RU2497182C2 - Способ тестопригодности реализации логических преобразователей - Google Patents

Способ тестопригодности реализации логических преобразователей Download PDF

Info

Publication number
RU2497182C2
RU2497182C2 RU2011123026/08A RU2011123026A RU2497182C2 RU 2497182 C2 RU2497182 C2 RU 2497182C2 RU 2011123026/08 A RU2011123026/08 A RU 2011123026/08A RU 2011123026 A RU2011123026 A RU 2011123026A RU 2497182 C2 RU2497182 C2 RU 2497182C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
logic
input
elements
function
logical
Prior art date
Application number
RU2011123026/08A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2011123026A (ru
Inventor
Андрей Александрович Акинин
Юлия Сергеевна Акинина
Семен Леонидович Подвальный
Сергей Владимирович Тюрин
Original Assignee
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" filed Critical Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет"
Priority to RU2011123026/08A priority Critical patent/RU2497182C2/ru
Publication of RU2011123026A publication Critical patent/RU2011123026A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2497182C2 publication Critical patent/RU2497182C2/ru

Links

Images

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области автоматики и цифровой вычислительной техники. Технический результат заключается в повышении надежности функционирования тестопригодных логических преобразователей. Способ включает первоначальное получение исходного математического описания рабочего закона функционирования n-входовых логических преобразователей в тестопригодном логическом базисе Жегалкина, разработку и реализацию структурной схемы логического преобразователя из элемента - генератор логической 1, r последовательных цепочек из (k-1) двухвходовых логических элементов с электронно перестраиваемой логической функцией, реализующих k-аргументные функции И, и последовательной цепочки из (r-1) двухвходовых элементов неравнозначности, реализующих рабочую функцию Fp, причем на этапе разработки и реализации структурной схемы логического преобразователя дополнительно вводят (s+1) последовательных цепочек из (k-1) двухвходовых логических элементов с электронно перестраиваемой логической функцией и последовательную цепочку из (s+1) двухвходовых элементов неравнозначности, которая на выходе формирует признак ошибки путем реализации свертки по модулю два значения функции Fp, всех s дополнительных k-аргументных конъюнкций и дополнительной n-аргументной конъюнкции инверсий входных аргументов. 2 ил.

Description

Изобретение относится к области автоматики и цифровой вычислительной техники и может быть использовано для создания сложных логических преобразователей (комбинационных автоматов) с самопроверкой правильности функционирования в рабочем режиме и высокой степенью готовности к оперативному динамическому функциональному тестированию при электронном переключении логических преобразователей из рабочего режима в режим тестирования.
Известен способ и вариант его технической реализации, обеспечивающий тестопригодность логических преобразователей, реализованных в виде двухуровневых программируемых логических матриц (ПЛМ), логическим базисом которых является основной элементный базис из логических элементов И, ИЛИ, НЕ [1].
ПЛМ содержит входной дешифратор «1→2», матрицу многовходовых элементов И, матрицу многовходовых элементов ИЛИ и дополнительные схемы, распределенные по узлам ПЛМ. Во входной дешифратор добавлены две линии управления; к столбцам матрицы И дополнительно подключаются выходы разрядов дополнительного регистра сдвига; в матрицу И и в матрицу ИЛИ дополнительно вводятся один столбец и одна строка соответственно, для дополнения до нечетности подключений к каждой строке и каждому столбцу; к строкам и столбцам дополнительно подключаются наборы из элементов неравнозначности (сумма по модулю 2). Линии управления, которые подключаются к дешифраторам, используются для активизации какой-либо одной или одновременно всех строк матрицы И. Дополнительный регистр сдвига предназначен для активизации какого-либо одного столбца матрицы, или всех столбцов одновременно. Если активизированы все строки матрицы и только один из столбцов, то проверяется правильность формирования 1-го терма (i-ой элементарной конъюнкции) путем проверки на нечетность числа переменных i-го терма дополнительным столбцом из последовательно включенных элементов неравнозначности. Если активизированы единственная строка матрицы и все ее столбцы, то проверяется на нечетность количество вхождений переменной данного типа в различные термы дополнительной строкой из последовательно соединенных элементов неравнозначности. Таким образом, данный способ тестирования двухуровневой ПЛМ заключается во введении такой структурной и функциональной избыточностей в двухуровневую ПЛМ, которая позволяет проводить последовательную проверку целостности структуры как незапрограммированной, так и запрограммированной ПЛМ путем предварительного обеспечения и последующего определения нечетности числа переменных в каждом терме (т.е. в каждом столбце матрицы) и нечетности вхождения каждой переменной в различные термы (т.е. в каждой строке матрицы), при этом реализуемая логическим преобразователем логическая функция исходно представляется и программируется в виде дизъюнктивной нормальной формы. Недостатками данного способа тестопригодной реализации логических преобразователей и устройств на его основе является невозможность проверки правильности функционирования логических преобразователей на предельных рабочих частотах, а также наличие значительного количества дополнительных узлов и коммутаций, приводящих к снижению общей надежности функционирования логических преобразователей.
Наиболее близким по технической сути является способ тестопригодной реализации логических преобразователей, описанный в [2].
Данный способ состоит в том, что он включает первоначальное получение исходного математического описания рабочего закона функционирования n-входовых логических преобразователей в тестопригодном логическом базисе Жегалкина, затем разработку и реализацию структурной схемы логического преобразователя из элемента генератор логической 1, r последовательных цепочек из (k-1) двухвходовых логических элементов с электронно перестраиваемой логической функцией, реализующих k-аргументные функции И в рабочем режиме или функции равнозначности в режиме тестирования, и последовательной цепочки из (r-1) двухвходовых элементов неравнозначности, реализующих рабочую функцию Fp путем свертки по модулю два всех k-аргументных конъюнкций, определение в последующем n тестовых М-последовательностей из одного и того же замкнутого класса и эталонной М-последовательности, которую алгоритмически формируют из n тестовых М-последовательностей, причем в режиме тестирования тестовые и эталонную М-последовательности одновременно генерируют внешним n-разрядным регистром сдвига с линейной обратной связью на предельно возможной рабочей частоте логического преобразователя.
Данный способ обеспечивает высокую тестопригодность логических преобразователей как для их статического, так и динамического тестирования на предельной рабочей частоте путем электронного переключения из рабочего режима в режим тестирования М-последовательностями. Однако данный способ не обеспечивает максимальной надежности функционирования логических преобразователей непосредственно в рабочем режиме.
Изобретение направлено на повышение надежности функционирования тестопригодных логических преобразователей путем придания им дополнительного свойства самопроверяемости в режиме работы.
Это достигается тем, что на этапе разработки и реализации структурной схемы логического преобразователя дополнительно вводят (s+1) последовательных цепочек из (k-1) двухвходовых логических элементов с электронно перестраиваемой логической функцией и последовательную цепочку из (s+1) двухвходовых элементов неравнозначности, которая на выходе формирует признак ошибки путем реализации свертки по модулю два значения функции Fp, всех s дополнительных k-аргументных конъюнкций и дополнительной n-аргументной конъюнкции инверсий входных аргументов, причем сумма s+r=2", то есть равна количеству всех различимых k-аргументных конъюнкций в полиноме Жегалкина общего вида, включая и единичную конъюнкцию.
Для осуществления предлагаемого изобретения закон функционирования n-входового логического преобразователя исходно должен быть задан полиномом Жегалкина, общий вид которого может быть представлен следующим образом:
F(x 1 , x 2 ,. x n ) = C 0   C 1 x 1    C 2 x 2    C n x n    C (n + 1 )  x 1  x 2    C (n + 2)  x 1  x 3    C (m-1) x 1 x 2 x n ,      (1)
Figure 00000001
где хi - i-ая входная логическая переменная;
Cj - j-ый коэффициент, указывающий на необходимость реализации соответствующей конъюнкции при Cj=1;
xi xf…xg - некоторая k-аргументная конъюнкция логических переменных;
m=2n; Cj={0,1}, j=0, (2n-1); xi={0,1}, i=1, n.
Сочетание переменных в правой части (1), например, C(m-i) x1 x2…xn, следует понимать как их логическое произведение (конъюнкцию), т.е.
С(m-1)x1…x2…xn=C(m-1)&x1&x2&…&xn
Запишем выражение (1) несколько иначе:
F(x 1 , x 2 ,. x n ) = C 0 K 0   C 1 K 1   C 2 K 2    C (m-1) K (m-1) (2)
Figure 00000002
где конъюнкция К0=1 представляет единичную конъюнкцию.
Широко известно, что в выражении (2) все коэффициенты Cj будут равны 1 только в том случае, если реализуется логическая функция n-аргументной конъюнкции инверсий входных аргументов, то есть
x , 1 x , 2 x , n = K 0   K 1   K 2    K (m-1) (3)
Figure 00000003
где xi следует понимать как инверсию хi.
Тогда, в соответствии с законами алгебры логики относительно операции неравнозначности можно выражение (3) преобразовать к виду
K 0 K 1 K 2  K (m-1)    x , 1 x ' 2 x ' n =  (4)
Figure 00000004
В зависимости от того, какую именно логическую функцию должен реализовывать n-входовый логический преобразователь, предварительно определяют значения соответствующих коэффициентов Сj для логической функции (Fp), реализуемой в рабочем режиме, что может быть осуществлено широко известным методом неопределенных коэффициентов [3]. Тогда, как следует из выражения (4), если r конъюнкций, обеспечивающих реализацию рабочей функции Fp, оставить в левой части выражения (4), а оставшиеся (s+1) конъюнкций перенести в правую часть этого выражения, то они будут равны при любых значениях входных аргументов. Это обеспечивает самопроверяемость логических преобразователей в рабочем режиме функционирования путем использования дополнительной последовательной цепочки из (s+1) двухвходовых элементов неравнозначности, которая на выходе формирует признак ошибки путем реализации свертки по модулю два значения функции Fp, всех s дополнительных k-аргументных конъюнкций и дополнительной n-аргументной конъюнкции инверсий входных аргументов, причем сумма s+r=2n.
Рассмотрим осуществление заявляемого способа тестопригодной реализации логического преобразователя, рабочий закон функционирования которого изначально задается следующим полиномом Жегалкина:
F p  (x 1 , x 2 , x 3 ) =  x 2    x 1 x 3  x 1  x 2  x 3 (5)
Figure 00000005
В выражение (5) входят четыре конъюнкции, включая единичную конъюнкцию, то есть r=4. Основываясь на общем виде полинома Жегалкина для трех аргументов, находим s=4 отсутствующих в выражении (5) конъюнкций: x1, x3, x1x2, x2x3. Сформируем проверяющую функцию:
F np  (x 1 , x 2 , x 3 ) = x 1  x 3 x 1 x 2  x 2 x 3  x , 1 x , 2 x , 3  (6)
Figure 00000006
Сформируем сигнал ошибки Е, который примет единичное значение в том случае, если в режиме работы рабочая и проверяющая функции не совпадут
E = F p F пp = 1  x 2 x 1 x 3  x 1 x 2 x 3 x 1 x 3  x 1 x 2 x 2 x 3   x , 1 x , 2 x , 3  (7)
Figure 00000007
На фиг.1 представлена структурная схема самопроверяемого тестопригодного логического преобразователя, которая разработана на основе соотношений (5), (6) и (7), а на фиг.2 - структурная схема логического элемента VAR с электронно перестраиваемой логической функцией.
Входные логические переменные x1, x2, х3 подаются соответственно на входы логического преобразователя 1, 2, 3. В соответствии с реализуемой логической функцией Fp (x1, x2, х3) вход 1 подключаются к первому 26 входу элементов VAR 7, 8. Ко второму входу 27 элемента 7 подключается вход 3 логического преобразователя, а ко второму входу 27 элемента 8 подключается вход 2 преобразователя. Выход элемента 8 подключается к входу 26 элемента VAR 9, образуя, таким образом, их последовательную цепочку. Второй вход 27 элемента VAR 9 соединен со входом 3 логического преобразователя. На вход 23 поступает дополнительный сигнал управления u, который подключается к третьим входам 28 всех элементов VAR 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13. Первые входы элементов неравнозначности 15, 16, 17 соответственно соединены с вторым входом логического преобразователя, с выходом элемента 7 и выходом элемента 9. Выходы элементов 15 и 16 соответственно соединяются со вторыми входами элементов 16 и 17. Второй вход элемента 15 соединен с выходом элемента 14, реализующего логическую функцию генератора логической 1. Выход элемента 17 соединен с выходом 25 логического преобразователя, где формируется логическая функция Fp (x1, x2, х3) в рабочем режиме преобразователя. Элементы 15, 16, 17 образуют первую последовательную цепочку из трех (r-1) двухвходовых элементов неравнозначности, реализующих рабочую функцию Fp путем свертки по модулю два четырех (i=4) k-аргументных конъюнкций (включая нулевую конъюнкцию). Для обеспечения свойства самопроверяемости логического преобразователя в режиме работы, вводят дополнительную последовательную цепочку из пяти (s+1) двухвходовых элементов неравнозначности 18, 19, 20, 21, 22, которая на выходе 24 формирует признак ошибки путем реализации свертки по модулю два значения функции Fp, всех s=4 дополнительных k-аргументных конъюнкций и дополнительной n-аргументной конъюнкции инверсий входных аргументов, причем сумма s+r=2n, то есть равна количеству всех различимых k-аргументных конъюнкций в полиноме Жегалкина общего вида, включая и единичную конъюнкцию. Выходы элементов 18, 19, 20, 21 соответственно подключают к вторым входам элементов 19, 20, 21, 22, а выход элемента 22 подключают к выходу 24 преобразователя, образуя таким образом дополнительную последовательную цепочку из элементов неравнозначности. Первые входы элементов 18, 19, 20, 21, 22 соответственно соединены с входом 1 и входом 3 преобразователя, выходами элементов 10, 11 и 13. Второй вход элемента 18 подключен к выходу элемента 17 и выходу 25 логического преобразователя. Первые входы 26 элементов 10 и 11 подключены к входу 2 преобразователя, а вторые входы 27 элементов 10 и 11 соответственно подключены к входам 3 и 1 преобразователя. Входы инверторов 4, 5, 6 подключены соответственно к входам 1, 2, 3 логического преобразователя. Выход элемента 6 подключен к входу 26 элемента 12, второй вход которого подключен к выходу элемента 5. Выход элемента 12 подключен к входу 26 элемента 13, ко второму входу 27 которого подключен выход элемента 4.
При u=1, реализуется рабочий режим функционирования логического преобразователя в соответствии с заданной логической функцией (в данном случае, Fp), что обеспечивается настройкой всех элементов VAR 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13 на последовательную реализацию конъюнкций переменных, поступающих на их входы 26 и 27. В таблице показаны значения функций Fp (5) и Fnp (6) в рабочем режиме функционирования.
Таблица
x1 0 1 0 1 0 1 0 1
x2 0 0 1 1 0 0 1 1
х3 0 0 0 0 1 1 1 1
Fp 1 1 0 0 1 0 0 0
Fпр 1 1 0 0 1 0 0 0
Как видно из представленной таблицы, на всех возможных наборах входных переменных при правильно функционирующем логическом преобразователе значения функций Fp и Fпp должны совпадать, что и обеспечивает придание свойства самопроверяемости тестопригодным логическим преобразователям в рабочем режиме функционирования.
При u=0 структура логического преобразователя реконфигурируется путем одновременной электронной перестройки элементов 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13 на реализацию логической функции равнозначности (⊗) над логическими переменными, поступающими на их входы 26 и 27. Логическое уравнение, задающее закон функционирования элементов 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13 при поступлении на их входы 26 и 27 переменных а и b соответственно и на вход 28 сигнала управления u, имеет следующий вид:
y = (a & b) + (a + b + u) ¯   (8)
Figure 00000008
где y - выходной сигнал, формируемый на выходах 32 элементов 7, 8, 9, 10, 11, 12,13, в которых элемент 29 реализует логическую функцию И над входными сигналами a и b, элемент 30 реализует логическую функцию ИЛИ-НЕ над сигналами a и b, а также над сигналом управления u, а элемент 31 реализует функцию ИЛИ над сигналами с выходов элементов 29 и 30. В результате настройки элементов 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13 на реализацию функции равнозначности, функции Fp и Fпp преобразуются, так как в соответствующих им уравнениях все конъюнкции будут заменены на операции равнозначности. Такие уравнения получают из исходного математического описания путем формальной замены в нем всех операций логического И на операции равнозначности с последующим приведением их к операциям неравнозначности.
В зависимости от реализуемой логической функции в рабочем режиме, логический преобразователь в режиме тестирования (при отсутствии в нем неисправностей) реализует одну из возможных линейных логических функций, общий вид которых соответствует соотношению (9):
F*(x 1 , x 2 ,. x n ) = B 0   B 1 x 1    B 2 x 2    B n-1 x n-1  (9)
Figure 00000009
где коэффициенты В1={0,1}, i=0, n-1; xj={0,1}, j=1, n.
Коэффициенты Bi не вычисляются, они автоматически находятся из выражений вида (5), с использованием соотношений (10):
x i   x j =  x i    x j ;  x i    x i = 0;  x i    x i    x i = x i (10)
Figure 00000010
С учетом (9) и (10) в режиме тестирования функции Fp (5) и Fпp (6) приводятся к виду:
F* p (x 1 , x 2 ,. x n ) =  x 2 x 1 x 3  x 1 x 2 x 3 = 0 ,   (11) 
Figure 00000011
F* пр (x 1 , x 2 ,x 3 ) = x 1    x 3   x 1 x 2 x 2 x 3    (x , 1  x . 2    x , 3 ) = ( x 1  x 2 x 2 ) ,   ( 12)
Figure 00000012
В режиме тестирования логического преобразователя переменные хj (j=1, n) заменяются на псевдослучайные последовательности максимальной длины (М-последовательности), которые могут генерироваться на предельных частотах внешним n-разрядным регистром сдвига с линейной обратной связью [4]. Множество М всех М-последовательностей, генерируемых n-разрядным регистром сдвига, состоит из 2(2n-1) М-последовательностей, отличающихся друг от друга величиной циклического сдвига и/или инверсными значениями битовых сигналов. Тогда каждой М-последовательности можно присвоить номер, соответствующий ее циклическому сдвигу, относительно какой-либо М-последовательности, произвольно выбранной за первую. Тогда М={M1, M2,.…MS}, S=2(2n-1). Специфической особенностью MS из М является то, что для них выполняются все соотношения (10), при этом эталонная реакция МЭ правильно функционирующего логического преобразователя будет также принадлежать множеству М и может алгоритмически формироваться из n тестовых М-последовательностей, что обеспечивает возможность одновременного формирования тестовых и эталонной М-последовательностей на предельной рабочей частоте логического преобразователя. Как видно из структурной схемы, представленной на фиг.1, и соотношений (10), любая константная неисправность, кроме неисправностей на входах, будет искажать выходную функцию логического преобразователя в режиме тестирования М-последовательностями и, следовательно будет обнаружена при несовпадении выходного сигнала логического преобразователя с МЭ. Так же эффективно обнаруживаются неисправности типа короткие замыкания. При коротких замыканиях проводников в цифровой схеме в точках замыкания реализуются над логическими (двоичными) сигналами, так называемые монтажное И или монтажное ИЛИ. Если электрический сигнал логического 0 подавляет электрический сигнал логической 1, то реализуется монтажное И. Если электрический сигнал логической 1 подавляет электрический сигнал логического 0, то реализуется монтажное ИЛИ. С учетом этого, а также уникальной особенности М-последовательностей, заключающейся в том, что любые две различные М-последовательности из одного того же класса отличаются в половине своих (2n-1) разрядах, следует, что любые неисправности типа коротких замыканий будут обнаруживаться, так как при возникновении монтажных И или ИЛИ выходная функция логического преобразователя будет отличной от МЭ. Достоверное тестирование по данному способу необходимо проводить путем сравнения эталонного тестового сигнала с реально формируемым на выходе логического преобразователя с запаздыванием, величина которого определяется как τ=r tЗП, где r - количество последовательно включенных элементов неравнозначности, а tЗП - время задержки их переключения. Так же следует проверять признак ошибки в рабочем режиме функционирования логического преобразователя.
Техническим результатом от использования заявляемого изобретения является повышение надежности функционирования тестопригодных логических преобразователей путем придания им дополнительного свойства самопроверяемости в режиме работы.
Источники информации
1. Киносита К., Асада К., Карапу О. Логическое проектирование СБИС. - М.: Мир, 1988. - 309 с.
2. Патент RU 2413282 С2, МПК6 G06F 11/26. Способ тестопригодной реализации логических преобразователей / Акинина Ю.С. (RU), Подвальный С.Л. (RU), Тюрин С.В. (RU), заявитель и патентообладатель ГОУ ВПО «Воронежский госуд. техн. ун-т. (RU) - №2008151028/08; заявл. 22.12.2008; опубл. 27.02.2011, бюл. №6.
3. Гаврилов Г.Л., Сапоженко А.А. Задачи и упражнения по дискретной математике. - М.: Физматлит, 2005. - 460 с.
4. Ярмолик В.Н. Контроль и диагностика цифровых узлов ЭВМ. - Мн.: Наука и техника, 1988. - 240 с.

Claims (1)

  1. Способ тестопригодной реализации логических преобразователей, включающий первоначальное получение исходного математического описания рабочего закона функционирования n-входовых логических преобразователей в тестопригодном логическом базисе Жегалкина, затем разработку и реализацию структурной схемы логического преобразователя из элемента - генератор логической 1, r последовательных цепочек из (k-1) двухвходовых логических элементов с электронно перестраиваемой логической функцией, реализующих k-аргументные функции И в рабочем режиме или функции равнозначности в режиме тестирования, и последовательной цепочки из (r-1) двухвходовых элементов неравнозначности, реализующих рабочую функцию Fp путем свертки по модулю два всех k-аргументных конъюнкций, определение в последующем n тестовых М-последовательностей из одного и того же замкнутого класса и эталонной М-последовательности, которую алгоритмически формируют из n тестовых М-последовательностей, причем в режиме тестирования тестовые и эталонную М-последовательности одновременно генерируют внешним n-разрядным регистром сдвига с линейной обратной связью на предельно возможной рабочей частоте логического преобразователя, отличающийся тем, что на этапе разработки и реализации структурной схемы логического преобразователя дополнительно вводят (s+1) последовательных цепочек из (k-1) двухвходовых логических элементов с электронно перестраиваемой логической функцией и последовательную цепочку из (s+1) двухвходовых элементов неравнозначности, которая на выходе формирует признак ошибки путем реализации свертки по модулю два значения функции Fp, всех s дополнительных k-аргументных конъюнкций и дополнительной n-аргументной конъюнкции инверсий входных аргументов, причем сумма s+r=2n, то есть равна количеству всех различимых k-аргументных конъюнкций в полиноме Жегалкина общего вида, включая и единичную конъюнкцию.
RU2011123026/08A 2011-06-07 2011-06-07 Способ тестопригодности реализации логических преобразователей RU2497182C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011123026/08A RU2497182C2 (ru) 2011-06-07 2011-06-07 Способ тестопригодности реализации логических преобразователей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011123026/08A RU2497182C2 (ru) 2011-06-07 2011-06-07 Способ тестопригодности реализации логических преобразователей

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011123026A RU2011123026A (ru) 2012-12-20
RU2497182C2 true RU2497182C2 (ru) 2013-10-27

Family

ID=49256219

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011123026/08A RU2497182C2 (ru) 2011-06-07 2011-06-07 Способ тестопригодности реализации логических преобразователей

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2497182C2 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2541905C1 (ru) * 2014-05-06 2015-02-20 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт электронной техники" Способ реализации логических преобразователей

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU945830A1 (ru) * 1980-09-22 1982-07-23 Предприятие П/Я В-8495 Выходной узел тестера дл контрол электронных блоков
US4538266A (en) * 1982-08-30 1985-08-27 Sony/Tektronix Corporation Diagnostic apparatus for digital-to-analog converters
SU1269137A1 (ru) * 1984-06-25 1986-11-07 Предприятие П/Я В-2667 Многоканальна система дл контрол и диагностики цифровых блоков
SU1615722A1 (ru) * 1988-05-23 1990-12-23 Минское Высшее Инженерное Зенитное Ракетное Училище Противовоздушной Обороны Тестопригодное логическое устройство
US6292915B1 (en) * 1997-01-22 2001-09-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of design for testability and method of test sequence generation
US6311318B1 (en) * 1999-07-13 2001-10-30 Vlsi Technology, Inc. Design for test area optimization algorithm
RU2413282C2 (ru) * 2008-12-22 2011-02-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ тестопригодной реализации логических преобразователей

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU945830A1 (ru) * 1980-09-22 1982-07-23 Предприятие П/Я В-8495 Выходной узел тестера дл контрол электронных блоков
US4538266A (en) * 1982-08-30 1985-08-27 Sony/Tektronix Corporation Diagnostic apparatus for digital-to-analog converters
SU1269137A1 (ru) * 1984-06-25 1986-11-07 Предприятие П/Я В-2667 Многоканальна система дл контрол и диагностики цифровых блоков
SU1615722A1 (ru) * 1988-05-23 1990-12-23 Минское Высшее Инженерное Зенитное Ракетное Училище Противовоздушной Обороны Тестопригодное логическое устройство
US6292915B1 (en) * 1997-01-22 2001-09-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of design for testability and method of test sequence generation
US6311318B1 (en) * 1999-07-13 2001-10-30 Vlsi Technology, Inc. Design for test area optimization algorithm
RU2413282C2 (ru) * 2008-12-22 2011-02-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ тестопригодной реализации логических преобразователей

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2541905C1 (ru) * 2014-05-06 2015-02-20 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт электронной техники" Способ реализации логических преобразователей

Also Published As

Publication number Publication date
RU2011123026A (ru) 2012-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Drechsler PolyAdd: Polynomial formal verification of adder circuits
Ashraf et al. Design-for-diversity for improved fault-tolerance of TMR systems on FPGAs
US5905664A (en) Circuit for determining, in parallel, the terms of a remainder that results from dividing two binary polynomials
Becker Efficient testing of optimal time adders
EP0318140A2 (en) Pseudo-random generator and check sum circuitry for VLSI chip
RU2497182C2 (ru) Способ тестопригодности реализации логических преобразователей
Oyeniran et al. Parallel pseudo-exhaustive testing of array multipliers with data-controlled segmentation
Zamani et al. Online missing/repeated gate faults detection in reversible circuits
RU2413282C2 (ru) Способ тестопригодной реализации логических преобразователей
Vasudevan et al. A technique for modular design of self-checking carry-select adder
Verkest et al. Correctness proofs of parameterized hardware modules in the Cathedral-II synthesis environment
US20220365136A1 (en) Method and system for efficient testing of digital integrated circuits
Mahzoon et al. Polynomial formal verification of general tree-like circuits
Davies On the definition and generation of Walsh functions
Ahmad Critical role of polynomial seeds on the effectiveness of an LFSR-based testing technique
Bayraktaroglu et al. Cost-effective deterministic partitioning for rapid diagnosis in scan-based BIST
RU2541905C1 (ru) Способ реализации логических преобразователей
Mahzoon et al. Polynomial formal verification of area-efficient and fast adders
Gossel et al. A new totally error propagating compactor for arbitrary cores with digital interfaces
Wu et al. Idle cycles based concurrent error detection of RC6 encryption,[FPGAs]
Becker et al. A uniform test approach for RCC-Adders
Sayed-Ahmed et al. Recurrence relations revisited: Scalable verification of bit level multiplier circuits
Dmitriev et al. New Self‐dual Circuits for Error Detection and Testing
Chen et al. Design verification by using universal test sets
JP3271419B2 (ja) 検査機能付半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20140608