TW202225351A - 化學機械拋光液及其使用方法 - Google Patents

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倪宇飛
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汪國豪
周文婷
楊征
王拓
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Abstract

本發明提供一種用於含碳材料的拋光液及其使用方法。所述化學機械拋光液,包含磨料、氧化劑和無機酸及其鹽類,該拋光液在維持較高的含碳材料去除速率的同時,有效減少了拋光墊表面的拋光副產物殘留,顯著提升了拋光墊表面清潔程度,延長了拋光墊的使用壽命,降低了拋光後晶圓表面的缺陷。

Description

化學機械拋光液及其使用方法
本發明涉及化學機械拋光領域,尤其涉及一種化學機械拋光液及其使用方法。
隨著半導體技術的不斷發展,以及大型積體電路互連層的不斷增加,導電層和絕緣介質層的平坦化技術變得尤為關鍵。二十世紀80年代,由IBM公司首創的化學機械拋光(CMP)技術被認為是目前全域平坦化的最有效的方法。化學機械拋光(CMP)由化學作用、機械作用以及這兩種作用結合而成。它通常由一個帶有拋光墊的研磨台,及一個用於承載晶片的研磨頭組成。其中研磨頭固定住晶片,然後將晶片的正面壓在拋光墊上。當進行化學機械拋光時,研磨頭在拋光墊上線性移動或是沿著與研磨台相同的運動方向旋轉。與此同時,含有研磨劑的漿液被滴到拋光墊上,並因離心作用平鋪在拋光墊上。晶片表面在機械和化學的雙重作用下實現全域平坦化。
碳化矽、無定形碳等含碳材料作為新一代寬頻隙半導體材料,具有寬頻隙、高熱導率、高臨界擊穿電場、高電子飽和遷移速率、高化學穩定性等特點,在高溫、高頻、大功率、高密度集成電子器件等方面具有巨大的應用潛力。然而含碳材料在常溫下非常穩定,不易發生化學反應,對機械力研磨的耐受性很好,因此常用的化學機械拋光液在拋光含碳材料時,難以獲得較高的拋光速度。
通常需要用氧化劑將含碳材料氧化後去除。常用的氧化劑為雙氧水,但雙氧水的氧化能力較弱,無法獲得理想的去除速率。CN102464944A在拋光液中添加高錳酸、錳酸及其鹽類等強氧化劑來提高含碳材料的化學機械拋光速率。在使用高錳酸、錳酸及其鹽類作為氧化劑對含碳材料拋光過程中,由於高錳酸、錳酸等氧化劑被還原後會不可避免地生成顏色較深的副產物,而且容易沉積在拋光墊的表面和孔洞中,從而造成拋光副產物在拋光墊上的聚集,影響拋光墊壽命,而且導致拋光後的表面缺陷增加。
為了解決上述問題,本發明提供一種拋光液及其使用方法,通過在拋光液中加入無機酸及其鹽類,在較少影響去除速率的情況下,使得拋光過程副產物可以直接和無機酸及其鹽類發生反應,形成可溶性的錳絡合物,從而避免拋光過程的副產物在拋光墊上沉積,延長了拋光墊的使用壽命,同時降低了拋光後晶圓表面的缺陷。
本發明提供一種化學機械拋光液,具體包含磨料、氧化劑、無機酸及其鹽類和水。
在一些實施例中,所述無機酸選自氫溴酸、氫碘酸、氫碲酸、硼酸、過硼酸、偏硼酸、溴酸、碘酸、鉻酸、錳酸、砷酸、鎢酸、鉬酸、硒酸、碲酸、鉛酸、偏鋁酸、偏亞砷酸、磷酸、次磷酸、焦磷酸中的一種或多種;及所述鹽類選自鉀鹽、鈉鹽或銨鹽中的一種或多種。
在一些實施例中,所述氧化劑為高錳酸鉀。
在一些實施例中,所述磨料選自二氧化錳、三氧化二鋁、二氧化鈰、二氧化鈦單組分磨料以及表面包覆二氧化矽、三氧化二鋁、二氧化鈰、二氧化鈦的複合磨料中一種或多種。
在一些實施例中,所述磨料的質量百分比含量為0.1-10wt%。
在一些實施例中,所述磨料的粒徑範圍為50-500nm。
在一些實施例中,所述氧化劑的質量百分比含量為0.01-1wt%。
在一些實施例中,所述無機酸及其鹽類的質量百分比含量為0.01-2wt%。
在一些實施例中,所述無機酸及其鹽類的質量百分比含量為0.1-0.5wt%。
在一些實施例中,所述化學機械拋光液的pH值為2-6。
本發明的拋光液可以將除氧化劑以外的組分濃縮配置,使用前用去離子水稀釋並加入氧化劑至本發明的濃度範圍。
另一方面,本發明提供了一種本發明中化學機械拋光液的使用方法,包括:將本發明的化學機械拋光液用於含碳材料的化學機械拋光。
與現有技術相比較,本發明的優勢在於:在所述化學機械拋光液中加入無機酸及其鹽類,減少了拋光副產物在拋光墊表面的殘留,同時降低了拋光後晶圓表面的缺陷。
以下結合具體實施例進一步闡述本發明的優點。
根據表1中所給配方,配置本申請對比例1-4與實施例1-50的拋光液,隨後將一定濃度的氧化劑溶液、無機酸及其鹽類與磨料混合均勻,用水補足質量百分比至100%,使用KOH或HNO 3將拋光液調節至所需pH值即可。
表1對比例1-4和實施例1-50的拋光液成分、含量及其pH
拋光液 磨料 氧化劑 無機酸及其鹽類 pH
內核 包覆物質 含量wt% 粒徑nm 具體物質 含量wt% 具體物質 含量wt%
對比例1 二氧化矽 / 10.0 80 高錳酸鉀 0.08       2.5
對比例2 二氧化鈦 / 8.0 250 高錳酸鉀 0.30       2.8
對比例3 二氧化鈦 / 2.5 230 高錳酸鉀 0.01       6.0
對比例4 二氧化鈰 二氧化鈦 0.1 130 高錳酸鉀 0.30       3.5
實施例1 三氧化二鋁 / 3.0 150 高錳酸鉀 0.20 磷酸 1.0 3.0
實施例2 二氧化鈦 / 1.0 260 高錳酸鉀 0.50 磷酸二氫鉀 0.1 2.2
實施例3 二氧化鈦 二氧化鈰 0.5 500 高錳酸鉀 0.30 鉻酸 1.2 2.5
實施例4 二氧化錳 二氧化鈦 1.5 280 高錳酸鉀 0.50 氫碘酸 0.4 3.2
實施例5 二氧化鈦 三氧化二鋁 2.0 320 高錳酸鉀 0.20 硼酸銨 0.6 2.5
實施例6 二氧化鈰 三氧化二鋁 1.0 100 高錳酸鉀 1.00 磷酸納 0.3 3.8
實施例7 二氧化鈦 三氧化二鋁 3.0 300 高錳酸鉀 0.20 焦磷酸 0.5 2.2
實施例8 二氧化鈦 二氧化錳 10.0 320 高錳酸鉀 0.50 砷酸 2.0 2.6
實施例9 二氧化鈰 三氧化二鋁 1.5 150 高錳酸鉀 0.50 錳酸 0.5 3.2
實施例10 二氧化鈦 三氧化二鋁 1.5 300 高錳酸鉀 0.50 氫碘酸 0.3 3.5
實施例11 二氧化鈦 三氧化二鋁和二氧化錳 2.0 350 高錳酸鉀 0.01 磷酸+磷酸氫二鉀 0.3+0.4 2.8
實施例12 二氧化錳 三氧化二鋁 1.5 50 高錳酸鉀 0.30 溴酸鈉 1.2 3.2
實施例13 二氧化鈦 三氧化二鋁 3.0 320 高錳酸鉀 0.40 偏硼酸 0.3 6.0
實施例14 二氧化鈦 二氧化矽 3.0 80 高錳酸鉀 0.10 偏鋁酸鈉 0.0 2.6
實施例15 二氧化錳 三氧化二鋁 1.0 150 高錳酸鉀 0.20 氫碘酸 0.7 6.0
實施例16 二氧化鈦 三氧化二鋁 0.5 280 高錳酸鉀 0.40 次磷酸 1.0 4.0
實施例17 二氧化鈦 三氧化二鋁 2.0 320 高錳酸鉀 0.20 鉬酸 0.1 2.5
實施例18 二氧化鈰 三氧化二鋁 2.0 150 高錳酸鉀 0.20 碲酸 0.5 2.0
實施例19 二氧化鈦 二氧化矽 5.0 300 高錳酸鉀 0.50 硒酸 1.8 5.2
實施例20 二氧化鈰 三氧化二鋁 2.5 200 高錳酸鉀 0.01 鉛酸 0.8 2.8
實施例21 二氧化鈦 三氧化二鋁和二氧化矽 1.5 350 高錳酸鉀 0.03 氫碲酸 1.0 3.6
實施例22 二氧化鈦 三氧化二鋁和二氧化錳 4.0 350 高錳酸鉀 0.50 釩酸 1.2 4.2
實施例23 二氧化鈰 三氧化二鋁 3.0 150 高錳酸鉀 0.20 偏亞砷酸 2.0 5.4
實施例24 二氧化鈦 二氧化矽 1.0 260 高錳酸鉀 0.50 鎢酸 1.5 2.8
實施例25 二氧化鈦 三氧化二鋁 0.5 500 高錳酸鉀 0.30 碲酸 0.1 3.6
實施例26 二氧化鈦 三氧化二鋁 1.5 280 高錳酸鉀 0.50 釩酸 0.3 4.0
實施例27 二氧化鈦 三氧化二鋁和二氧化矽 2.0 320 高錳酸鉀 0.20 溴酸鉀+ 溴酸鈉 0.2+0.5 2.0
實施例28 二氧化鈰 / 1.0 100 高錳酸鉀 1.00 硼酸鉀 1.0 5.0
實施例29 二氧化錳 / 3.0 300 高錳酸鉀 0.20 砷酸鈉 1.8 2.5
實施例30 二氧化鈦 三氧化二鋁和二氧化錳 10.0 320 高錳酸鉀 0.50 次磷酸 2.0 4.0
實施例31 二氧化鈦 三氧化二鋁 1.5 150 高錳酸鉀 0.50 鉛酸 0.01 5.2
實施例32 三氧化二鋁 / 1.5 300 高錳酸鉀 0.50 亞砷酸鉀 0.4 2.2
實施例33 二氧化鈦 三氧化二鋁和二氧化矽 2.0 350 高錳酸鉀 0.01 偏磷酸 0.9 3.6
實施例34 二氧化鈰 三氧化二鋁 1.5 50 高錳酸鉀 0.30 錳酸 1.3 4.5
實施例35 二氧化鈦 三氧化二鋁 3.0 320 高錳酸鉀 0.20 鉻酸 1.5 2.6
實施例36 二氧化鈦 三氧化二鋁和二氧化矽 2.5 150 高錳酸鉀 0.50 磷酸 0.5 3.2
實施例37 二氧化鈦 三氧化二鋁 4.0 150 高錳酸鉀 0.50 碲酸 0.3 4.0
實施例38 二氧化鈦 三氧化二鋁和二氧化矽 5.0 150 高錳酸鉀 0.50 釩酸 0.2 5.2
實施例39 二氧化鈦 二氧化鈰 0.1 300 高錳酸鉀 0.50 過硼酸 0.5 2.4
實施例40 二氧化鈦 三氧化二鋁 1.5 120 高錳酸鉀 0.02 砷酸 0.9 3.0
實施例41 三氧化二鋁 / 0.8 100 高錳酸鉀 0.80 鉛酸 0.3 4.2
實施例42 二氧化鈦 / 8.0 250 高錳酸鉀 0.30 磷酸 0.1 2.8
實施例43 二氧化鈦 / 2.5 230 高錳酸鉀 0.01 氫碘酸 0.01 6.0
實施例44 二氧化鈰 三氧化二鋁 5.0 80 高錳酸鉀 1.00 硼酸 0.2 3.0
實施例45 二氧化鈰 二氧化鈦 0.1 100 高錳酸鉀 0.30 磷酸 0.3 3.5
實施例46 二氧化鈦 二氧化錳和三氧化二鋁 2.5 350 高錳酸鉀 1.00 硼酸 0.5 4.0
實施例47 二氧化鈦 三氧化二鋁 4.0 250 高錳酸鉀 0.15 磷酸 0.1 2.0
實施例48 二氧化鈦 二氧化錳 4.5 300 高錳酸鉀 0.30 偏硼酸 0.2 3.0
實施例49 二氧化錳 二氧化鈦 1.5 150 高錳酸鉀 0.10 焦磷酸 0.3 3.8
實施例50 二氧化鈰 二氧化鈦 2.5 50 高錳酸鉀 0.35 溴酸 0.2 2.0
效果實施例1 採用對比例1-4和實施例42-50的拋光液,按照下述條件對空片無定形碳進行拋光。具體拋光條件:拋光機台為Reflexion LK,拋光墊IC1010拋光墊,300mm晶圓,研磨壓力2.5psi,研磨盤轉速93轉/分鐘,研磨頭轉速87轉/分鐘,拋光液流速為300ml/min,拋光時間為1min。測得對比例1-4和實施例42-50的拋光效果資料記於表2。
表2 對比例1-4和實施例42-50的拋光效果資料
拋光液 無定形碳去除速率(Å/min) 拋光墊表面清潔程度
對比例1 30 +++
對比例2 180 ++++
對比例3 55 +++
對比例4 175 ++++
實施例42 178 ++
實施例43 58 +
實施例44 172 +
實施例45 179 +
實施例46 180 +
實施例47 241 +
實施例48 229 ++
實施例49 185 ++
實施例50 203 +
其中拋光墊表面清潔程度按以下方式進行描述: ++++ 拋光墊表面有嚴重污染;+++ 拋光墊表面有明顯污染;++ 拋光墊表面有少量污染;+ 拋光墊表面無明顯污染。
由表2可見,與對比例相比,本發明實施例的拋光液具有較高的無定形碳去除速率。對比例1-3的拋光液含有單組分的磨料,對比例4拋光液選用了複合磨料和高錳酸鉀作為氧化劑,具有一定的無定形碳的去除速率,但拋光後拋光墊表面清潔程度較差。與對比例2、3和4的拋光液相比,實施例42、44和45的拋光液添加了無機酸及其鹽類,其無定形碳的去除速率略有降低,但能夠有效減少拋光墊表面的拋光副產物殘留,顯著改善了拋光墊表面清潔程度。
由此可見,本發明的實施例42-50拋光液通過選擇合適的粒徑的磨料、氧化劑及無機酸及其鹽類,並調節合適的pH值,在保證較高的無定形碳去除速率的同時,減少拋光副產物在拋光墊表面的殘留,顯著改善了拋光墊的表面清潔程度。
效果實施例2 採用對比例1-4和本發明實施例47-50的拋光液,按照下述條件對空片無定形碳進行拋光並檢測表面缺陷數量。具體拋光條件:拋光機台為Reflexion LK,拋光墊IC1010拋光墊,300mm晶圓,研磨壓力2.5psi,研磨盤轉速93轉/分鐘,研磨頭轉速87轉/分鐘,拋光液流速為300ml/min,拋光時間為1min。用表面缺陷掃描器SP2檢測拋光後空白晶圓的表面缺陷數,所得的表面缺陷數的結果列於表3。
表3 對比例1-4和實施例47-50的拋光後無定形碳表面缺陷數
拋光液 無定形碳表面缺陷數(>80nm)(顆)
對比例1 396
對比例2 419
對比例3 387
對比例4 425
實施例47 63
實施例48 46
實施例49 37
實施例50 59
由表3可見,對比例1-4未使用無機酸及其鹽類,拋光後無定形碳晶圓表面的缺陷數量350-450顆的範圍內,而在本發明中使用無機酸及其鹽類的實施例47-50的拋光液對拋光後無定形碳表面缺陷有顯著改善,表面缺陷數量減少至30-70顆的範圍內,無定形碳表面缺陷數量大幅度降低。
效果實施例3 採用對比例1-4和實施例47-50的拋光液,按照下述條件對空片碳化矽進行拋光。具體拋光條件:拋光機台為Reflexion LK,拋光墊IC1010拋光墊,300mm晶圓,研磨壓力2.5psi,研磨盤轉速93轉/分鐘,研磨頭轉速87轉/分鐘,拋光液流速為300ml/min,拋光時間為1min。測得對比例1-4和實施例47-50的拋光效果資料記於表4。
表4對比例1-4和實施例47-50的碳化矽拋光效果資料
拋光液 碳化矽去除速率(Å/min) 拋光墊表面清潔程度
對比例1 220 +++
對比例2 674 +++
對比例3 281 ++++
對比例4 659 +++
實施例47 802 ++
實施例48 748 +
實施例49 683 +
實施例50 705 +
由表4可見,與未添加無機酸及其鹽類的對比例1-4相比,本發明使用無機酸及其鹽類的實施例47-50的拋光液,仍有較高的碳化矽的去除速率,同時減少拋光墊表面的拋光墊副產物殘留,提高拋光墊表面清潔程度。
綜上所述,本發明通過添加無機酸及其鹽類,在酸性條件下保證拋光液對含碳材料具有較高的去除速率,減少拋光後拋光墊表面的拋光副產物殘留,同時降低拋光後晶圓表面的缺陷。
以上對本發明的具體實施例進行了詳細描述,但其只是作為範例,本發明並不限制於以上描述的具體實施例。對於本領域技術人員而言,任何對本發明進行的等同修改和替代也都在本發明的範疇之中。因此,在不脫離本發明的精神和範圍下所作的均等變換和修改,都應涵蓋在本發明的範圍內。

Claims (11)

  1. 一種化學機械拋光液,其特徵在於,包含:磨料、氧化劑、無機酸及其鹽類,及水。
  2. 如請求項1所述的去化學機械拋光液,其中,所述無機酸選自氫溴酸、氫碘酸、氫碲酸、硼酸、過硼酸、偏硼酸、溴酸、碘酸、鉻酸、錳酸、砷酸、鎢酸、鉬酸、硒酸、碲酸、鉛酸、偏鋁酸、偏亞砷酸、磷酸、次磷酸、焦磷酸中的一種或多種;及所述鹽類選自鉀鹽、鈉鹽或銨鹽中的一種或多種。
  3. 如請求項1所述的化學機械拋光液,其中,所述氧化劑為高錳酸鉀。
  4. 如請求項1所述的化學機械拋光液,其中,所述磨料選自二氧化錳、三氧化二鋁、二氧化鈰、二氧化鈦單組分磨料以及表面包覆二氧化矽、三氧化二鋁、二氧化鈰、二氧化鈦的複合磨料中一種或多種。
  5. 如請求項1所述的化學機械拋光液,其中,所述磨料的質量百分比含量為0.1-10wt%。
  6. 如請求項1所述的化學機械拋光液,其中,所述磨料的粒徑範圍為50-500nm。
  7. 如請求項1所述的化學機械拋光液,其中,所述氧化劑的質量量百分比含量為0.01-1wt%。
  8. 如請求項1所述的化學機械拋光液,其中,所述無機酸及其鹽類的質量百分比含量為0.01-2wt%。
  9. 如請求項8所述的化學機械拋光液,其中,所述無機酸及其鹽類的質量量百分比含量為0.1-0.5wt%。
  10. 如請求項1所述的化學機械拋光液,其中,所述化學機械拋光液的pH值為2-6。
  11. 一種化學機械拋光液的使用方法,其特徵在於,將如請求項1至10項中任一項所述的化學機械拋光液用於含碳材料的化學機械拋光。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MY133305A (en) * 2001-08-21 2007-11-30 Kao Corp Polishing composition
CN101371339A (zh) * 2003-05-12 2009-02-18 高级技术材料公司 用于步骤ⅱ的铜衬里和其他相关材料的化学机械抛光组合物及其使用方法
TWI288046B (en) * 2003-11-14 2007-10-11 Showa Denko Kk Polishing composition and polishing method
JP2009094430A (ja) * 2007-10-12 2009-04-30 Adeka Corp Cmp用研磨組成物
CN101966689B (zh) * 2010-09-27 2013-04-10 山东大学 一种大直径4H-SiC晶片碳面的表面抛光方法
JP6358739B2 (ja) * 2014-04-08 2018-07-18 山口精研工業株式会社 研磨用組成物
JP2016092247A (ja) * 2014-11-06 2016-05-23 株式会社ディスコ SiC基板の研磨方法
CN104804649B (zh) * 2015-04-24 2017-08-11 清华大学 一种用于氮化镓的抛光液
US20200102476A1 (en) * 2018-09-28 2020-04-02 Versum Materials Us, Llc Barrier Slurry Removal Rate Improvement
CN109545680B (zh) * 2018-10-16 2020-11-20 山东天岳先进材料科技有限公司 一种高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底的快速制备方法
CN111303772A (zh) * 2020-02-25 2020-06-19 山西烁科晶体有限公司 一种超快速低损碳化硅衬底抛光液及其制备方法
CN111574927A (zh) * 2020-06-22 2020-08-25 宁波日晟新材料有限公司 一种含还原剂的碳化硅抛光液及其制备方法和应用

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