TW434477B - Design method of easy checking and formation method of checking input series - Google Patents

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TW434477B
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Toshinori Hosokawa
Tomoo Inoue
Hideo Fujiwara
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Matsushita Electric Ind Co Ltd
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Description

經濟部中央棣準局員工消費合作社印製 434^177 A7 __B7_ 五、發明説明彳) 〔發明所屬之技術領域〕 本發明係有關積體電路(L S I )之檢査容易化之設 計及檢査系列之生成(形成),尤其,饜於對於以暫存器 轉移位準(RTL,Resister Transfer Level )所設計之積體路 之RTL迴路,進行檢査容易化設計及檢査系列生成之技 術者。 〔習知技術〕 做爲代表性之檢査容易化設計之手法.有掃描設計方 法。所謂掃描設計方法係將被邏輯設計之積體電路內之正 反器(FF),予以置換成可從外部直接進#控制(scan in )及観測(Scan out)之掃描FF,且使顒序迴路之檢 査輸入生成問題予以簡略化成組合迴路之問題,以令檢査 系列之形成可成爲容易者(請參照1 9 9 0年,Computer Science Press 社所發行之「Digital Systems Testing and Testable Design」,第 9 章 Design For Testability ) e 做爲習知之掃描設計方法乃具有,所有之F F置換成 掃描F F之全掃描設計手法,或爲了解除在前述全掃描設 計手法之面積整個爲大等之問題,而僅使困難於控制•觀 測之部位予以置換爲掃描F F之部分掃描之設計手法,且 主要以閘極位準來進行》 〔發明擬解決之課題〕 然而,依據習知之在閘極位準之部分掃描設計手法, 本紙張尺度適用中國國家標牵(CNS ) Α4規格(210X297公釐) ----------装------訂------r J (請先閱讀背面之注意事項再填Μ·本頁) 434 47 A7 B7 經濟部中央樣準局—Η消費合作社印裝 五、發明説明4 ) 由邏輯合成所生成之閘極位準之電路動作時序,會由於掃 描設計而受影響,以致具有無法保證正常動作之場合•爲 此,會產生設計中途回行至原來之開始處(重新設計)· 而具有所謂設計期間成爲長期化之問題* 爲此•最近提案有,在較閘極位準在抽象度爲高之暫 存器轉移位準(RTL)中·進行部分掃描設計之手法。 例如*對於以RTL所設計之積體電路「RTL電路 (迴路)」提案在所指定之掃描化比例之範圍中,以使用 可檢査性標準(尺度)來決定所要掃描化之暫存器之方法 〔1 9 9 5 年,ASPDAC (Asia and South Pasific Design Automation Conference),pp209 〜216,「Design For Testability Using register Transfer Level Partial Scan Selection」〕。 然而I依據前述之RTL之部分掃描設計手法,要在 R T L予以保證高的故障偵測率極爲困難。亦即,在前述 之RTL之部分掃描設計方法,因採取在所指定之掃描化 比例之範圍中,儘可能地來增進故障偵測率之態度,因 而,必需使所謂決定掃描化用之暫存器,邏輯合成,掃描 路徑插入,檢査系列生成之一連之過程,重複地進行直至 可獲得高的故障偵測率爲止。爲此,做爲掃描化設計整體 言會花費時間•其結果•具有所謂檢驗設計成本形成增大 之問題。 本發明乃鑑於前述之問題,以提供在RTL中予以設 計變更來使積體電路成爲檢査容易,且在RTL中可保證 {請先W讀背面之注意事項再填寫本頁) 衣· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公麓) -5- A7 ________B7______ 五、發明说明系) 高的故障偵測率之檢査容易化之設計方法,爲其第1課 題ί 又本發明係擬提供一種對於具有如以前述之方法被形 成檢査容易化之RTL迴路之檢査容易構造的RTL迴 路,可容易地生成(形成)檢査系列之檢査系列形成方 法,爲其第2課題* 〔解決課題用之手段〕 爲了解決前述第1課題,請求項1之發明所採取之解 決手段,係做爲對於以暫存器轉移位準(RTL,Resister Transfer Level )所設計之爲稹體電路之RTL迴路,予以 進行設計變更來形成製造後之檢査成爲容易檢査之容易化 之設計方法,其特徵爲具備有: 經濟部中央標隼局—工消资合作社印袈 (請先Μ讀背面之注意事項再填艿本頁) 指定檢査爲容易之電路構造之第1過程:及 檢査時之前述RTL電路之構造,將要掃描化之暫存 器之通常資料輸入視爲假外部輸出,而在資料輸出視爲假 外部輸入之時•就從前述RTL電路之暫存器中,予以決 定要掃描化之暫存器成爲在第1過程中所指定之爲檢査容 易之電路構造用之第2過程* 依據請求項1之發明,將檢査時之RTL電路之構 造,因予以決定要掃描化之暫存器成爲在第1過程中所指 定之爲檢査容易之電路構造,因而,可在上流設計階段予 以保證高的故障偵測率。又在RTL予以進行檢査容易化 設計時*可大幅度地減少半途折回(重新設計)之情事, 本紙張尺度適用中囷國家標準(CNS ) Α4说格{ 210X297公* ) -6- 3 Λ ^ Οί iuuoo T d 7 中文說明書修正頁 民國787年11月呈 B7 五、發明説明(4 Μ 煩請委員明示,本¾¾ 是否泛更原實質内免 致使較傳統上可縮短L S I之設計期間。 而在請求項2之發明,係在前述請求項1之檢査容易 化設計方法之第1過程中所指定之爲檢査容易之電路構 造,係不包括反饋迴路之無閉路(無閉環)構造者。 又在請求項3之發明,在前述請求項1之檢查容易化 設計方法之第1過程中所指定之爲檢查容易之電路構造, 係η重排列構造(η爲自然數)者。 又在請求項4之發明,係在前述請求項1之檢查容易 化設計方法之第1過程中所指定之爲檢查容易之電路構 造’係具有組合檢查輸入生成複雜度之構造者。 又在請求項5之發明,係在前述請求項1之檢查容易 化設計方法之第1過程中所指定之爲檢查容易之電路構 造’係在從外部輸入或假外部輸入直至外部輸出或假外部 輸出舄止之各路徑中,暫存器之個數爲η種以下(η爲自然 數),而在時基擴展時多重性會成爲η之η重無閉路構造。 又在請求項6之發明,係在前述請求項1之檢查容易 化設計方法之第1過程中所指定之爲檢查容易之電路構 造’係在從外部輸入或假外部輸入直至外部輸出或假外部 輸出爲止之各路徑中,構成組合功能零件之閘極階段數目 爲η以下(η爲〇或自然數)之構造^ 而在請求項7之發明,係前述請求項1之檢查容易化 設計方法,係在第2過程中決定了要掃描化之暫存器的 RTL電路具備有,當要掃描化之暫存器的通常資料輸入 視爲假外部輸出,並將資料輸出視爲假外部輸入時,對於 本紙张尺度延川中丨31¾家標芈((.NS ) Λ4規格(2Ι0Χ297公羧) (ίί先間讀背而之α意事項本Π j ΐιτ 線-1. 3 Δ 經濟部中央標準局負工消f合作社印裳 Λ ΛΊ 1 Α7 _Β7____五、發明説明ί ) 從一(負)之假外部輸入直至外部輸出或假外部输出爲止 之各路徑,予以追加決定要掃描化之暫存器使之暫存器個 數成爲相同之第3過程。 又在請求項8之發明,係前述請求項1之檢査容易化 設計方法的第2過程係具備有:將前述RT L電路分成爲 複數之方塊(部件)之第1處理:在各方塊中,將從該方 塊之輸出逆向朝著輸入側且僅通過組合功能零件來到達之 暫存器,予以以決定爲要掃描化之暫存器的第2處理:及 在檢査時之各方塊之構造,將要掃描化之暫存器之通常資 料輸入視爲假外部輸出,且資料輸出視爲假外部输入時, 就從前述R T L電路之暫存器中決定要掃描化之暫存器, 以形成爲前述檢査容易之電路構造用的第3處理· 又爲了解決前述第2課題,請求項9之發明所採取之 解決手段*係做爲對於以暫存器轉移位準(RTL,Resister Transfer Level )所設計之積體電路之RTL電路,生成檢 査系列之檢査系列生成方法,其特徵爲:前述RTL電路 係在檢査時成無閉路構造,或已決定了要掃描化之暫存 器,且在檢査時,將要掃描化之暫存器之通常資料输入視 爲假外部輸出且資料輸出視爲假外部輸入時•就使之成爲 無閉路構造,並具備有:變換前述RTL電路成爲被時基 擴展忘閘極位準之電路的時基擴展組合電路之第1過程: 對於前述第1過程所生成之時基擴展組合電路,生成檢査 輸入用之第2過程:及將前述第2過程所生成之檢査輸 入,以依據在前述第1過程所生成之時基擴展組合電路之 (請先W讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準{ CNS ) A4規格(210X297公釐) -8- 3 Δ 經濟部中央標準局員工消费合作社印裝 4 47 7 A7 __ _B7五、發明説明ί ) 各外部輸入及假外部輸入所龎之時框資訊,而變換成對於 予以邏輯合成前述R T L電路所能獲得之閘極位準電路之 檢査系列用之第3過程者。 依據請求項9之發明,在第1過程,將變換RTL電 路爲可容易生成檢査輸入之閘極位準時基擴展組合電路, 而在第2過程中,對於該時基擴展組合電路予以生成組合 電路用之檢査輸入,且在第3過程,將前述檢査輸入予以 變換成被掃描化之順序電路用之檢査系列。由而,可容易 地生成對於使RT L電路進行遍輯合成所獲得之閘極位準 電路之檢査系列。 而在請求項1 0之發明,係前述請求項9之檢査系列 生成方法之第1過程係具備有:對於前述RTL電路,以 所定之評估指標爲依據來進行時基擴展之RTL時基擴展 處理;對於前述RTL電路進行邏輯合成,以變換成間極 位準之電路之邏輯合成處理:及以依據在前述RTL時基 擴展處理中所求出之被時基擴展之RT L電路,和在前述 邏輯合成處理中所生成之閘極位準之電路來生成前述時基 擴展組合電路用之檢査系列生成用電路生成處理者。 再者,在請求項1 1之發明,係前述請求項1 0之檢 查系列生成方法之RT L時基擴展處理,係使用存在於各 時框之組合功能零件之個數總和或存在於各時框之組合功 能零件之估計閘極數之總和做爲評估指標來對於前述 RTL電路進行時基擴展,以令該評估指標使之成爲更小 者。 (銪先閲讀背面之注意事項再填邦本頁) 本紙張尺度通用中國國家標準(CNS >A4*l格(210Χ297公釐) •9- Λ3άάΊ1 A7 B7 經濟部中央標準局貝工消费合作社印聚 五、發明说明f ) 又在請求項1 2之發明,係前述請求項1 〇之檢査系 列生成方法之RTL時基擴展處理,係使用假外部输入或 假外部輸出所存在之時框個數做爲前述所定之評估指標來 對於前述R T L電路進行時基擴展,以令該評估指標使之 成爲更小者。 又在請求項1 3之發明,係前述請求項1 0之檢査系 列生成方法之RT L時基擴展處理,係使用從各假外部輸 入所存在之時框數量之總和和各假外部输出所存在之時框 數量之總和•予以減去在所對應之假外部輸出所存在之時 框之其次時框,所對應之假外部输入所存在之暫存器之個 數來做爲前述評估指標,而對於前述RTL電路進行時基 擴展,以令該評估指標使之成爲更小者。 又在請求項1 4之發明,係前述請求項1 0之檢査系 列生成方法之RTL時基擴展處理,係使用存在於各時框 之外部輸入之個數的總和做爲前述所定之評估指標,而對 於前述RTL電路進行時基擴展,以令該評估指標使之更 爲大者》 而在請求項1 5之發明,係前述請求項1 0之檢査系 列生成方法之RT L時基擴展處理乃具備有:對於前述 RT L電路之各外部輸出及假外部输出,予以個別求出最 大順序深度之第1處理;將依照從在前述第1處理所計算 之最大順序深度(maximum sequential depth)爲大者之順 序來分類前述R T L電路之各外部输出及假外部輸出之第 2處理:將在前述第1處理所計算之最大順序深度之最大 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本页) 訂 本紙張尺度速用中國國家標隼(CNS)A4規格(2丨0X297公釐) -10- A7 B7 經濟部中央標率局負工消资合作社印製 五、發明説明έ ) 値加上1之値,做爲時基擴展之時框數量來設定之第3處 理;及對於各外部输出或假外部輸出,以成前述第2處理 之分類結果之順序,且依據所定之評估指標來進行時基擴 展之第4處理者》 又在請求項16之發明1係前述請求項10之檢査系 列生成方法之前述第1過程乃對於前述RT L電路,將在 連結互相之路徑具有組合(Group)化暫存器,外部输入及 外部輸出均不會屬於之組合功能零件用之前處理•且前述 RTL時基擴展處理,係要使前述前處理所加以組合化之 組合功能零件,做爲一個組合功能零件來進行時基擴展 者,而前述邏輯合成處理係使前述前處理加以組合化之組 合功能零件,做爲單位來進行邏緝合成者· 又在請求項1 7之發明,係前述請求項9之檢査系列 生成方法之第1過程係具備有,對於前述RTL電路要進 行邏輯合成之邏輯合成處理•及對於前述邏輯合成處理所 生成之閘極位準電路,以依據所定之評估指標來進行時基 擴展•而生成前述時基擴展組合電路之閘極位準時基擴展 處理者。 而在請求項1 8之發明,係前述請求項1 7之檢査系 列生成方法之閘極位準時基擴展處理係使用存在於各時框 之閘極之個數之總和做爲前述所定之評估指標,而對於前 述閘極位準之電路進行時基擴展,以令該評做指標使之更 爲小者。 又在請求項1 9之發明,係前述請求項9之檢査系列 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中S國家樣準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -11- 434477 A7 _B7______ 五、發明説明4 ) 生成方法之第3過程係以構成對應於存在於一(負)之時 框之假外部輸出之暫存器的掃描F F,及構成對應於存在 於前述一(負)之時框之其次時框之假外部输入之暫存器 的掃描F F,而構成爲一個掃描路徑,以變換前述檢査輸 入成檢査系列者》 〔發明之實施形態〕 以下,將參照圖式之下來說明有關本發明之實施形 態。 (第1實施形態) 經濟部中央樣瘅局員工消費合作社印袈 (請先閱讀背面之注$項再填寫本頁) 圖1係顯示在有關本發明之第1實施形態之檢査容易 化設計方法之處理流動之流程圖。圈1中· S 1 1係做爲 要指定爲檢査容易之電路構造的第1過程之步騍,S 1 2 係對於以暫存器轉移位準(RTL,Resister Transfer Level ) 所設計之積體電路之RTL電路,從RTL設計資料來生 成取方圖表之步驟,S 1 3係在檢査時之前述RTL電路 之電路構造,當在要掃描化之暫存器之通常資料输入視爲 假外部輸出,而資料視出視爲假外部輸入之時,就做爲決 定應在步驟S 1 2所生成(形成)之取向圇表置換成掃描 暫存器之暫存器(要掃描化之暫存器)用之第2過程之步 驟,以形成在步驟S 1 1所指定之電路構造· 在步驟S 1 1,做爲檢査容易之電路構造,將指定無 閉路構造,η重排列構造(π爲自然數)或具有組合檢査 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(2〗0Χ297公釐) -12- 3 Δ 經濟部中央標隼局貝工消费合作社印裂 4 47 7 A7 ___'_B7五、發明説明彳0 ) 輸入生成複雜度之構造。 所謂無閉路構造乃指不含有反饋迴路於電路中者•所 謂η重排列構造乃指對於電路中之暫存器和外部輸出或假 外部輸出之任意之成對,有關該成對之暫存器和外部输出 或假外部輸出間之各路徑的順序深進度具有η種類以下之 構造者•而具有η重排列構造之電路,當對於任意之外部 輸出或假外部輸出進行時基擴展時,具備各暫存器所存在 之時框個數會個別被限定於η以下之性質。又所謂具有組 合檢査输入生成複雜度之構造乃指具備有對於可適用於組 合電路之檢查系列生成演算法的程度之複雜度的構造者。 圖2係顯示由構造所形成之同步式順序電路之分類 圖。如圖2所示,無閉路構造包含有η重排列構造,而η 重排列構造乃包括具有組合檢査輸入生成複雜之構造。 又在步驟S 1 δ所生成(形成)之取向圖表,係以節 點來表示組合功能零件或暫存器等之功能零件,並將各節 點間之資料轉移以稜(edge )來表示者。再者,有關包括 有限狀態機(finite state machine )之RTL電路,係僅將 有限狀態機予以邏輯合成而使RTL電路整體以暫存器和 組合功能零件之連接來表現之後,方予以生成取向圔表。 或將包含於有限狀態機之暫存器作爲可掃描化者,並以暫 存器和組合功能零件來生成取向圖表》 將以具體性之電路爲例子,並參照圖3〜圖6來說明 有關本實施形態之檢査容易化設計方法。 圖3係顯示在步驟S12從RTL設計資料所生成之 (锖先Μ讀背面之注意事項再填艿本页) 本紙張尺度適用中®國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) • 13- Λ34 47 7 Α7 Β7 經濟部中央樣準局員工消費合作社印紫 五、發明说明彳1 ) 有關本實施形態之檢査容易化設計方法做爲對象之Rtl 電路之一例子的取向圖表。圖3中,a〜κ爲組合功能零 件,regi〜reg9爲暫存器,PI 1、PI2爲外部 输入,P01、 P02爲外部输出。如圖3所示之取向圖 表,在實際之檢査容易化設計中,有以圖來記述之場合, 亦有以Verilog-HDL等之功能能語言來記述之場合。 圖4係顯示在步驟S11做爲檢査容易之電路構造予 以指定無閉路構造時,在步驟S 1 3決定對於圖3所示之 R T L電路要掃描化之暫存器之結果的圖•如圖所示,在 原來之取向圖表在有,暫存器regl、 reg2、 r eg6及組合功能零件A、B,F所形成之迴路1 *私 暫存器regl、 reg2、 reg8及組合功能零件 A、 B、 Η所形成之迴路2,及暫存器reg4及組合功 能零件D所形成之迴路3的3個反饋迴路•迴路1、迴路 2因均包含暫存器regl、 reg2,因而,只要置換 暫存器regl、 reg2之任何之一爲掃描暫存器之 時,迴路1、迴路2均可予以分開(Break )。又在迴路 3 ·若置換暫存器r eg4爲掃描暫存器時,可予以分開 (Break)。爲此,如圈所示,將附有陰影線之暫存器re g2、 reg4決定做爲要掃描化之暂存器。 圖5係顯示在步驟S11做爲檢査容易之電路構造予 以指定1重排列構造時,在步驟S 1 3決定對於圇3所示 之RTL電路要掃描化之暫存器之結果的圖。所謂1重排 列構造係將η重排列構造中,將構成爲n = 1者,亦即, (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中因國家標隼{ CNS ) Α4現格(210Χ297公t ) -14- 434 Λ7 7 經濟部中决標準局負工消资合作社印繁 Α7 Β7五、發明説明彳2 ) 指從某暫存器直至外部輸出或假外部輸出爲止之各路徑之 順序深度爲一種類之構造者。換言之•在1重排列構造, 各暫存器係直至某外部輸出或假外部输出爲止之路徑,並 不通過自己,且在前述各路徑之暫存器之個數爲一種者。 如圖5所示,在原來之取向圓表中,暫存器r e g 1、 reg2、 reg4、 reg6、 reg8乃由於反 饋迴路之存在,而直至外部輸出P01、 P02爲止之通 過自己之路徑有存在著,而暫存器r e g 3係直至外部輸 出P0 1爲止之路徑中,暫存器之個數有2種(2個和1 個)。因此,原來之RTL電路並非爲1重排列構造。爲 此,若使暫存器reg2、 reg4置換成掃描暫存器之 時,就會消除具有通過自己之路徑的暫存器,因此,若予 以置換暫存器r e g 3爲掃描暫存器之時,各暫存器會在 直至外部輪出或假外部输出爲止之路徑中,可令暫存器之 個數爲一種,而RTL電路會成爲1重排列構造·因此, 將如圖5所示,附有陰影線之暂存器reg2、 reg 3、 reg4予以決定做爲掃描化之暫存器· 圖6係顯示在步驟S11做爲檢査容易之電路構造予 以指定組合外部输入生成複雜度之構造(平衡構造)之場 合時,在步驟S13決定對於圔3所示之RTL電路要掃 描化之暫存器之結果的圖。圖6中*從外部输入P I 1直 至外部輸出P 0 1爲止之暫存器之個數並非一種,而從外 部輸入PI2直至外部輸出P02之個數亦並非一種。惟 置換暫存器reg2、 reg4、 reg7爲掃描暫存器 (谛先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國困家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -15- 434477 Α7 Β7 五 '發明说明彳3 ) 之時,電路就成爲平衡構造。爲此,如圖6所示,將附有 陰影線之暫存器reg2. reg4、 reg7決定做爲 要掃描化之暫存器。 以如上述,RTL電路之構造,當要掃描化之暫存器 之通常資料輸入視爲假外部输出,資料輸出視爲假外部输 入時,因將會決定要掃描化之暫存器,使之形成無閉路構 造、η重排列構造,具備組合檢査輸入生成複雜度之構造 等之檢査容易的電路構造,因而|可在上流設計階段予以 保證高的故障偵測率。又在進行邏輯合成之時,由於已決 定要掃描化之暫存器,因而•由邏輯合成所生成之閘極位 準之電路的動作時序,並不會受到由以後(以下)之掃描 設計而產生之影響,使之設計之中途返回原處之情事可大 幅度地加以減少。 (第2實施形態) 經濟部中央樣準局黃工消费合作社印繁 (请先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 圖7係顯示在有關本發明之第2實施形態之檢査容易 化設計方法時之處理流程的流程圖。圖7所示之有關本實 施形態之檢査容易化設計方法,係在圖1所示之有關第1 實施形態之檢査容易化設計方法,予以追加做爲決定要掃 描化之暫存器用之第3過程的步驟S14者》 步驟S14係對於在步驟S13決定了要掃描化之暫 存器的RTL電路,當要掃描化之暫存器之通常資料輸入 視爲假外部輸出,而資料輸出視爲假外部輸入之時,對於 有關就從一(負)之假外部输入直至外部输出或假外部输 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4规格{ 210X297公釐) -16- 434477 經濟部中央橾单局員工消费合作杜印製 A7 _____B7_______五、發明説明<4 ) 出爲止之各路徑,追加決定要掃描化之暫存器,以令暫存 器之個數可成爲相同之處理者。 圖8係顯示在步騍S12從RTL設計資料所形成之 有關本實施形態之檢査容易化設計方法爲對象之RT L電 路之一例子的取向圖表》圖8中,A〜D爲組合功能零 件,regl〜reg4爲暫存器,PI1,PI2爲外 部輸入,P01爲外部輸出。而在圖8,做爲在步騍S1 1時之檢査容易之構造,予以指定爲無閉路構造者,且在 原來之取向圖表,因存在有從暫存器regl、 reg3 及組合功態零件B、C所形成之迴路,因而,爲使分離( Break )該迴路,將予以決定附有陰影線之暫存器r e g 1 做爲要掃描化之暫存器。 圖9係顯示將圖8所示之R 丁 L電路,令已決定做爲 要掃描化之暫存器之暫存器r e g 1之通常資料輸入變換 做爲假外部輸出PP01,及變換資料輸出做爲假外部輸 入PP I 1之結果的圖。圖9中,從假外部输入PP I 1 直至外部輸入P 0 1爲止之各路徑之暫存器之個數因有兩 種(1個和2個),爲此》爲使該等成爲1種,將在步驟 S 1 4,予以追加決定附有陰影線之暫存器r e g 4做爲 要掃描化之暫存器。 以如上述,當要掃描化之暫存器之通常資料输入視爲 假外部輸出,而資料输出視爲假外部輸入之時*以追加決 定要掃描化之暫存器來使暫存器之個數成爲相同,因而* 在對於某故障之掃描用檢査系列中,可加以限定移位動 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙张尺度適用中國國家標隼(CMS ) A4規格(210X297公釐) -17- 43^477 A7 B7 五、發明説明彳5 ) 作’以致可縮短檢査系列 經濟部中央梂车局負工消费合作社印製 (第3實施形態) 本發明之第3實施形態係有關對於RTL電路生成檢 査系列用之檢査系列生成方法者。有關本實施形態之檢査 系列生成方法及以由有關第1或第2之實施形態之檢査容 易化設計方法來已被決定有要掃描化之暫存器之RT L電 路做爲對象者》甚至在檢査時,原來就爲無閉路構造之 R T L電路,或要掃描化之暫存器已被決定,且在檢査 時'將要掃描化之暫存器之通常資料輸入視爲假外部输 出,而資料輸出視爲假外部輸入時,成爲無閉路構造之R TL電路,亦可做爲有關本實施形態之檢査系列生成方法 之對象。 圖10係在有關本發明之第3實施形態之檢査系列生 成方法之處理流程的流程圖•圖1 0中· S 2 0係對於做 爲對象之RT L電路進行時基擴展,以生成(形成)時基 擴展RTL電路之同時•予以記億存在有各外部输出及假 外部輸出之時框用之步驟· S 3 1係予以邏輯合成前述R TL電路來生成閘極位準電路之歩騍· S 3 2係由在步驟 S 2 0所記憶之各外部输出及假外部输出之時框來個別進 行閘極位準電路之時基擴展*並將被時基擴展之閘極位準 之電路的時基擴展組合電路*以做爲檢査系列生成用電路 來生成,以記億存在有各外部输入及假外部输入之時框的 步驟,S 3 3係對於在步驟S 3 2所生成之時基擴展組合 请 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 本紙張尺度適用中S國家標準(CNS ) A4规格(2I0X297公釐) -18- A7 B7 經濟部中央標窣局員工消费合作社印製 五、發明説明<6 ) 電路,生成多重退化故障爲對象之組合電路用之檢査輸入 的步驟* S 3 4係將在步驟S 3 2所生成之檢査輸入,以 依據在步驟S 3 2所記憶之存在有各外部输入及假外部輸 入之時框資訊來變換成順序電路用之檢査系列之步驟, S 3 5係將在步驟S 3 4所變換之檢査系列予以變換成考 慮到掃描之移位動作之掃描用檢査系列的步騍。以步驟 S20、S 3 1 , S32來構成爲第1過程,又以步驟 S33來構成爲第2過程,且以步驟S34、 S35來構 成爲第3過程。 首先,將參照圖1 1〜圖2 0之下來說明有關步媒 S 2 0 - 圖11係顯示在有關本實施形態之檢査系列生成方法 之步驟S20之詳細之處理流程的流程圖。圖1 1中, S 2 1係對於各外部輸出及假外部输出,個別求出外部輸 入或假外部輸入爲止之順序深度之最大値,則最大順序深 度的步驟,S 2 2係以最順序深度爲大的順序來分類各外 部輸出及假外部輸出的步驟· S 2 3係設定時基擴展之時 框數量用的步驟,S 2 4〜S 2 6係對於各外部輸出及假 外部輸出,以在步驟S 2 2之分類結果之順序,且依據所 定之評估指標來進行時基擴展之步驟者。 圖12係顯示有關本實施形態之檢査系列生成方法做 爲對象之RTL電路之一例子的取向圖表。圖1 2中,A 〜I爲組合功能零件,regl〜reg7爲暫存器, P I 1〜P I 3爲外部輸入,PP I 1爲假外部输入, (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) >衣. 訂 本紙張尺度適用中困國家標準(CNS)A4¾格{2I0x297公t) -19- Α3Λά11 Α7 Β7 經濟部中央搮集局员工消費合作社印裂 五、發明説明彳7 ) P01爲外部输出,ρροι爲假外部输出。 首先,在步騍S21*對於外部输出P01及假外部 輸出PP01 ,個別予以求出最大顒度深度。而有關外部 輸出P0 1,因直至外部輸入P I 1爲止之順度深度爲 2,直至外部輸入P I 2爲止之順度深度爲2,而直至假 外部輸入爲止之順度深度爲3,因而,最大順度深度爲 3。又有關假外部輸出PP0 1,因直至外部幢入P I 1 爲止之順度深度爲3,直至外部输入P I 2爲止之順度深 度爲3,而直至假外部翰入PP I 1爲止之順度深度爲 4,而•最大順度深度爲4。 接著,在步驟S 2 2,將以最大順度深度爲順序來分 類外部輸出P01及假外部輸出PP01。分類之結果, 形成爲假外部輸出PP01,外部輸出P01之順序。 接著,在步驟S 2 3,予以設定時基擴展之時框數 量。而對於時基擴展所必要之時框數量,係以加上1至各 外部輸出及假外部輸出之最大順度深度之最大値來供與, 因而,將對於所分類之結果之最先之假外部輸出P P 〇 1 之最大順度深度加上1之値,亦即5做爲時框數量來設 定。 以下,將在步驟S 2 4〜S 2 6予以進行RTL電路 之時基擴展。而在此之時基擴展,將在步驟S 2 2以每一 外部輸出或假外部輸出所分類之順序來進行。亦即,首 先*對假外部輸出Ρ Ρ0 1進行時基擴展,接著,對於外 部輸出Ρ 〇 1進行時基擴展。又在實施時基擴展之時•將 (請先Μ讀背面之注f項再填寫本頁) 笨· 本紙張尺度適用中國S家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) -20- Α7 Β7 經濟部中央標牟局負工消费合作社印製 五、發明説明彳8 ) 令外部輸出或假外部輸出要配置於那一個時框,乃依據所 定之評估指標來加以決定。 在此,將存在於各時框之組合功能零件之個數總和做 爲所定之評估指標來使用。且進行該評估指標之時基擴展 來使之更小。檢査系列生成用電路之規模乃槪略成比例於 存在於各組合功能零件之個數總和,又電路規模愈小•檢 査系列生成愈成容易,因而,可由使用存在各時框之組合 功能零件之個數總合做爲評估指標來進行時基擴展,就可 令檢査系列之生成使之成爲更容易* 圖1 3係顯示對於假外部輸出P P〇 1進行時基擴展 之結果之圖β因假外部輸出P P 0 1之最大順度深度爲 4 1爲此,對於該時基擴展所必要之時框數量爲5,與步 驟S 2 3所設定之時框數量爲相等*因此,假外部输出 ΡΡ01之位置,必定被決定時框數量爲5。 接著,對於外部輪出進行時基擴展•惟外部輸出Ρ 0 1之最大順度深度爲3,因此,對於該時基擴展所必要之 時框量就成爲4 »爲此,外部輸出Ρ0 1之位置會成爲時 框4或時框5,惟應以依據前述評估指標來決定應配置外 部輸出Ρ 0 1於時框4時時框5之那一個位置。 圓1 4係配置外部輸出Ρ 0 1於時框5時之圖。有關 等於假外部輸出Ρ Ρ 0 1之時基擴展的組合功能零件之個 數爲1 0,而有關對於外部輸出Ρ0 1之時基擴展的組合 功能零件之個數爲7,因而|若在各時框不具有組合功能 零件之重複之時,做爲前述所定之評估指標之存在於各時 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS )六4况格(210X297公釐} -21 - 4 經濟部中央橾準局員工消費合作社印製 3 4 47 7 A7 _B7五、發明説明彳9 ) 框的組合功能零件之個數總合成爲1 7。在圖1 4中*因 在時框2組合功能零件下有重複•而在時框3有組合功能 零件A重複,因而,所重複之組合功能零件之個數爲2。 因此,配置外部輸出P 〇 1於時框5之時的前述所定之評 估指標的値,就成爲從存在於未重複時之各時框之組合功 能零件之個數總和17 *減去所重複之組合功能零件之個 數的2之1 5。 圖15係配置外部輸出P01於時框4時之圖。在圖 1 5中,時框1有重複組合能零件下,在時框2則有重複 組合功能零件A、 F、 G,而在時框3乃組合功能零件 B、 Η有重覆,因而,所重複之組合功能零件之個數爲 6。因此,當配置外部输出Ρ 0 1於時框4之時之前述所 定之評估指標的値,就成爲從存在於未重複時之各時框之 組合功能零件之個數總和1 7,予以減去所重複之組合功 能零件之個數之6的11。 爲此,外部輸出Ρ0 1之位置*將決定於時框4。其 結果*予以時基擴展圖1 2所示之RTL電路之結果(時 基擴展RTL電路)乃成爲如圖1 6所示。而在步騄 S2 0,記憶假外部輸出ΡΡ01之位置爲時框5,外部 輸出Ρ0 1之位置爲時框4。 接著,在步驟S 3 1,進行RTL電路之邏輯合成* 以生成閘極位準之電路》圖1 7係顯示對於圖1 2所示之 RTL電路進行邏輯合成所生成之閘極位準之電路圖。 接著,在步騍S32,將從在步驟S20所求出之時 —J,-------策------訂------'J {#先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4洗格{ 210Χ297公釐) •22- 434477 M濟部中央標率局員工消費合作社印裂 A7 B7_________五、發明説明fo ) 基擴展RTL電路,及在步驟S 3 1所生成之閘極位準電 路,予以生成檢査系列生成用之被時基擴展之閘極位準電 路(時基擴展組合電路)*具體地說時,將做爲對象之 RTL電路之各外部输出及假外部输出•個別配置於在步 驟S 2 0所記億之時框,且依據在步驟S 3 1所生成之閘 極位準之電路資訊,從所配匱之各外部輸出及假外部輸出 以閘極位準來進行時基擴展•而生成時基擴展組合電路· 圖18係顯示依據匾16所示之時基擴展RTL電路及圖 1 7所示之閘極位準電路,在步驟S 3 2所生成之時基擴 展組合電路之圖β 接著,在步驟S 3 3 *對於在步驟S 3 2所生成之時 基擴展組合電路,予以生成多重組合電路用之檢査输入。 例如,對於圖1 8之時基擴展組合電路,予以生成如下之 故障偵測用之檢査输入。 ΡΙ1(2)=0,ΡΙ1(3)=1,ΡΙ2 (2)=0,PI3(4)=1,PPI1 (1)=0, P P I 1 ( 2 ) = 1 上面之括弧內之數字爲時框之號碼。例如^PP I 1 (10 = 0」乃表示有關在時框1之假外部输入PP I 1 之檢査輸入爲' CK » 接著,在步騍S34,將在步驟S33所生成之檢査 輸入,以依照各檢査输入及假外部輸入之時框位置來變換 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本页) 本紙乐尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公f ) -23- 43 4 47 7 A7 B7 經濟部中央樣準局貝工消費合作社印繁 五、發明説明如) 成順序電路用之檢査系列。有關圖1 8之時基擴展組合電 路之前述檢査輸入•將會被變換成如下之檢査系列。但X 乃表示隨意(無關,don、-care ) PI 1=X01XX*PI 2=X0XXX* PI 3=xxxix - PPI 1 = 01XXX 再者,在步驟S 3 5,將對於假外部輸入之檢査系 列,以考慮到掃描路徑之移位動作之下,予以變換成掃描 用檢査系列。而有關圖1 8之時基擴展組合電路,將有關 假外部輸入PPI1之檢査系列會被變換成掃描用檢査系 列- 如上所述,將存在於各時框之組合功能零件之個數總 和,做爲評估指標來使用,並進行在RTL之時基擴展來 使該評估指標成爲更小,而生成時基擴展電路,以致檢査 輸入生成用之組合電路會成爲更小規模•因此,檢査系列 之生成會形成更容易· 再者,在上述,雖使存在於各時框之組合功能零件之 個數總和,做爲評估指標來加以使用•惟亦可對於各組合 功能零件*應因於其種類來加分量之下而相加之値,做爲 評估指標來使用。又亦可對於各組合功能零件•預先估計 閘極數目,並將存在於各時框之組合功能零件之估計閘極 數目之總和,做爲評估指標來使用* 又在步騾S 2 0之RTL時基擴展時,擬決定一之外 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 本紙張尺度適用中國國家樣準(CNS ) A4規格(2丨OX297公釐) • 24- 經濟部中央標率局負工消費合作社印製 Μ _ Β7 ____五、發明説明如) 部輸出或假外部输出之時框位置之時,亦可不加以變更已 決定之外部输出或假外部输出之時框位置下,予以決定時 框位置使之評估指標可成爲最適宜》亦可決定時框位置來 使包括已決定之外部输出或假外部输出之時框位置之變 更,使之評估指標可成爲最適宜。 再者,使用於時基擴展之評估指標,並非僅限定於存 在於前述各時框之組合功能零件之個數總和。 在此,將做爲其他之評估指標之例子,予以使用存在 有假外部輸入或假外部輸出之時框個數》因存在有假外部 輸入或假外部輸出之時框個數,乃相當於將成爲故障偵測 用之檢査系列所必要之移位動作之次數,因而,該評估指 標之値愈小,愈能減少移位動作之次數,由而,可縮短檢 査系列之長度•因此,以進行時基擴展來使該評估指標之 値更爲小,則可縮短檢査系列。 圖1 9及圖2 0係潁示對於圖1 2之RTL電路進行 時基擴展之結果的圖,而圇1 9係配置外部输出P0 1於 時框5時之圖,圖2 0係配置外部输出P0 1於時框4時 之圖。如圖1 9所示,當配匱外部輸出P0 1於時框5之 時,因存在有假外部輸入PPI 1或假外部输出PP0 1 之時框爲4個(時框1、 2、 3、 5)·因而*評估指標 之値爲4。另一方面,如圖2 0所示,當配置外部输出 Ρ01於時框4之時,存在有假外部输入PPI1或假外 部輸出ΡΡII的時框爲3個(時框1、 2、 5),因 而,評估指標之値爲3。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 1Τ 本紙乐尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -25- 4 經濟部中央標準局負工消费合作社印製 4 47 7 A7 __B7_五、發明説明炎3 ) 因此,外部輸出P 0 1之位置,將決定爲評估指標之 値會成爲更小之時框4 »該狀況時,圖1 2所示之RTL 電路之時基擴展之結果,將成爲如圖1 6所示。 如上述,以依據所定之評估指標來使RTL電路進行 時基擴展,而生成檢査系列生成用之時基擴展組合電路* 則可令檢査系列之生成變爲容易,或予以縮短檢査系列* (第4實施形態) 本發明之第4實施形態係與第3實施形態同樣,係對 於在檢査時,已被決定爲無閉路構造之RTL電路,或要 掃描化之暫存器,且在檢査時,將要掃描化之暫存器之通 常資料輸入視爲假外部输出,並將資料输出視爲假外部輸 入之時,成爲無閉路構造之RT L電路,予以生成檢査系 列之檢査系列生成方法有關者》 圖21係顯示在有關本發明之第4實施形態之檢査系 列生成方法中之處理之流程的流程圖•如圖2 1所示,有 關本實施形態之檢査系列生成(形成)方法,乃與圖1 0 所示之有關第3實施形態之檢査系列生成方法·在步騍 5 3 3〜S 3 5上有共同處。 S 4 0係做爲對於成對象之RTL電路•將在連結互 相之路徑1令均不靥於外部输入及外部输出之任一的組合 功能零件,予以組合(Group )化用前處理之步驊,S41 係使在步驟S 4 0所組合化之組合功能零件,做爲1個組 合功能零件來對於前述RTL電路進行時基擴展,以生成 (請先Μ讀背面之注意事項再填商本頁) 本紙張尺度逍用中國國家標率(CNS } Α4規格(210Χ297公釐) -26- 經濟部中央標準局ΜΚ:工消费合作社印製 43447 7 A7 ________ B7 五、發明説明铋) 時基擴展RTL電路之步驟,S42係使在步騾S40所 組合化之組合功能零件做爲單位來進行邏輯合成,以生成 閘極位準之電路的步驟,S 3 4係由在步驟S 4 1所生成 之時基擴展RT L電路及步驟S 4 2所生成之每組合(集 Μ )之閘極位準來生成檢査系列生成用之時基擴展組合電 路,並予以記憶存在有各外部輸入及假外部輸入之時框的 步驟。而由步驟S40, S4i、 S42、 S43構成爲 第1過程。 圖2 2係表示有關本實施形態之檢査系列生成方法做 爲對象之RT L電路之一例子的取向圖表。在圓2 2中, Α〜I爲組合功能零件,regl〜reg6爲暫存器, P I 1爲外部輸入,PP I爲假外部输入,P01爲外部 輸出·ΡΡ0 1爲假外部輸出· 首先,在步驟S 4 0,將各組合功能零件Α〜I予以 組合化。在圖22,可由組合化組合功能零件A、 B而生 成組合P1*由組合化組合功能零件C、 D、 E、 F而生 成組合P2·及由組合化組合功能零件Η、 G、 I而個別 生成組合Ρ3、 Ρ4、 Ρ5·圖23係顯示由步驟S40 所形成之各組合功能零件之組合化之結果的圖· 接著,在步驟S41,對於圖23所示之RTL電 路,進行與第3實施形態之步驟S 2 0同樣之時基擴展* 圖2 4係顯示在步驟S 4 1所進行之時基擴展的結果所獲 得的時基擴展RTL電路圖。 接著|在步驟S42,以在步驟S40加以組合化之 本紙張尺度適用中國國家標準{ CNS ) Α4現格(2]ΟΧ297公釐) —;-------:^------ΪΤ------. j (請先閲讀背面之注項再填艿本頁) -27- 經濟部中央標準局負工消费合作社印製 434477 A7 ______B7___ 五、發明説明is ) 結果的各組合P 1〜P 5做爲單位來進行邏輯合成,以生 成對應於各組合P 1〜P 5之閘極位準之組合電路。而 後,在步驟S43,將對於在圓24所示之步驟S41所 生成之時基擴展RTL電路之各組合P 1〜P 5,予以分 配在步驟S 4 2所生成之閘極位準之組合電路,而生成如 圖2 5所示之時基擴展組合電路做爲檢査系列生成用電 路。至於從此以後之處理則與第3實施形態相同· (第5實施形態) 本發明之第5實施形態係與第3及第4之實施形態同 樣,係對於在檢査時,已被決定爲無閉路構造之RT L電 路,或要掃描化之暫存器,且在檢査時,將要掃描化之暫 存器之通常資料輸入視爲假外部输出,並將資料輸出視爲 假外部輸入之時,成爲無閉路構造之RTL電路*予以生 成檢査系列之檢査系列生成方法有關者。 圖2 6係顯示在有關本發明之第5實施形態之檢査系 列生成方法中之處理之流程的流程圖•如圖2 6所示,有 關本實施形態之檢査系列生成方法,係與有關第3及第4 之實施形態之檢査系列生成方法*在步驟S 3 3〜S 3 5 上有共同處。 « 5 1係予以邏輯合成做爲對象之RT L電路,以生 成閘極位準之電路的步驟,S 5 2係對於在步驟S 5 1所 生成之閘極位準電路,進行時基擴展•以生成檢査系列生 成用之時基擴展組合電路,並予以記憶存在有各外部输入 本紙乐尺度適用中囷國家標準(CNS ) A4规格(210X297公釐) I-^------H^-------訂------}· (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -28- 經濟部中央標準局員工消費合作社印袋 4 3 4 477 A7 _ _ _B7_______五、發明説明紐) 及假外部輸入之時框的步驟*而由步驟S51、 S52來 構成第1過程· 在步驟S 5 2之閘極位準時基擴展係與第3實施形態 之步驟S 2 0之RTL時基擴展同樣,將依據所定之評估 指標來進行者· 例如使用存在於各時框之閘極個數之總和做爲評估指 標進行在閘極位準之時基擴展|而令該評估指標成爲更 小•以生成時基擴展組合電路,就會使檢査系列生成變爲 容易》又因使用存在有假外部输入或假外部輸出之時框個 數做爲評估指標,因而,可縮短檢査系列。 (第6實施形態) 本發明之第6實施形態係與第3及第4之實施形態同 樣,係對於在檢査時•已被決定爲無閉路構造之RTL電 路,或要掃描化之暫存器,且在檢査時,將要掃描化之暫 存器之通常資料输入視爲假外部輸出,並將資料输出視爲 假外部輸入之時|成爲無閉路構造之RTL電路,予以生 成檢査系列之檢査系列生成方法有關者,而是依據與在第 3實施形態所示者爲相異之評古指標來進行時基擴展者》 在本實施形態,對於各假外部输出,將使用令所存在 之時框數量儘可能地使之成爲小之評估指標。具體地說 時,將各假外部輸入所存在之時框數量總和與各假外部輸 出所存在之時框數量總和之總計來做爲評估指標。惟在所 對應之假外部输出所屬之時框之其次時框,具有所對應之 (請先聞讀背面之注意事項再填巧本I) 本紙伕尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4SL格(210X297公釐) -29- 434477 A7 B7
經濟部中央梯準局員工消费合作社印T 五、發明説明ί7 ) 假外部輸入所屜之時框之時,就要從前述評估指標減去該 暫存器之個數。此時,有關最終(最後)之時框乃意著與 其次之時框言,爲最初之時框· 又由構成爲對應於存在於一(負)之時框之假外部输 出的暫存器之掃描FF|及構成爲對應於存在於前述一之 時框之其次時框之假外部输入之暫存器的掃描F F以構成 1個掃描路徑,並以變換前述檢査輸入成檢査系列,則可 縮短檢査系列之長度。 圖2 7係顯示有關本實施形態之檢査系列生成方法做 爲對象之RT L電路之一例子的取向圖表。在圖2 7中, A〜G爲組合功能零件,regl〜reg5爲暫存器, P I 1、P I 2爲外部输入,P01、P02爲外部输 出。圖2 7所示之RTL電路因具有反饋迴路,因而,予 以決定暫存器reg4、 reg5做爲要掃描化之暫存 器,以令2個之反饋迴路分離成無閉路構造。 圖2 8係顯示在圖2 7所示之RTL電路•予以置換 要掃描化之暫存器爲假外部輸入及假外部輸出之結果的 圚》在圖28,暫存器r eg4係被置換成假外部輸入 PPI r4及假外部输出PP0r4,而暫存器reg5 係被置換成假外部输入PP I r 5及假外部輸出PPO r 5。,. 圖2 9係顯示對於圖2 8所示之RTL電路進行有關 本實施形態之時基擴展的圖•因圖2 8所示之RT L電路 之順序深度(亦即,各外部輸出及假外部输出之最大順序 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本I) 本紙张尺度適用中困國家標準(CNS ) A4规格(2丨0X297公釐} -30- 434477 經濟部中央標準局員工消费合作社印¾ A7 _'____B7___五、發明说明ί8 ) 深度)爲3,因而以如圖2 9所示,在時基擴展時之時框 數量,將設定爲4。並首先對於最大順序深度爲最大之假 外部输出PPO r 4 ·予以進行時基擴展· 接著·對於最大順序深度爲1之假外部输出P P 0 r 5,予以進行時基擴展。 當配置假外部輸出P P〇 r 5於時框4之時〔圖2 9 之(i )〕,有關假外部輸入,因PP I r 4會存在於時 框1、 3之同時,PPIr5會存在於時框4,而有關假 外部輸出,ΡΡΟ Γ 4、PPO r 5均會存在於時框4, 且有關暫存器r e g 4,將使假外部輸出P PO r 4存在 於時框4,而假外部輸PP I r 4會存在於時框1,因 而,評估指標之値爲4 ( = 3 + 2~1)。 當配置假外部輸出PPOr 5於時框3時〔圖29之 (ϋ)〕,因有關假外部輪入,將使ΡΡΙ Γ4存在於時 框1、2之同時,PP I r 5會存在於時框3,而有關假 外部輸出,PP0r4會存在於時框4之同時,PPOr 5會存在於時框3,且有關暫存器r e g 4,將使假外部 輸出PP0r4存在於時框4,而假外部输入PPI r4 會存在於時框1,因而,評估指標之値爲4 ( = 3 + 2 -1 ) · 當配置假外部轜出P PO r 5於時框2時〔圈2 9之 (迅)〕,有關假外部输入,因將使PPI r4會存在於 時框1之同時,PP I r 5會存在於時框2,而有關假外 部输出,PPOr 4存在於時框4之同時,PPO r 5會 本紙張尺度適用中國國家標率(CNS ) A4規格(2丨0X297公廣)_ --Γ-------^ 衣-- (讀先閲讀背面之項再填寫本荑) 434477 / 經濟部中央橾準局員工消费合作社印製 A7 ______B7五、發明説明ί9 ) 存在於時框2 ’且有關暫存器Γ e g4,假外部輸出PP 0 r 4會存在於時框4 ’假外部輪入p p I r 4會存在於 時框1,因而,評估指標之値爲3(=2+2—1)。 爲此’假外部輸出PPOr 5之配置位置,將決定於 評估指標之値成爲最小之時框2·以同樣方法來使外部輸 出P01之配置位置決定於時框1,外部輸出P02之配 置位置決定於時框3 · 其結果,形成了如圖3 0所示之時基擴展RTL電 路。在圖3 0中,有關各假外部輸入及假外部輸出,僅有 PPI r4存在於時框1,僅有PPI r5、PP〇r5 存在於時框2,僅有PP I r 5存在於時框3,而在時框 4僅有PPO r 4之存在。 有關依據圖3 0所示之時基擴展RTL電路所生成之 檢査系列生成用之時基擴展組合電路,係以暫存器r e g 4來做爲構成一之掃描路徑,而由暫存器r e g 5來做爲 構成其他之掃描路徑β 例如,假定暫存器r e g4具有8位元(數元),暫 存器r e g 5具有4位元之寬度•該時,構成暫存器 r e g 4來做爲構成一之掃描路徑,而由暫存器r e g 5 來做爲構成其他之掃描路徑。 在此,將構成單純由6個之掃描F F所形成之掃描路 徑2條,並使之在各掃描路徑,混合存在有暫存器r e g 4和暫存器reg5之掃描FF時,由於在時框1、 2、 3有要實施移位動作*因而,對於1個檢査输入所需要之 (請先閲讀背面之注意事項再填起本页) 本紙伕尺度適用中圉国家標導(CNS >A4規格(210X297公釐) -32- 4344*77 經濟部中央樣準局貝工消费合作社印製 A7 _B7___五、發明説明fo ) 用以移位之檢査系列之長度會成爲18 ( = 6· 3) · 另一方面,當以構成暫存器r e g 4之8個之掃描 F F來構成一(負)之掃描路徑,而以構成暫存器r e g 5之4個掃描F F來構成其他之掃描路徑之時,對於1個 檢査輸入所必要之用以移位之檢査系列之長度就成爲1 6 (=8 + 4 · 2 )。 以如上述,對於各假外部输出,以使用存在於時框數 目儘可能地變成少之評估指標來進行時基擴展,就可縮短 檢査系列》 (第7實施形態) 本發明之第7實施形態係與第3及第4之實施形態同 樣,係對於在檢査時|已被決定爲無閉路構造之RTL電 路,或要掃描化之暫存器,且在檢査時,將要掃描化之暫 存器之通常資料輸入視爲假外部輸出•並將資料输出視爲 假外部輸入之時,成爲無閉路構造之RT L電路,予以生 成檢査系列之檢査系列生成方法有關者。而是依據與第3 實施形態所示者爲相異之評估指標來進行時基擴展者。 在本實施形態,將以存在於各時框之外部輸入之個數 總合做爲評估指標。並予以進行時基擴展以令該評估指標 之値能成爲最大。 圖31係顯示有關本實施形態之檢査系列生成方法做 爲對象之爲無閉路構造之RTL電路之一例子之取向圖 表。圖3 1中,A〜F爲組合功能零件,regl〜Re : 、表-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國困家標準(CNS ) A4*l格(210X297公釐) •33- 43447 7 經濟部中央梂率局貝工消费合作社印装 A7 _____B7五、發明説明如) £4爲暫存器’?11、卩12爲外部輸入,卩〇1、? ◦ 2爲外部輸出。 圖3 2係顯示對於圖3 1所示之RTL電路之有關本 實施形態所進行之時基擴展之圖。因圖3 1所示之RTL 電路之順序深度(亦即各外部输出及假外部輸出之最大順 序深度之最大値)爲3,因而,如圖3 2所示,設定時基 擴展時之時框數量爲4。並在首先對於最大順序深度爲最 大之外部輸出Ρ01,進行時基擴展。 接著,對於外部輸出Ρ02,進行時基擴展。當配置 外部輸出Ρ02於時框4之時〔圖32之(i)〕,因在 時框1會存在外部輸入P I 1,在時框2會存在外部輸入 PI 1,在時框3會存在外部输入PI 1、PI2,因 而1評估指棵之値爲4 (=1 + 1 + 2)。另一方面,當 配置外部輸出P02於時框3之時〔圖32之(H)〕, 因在時框1存在有外部輸入P I 1 |在時框2存在有外部 輸入P I 1、P I 2,因而,評估指標之値爲3 (=1 + 2) »因此,外部輸出P02之配置位置*將決定於評估 指標之値會成爲最大之時框4 * 圖3 3係顯示對於圖3 1所示之RTL電路之以有關 本實施形態之時基擴展來所生成之時基擴展R T L電路的 圖》同圖中,(a)爲配置外部輸出P02於時框4之時 的豳,(b)爲配置外部輸出P02於時框3之時的圖》 圈3 4係顯示變換圖3 3所示之時基擴展RTL電路 成閘極位準之結果的圖•同圖中,(a)係顯示配置外部 IJ.-------^------訂------ i (銪先閱#背面之注意事項再填寫本肓) 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨Ο X 297公釐) -34- 43447 7 A7 B7 經濟部中央標準局負工消费合作社印焚 五、發明説明) 輸出P02於時框4之圖33 (a)之變換結果的圖。 (b )係顯示配置外部輸出P 〇 2於時框3之圖3 3 (b )之變換結果的圖》在圖3 4中,組合功能零件A係 被置換成1個負元件(NOT gate ) g a、組合功能零件B 係被置換成1個負元件ST b *組合功能元件c係被置換成 1個「反及」閘(NAND gate ) gc,組合功能元件D係 被置換成1個負元件g d,組合功能零件E係被置換成1 個「反或j閘(NOR gate ) ge,而組合功能零件F係被 置換成1個「及」蘭(ANDgate) g f · 在圖34(a)之電路中,用以偵測在「反及」閘 g c之輸出的〇退化故障(s · a — 〇)用之檢査輸入, 將成爲 PI1 (0)=0,PI1 (1)=1 *PI1 (2) =0,P I 2 (2) =1,並由該檢査輸入而亦可 令「反或」閘g e之输出之1退化故障使之一齊加以偵 測》另一方面*在圖34(b)之電路,用以偵測在「反 及」閘g c之輸出的0退化障之檢査输入,將成爲P I 1 (0)=0,PI1 (1)=1、PI2(1)=1。依 據此一檢査輸入,由於PI1(1)=1,使之「及」閘 gf之输出經常成爲%0< ,因而,無法偵測「反或」閘 g e之輸出的1退化故障· 以如上述,當存在於各時框之外部输入之個數爲多之 時框,可由一之檢査輸出所能偵測之故障數量會變爲多, 因而,成爲所需要之檢査系列長度會變爲短。因此*以依 據如本實施形態所示之評估指標來進行時基擴展,就可縮 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國国家標準(CNS ) A4规格(2丨0X297公釐) -35- 434477 經濟部中央橾準局貝工消费合作社印製 A7 _B7_五、發明説明紅) 短檢査系列之長度。 再者,在第6及第7之實施形態所示之評估指標’亦 可在如第5實施形態之以閘極位準來進行時基擴展之場合 時加以使用。 (第8實施形態) 本發明之第8實施形態係有關與第1實施形態同樣之 檢査容易化設計方法者,將分割RTL電路爲複數之方 塊,並對於各方塊決定要掃描化之暫存器,使之成爲檢査 容易之電路構造者》 圖3 5係以模式顯示被分割成複數之方塊的RTL電 路圖。圖3 5所示之11丁乙電路被分割成六、3、(:之3 個方塊。但由於各方塊A、 B、 C構成有反饋迴路,因 而,僅將各方塊A、 B、 C構成爲檢査容易之電路構造 時,以RTL電路整體言,並不會成爲檢査容易。生成檢 査系列係對於L S I整體進行者,因而,L S I整體不成 爲檢査容易時,就無法獲得髙的故障偵測率· 爲此,在各方塊,從該方塊之輸出折回(逆上)至輸 入側而僅通過組合功能零件來到達之暫存器,將予以決定 做爲要掃描化之暫存器•而後,予以決定要掃描化之暫存 器,以令各方塊可成爲檢査容易之電路構造》 圖3 6係顯示圇3 5所示之RTL電路之各方塊之結 構的取向圖表。同圖中,(a)係顯示方塊A, (b)係 顯示方塊B, (c)係顯示方塊C*在圖36中,a〜η I-Μ-------泉------IT------,J <#先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4规格(210X297公嫠) -36- 434477 經濟部中央標準局貝工消费合作社印聚 A7 ___B7______五、發明説明έ4 ) 爲組合功能零件,reg〇〜regll爲暫存器,II 〜I 7爲方塊之输入,Ο 1〜07爲方塊之輸出。 首先,在方塊A、 B、 C,從該方塊之輸出折回至輸 入側而僅通過組合功能零件來到達之暫存器,予以決定做 爲要掃描化之暫存器。有關方塊A則如圖3 6 ( a )所 示,首先,將從輸出0 1直接到達之暫存器r e g 3及從 輸出02經由組合功能零件C到達之暫存器r e g 2予以 決定做爲要掃描化之暫存器,而有關方塊B則如圖3 6 (b )所示,首先|將從輸出03直接到達之暫存器r e g 6,從輸出04直接到達之暫存器r e g 7及從输出Ο 5直接到達之暫存器r e g 8予以決定做爲要掃描化之暫 存器|至於有關方塊C係如圖36(c)所示*首先,將 從輸出06、07直接到達之暫存器r eg 11予以決定 爲要掃描化之暫存器》 而後,予以決定要掃描化之暫存器,以令各方塊A、 B、 C可成爲檢査容易之電路構造》在此所謂檢査容易之 電路構造係指定爲無閉路構造者。此時,在方塊A仍有未 分離之暫存器Reg〇,regl及組合功能零件a、 b、 d所形成之迴路,因而,爲了分離該迴路,將暫存器 r e g 〇決定爲要掃描化之暫存器。 該結果,將附有陰影線之regO、 reg2、 re g 3 , reg6. reg7, reg8、regll 予以 決定做爲要滞描化之暫存器*由而,RTL電路整體被形 成爲檢査容易化,使之可保證高的故障偵測率。 {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國因家標準{ CNS ) ΛΑ規格(210X297公釐) -37- 部 屮 k 厂J * j 合 fl 434477 ........ ———— - — . ------- „ ,、· ___五、發明説明(35) Λ7 B7 (第9實施形態 本發明之第 檢查容易法設計 定與第1實施形 在本實施形 (η爲自然數) 構造。具體地說 視爲假外部輸出 部輸入或假外部 路徑中,未掃描 以指定做爲檢查 本專利說明書稱 重無閉路構造乃 圖3 7係顯 做爲對象之R Τ Α〜Κ爲組合功 P I 1、P I 2 出。 將對於圖3 路構造做爲檢查 者。如圖3 7所 暫存器r e g 1 形成之迴路;由 9實施形態係與第1實施形 方法者,而做爲檢查容易之 態爲相異之電路構造者。 態,將在完成時基擴展時可 之電路構造,予以指定爲檢 時,當要掃描化之暫存器的 ,資料輸出視爲假外部輸入 輸入直至外部輸出或假外部 化之暫存器之個數爲η種以 容易之電路構造。將前述之 呼爲「η重無閉路構造」。 與平衡構造成爲同義。 示有關本實施形態之檢查容 L電路之一例子的取向圖表 能電件,regl〜reg 爲外部輸入,P01、 P0 態同樣之有關 構造,予以指 成爲多重度η 查容易之電路 通常資料輸入 時,令在從外 輸出爲止之各 下之構造,予 電路構造,在 η爲1時》η 易化設計方法 。圖3 7中, 8爲暫存器, 2爲外部輸 7所示之R T L電路,予以指定2重無閉 容易之電路構造來使之形成檢查容易化 示,在原來之取向圖表中,因存在有:由 、r e g 5及組合功能零件A、Β、F所 暫存器r e g 1、r e g7及組合功能零 —^Γϋ I —i fn fn n^i 身f n 4»-?1閱瑱背而之注恚事項丹功-1-;-:-木汀) 本忾ίί.尺坟阀家樣卑(CNS ) Λ4現格(210X 297公漦) -38- A7 43447 7 B7 i ^ ·· " ' 1 ' --»-· — - - —— .. — . .- — — - __ _ ,, 五、發明说明(36 ) 件A、 B、 H所形成之迴路;及由暫存器reg3及組合 功能零件D所形成之迴路的3個反饋迴路,因而,爲使各 迴路分離(Break ),首先將暫存器regl、reg3決 定做爲要掃描化之暫存器。 此時,有關從外部輸入ΡΠ直至外部輸出P01爲止之處 ,因具有存在有1個未要掃描化之暫存器reg5之路徑,存在 有2個之未要掃描化之暫存器reg2、reg4之路徑及存在有3 個未要掃描化之暫存器reg2、reg6、reg8之路徑,因而, 此一RTL電路爲3重無閉路構造。爲使該RTL電路電路成爲 2重無閉路構造,將決定暫存器6爲要掃描化之暫存器。 進行如上之處理的結果,將會使圖3 7之RTL電路 成爲如圖3 8之檢查容易化。而圖3 8之RTL電路乃由 於決定附有陰影線之暫存器r e g 1、! e g 3、 r e g 6做爲要掃描化之暫存器,而形成爲2重無閉路構造。而 在實施了圖3 8之RTL電路的時基擴展時,因其多重度 會成爲2,因而,要生成多重故障檢査輸入之時,只要考 慮到2重故障爲止就已足夠。以如此,做爲檢查容易之電 路構造,以指定η重無閉路構造,就可令在多重故障檢查 輸生成之時,所應加進之多重度會被限定於η,因而,檢 查系列之生成會成爲容易。 (第1 0實施形態) 本發明之第1 0實施形態係與第1實施形態同樣之有 關檢查容易法設計方法者,而做爲檢查容易之構造’予以 指定與第1實施形態爲相異之電路構造者。 I--Μ------^------1Τ------0t I (¾尤閱讀苁16之;i意事項沔磧巧本哀) 本紙ίί尺度it;丨]小内构家行專((’NS ) Λ4規格(210X297公f ) -39- 434477 經濟部中央標準局員工消費合作社印装 A7 B7 — — —— - |i五、發明説明έ7 ) 在本實施形態,當要掃描化之暫存器的通常資料輸入 視爲假外部输出,資料輸出視爲假外部輸入之時·將在從 外部輸入或假外部輸入直至外部输出或假外部输出爲止之 各路徑中,閘極之段數爲η ( η爲0或自然數)以下之構 造,予以指定爲檢査容易之電路構造。而做爲該前提,對 於RTL電路之各組合功能零牛,有需要已有估計閘極段 數之必要性。 圖3 9係顯示有關本實施形態之檢査容易化設計方法 做爲對象之RTL電路之一例子的取同圖表。圖3 9中> Α〜Κ爲組合功能電件,r e g 1〜r e g9爲暫存器, ?11、卩12爲外部輸入,卩〇1、?〇2爲外部输 出。如圖3 9所示,對於各組合功能零件A〜K乃個別予 以估計有閘極段數•例如對於組合功能零件A,有關2個 路徑乃個別估計閘極段數爲2、1 · 將對於圖3 9所示之RTL電路,將在從外部輸入或 假外部輸入直至外部輸出或假外部输出爲止之各路徑中· 閘極之段數爲5以下之構造,指定做爲檢査容易之電路構 造,以達成檢査容易化者· 首先,爲了分離由暫存器r e g 4及組合功能零件D 所形哆之迴路,予以決定暫存器r e g 4做爲要掃描化之 暫存器· 接著,爲了分離由暫存器regl、r e g 2 , reg6及組合功能零件A、 B. F所形成之迴路,予以 決定暫存器regl、 reg2、 reg6之任何一個做 m^— I- I -I - — i I I I - I T· {請先M讀背面之注意事項再填tT本頁) 本纸张尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -40- 434477 經濟部中央標準局員工消費合作社印装 A7 ___B7 __ _ 五、發明説明έ8 ) 爲要掃描化之暫存器。 當決定暫存器r e g 1做爲要掃描化之暫存器之時, 最大閘極段數會超過5之路徑,係從暫存器r e g 1直至 外部輸出P01之路徑(閘極段數爲7),從暫存器 regl直至暫存器regl之路徑(閘極段路7),從 暫存器r e g 1直至外部輸出P 0 2之路徑(閘極段數爲 8),從外部輸入PI1直至外部輸出P01之路徑(閘 極段數爲6),從外部輸入PII直至外部輸出P02之 路徑(閘極段數爲7)的5個路徑。 當決定暫存器r e g 2做爲要掃描化之暫存器之時* 最大閘極段數會超過5之路徑係有,從暫存器r e g 2直 至reg2之路徑(閘極段數爲7),從外部输入PI1 直至外部输出P01之路徑(閘極段數爲6),從暫存器 r e g4直至1暫存器r e g2之路徑(閘極段數爲6) 的3個路徑· 而在決定暫存器r e g 6做爲要掃描化之暫存器之 時,最大閘極段數會超過5之路徑係有,暫存器r e g 6 直至暫存器reg6之路徑(閘極段數爲7),從外部幢 入P I 1直至外部输出P0 1之路徑(閘極段數爲6), 從外部輸入PI1直至外部输出P02之路徑(閘極段數 爲7◊,從暫存器reg4直至外部输出P01之路徑 (閘極段數爲1 0 ),從暫存器r e g4直至外部輸出P 0 2之路徑(閘極段數無限大)的5個路徑· 爲此,將最大閘極段數會超過5之路徑個數會成爲最 (请先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙沬尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X297公釐) -41 - 43^4/7 經濟部中央標導局員工消費合作杜印紫 A7 ____B7_____五、發明説明如) 少之暫存器r e g 2,予以決定要掃描化之暫存器·由於 決定暫存器r e g 2做爲要掃描化之暫存器,使之由暫存 器regl、 reg2、 reg8及組合功能零件A、 B、Η所形成之迴路,亦會被分離(Break)。 接著*將牖於閘極段數會超過5之剩餘之路徑之暫存 器之任何之一,予以決定做爲要掃描化之暫存器,而使之 可消除閘極段數會超過5之路徑。由於從暫存器r e g 2 經由暫存器reg6、regl直至暫存器reg2爲止 之路徑(閘極段數爲7),從外部輸入P I 1經由暫存器 reg3、reg5直至外部输出P01爲止之路徑(閘 極段數爲6),及從暫存器reg4經由暫存器reg 8、regl直至暫存器reg 2爲止之路徑(閘極段數 爲6),仍做爲閘極段數有超過5之路徑殘留著,因而, 將暫存器regl、 reg3、 reg5、 reg6、 Γ e g 8之任何之一,予以決定做爲要掃描化之暫存器。 閘極段數有超過5之路徑,當決定暫存器r e g 1做 爲要掃描化之暫存器之時,就形成僅剩下1個,而在決定 其他之暫存器reg3、 reg5、 reg6, reg弓 之任何之一做爲要掃描化之暫存器之時,就形成會剩下2 個,因此|在此應決定暫存器r e g 1做爲要掃描化之暫 存器〃 由於所殘留之做爲閘極段數有超過5之路徑,僅爲從 外部输入PI1經由暫存器reg3, reg5直至外部 輸出P 0 1爲止之路徑(閘極段數爲6 ) *因此*若決定 n. I----n - I - - I - -i-'1 - Jn i^i 1·— 1 ί (請先閱讀背面之ίΐ意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國S家揉準(CNS ) Α4规格(210X297公釐) •42· 4 3 4 47 7 經濟部中央標準局—工消費合作社印掣 A7 ____B7___五、發明説明4〇 ) 暫存器reg3、 reg5之任何之一做爲要掃描化之暫 存器之時,就成爲不具有閘極段數有超過5之路徑於 RTL電路內。在此,將決定暫存器r eg5做爲要掃描 化之暫存器。 以如上述之處理結果,圖3 9之RTL電路將成爲如 圖4 0之檢査容易化之狀態。圖4 0之RTL電路乃由於 決定附有陰影線之暫存器regl、 reg2、 reg 4、 reg5做爲要掃描化之暫存器,因而,從外部输入 或假外部輸入直至外部輸出或假外部輸出爲止之各路徑, 乃形成爲閘極之段數爲5以下之構造》因而,將圖4 0之 RTL電路作時基擴展時,各時框之閘極段數成爲5之可 能性爲高。一般對於組合電路之檢査輸入生成*閘極段數 愈大愈爲困難。因此,以如本實施形態,將做爲檢査容易 之構造,以在從外部輸入或假外部輸入直至外部輸出或假 外部輸出爲止之各路徑,予以指定閘極段數爲η以一之構 造時,就形成可容易地生成檢査輸入· 〔發明之效果〕 如上述,依據本發明,因對於RTL電路予以決定要 掃描化之暫存器,以形成預先所指定之爲檢査容易之電路 構造”因而,在RTL,可保證高的故障偵測率*又不產 生設計之中途返回原點之情事,因而,可令L S I之設計 期間較以往習知者更可加以縮短。 又對於已被形成檢査容易化之RTL電路•以變換成 7 衣 訂------}· (請先閲讀背而之注項*填寫本I ) 本紙張尺度適用中國國家搮準(CNS ) Α4%格(210X297公漦) -43- 434477 經濟部中央樣準局員工消費合作社印¾ A7 _______B7______ 五、發明説明4ι ) 時基擴展組合電路之後,生成檢査輸入,並由該檢査輸入 來生成檢査系列,因而,檢査系列之生成變爲容易。又將 RTL電路之時基擴展•以依據所定之評估指標來進行, 而使生成檢査系列使之更爲容易,又可縮短檢査系列。 〔圖式之簡單說明〕 圖1係顯示在有關本發明之第1實施形態的檢査容易 化設計方法之處理流程的流程圖。 圖2係表示由構造所成之同步式順序電路之分類圖。 圖3係顯示有關本發明之第1實施形態之檢査容易化 設計方法做爲對象之R T L電路之一例子的取向圖表。 圖4係顯示在做爲檢査容易之電路構造予以指定無閉 路構造之時,對於圖3所示之RTL電路決定了要掃描化 之暫存器的結果之圖。 圖5係顯示在做爲檢査容易之電路構造予以指定1重 排列構造之時*對於圖3所示之RTL電路決定了要掃描 化之暫存器的結果之圖。 圖6係顯示在做爲檢査容易之電路構造予以指定具備 組合檢査輸入生成複雜度之構造(平衡構造)之時,對於 圖3所示之R T L電路決定了要掃描化之暫存器的結果之 圖。 圖7係顯示在有關本發明之第2實施形態的檢査容易 化設計方法之處理流程的流程圖· 圖8係顯示有關本發明之第2實施形態之檢査容易化 本纸铢尺度適用中團國家標準( CNS M4規格(2丨0X297公釐) —IM------- 東-- t請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部中央標準而貝工消费合作社印聚 434477 A7 __B7 _五、發明説明42 ) 設計方法做爲對象之R T L電路之一例子的取向圖表· 圖9係顯示將要掃描化之暫存器的通常資料輪入視爲 假外部輸出,而資料輸出做爲假外部输入來變換圖8所示 之R T L電路之結果的圖。 圖10係顯示在有關本發明之第3實施形態的檢査系 列生成方法之處理流程的流程圖》 圖11係顯示在有關圓10所示之本發明之第3實施 形態的檢査系列生成方法之RTL時基擴展S 2 0之詳細 處理流程的流程圖》 圖12係顯示有關本發明之第3實施形態的檢査系列 生成方法做爲對象之RTL電路之一例子的取向圖表· 圖1 3係對於圖1 2所示之RTL電路,進行對於假 外部輸出P P 0 1之時基擴展的圖。 圖1 4係對於圖1 3,以配置外部輪出P0 1於時框 5來進行時基擴展之圇。 圖1 5係對於圖1 3,以配置外部輸出P0 1於時框 4來進行時基擴展的圖》 圖16係顯示對於圖12所示之RTL電路進行時基 擴展之結果的圖。 圖17係顯示對於圖12所示之RTL電路以進行邏 輯合成所生成之閘極位準之電路圖》 圖1 8係對於圖1 2所示之RTL電路,以依據圖 16所示之時基擴展RTL電路及圖17所示之閘極位準 電路來生成之時基擴展組合電路。 本纸伕尺度適用中圉國家標導(CNS } A4規格(210X297公釐) --Μ-------- I衣------訂------J <:1*先聞讀背面之注^^項再填寫本頁j 434477 經濟部中央標準局員工消费合作·社印製 A7 __B7____五、發明説明43 ) 圖19係顯示對於圔12所示之RTL電路之時基擴 展圖,配置外部輸出P 0 1於時框5之時的圖。 圔20係顯示對於圖12所示之RTL電路之時基擴 展,配置外部输出P0 1於時框4之時的圖》 圖21係顯示在有關本發明之第4實施形態之檢査系 列生成方法之處理流程的流程圖。 圖2 2係顯示有關本發明之第4實施形態之檢査系列 生成方法做爲對象之RTL電路之一例的取向圖表。 圖2 3係顯示對於圖2 2所示之RTL電路予以進行 組合功能零件之組合件之結果的圖。 圖2 4係顯示對於圖2 3所示之RTL電路進行時基 擴展之結果的圖。 圇2 5係顯示對於圖2 2所示之RTL電路,以依撺 圖2 4所示之時基擴展RTL電路來生成之時基擴展組合 電路之圖。 圖2 6係顯示在有關本發明之第5實施形態之檢査系 列生成方法之處理流程的流程圖· 圖2 7係顯示有關本發明之第6實施形態之檢査系列 生成方法做爲對向之RTL電路之一例子的取向圖表》 圖2 8係顯示在圖2 7所示之RTL電路中*將要掃 描之暫存器置換爲假外部输入及假外部輸出之結果的圔。 圖2 9係顯示對於圖2 8所示之RTL電路之有關本 發明之第6實施形態的時基擴展圖* 圖3 0係顯示對於圖2 8所示之RTL電路予以進行 I-7------------ΐτ------V. (諳先閲讀背面之注意事項再填W本頁) 本紙張尺度適用中國困家標準(CNS ) A4規格(210X297公嫠) •46· A7 B7 經濟部中央橾隼扃員工消費合作社印製 五、發明説明44 ) 有關本發明之第6實施形態的時基擴展之結果之圖· «31係顯示有關本發明之第7實施形態之檢査系列 生成方法做爲對象之RTL電路之一例子的取向圖表。 圖3 2係顯示對於圖3 1所示之RTL電路之有關本 發明之第7賁施形態之時基擴展的圈· 圖3 3係顯示對於圖3 1所示之RTL電路予以進行 有關本發明之第7實施形態之時基擴展之結果圓,(a) 爲配置外部輸出P02於時框4之時的圓,(b)爲配置 外部輸出P 0 2於時框3之時的圖》 圖3 4係顯示變換圖3 3所示之時基擴展RTL電路 成閘極位準之結果之圖,(a)係顯示變換圖33 (a) 之結果之圖,(b)係顯示變換圖33(b)之結果之 圖。 圖3 5係以模式顯示有關本發明之第8實施形態之檢 査容易化設計方法做爲對象之R T L電路之一例子的圖。 圖3 6係顯示圖3 5所示之RTL電路之各方塊之結 構的取向圖表,(a)係顯示方塊A, (b)係顯示方塊 B,( c )係顯示方塊C · 圖3 7係顯示有關本發明之第9實施形態之檢査容易 化設計方法做爲對象之RTL電路之一例子的取向圖表》 匾3 8係顯示對於圖3 7所示之RTL電路予以進行 有關本發明之第9實施形態之檢査容易化之結果的圖· 圖3 9係顯示有關本發明之第1 0實施形態之檢査容 易化設計方法做爲對象之R T L電路之一例子的取向圖 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 策
.II 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -47- 43447 了 A7 ________B7______五、發明説明45 ) 表》 圖4 0係顯示對於圖3 9所示之RTL電路予以進行 有關本發明之第10實施形態之檢査容易化之結果的圖。 〔符號之說明〕 regl〜regll:暫存器 A〜K,a〜η :組合功能零件 ΡΙ1、 ΡΙ2、 ΡΙ3:外部輸入 Ρ01、 Ρ02:外部输出 ΡΡΙ1、 PPIr4、 PPIr5:假外部輸入 ΡΡ01、 PP0r4、 PP0r5:假外部輸出 01〜07:方塊之輸出 (請先閲讀背面之注意事項再填芮本頁) 笨 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中囷囷家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -48-

Claims (1)

  1. 頬請委釣明示,本.;;_-'.;^是^玆更^貨質内'乂 經濟部中央標丰局貝工消費合作社印裝 六、申請專利範園 第87 100375號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國87年1 1月修正 1 . 一種檢査容易化之設計方法,主要將做爲對於以 暫存器轉移位準(RTL,Resister Transfer Level )所設計之 爲積體電路之R T L迴路,予以進行設計變更來形成製造 後之檢查成爲容易,其特徵爲具備有: 指定檢查爲容易之電路構造之第1過程;及 檢査時之前述RT L電路之構造,將要掃描化之暫存 器之通常資料輸入視爲假外部輸出,而在資料輸出視爲假 外部輸入之時,就從前述R T L電路之暫存器中,予以決 定要掃描化之暫存器成爲在第1過程中所指定之爲檢查容 易之電路構造用之第2過程。 2 ·如申請專利範圍第1項所述之檢查容易化之設計 方法,其中在前述之第1過程中所指定之爲檢査容易之電 路構造1係不包括反饋迴路之無閉路(無閉環)構造者。 3 .如申請專利範圍第1項所述之檢查容易化之設計 方法1其中在前述之第1過程中所指定之爲檢査容易之電 路構造,係η重排列構造(η爲自然數)者。 4 .如申請專利範圍第1項所述之檢查容易化之設計 方法,其中在前述之第1過程中所指定之爲檢査容易之電 路構造,係具有組合檢查輸入生成複雜度之構造者。 5 .如申請專利範圍第1項所述之檢查容易化之設計 本紙張尺度逋用中國囤家標率(CNS ) Μ规格(210X297公t ) (锖先Μ讀背面之注項存填寫本頁) 434477 ABCD 經濟部令央榇準局員工消費合作社印策 六、申請專利範圍 方法,其中在前述之第1過程中所指定之爲檢查容易之電 路構造,係在從外部輸入或假外部輸入直至外部輸出或假 外部輸出爲止之各路徑中,暫存器之個數爲η種以下(η 爲自然數),而在時基擴展時多重性會成爲η之η重無閉 路構造。 6,如申請專利範圍第1項所述之檢查容易化之設計 方法,其中在前述之第1過程中所指定之爲檢查容易之電 路構造,係在從外部輸入或假外部輸入直至外部輸出或假 外部輸出爲止之各路徑中,構成組合功能零件之閘極階段 數目爲η以下(η爲〇或自然數)之構造。 7 _如申請專利範圍第1項所述之檢查容易化之設計 方法,其中在前述第2過程中決定了要掃描化之暫存器 RTL電路具備有,當要掃描化之暫存器的通常資料輸入 視爲假外部輸出,並將資料輸出視爲假外部輸入時,對於 從一(負)之假外部輸入直至外部輸出或假外部輸出爲止 之各路徑,予以追加決定要掃描化之暫存器使之暫存器個 數成爲相同之第3過程。 8 ·如申請專利範圍第1項所述之檢查容易化之設計 方法,其中前述第2過程係具備有:將前述R T L電路分 成爲複數之方塊(部件)之第1處理;在各方塊中,將從 該方塊之輸出逆向朝著輸入側且僅通過組合功能零件來到 達之暫存器,予以以決定爲要掃描化之暫存器的第2處理 ;及在檢查時之各方塊之構造,將要掃描化之暫存器之通 常資料輸入視爲假外部輸出,且資料輸出視爲假外部輸入 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4現格(210Χ297公釐) 434477 A8 BS C8 D8 六、申請專利範圍 時,就從前述R T L電路之暫存器中決定要掃描化之暫存 器’以形成爲前述檢査容易之電路構造用的第3處理。 9 . 一種檢查輸入系列之形成(生成)方法,主 要做爲對於以暫存器轉移位準(RTL,Resister Transfer Level )所設計之積體電路之RTL電路,要生成檢查系歹[J ,其特徵爲: 前述R T L電路係在檢査時成無閉路構造,或已決定 了要掃描化之暫存器,且在檢査時,將要掃描化之暫存器 之通常資料輸入視爲假外部輸出且資料輸出視爲假外部輸 入時,就使之成爲無閉路構造,並具備有:變換前述 R T L電路成爲被時基擴展之閘極位準之電路的時基擴展 組合電路之第1過程;對於前述第1過程所生成之時基擴 展組合電路,生成檢查輸入用之第2過程;及將前述第2 過程所生成之檢查輸入,以依據在前述第1過程所生成之 時基擴展組合電路之各外部輸入及假外部輸入所屬之時框 資訊,而變換成對於予以邏輯合成前述R T L電路所能獲 得之閘極位準電路之檢查系列用之第3過程者。 1 0 .如申請專利範圍第9項所述之檢查系列形成方 法,其中前述第1過程係具備有:對於前述RTL電路, 以所定之評估指標爲依據來進行時基擴展之R T L時基擴 展處理:對於前述R T L電路進行邏輯合成,以變換成閘 極位準之電路之邏輯合成處理;及以依據在前述RTL時 基擴展處理中所求出之被時基擴展之RTL電路,和在前 述邏輯合成處理中所生成之閘極位準之電路來生成前述時 本紙张尺度適用中國國家標率(CNS ) A4说格< 210ΧΪ97公釐) 入"-訂 欠 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央棣準局貝工消費合作社印製
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