TW202128378A - 校準方法及校準系統 - Google Patents

Abstract

一種校準方法，包括以下步驟。依據第一物件的外形決定第一感測器的種類及第一感測器載台的種類。藉由第一感測器載台承載第一感測器，並藉由第一感測器量測第一物件相對座標。比對第一物件相對座標與第一物件預設座標而獲得第一物件座標誤差，並修正第一物件座標誤差。在修正第一物件座標誤差後，驅動第一物件或第二物件分別對第二物件或第一物件進行作業。此外一種校準系統亦被提出。

Description

校準方法及校準系統

本發明是有關於一種校準方法及校準系統，且特別是有關於一種可適用於機器手臂的校準方法及校準系統。

當前機器手臂(robotic arm)發展已久，其廣泛應用於自動化製造加工等領域。現有機器手臂編程的方法包括在線教導及離線編程。在線教導是透過人工教導機器手臂，在編程過程中沿著期望路徑引導機器手臂上的刀具以預定的行程作動，進而定義出機器手臂在作業時應遵循的路徑。然而，此種在線教導是費時的，特別是在工件具有複雜幾何形狀的情況下，例如在雷射切割、焊接等高精度的應用中，難以藉由操作者的肉眼判斷刀具的精確行程。因此，即使是由具有豐富編程經驗的操作者進行在線教導，也需花費大量的時間。另一方面，離線編程以虛實整合的方式，先以電腦模擬機器手臂在作業時應遵循的路徑，然後將其導入實際操作，此種方式雖克服了在線教導的費工費時的缺點，但隨著自動化製造加工的效率及精度要求日益提高，機器手臂、工具及工件的實際相對座標的精度要求非常高。此外，機器手臂應用的層面越來越廣泛，其可對應的工件及工具種類繁多。因此，快速、精確且具高泛用性的機器手臂校準方法變得至關重要。

本發明提供一種校準方法及校準系統，可快速且精確地對機器手臂進行校準，且具高泛用性。

本發明的校準方法包括以下步驟。依據第一物件的外形決定第一感測器及第一感測器載台的種類。第一感測器載台承載第一感測器，並由第一感測器量測第一物件實際座標。比對第一物件實際座標與第一物件預設座標而獲得第一物件座標誤差，並修正第一物件座標誤差。在修正第一物件座標誤差之後，驅動第一物件及第二物件的其中之一對第一物件及第二物件的其中另一進行作業。

本發明的校準系統包括第一感測器、第一感測器載台、設定模組、比對模組、修正模組及控制模組。第一感測器量測第一物件的第一物件實際座標。第一感測器載台承載第一感測器。設定模組依據第一物件的外形決定第一感測器及第一感測器載台的種類。比對模組比對第一物件實際座標與第一物件預設座標而獲得第一物件座標誤差。修正模組修正第一物件座標誤差。控制模組驅動第一物件及第二物件的其中之一對第一物件及第二物件的其中另一進行作業。

基於上述，本發明利用感測器來量測物件與機器手臂的實際座標誤差並據以修正，使其與離線編程的資訊能夠相吻合，從而提升機器手臂後續作業的精度。此外，本發明利用自動化系統依據物件的外形來快速地選出適用的感測器種類及感測器載台種類，而能夠有效率地對各種物件的座標進行感測及校準，從而本發明的校準方法及校準系統具有高泛用性。

圖1是本發明一實施例的校準系統的示意圖。圖2繪示圖1的校準系統的部分構件。請參考圖1及圖2，本實施例的校準系統100包括一第一感測器110、一第一感測器載台120、一設定模組130、一比對模組140、一修正模組150、一控制模組160、一第二感測器170及一第二感測器載台180。設定模組130、比對模組140、修正模組150及控制模組160可整合於單一電腦設備中，然本發明不對此加以限制。

設定模組130適於依據一第一物件50的外形決定第一感測器110的種類及第一感測器載台120的種類，且適於依據一第二物件60的外形決定第二感測器170的種類及第二感測器載台180的種類。所述外形是指物件外表點、線、面、圓、橢圓、曲面、曲線、輪廓等特徵，這些外型特徵可由使用者輸入至設定模組130。在本實施例中，第一物件50例如是待加工的工件，第二物件60例如是用以對所述工件加工的工具，第一感測器110例如是探針，第二感測器170例如是量刀器，第一感測器載台120例如包括一機器手臂122，第二感測器載台180例如包括一工作平台182，第二物件60及第一感測器110適於裝設於機器手臂122上，第一物件50及第二感測器170適於裝設於工作平台182上。機器手臂122例如是多軸機器手臂，其可帶動第二物件60及第一感測器110進行三個移動軸向及三個轉動軸向的運動。

在利用第二物件60對第一物件50進行加工作業之前，為了校準第一物件50的裝設位置與角度之誤差及第二物件60的裝設位置與角度之誤差，本實施例的第一感測器110適於量測第一物件50相對於機器手臂122的一第一物件實際座標，第二感測器170適於量測第二物件60相對於機器手臂122的一第二物件實際座標。比對模組140適於運算、比對所述第一物件實際座標與一第一物件預設座標而獲得一第一物件座標誤差，且比對模組140適於運算、比對所述第二物件實際座標與一第二物件預設座標而獲得一第二物件座標誤差。其中，所述第一物件預設座標及所述第二物件預設座標例如是由離線編程而獲得。修正模組150適於修正所述第一物件座標誤差及修正所述第二物件座標誤差。在所述誤差被修正之後，控制模組160適於控制機器手臂122驅動第一物件60對第二物件50進行所述加工作業。

所述第一物件實際座標例如是第一物件50的幾何中心相對於機器手臂122的末端的座標，或是第一物件50上的適當參考點相對於機器手臂122的適當參考點的座標，本發明不對此加以限制。所述第二物件實際座標例如是第二物件60的幾何中心相對於機器手臂122的末端的座標，或是第二物件60上的適當參考點相對於機器手臂122的適當參考點的座標，本發明不對此加以限制。

如上所述，本實施例利用第一感測器110及第二感測器170來量測第一物件50及第二物件60與機器手臂122的實際座標誤差並據以修正，使其與離線編程的資訊能夠相吻合，從而提升機器手臂122後續作業的精度。此外，本實施例利用自動化系統依據第一物件50及第二物件60的外形來快速地選出適用的感測器種類及感測器載台種類，而能夠有效率地對各種物件的座標進行感測及校準，從而本實施例的校準系統具有高泛用性。

在其他實施例中，第一物件60及第二物件50可為其他類型的物件，機器手臂122適於驅動第一物件60對第二物件50進行其他類型的作業，本發明不對此加以限制。

在上述實施例中，感測器的數量為兩個(第一感測器110及第二感測器180)，然本發明不以此為限，也可僅利用第一感測器110對第一物件50進行座標之量測並進行相應的誤差修正，而不利用第二感測器110對第二物件60進行座標之量測，反之亦然。

以下藉由圖式對本發明一實施例的校準方法進行說明。圖3是本發明一實施例的校準方法的流程圖。請參考圖3，首先，依據第一物件50的外形決定第一感測器110的種類及第一感測器載台120的種類(步驟S1)。藉由第一感測器載台120承載第一感測器110，並藉由第一感測器110量測第一物件50相對於機器手臂122的第一物件實際座標(步驟S2)。比對第一物件實際座標與第一物件預設座標而獲得第一物件座標誤差，並修正第一物件座標誤差(步驟S3)。在修正第一物件座標誤差之後，控制機器手臂122驅動第一物件50及第二物件60的其中之一對第一物件50及第二物件60的其中之另一進行作業(步驟S4)。

上述步驟S1更可包含依據第二物件60的外形決定第二感測器170的種類及第二感測器載台180的種類。上述步驟S2更可包含藉由第二感測器載台180承載第二感測器170，並藉由第二感測器170量測第二物件60相對於機器手臂122的第二物件實際座標。上述步驟S3更可包括比對第二物件實際座標與第二物件預設座標而獲得第二物件座標誤差，並修正第二物件座標誤差。相應地，上述步驟S4可為在修正第一物件座標誤差及第二物件座標誤差之後，控制機器手臂122驅動第一物件50及第二物件60的其中之一對第一物件50及第二物件60的其中之另一進行作業。

在上述步驟S1中，設定模組130係依據第一物件50的外形特徵來選定最適用的感測器種類及感測器載台種類，並可進一步設定相關於選定的感測器的量測特徵參數及感測器載台的作動控制參數。所述量測特徵參數及所述作動控制參數可儲存至校準系統的資料庫，供日後直接使用。此外，上述步驟S3中所計算出的物件座標誤差亦可儲存至所述資料庫，結合所述量測特徵參數及所述作動控制參數以作為再次進行校準作業時的參考資料。

選定的感測器載台除了可如圖2所示為機器手臂122及工作平台182之外，亦可為其他種類的單軸平台、雙軸平台、三軸平台、旋轉台、龍門機構等。另一方面，選定的感測器除了可如圖2所示為探針之外，亦可為三次元量測儀、線性位移技、輪廓儀、雷射感測器、影像感測器等其他種類的感測器，以下藉由圖式對此舉例說明。圖4是本發明另一實施例的校準系統的部分構件。圖4所示實施例以第一感測器110A取代圖2的第一感測器110，第一感測器110A包含一固定於其基座B的探針110A1及可分別沿兩方向D1、D2相對於基座B移動的兩探針110A2、110A3，且基座B可沿垂直於兩方向D1、D2的軸線A旋轉，以更精確地執行點、線、面、圓等多種外形特徵的量測，據以正確地判斷第一物件50的所述第一物件實際座標。

在上述步驟S1中，設定模組130更可對第一物件50的位置進行初步設定，使機器手臂122能夠順利且快速地尋找到第一物件50，然後再以搜尋方式對第一物件50進行精細量測。具體而言，可利用離線編程中相關於第一物件50位置的資訊進行所述初步設定，或由使用者手動輸入第一物件50的位置，或由機器手臂122末端作動至第一物件50所在處並由使用者記錄下此時機器手臂122的末端位置，本發明不對此加以限制。在完成上述步驟S1之後，設定模組130可藉由無線或有線通訊的方式將相關資訊傳遞至第一感測器110及機器手臂122，使第一感測器110及機器手臂122在上述步驟S2進行相應地座標量測作業。

在進行上述步驟S2之前，可先量測第一感測器110相對於機器手臂122的一第一感測器實際座標，即先對第一感測器110進行預校正，然後再於步驟S2中依據所述第一感測器實際座標來量測第一物件50相對於機器手臂122的所述第一物件實際座標，以提升量測精確度。具體而言，以第一感測器110為探針為例，在進行所述預校正時，可先控制機器手臂122驅動第一感測器110移動一行程，以使第一感測器110接觸到一外部結構，然後依據所述行程及所述外部結構的位置而計算出所述第一感測器實際座標。所述外部結構可為位置資訊已知的任何適當實體結構，本發明不對此加以限制。藉此方式，不需利用額外的校準儀器，就可完成第一感測器110的預校正。

圖5繪示本發明另一實施例的校準系統的部分構件。圖5所示實施例與圖2所示實施例的不同處在於，圖5的第一物件50及第二感測器170裝設於機器手臂122，第一感測器110及第二物件60裝設於工作平台182。在圖5中，第一感測器110對第一物件50的量測方式以及第二感測器170對第二物件60的量測方式係相似於前述實施例，於此不再贅述。此外，可將圖4的第一感測器110A或其他適當種類的感測器配置為裝設於圖5的工作平台182以取代第一感測器110，本發明不對此加以限制。

在圖5的配置方式之下，對於第一感測器110的預校正方式與前述方式略有不同，如下述。圖6繪示圖5的機器手臂未裝設第一物件及第二感測器。具體而言，以第一感測器110為探針且第二感測器170為量刀器為例，在進行第一感測器110的預校正時，機器手臂如圖6所示不裝設第一物件50及第二感測器170，控制圖6的機器手臂122移動一行程以使其末端122a或裝設在該末端122a的一物件去接觸第一感測器110，然後依據所述行程獲得第一感測器110的第一感測器實際座標。此外，在進行第二感測器170的預校正時，機器手臂122如圖5所示需裝設第二感測器170，控制機器手臂122驅動第二感測器170移動一行程，以使第二感測器170接觸第一感測器110，然後依據所述行程及所述第一感測器實際座標而獲得第二感測器實際座標，其中所述第一感測器實際座標是如上述般對第一感測器110進行預校正而獲得。

以下藉由圖式來說明包含了對應於圖5及圖6所示實施例的第二感測器170之預校正的校準方法流程。圖7繪示本發明一實施例的校準方法的步驟。圖7的校準方法的步驟包含感測器的預校正步驟S101及物件的座標修正步驟S102，預校正步驟S101例如對應於上述關於第一感測器110及第二感測器170之預校正，座標修正步驟S102例如對應於圖3的步驟S1~S4。詳細而言，在預校正步驟S101中，以第一感測器110自身進行所述預校正(步驟S101a)，判斷第一感測器110是否已完成預校正(步驟S101b)。若否，則回到步驟S101a。若是，則藉由第一感測器110對第二感測器120進行所述預校正(步驟S101c)，判斷第二感測器120是否已完成預校正(步驟S101d)。若否，則回到步驟S101c。若是，則進入座標修正步驟S102，藉由第一感測器110量測第一物件50的第一物件座標誤差並修正第一物件座標誤差(步驟S102a)。判斷第一物件50的第一物件座標誤差是否已修正(步驟S102b)。若否，則回到步驟S102a。若是，則藉由第二感測器170量測第二物件60的第二物件座標誤差並修正第二物件座標誤差(步驟S102c)。判斷第二物件60的第二物件座標誤差是否已修正(步驟S102d)。若否，則回到步驟S102c。若是，則完成校準。

在上述實施例中，第一/第二物件預設座標可包括多個物件預設座標值(如預設的三軸向的位移值及三軸向的轉動值)，第一/第二物件實際座標可包括分別對應於這些物件預設座標值的多個實際座標值(如實際的三軸向的位移值及三軸向的轉動值)，且第一/第二物件座標誤差相應地可包括分別對應於這些實際座標值的多個座標誤差值(如三軸向的位移誤差及三軸向的轉動誤差值)。承上，前述實施例可藉由逐步補償這些座標誤差值的方式進行座標量測及誤差修正，以下以圖2中對第一物件50之座標誤差值進行的量測及修正舉例說明如下。

圖8繪示圖2的第一感測器對第一物件進行量測的步驟。請參考圖8，首先，在步驟S201藉由第一感測器110量測出第一物件50的軸向X及軸向Y的實際轉動值，比對此實際轉動值與軸向X及軸向Y的預設轉動值而獲得軸向X及軸向Y的轉動誤差值，並修正此轉動誤差值；以上陳述及以下步驟均不限制其中軸向之選擇與順序。在步驟S202判斷此轉動誤差值是否已修正。若否，則回到步驟S201。若是，則在步驟S203藉由第一感測器110量測出第一物件50的軸向X及軸向Y的實際位移值，比對此實際位移值與軸向X及軸向Y的預設位移值而獲得軸向X及軸向Y的位移誤差值，並修正此位移誤差值。在步驟S204判斷此位移誤差值是否已修正。若否，則回到步驟S203。若是，則在步驟S205藉由第一感測器110量測出第一物件50的軸向Z的實際轉動值，比對此實際轉動值與軸向Z的預設轉動值而獲得軸向Z的轉動誤差值，並修正此轉動誤差值。在步驟S206判斷此轉動誤差值是否已修正。若否，則回到步驟S205。若是，則在步驟S207藉由第一感測器110量測出第一物件50的軸向Z的實際位移值，比對此實際位移值與軸向Z的預設位移值而獲得軸向Z的位移誤差值，並修正此位移誤差值。在步驟S208判斷此位移誤差值是否已修正。若否，則回到步驟S207。若是，則完成校準。

在步驟S201、S203、S205、S207中，修正轉動/位移誤差值的方式，例如是依據誤差值調整第一物件50的位置/角度以補償誤差值，或是依據誤差值調整機器手臂122的作動位移量/轉動量以補償誤差值，本發明不對此加以限制。圖2中對第二物件60進行的量測及修正的方式相同或相似於此，不再加以贅述。

50:第一物件 60:第二物件 100:校準系統 110:第一感測器 110A1、110A2、110A3:探針 120:第一感測器載台 122:機器手臂 130:設定模組 140:比對模組 150:修正模組 160:控制模組 170:第二感測器 180:第二感測器載台 182:工作平台 A:軸線 B:基座 D1、D2:方向 X、Y、Z:軸向

圖1是本發明一實施例的校準系統的示意圖。 圖2繪示圖1的校準系統的部分構件。 圖3是本發明一實施例的校準方法的流程圖。 圖4是本發明另一實施例的校準系統的部分構件。 圖5繪示本發明另一實施例的校準系統的部分構件。 圖6繪示圖5的機器手臂未裝設第一物件及第二感測器。 圖7繪示本發明一實施例的校準方法的步驟。 圖8繪示圖2的第一感測器對第一物件進行量測的步驟。

50:第一物件

60:第二物件

110:第一感測器

120:第一感測器載台

122:機器手臂

170:第二感測器

180:第二感測器載台

182:工作平台

X、Y、Z:軸向

Claims (23)

1. 一種校準方法，包括： 依據一第一物件的外形決定一第一感測器的種類及一第一感測器載台的種類； 藉由該第一感測器載台承載該第一感測器，並藉由該第一感測器量測該第一物件的一第一物件實際座標； 比對該第一物件實際座標與一第一物件預設座標而獲得一第一物件座標誤差，並修正該第一物件座標誤差；以及 在修正該第一物件座標誤差之後，驅動該第一物件及一第二物件的其中之一對該第一物件及該第二物件的其中另一進行作業。
2. 如申請專利範圍第1項所述的校準方法，其中該第一物件實際座標是該第一物件相對於一機器手臂的座標。
3. 如申請專利範圍第2項所述的校準方法，其中決定該第一感測器載台的種類的步驟包括： 依據該第一物件的外形決定該第一感測器載台為該機器手臂。
4. 如申請專利範圍第2項所述的校準方法，其中該第一物件裝設於該機器手臂及一工作平台的其中之一，該第一感測器及該第二物件裝設於該機器手臂及該工作平台的其中另一。
5. 如申請專利範圍第1項所述的校準方法，其中該第一物件預設座標包括多個物件預設座標值，該第一物件實際座標包括分別對應於該些物件預設座標值的多個實際座標值，該第一物件座標誤差包括分別對應於該些實際座標值的多個座標誤差值，量測該第一物件實際座標及修正該第一物件座標誤差的步驟包括： 量測出至少一該實際座標值，比對該至少一實際座標值與對應的至少一該物件預設座標值而獲得對應的至少一該座標誤差值，並修正該至少一座標誤差值；以及 在修正該至少一座標誤差值之後，量測出至少另一該實際座標值，比對該至少另一實際座標值與對應的至少一該物件預設座標值而獲得對應的至少另一該座標誤差值，並修正該至少另一座標誤差值。
6. 如申請專利範圍第2項所述的校準方法，其中量測該第一物件實際座標的步驟包括： 量測該第一感測器相對於該機器手臂的一第一感測器實際座標；以及 依據該第一感測器實際座標，藉由該第一感測器量測該第一物件相對於該機器手臂的該第一物件實際座標。
7. 如申請專利範圍第6項所述的校準方法，其中該第一感測器裝設於該工作平台，量測該第一感測器實際座標的步驟包括： 控制該機器手臂移動一行程以接觸該第一感測器；以及 依據該行程獲得該第一感測器實際座標。
8. 如申請專利範圍第6項所述的校準方法，其中該第一感測器裝設於該機器手臂，量測該第一感測器實際座標的步驟包括： 控制該機器手臂驅動該第一感測器移動一行程，以使該第一感測器接觸一外部結構；以及 依據該行程及該外部結構的位置而獲得該第一感測器實際座標。
9. 如申請專利範圍第2項所述的校準方法，更包括： 依據該第二物件的外形決定一第二感測器的種類及一第二感測器載台的種類； 藉由該第二感測器載台承載該第二感測器，並藉由該第二感測器量測該第二物件相對於該機器手臂的一第二物件實際座標； 比對該第二物件實際座標與一第二物件預設座標而獲得一第二物件座標誤差，並修正該第二物件座標誤差；以及 在修正該第二物件座標誤差之後，控制該機器手臂驅動該第一物件及一第二物件的其中之一對該第一物件及該第二物件的其中之另一進行作業。
10. 如申請專利範圍第9項所述的校準方法，其中該第一物件及該第二感測器裝設於該機器手臂及一工作平台的其中之一，該第一感測器及該第二物件裝設於該機器手臂及該工作平台的其中之另一。
11. 如申請專利範圍第9項所述的校準方法，其中該第二感測器裝設於該機器手臂，該第一感測器裝設於一工作平台，量測該第二感測器實際座標的步驟包括： 控制該機器手臂驅動該第二感測器移動一行程，以使該第二感測器接觸該第一感測器；以及 依據該行程及該第一感測器相對於該機器手臂的一第一感測器實際座標而獲得該第二感測器實際座標。
12. 如申請專利範圍第11項所述的校準方法，包括： 控制該機器手臂移動一行程，以使該機器手臂接觸該第一感測器；以及 依據該行程而獲得該第一感測器實際座標。
13. 一種校準系統，適於連接一機器手臂，該系統包括： 一第一感測器，適於量測一第一物件相對於該機器手臂的一第一物件實際座標； 一第一感測器載台，適於承載該第一感測器； 一設定模組，適於依據該第一物件的外形決定該第一感測器的種類及該第一感測器載台的種類； 一比對模組，適於比對該第一物件實際座標與一第一物件預設座標而獲得一第一物件座標誤差； 一修正模組，適於修正該第一物件座標誤差；以及 一控制模組，適於控制該機器手臂驅動該第一物件及一第二物件的其中之一對該第一物件及該第二物件的其中之另一進行作業。
14. 如申請專利範圍第13項所述的校準系統，其中該設定模組適於依據該第一物件的外形決定該第一感測器載台為該機器手臂。
15. 如申請專利範圍第13項所述的校準系統，其中該第一物件裝設於該機器手臂及一工作平台的其中之一，該第一感測器及該第二物件裝設於該機器手臂及該工作平台的其中之另一。
16. 如申請專利範圍第13項所述的校準系統，其中該第一物件預設座標包括多個物件預設座標值，該第一物件實際座標包括分別對應於該些物件預設座標值的多個實際座標值，該第一物件座標誤差包括分別對應於該些實際座標值的多個座標誤差值， 該第一感測器適於量測出至少一該實際座標值，該比對模組適於比對該至少一實際座標值與對應的至少一該物件預設座標值而獲得對應的至少一該座標誤差值，該修正模組適於修正該至少一座標誤差值， 在修正該至少一座標誤差值之後，該第一感測器適於量測出至少另一該實際座標值，該比對模組適於比對該至少另一實際座標值與對應的至少該物件預設座標值而獲得對應的至少另一該座標誤差值，該修正模組適於修正該至少另一座標誤差值。
17. 如申請專利範圍第13項所述的校準系統，其中該第一感測器適於依據該第一感測器相對於該機器手臂的一第一感測器實際座標量測該第一物件實際座標。
18. 如申請專利範圍第17項所述的校準系統，其中該第一感測器裝設於該工作平台，該控制模組適於控制該機器手臂移動一行程以接觸該第一感測器，並依據該行程獲得該第一感測器實際座標。
19. 如申請專利範圍第17項所述的校準系統，其中該第一感測器裝設於該機器手臂，該控制模組適於控制該機器手臂驅動該第一感測器移動一行程，以使該第一感測器接觸一外部結構，並依據該行程及該外部結構的位置而獲得該第一感測器實際座標。
20. 如申請專利範圍第13項所述的校準系統，包括： 一第二感測器，適於量測該第二物件相對於該機器手臂的一第二物件實際座標；以及 一第二感測器載台，適於承載該第二感測器， 其中該設定模組適於依據該第二物件的外形決定該第二感測器的種類及該第二感測器載台的種類， 該比對模組適於比對該第二物件實際座標與一第二物件預設座標而獲得一第二物件座標誤差， 該修正模組適於修正該第二物件座標誤差。
21. 如申請專利範圍第20項所述的校準系統，其中該第一物件及該第二感測器裝設於該機器手臂及一工作平台的其中之一，該第一感測器及該第二物件裝設於該機器手臂及該工作平台的其中之另一。
22. 如申請專利範圍第20項所述的校準系統，其中該第二感測器裝設於該機器手臂，該第一感測器裝設於一工作平台，該控制模組適於控制該機器手臂驅動該第二感測器移動一行程，以使該第二感測器接觸該第一感測器，並依據該行程及該第一感測器相對於該機器手臂的一第一感測器實際座標而獲得該第二感測器實際座標。
23. 如申請專利範圍第22項所述的校準系統，其中該控制模組適於控制該機器手臂移動一行程，以使該機器手臂接觸該第一感測器，並依據該行程而獲得該第一感測器實際座標。

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