TW202217163A - 油膜之狀態檢測方法、狀態檢測裝置及程式 - Google Patents

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Abstract

本發明之油膜之狀態檢測方法係檢測在利用潤滑劑使複數個部位潤滑之構成之裝置內的前述潤滑劑之油膜狀態者，且具有如下步驟：測定步驟，其藉由對包含前述複數個部位之電路一面使頻率變化一面施加交流電壓，而測定前述電路之阻抗及相位角；及導出步驟，其基於前述潤滑劑於高頻極限下之相對介電常數、及前述測定出之前述阻抗及前述相位角，導出前述潤滑劑所形成之油膜厚度及表示該油膜厚度之電氣特性之參數。

Description

油膜之狀態檢測方法、狀態檢測裝置及程式
本申請案發明係關於一種油膜之狀態檢測方法、狀態檢測裝置及程式。
先前，於軸承裝置中，廣泛普及使用潤滑劑(例如，潤滑油或潤滑脂)、對其旋轉予以潤滑之構成。另一方面，進行如下之活動，即：藉由對軸承裝置等之旋轉零件定期地進行狀態診斷，而早期檢測損傷或磨耗，從而抑制旋轉零件之故障等之發生。
於使用潤滑劑之軸承裝置中，為了診斷其動作狀態，而要求適切地檢測內部之狀態。例如，於專利文獻1中，揭示一種在滾動裝置中，檢測潤滑油之膜之厚度及金屬之接觸比例之方法。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2019-211317號公報
[發明所欲解決之課題]
掌握軸承裝置等裝置中潤滑劑周圍之狀態對於防止該裝置之損傷等非常有用。於專利文獻1之方法中，可導出潤滑劑之膜之厚度及金屬之接觸比例，但未進行導出與滾動軸承之電氣特性相關之參數。首先，由於難以實際測量旋轉時之滾動軸承內之潤滑劑之油膜厚度，因此難以導出該油膜厚度下之電氣特性。
鑒於上述課題，本申請案發明之目的在於提供一種導出滾動軸承等裝置中之潤滑劑之膜之厚度、及與藉由膜之厚度而實現之電氣特性相關之參數之方法。 [解決課題之技術手段]
為了解決上述課題，本申請案發明具有以下之構成。亦即，一種狀態檢測方法，其係檢測在利用潤滑劑使複數個部位潤滑之構成之裝置內的前述潤滑劑之油膜狀態者，且具有如下步驟： 測定步驟，其藉由對包含前述複數個部位之電路一面使頻率變化一面施加交流電壓，而測定前述電路之阻抗及相位角；及 導出步驟，其基於根據前述潤滑劑之組成而規定之前述潤滑劑於高頻極限下之相對介電常數、及以前述測定步驟測定出之前述阻抗及前述相位角，導出前述潤滑劑所形成之油膜厚度及表示該油膜厚度之電氣特性之參數。
又，本申請案發明之又一形態具有以下之構成。亦即，一種狀態檢測裝置，其係檢測在利用潤滑劑使複數個部位潤滑之構成之裝置內的前述潤滑劑之油膜狀態者，且具備： 測定機構，其藉由對包含前述複數個部位之電路一面使頻率變化一面施加交流電壓，而測定前述電路之阻抗及相位角；及 導出機構，其基於根據前述潤滑劑之組成而規定之前述潤滑劑於高頻極限下之相對介電常數、及以前述測定機構測定出之前述阻抗及前述相位角，導出前述潤滑劑所形成之油膜厚度及表示該油膜厚度之電氣特性之參數。
又，本申請案發明之又一形態具有以下之構成。亦即，一種程式， 其使電腦執行如下步驟： 測定步驟，其對於利用潤滑劑使複數個部位潤滑之構成之裝置，對包含前述複數個部位之電路一面使頻率變化一面施加交流電壓，而測定前述電路之阻抗及相位角；及 導出步驟，其基於根據前述潤滑劑之組成而規定之前述潤滑劑於高頻極限下之相對介電常數、及以前述測定步驟測定出之前述阻抗及前述相位角，導出前述潤滑劑所形成之油膜厚度及表示該油膜厚度之電氣特性之參數。 [發明之效果]
根據本申請案發明，可提供一種導出裝置內之潤滑劑之膜之厚度、及與藉由膜之厚度而實現之電氣特性相關之參數之方法。
以下，參照圖式等對於用於實施本申請案發明之形態進行說明。再者，以下所說明之實施形態係用於說明本申請案發明之一個實施形態，並非意圖限定本申請案發明而解釋者，又，各實施形態中所說明之所有構成未必係為了解決本申請案發明之課題而必須之構成。又，於各圖式中，對於相同之構成要素藉由賦予相同之參考符號而表示對應關係。
＜第1實施形態＞ 以下，對於本申請案發明之第1實施形態進行說明。再者，於以下之說明中，作為滾動軸承而舉出滾珠軸承為例進行說明，但並不限定於此，本申請案發明亦可適用於其他構成之滾動軸承。例如，作為可適用本申請案發明之滾動軸承之種類，舉出深槽滾珠軸承、斜角滾珠軸承、圓錐滾子軸承、圓筒滾子軸承、自動調心滾子軸承等。
[裝置構成] 圖1顯示利用本實施形態之診斷裝置1進行診斷時之整體構成之一例之概略構成圖。於圖1中，設置有適用本實施形態之狀態檢測方法之軸承裝置2、以及進行狀態檢測及診斷之診斷裝置1。再者，圖1所示之構成係一例，亦可根據軸承裝置2之構成等使用不同之構成。又，於圖1中，顯示軸承裝置2具備一個滾動軸承之構成，但並不限定於此，亦可於一個軸承裝置2具備複數個滾動軸承。
於軸承裝置2中，滾動軸承將旋轉軸7以旋轉自如之方式支持。旋轉軸7經由作為旋轉零件之滾動軸承受覆蓋旋轉軸7之外側之罩殼(未圖示)支持。滾動軸承具備：外環(外方構件)3，其係內嵌於罩殼之固定環；內環(內方構件)4，其係外嵌於旋轉軸7之旋轉環；複數個滾動體5即複數個滾珠(滾子)，其等配置於內環4及外環3之間；及保持器(未圖示)，其將滾動體5以滾動自如之方式保持。此處，設為將外環3予以固定之構成，但亦可為如內環4被固定、而外環3旋轉之構成。又，設置有用於防止向滾動體5周邊之灰塵之侵入或潤滑油之洩漏之周邊構件即密封件6。於滾動軸承內部，藉由特定之潤滑方式，減輕內環4與滾動體5之間、及外環3與滾動體5之間之摩擦。潤滑方式並無特別限定，例如使用潤滑脂潤滑或油潤滑等，供給至滾動軸承內部。對於潤滑劑之種類亦無特別限定。
馬達10係驅動用之馬達，對旋轉軸7供給藉由旋轉而實現之動力。旋轉軸7經由旋轉連接器9連接於LCR測試儀8。旋轉連接器9例如可使用碳刷構成，但並不限定於此。又，軸承裝置2亦電性連接於LCR測試儀8，此時，LCR測試儀8作為針對軸承裝置2之交流電源發揮功能。
診斷裝置1作為可執行本實施形態之檢測方法之檢測裝置而動作。診斷裝置1在診斷時，對LCR測試儀8作為輸入而指示交流電源之角頻率ω、及交流電壓V，作為與其對應之輸出而自LCR測試儀8取得軸承裝置2之阻抗|Z|(|Z|表示Z之絕對值)、及相位角θ。然後，診斷裝置1使用該等值進行與軸承裝置2中之潤滑劑之狀態相關之資訊之檢測。關於檢測方法之詳情將於後述。
診斷裝置1例如利用構成為包含未圖示之控制裝置、記憶裝置、及輸出裝置之資訊處理裝置而實現。控制裝置可由CPU(Central Processing Unit，中央處理單元)、MPU(Micro Processing Unit，微處理單元)、DSP(Digital Single Processor，數位訊號處理器)、或專用電路等構成。記憶裝置藉由HDD(Hard Disk Drive，硬碟機)、ROM(Read Only Memory，唯讀記憶體)或RAM(Random Access Memory，隨機存取記憶體)等揮發性及非揮發性之記憶媒體構成，可藉由來自控制裝置之指示而進行各種資訊之輸入輸出。輸出裝置係由揚聲器或燈、或者液晶顯示器等顯示器件等構成，藉由來自控制裝置之指示進行向作業者之報知。由輸出裝置執行之報知方法並無特別限定，例如可為藉由聲音而實現之聽覺性之報知，亦可為藉由畫面輸出而實現之視覺性之報知。又，輸出裝置可為具備通訊功能之網路介面，可藉由經由網路(未圖示)向外部裝置(未圖示)之資料發送而進行報知動作。此處之報知內容例如在基於檢測結果進行異常診斷之情形下，並不限定於檢測到異常時之報知，亦可包含軸承裝置2係正常之主旨之報知。
[實體模型] 使用圖2對於軸承裝置2中之滾動體5與外環3(或內環4)之接觸狀態進行說明。圖2係顯示滾珠方與圓盤方接觸時之實體模型之圖表。滾珠方與滾動體對應，圓盤方與外環3(或內環4)對應。h軸表示油膜厚度方向，y軸表示與油膜厚度方向正交之方向。又，圖2所示之各變數分別如以下所述般。 S 1：赫茲(Hertzian)接觸面積(赫茲接觸區域) c：赫茲接觸圓半徑(=√(S 1/π)) α：油膜之斷裂率(金屬接觸比例)(0≦α＜1) r b：滾珠方之半徑 αS 1：實際接觸區域(油膜之斷裂區域) h：油膜厚度 h 1：赫茲接觸區域之油膜厚度
於赫茲接觸區域中，接觸有金屬之面積與未接觸之面積之比例成為α：(1-α)。又，在滾珠方與圓盤方未接觸之理想狀態下，於α=0、且y=0時成為h＞0。
圖2所示之油膜厚度h係由以下之式表示。 h=0 (-αS 1/2≦y≦αS 1/2) h=h 1(-c≦y＜-αS 1/2、或αS 1/2＜y≦c) h=h 1+√(r b 2-c 2)-√(r b 2-y 2) (-r b≦y＜-c、或c＜y≦r b)  …(1)
再者，由於在實際之滾動軸承中滾動體5在承受荷重時會產生彈性變形，因此嚴格而言不會成為球體，但在本實施形態中設為球體，並使用上述之式(1)。因此，在求油膜厚度時使用之式並不限定於式(1)，亦可使用其他算式。
圖3係顯示滾動軸承之幾何學模型之圖。x軸表示與y軸及h軸分別正交之軸方向。圖3所示之各變數分別如以下所述。又，與圖2相同之記號為相對應者。 R x：有效半徑(x軸) R y：有效半徑(y軸) h 1：赫茲接觸區域之油膜厚度 r b：滾珠方之半徑
如圖3所示般，設為滾動體5繞y軸旋轉、且設為對y軸方向施加荷重(軸向荷重)者進行說明。
[等效電路] 圖4係以電性上等效之電路(等效電路)顯示圖2所示之實體模型之圖。等效電路E1包含電阻R 1、電阻R 2、電容器C 1、及電容器C 2。電阻R 1相當於斷裂區域(=αS 1)之電阻。電阻R 2相當於斷裂區域周邊之電阻。電容器C 1相當於由赫茲接觸區域之油膜形成之電容器，設為靜電電容C 1。電容器C 2相當於由赫茲接觸區域之周邊(圖2之-r b≦y＜-c、及c＜y≦r b)之油膜形成之電容器，設為靜電電容C 2。赫茲接觸區域(=S 1)形成圖4之等效電路E1中之電阻R 1與電容器C 1之並聯電路。又，赫茲接觸區域周邊形成圖4之等效電路E1中之電阻R 2與電容器C 2之並聯電路。進而，藉由該等並聯電路並聯連接，而形成等效電路E1。此時，設為在赫茲接觸區域之周邊(圖2之-r b≦y＜-c、及c＜y≦r b)，填充有潤滑劑。
利用Z表示等效電路E1之阻抗。此處，施加於等效電路E1之交流電壓V、於等效電路E1中流動之電流I、及等效電路E1整體之複素數阻抗Z利用以下之式(2)～(4)表示。 V=|V|exp(jωt) …(2) I=|I|exp(jωt-jθ) …(3) Z=V/I=|V/I|exp(jθ)=|Z|exp(jθ) …(4) j：虛數 ω：交流電壓之角頻率 t：時間 θ：相位角(電壓與電流之相位之偏移)
圖5係基於圖4中所示之等效電路E1，顯示一個滾動體5周圍之電性上等效之電路之圖。若著眼於一個滾動體5，則在外環3與滾動體5之間、及內環4與滾動體5之間形成有等效電路E2。此處，以上側為由外環3與滾動體5形成之電路、以下側為由內環4與滾動體5形成之電路進行說明，但亦可為相反。於一個滾動體5之周圍，該等電路串聯地連接而形成等效電路E2。
[軸向荷重下之油膜介電常數] 於本實施形態中，對於針對滾動軸承經由旋轉軸7施加軸向荷重之狀態下之相對介電常數及相對介電損耗率進行說明。若根據圖5中所示之等效電路E2，則各電阻及電容器之值係由以下之式定義。
[數1]
Figure 02_image001
[數2]
Figure 02_image003
[數3]
Figure 02_image005
[數4]
Figure 02_image007
[數5]
Figure 02_image009
[數6]
Figure 02_image011
ε：油膜(潤滑劑)之介電常數 ε’：油膜之相對介電常數 ε”：油膜之相對介電損耗率 Z：電路整體之阻抗 R 1：赫茲接觸區域之電阻 R 2：赫茲接觸區域周邊之電阻 C 1：赫茲接觸區域之靜電電容 C 2：赫茲接觸區域周邊之靜電電容 S：赫茲接觸面積 k：滾動軸承數 n：所有滾動體數 l：每一滾動體之接觸區域之數 ω：交流電壓之角頻率 θ：相位角 h：油膜厚度 r：滾動體之有效半徑 r x：滾動體之有效半徑(x軸) r y：滾動體之有效半徑(y軸) π：圓周率 ln：對數函數
若基於上述之式(5)～(10)，對於相對介電常數ε’及相對介電損耗率ε”進行整理，則求得以下之式。
[數7]
Figure 02_image013
[數8]
Figure 02_image015
於本實施形態中，關於軸向荷重下之滾動軸承之相對介電常數及相對介電損耗率之導出，使用上述之式(11)、式(12)。
[相對介電常數及相對介電損耗率] 圖6係用於說明與頻率之變化相應之相對介電常數或相對介電損耗率之變化之傾向之圖。此處，於圖1所示之構成中，藉由利用以下之條件進行試驗而測定滾動軸承內之潤滑劑之相對介電常數ε r’及相對介電損耗率ε r”，且確認由滾動軸承內之潤滑劑所致之介電弛豫現象。此時，使用上述之式(11)、式(12)進行相對介電常數ε r’及相對介電損耗率ε r”之導出。此處，作為一例，將式(7)、式(8)中之油膜厚度h設為250 nm。
(試驗條件) 軸承：深槽滾珠軸承(銘番：6306) 轉速：997[min -1] 軸向荷重：1000[N] 徑向荷重：0[N] 溫度：23[℃] 潤滑劑：12-OH硬酯酸系潤滑脂 潤滑劑之基礎油：酯類油 交流電壓：1.0[V] 交流電源之頻率：20～1 M[Hz]
於圖6(a)中，橫軸表示頻率[Hz]之對數，縱軸表示相對介電常數ε r’。圖6(a)顯示作為上述之試驗結果而獲得之實驗值。如圖6(a)所示般，相對介電常數ε r’具有伴隨著頻率增加而下降(單調減少)之傾向。
於圖6(b)中，橫軸表示頻率[Hz]之對數，縱軸表示相對介電損耗率ε r”。圖6(b)顯示作為上述之試驗結果而獲得之實驗值。如圖6(b)所示般，相對介電損耗率ε r”具有在伴隨著頻率增加而暫時下降之後，轉為上升，其後又減小之傾向。
[對於理論式之擬合] 接著，對於與由滾動軸承內之潤滑劑所致之介電弛豫現象相關之參數之導出進行說明。藉由滾動軸承內之潤滑劑之介電弛豫現象，相對介電常數或相對介電損耗率具有如圖6中所示之變化傾向。為了特定該變化傾向而對於理論式進行擬合(fitting)，並導出各種參數。於本實施形態中，將低頻極限下之相對介電常數ε r0、高頻極限下之相對介電常數ε r∞、弛豫強度(ε r0-ε r∞)、弛豫時間τ、表示弛豫時間之分佈之常數β、及直流導電率σ 0作為導出對象之參數進行說明。於本實施形態中，使用以下之理論式。
[數9]
Figure 02_image017
[數10]
Figure 02_image019
[數11]
Figure 02_image021
ε r0：低頻極限下之相對介電常數 ε r∞：高頻極限下之相對介電常數 τ：弛豫時間[s] β：表示弛豫時間之分佈之常數 σ 0：直流導電率[S/m] ε 0：真空之介電常數 π：圓周率 f：頻率
圖7係對藉由對於上述之理論式之擬合而獲得之曲線、與藉由實驗而獲得之值予以比較者。於圖7(a)中，橫軸表示頻率[Hz]，縱軸表示相對介電常數ε r’。於圖7(b)中，橫軸表示頻率[Hz]，縱軸表示相對介電損耗率ε r”。如圖7(a)所示般，關於相對介電常數，藉由擬合而理論值可表現實驗值之傾向。又，如圖7(b)所示般，關於相對介電損耗率，亦藉由擬合而理論值可表現實驗值之傾向。
藉由進行對於上述理論式之擬合，作為與潤滑劑相關之電氣特性之參數而可導出低頻極限下之相對介電常數ε r0、高頻極限下之相對介電常數ε r∞、弛豫強度(ε r0-ε r∞)、弛豫時間τ、表示弛豫時間之分佈之常數β、及直流導電率σ 0。再者，上述之理論式係基於柯爾-柯爾(Cole-Cole)型之理論式者，僅為一例。因此，並不限定於該理論式，亦可使用其他理論式。
[參數之導出] (與電氣特性相關之參數) 對於使用上述之方法導出與電氣特性相關之參數之例進行說明。圖8顯示在上述之試驗條件下所測定之實驗結果、及藉由將其與理論式擬合而獲得之理論值之曲線。此處，顯示將滾動軸承內之潤滑劑之油膜厚度h假定為250 nm之例。於圖7(a)中，橫軸表示頻率[Hz]之對數，縱軸表示相對介電常數ε r’。於圖7(b)中，橫軸表示頻率[Hz]之對數，縱軸表示相對介電損耗率ε r”。
圖9顯示基於圖8中所示之擬合之結果而導出之相對介電常數、弛豫強度、弛豫時間、弛豫時間之分佈、及直流導電率。
(油膜厚度) 於圖8、圖9之例中，將油膜厚度h設為250 nm。即，於使用上述之式(11)、式(12)時，為了算出相對介電常數ε r’及相對介電損耗率ε r”，而需要設定油膜厚度h。換言之，相對介電常數ε r’及相對介電損耗率ε r”之值根據油膜厚度h之值而變化。
圖10顯示將油膜厚度設定為不同之值所獲得之實驗值。此處，作為油膜厚度h而使用200 nm、250 nm、及300 nm此3個值進行比較。於圖10(a)中，橫軸表示頻率[Hz]之對數，縱軸表示相對介電常數ε r’。於圖10(b)中，橫軸表示頻率[Hz]之對數，縱軸表示相對介電損耗率ε r”。
如圖10所示般，因油膜厚度h變化，而相對介電常數ε r’及相對介電損耗率ε r”之值變化。另一方面，即便在變更油膜厚度h之設定之情形下，於掃描頻率而獲得之實驗值之變化之傾向上無變動。例如，相對介電常數ε r’如圖10(a)所示般，伴隨著油膜厚度h之變化之變化量在任一頻率下均為一定。同樣地，相對介電損耗率ε r”如圖10(b)所示般，伴隨著油膜厚度h之變化之變化量在任一頻率下亦均為一定。
根據上述之特性，考量同時導出與滾動軸承旋轉時之電氣特性相關之參數及油膜厚度。此處，高頻極限之相對介電常數ε r∞可藉由構成潤滑劑之增稠劑之量與基礎油之種類而特定。因此，首先，根據在滾動軸承中使用之潤滑劑中之增稠劑之量與基礎油之種類，特定高頻極限之相對介電常數ε r∞之值。此處之高頻極限之相對介電常數ε r∞可為潤滑劑為塊狀狀態之值。且，藉由將該高頻極限之相對介電常數ε r∞之值作為邊界條件而設定於式(13)、式(14)，可唯一地特定出油膜厚度h，再者，可特定出與實驗值對應之曲線。即，於圖10(a)所示之例之情形下，藉由特定出相當於高頻極限之相對介電常數ε r∞之右端之位置，而可特定出各頻率下之相對介電常數ε r’之值。
圖11顯示藉由特定出高頻極限之相對介電常數ε r∞之值而獲得之實驗值、及藉由擬合而獲得之理論值。於圖11(a)中，橫軸表示頻率[Hz]之對數，縱軸表示相對介電常數ε r’。於圖11(b)中，橫軸表示頻率[Hz]之對數，縱軸表示相對介電損耗率ε r”。又，圖12顯示基於圖11中所示之擬合之結果而導出之低頻極限下之相對介電常數、弛豫強度、弛豫時間、弛豫時間之分佈、及直流導電率。如上述般，高頻極限之相對介電常數ε r∞之值乃基於潤滑劑之組成而決定，此處使用塊狀狀態之值。
其結果為，可同時導出低頻極限下之相對介電常數、弛豫強度、弛豫時間、弛豫時間之分佈、直流導電率、及油膜厚度。
[處理流程] 圖13係本實施形態之狀態診斷處理之流程圖。本處理係藉由診斷裝置1執行，例如可由診斷裝置1所具備之控制裝置(未圖示)將用於實現本實施形態之處理之程式自記憶裝置(未圖示)讀出並執行而實現。
於S1301中，診斷裝置1以對軸承裝置2沿特定之荷重方向賦予軸向荷重之方式進行控制。再者，賦予軸向荷重之控制可藉由與診斷裝置1不同之其他裝置進行。此時，測定靜態接觸狀態下之相位與阻抗。
於S1302中，診斷裝置1藉由馬達10使旋轉軸7之旋轉開始。藉此開始連接於旋轉軸7之內環4之旋轉。再者，馬達10之控制亦可藉由與診斷裝置1不同之其他裝置進行。
於S1303中，診斷裝置1以對LCR測試儀8使用LCR測試儀8所具備之交流電源(未圖示)將角頻率ω之交流電壓V賦予軸承裝置2之方式控制。藉此，於軸承裝置2施加有角頻率ω之交流電壓V。
於S1304中，診斷裝置1自LCR測試儀8取得阻抗|Z|及相位角θ作為相對於S1303之輸入之輸出。即，LCR測試儀8將阻抗|Z|及相位角θ作為對於作為輸入之交流電壓V及交流電壓之角頻率ω之軸承裝置2之檢測結果，輸出至診斷裝置1。
於S1305中，診斷裝置1取得基於在軸承裝置2中所使用之潤滑劑之組成之高頻極限下之相對介電常數ε r∞之值。再者，高頻極限下之相對介電常數ε r∞之值設為與潤滑劑之組成對應地預先規定。可為如下之構成，即：高頻極限下之相對介電常數ε r∞之資訊可保持於診斷裝置1之記憶裝置(未圖示)，亦可由使用者個別地設定。
於S1306中，診斷裝置1使用在S1304中所取得之阻抗|Z|及相位角θ、在S1303中所指示之角頻率ω之交流電壓V之資訊、及在S1305中所取得之高頻極限下之相對介電常數ε r∞之值，特定油膜厚度h及與理論值對應之曲線。具體而言，藉由使用上述之式(13)～式(15)，進行實驗值之擬合，而求得油膜厚度h與如圖11所示之曲線。
於S1307中，診斷裝置1自作為S1306之擬合之結果而獲得之曲線導出各種參數。於本實施形態中，求得低頻極限下之相對介電常數、弛豫強度、弛豫時間、弛豫時間之分佈、及直流導電率。
於S1308中，診斷裝置1基於在S1306中所特定之油膜厚度、及在S1307中所導出之各種參數，進行潤滑劑之狀態診斷。此處之診斷內容並無特別限定，例如，可為如下之構成，即：針對各參數預先設定臨限值，藉由與該臨限值之比較而診斷正常或異常。又，亦可為如下之構成，即：預先設定與異常之緊急度相應之複數個臨限值，藉由與該等臨限值之比較而診斷緊急度。
於S1309中，診斷裝置1將在S1308中所獲得之診斷結果報知給使用者。此處之報知方法並無特別限定，例如，可為如將判斷為異常之參數或項目在畫面上顯示，或利用聲音來通知之構成。然後，結束本處理流程。
以上，根據本實施形態，即便在滾動軸承等中難以進行潤滑劑之油膜之厚度之實際測量之情形下，仍可特定油膜之厚度、且導出與相應於油膜之電氣特性相關之參數。然後，可基於該等而容易地進行狀態診斷。
再者，於上述之例中，藉由設定高頻極限下之相對介電常數ε r∞，而導出各種參數。然而，並不限定於該構成。例如，於上述之式(7)、式(8)中為包含油膜厚度h之函數。此處，由於油膜厚度h係不因交流電壓之角頻率ω而變化之參數，因此可使用如以dh/dω=0而導出介電常數之構成之式。又，亦可為如基於滾動軸承之運轉條件或設計參數算出油膜厚度h、且使用該值算出各種參數之構成。
＜其他實施形態＞ 於上述之實施形態中，舉出軸承裝置為例進行了說明，但並不限定於此。藉由如使用圖2～圖5所示般設定幾何學模型及等效電路，而亦可將本申請案發明適用於其他裝置。例如，設想在第1實施形態中所述之滾動軸承內之潤滑劑之油膜厚度係μm～nm左右之等級。因此，亦可在進行如此之尺寸之物質之測定時，適用本申請案發明之手法。此外，作為適用之裝置，於利用潤滑劑之滾動裝置等中可適用本申請案發明之手法。
又，於本申請案發明中，可實現如下之處理，即：使用網路或記憶媒體等將用於實現上述一個以上之實施形態之功能之程式或應用供給至系統或裝置，該系統或裝置之電腦中之一個以上之處理器讀出程式並執行。
又，亦可藉由實現一個以上之功能之電路(例如，ASIC(Application Specific Integrated Circuit，特殊應用積體電路)或FPGA(Field Programmable Gate Array，現場可程式化閘陣列)而實現。
如上述般，本發明並非限定於上述之實施形態，將實施形態之各構成相互組合、或本領域技術人員基於說明書之記載以及周知之技術進行變更、應用亦為本發明之計劃實施者，包含於要求保護之範圍內。
如以上所述般，本說明書揭示以下之事項。 (1) 一種狀態檢測方法，其特徵在於，其係檢測在利用潤滑劑使複數個部位潤滑之構成之裝置內的前述潤滑劑之油膜狀態者，且具有如下步驟： 測定步驟，其藉由對包含前述複數個部位之電路一面使頻率變化一面施加交流電壓，而測定前述電路之阻抗及相位角；及 導出步驟，其基於根據前述潤滑劑之組成而規定之前述潤滑劑於高頻極限下之相對介電常數、及以前述測定步驟測定出之前述阻抗及前述相位角，導出前述潤滑劑所形成之油膜厚度及表示該油膜厚度之電氣特性之參數。 根據該構成，可提供一種同時導出裝置內之潤滑劑之膜之厚度、及與藉由膜之厚度而實現之電氣特性相關之參數之方法。
(2) 如(1)之狀態檢測方法，其中前述潤滑劑之高頻極限下之相對介電常數，係塊狀狀態下之前述潤滑劑之高頻極限下之相對介電常數。 根據該構成，藉由使用塊狀狀態之潤滑劑之高頻極限下之相對介電常數，而可容易地同時導出裝置內之潤滑劑之膜之厚度、及與藉由膜之厚度而實現之電氣特性相關之參數。
(3) 如(1)或(2)之狀態檢測方法，其中前述參數包含低頻極限下之相對介電常數、弛豫強度、弛豫時間、弛豫時間之分佈、及直流導電率中之至少任一者。 根據該構成，作為與裝置內之潤滑劑之狀態相應之參數，可導出低頻極限下之相對介電常數、弛豫強度、弛豫時間、弛豫時間之分佈、及直流導電率。
(4) 如(1)至(3)中任一項之狀態檢測方法，其中前述裝置係滾動裝置。 根據該構成，以滾動裝置為對象，可同時導出滾動裝置內之潤滑劑之膜之厚度及與藉由膜之厚度而實現之電氣特性相關之參數。
(5) 如(1)至(3)中任一項之狀態檢測方法，其中前述裝置係軸承裝置， 前述複數個部位包含外方構件、內方構件、及滾動體。 根據該構成，以滾動軸承為對象，可同時導出滾動軸承內之潤滑劑之膜之厚度及與藉由膜之厚度而實現之電氣特性相關之參數。
(6) 如(1)至(5)中任一項之狀態檢測方法，其更具有診斷步驟，該診斷步驟使用在前述導出步驟中導出之前述油膜厚度及前述參數而診斷前述裝置之狀態。 根據該構成，可基於所導出之潤滑劑之油膜厚度及參數進行裝置之狀態診斷。
(7) 一種狀態檢測裝置，其特徵在於，其係檢測在利用潤滑劑使複數個部位潤滑之構成之裝置內的前述潤滑劑之油膜之狀態者，且具有： 測定機構，其藉由對包含前述複數個部位之電路一面使頻率變化一面施加交流電壓，而測定前述電路之阻抗及相位角；及 導出機構，其基於根據前述潤滑劑之組成而規定之前述潤滑劑於高頻極限下之相對介電常數、及以前述測定機構測定出之前述阻抗及前述相位角，導出前述潤滑劑所形成之油膜厚度及表示該油膜厚度之電氣特性之參數。 根據該構成，可提供一種同時導出裝置內之潤滑劑之膜之厚度、及與藉由膜之厚度而實現之電氣特性相關之參數之方法。
(8) 一種程式，其用於使電腦執行如下步驟： 測定步驟，其對於利用潤滑劑使複數個部位潤滑之構成之裝置，對包含前述複數個部位之電路一面使頻率變化一面施加交流電壓，而測定前述電路之阻抗及相位角；及 導出步驟，其基於根據前述潤滑劑之組成而規定之前述潤滑劑於高頻極限下之相對介電常數、及以前述測定步驟測定出之前述阻抗及前述相位角，導出前述潤滑劑所形成之油膜厚度及表示該油膜厚度之電氣特性之參數。 根據該構成，可提供一種同時導出裝置內之潤滑劑之膜之厚度、及與藉由膜之厚度而實現之電氣特性相關之參數之方法。
以上，一面參照圖式一面對於各種實施形態進行了說明，當然本發明並不限定於所述例。只要係本領域技術人員，顯然可在申請專利範圍所記載之範疇內想到各種變更例或修正例，應瞭解其等當然亦屬本發明之技術性範圍內。又，在不脫離發明之趣旨之範圍內，可任意地組合上述實施形態中之各構成要素。
再者，本申請案係基於2020年9月29日申請之日本專利申請案(發明專利申請2020-163963)、及2021年8月25日申請之日本專利申請案(發明專利申請2021-137564)而作成者，將其內容作為參照而援用於本申請案之中。
1:診斷裝置 2:軸承裝置 3:外環(外方構件) 4:內環(內方構件) 5:滾動體 6:密封件 7:旋轉軸 8:LCR測試儀 9:旋轉連接器 10:馬達 c:赫茲接觸圓半徑 C 1:電容器/靜電電容 C 2:電容器/靜電電容 E1:等效電路 E2:等效電路 h:油膜厚度/軸 h 1:赫茲接觸區域之油膜厚度 R 1:電阻 R 2:電阻 r b:滾珠方之半徑 R x:有效半徑(x軸) R y:有效半徑(y軸) S 1:赫茲接觸面積(赫茲接觸區域) y:軸 Z:電路整體之阻抗 αS 1:實際接觸區域(油膜之斷裂區域)
圖1係顯示本申請案發明之診斷時之裝置構成之例之概略圖。 圖2係顯示本申請案發明之軸承裝置之實體模型之圖表。 圖3係顯示本申請案發明之幾何學模型之圖表。 圖4係用於說明本申請案發明之軸承裝置之等效電路之電路圖。 圖5係用於說明本申請案發明之軸承裝置之等效電路之電路圖。 圖6(a)、(b)係用於說明頻率與相對介電常數及相對介電損耗率之關係之圖。 圖7(a)、(b)係用於說明藉由對於理論式之擬合而實現之參數之導出之圖。 圖8(a)、(b)係用於說明藉由對於理論式之擬合而實現之參數之導出之例之圖。 圖9係用於說明藉由對於理論式之擬合而實現之參數之導出之例之圖。 圖10(a)、(b)係用於說明每一油膜厚度之相對介電常數及相對介電損耗率之圖。 圖11(a)、(b)係用於說明油膜厚度及參數之導出之例之圖。 圖12係用於說明油膜厚度及參數之導出之例之圖。 圖13係本申請案發明之測定時之處理之流程圖。
1:診斷裝置
2:軸承裝置
3:外環(外方構件)
4:內環(內方構件)
5:滾動體
6:密封件
7:旋轉軸
8:LCR測試儀
9:旋轉連接器
10:馬達

Claims (8)

  1. 一種狀態檢測方法，其特徵在於，其係檢測在利用潤滑劑使複數個部位潤滑之構成之裝置內的前述潤滑劑之油膜狀態者，且具有如下步驟： 測定步驟，其藉由對包含前述複數個部位之電路一面使頻率變化一面施加交流電壓，而測定前述電路之阻抗及相位角；及 導出步驟，其基於根據前述潤滑劑之組成而規定之前述潤滑劑於高頻極限下之相對介電常數、及以前述測定步驟測定出之前述阻抗及前述相位角，導出前述潤滑劑所形成之油膜厚度及表示該油膜厚度之電氣特性之參數。
  2. 如請求項1之狀態檢測方法，其中前述潤滑劑之高頻極限下之相對介電常數，係塊狀狀態下之前述潤滑劑之高頻極限下之相對介電常數。
  3. 如請求項1或2之狀態檢測方法，其中前述參數包含低頻極限下之相對介電常數、弛豫強度、弛豫時間、弛豫時間之分佈、及直流導電率中之至少任一者。
  4. 如請求項1至3中任一項之狀態檢測方法，其中前述裝置係滾動裝置。
  5. 如請求項1至3中任一項之狀態檢測方法，其中前述裝置係軸承裝置， 前述複數個部位包含外方構件、內方構件、及滾動體。
  6. 如請求項1至5中任一項之狀態檢測方法，其更具有診斷步驟，該診斷步驟使用在前述導出步驟中導出之前述油膜厚度及前述參數而診斷前述裝置之狀態。
  7. 一種狀態檢測裝置，其特徵在於，其係檢測在利用潤滑劑使複數個部位潤滑之構成之裝置內的前述潤滑劑之油膜狀態者，且具有： 測定機構，其藉由對包含前述複數個部位之電路一面使頻率變化一面施加交流電壓，而測定前述電路之阻抗及相位角；及 導出機構，其基於根據前述潤滑劑之組成而規定之前述潤滑劑於高頻極限下之相對介電常數、及以前述測定機構測定出之前述阻抗及前述相位角，導出前述潤滑劑所形成之油膜厚度及表示該油膜厚度之電氣特性之參數。
  8. 一種程式，其用於使電腦執行如下步驟： 測定步驟，其對於利用潤滑劑使複數個部位潤滑之構成之裝置，對包含前述複數個部位之電路一面使頻率變化一面施加交流電壓，而測定前述電路之阻抗及相位角；及 導出步驟，其基於根據前述潤滑劑之組成而規定之前述潤滑劑於高頻極限下之相對介電常數、及以前述測定步驟測定出之前述阻抗及前述相位角，導出前述潤滑劑所形成之油膜厚度及表示該油膜厚度之電氣特性之參數。
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