TW202104949A

TW202104949A - 認證裝置及膜

Info

Publication number: TW202104949A
Application number: TW109109566A
Authority: TW
Inventors: 遠山秀旦; 松居久登; 合田亘
Original assignee: 日商東麗股份有限公司
Priority date: 2019-03-28
Filing date: 2020-03-23
Publication date: 2021-02-01
Also published as: CN113574427A; TWI838492B; WO2020196317A1; JPWO2020196317A1; CN113574427B; KR20210143754A

Abstract

[摘要]課題在於提供一種認證性不會依存於膜的配向角之認證裝置，且以係具有光源、偏光件、膜及光感度感測器且為在偏光件與認證對象物之間配置有具特定特性之膜的認證裝置為宗旨。

Description

認證裝置及膜

本發明係關於具有光源、偏光件(polarizer)、膜、光感度感測器之認證裝置。

伴隨近年來的影像處理技術及資料解析技術之發展，多樣的認證系統正實用化中。尤其，指紋認證、虹膜認證、靜脈認證、臉部認證等的生物體認證裝置，精度的提升和低成本化正進展中，開始使用在行動電話、車輛等各種電子製品中。預測今後會進一步使用在車輛、電子支付等，所以需要具有更高的精度、低成本化、且長期使用時的耐久性之認證裝置。

如專利文獻1所示，一般，光學式認證裝置係將自光源發出的光照射到認證對象物，將所反射的光以光感度感測器接收、攝像，藉由與預先登錄有經圖案化的影像之圖案匹配(matching)來進行認證。在此種認證裝置中，一旦有光源所發出之光以外的光射入，便會導致認證錯誤，所以使用偏光件來抑制外光的反射之情況甚多。又，藉由在最表層使用聚酯或聚碳酸酯等熱塑性樹脂之膜，來防止因破損、刮痕所致之認證功能降低。 [先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]國際公開2017/126153號

[發明欲解決之課題]

然而，在前述膜有偏光性或旋光性之情況，會導致來自光源的光偏光/旋光，結果在所偏光/旋光的光到達光感度感測器前會被偏光件所遮斷，因此會發生認證性降低之問題。

對於此問題，想到兩種對策。第一種方法為︰將光學上大致等向之聚碳酸酯等的未延伸或微延伸膜作成保護膜。然而，有時延伸倍率低的膜容易破裂，欠缺耐衝擊性。又，耐衝擊性高的聚碳酸酯膜具有昂貴之課題。

第二種方法為︰使用經配向的聚酯膜作為保護膜，令配向聚酯膜的主配向軸與偏光件的穿透軸平行，藉以實質上消除在保護膜的偏光。然而，在此方法中，具有當主配向軸的方向和偏光件的穿透軸稍偏移幾次時，導致偏光性變明顯、認證性降低之課題。

又，在使用OLED(有機發光二極體；Organic Light Emitting Diode)作為光源的認證裝置中，因紫外線等所致之OLED的劣化成為長期使用的要害，使OLED的耐久性提升成為與認證裝置的耐用年數提升直接相關之課題。

本發明乃致力於解決上述課題者，係以提供一種認證性不會依存於膜的配向角之認證裝置為課題。 [用以解決課題之手段]

本發明係為了解決上述課題而完成者。亦即，一種認證裝置，係具有光源、偏光件、膜、光感度感測器，其特徵為︰前述膜配置在偏光件與認證對象物之間，且滿足下述(1)及(2)。 (1)在該光線之最強強度的波長中，從前述光源射出之光線的透射率為70%以上100%以下， (2)存在滿足下述(I)式的整數n， (I)A×n-150≦Re≦A×n＋150 在此，A係從前述光源射出的光線中呈現最強強度之波長(nm)，Re係使用平行尼可旋轉法將前述膜以入射角0°的波長587.8nm測定時的面內相位差(nm)。 [發明之效果]

根據本發明，可提供認證性不會依存於膜的配向角之認證裝置。又，可使用便宜的膜，可提升光源的耐久性及畫面的耐衝擊性。

[用以實施發明的形態]

以下，詳細闡述關於本發明的實施形態，惟本發明並不限定於包含以下實施例的實施形態來作解釋，在可達成發明之目的，且不脫離發明要旨的範圍，當然可進行各種變更。

本發明的認證裝置係具有光源、偏光件、膜、光感度感測器之認證裝置，在偏光件與認證對象物之間，配置有滿足下述(1)及(2)的膜。 (1)前述膜在從前述光源射出的光之具有最強強度之波長中的透射率為70%以上100%以下。 (2)將從前述光源射出的光線之具有最強強度之波長設為A(nm)，將以前述膜的平行尼可旋轉法測定之入射角0°的波長587.8nm的面內相位差設為Re(nm)時，滿足下述(I´)式。 (I´)A×n-150≦Re＜A×n＋150 其中，n為整數。

更詳言之，本發明的認證裝置係具有光源、偏光件、膜、及光感度感測器之認證裝置，其特徵為︰前述膜配置在偏光件與認證對象物之間，且滿足下述(1)及(2)。 (1)在該光線之最強強度的波長中，從前述光源射出之光線的透射率為70%以上100%以下。 (2)存在滿足下述(I)式的整數n。 (I)A×n-150≦Re≦A×n＋150 在此，A係從前述光源射出的光線中呈現最強強度之波長(nm)，Re係使用平行尼可旋轉法將前述膜以入射角0°的波長587.8nm測定時的面內相位差(nm)。

本發明的認證裝置係如圖1所示，包含光源(1)、偏光件(2)、膜(3)、光感度感測器(4)而成。較佳為按光源、偏光件、膜的順序配置而成。以下，記載關於此等構成。

〈光源〉構成本發明的認證裝置之光源的種類，只要在能夠藉光感度感測器檢測之波長區域顯示發光者，則可使用任一種光源。例如，也可利用熱陰極管或冷陰極管、無機EL等的螢光性光源、有機電致發光元件光源(有機EL)、發光二極體(LED)、白熱光源等任一光源。尤其，有機EL或LED是合適的光源。如後述，將膜的面內相位差調整成具有從前述光源射出之光的具有最強強度的波長(有將從光源射出之光的具有最強強度的波長稱為光源波長之情況)之約整數倍，在用於提升認證性方面是重要的。因為與膜的面內相位差的大約因數偏離之波長光越多，越會導致認證性降低，所以較佳為使用發光波長頻帶窄且可調整發光波長之光源。從光源射出的光線之具有最強強度的峰值(peak)的半帶寬較佳為5nm以上150nm以下。更佳為5nm以上70nm以下。特佳為5nm以上50nm以下。波長頻帶越窄越接近膜的面內相位差的整數倍，可抑制對認證性造成影響之膜的配向角依存性。在此，所謂配向角是指偏光件的穿透軸與膜的主配向軸所形成的角。此外，本發明中，膜的主配向軸係表示藉由後述的測定方法所求得之慢軸的方向。又，在彎曲的顯示器等的表面設置該認證裝置時，可較佳地使用柔軟的有機EL。

在將有機EL設為光源之情況，特佳為作成如後述之遮蔽紫外線的構成。藉由遮蔽紫外線，可一邊獲得撓性等之有機EL的優點，一邊彌補易因紫外線而劣化之有機EL的缺點。

光源可具有1種發光峰值，也可具有2種以上的發光峰值，而為了提高色純度，較佳為具有1種發光峰值。又，從安全性提升等觀點，將發光峰值種類不同的複數個光源任意組合來使用者較佳。在使用複數個光源之情況，較佳為使用適合於各光源(面內相位差成為光源波長的約整數倍)的膜。

〈光感度感測器〉本發明的認證裝置，為了辨識從對象反射而來的光，必須作成包含光感度感測器之構成。以光感度感測器而言，例如有︰Charge-Coupled Device(CCD，電荷耦合元件)、Complementary metal-oxide-semiconductor(CMOS，互補金氧半導體)等。其中，從製造成本、讀取速度的觀點，使用CMOS(包含Live MOS、背面照射型CMOS、積層型CMOS、曲面CMOS、有機薄膜CMOS、Foveon等)者較佳。尤其，藉由將有機薄膜CMOS與後述的紫外線遮蔽予以組合，可得到薄膜等的有機薄膜CMOS，同時可彌補易因紫外線而劣化之有機薄膜CMOS的缺點。

〈偏光件〉在本發明的認證裝置，為了防止因外光射入所致之認證錯誤，必須作成包含偏光件之構成。在此，所謂的外光是指，從光源發出的光以外之從膜射入光感度感測器側之光。偏光件的素材，可任意地選擇，例如可藉由利用碘化合物等的雙色性材料將聚乙烯醇(PVA)膜染色，進行延伸處理而形成。PVA膜舉例而言，可適用Kuraray製VF-PS＃7500等。

〈膜〉本發明的認證裝置必須作成包含膜的構成。前述膜必須為具有在從光源射出的光線之最強強度之波長中的透射率(光源光線透射率)是70%以上100%以下。在透射率小於70%時，會有光無法充分到達光感度感測器而造成認證性降低之情況。更佳為80%以上100%以下。

又，在本發明的認證裝置中，將從光源射出的光線中呈現最強強度之波長(光源波長)設為A(nm)，將藉前述膜的平行尼可旋轉法(parallel Nicol rotation method)所測定之在入射角0°的波長587.8nm的面內相位差設為Re(nm)時，必須滿足(I´)式。 (I´)A×n-150≦Re＜A×n＋150 其中，n為整數。

更詳言之，本發明的認證裝置係具有光源、偏光件、膜及光感度感測器之認證裝置，其特徵為：前述膜配置在偏光件與認證對象物之間，且滿足下述(1)及(2)。 (1)在該光線之最強強度的波長中，從前述光源射出之光線的透射率為70%以上100%以下。 (2)存在滿足下述(I)式的整數n。 (I)A×n-150≦Re≦A×n＋150 在此，A係從前述光源射出的光線中呈現最強強度之波長(nm)，Re係使用平行尼可旋轉法將前述膜以入射角0°的波長587.8nm測定時的面內相位差(nm)。

(I)式顯示膜的面內相位差為光源波長的約整數倍(從整數倍±150nm的範圍)。膜的面內相位差較佳為從光源波長的整數倍±120nm的範圍，更佳為±100nm的範圍。當膜的面內相位差沒有在上述範圍內時，從光源射出的光在通過膜時會被偏光，由偏光件所致之光吸收的影響變大，會有認證性降低之問題。此外，偏光的程度係依存於配向角。又，從擴大製程視窗(process window)的觀點考量，面內相位差較佳為400nm以上，更佳為600nm以上，又更佳為800nm以上。又，如後述作為面內相位差調節手段之一，係可列舉延伸倍率，惟從膜強度提升的觀點考量，僅在單向強力地延伸並不理想，所以面內相位差宜小於3000nm。由於面內相位差大幅受到膜厚的影響，所以在膜厚過厚的情況下難以作成面內相位差小於3000nm的膜，同樣地若膜厚過薄，則難以作成面內相位差為400nm以上的膜。為了將面內相位差設在上述之較佳範圍，厚度10μm以上、小於100μm從面內相位差調節之容易度的觀點來看是較佳的。更佳為15μm以上、小於50μm。

又，藉由降低延伸倍率，使面內相位差接近0，藉此也能夠使認證性提升，但因膜會變脆弱，所以從耐衝擊性的觀點來看是不佳的。

此外，面內相位差最佳是以光源波長來進行測定，而從測定裝置的光強度安定性考量，以587.8nm進行測定。在光源波長的面內相位差、和在能夠以測定裝置測定之波長的面內相位差的差較佳為40nm以下。

針對面內相位差沒有在上述範圍內時偏光件所致之光吸收變大之機制(mechanism)進行說明。在本發明的認證裝置中對認證對象物進行認證時，從光源射出的光，依序通過偏光件、膜後，到達認證對象物，由認證對象物反射的光依序通過膜、偏光件，藉光感度感測器檢測出。以箭號表示光的路徑時，成為如圖2所示。

偏光件係吸收特定偏光狀態的光，並僅供其他偏光狀態的光透射。因此，當從光源射出的光通過偏光件時，會成為直線偏光或圓偏光。在膜沒有偏光性(光學等向性)的情況下，從光源射出且通過偏光件而射入膜的光，以及被認證對象物反射而射入膜的光，在通過膜前後，偏光狀態不變。因此，在膜沒有偏光性(光學等向性)的情況下，從光源射出並通過偏光件後，通過膜時，以及迄至藉認證對象物反射後且通過膜而射入偏光件為止，偏光狀態不會改變，所以成為在沒有被偏光件吸收下通過，並藉由光感度感測器進行辨識。

然而，在膜有偏光性的情況下，從光源射出並通過偏光件的光，在通過膜時，以及藉認證對象物反射後通過膜時，偏光狀態會改變。因此，一部分的光被偏光件吸收，無法通過。因此，光到達光感度感測器的強度會降低，導致認證性的降低。膜的偏光性係因主配向軸方向和垂直於主配向軸之方向的光路長差而產生，亦即，因面內相位差而產生。在主配向軸方向振動的光快於或慢於在垂直方向振動的光而使兩個光的相位偏移，而偏光。

另一方面，在本發明的認證裝置中，藉由將面內相位差設為光源波長的約整數倍，而將相位的偏移設為2π的約整數倍，使實質上相位的偏移接近零。若相位的偏移變小，即使配向角偏移，偏光件透射後之光強度的降低也會受到抑制。因此，只要膜的面內相位差在上述(I)式的範圍內，則可抑制認證性的降低。

例如，發現在光源波長為525nm的情況下，面內相位差為525nm的整數倍時未依存於配向角而成為高的透射率。針對認證性以後述的方法進行確認，確認到︰藉由調整面內相位差，若認證性為A或B，則作為畫面內指紋認證智慧手機的畫面保護用途呈現良好的認證性能。在智慧手機的機種方面，可舉出例如︰Vivo製 X20 Plus UD、X21、NEX。

又，光源存在有複數種顏色，任一顏色均被光感度感測器接受時，較佳為作成具有如下之面內相位差之膜，即︰對於從光源射出的光線之具有第2強的強度之波長，也成為整數倍的面內相位差。

亦即，較佳為將從光源射出的光線中呈現第2強的強度之波長設為B(nm)，將使用平行尼可旋轉法以入射角0°的波長587.8nm測定前述膜時的面內相位差設為Re(nm)時，存在滿足下述(II)式的整數m。 (II)B×m-150≦Re≦B×m＋150。

此外，在此所謂「呈現第2強的強度之波長」係在描繪(plot)各光源的光線的強度之波長依存性時從成為峰值的波長選擇。在此所謂「峰值」是指描繪光線的發光強度之波長依存性時成為極大值的波長。在此所謂「極大值」是指將光線的強度以波長微分時，符號從正變化成負的波長。在光源為一個的情況下，在成為峰值的波長內，將「呈現最強強度之波長(A)」之次強的強度，且不符合下面兩點的波長設為「呈現第2強的強度之波長(B)」。其中，將A的強度設為P(A)，B的強度設為P(B)。 1.A-20＜B＜A＋20 2.P(B)×100＜P(A) 上述第1點係排除了以下情況：A的峰值的前端分裂的狀態、或A的峰值有肩部的狀態時，被視為B的峰值。因此，也被認為根據峰值形狀，有必要擴大排除範圍而不止於A的±20nm的範圍之情況。

上述第2點係排除了將雜訊(noise)視為B的峰值之情況。因此，有根據測定各光源的光線的強度之波長依存性時之雜訊程度，在A的100分之一以上的強度也應視為雜訊的情況。

在光源為兩個的情況下，將各個光源中「具有最強強度之波長」當中，強度強者設為「呈現最強強度之波長(A)」，強度弱者設為「呈現第2強的強度之波長(B)」。

同樣地，即便光源為三個的情況，較佳為將膜的面內相位差設為各光源之「具有最強強度之波長」的公倍數。

又，即便不是各自的光源中「具有最強強度之波長」，較佳仍為使用具備對於認證裝置的構造上具有重要角色的波長成為整數倍之面內相位差的膜。在此所謂的重要角色，並不限定用於認證的攝像，亦包含排除會影響對象物而產生變化之角色或對象物以外之影響等。

用以將膜的面內相位差設在上述範圍內之方法並不受限，惟可藉由樹脂的折射率的調整、或調整延伸倍率及延伸溫度來達成。

作為構成本發明的膜之樹脂，可列舉例如︰聚對酞酸乙二酯(簡稱：PET)、聚萘二甲酸乙二酯(簡稱：PEN)等的聚酯、聚乙烯、聚丙烯、賽璐玢、二乙酸纖維素、三乙酸纖維素(簡稱：TAC)、醋酸丁酸纖維素、醋酸丙酸纖維素(簡稱：CAP)、乙酸酞酸纖維素(cellulose acetate phthalate)、硝酸纖維素等的纖維素酯類及其等的衍生物、聚偏二氯乙烯、聚乙烯醇、聚乙烯乙烯醇(polyethylene vinyl alcohol)、間規聚苯乙烯、聚碳酸酯(簡稱：PC)、降莰烯樹脂、聚甲基戊烯、聚醚酮、聚醯亞胺、聚醚碸(簡稱：PES)、聚伸苯硫醚、聚碸類、聚醚醯亞胺、聚醚酮醯亞胺、聚醯胺、氟樹脂、尼龍、聚甲基丙烯酸甲酯、丙烯酸基及聚芳香酯類、ARTON(註冊商標)(商品名、JSR公司製)及APEL(註冊商標)(商品名、三井化學公司製)等的環烯烴系樹脂等。

此等樹脂中，在成本、取得的容易性、製膜時的製程視窗的廣度、強度或斷裂點伸長度等物性這幾點方面，較佳為使用至少以聚酯作為構成材料的膜。

本發明所述之聚酯係指︰藉由由以芳香族二羧酸或脂肪族二羧酸和二元醇作為主要構成成分之單體的聚合所得到之縮共聚物。以聚酯的工業製造方法而言，如周知，係可使用轉酯反應(轉酯法)、直接脂化反應(直接聚合法)。在此，以芳香族二羧酸而言，係可舉出例如︰對酞酸、異酞酸、酞酸、1,4-萘二羧酸、1,5-萘二羧酸、2,6-萘二羧酸、4,4′-二苯基二羧酸、4,4´-二苯基醚二羧酸、4,4´-二苯碸二羧酸等。以脂肪族二羧酸而言，可舉出例如︰己二酸、辛二酸、癸二酸、二體酸、十二烷二酸、1,4-環己烷二羧酸與其等的酯衍生物等。其中，可較佳地使用呈現高折射率之對酞酸和2,6-萘二羧酸。二羧酸成分亦可使用其中的一種，亦可併用2種以上來使用。

又，作為二元醇成分，可舉出例如︰乙二醇、1,2-丙二醇、1,3-丙二醇、新戊二醇、1,3-丁二醇、1,4-丁二醇、1,5-戊二醇、1,6-己二醇、1,2-環己烷二甲醇(cyclohexanedimethanol)、1,3-環己烷二甲醇、1,4-環己烷二甲醇、二乙二醇、三乙二醇(triethylene glycol)、聚烷二醇、2,2-雙(4-羥乙氧苯基)丙二醇、異山梨酸酯、螺甘油等。其中，可較佳地使用乙二醇。此等的二元醇成分可僅有1種，也可併用2種以上來使用。

從膜強度的提升與延伸性的提升之觀點來看，較佳為將包含樹脂A的層、和包含與樹脂A不同的樹脂C的層交替地積層5層以上而成的積層膜。再者，若前述樹脂A以結晶性樹脂A為主成分，前述樹脂C以非晶性樹脂C為主成分，則從面內相位差的調節變容易的觀點來看是較佳的。作為低折射率的樹脂，可使用延伸時折射率難以上升之非晶性樹脂等。

作為結晶性樹脂，可使用例如︰聚對酞酸乙二酯及其共聚物、聚萘二甲酸乙二酯及其共聚物、聚對苯二甲酸丁二酯及其共聚物、聚萘二甲酸丁二酯及其共聚物、再者聚對苯二甲酸己二酯(poly(hexamethylene terephthalate))及其共聚物、聚萘二甲酸己二酯及其共聚物等。此時，以共聚合成分而言，較佳為前述之二羧酸成分及二元醇成分分別共聚合有1種以上。

以低折射率的樹脂而言，無特別限定，可使用︰聚乙烯、聚丙烯、聚(4-甲基戊烯-1),聚縮醛等的鏈狀聚烯烴、降莰烯類的開環移位聚合,加成聚合,與其他烯烴類的加成聚合物之脂環族聚烯烴、聚乳酸, 聚琥珀酸丁酯(polybutyl succinate)等的生物降解聚合物、尼龍6,尼龍11,尼龍12,尼龍66等的聚醯胺、聚芳醯胺、聚甲基丙烯酸甲酯、聚氯乙烯、聚偏二氯乙烯、聚乙烯醇、聚乙烯丁醛(polyvinyl butyral)、乙烯乙酸乙烯酯共聚物、聚縮醛、聚乙醇酸、聚苯乙烯、苯乙烯共聚合聚甲基丙烯酸甲酯、聚碳酸酯、聚對苯二甲酸丙二酯、聚對酞酸乙二酯、聚對苯二甲酸丁二酯、聚乙烯-2,6-萘二甲酸酯等的聚酯、聚醚碸、聚醚醚酮、改性聚伸苯醚、聚伸苯硫醚、聚醚醯亞胺、聚醯亞胺、聚芳香酯、四氟乙烯樹脂、三氟乙烯樹脂、三氟氯乙烯樹脂、四氟乙烯-六氟丙烯共聚物、聚偏二氟乙烯等。其中，從強度或耐熱性、透明性及泛用性的觀點來看，尤其也從與結晶性樹脂的密接性及積層性的觀點來看，最佳為含有以聚酯作為構成成分來當作樹脂C。在此，低折射率的樹脂可為共聚物，也可為混合物

例如，包含異酞酸的聚酯由於可降低結晶性，所以可容易地抑制面內相位差，且即便雙軸延伸，厚度方向的折射率也難以降低，所以即便來自光源的光之入射角改變，也可抑制彩虹不均(rainbow unevenness)的發生。又，以其他較佳的非晶性聚酯而言，宜為含有螺甘油的聚酯來作為共聚合成分。含有螺甘油的聚酯在因雙軸延伸或曲折(bowing)所導致的膜變形中難以配向，所以寬度方向的面內相位差變動不易產生。又，因為有玻璃轉移點提升之效果，所以可抑制因使用非晶性樹脂所致之熱收縮率的增加。作為其他較佳的共聚合非晶成分，可列舉︰環己烷二甲醇、新戊二醇、環己烷二羧酸、異山梨醇(isosorbide)等。

又，上述膜可為未延伸膜，也可為延伸膜，惟從強度、面內相位差調節、生產性的觀點來看，較佳為至少延伸於單向的膜。尤其，在認證裝置的膜是由玻璃等可能破裂的素材所支持的情況，較佳為藉由適度地延伸，可使斷裂點伸長度提升，可防止因表面破損所致之碎片的飛散。藉由加大長邊方向、寬度方向任一者的延伸倍率，膜內的分子可配向，可使面內相位差提升。藉由加大寬度方向的延伸倍率，面內相位差及主配向軸在寬度方向變均一，可將能夠使用的製品寬度取大，所以較佳。在為了使熱收縮率降低而在延伸後進行熱處理之情況，藉由使用一邊進行熱處理一邊進一步延伸於寬度方向、在熱處理前暫時冷卻、縮小延伸時的溫度與熱處理時的溫度差等的方法，也可使面內相位差及主配向軸在寬度方向變均一，可將能使用的製品寬度取大，所以較佳。又，當降低延伸溫度時，延伸時容易定向，藉此也能夠使面內相位差提升。反之，一旦提高延伸時的溫度時，在分子未配向的狀態下延伸，所以面內相位差難以提高。本發明中，為了將面內相位差設為光源波長的約整數倍，必須調整延伸倍率及延伸溫度。然而，延伸倍率、延伸溫度在膜的強度或斷裂點伸長度等在使用膜方面會大幅影響重要的物性，所以難以使膜的強度或斷裂點伸長度與目標的面內相位差兼備。因此，作為調整面內相位差的手法，較佳為使用將2種以上的樹脂交替積層5層以上而成的膜。原因在於︰除了延伸倍率、延伸溫度外，藉由調整所使用之樹脂的折射率，容易兼具膜的強度或斷裂點伸長度與面內相位差的設計。

又，本發明的認證裝置中，較佳為利用以下的方法所測定的PT(0)及PT(45)滿足下述式(III)及式(IV)。 (III)PT(45)≧0.65 (IV)1≧PT(45)/PT(0)≧0.6 ［PT(0)及PT(45)的測定方法］ (1)使用以50W鎢絲燈作為光源的分光光度計來進行測定。 (2)將偏光件切成兩片，以兩片偏光件的面與分光光度計的光軸垂直，且兩片偏光件的穿透軸彼此成為平行之方式配置。 (3)針對兩片偏光件，進行在從前述光源射出之光線的具有最強強度之波長中的透射光量的測定(背景測定)。將藉背景測定所得到之光源熄滅狀態下的透射光量設為PT(D)，光源點亮狀態下的透射光量設為PT(L)。 (4)在兩片偏光件之間配置前述膜，以使膜面與分光光度計的光軸垂直。 (5)一邊僅使前述膜在與分光光度計的光軸垂直的面內旋轉，一邊進行在從前述光源射出的光線之具有最強強度之波長中的透射光量的測定。將兩片偏光件的穿透軸與前述膜的主配向軸所成的角為0°時的透射光量設為PT’(0)，將45°時的透射光量設為PT’(45)。 (6)由下述式得到PT(0)及PT(45)。 PT(0)=(PT’(0)-PT(D))/(PT(L)-PT(D)) PT(45)=(PT’(45)-PT(D))/(PT(L)-PT(D)) 由上述所求得的PT(45)可解釋為︰以被認為透射度最低的角度貼附時的透射度。式(III)係表示即便在透射度最低的狀態，透射度宜為0.65以上。若透射度變成0.65以下，會有導致認證性降低之情況。

從配向角為0°、即透射度提升的觀點來看，由上述所求得的PT(0)係表示以理想的角度貼附膜時的透射度。與PT(45)的比之(PT(45)/PT(0))係表示膜的貼附方式偏離理想的角度時透射度降低之程度。在PT(0)、PT(45)的比未在上述範圍內的情況，亦即在PT(45)大於PT(0)、或PT(45)比PT(0)小太多的情況，亦即在PT(45)/PT(0)小於0.6的情況，為了使認證裝置的認證性變佳，必須以偏光件的穿透軸與膜的主配向軸成為平行的方式設置，會有生產性降低之情況。更佳為0.75以上、小於1.0。

可適用於本發明的膜，只要可調節樹脂的折射率、延伸倍率、延伸溫度即可，可為以往周知的一般製膜方法，而可藉由特定的製膜條件製造。例如，利用擠出機將作為材料的樹脂熔融，藉由環狀模或T字模擠出並急速冷卻，可製造實質上沒有無定形地配向之未延伸的膜。如前述，為了兼具面內相位差的調節與提升膜強度，較佳為積層2種以上的樹脂。由同樣的觀點來看，特佳為包含交替地積層有2種樹脂的構造。再者，將未延伸的膜藉由單軸延伸、拉幅機式逐次雙軸延伸，拉幅機式同時雙軸延伸，管狀式(tubular type)同時雙軸延伸等的周知方法，在膜的長邊方向(搬送方向、縱軸方向、MD方向)、或與膜的長邊方向呈直角的方向(寬度方向、橫軸方向、TD方向)延伸，可製造經雙軸延伸的膜。此時的延伸倍率係可配合作為膜的原料之樹脂而適當地選擇，惟較佳為在縱軸方向及橫軸方向分別為2～10倍的範圍內。作為認證裝置，為了抑制加工時的收縮，於延伸後施行熱處理亦較佳。

藉由在上述條件的範圍內製膜，膜的主配向軸方向及與主配向軸正交之方向在25℃下的斷裂點伸長度均為30%以上300%以下，從加工時的作業(handling)性提升與作為膜的強度提升之觀點來看，是較佳的。更佳為50%以上200%以下。在斷裂點伸長度為30%以下的情況，加工時的斷裂或認證裝置之表面破損的可能性會增高，所以是不理想的。又，若超過300%時，會有因加工時的鬆弛或作為膜的強度會變低所致之因傷痕或凹坑造成的認證性降低之情況。

又，如後述，設置於認證裝置時，從透射率進而從認證性的觀點來看，較佳為偏光件的穿透軸與膜的主配向軸平行。因此，膜的主配向軸的方向較佳為在膜的MD方向、TD方向上一定。使配向角一定的方法並無特別限定，可舉出例如︰使MD方向或TD方向的延伸倍率相對於另一者的延伸倍率變大，藉此將主配向軸方向及與主配向軸正交的方向在100℃下處理30分鐘時之熱收縮率的最大值和最小值之比(最大值/最小值)設為一定的值以上。較佳為最大值與最小值之比為1.7以上，更佳為2.0以上，又更佳為3.0以上。

以膜的厚度而言，較佳為在3～200μm的範圍內，更佳為在10～150μm的範圍內，特佳為20～120μm的範圍內。藉由設在上述範圍內，可一邊確保加工時所需的強度，一邊使認證裝置整體的厚度薄化。

又，膜的主配向軸與上述偏光件的穿透軸所成的角度小於10°從抑制認證性降低的觀點來看，是較佳的。超過10°時，會有認證性良好之面內相位差的範圍變窄，在膜面內之面內相位差的參差造成認證性降低之情況。然而，在膜的製膜時，會發生日本特開2010-240976號公報所記載的曲折現象，所以配向角對齊到不會影響認證性的程度之範圍受限，配向角沒有對齊的範圍造成生產損失。在本發明之膜製膜條件中，藉由將縱延伸倍率設為3.5倍以下，或/且橫延伸倍率設為3.5倍以上，可涵蓋膜的寬廣的寬度，使主配向軸的方向接近一定，所以從生產性的觀點來看，是較佳的。更佳為將縱延伸倍率設為3.2倍以下，或/且橫延伸倍率設為4倍以上，特佳為將縱延伸倍率設為2.9倍以下，或/且橫延伸倍率設為4.5倍以上。此外，藉由設為多層構造的膜，容易抑制寬度方向之配向角的變化，所以不佳。

在本發明的認證裝置中使用的上述膜，從認證性的不均降低之觀點來看，以在膜面內之面內相位差的不均較小者為佳。以不均的評價方法而言，可舉出例如：測定兩端(A、B)、兩端(C、D)共4個點的面內相位差的方法，該兩端(A、B)係為在連結膜面內顯示最大長度之兩端，該兩端(C、D)係為與連結點A、B的直線AB正交且通過直線AB的中點之直線的在膜的兩端。所得到之4個點面內相位差之最大值與最小值的差較佳為200nm以下。上述面內相位差的差更佳為150nm以下，特佳為100nm以下。為了將面內相位差設在上述範圍內，無特別限定方法，惟較佳為藉由在膜延伸時一次延伸2.7倍以上，使施加於膜的應力整體穩定。

又，為了防止內部的偏光件及光源之劣化，膜較佳為遮蔽紫外線(在此設為具有410nm以下的波長之光)。在光源由OLED等有機材料所構成的情況，特別期望紫外線遮蔽效果。最好將410nm以下的光完全地遮斷，而例如藉由將波長380nm的光線透射率設為5%以下，可防止內部的偏光件及光源之劣化。遮蔽紫外線的方法無特別限定，較佳為藉由多層構造使紫外光反射。反射波長的設定係如日本特開2016-215643號所記載，可藉由多層積層膜的各層的層厚度決定。除了反射以外，也可使用紫外線吸收劑、或與反射設計併用。

作為本發明中可利用的紫外線吸收劑，較佳為使用分子量為300g/mol以上之苯并三唑系、二苯基酮系、苯甲酸酯(benzoate)系、三

系者。紫外線吸收劑可選擇此等中的一種，也可併用2種以上。在與以分子量和紫外線吸收劑為首的添加劑之昇華性有關連，且利用分子量大的添加劑之情況，難以引起昇華。分子量較佳為400g/mol以上，更佳為500g/mol以上。分子量高的紫外線吸收劑大多在基本芳香環骨架附有長鏈烷基鏈，此等會阻礙紫外線吸收劑彼此的堆積(stacking)，不會產生在樹脂內結晶化而導致霧度(haze)的增加等之問題點，所以是較佳的。

關於可添加的外線吸收劑，作為苯并三唑系紫外線吸收劑，並無特別限定，可列舉：2-(2’-羥基-5’-甲基苯基)苯并三唑、2-(2’-羥基-3’,5’-二三級丁基苯基)-5-氯苯并三唑、2-(2’-羥基-3’-三級丁基-5’-甲基苯基)-5-氯苯并三唑、2-(2’-羥基-5’-三級辛基苯基)苯并三唑、2-(2’-羥基-3’,5’-二異丙苯基苯基)苯并三唑、2-(2’-羥基-3’-三級丁基-5’- 羧苯基)苯并三唑、2,2’-亞甲雙(4-三級辛基-6-苯并三唑基)酚等的2-(2’-羥苯基)苯并三唑類等。作為二苯基酮系紫外線吸收劑，並無特別限定，可舉出例如︰2,4-二羥二苯基酮，2-羥基-4-甲氧二苯基酮、2-羥基-4-辛氧基二苯基酮、5,5’-亞甲雙(2-羥基-4-甲氧二苯基酮)等的2-羥基二苯基酮類。

作為苯甲酸酯系紫外線吸收劑，並無特別限定，可舉出例如︰柳酸苯酯、間苯二酚單苯甲酸酯(resorcinol monobenzoate)、2,4-二三級丁基苯-3,5-二三級丁基-4-羥基苯甲酸酯、2,4-二三級戊基苯基-3,5-二三級丁基-4-羥基苯甲酸酯、十六基-3,5-二三級丁基-4-羥基苯甲酸酯等。

作為三

系紫外線吸收劑，並無特別限定，可舉出例如︰2-(2-羥基-4-辛氧基苯基)-4,6-雙(2,4-二甲基苯基)-s-三

、2-(2-羥基-4-己基氧基苯基)-4,6-二苯基-s-三

、2-(2-羥基-4-丁氧基-5-甲基苯基) -4,6-雙(2,4-二甲基苯基)-s-三

、2-(2-羥基-4-己基氧基苯基)-4,6-二聯苯-s-三

、2,4-雙(2-羥基-4-辛氧基苯基)-6-(2,4-二甲基苯基)-s-三

、2,4,6-參(2-羥基-4-辛氧基苯基)-s-三

、2-(4-異辛基氧基羰基氧基苯基)-4,6-二苯基-s-三

等的三芳基三

類等。

作為其它的紫外線吸收劑，在柳酸系中，可利用例如︰柳酸苯酯，硫酸三級丁基苯酯，硫酸對辛基苯酯等，此外，也可利用天然物系(例如，穀醇(oryzanol)、牛油樹油(shea butter)、貝加靈(baicalin)等)、生物體系(例如，角質細胞、黑色素、尿刊寧(urocanin)等)等。此等的紫外線吸收劑，也可併用受阻胺(hindered amine)系化合物作為安定劑。無機系的紫外線吸收劑不會與成為基底(base)的樹脂相溶，而導致霧度的上升，使在認證裝置顯示影像時的辨識性變差，所以是不理想的。

利用紫外線吸收劑時，亦可添加在本發明的較佳態樣之包含所積層的雙軸配向膜的最外層之A層、或者為內層的B層、或者兩者。其中，最佳為僅在B層含有紫外線吸收劑。若在最外層添加紫外線吸收劑時，會發生所添加的紫外線吸收劑在膜表面析出的現象，及容易發生其揮散的現象，藉此污染膜製膜機，析出物在加工步驟中產生不良影響，所以並不佳。藉由僅添加在內層，最外層發揮作為防止紫外線吸收劑揮發之蓋罩的角色，所以不易產生析出現象，是較佳的。

亦可在膜表面施加賦予耐刮性等功能性之塗布。作為塗布方法，可使用以硬化性樹脂作為主成分，加入三聚氰胺・

唑啉(oxazoline)等的交聯劑，藉由紫外光使其硬化之方法。

以硬化性樹脂而言，宜為高透明且有耐久性者，例如，可將丙烯酸樹脂、胺基甲酸酯樹脂、氟系樹脂、矽樹脂、聚碳酸酯系樹脂、氯乙烯系樹脂單獨使用或混合使用。尤其，在硬化性、可撓性、生產性各點方面，硬化性樹脂較佳為包含以聚丙烯酸酯樹脂為代表之丙烯酸樹脂等的活性能量線硬化型樹脂。又，在適用於期望有曲面追隨性的部位之膜所要求的彎折時的耐擦傷性的附加時，硬化性樹脂宜為包含熱硬化性胺基甲酸酯樹脂。

又，在認證裝置以例如存在於表皮之黑色素的分布圖案作為辨識對象時，由於黑色素會從紫外線強烈吸收藍色光，光源波長為藍色光(最大峰值的波長為415nm以上495nm以下)，從可得到清楚的圖案這點考量，膜的面內相位差較佳為從光源波長的整數倍±120nm的範圍，亦即，存在滿足下述(V)式的整數n。在光源波長比415nm短的情況，會有因紫外線所致光源劣化、黑色素以外的吸收也變大而造成認證錯誤之問題的情況。 (V)A×n-120≦Re≦A×n＋120，且，415≦A≦495。

又，例如，如靜脈認證所示在以血紅素(hemoglobin)的分布圖案作為辨識對象之情況，血紅素具有在紅外線區域強的吸收峰值，所以光源波長為紅外線區域(最大峰值的波長為800nm以上1200nm以下)，從可得到清楚的圖案這點來看，較佳為膜的面內相位差是在光源波長的整數倍±150nm的範圍、亦即存在滿足下述(VIII)式的整數n。又，在網膜、虹膜、臉部認證等情況也是，由於認證對象者會直接看到光，所以從可緩和認證對象者的不舒適感這點來看，有時使用紅外線較佳。 (VIII)A×n-150≦Re≦A×n＋150，且，800≦A≦1200。

同樣地，根據認證對象的顏色或設計性等，有時光源波長為綠色(最大峰值的波長為495nm以上570nm以下)，亦即存在滿足下述(VI)式的整數n較佳。又，有時較佳為黃～紅色(最大峰值的波長為570nm以上800nm以下))，亦即存在滿足下述(VII)式的整數n。 (VI)A×n-100≦Re≦A×n＋100，且，495≦A≦570。 (VII)A×n-120≦Re≦A×n＋120，且，570≦A≦800。

又，組合複數個上述波長對於用以提升認證精度也是有效的，為了得到本發明的效果，以將使用膜的面內相位差設為各光源波長的約公倍數、或者使用對各光源具有不同面內相位差之膜者較佳。

本發明的認證裝置中之可認證區域的面積並無特別限定，可依認證對象物或用途適當適宜調節。本發明的認證裝置由於係使用具有均一的面內相位差及主配向軸之膜，所以可得到較大的可認證區域的面積。亦即，本發明的認證裝置，係可較佳地使用在可認證區域的面積為100cm² 以上、再者為225cm² 以上、進而為400cm² 以上之裝置。

本發明的認證裝置係如上述，由於可精度佳地辨識各種認證對象物，所以可適當地使用於以指紋、虹膜、顏面、手形、體形、靜脈的至少1種作為認證對象之認證裝置。又，由於本發明的認證裝置即便偏光件的穿透軸與膜的主配向軸所形成的角大，也可使認證精度佳，所以可降低良率。

［特性的評價方法］膜的評價 A.面內相位差(Re)及面內相位差的差(Δ相位差) 使用王子計測機器(股)製「KOBRA-21ADH」，測定入射角0°的波長587.8nm的面內相位差及慢軸。將慢軸的方向設為主配向軸。樣本係從膜改變場所以4cm×4cm大小切出5處，且使用分別測得的平均值。

面內相位差的不均，係對膜面內中顯示最大長度的兩端(A、B)、以及與連結點A、B的直線AB正交且通過直線AB的中點之直線的膜的兩端(C、D)共4個點的面內相位差進行測定，並使用最大值與最小值的差。

B.PT(45)及PT(0) (1)將使用於認證裝置的偏光件、或具有與所使用之偏光件同等的偏光度之偏光件(TS線柵偏光膜(Edmund Optics Japan(股)製))切成兩片，以兩片偏光件的面與設50W鎢絲燈為光源的分光光度計的光軸成垂直之方式，且兩片偏光件的穿透軸彼此成為平行之方式配置，進行光源熄滅狀態與光源點亮狀態下之背景測定。將在光源熄滅狀態所測得之透射光量設為PT(D)，將在光源點亮狀態所測得之透射光量設為PT(L)。 (2)在兩片偏光件之間將前述膜以膜的面與分光光度計的光軸垂直之方式作配置。 (3)僅使前述膜在與分光光度計的光軸垂直的面內旋轉，進行在從前述光源射出之光線的具有最強強度之波長中的透射光量的測定。將兩片偏光件的穿透軸與前述膜的主配向軸所成的角為0°時的透射光量設為PT’(0)，為45°時的透射光量設為PT’(45)。 (4)由下述式得到PT(0)、PT(45)。 PT(0)=(PT’(0)-PT(D))/(PT(L)-PT(D)) PT(45)=(PT’(45)-PT(D))/(PT(L)-PT(D)) C.光源光線透射率及380nm透射率使用Hitachi High-Tech(股)製分光光度計(U-4100 Spectrophotometer)，測定入射角度=0°時的透射率。測定條件：狹縫(slit)設為2nm，增益(gain)設定為2，掃描速度設為600nm/分鐘。樣本係從膜改變場所以4cm×4cm切出5處，且使用分別測得的平均值。

積分球的反射板係使用氧化鋁，測光方式係使用雙光束直接比率測光方式，分光器係使用稜鏡、光柵(grating)・光柵((grating))形雙單色(double monochro)。

光源光線透射率，係顯示在具有從認證裝置的光源射出的光線之最強強度之波長中的透射率。

D.斷裂點伸長度將膜從樣本寬度中央部以10mm寬×150mm寬切出。使用數位式測微計(松尾產業製HKT-1208)、拉伸試驗機(RTG1210)，依據JIS-C-2151、ASTM-D-882進行測定。於主配向軸方向以夾頭(chuck)把持，以速度200mm/min拉伸，求得試料切斷(斷裂)時的強度(試驗片的剖面積除以拉伸荷重值所得的值)、及延展。拉伸延展係藉由下式算出。拉伸延展(%)=100×(L-Lo)/Lo Lo：試驗前的試料長度 L：斷裂時的試料長度進行5次測定，使用其平均值。同樣地，也測定與主配向軸正交之方向的斷裂點伸長度。測定係在保持於25℃的房間進行。

E.光源波長及光源半帶寬在Hamamatsu Photonics製小型(mini)分光光度器(C10083MD、C9914GB)，安裝NA0.22的光纖維，計測光源的光。將在320nm以上1500nm以下的範圍具有最高強度的波長設為光源波長，將光源波長之峰值的強度的1/2的強度之峰值的寬度設為半帶寬。

F.厚度使用數位式測微計(松尾產業製HKT-1208)，依據JIS-C-2151測定膜中央部分。進行三次測定，使用其平均值。

認證裝置的評價 G.認證性在23℃65RH%的環境下，登錄認證對象物α。在實施例10的情況，以虹膜作為認證對象物，在其他的情況以指紋作為認證對象物。之後，將認證對象物α與未登錄的認證對象物β交替地讓認證裝置辨識各200次。辨識的時間設為各2秒。從拒絕α的機率(錯誤拒絕率：FRR(False Rejection Rate))、接受β的機率(錯誤接受率：FAR(False acceptance rate))評價如下。A為良好，B為可，C、D為不佳。 A：FRR≦1.0%，FAR≦0.5% B：1.0%＜FRR≦3.0%，FAR≦0.5% C：3.0%＜FRR≦5.0%或/且0.5%＜FAR≦1.0% D：5.0%＜FRR或1.0%＜FAR。

H.光源耐久性使認證裝置在23℃65RH%環境下維持1000h的光源點亮狀態，評價在試驗前後之認證性能的變化。判定基準係如以下所示。其中，ΔFRR、ΔFAR係分別表示從試驗後的FRR、FAR減去試驗前的FRR、FAR之值。 A：ΔFRR=0，且ΔFAR=0。 B：「0＜ΔFRR≦1.0，且0＜ΔFAR≦0.5」 C：「1.0＜ΔFRR≦2.0，且0＜ΔFAR≦0.5」，「0＜ΔFRR≦1.0，且0.5＜ΔFAR≦1.5」或「1.0＜ΔFRR≦2.0，且0.5＜ΔFAR≦1.5」 D：不符合A、B、C的任一者。

I.衝擊耐久性利用膜衝擊試驗機(Film Impact Tester) (東洋精機製作所製)，使用直徑1/2吋的半球狀衝擊頭，在溫度23℃、濕度65%RH的環境下，進行衝擊值的測定。每一個樣本進行5次測定。接著，將每1次的衝擊值除以附屬測定樣本的膜厚，設為單位厚度平均的衝擊值，從5次測定的平均值求得。由測定值以如下方式評價。 A：1.0N・m/mm以上 B：0.5N・m/mm以上、小於1.0N・m/mm C：小於0.5N・m/mm。

J：熱收縮率針對膜的MD方向及TD方向的每一者，切出五條寬度10mm、長度200mm(測定方向)的試料，在距離兩端25mm的位置附加記號作為標線，萬能投影機測定標線間的距離並設為試料長度(10)。接著，將試驗片夾在紙中且在荷重零的狀態下保持於100℃的烤箱(oven)內，加熱30分鐘後取出，於室溫下冷卻後，用萬能投影機測定尺寸(11)並以下述式求出，將5條的平均值設為熱收縮率。熱收縮率=｛(10-11)/10｝×100(%) [實施例]

以下，雖舉實施例說明關於本發明，惟本發明未必限定於此等限定。

(實施例1) 光源及光感度感測器係使用Synaptics製ClearID FS9500(光源波長525nm，光源半帶寬30nm)。偏光件係使用Kuraray製VF-PS＃7500，作為偏光度80%以上的一般偏光膜。膜係以如下的方法作成。

(使用於膜作成之樹脂) 樹脂A：聚對酞酸乙二酯(PET)(固有黏度：0.65) 樹脂B：將相對於二元醇成分整體為25mol%的螺甘油，相對於二羧酸成分整體為30mol%的環己烷二羧酸共聚合而成的聚對酞酸乙二酯(PET/SPG/CHDC)(固有黏度：0.72) 樹脂C：使用擠出機，將樹脂B(90重量%)、與為紫外線吸收劑之2,2’-亞甲雙［6-(2H-苯并三唑-2-基)-4-(1,1,3,3,-四甲基丁基)酚］(10重量%)混合，並加以顆粒(pellet)化。樹脂D：使用擠出機，將樹脂A(90重量%)、與為紫外線吸收劑之2,2’-亞甲雙［6-(2H-苯并三唑-2-基)-4-(1,1,3,3,-四甲基丁基)酚］(10重量%)混合，並加以顆粒化。樹脂E：含有平均粒徑0.70μm的二乙烯苯/苯乙烯共聚物粒子0.8重量%、以及平均二次粒徑0.08μm的凝聚氧化鋁粒子1.5重量%而成之聚對酞酸乙二酯(PET)(固有黏度：0.65)。

(膜的作成) 使用樹脂A作為構成A層的樹脂，使用樹脂C作為構成B層的樹脂。此外，此樹脂C的固有黏度為0.72的非晶性樹脂，膜化後的面內平均折射率為1.55。使熱塑性樹脂A及熱塑性樹脂C分別以擠出機在280℃下熔融，經由五片FSS型的葉盤式過濾器(leaf disc filter)後，以齒輪泵(gear pump)使吐出比(積層比)成為樹脂A/樹脂C=1.5/1，且一邊以雙軸延伸後的膜厚成為35μm之方式計量，以201層進料塊(feed block)(A層為101層，B層為100層)交替地使之合流。接著，供給到T字模，成形為片狀後，一邊用引線(wire)施加8kV的靜電施加電壓，一邊在被保持為表面溫度25℃的鑄造鼓輪(casting drum)上急速地冷卻固化，而得到未延伸多層積層膜。對此未延伸膜逐次實施雙軸延伸。首先，在105℃下以鐵氟龍(註冊商標)輥搬送後，在長邊方向，一邊以輸出設為500W的紅外線加熱器加熱，一邊在95℃下延伸2.8倍而得到單軸延伸膜。將此單軸延伸膜在拉幅機內於寬度方向以100℃延伸4.5倍，接著，在220℃下熱固定，此時在寬度方向上1.7%鬆弛且在搬送步驟中使其冷卻後，將邊緣切斷後並捲取，而得到膜。將所得到的膜的物性顯示於表1及表3。

(認證裝置的作成) 使用光學用透明黏著劑(OCA：Optically Clear Adhesive)，將ClearID(光源、光感度感測器)、偏光件、膜依序接著，而得到認證裝置。此時，以膜的主配向軸與偏光件的穿透軸平行之方式配置。認證裝置的可認證面積設為1cm² 。將所得到的認證裝置的特性顯示於表2及表4。得到具有優異的認證性與耐久性之認證裝置。

(實施例2) 除了將貼附於裝置之膜的主配向軸相對於偏光件的穿透軸設為45°以外，其餘係以與實施例1同樣的方式得到認證裝置。如表2所示，可得到具有優異的認證性與耐久性之認證裝置。

(實施例3) 除了將寬度方向的延伸倍率設為5.5倍以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。可得到具有優異的認證性與耐久性之認證裝置。

(實施例4) 除了將長邊方向的延伸倍率設為3.0倍以外，其餘係以與實施例1同樣的方式得到膜、及認證裝置。可得到具有優異的認證性與耐久性之認證裝置。

(實施例5) 除了將膜的主配向軸相對於偏光件的穿透軸設為10°以外，其餘係以與實施例4同樣的方式得到認證裝置。可得到具有良好的認證性與優異的耐久性之認證裝置。

(實施例6) 除了將膜的主配向軸相對於偏光件的穿透軸設為45°以外，其餘係以與實施例4同樣的方式得到認證裝置。可得到具有良好的認證性與優異的耐久性之認證裝置。

(實施例7) 除了將長邊方向的延伸倍率設為2.6倍以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。可得到具有良好的認證性與優異的耐久性之認證裝置。

(實施例8) 除了使用樹脂D，作為構成B層的樹脂以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。可得到具有良好的認證性與耐久性之認證裝置。

(實施例9) 除了將延伸於長邊方向時的溫度設為90℃、延伸於寬度方向時的溫度設為120℃以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。可得到具有良好的認證性與優異的耐久性之認證裝置。

(實施例10) 除了使用Panasonic製BM ET-200作為光源及光感度感測器來取代ClearID，並將長邊方向的延伸倍率設為3.2倍以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。可得到具有優異的認證性與耐久性之認證裝置。

(實施例11) 除了使用3層進料塊(A層為外側2層，B層為內側1層) 以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。成為具有優異的認證性之認證裝置。

(實施例12) 除了使用樹脂B作為構成B層的樹脂以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。成為具有優異的認證性之認證裝置。

(實施例13) 除了將長邊方向的延伸倍率設為1.05倍、將寬度方向的延伸倍率設為1.05倍且不進行熱處理以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。成為具有優異的認證性之認證裝置。

(實施例14) 除了使用聚碳酸酯膜(帝人製Panlite PC-7129)作為膜以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。成為具有優異的認證性之認證裝置。

(實施例15) 除了將可認證面積設為50cm² 以外，其餘係以與實施例1同樣的方式得到認證裝置。成為具有優異的認證性之認證裝置。

(實施例16) 除了將長邊方向的延伸倍率設為4.2倍、寬度方向的延伸倍率設為2.3倍以外，其餘係以與實施例15同樣的方式得到膜、及認證裝置。成為具有良好的認證性之認證裝置。

(實施例17) 除了將寬度方向的延伸倍率設為4.4倍以外，其餘係以與實施例1同樣的方式得到膜、及認證裝置。此外，本膜在進行面內相位差之測定時，是將光源波長設為587.8nm來測定，並且也用彩色濾光片(color filter)將光源波長設為525nm來進行測定。以525nm測定的結果，係顯示於表3內之Re(nm)的列的括號內。如表4所示，在認證性試驗中，成為具有FRR=0%之特別優異的認證性之認證裝置。

(實施例18) 除了將寬度方向的延伸倍率設為4.4倍以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。此外，本膜在進行面內相位差的測定時，是將光源波長設為587.8nm來測定，並且也用彩色濾光片將光源波長設為525nm來進行測定。以525nm測定的結果，係顯示於表3內之Re(nm)的列的括號內。如表4所示，在認證性試驗中，成為具有FRR=0%之特別優異的認證性之認證裝置。

(實施例19) 除了同時使用ClearID的光源及光感度感測器、與BM ET-200的光源及光感度感測器以外其餘係以與實施例2同樣的方式得到認證裝置。在ClearID與BM ET-200中，ClearID之光源的光線強度較高。成為僅來自ClearID的光感度感測器的資料具有優異的認證性之認證裝置。表3及表4中的測定項目中，關於光源波長在測定上所必要的項目，於括號外記載有在525nm下的測定結果，於括號內記載有在850nm下的結果。

(實施例20) 除了將寬度方向的延伸倍率設為5.7倍以外，其餘係以與實施例19同樣的方式得到膜、及認證裝置。在ClearID與BM ET-200中，ClearID之光源的光線強度較高。成為來自ClearID的光感度感測器與BM ET-200的光感度感測器之任一者的資料均具有優異的認證性之認證裝置。表3及表4中的測定項目中，光源波長在測定上所必要的項目，於括號外記載有在525nm下的測定結果，於括號內記載有在850nm下的結果。

(實施例21) 除了將熱處理溫度設為240℃以外，其餘係以與實施例5同樣的方式得到膜、及認證裝置。如表4所示，成為具有良好的認證性之認證裝置

(實施例22) 除了將長邊方向的延伸倍率設為2.6倍、將寬度方向的延伸倍率設為4.0倍以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。如表4所示，面內相位差的參差雖然稍大，但整體來說係成為具有良好認證性的認證裝置。

(實施例23) 除了使用樹脂E來取代樹脂A以外，其餘係以與實施例5同樣的方式得到膜、及認證裝置。如表4所示，成為具有良好認證性的認證裝置。

(實施例24) 除了使用9層進料塊(A層為外側5層，B層為內側4層) 以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。如表4所示，成為具有優異的認證性之認證裝置。

(實施例25) 除了使用101層進料塊(A層為外側51層，B層為內側50層)，並調整吐出量將延伸後的厚度設為18μm以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。因薄膜化的關係，耐衝擊性稍降低，但成為亦可適用於要求薄膜的用途之膜。如表4所示成為具有優異的認證性之認證裝置。

(比較例1) 除了將長邊方向的延伸倍率設為3.2倍、將膜的主配向軸相對於偏光件的穿透軸設為10°以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。成為認證性稍差的認證裝置。

(比較例2) 除了將長邊方向的延伸倍率設為3.2倍以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。成為認證性差的認證裝置。

(比較例3) 除了將寬度方向的延伸倍率設為4.9倍以外，其餘係以與實施例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。成為認證性差的認證裝置。

(比較例4) 除了將長邊方向的延伸倍率設為3.2倍、將寬度方向的延伸倍率設為4.4倍以外，其餘係以與比較例2同樣的方式得到膜、及認證裝置。成為認證性差的認證裝置。

[表1]

	膜製膜條件	膜特性
主層	副層	縱倍率 (倍)	橫倍率 (倍)	PT(45)	PT(45)/ PT(0)	Re (nm)	Δ相位差 (nm)	透射率 (%)	380nm透射率 (%)	熱收縮率 (MD/TD) (%)	斷裂點伸長度
與主配向軸正交之方向(%)	主配向軸方向 (%)
實施例1	A	C	2.8	4.5	0.9	0.95	1050	50	91	＜1%	0.7/1.5	140	80
實施例2	A	C	2.8	4.5	0.9	0.95	1050	50	91	＜1%	0.7/1.5	140	80
實施例3	A	C	2.8	5.5	0.9	0.95	2100	20	90	＜1%	0.5/1.8	150	60
實施例4	A	C	3	4.5	0.65	0.7	950	40	90	＜1%	0.8/1.4	130	80
實施例5	A	C	3	4.5	0.65	0.7	950	40	90	＜1%	0.8/1.4	130	80
實施例6	A	C	3	4.5	0.65	0.7	950	40	90	＜1%	0.8/1.4	130	80
實施例7	A	C	2.6	4.5	0.65	0.7	1150	50	91	＜1%	0.5/1.3	160	80
實施例8	A	D	2.8	4.5	0.9	0.95	2000	70	91	3%	0.7/2.0	100	60
實施例9	A	C	2.8	4.5	0.65	0.7	950	100	89	＜1%	0.7/1.5	140	80
實施例10	A	C	3.2	4.5	0.9	0.95	850	30	90	＜1%	1.0/1.4	130	100
實施例11	A	C	2.8	4.5	0.9	0.95	1050	50	90	30	0.7/1.5	90	40
實施例12	A	B	2.8	4.5	0.9	0.95	1050	50	90	5	0.7/1.5	140	80
實施例13	A	C	1.05	1.05	0.9	0.95	50	30	90	5	0.2/0.2	10	10
實施例14	聚碳酸酯	-	-	0.9	0.95	50	10	90	30	0.1/0.1	10	10
實施例15	A	C	2.8	4.5	0.9	0.95	1050	50	91	＜1%	0.7/1.5	140	80
實施例16	A	C	4.2	2.3	0.85	0.95	1050	50	91	＜1%	1.3/0.8	90	130

[表2]

	光源		認證裝置條件	認證裝置特性
光源∙光感度感測器	光源波長A (nm)	光源波長B (nm)	光源半帶寬 (nm)	認證面積 (cm² )	貼附角(膜的主配向軸與偏光板的穿透軸所形成的角(°))	認證性	光源耐久性	耐衝擊性
實施例1	綠色光源認證機 Synaptics製 ClearID	525	-	30	1	0	A	A	A
實施例2	525	-	30	1	45	A	A	A
實施例3	525	-	30	1	45	A	A	B
實施例4	525	-	30	1	0	A	A	A
實施例5	525	-	30	1	10	A	B	A
實施例6	525	-	30	1	45	B	B	A
實施例7	525	-	30	1	45	B	A	A
實施例8	525	-	30	1	45	B	B	B
實施例9	525	-	30	1	45	B	A	A
實施例10	無色光源認證機 Panasonic製 BM ET-200	850	-	30	1	45	A	A	A
實施例11	綠色光源認證機 Synaptics製 ClearID	525	-	30	1	45	A	D	C
實施例12	525	-	30	1	45	A	C	A
實施例13	525	-	30	1	45	A	C	D
實施例14	525	-	30	1	45	A	D	A
實施例15	525	-	30	50	0	A	A	A
實施例16	525	-	30	50	0	B	A	A

[表3]

	膜製膜條件	膜特性
主層	副層	縱倍率 (倍)	橫倍率 (倍)	PT(45)	PT(45)/ PT(0)	Re(nm)	Δ相位差 (nm)	透射率 (%)	380nm透射率 (%)	熱收縮率 (MD/TD) (%)	斷裂點伸長度
與主配向軸正交之方向(%)	主配向軸方向 (%)
實施例17	A	C	2.8	4.4	0.9	0.95	1030 (1050)	50	91	＜1%	0.7/1.4	140	85
實施例18	A	C	2.8	4.4	0.9	0.95	1030 (1050)	50	91	＜1%	0.7/1.4	140	85
實施例19	A	C	2.8	4.5	0.9 (0.3)	0.95 (0.35)	1050	50	91 (91)	＜1%	0.7/1.5	140	80
實施例20	A	C	2.8	5.7	0.85 (0.85)	0.9 (0.9)	2600	50	91 (91)	＜1%	0.5/2.2	160	40
實施例21	A	C	3	4.5	0.65	0.7	950	40	90	＜1%	0.8/1.1	130	80
實施例22	A	C	2.6	4	0.9	0.95	1050	120	91	＜1%	0.7/1.5	140	80
實施例23	E	C	3	4.5	0.6	0.7	950	40	90	＜1%	0.8/1.4	130	80
實施例24	A	C	2.8	4.5	0.9	0.95	1050	50	90	30	0.7/1.5	100	60
實施例25	A	C	2.8	4.5	0.9	0.95	525	20	91	＜1%	0.9/1.9	120	60
比較例1	A	C	3.2	4.5	0.45	0.5	850	30	90	＜1%	1.0/1.4	140	80
比較例2	A	C	3.2	4.5	0.45	0.5	850	30	90	＜1%	1.0/1.4	140	80
比較例3	A	C	2.8	4.9	0.05	0.05	1300	50	90	＜1%	0.6/1.7	140	70
比較例4	A	C	3.2	4.4	0.05	0.05	800	60	90	＜1%	1.0/1.4	100	100

[表4]

	光源		認證裝置條件	認證裝置特性
光源∙光感度感測器	光源波長 A(nm)	光源波長 B(nm)	光源半帶寬 (nm)	認證面積 (cm² )	貼附角(膜的主配向軸與偏光板的穿透軸所形成的角(°))	認證性	光源耐久性	耐衝擊性
實施例17	綠色光源認證機 (525nm) Synaptics製 ClearID	525	-	30	1	0	A	A	A
實施例18	525	-	30	1	45	A	A	A
實施例19	綠色光源認證機 Synaptics製 ClearID 無色光源認證機 Panasonic製 BM ET-200	525	850	30	1	45	A (C)	A	A
實施例20	525	850	30	1	45	A (A)	A	A
實施例21	綠色光源認證機 (525nm) Synaptics製 ClearID	525	-	30	1	10	B	B	A
實施例22	525	-	30	1	45	B	A	A
實施例23	525	-	30	1	10	B	B	A
實施例24	525	-	30	1	45	A	D	B
實施例25	525	-	30	1	45	A	A	B
比較例1	綠色光源認證機 (525nm) Synaptics製 ClearID	525	-	30	1	10	C	A	A
比較例2	525	-	30	1	45	D	B	A
比較例3	525	-	30	1	45	D	B	A
比較例4	525	-	30	1	45	D	B	A

[產業上利用之可能性]

本發明的認證裝置，其認證性能不依存於膜的配向角，可藉由膜吸收、反射紫外線，提高光源、偏光件的耐久性，且能以便宜的聚酯作為膜的原料。因此，具有良好的認證性能與耐久性，便宜且生產性優異。

1:光源 2:偏光件 3:膜 4:光感度感測器 5:從光源射出的光被認證對象物反射後之光 6:從光源射出的光

圖1係示意顯示本發明的認證裝置之構成的一例之圖。圖2係顯示在本發明的認證裝置中使用於認證之光的作用的一例之圖。

無。

Claims

一種認證裝置，具有光源、偏光件、膜、及光感度感測器，其特徵為：前述膜配置在偏光件與認證對象物之間，且滿足下述(1)及(2)， (1)在該光線之最強強度的波長中，從前述光源射出之光線的透射率為70%以上100%以下， (2)存在滿足下述(I)式的整數n， (I)A×n-150≦Re≦A×n＋150 在此，A係從前述光源射出的光線中呈現最強強度之波長(nm)， Re係使用平行尼可旋轉法將前述膜以入射角0°的波長587.8nm測定時的面內相位差(nm)。
如請求項1之認證裝置，其中滿足前述(I)式，並且存在滿足下述(II)式的整數m， (II)B×m-150≦Re≦B×m＋150 在此，B係從前述光源射出的光線中呈現第2強的強度之波長(nm)， Re係使用平行尼可旋轉法將前述膜以入射角0°的波長587.8nm測定時的面內相位差(nm)。
如請求項1或2之認證裝置，其中前述膜係滿足下述式(III)及(IV)， (III)PT(45)≧0.65 (IV)1≧PT(45)/PT(0)≧0.6 在此，PT(45)與PT(0)係按如下方式求得， (1)將偏光件切成兩片，以兩片偏光件的面與以50W鎢絲燈作為光源之分光光度計的光軸成為垂直之方式，且以兩片偏光件的穿透軸彼此平行之方式配置，進行在光源熄滅狀態與光源點亮狀態下的背景測定，將在光源熄滅狀態下所測得的透射光量設為PT(D)，將在光源點亮狀態下所測得的透射光量設為PT(L)， (2)在兩片偏光件之間將前述膜以使膜的面與分光光度計的光軸垂直之方式作配置， (3)一邊僅使前述膜在與分光光度計的光軸垂直的面內旋轉，一邊進行從前述光源射出的光線之具有最強強度之波長中的透射光量之測定，將兩片偏光件的穿透軸與前述膜的主配向軸所成的角為0°時的透射光量設為PT’(0)，將45°時的透射光量設為PT’(45)， (4)由下述式，得到PT(0)、PT(45)， PT(0)=(PT’(0)-PT(D))/(PT(L)-PT(D)) PT(45)=(PT’(45)-PT(D))/(PT(L)-PT(D))。
如請求項1至3中之認證裝置，其中從前述光源射出的光線中呈現最強強度之峰值的半帶寬為5nm以上70nm以下。
如請求項1至4中任一項之認證裝置，其中存在滿足下述(V)式的整數n， (V)A×n-120≦Re≦A×n＋120，且415≦A≦495。
如請求項1至4中任一項之認證裝置，其中存在滿足下述(VI)式的整數n， (VI)A×n-100≦Re≦A×n＋100，且495≦A≦570。
如請求項1至4中任一項之認證裝置，其中存在滿足下述(VII)式的整數n， (VII)A×n-120≦Re≦A×n＋120，且570≦A≦800。
如請求項1至4中任一項之認證裝置，其中存在滿足下述(VIII)式的整數n， (VIII)A×n-150≦Re≦A×n＋150，且800≦A≦1600。
如請求項1至8中任一項之認證裝置，其中前述膜的面內相位差為400nm以上3000nm以下。
如請求項1至9中任一項之認證裝置，其中前述膜係交替積層有5層以上之包含樹脂A的層、和包含與樹脂A不同的樹脂B的層。
如請求項10之認證裝置，其中構成前述膜的樹脂B，係包含環己烷二甲醇、螺甘油、新戊二醇、異酞酸、環己烷二羧酸、異山梨醇中的至少一種，且以聚酯為主成分。
如請求項1至11中任一項之認證裝置，其中前述膜的在主配向軸方向及與主配向軸正交之方向於25℃下的斷裂點伸長度均為30%以上300%以下。
如請求項1至12中任一項之認證裝置，其中前述膜的在主配向軸方向及與主配向軸正交之方向於100℃下經30分鐘的處理時之熱收縮率的最大值與最小值之比(最大值/最小值)為1.7以上。
如請求項1至13中任一項之認證裝置，其中前述膜的主配向軸與前述偏光件的穿透軸所成的角度小於10°。
如請求項1至14中任一項之認證裝置，其中前述膜在膜面內顯示最大長度之兩端(A、B)、以及與連結點A、B的直線AB正交且通過直線AB的中點之直線的在膜的兩端(C、D)共4個點的面內相位差中，最大值與最小值的差為200nm以下。
如請求項1至15中任一項之認證裝置，其中可認證區域的面積為10cm² 以上。
如請求項1至16中任一項之認證裝置，其中前述光源包含有機EL(有機電致發光元件)、發光二極體(LED)的任一者，前述膜在波長380nm的光線透射率為5%以下。
如請求項1至17中任一項之認證裝置，其中前述光感度感測器為CMOS(Complementary metal-oxide-semiconductor，互補金氧半導體)感測器。
一種膜，係使用於具有光源、偏光件、膜、及光感度感測器之認證裝置，該膜滿足下述(1)及(2)， (1)前述膜為，在該光線之最強強度的波長中，從前述光源射出之光線的透射率為70%以上100%以下， (2)存在滿足下述(I)式的整數n， (I)A×n-150≦Re≦A×n＋150 在此，A係從前述光源射出的光線中呈現最強強度之波長(nm)， Re係將前述膜使用平行尼可旋轉法且以入射角0°的波長587.8nm測定時的面內相位差(nm)。
如請求項19之膜，其中前述膜滿足下述式(III)及(IV)， (III)PT(45)≧0.65 (IV)1≧PT(45)/PT(0)≧0.6 在此，PT(45)與PT(0)係按下述方式求得， (1)將偏光件切成兩片，以兩片偏光件的面與以50W鎢絲燈作為光源之分光光度計的光軸垂直之方式，且以兩片偏光件的穿透軸彼此平行之方式配置，進行背景測定，將在光源熄滅狀態下所測得的透射光量設為PT(D)，將在光源點亮狀態下所測得的透射光量設為PT(L)， (2)在兩片偏光件之間將前述膜以使膜的面與分光光度計的光軸垂直之方式作配置， (3)一邊僅使前述膜在與分光光度計的光軸垂直的面內旋轉，一邊進行在從前述光源射出的光線中呈現最強強度的波長中的透射光量之測定，將兩片偏光件的穿透軸與前述膜的主配向軸所成的角為0°時的透射光量設為PT’(0)，將45°時的透射光量設為PT’(45)， (4)由下述式得到PT(0)、PT(45)， PT(0)=(PT’(0)-PT(D))/(PT(L)-PT(D)) PT(45)=(PT’(45)-PT(D))/(PT(L)-PT(D))。