TW202315829A - 測試室機構、測試裝置及作業機 - Google Patents

Abstract

一種測試室機構，包含承具、外罩、閉置具及驅動單元，外罩架置於承具 ，並於內部設有測試空間，於底部設有相通測試空間之開口，閉置具設有第一閉合部件及第二閉合部件，並設有承載部以供承裝物件，閉置具位於第一位置 ，令承載部相對於外罩之測試空間，並以第一閉合部件封閉外罩之開口及測試空間，驅動單元以驅動器驅動閉置具於外罩之底部位移至第二位置，閉置具之第一閉合部件及承載部遠離測試空間，變換以第二閉合部件封閉外罩之開口及測試空間；藉以閉置具保持封閉外罩之測試空間而有效防止氣體外洩。

Description

測試室機構、測試裝置及作業機

本發明提供一種有效防洩及提高測試品質之測試室機構。

請參閱圖1，測試裝置於機台固設一外罩11，外罩11之內部設有測試空間111，並於背板設有相通測試空間111之輸送管112，以供輸送乾燥空氣至測試空間111而防止結露，外罩11於二側板113開設相通測試空間111之通道114，通道114供入料載台121及出料載台122作X方向位移通過，入料載台121及出料載台122分別載送待測電子元件及已測電子元件，測試裝置於機台固設至少一測試器13，測試器13相對於外罩11之測試空間111，以供測試電子元件，一壓接機構14配置於外罩11之測試空間111，並設有至少一壓接器141，以供壓接測試器13上之電子元件執行測試作業；然可依作業需求，於壓接器141設置致冷晶片(圖未示出)，以供電子元件於預設低溫之測試溫度下執行冷測作業。

惟，不論是測試器13於外罩11之測試空間111內執行測試作業，或者入料載台121、出料載台122於外罩11之測試空間111內執行入、出料電子元件作業，外罩11之通道114均呈開放式，導致輸送管112輸送之乾燥空氣會由通道114外洩，致使壓接器141及測試器13易發生結露之問題，亦會導致致冷晶片無法以預設溫度溫控電子元件，進而影響測試品質；換言之，業者必須輸入更多之乾燥空氣至測試空間111方可防止結露，以及提高致冷晶片的功率，方可維持預設溫度溫控電子元件，進而更加耗費能源及增加測試成本。

本發明之目的一，提供一種測試室機構，包含承具、外罩、閉置具及驅動單元，外罩架置於承具，並於內部設有測試空間，於底部設有相通測試空間之開口，閉置具設有第一閉合部件及第二閉合部件，並設有承載部以供承裝物件，閉置具位於第一位置，令承載部相對於外罩之測試空間，並以第一閉合部件封閉外罩之開口及測試空間，驅動單元以驅動器驅動閉置具於外罩之底部位移至第二位置，閉置具之第一閉合部件及承載部遠離測試空間，變換以第二閉合部件封閉外罩之開口及測試空間；藉以閉置具保持封閉外罩之測試空間而有效防止氣體外洩，進而防止結露及確保測試品質。

本發明之目的二，提供一種測試室機構，其閉置具以第一閉合部件或第二閉合部件封閉外罩之開口，以確保外罩之測試空間保持為一封閉空間 ，而可防止電子元件之測試溫度異常，使電子元件於預設測試溫度執行測試作業，進而節省能源成本及提高測試品質。

本發明之目的三，提供一種測試裝置，包含至少一測試器、測試室機構及至少一壓接機構，至少一測試器以供測試電子元件，測試室機構包含承具、外罩、閉置具及驅動單元，閉置具之承載部供裝配測試器，並依作動時序以第一閉合部件或第二閉合部件封閉外罩之開口，驅動單元驅動閉置具位移 ，令測試器相對於外罩之測試空間，至少一壓接機構裝配於外罩之測試空間，以下壓測試器上之電子元件執行測試作業。

本發明之目的四，提供一種作業機，包含機台、供料裝置、收料裝置、測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置，供料裝置配置於機台，並設有至少一供料容置器，以供容置至少一待測電子元件；收料裝置配置於機台，並設有至少一收料容置器，以供容置至少一已測電子元件；測試裝置配置於機台，並設有至少一測試器、測試室機構及壓接機構，以供測試電子元件；輸送裝置設有至少一輸送器，以供輸送電子元件；中央控制裝置以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：

請參閱圖2、3，本發明測試室機構包含承具21、外罩22、閉置具23及驅動單元。

承具21設有至少一機架，依作業需求，例如承具21概呈ㄩ型，並以二側機架供架置外罩22，例如承具21為一水平配置之機架，並以頂面供裝配外罩22；於本實施例，承具21設有第一機架211、第二機架212及第三機架213，第一機架211呈水平配置，第二機架212及第三機架213呈Z方向架置於第一機架211。

至少一外罩22裝配於承具21，並設有至少一測試空間221，以及設有至少一相通測試空間221之開口；更進一步，外罩22可於底面或側面設有開口，例如外罩22架置於承具21之二側機架，而於底面開設相通測試空間221之開口，例如外罩22裝配於水平式機架，而於側面開設相通測試空間221之開口；於本實施例，至少一外罩包含複數個外罩22，各外罩22之內部設有測試空間221，並於外部之兩側設有跨置部222，外罩22於底面開設相通測試空間221之開口223 ，外罩22利用二跨置部222跨置裝配於第二機架212及第三機架213，使開口223朝向第一機架211，開口223與第一機架211之間具有滑移空間，以供閉置具23於滑移空間作Y方向位移。

依作業需求，外罩22於測試空間221之側壁設有承跨部224，以供裝配壓接機構(圖未示出)。

依作業需求，外罩22裝配至少一輸送管225，以供輸送乾燥空氣至測試空間22。

依作業需求，外罩22於開口223處設有至少一防洩件(圖未示出)，更進一步，防洩件可為軟質元件或氣簾。

至少一閉置具23包含至少一承載部、至少一第一閉合部件及至少一第二閉合部件，該承載部可相對或遠離該外罩22之該測試空間221，第一閉合部件及第二閉合部件其中一者封閉外罩22之測試空間221；更進一步，第一閉合部件及第二閉合部件之一者貼合外罩22之開口223，並作滑動配合；依作業需求 ，第一閉合部件及第二閉合部件可設於同一物件或者獨立配置不同物件，例如於一載台之兩側設有為凸塊之第一閉合部件及第二閉合部件，例如於一板座設有二個不同區域之第一閉合部件及第二閉合部件，例如第一閉合部件及第二閉合部件分別設於不同板座；更進一步，第一閉合部件及第二閉合部件可為平面或凸塊；例如閉置具23之第一閉合部件為較大面積之平面，以供封閉外罩22於底面開設之開口及測試空間221；例如閉置具之第一閉合部件為凸塊，以供封閉外罩22於側面開設之開口及測試空間221。

於本實施例，閉置具23設有二獨立之第一板座231及第二板座232 ，第一板座231之頂面設有一面積較大且為平面之第一閉合部件233，第一閉合部件233之面積尺寸可貼合且封閉二外罩22之開口223，第一閉合部件233與開口223間具有滑動間隙而作滑動配合，此一滑動間隙之尺寸僅供第一閉合部件233順利於開口223之底面作Y方向位移即可；第二板座232位於第一板座231之後方 ，並於頂面設有一面積較大且為平面之第二閉合部件234，第二閉合部件234之面積可貼合且封閉二外罩22之開口223，第二閉合部件234與開口223間具有滑動間隙而作滑動配合，此一滑動間隙之尺寸僅供第二閉合部件234順利於開口223之底面作Y方向位移即可。

閉置具23之承載部可設於第一閉合部件233或者設於第一閉合部件233之周側；承載部可為平面、凹槽或通孔，以供承載裝配物件，物件可為測試器或電子元件等；例如測試器(圖未示出)裝配於外罩22之測試空間221，閉置具23之承載部為一凹槽，以供承載電子元件；例如閉置具23之承載部為一通孔 ，通孔供裝配測試器。

閉置具23位於第一位置，可使承載部相對於外罩22之測試空間221，例如閉置具23位於第一位置，而使承載部承載測試器位於預設測試位置，以供測試器直接進行測試作業，例如閉置具23位於第一位置，而使承載部承載電子元件位於預設置料位置，以供移料器(圖未示出)於測試器與承載部間移載電子元件；閉置具23位於第二位置，可使承載部位於外罩22之外部(即預設入出料位置)，而遠離外罩22之測試空間221，以供輸送器取放電子元件。

於本實施例，閉置具23於第一板座231之第一閉合部件233設有二個為通孔之承載部235，承載部235供裝配測試器(圖未示出)，閉置具23位於第一位置，而使二承載部235分別相對於二外罩22之二測試空間221，且位於預設測試位置，承載部235可供測試器於預設測試位置直接進行測試作業，閉置具23並以第一閉合部件233封閉二外罩22之二開口223，進而同時封閉二外罩22之測試空間221而防洩；反之，閉置具23位於第二位置，而使第一閉合部件233、二承載部235及測試器遠離外罩22之測試空間221，令承載部235處之測試器位於外罩22外部之預設入出料位置，以供入、出料電子元件，閉置具23即變換以第二閉合部件234封閉二外罩22之二開口223，進而同時封閉二外罩22之測試空間221而防洩。

然，承載部235設於第一板座231，以供承裝物件(如測試器或電子元件)，依作業需求更換不同數量或型式之物件時，可僅換裝具承載部235之第一板座231，以有效節省成本。

驅動單元設有至少一驅動器，以驅動外罩22或閉置具23之一者相對另一者作至少一方向位移；更進一步，驅動器為線性馬達、壓缸或包含馬達及至少一傳動組，例如馬達以供驅動至少一傳動組，至少一傳動組以供帶動閉置具23作Y方向位移；例如馬達以供驅動至少一傳動組，至少一傳動組以供帶動外罩22作Y方向位移。

依作業需求，驅動單元於承具21與閉置具23間設有至少一滑軌組。

於本實施例，驅動單元之驅動器包含馬達241及複數個傳動組，複數個傳動組為第一皮帶輪組242、第二皮帶輪組243及第三皮帶輪組244，馬達裝配於承具21之第二機架212，並驅動一裝配於第二機架212之第一皮帶輪組242 ，第一皮帶輪組242以軸桿245之一端傳動一配置於第二機架212之第二皮帶輪組243，並以軸桿245之另一端傳動一配置於第三機架213之第三皮帶輪組244，驅動單元於承具21與閉置具23間設有複數個滑軌組，各滑軌組之滑座246固設於承具21之第一機架211上，滑軌組之滑軌247連結閉置具23之第一板座231及第二板座232的兩側，二滑軌247並以二連結件248分別連結第二皮帶輪組243及第三皮帶輪組244，以供帶動閉置具23之第一板座231及第二板座232同步作Y方向位移。

請參閱圖4，本發明測試室機構應用於測試裝置之示意圖，測試裝置包含至少一測試器25、測試室機構及至少一壓接機構26，至少一測試器25以供測試電子元件；測試室機構包含承具21、外罩22、閉置具23及驅動單元，以提供封閉之測試空間221，並容置至少一測試器；至少一壓接機構26裝配於測試室機構之測試空間221，並設有至少一壓接器(圖未示出)，以供下壓電子元件。

依作業需求，測試裝置更包含溫控單元(圖未示出)，溫控單元於壓接器設置至少一溫控件，以供溫控電子元件；更進一步，溫控件可為加熱件 、致冷晶片或具流體之座體。

然，依作業需求，於熱測作業時，外罩22之測試空間221內可配置鼓風機(圖未示出)，以供吹送熱風，使測試空間221之內部升溫，亦無不可。

於本實施例，測試室機構之閉置具23的承載部235供裝配測試器25，以供測試電子元件，測試器25包含電性連接之電路板及傳輸件(如探針)，更進一步，傳輸件可裝配於一測試座；測試室機構之外罩22以承跨部224供裝配 壓接機構26，壓接機構26配置於外罩22之測試空間221，並設有至少一壓接器( 圖未示出)，以供壓接測試器25上之電子元件執行測試作業，測試室機構以輸送管225輸送乾燥氣體至測試空間221。

請參閱圖5、6，測試室機構之驅動單元以馬達241驅動第一皮帶輪組242，第一皮帶輪組242經軸桿245傳動第二皮帶輪組243及第三皮帶輪組244 ，第二皮帶輪組243及第三皮帶輪組244以二連結件248帶動二滑軌247沿滑座246作Y方向位移，二滑軌247帶動閉置具23之第一板座231及第二板座232於外罩22之底面同步作Y方向位移，使閉置具23位於第二位置，閉置具23之第一閉合部件233離開外罩22之開口223，並載送測試器25至外罩22之外部(即預設入出料位置)，以供輸送器(如移料器)移入待測之電子元件，由於第一板座231及第二板座232同步作動，而使第二板座232位移至外罩22之開口223下方，並以第二閉合部件234接續封閉外罩22之開口223，即封閉外罩22之測試空間221，進而防止外罩22之測試空間221內的乾燥空氣由開口223處外洩。

請參閱圖5、7，於測試器25承置電子元件後，測試室機構之馬達241驅動第一皮帶輪組242反向旋轉，第一皮帶輪組242經軸桿245傳動第二皮帶輪組243及第三皮帶輪組244，第二皮帶輪組243及第三皮帶輪組244以二連結件248帶動二滑軌247沿滑座246位移作Y方向反向位移，二滑軌247帶動閉置具23之第一板座231及第二板座232於外罩22之底面同步作Y方向反向位移，閉置具23位於第一位置，閉置具23之第二閉合部件234離開外罩22之開口223，由於第一板座231及第二板座232同步反向位移作動，使得第一板座231載送測試器25位移至外罩22之開口223處，並相對於測試空間221，測試器25位於壓接機構26之下方(即預設測試位置)，以供壓接機構26之壓接器下壓測試器25上之待測電子元件執行測試作業，然閉置具23之第一板座231以第一閉合部件233封閉外罩22之開口223，即封閉外罩22之測試空間221，進而防止外罩22之測試空間221內的乾燥空氣由開口223處外洩，不僅防止測試空間221、測試器25及壓接器結露，並可確保溫控單元以預設測試溫度溫控電子元件，進而節省能源成本及提高測試品質。

請參閱圖2~8，本發明測試裝置應用於作業機，作業機包含機台30、供料裝置40、收料裝置50、測試裝置、輸送裝置60及中央控制裝置（圖未示出）；供料裝置40裝配於機台30，並設有至少一供料承置器41，以容納至少一待測之電子元件；收料裝置50裝配於機台30，並設有至少一收料承置器51，以容納至少一已測之電子元件；測試裝置配置於機台30，並設有至少一測試器25、本發明測試室機構及至少一壓接機構26，至少一測試器25以供測試電子元件，測試室機構以閉置具23載送測試器25位於外罩22之外部，以供入料電子元件，壓接機構26設有至少一壓接器，以供壓接電子元件；輸送裝置60裝配於機台30，並設有至少一輸送器，以輸送電子元件，於本實施例，輸送裝置60設有一作X-Y-Z方向位移之第一輸送器61，以於供料裝置40之供料承置器41取出待測之電子元件，並將待測電子元件移載至第二輸送器62，第二輸送器62將待測之電子元件載送至測試裝置之側方；輸送裝置60之第三輸送器63於第二輸送器62取出待測之電子元件，並移載至測試器25，封閉具23載送測試器25及電子元件反向位移，使測試器25相對於測試空間221內之壓接機構26，以供壓接機構26之壓接器下壓電子元件而執行測試作業，第三輸送器63將已測電子元件移入第四輸送器64，第四輸送器64載出已測之電子元件，輸送裝置60之第五輸送器65於第四輸送器64取出已測之電子元件，並依據測試結果，將已測之電子元件輸送至收料裝置50之收料承置器51處而分類收置；中央控制裝置(圖未示出)用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

[習知] 11:外罩 111:測試空間 112:輸送管 113:側板 114:通道 121:入料載台 122:出料載台 13:測試器 14:壓接機構 141:壓接器 [本發明] 21:承具 211:第一機架 212:第二機架 213:第三機架 22:外罩 221:測試空間 222:跨置部 223:開口 224:承跨部 225:輸送管 23:閉置具 231:第一板座 232:第二板座 233:第一閉合部件 234:第二閉合部件 235:承載部 241:馬達 242:第一皮帶輪組 243:第二皮帶輪組 244:第三皮帶輪組 245:軸桿 246:滑座 247:滑軌 248:連結件 25:測試器 26:壓接機構 30:機台 40:供料裝置 41:供料承置器 50:收料裝置 51:收料承置器 60:輸送裝置 61:第一輸送器 62:第二輸送器 63:第三輸送器 64:第四輸送器 65:第五輸送器

圖1：習知測試裝置之示意圖。 圖2：本發明測試室機構之俯視圖。 圖3：本發明測試室機構之側視圖。 圖4：測試室機構應用於測試裝置之示意圖。 圖5：測試室機構之使用示意圖(一)。 圖6：測試室機構之使用示意圖(二)。 圖7：測試室機構之使用示意圖(三)。 圖8：測試裝置應用於作業機之配置圖。

21:承具

211:第一機架

212:第二機架

22:外罩

221:測試空間

222:跨置部

223:開口

224:承跨部

225:輸送管

23:閉置具

231:第一板座

232:第二板座

233:第一閉合部件

234:第二閉合部件

235:承載部

241:馬達

242:第一皮帶輪組

245:軸桿

246:滑座

247:滑軌

Claims (13)

1. 一種測試室機構，包含： 承具； 至少一外罩：架置於該承具，並設有至少一測試空間，以及設有 至少一相通該測試空間之開口； 至少一閉置具：設有至少一承載部、至少一第一閉合部件及至少 一第二閉合部件，該承載部可相對或遠離該測試空間，該第一閉合部件及該第二閉合部件其中一者封閉該外罩之該開口； 驅動單元：設有至少一驅動器，以供驅動該外罩或該閉置具之一 者相對另一者作至少一方向位移。
2. 如請求項1所述之測試室機構，其中，該承具設有至少一機架，以供架置該外罩，該外罩之底面或側面設有該開口。
3. 如請求項1所述之測試室機構，其中，該外罩之外部設有至少一跨置部，該跨置部供跨置裝配於該承具。
4. 如請求項1所述之測試室機構，其中，該外罩之該測試空間設有至少一承跨部。
5. 如請求項1所述之測試室機構，其中，該封閉具設有第一板座及第二板座，該第一板座設有該第一閉合部件及該承載部，該第二板座設有該第二閉合部件。
6. 如請求項1所述之測試室機構，其中，該驅動單元於該承具與該閉置具間設有至少一滑軌組。
7. 如請求項1所述之測試室機構，其中，該驅動單元之該驅動器為線性馬達、壓缸或包含馬達及至少一傳動組。
8. 如請求項1至7中任一項所述之測試室機構，其中，該閉置具之該第一閉合部件及該第二閉合部件之一者貼合該開口，並作滑動配合。
9. 如請求項1至7中任一項所述之測試室機構，其中，該外罩於該開口設有至少一防洩件。
10. 如請求項1至7中任一項所述之測試室機構，其中，該外罩裝配至少一輸送管，以供輸送乾燥空氣至該測試空間。
11. 一種測試裝置，包含： 至少一測試器：以供測試電子元件； 至少一如請求項1所述之測試室機構，以該閉置具之該承載部供裝 配該測試器； 至少一壓接機構：裝配於該測試室機構之該外罩，並設有至少一壓 接器，以供下壓電子元件。
12. 如請求項11所述之測試裝置，更包含溫控單元，該溫控單元於該壓接器設置至少一溫控件，以供溫控電子元件。
13. 一種作業機，包含： 機台； 供料裝置：配置於該機台，並設有至少一供料容置器，以供容置至 少一待測電子元件； 收料裝置：配置於該機台，並設有至少一收料容置器，以供容置至 少一已測電子元件； 至少一如請求項11所述之測試裝置：配置於該機台，以供測試電子 元件； 輸送裝置：配置於該機台，並設有至少一輸送器，以供輸送電子元 件； 中央控制裝置：以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。

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