TW436632B - Inspection apparatus for printed board - Google Patents

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TW436632B
TW436632B TW088112709A TW88112709A TW436632B TW 436632 B TW436632 B TW 436632B TW 088112709 A TW088112709 A TW 088112709A TW 88112709 A TW88112709 A TW 88112709A TW 436632 B TW436632 B TW 436632B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
inspection
probe
upper device
Prior art date
Application number
TW088112709A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Obata
Masatoshi Kato
Original Assignee
I C T Kk
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by I C T Kk filed Critical I C T Kk
Application granted granted Critical
Publication of TW436632B publication Critical patent/TW436632B/zh

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

«濟部智慧財產局貝工消费合作社印製 J 436632 A7 _ B7 五、發明說明(彳) 〔發明所屬之技術領域〕 本發明係關於一種使用探針來檢査印刷電路基板之缺 陷之檢査裝置。又,成爲檢査對象之印刷電路基板係有表 面插裝零件之印刷電路基板,或未插裝零件以前之印刷電 路基板均可。 (以往之技術〕 在曰本專利申請案特開平1 〇 — 2 8 2 1 7號公報有 揭示從上面及下面檢査印刷電路基板之以往裝置。在第5 圖中顯示前述申請專利之裝置之簡略化圖。茲參考該圖就 以往之裝置5 0 0說明如下。支持髓5 0 1設有導軌 5 0 2,在導軌5 0 2上有載置印刷電路基板支持板 5 1 0。在印刷電路基板支持板5 1 0上之預定位置有載 置印刷電路基板5 1 1 *在印刷電路基板5 1 1之上部, 藉固定於支持體5 0 1之致動器5 2 3而設有上部檢査裝 置5 2 1 *在印刷電路基板5 1 1之下部,藉固定在支持 體50 1之致動器5 3 3設有下部檢査裝置5 3 1 * 欲檢査印刷電路基板5 1 1時,把印刷電路基板 5 1 1載置於印刷電路基板支持板5 1 0上,沿著導軌 502搬入於支持體501·接著,用致動器523把上 部檢査裝置5 2 1下降,使探針5 2 2接觸於印刷電路基 板5 1 1之上面而押壓該上面β接著,用致動器5 3 3把 下部檢査裝置5 3 1上昇,使探針5 3 2接觸於印刷電路 基板51 1之下面而押壓該下面。各探針522,532 本紙張尺度適用中a a家襦準(CNS)A4规格(210 X 297公釐) ------------->·..裝--- (锖先W讀背面之注意事項*_ir寫*-買) 訂· -線 -4- 熳濟部智慧财產局Λ工消费合作社印发 Γ ^1366 3 2 Α7 ______Β7 五、發明說明(2 ) 係藉未圖示之配線而連接於未圖示之測試器。在該狀態下 測試器係藉探針5 2 2,5 3 2對印刷電路基板5 1 1給 予訊號,同時藉探針5 2 2,5 3 2而接受來自印刷電路 基板5 1 1之訊號。解析前述訊號之結果,’來檢査印刷電 路基板5 1 1之短路缺陷及斷線缺陷。檢査終了之後,下 部檢査裝置5 3 1下降,接著,上部檢査裝置5 2 1上昇 ’之後,搬出印刷電路基板5 1 1。 又|上部檢査裝置5 2 1與下部檢査裝置5 3 1係被 檢査之印刷電路基板專用者。因此,欲檢査其他種類之印 刷電路基板5 1 1時•必需要更換上部檢査裝置5 2 1與 下部檢査裝匱5 3 1。 〔發明所欲解決之問題〕 然而,前述以往之技術有下述之問題。第1,各裝置 需要裝設使上部檢査裝置與下部檢査裝置上下動用之驅動 手段之致動器•因此,使裝置大型化而變重。又,零件數 量也變多的關係,也有增加裝配裝置之工時及零件成本之 增加等之問題》 第2,在裝置之上部設有使上部檢査裝匱上下動用之 致動器的關係,裝置上部之構造變複雜。其結果,要更換 上部檢査裝置與下部檢査裝置之際,有致動器等之裝置之 上部構造會阻礙更換作業之問題。 本發明之目的,在於提供一種用單—之驅動手段來使 上部檢査裝置與下部檢査裝置上下移動之小型.輕量,且 ^^1ίί>ϊ! 訂· _線· 本纸張尺度適用中Η國家標準(CNS)A4規格(210 * 297公釐〉 •5- 熳濟部智慧財產局貝工消費合作杜印製 l·' 43663 2 a: __B7_ 五、發明說明(3 ) 構造簡單,同時可容明更換上部檢査裝置與下部檢査裝置 之印刷電路基板之檢査裝置者。 〔用以解決問題之手段〕 在本發明中,從前述印刷電路基板之上面及下面把探 針接觸配置在預定位置之印刷電路基板來檢査前述印刷電 路基板之印刷電路基板之檢査裝置係包括將前述印刷電路 基板保持在預定位置之印刷電路基板保持部之支持体•具 備檢査前述印刷電路基板之上面用之探針之上部裝置,具 備檢査前述印刷電路基板之下面用之探針之下部裝置,及 使前述上部裝置及下部裝置上下移動用之驅動裝置,前述 上部裝置與下部裝置係以上下移動自如之狀態保持在前述 支持體之同時,前述驅動裝置係把前述上部裝置與前述下 部裝置對前述支持體相對地上下移動自如之構成。 然後,驅動上部裝置與下部裝置之驅動裝置係對支持 體相對上下移動之構成,因此以單一之驅動裝置可使上部 裝置與下部裝置上下移動之•因此,可使檢査裝置爲小型 .輕量化。 又,在本發明之印刷電路基板之檢査裝置中,前述上 部裝置係包括具備前述探針之上部構件,與前述驅動裝置 結合之下部構件,及連接兩者之連結構件所成;前述下部 裝置係包括具備前述探針之上部構件,與前述驅動裝置結 合之下部構件,及連結兩者之連結構件爲其特徵· 因此,將連結構件保持支持體成上下移動自如的關係 lit! — -裝.__ (請先閱婧背面之注意事項#lr>寫*-κ) 訂‘ --線* -6- 43663 2 A7 缦濟部暫慧财產局貝工消费合作杜印製 ;_B7_ 五、發明說明(4 ) ,上部裝置及下部裝置對支持體,換言之,對印刷電路基 板上下移動;而上部裝置及下部裝置之探針爲接觸於印刷 電路基板,能夠檢査印刷電路基扳*因此,要檢査其他種 類之印刷電路基板時,只更換上部裝置之上部構件及下部 裝置之上部構件即可。又,將上部裝置之下部構件與下部 裝置之下部構件設在裝置之下部之驅動裝置來上下移動的 關係,檢査裝置之上部構造爲簡潔。 再者,在本發明之印刷電路基板之檢査裝置中,前述 上部裝置之下部構件與前述下部裝置之下部構件之間隔, 以及前述上都裝置之上部構件與前述下部裝置之上部構件 之間隔之和係在前述上部裝置與前述下部裝置上下移動之 過程中成一定之値之構成之其特徴* 因此,用驅動裝置加大上部裝置之下部構件與下部裝 置之下部構件之間隔時,上部裝置之上部構件與下部裝置 之上部構件之間隔變狹窄。換言之,上部裝置係因本身之 重置而下降,下部裝置係以驅動裝置之力童而上昇•其探 針接觸印刷電路基板,成爲可實行檢査之狀態* 又·檢査終了之後,縮小上部裝置之下部構件與下部 裝置之下部構件之間隔時,上部裝置之上部構件與下部裝 置之上部構件之間隔變大。換言之,下部裝置係以本身之 重置而下降,上部裝置係以驅動裝置之力量而上昇,探針 離開印刷電路基板,回到開始檢査以前之狀態。 又,在本發明之印刷電路基板之檢査裝置中,其特徴 爲前述驅動裝置係配置在前述上部裝置之下部構件與前述 <請先Μ埴背面之注意事項再 -·裝! η'” rr寫本頁> 訂·· .線< 本紙張尺度適用中a囲家標準(CNS)A4规格(210 X 297公釐〉 43663 2 A7 B7 五、發明說明(5 ) (請先《讀背面之注意事項再填寫本頁) 下部裝置之下部構件之間,前述驅動裝置改麥前述上部裝 置之下部構件與前述下部裝置之下部構件之間隔之結果, 使前述上部裝置與前述下部裝置上下移動之構成。 因此,用驅動裝置來加大上部裝置之下部構件與下部 裝置之下部構件之間隔時,上部裝置係因本身之重量而下 降•下部裝置係以驅動裝置之力量而昇高,探針接觸印刷 電路基板,成爲可賁行檢査之狀態。又,檢査終了後,縮 小上部裝置之下部構件與下部裝置之下部構件之間隔時, 下部裝置係因本身之重量而下降,上部裝置係以驅動裝置 之力量而昇高,探針離開印刷電路基板,回到實行檢査以 前之狀態。 i 換言之,在本發明中,不需要以探針檢査時驅動上 部裝置用之專用驅動裝置,因此可使檢査裝置之上部構造 簡潔,可容明更換上部裝置之具備有探針之上部構件及下 部裝置之具備有探針之上部構件》 〔實施發明之形態〕 妲濟部智慧財產局負工消费合作社印製 茲參考圖式將本發明之印刷電路基板之檢査裝置之實 施形態詳細說明如下。第1圖係將本發明之印刷電路基板 之檢査裝置1 0從正面所視之圖*係顯示把印刷電路基板 2 5搬入檢査裝置之時間點之狀態之圖。本裝置之主要構 成要素係包括成爲裝置之基座之支持體2 0,上部裝置 3 0與下部裝置4 0,以及做爲驅動裝置之空氣壓力缸 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS)A4 Λ格(210 X 297公* ) • 8 經濟部智慧財產肩R工消费合作杜印製 Γ 4366 3 2 Α7 __Β7__ 五、發明說明(6 ) 支持體2 0之上部設有鋁製之基座板2 1。在基座板 2 1之上面有固定用以載置.固定印刷基板支持板2 5之 印刷電路基板支持板用支持台2 3。在印刷電路基板支持 板2 4上之預定位置有載置印刷電路基板2 5。雖然未圖 示*但在印刷電路基板支持板用支持台2 3之上部係附有 導承部之軌條構造以便滑動而搬入印刷電路基板支持板 2 4。印刷電路基板支持板2 4與印刷電路基板支持板用 支持台2 3係構成本裝置之印刷電路基板支持部。 上部裝置3 0係由具有檢査印刷基板2 5之上面用之 探針3 5之上部構件3 1,有固定空氣壓力缸5 1之下部 構件3 2,及連結上部構件與下部構件用之4支(圖中所 示係其中前面之一方之兩支)之棒狀之連結構件3 3所構 成。上部構件3 1與下部構件3 2係分別以螺絲等固定於 連結構件3 3。 下部裝置4 0係由具有檢査印刷基板2 5之下面用之 探針4 5之上部構件4 1,有固定空氣壓力缸5 1之軸 5 2之下部構件4 2,及連結上部構件4 1與下部構件 4 2用之4支(圖中所示係其中前面之一方之兩支)之棒 狀之連結構件4 3所構成•上部構件4 1與下部構件4 2 係分別以螺絲等固定於連結構件4 3 » 上部裝置3 0之連結構件3 3與下部裝置4 0之連結 構件43係通過設在基座板21之貫穿孔26·以上下移 動自如之狀態掉持在基座板2 1。換言之,上部裝置3 0 及下部裝置4 0係以上下移動自如之狀態保持在支持體 本紙張尺度適用中B國家標毕(CNSXA4 «格(210 X 297公釐) » ϋ tl a ft— n n I n <請先閱讀背面之注$項再«^寫^-I) 訂· 線· -9- A7 p 43663 2 __B7__ 五、發明說明(7 ) 2 0。又,下部裝置4 0係在第1圖之狀態時,以本身之 重量而載置於下部裝置支持台2 2之上面β 做爲驅動裝置之空氣壓力缸51係固定於上部裝置 30之下部構件32。又,空氣壓力缸5 1之軸52係固 定在下部裝置4 0.之下部構件4 2。空氣壓力缸5 1具有 兩個壓縮空氣導入口 53,54,藉配管55,56及開 閉閥5 7,58而連接於未圖示之壓縮空氣源。從下方之 壓縮空氣導入口 5 4導入壓縮空氣時,空氣壓力缸5 1之 軸5 2係向從空氣壓力缸5 2突出之方向移動》又,從上 方之壓縮空氣導入口 5 5導入壓縮空氣時,空氣壓力缸 5 1之軸5 2係向進入空氣壓力缸5 1之方向移動。因此 ,控制開閉閥57,58之結果,可以改變上部裝置3 0 之下部構件3 2與下部裝置4 0之下部構件4 2之間隔。 上部裝置3 0之下部構件3 2與下部4 0之下部構件4 2 係以彈簧6 0連結以便當壓縮空氣之供給系統發生故障時 ,可防止上部裝置30之下降。 其次,就檢査印刷基板2 5時之順序及動作說明如下 〇 蛆濟部智慧財產局員工消费合作社印製 首先,把印刷電路基板2 5載置於印刷電路基板支持 板2 4之預定位置。接著,沿著設在印刷電路基板支持板 用支持台2 3之未圖示之附有導承部之軌條,從前面搬入 印刷電路基板支持板2 4。欲檢査印刷電路基板2 5時, 需要把上部裝置3 0及下部裝置40之探針3 5,45與 印刷電路基板25接觸。於是,控制開閉閥57,58使 -10- 本紙張尺度適用中Η 0家標準<CNS)A4規格(210 * 297公釐> ' 43663 2 A? _;_Β7___ 五、發明說明(8 ) 空氣壓力缸5 1之軸5 2向從空氣壓力缸5 1突出之方向 移動。其結果,會發生加大上部裝置3 0之下部構件3 2 及下部裝置4 0之下部構件4 2之間隔之力量。該力量係 變成使上部裝置3 0下降,或使下部裝置4 0上昇之力量 。欲使下部裝置4 0上昇_ *需要相加抗著上部裝置3 0 及下部裝置4 0之本身重量而上昇之力量。相對之,對上 部裝置3 0有以本身重量而下降之力量作用之。按照力學 之定律,下部裝置4 0不動,只有上部裝置3 0開始下降 0 再過一段時間之後,上部裝置3 0之探針3 5下降至 可接觸到印刷電路基板2 5之位置。再進一步下降時*以 止動件3 4限制上部裝置3 0.之下降的關係,會成爲第2 圖所示之狀態<在第2圖之狀態中,爲了要避免在探針 3 5與印刷電路基板2 5之間發生接觸不良,第4圖(A )所示之探針4 2 0之可動針4 2 3被壓入探針盒體 4 2 2內,探針內之彈簧4 2 1係比第4圖(A)所示者 較短。對上部裝置3 0,有向上方相加探針4 2 0內之彈 簧4 2 1之壓力。在探針3 5最初接觸印刷電路基板2 5 起而成爲第2圖所示之狀態爲止之期間內,探針3 5內之 彈簧壓力相加於上部狀置3 0 »因此,不使下部裝置4 0 上昇之狀態下要使上部裝置3 0下降時,必需要滿足下述 之式(1 )。 (上部裝置之重量+下部裝置之重置+空氣壓力紅之重量)> 全探針之鼷力 .....(υ <請先明讀背面之注$ !裝! 項*10寫<買> 訂: •線‘ 鳗濟部智慧財產局貝工消費合作社印製 本紙張尺度適用中田國家標準(CNS)A4规格(210 X 297公釐) -11 - Α7 r 436632 ____Β7__ 五、發明說明(9 ) 所謂全探子之壓力係設在上部裝置3 0之探針3 5之數置 與每一枝探針之可動銷之壓力之積。舉例來說,上部裝置 3 0設有4 0 0條之探針3 5,在第2圖狀態下之每一探 針之壓力爲1 5 0 g重時|全探針之壓力成爲6 0 k g重 〇 又,空氣壓力缸5 1之重量較小,以及考量設計容許 値*將檢査裝置設計成可滿足下述之式(2 )。 (上部裝置之重量+下部裝置之重量)> 全探針之壓力 .....(2) 又,使用本發明之檢査裝置而能夠檢査複數種類之印 刷電路基板2 5的關係,考量用最大之探針數量實行檢査 時之情形來設計|以便能夠滿足式(2 )之條件》 茲就將空氣壓力缸5 1之軸5 2爲從第2圖之狀態再 延長時之情形說明如下》在第2圖之時間點時會限制上部 裝置3 0之下降,因此下部裝置4 0開始上昇。然後,當 軸5 2完全延長之狀態,換言之,在第3圖所示之狀態時 下部裝置4 0停止•又,在第3圖之狀態下,下部裝置 4 0之探針4 5係以預定之壓力接觸於印刷電路基板2 5 。使用步進馬達做爲驅動手段以取代空氣壓力缸51時, 控制給予步進馬達之驅動訊號而可控制下部裝置4 0之停 止位置。 在第3圖之狀態下,未圈示之測試器係藉探針3 5, 4 5而對印刷電路基板2 5給予訊號,同時藉探針3 5, 4 5而接受來自印刷電路基板2 5之訊號。然後,解析訊 本紙張尺度適用中困國家標準(CNS)A4规格(210 X 297公釐) ^1 ^1 ϋ n n It ϋ I ϋ <請先H讀背面之il意事項再^:寫4頁) 訂· --線_ 經濟部暫慧財產局興工消费合作社印* 經濟部智慧财產局興X消费合作社印製 4366 3 2 Α7 Β7 五、發明說明(10 ) 號來檢査印刷電路基板2 5之短路及斷線等之缺陷。又, 各探針3 5,45係藉未圖示之配線而連接於未圖示之測 試器。 對印刷電路基板2 5之檢査終了時,控制開閉閥5 7 ,5 8以便使空氣壓力缸5 1之軸5 2縮進空氣壓力缸 5 1內,換言之,實行縮小上部裝置3 0之下部構件3 2 與下部裝置4 0之下部構件4 2之間隔之動作》其結果, 會發生使上部裝置3 0上昇,或者使下部裝置4 0下降之 力量發生β下部裝置4 0係下方有本身動量相加的關係, 下部裝置4 0開始下降,來到以下部裝置支持台2 2限制 下部裝置4 0下降之位置時,成爲第2圖之狀態*下部裝 置4 0停止下降。然而,有相加縮小上部裝置3 0之下部 構件3 2與下部裝置4 0之下部構件4 2之間隔之力量的 關係,接著上部裝置3 0開始上昇,軸5 2完全進入空氣 壓力缸51之位置•即在第1圖所示之狀態時上部裝置 3 0爲停止。之後,從檢査裝置1 0中搬出印刷電路基板 2 5,並搬入下一個要檢査之印刷電路基板β 根據上述之說明•就本發明之特徵詳述如下。比較第 1圖與第2圖時,可明白驅動裝置之空氣壓力缸5 1對支 持體2 0相對地上下移動。利用該特徵之結果,用一個驅 動裝置可驅動上部裝置3 0與下部裝置4 0。又,利用上 部裝置3 0及下部裝置4 0之重力之結果,只用突出空氣 壓力缸5 1之軸5 2之一種動作即可賁現上部裝置3 0之 下降及下部裝置4 0之上昇之逆方向之動作。再者,上部 本纸張尺度適用中國國家標準(CNSJA4说袼(210 * 297公鼇) (請先《讀背面之注意事項再^寫本I) 訂·· -線· A7 ^ "4366 3 2 ___B7_ 五、發明說明(n ) 裝置3 0之下部構件3 2與下部裝置4 0之下部構件4 2 之間隔,以及上部裝置3 0之上部構件3 1與下部裝置 4 0之上部構件4 1之間隔之和係上部裝置3 0與下部裝 置4 0在上下移動之過程中成一定値之構成,因此,空氣 壓力缸5 1之軸5 2突出之長度係等於上部裝置3 0之下 降量與下部裝置4 0之上昇置之和。因此,在預定之位置 可限制上部裝置3 0之下降動作之構成時,可將空氣壓力 缸5 1之軸5 2之衝程置分配成上部裝置3 0之下降量與 下部裝置4 0之上昇量。 又,在本實施之形態中,使用其衝程量爲8 Omm之 空氣壓力缸,從第1圖之狀態變成第3圖之狀態時,上部 裝置3 0係下降5 0mm,而與下部裝置4 0係上昇3 0 mm之構成。前述之衝程量,上部裝置之下降量,及下部 裝置上昇量並非限定於前述之値,可適當地改變而實施本 發明。 經濟部智慧財1局貝工消费合作社印製 在以上說明中未詳述上部裝置3 0之上部權件3 1及 下部裝置4 0之上部構件4 1之構造。於是,利用第4圖 (A)來說明上部裝置3 0之上部構件3 1之構造。又, 下部裝置4 0之上部構件4 1也是除了上下顛倒以外與第 4圔相同之構成•如第4圖(A)所示,上部裝置之上部 構件31係由探針板412與安裝板411構成。安裝板 4 1 1係以螺絲等而固定在上部裝置之連結構件3 3。又 »探針板4 1 2係藉支柱4 1 3以螺絲等固定於安裝板 411。對探針板411有壓入套筒430*有探針 本紙張尺度適用中國困家標準(CNS>A4蚬椹(210 * 297公釐) -14- 2 Α7 2 Α7 經濟部智慧財產局貝工消费合作杜印製 Β7__ 五、發明說明(12 ) 420插入於套筒430。套简430與第1連接器 4 4 1之間係以未圖示之印刷電路基板或繞線接線等電性 連接之。藉由連接於第1連接器4 4 1之第2連接器 4 4 2 ’與未圖示之測試器之間送受電訊號。又,欲檢査 其他種類之印刷電路基板時,更換探針板4 1 2。第4圖 (B)係顯示安裝板4 1 1之形狀,第4圖(C)係顯示 探針板4 12之形狀。 第4圖(A)顯示上部裝置之上部構件31之一例, .但本發明並非限定於第4圖之構成。例如,未藉安裝板 4 1 1而把探針板4 1 2直接固定於連結構件3 3之構成 也可以。 以上,說明印刷電路基板之檢査裝置1 〇之實施形態 ,但本發明並非限定於上述之實施形態,使用內裝彈簧之 空氣壓力缸或油壓力缸或步進馬達等之其他驅動裝置來取 代本實施形態之空氣壓力缸也可以。 又*就檢査印刷電路基板之上面及下面之情形說明, 但只檢査片面時也可使用本發明之檢査裝置。舉例來說* 欲只檢査印刷電路基板之下面時*代替上部裝置3 0之探 針3 5而安裝支柱。以前述支柱來從上面支持印刷電路基 板2 5的關係,以下部裝置4 0之探針4 5從下面對印刷 電路基板2 5相加壓力時,不會使印刷電路基板2 5浮起 ,能夠檢査印刷電路基板2 5之下面。 又,就用部構件,下部構件及連結構件構成下部裝 置之例來說明,但省略下部構件與連結構件,把空氣壓力 HII1III1I — · I — {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂. 線· 本纸張尺度適用中a β家標準(CNS)A4规格(210 X 297公釐) -15- r A3SB3 2 A7 B7 經濟部暫慧财產局貝工消费合作社印製 五、發明說明(13 ) 缸之軸直接連接於上部構件也可以。該時,可以考量軸係 兼做與軸之徑相同大小之下部構件與連結構件》 再者,第1圖所示裝置之上下予以倒過來之裝置(以 下,簡稱爲逆型式裝置)也可實行與第1圖之裝置類似之 動作》例如,第1.圖之裝置之上部裝置係相當於逆型式裝 置之下部裝置,第1圖所示裝置之下部裝置之上部構件係 相當於逆型式裝置之上部裝置之下部構件。 〔發明之效果〕 本發明之印刷電路基板之檢査裝置係可用單一之驅動 裝置可使檢査印刷電路基板之上面之上部裝置及檢査印刷 電路基板之下面之下部裝置上下動作之。其結果,可小型 化及輕量化印刷電路基板之檢査裝置。又,不需要以探針 檢査時驅動上部裝置用之專用驅動裝置的關係,可簡化檢 査裝置之上部構造,可容易地更換上部裝置之具有探針之 上部構件及下部裝置之具有探針之上部構件。 〔圖式之簡單說明〕 第1圖係顯示開始檢査印刷電路基板以前之檢査裝置 之狀態之槪略圖》 第2圖係顯示上部裝置下降時之檢査裝置之狀態之槪 略圖。 第3圖係顯示實行印刷電路基板檢査時之檢査裝置之 狀態之槪略圖。 本紙張尺度適用令國國家標準<CNS〉A4 «掊<210 * 297公茇> (靖先《讀背面之注意事項再 -I 1·· 訂· 線- r 436632 A7 ___B7_ 五、發明說明(14 ) 第4® (A)係顯示上部裝置之上部構件之構造之槪 略圖’ (B)係顯示上部裝置之上部構件之安裝板形狀之 斜視圖· (C)係顯示上部裝置之上部構件之探針板之形 狀之斜視圖。, 第5圖係顯示以往印刷電路基板之檢査裝置之槪略圖 〔圖號之說明〕 10 印刷電路基板之檢査裝置 20 支持體 |泰裝 <請先《讀背面之注意事項再 2 1 基座 2 4 印刷基板支持板 2 5 印刷電路 基板 3 0 上部裝置 31 上部裝置之上部構件 3 2 上部裝置之下部構件 • 33 上部裝置之連結構件 4 0 下部裝置 4 1 下部裝置之上部構件 4 2 下部裝置之下部構件 43 下部裝置之連結構件 5 1 空氣壓力缸 52 空氣壓力缸軸 訂· 線· 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 本紙張尺度適用中B國家標準(CNS〉A4洗格(210 X 297公釐〉 -17-

Claims (1)

  1. 43δ€3 2 Α8 Β8 C8 D8 經濟部中央榣隼為Λ工消费合作杜印«. 六、申請專利範囷 1·—種印刷電路基板之檢査裝置•係從前述印刷電 #基板之上面及下面,把探針接觸配置在預定位置之印刷 電路基板來檢査前述印刷電路基板之印刷電路基板之檢査 裝置|其特徵爲包括: 具有將前述印刷電路基板保持在預定位置之印刷電路 基板保持部之支持体, 具備檢査前述印刷電路基板之上面用之探針之上部裝 置, 具備檢査前述印刷電路基板之下面用之探針之下部裝 置,及 使前述上部裝置及前述下部裝置上下移動用之單一之 驅動裝置; 前述上部裝置與前述下部裝置係以上下移動自如之狀 態保持在前述支持體之同時· 前述驅動裝置係把前述上部裝置與前述下部裝置對前 述支持體相對地上下移動自如之構成者。 2.如如申請專利範圍第1項之印刷電路基板之檢査 裝置,其中前述上部裝置係包括具備前述探針之上部構件 ,與前述驅動裝置結合之下部構件,及連接兩者之連結構 件所成; 前述下部裝置係包括具備前述探針之上部構件,與前 述驅動裝置結合之下部構件,及連結兩者之連結構件所成 者。 3·如申請專利範圍第2項之印刷電路基板之檢査裝 <請先《讀背面之注項再填寫本1Κ) ·,τ^*I 訂 本纸張尺度逋禺中困家#準(CNS ) A4«l格(210X297公釐) • 18 - 43663 2 A8 B8 C8 D8 經濟部中夬樣準扃Λ工消费合作社印4 六、申請專利範困 置’其中前述上部裝置之下部構件與前述下部裝置之下部 構件之間隔’以及前述上部裝置之上部構件與前述下部裝 置之上部構件之間隔之和係在前述上部裝置與前述下部裝 置上下移動之過程中成一定之値之構成者* 4. 如申請專利範圍第2項之印刷電路基板之檢査裝 置’其中前述驅動裝置係配置在前述上部裝置之下部構件 與前述下部裝置之下部構件之間,前述驅動裝置改變前述 上部裝置之下部構件與前述下部裝置之下部構件之間隔之 結果•使前述上部裝置與前述下部裝置上下移動之構成者 〇 5. 如申請專利範圍第4項之印刷電路基板之檢査裝 置,其中加大前述上部裝置之下部構件與前述下部裝置之 下部構件之間隔時,前述上部裝置下降之後,前述下部裝 置上昇之構成者· 6. 如申請專利範圍第5項之印刷電路基板之檢査裝 置,其中限制前述上部裝置之下降之結果,使前述下部裝 置上昇之構成者。 7. 如申請專利範圍第4項之印刷電路基板之檢査裝 置,其中縮小前述上部裝置之下部構件與前述下部裝置之 下部構件之間隔時,前述下部裝置下降之後,使前述上部 裝置上昇之構成者。 8. 如申請專利範圍第7項之印刷電路基板之檢査裝 置,其中限制前述下部裝置之下降之結果,使前述上部裝 置上昇之構成者》 I --I — I — I (请先《讀背*之注f項再填寫本霣) 订 本紙3L尺度埴用中·麟家#率(CNS ) A4洗格(210X297公釐) ^3663 2 AS Β8 C8 D8 六、申請專利範園 9 .如申請專利範圍第1項之印刷電路基’板之檢査裝 置’其中前述上部裝置之重量與前述下部裝置之重量之和 係大於相加在檢査前述印刷電路基板時設在前述上部裝置 之前述探針全體壓力之和之構成者。 (請先M1*背面之注f項再填寫本頁) 經濟部中夫標隼扃負工消费合作社印装 -20· 本紙張尺度逋用中國國家#準(CNS ) Λ4规格(2丨0X297公着)
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