裝置之構造的立體圖。 圖2係表用於說明在同一實施形態中，對全部加工領域 進行雷射加工之動作的概略圖。 圖3係表在本發明之第2實施形態之雷射加工方法中所使 用之雷射加工裝置之構造的立體圖。 圖4係表在習知例之雷射加工方法中所使用之雷射加工 裝置之構造的立體圖。

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Claims (1)

1. 4451ss 六、申請專利範圍 一種雷射加工裝置，其主要係釺對一除了藉由各自的 掃描機構，將利用分歧機構而將從雷射振盪器所射出的雷 射光束所分歧出的雷射光束引導到被加工物的加工位置 外’也藉由集束機構而集束照射在被加工物上，藉由各雷 射光束，對在被加工物上之一定範圍的加工區域^行雷: 加工’讓上述被加工物相對於上述各集束機構移動，根據 從各集束機構所照射之各雷射光束，依序對下一個的加工 區域實施雷射加工之雷射加工裝置，其特徵在於： 具有可使各集束機構之中心點間的間隔，對應於在被加 工物上之全部加工區域的大小而自動調整的調整機構。 2 ·如申請專利範圍第1項之雷射加工裝置，其中係備有 j吏從藉由刀歧機構被分歧之各雷射光束的分歧點，經由各 ”，至“皮各集束機構所集束之各集束點為止的各光 ，，度，能夠成為同一距離般地來調整光路徑長度的光 路徑長度調整機構。 A ^田射加工方法，其主要係針對一利用以下之雷射 I，“丨的雷射加工方法’該裝置除了藉由各自的掃描機 所八社i用分歧機構而將從雷射振盪器所射出之雷射光束 由；ί = 束引導到被加工物的加工位置外，也藉 A [ , 集束照射在被加工物上，藉由2個雷射光 工，兮μ Ϊ加工物上之一定範圍的加工區域進行雷射加 各隼^她=被加工物相對於2個集束機構移動，而藉由從 ^ ^ ^ ,…的各雷射光束’依序對下一個加工區域 進仃田射加工，其特徵在於：

   第15頁 445 1 δ 9 六、申請專利範圍 使2個集束機構之中心點間的距離，對應於在被加工物 上之所有的加工區域的大小，經常自動調整成上述全部加 工區域之長度的1/2，而進行雷射加工。

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