CN113574427A - 认证器件及膜 - Google Patents

Abstract

本发明的课题是提供认证性不依赖于膜的取向角的认证器件，其主旨是具有光源、起偏器、膜、和光敏传感器并且在起偏器与认证对象物之间配置有具有特定特性的膜的认证器件。

Description

认证器件及膜

技术领域

本发明涉及具有光源、起偏器、膜、光敏传感器的认证器件。

背景技术

随着近年来的图像处理技术和数据解析技术的发展，各式各样的认证系统已被实用化。特别是指纹认证、虹膜认证、静脉认证、面部认证等生物体认证器件在精度的提高和低成本化上取得进展，开始被使用在便携电话、车辆等各种电子制品中。预想今后会被进一步使用在车辆、电子支付等中，因此要求具有更高精度、更低成本化、并且长期使用的情况下的耐久性的认证器件。

如专利文献1所示那样，光学式的认证器件一般通过以下方式来进行认证，即，将从光源发出的光照射到认证对象物，将反射了的光用光敏传感器接收、摄像，将图案化了的图像与预先登记的图案进行匹配。对于那样的认证器件，如果除从光源发出以外的光入射则成为错误认证的原因，因此使用起偏器来抑制外部光的反射的情况多。此外，通过在最表层使用聚酯、聚碳酸酯等热塑性树脂的膜，从而防止由破损、伤痕引起的认证功能降低。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：国际公开2017/126153号

发明内容

发明所要解决的课题

然而，在上述膜具有偏光性、旋光性的情况下，来自光源的光被偏光/旋光，结果，被偏光/旋光了的光在到达光敏传感器前被起偏器阻断，因此产生认证性降低这样的问题。

对于这样的问题，考虑二个对策。第一个是以光学上几乎各向同性的聚碳酸酯等的未拉伸、或微拉伸膜作为保护膜的方法。然而，拉伸倍率低的膜易于开裂，耐冲击性有困难。此外，具有耐冲击性高的聚碳酸酯膜昂贵这样的课题。

第二个是通过使用取向了的聚酯膜作为保护膜，使取向聚酯膜的主取向轴与起偏器的透射轴平行，从而使保护膜中的偏光实质上消失的方法。然而，对于这样的方法，如果主取向轴的方向与起偏器的透射轴略微偏移几度则偏光性显现，具有认证性降低这样的课题。

此外对于使用OLED(有机发光二极管，Organic Light Emitting Diode)作为光源的认证器件，由紫外线等引起的OLED的劣化成为用于长期使用的瓶颈，使OLED的耐久性提高成为直接关系到认证器件的耐用年数提高的课题。

本发明要解决上述课题，其课题是提供认证性不依赖于膜的取向角的认证器件。

用于解决课题的方法

本发明要解决上述课题。即，一种认证器件，其特征在于，是具有光源、起偏器、膜、光敏传感器的认证器件，上述膜配置在起偏器与认证对象物之间，并且满足下述(1)和(2)。

(1)从上述光源出射的光线的透射率在该光线的最强强度的波长下为70％以上且100％以下。

(2)存在满足下述(I)式的整数n。

(I)A×n-150≤Re≤A×n+150

其中，A为在从上述光源出射的光线中显示最强强度的波长(nm)，Re为将上述膜使用平行尼科尔旋转法在入射角0°时的波长587.8nm下测定的面内相位差(nm)。

发明的效果

根据本发明，可以提供认证性不依赖于膜的取向角的认证器件。此外，可以使用便宜的膜，可以使光源的耐久性和画面的耐冲击性提高。

附图说明

图1为示意性示出本发明的认证器件的构成的一例的图。

图2为显示在本发明的认证器件中用于认证的光的移动的一例的图。

具体实施方式

以下，对本发明的实施方式进行详细描述，但本发明不应被解释为限定于包含以下实施例的实施方式，在可以达到发明的目的并且不超出发明的主旨的范围中当然可以有各种变更。

本发明的认证器件是具有光源、起偏器、膜、光敏传感器的认证器件，所述认证器件在起偏器与认证对象物之间配置有满足下述(1)和(2)的膜。

(1)上述膜的从上述光源出射的光在具有最强强度的波长下的透射率为70％以上且100％以下。

(2)在将从上述光源出射的光线的具有最强强度的波长设为A(nm)，将上述膜的通过平行尼科尔旋转法测定的入射角0°时的波长587.8nm的面内相位差设为Re(nm)时，满足下述(I’)式。

(I’)A×n-150≤Re＜A×n+150

其中，n为整数。

更详细而言，本发明的认证器件，其特征在于，是具有光源、起偏器、膜、和光敏传感器的认证器件，上述膜配置在起偏器与认证对象物之间，并且满足下述(1)和(2)。

(1)从上述光源出射的光线的透射率在该光线的最强强度的波长下为70％以上且100％以下。

(2)存在满足下述(I)式的整数n。

(I)A×n-150≤Re≤A×n+150

其中，A为在从上述光源出射的光线中显示最强强度的波长(nm)，Re为将上述膜使用平行尼科尔旋转法在入射角0°时的波长587.8nm下测定的面内相位差(nm)。

本发明的认证器件如图1所示那样包含光源(1)、起偏器(2)、膜(3)、光敏传感器(4)。优选按照光源、起偏器、膜的顺序配置而成。以下，对这些构成进行记载。

〈光源〉

关于构成本发明的认证器件的光源的种类，只要在能够用光敏传感器检测的波长区域显示发光，任何光源都可以使用。例如，热阴极管、冷阴极管、无机EL等荧光性光源、有机电致发光元件光源(有机EL)、发光二极管(LED)、白炽光源等任何光源都能够利用。有机EL或LED是特别适合的光源。如后述那样，为了提高认证性，将膜的面内相位差调整到从上述光源出射的光的具有最强强度的波长(有时将从光源出射的光的具有最强强度的波长称为光源波长)的大致整数倍变得重要。远离膜的面内相位差的大致因数的波长的光越多则越导致认证性的降低，因此优选使用发光波段范围窄、并且能够调整发光波长的光源。从光源出射的光线的具有最强强度的峰的半宽度优选为5nm以上且150nm以下。进一步优选为5nm以上且70nm以下。特别优选为5nm以上且50nm以下。波段范围越窄、并且越接近于膜的面内相位差的整数倍，则越可以抑制对认证性带来影响的、膜的取向角依赖性。这里所谓取向角，是指起偏器的透射轴与膜的主取向轴所成的角。另外，在本发明中膜的主取向轴表示通过后述测定方法求出的慢轴的方向。此外，在弯曲了的显示器等的表面设置该认证器件的情况下可以优选使用柔软的有机EL。

在以有机EL作为光源的情况下，特别优选为后述屏蔽紫外线的构成。通过屏蔽紫外线，从而可以在取得柔性等有机EL的优点的同时，弥补易于紫外线劣化这样的有机EL的缺点。

光源可以具有1种发光峰，也可以具有2种以上发光峰，但为了提高色纯度，优选具有1种发光峰。此外，从提高安全性等方面考虑，将发光峰种类不同的多个光源任意组合使用也是优选的。在使用多个光源的情况下，优选使用适于各个光源的(面内相位差成为光源波长的大致整数倍)膜。

〈光敏传感器〉

本发明的认证器件为了识别从对象反射的光而需要为包含光敏传感器的构成。作为光敏传感器，可举出电荷耦合器件(Charge-Coupled Device)(CCD)、互补金属氧化物半导体(Complementary metal-oxide-semiconductor)(CMOS)等。其中使用CMOS(包含LiveMOS、背面照射型CMOS、叠层型CMOS、曲面CMOS、有机薄膜CMOS、Foveon等)从制造成本、读出速度的观点考虑是优选的。特别是通过将有机薄膜CMOS与后述紫外线屏蔽组合，从而可以在获得薄膜等的有机薄膜CMOS的同时，弥补易于紫外线劣化这样的有机薄膜CMOS的弱点。

〈起偏器〉

在本发明的认证器件中，为了防止由外部光的入射引起的错误认证，需要为包含起偏器的构成。这里所谓外部光，是指从光源发出的光以外的从膜入射到光敏传感器侧的光。作为起偏器的原材料，可以任意选择，例如可以通过将聚乙烯醇(PVA)膜通过碘化合物等二色性材料进行染色、再进行拉伸处理来形成。作为一例，PVA膜可以应用クラレ制VF-PS#7500等。

〈膜〉

本发明的认证器件需要为包含膜的构成。上述膜的从光源出射的光线在具有最强强度的波长下的透射率(光源光线透射率)需要为70％以上且100％以下。在透射率小于70％的情况下，有时光不会充分到达光敏传感器而认证性降低。更优选为80％以上且100％以下。

此外，对于本发明的认证器件，将在从光源出射的光线中显示最强强度的波长(光源波长)设为A(nm)，将上述膜的通过平行尼科尔旋转法测定的入射角0°时的波长587.8nm的面内相位差设为Re(nm)时，需要满足(I’)式。

(I’)A×n-150≤Re＜A×n+150

其中，n为整数。

更详细而言，本发明的认证器件，其特征在于，是具有光源、起偏器、膜、和光敏传感器的认证器件，上述膜配置在起偏器与认证对象物之间，并且满足下述(1)和(2)。

(1)从上述光源出射的光线的透射率在该光线的最强强度的波长下为70％以上且100％以下。

(2)存在满足下述(I)式的整数n。

(I)A×n-150≤Re≤A×n+150

其中，A为在从上述光源出射的光线中显示最强强度的波长(nm)，Re为将上述膜使用平行尼科尔旋转法在入射角0°时的波长587.8nm下测定的面内相位差(nm)。

(I)式显示膜的面内相位差为光源波长的大致整数倍(距整数倍±150nm的范围)。膜的面内相位差优选为距光源波长的整数倍±120nm的范围，进一步优选为距光源波长的整数倍±100nm的范围。在膜的面内相位差不为上述范围内的情况下，从光源射出了的光在通过膜时被偏光，因此由起偏器引起的光吸收的影响变大，认证性的降低成为问题。另外，偏光的程度依赖于取向角。此外，从扩大工艺窗口(process window)的观点考虑面内相位差优选为400nm以上，更优选为600nm以上，进一步优选为800nm以上。此外，如后述那样，作为调节面内相位差的手段之一，可举出调整拉伸倍率，但从提高膜强度的观点考虑仅沿一个方向强烈拉伸是不优选的，因此面内相位差优选小于3000nm。面内相位差大大受膜厚度的影响，因此在膜厚度过厚的情况下难以制作面内相位差小于3000nm的膜，同样地如果膜厚度过薄则难以制作面内相位差400nm以上的膜。为了使面内相位差为上述优选的范围，厚度10μm以上且小于100μm从调节面内相位差的容易性的观点考虑是优选的。进一步优选为15μm以上且小于50μm。

此外通过降低拉伸倍率而使面内相位差接近于0，从而也能够使认证性提高，但由于膜变脆，因此从耐冲击性的观点考虑是不优选的。

另外，面内相位差在光源波长下测定是最优选的，但从测定装置的光强度稳定性考虑而在587.8nm下进行了测定。光源波长下的面内相位差与利用测定装置能够测定的波长下的面内相位差之差优选为40nm以下。

对在面内相位差不为上述范围内的情况下由起偏器引起的光吸收变大的机制进行说明。在本发明的认证器件对认证对象物进行认证时，从光源射出的光依次通过起偏器、膜后，到达认证对象物，被认证对象物反射了的光依次通过膜、起偏器，并被光敏传感器检出。如果将光的路径用箭头表示，则如图2那样。

起偏器吸收特定的偏光状态的光，仅透射其它偏光状态的光。因此，如果从光源射出的光通过起偏器，则成为直线偏光或圆偏光。在膜没有偏光性(光学上各向同性)的情况下，从光源射出并通过起偏器而入射到膜的光、和被认证对象物反射而入射到膜的光在通过膜前后偏光状态没有变化。因此，在膜没有偏光性(光学上各向同性)的情况下，在从光源射出而通过了起偏器后通过膜时、和被认证对象物反射后通过膜而入射到起偏器前偏光状态没有变化，因此不被起偏器吸收而通过，被光敏传感器识别。

然而，在膜具有偏光性的情况下，从光源射出而通过了起偏器的光在通过膜时、和被认证对象物进行了反射后通过膜时偏光状态变化。因此，一部分光被起偏器吸收而不能通过。因此，到达光敏传感器的光的强度降低，导致认证性的降低。膜的偏光性因主取向轴方向和与主取向轴垂直的方向的光路长度差、即面内相位差而产生。通过使沿主取向轴方向振动的光与沿垂直方向振动的光相比快或慢，从而二个光的相位偏移而被偏光。

另一方面，对于本发明的认证器件，通过使面内相位差为光源波长的大致整数倍，从而使相位的偏移为2π的大致整数倍，实质上使相位的偏移接近于零。如果相位的偏移变小，则即使取向角偏移也抑制透射起偏器后的光的强度的降低。因此，如果膜的面内相位差为上述(I)式的范围内，则可以抑制认证性的降低。

发现例如在光源波长为525nm的情况下在面内相位差为525nm的整数倍时不依赖于取向角而成为高透射率。关于认证性，也通过后述方法进行确认，如果通过调整面内相位差从而认证性成为A或B，则确认了作为画面内指纹认证智能手机的画面保护用途而显示良好的认证性能。作为智能手机的机型，可举出例如Vivo制X20 Plus UD、X21、NEX。

此外，光源存在多个颜色，在想要使任何颜色的光都被光敏传感器接收的情况下，优选为针对从光源出射的光线的具有第2强的强度的波长也具有成为整数倍那样的面内相位差的膜。

即优选，在将在从光源出射的光线中显示第2强的强度的波长设为B(nm)、将上述膜使用平行尼科尔旋转法在入射角0°时的波长587.8nm下测定的面内相位差设为Re(nm)时，存在满足下述(II)式的整数m。

(II)B×m-150≤Re≤B×m+150。

另外，这里所谓“显示第2强的强度的波长”选自在绘制了各光源的光线的强度的波长依赖性的曲线时成为峰的波长。这里所谓“峰”是指在绘制了光线的发光强度的波长依赖性的曲线时成为极大值的波长。这里所谓“极大值”是指在将光线的强度用波长进行了微分时符号从正变化为负的波长。在光源为一个的情况下，将在成为峰的波长内“显示最强强度的波长(A)”的次强的强度、并且不符合以下2点的波长设为“显示第2强的强度的波长(B)”。其中，将A的强度设为P(A)，将B的强度设为P(B)。

1.A-20＜B＜A+20

2.P(B)×100＜P(A)

上述第1点排除了在A的峰的前端开裂了的状态、A的峰具有肩的状态时视为B的峰的情况。因此，也可以考虑根据峰形状，需要扩大排除范围而不限于A的±20nm的范围的情况。

上述第2点排除了噪声视为B的峰的情况。因此，根据测定各光源的光线的强度的波长依赖性时的噪声水平，有时即使是A的百分之一以上的强度也应该被视为噪声。

在光源为二个的情况下，将在各个光源下“具有最强强度的波长”中强度强的一方设为“显示最强强度的波长(A)”，将强度弱的一方设为“显示第2强的强度的波长(B)”。

同样地操作，在光源为三个以上的情况下，也优选使膜的面内相位差为各个光源的“具有最强强度的波长”的公倍数。

此外，优选使用针对即使在各个光源下不是“具有最强强度的波长”但在认证器件的结构上具有重要作用的波长也具有成为整数倍的面内相位差的膜。这里所谓重要作用，不限定于用于认证的摄像，也包含对对象物带来影响而发生变化的作用、除对象物以外的影响的排除等。

用于使膜的面内相位差为上述范围内的方法没有限定，可通过树脂的折射率的调整、调整拉伸倍率和拉伸温度来达成。

作为构成本发明的膜的树脂，可以举出例如聚对苯二甲酸乙二醇酯(简称：PET)、聚萘二甲酸乙二醇酯(简称：PEN)等聚酯、聚乙烯、聚丙烯、赛璐玢、二乙酸纤维素、三乙酸纤维素(简称：TAC)、乙酸丁酸纤维素、乙酸丙酸纤维素(简称：CAP)、乙酸邻苯二甲酸纤维素、硝酸纤维素等纤维素酯类和它们的衍生物、聚偏二氯乙烯、聚乙烯醇、聚乙烯乙烯醇、间同立构聚苯乙烯、聚碳酸酯(简称：PC)、降冰片烯树脂、聚甲基戊烯、聚醚酮、聚酰亚胺、聚醚砜(简称：PES)、聚苯硫醚、聚砜类、聚醚酰亚胺、聚醚酮酰亚胺、聚酰胺、氟树脂、尼龙、聚甲基丙烯酸甲酯、丙烯酸系和聚芳酯类、アートン(注册商标)(商品名，JSR社制)和アペル(注册商标)(商品名，三井化学社制)等环烯烃系树脂等。

这些树脂之中，在成本、获得的容易性、制膜时的工艺窗口的宽度、强度、断裂伸长率等物性方面，优选使用至少以聚酯作为构成材料的膜。

在本发明中描述之处的所谓聚酯，是通过由以芳香族二羧酸或脂肪族二羧酸与二醇作为主要构成成分的单体进行聚合而获得的缩聚体。作为聚酯的工业制造方法，如公知的那样，使用酯交换反应(酯交换法)、直接酯化反应(直接聚合法)。这里，作为芳香族二羧酸，可以举出例如对苯二甲酸、间苯二甲酸、邻苯二甲酸、1,4-萘二甲酸、1,5-萘二甲酸、2,6-萘二甲酸、4,4’-二苯基二甲酸、4,4’-二苯基醚二甲酸、4,4’-二苯基砜二甲酸等。作为脂肪族二羧酸，可举出例如己二酸、辛二酸、癸二酸、二聚酸、十二烷二酸、1,4-环己烷二甲酸和它们的酯衍生物等。其中优选使用表现高折射率的对苯二甲酸和2,6-萘二甲酸。二羧酸成分可以使用它们之中的1种，也可以并用2种以上。

此外，作为二醇成分，可以举出例如乙二醇、1,2-丙二醇、1,3-丙二醇、新戊二醇、1,3-丁二醇、1,4-丁二醇、1,5-戊二醇、1,6-己二醇、1,2-环己烷二甲醇、1,3-环己烷二甲醇、1,4-环己烷二甲醇、二甘醇、三甘醇、聚亚烷基二醇、2,2-双(4-羟基乙氧基苯基)丙烷、异山梨醇、螺环二醇等。其中优选使用乙二醇。这些二醇成分可以仅使用1种，也可以并用使用2种以上。

从膜强度的提高和拉伸性的提高的观点考虑，优选为将由树脂A形成的层和由不同于树脂A的树脂C形成的层交替叠层了5层以上的叠层膜。进一步，如果上述树脂A以结晶性树脂A作为主成分，上述树脂C以非晶性树脂C作为主成分，则从面内相位差的调节变得容易的观点考虑是优选的。作为低折射率的树脂，可以使用在拉伸时折射率不易上升的非晶性树脂等。

作为结晶性树脂，也可以使用例如聚对苯二甲酸乙二醇酯及其共聚物、聚萘二甲酸乙二醇酯及其共聚物、聚对苯二甲酸丁二醇酯及其共聚物、聚萘二甲酸丁二醇酯及其共聚物、以及聚对苯二甲酸己二醇酯及其共聚物、聚萘二甲酸己二醇酯及其共聚物等。此时，作为共聚成分，上述二羧酸成分和二醇成分优选分别共聚1种以上。

作为低折射率的树脂，没有特别限定，可以使用聚乙烯、聚丙烯、聚(4-甲基-1-戊烯)、聚缩醛等链状聚烯烃、降冰片烯类的开环易位聚合物、降冰片烯类的加聚物、作为降冰片烯类与其它烯烃类的加成共聚物的脂环族聚烯烃、聚乳酸、聚琥珀酸丁酯等生物降解性聚合物、尼龙6、尼龙11、尼龙12、尼龙66等聚酰胺、芳族聚酰胺、聚甲基丙烯酸甲酯、聚氯乙烯、聚偏-二氯乙烯、聚乙烯醇、聚乙烯醇缩丁醛、乙烯乙酸乙烯酯共聚物、聚缩醛、聚乙醇酸、聚苯乙烯、苯乙烯共聚聚甲基丙烯酸甲酯、聚碳酸酯、聚对苯二甲酸丙二醇酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚对苯二甲酸丁二醇酯、聚2,6-萘二甲酸乙二醇酯等聚酯、聚醚砜、聚醚醚酮、改性聚苯醚、聚苯硫醚、聚醚酰亚胺、聚酰亚胺、聚芳酯、四氟乙烯树脂、三氟乙烯树脂、三氟氯乙烯树脂、四氟乙烯-六氟丙烯共聚物、聚偏二氟乙烯等。其中，从强度、耐热性、透明性和通用性的观点考虑，特别是也从与结晶性树脂的密合性和叠层性的观点考虑，作为树脂C，最优选包含聚酯作为构成成分。这里，低折射率的树脂可以为共聚物，也可以为混合物。

例如，包含间苯二甲酸的聚酯由于可以使结晶性降低，因此可以容易地抑制面内相位差，并且，即使双轴拉伸，厚度方向的折射率也不易降低，因此即使来自光源的光的入射角变化，也抑制虹斑(rainbow unevenness)的发生。此外，作为其它优选的非晶性聚酯，优选为包含螺环二醇作为共聚成分的聚酯。包含螺环二醇的聚酯在由双轴拉伸、弓曲(bowing)引起的膜变形中不易取向，因此不易发生宽度方向的面内相位差变动。此外，由于具有玻璃化转变点上升的效果，因此抑制由使用非晶性树脂引起的热收缩率的增加。作为其它优选的共聚非晶成分，可举出环己烷二甲醇、新戊二醇、环己烷二甲酸、异山梨醇等。

此外，上述膜可以为未拉伸膜，也可以为拉伸膜，但从强度、面内相位差调节、生产性的观点考虑优选为沿至少一个方向拉伸了的膜。特别是在认证器件的膜被玻璃等具有开裂可能性的原材料支持的情况下，优选通过适度拉伸使断裂伸长率提高，可以防止由表面破损引起的碎片的飞散。通过增大长度方向、宽度方向中任一方向的拉伸倍率，从而膜内的分子取向，可以使面内相位差提高。通过增大宽度方向的拉伸倍率，从而面内相位差和主取向轴沿宽度方向变得均匀，可以取得较大的能够使用的制品宽度，因此是优选的。在为了使热收缩率减少而在拉伸后进行热处理的情况下，通过使用一边热处理一边沿宽度方向进一步拉伸、在热处理前暂时冷却、减小拉伸时的温度与热处理时的温度差等方法，从而面内相位差和主取向轴沿宽度方向也变得均匀，可以取得较大的能够使用的制品宽度，因此是优选的。此外，如果降低拉伸温度则拉伸时的取向易于进行，由此也可以使面内相位差提高。相反如果提高拉伸时的温度则分子在不取向的状态下被拉伸，因此面内相位差不易提高。在本发明中为了使面内相位差为光源波长的大致整数倍，需要调整拉伸倍率和拉伸温度。然而，由于拉伸倍率、拉伸温度大大影响膜的强度、断裂伸长率等在使用膜方面重要的物性，因此难以兼有膜的强度、断裂伸长率与目标面内相位差。因此，作为调整面内相位差的方法，优选使用将2种以上树脂交替叠层了5层以上的膜。原因是，通过除了拉伸倍率、拉伸温度以外还调整所使用的树脂的折射率，从而变得容易兼有膜的强度、断裂伸长率与面内相位差的设计。

此外，对于本发明的认证器件，优选使通过以下方法测定的PT(0)、和PT(45)满足下述式(III)和式(IV)。

(III)PT(45)≥0.65

(IV)1≥PT(45)/PT(0)≥0.6

[PT(0)、和PT(45)的测定方法]

(1)使用以50W钨灯作为光源的分光光度计进行测定。

(2)将起偏器切割为2片，以2片起偏器的面与分光光度计的光轴成为垂直，并且2片起偏器的透射轴彼此成为平行的方式配置。

(3)对2片起偏器测定从上述光源出射的光线的具有最强强度的波长下的透射光量(背景测定)。将通过背景测定而获得的光源熄灭状态下的透射光量设为PT(D)，将光源点亮状态下的透射光量设为PT(L)。

(4)在2片起偏器之间以膜的面与分光光度计的光轴成为垂直的方式配置上述膜。

(5)仅使上述膜在与分光光度计的光轴垂直的面内旋转，同时测定从上述光源出射的光线的具有最强强度的波长下的透射光量。将2片起偏器的透射轴与上述膜的主取向轴所成的角为0°时的透射光量设为PT’(0)，将2片起偏器的透射轴与上述膜的主取向轴所成的角为45°时的透射光量设为PT’(45)。

(6)由下述式获得PT(0)、和PT(45)。

PT(0)＝(PT’(0)-PT(D))/(PT(L)-PT(D))

PT(45)＝(PT’(45)-PT(D))/(PT(L)-PT(D))

利用上述而求出的PT(45)可解释为在被认为透射率最低的角度下粘贴时的透射率。式(III)表示即使在透射率最低的状态下也优选使透射率成为0.65以上。如果透射率成为0.65以下，则有时导致认证性的降低。

利用上述而求出的PT(0)表示在取向角为0°、即在从提高透射率的观点考虑理想的角度下粘贴膜时的透射率。与PT(45)之比的(PT(45)/PT(0))表示在膜的粘贴方式从理想的角度偏移时透射率降低的程度。在PT(0)、PT(45)的比不为上述范围内的情况下，即，在PT(45)大于PT(0)、或PT(45)与PT(0)相比过小的情况下即在PT(45)/PT(0)小于0.6的情况下，为了使认证器件的认证性良好，需要以起偏器的透射轴与膜的主取向轴成为平行的方式设置，有时生产性降低。更优选为0.75以上且小于1.0。

只要可以调节树脂的折射率、拉伸倍率、拉伸温度，则虽然是以往公知的一般的制膜方法，也能够通过特定的制膜条件来制造能够应用于本发明的膜。例如，通过将成为材料的树脂通过挤出机进行熔融，通过环状模头、T模头挤出而骤冷，从而可以制造实质上无定形且未取向的未拉伸的膜。如上述那样，为了兼有面内相位差的调节与膜强度的提高，也优选将2种以上树脂叠层。从同样的观点考虑特别优选包含将2种树脂交替叠层了5层以上的结构。进一步，通过采用单轴拉伸、拉幅机式逐次双轴拉伸、拉幅机式同时双轴拉伸、管式同时双轴拉伸等公知的方法将未拉伸的膜沿膜的长度方向(输送方向、纵轴方向、MD方向)、或与膜的长度方向成直角的方向(宽度方向、横轴方向、TD方向)拉伸，从而可以制造双轴拉伸了的膜。该情况下的拉伸倍率可以根据成为膜的原料的树脂来适当选择，但优选沿纵轴方向和横轴方向各自为2～10倍的范围内。为了抑制在加工为认证器件时的收缩，也优选在拉伸后实施热处理。

通过在上述条件的范围内制膜，从而膜的主取向轴方向和与主取向轴正交的方向的25℃下的断裂伸长率都为30％以上且300％以下，这从提高加工时的操作性和提高作为膜的强度的观点考虑是优选的。进一步优选为50％以上且200％以下。在断裂伸长率为30％以下的情况下，加工时的断裂、认证器件的表面破损的可能性提高，因此是不优选的。此外，如果超过300％则有时因加工时的松弛、作为膜的强度变低而引起伤痕、凹陷，并且会因该伤痕、凹陷造成认证性的降低。

此外如后述那样，在设置于认证器件时，从透射率进而认证性的观点考虑优选起偏器的透射轴与膜的主取向轴平行。因此，优选膜的主取向轴的方向恒定为膜的MD方向、TD方向。使取向角恒定的方法没有特别限定，可举出例如通过使MD方向或TD方向的拉伸倍率相对于另一方的拉伸倍率变大，从而在100℃下处理了30分钟时的主取向轴方向和与主取向轴正交的方向的热收缩率的最大值与最小值之比(最大值/最小值)为一定的值以上。最大值与最小值之比优选为1.7以上，进一步优选为2.0以上，进一步优选为3.0以上。

作为膜的厚度，优选在3～200μm的范围内，更优选为10～150μm的范围内，特别优选为20～120μm的范围内。通过为上述范围内，从而可以确保加工时所需要的强度，同时使认证器件整体的厚度变薄。

此外，膜的主取向轴与上述起偏器的透射轴所成的角度小于10°从抑制认证性的降低的观点考虑是优选的。在超过10°的情况下，有时认证性良好的面内相位差的范围变窄，膜面内的面内相位差的偏差导致认证性的降低。然而，在膜制膜时，发生日本特开2010-240976号公报所记载的弓曲这样的现象，因此取向角对齐到不影响认证性的程度的范围受限，取向角未对齐的范围成为生产损耗。在本发明的膜制膜条件中，通过使纵向拉伸倍率为3.5倍以下，或/并且，横向拉伸倍率为3.5倍以上从而在膜的宽幅内主取向轴的方向接近于恒定，因此从生产性的观点考虑是优选的。进一步优选使纵向拉伸倍率为3.2倍以下，或/并且，使横向拉伸倍率为4倍以上，特别优选使纵向拉伸倍率为2.9倍以下，或/并且，使横向拉伸倍率为4.5倍以上。此外，通过为多层结构的膜从而易于抑制宽度方向的取向角的变化，因此是优选的。

从减少认证性的不均的观点考虑，在本发明的认证器件中使用的上述膜优选膜面内的面内相位差的不均小。作为不均的评价方法，可举出例如测定在膜面内显示最大长度的两端(A、B)、以及通过连接点A、B的直线AB的中点且与直线AB正交的直线的膜的两端(C、D)这合计4点的面内相位差的方法。所得的4点的面内相位差的最大值与最小值之差优选为200nm以下。上述面内相位差之差进一步优选为150nm以下，特别优选为100nm以下。为了使面内相位差为上述范围内，方法没有特别限定，但优选通过在膜拉伸时一次拉伸2.7倍以上，从而使对膜施加的应力整体稳定。

此外为了防止内部的起偏器和光源的劣化，膜优选屏蔽紫外线(这里为具有410nm以下的波长的光)。在光源OLED等由有机材料构成的情况下，特别期望紫外线屏蔽效果。最优选将410nm以下的光完全阻断，例如通过使波长380nm的光线透射率为5％以下从而能够防止内部的起偏器和光源的劣化。屏蔽紫外线的方法没有特别限定，但优选通过多层结构而使紫外光反射。反射波长的设定如日本特开2016-215643号所记载的那样，可以通过多层叠层膜的各层的层厚度来确定。除反射以外也可以使用紫外线吸收剂、或与反射设计并用。

作为可以在本发明中利用的紫外线吸收剂，优选使用分子量为300g/mol以上的、苯并三唑系、二苯甲酮系、苯甲酸酯系、三嗪系的紫外线吸收剂。紫外线吸收剂可以选择它们之中的1种，也可以并用2种以上。分子量与以紫外线吸收剂为代表的添加剂的升华性有关联，在利用了分子量大的添加剂的情况下，升华不易发生。分子量更优选为400g/mol以上，进一步优选为500g/mol以上。分子量高的紫外线吸收剂多在基本的芳香族环骨架上连接长链烷基链，它们阻碍紫外线吸收剂彼此的叠加(stacking)，不产生在树脂内结晶化而导致雾度的增加等问题，因此是期望的。

关于可以添加的紫外线吸收剂，作为苯并三唑系紫外线吸收剂，没有特别限定，可举出例如2-(2’-羟基-5’-甲基苯基)苯并三唑、2-(2’-羟基-3’,5’-二叔丁基苯基)-5-氯苯并三唑、2-(2’-羟基-3’-叔丁基-5’-甲基苯基)-5-氯苯并三唑、2-(2’-羟基-5’-叔辛基苯基)苯并三唑、2-(2’-羟基-3’,5’-二枯基苯基)苯并三唑、2-(2’-羟基-3’-叔丁基-5’-羧基苯基)苯并三唑、2,2’-亚甲基双(4-叔辛基-6-苯并三唑基)苯酚等2-(2’-羟基苯基)苯并三唑类等。

作为二苯甲酮系紫外线吸收剂，没有特别限定，可举出例如2,4-二羟基二苯甲酮、2-羟基-4-甲氧基二苯甲酮、2-羟基-4-辛氧基二苯甲酮、5,5’-亚甲基双(2-羟基-4-甲氧基二苯甲酮)等2-羟基二苯甲酮类。

作为苯甲酸酯系紫外线吸收剂，没有特别限定，可举出例如水杨酸苯酯、间苯二酚单苯甲酸酯、3,5-二叔丁基-4-羟基苯甲酸2,4-二叔丁基苯酯、3,5-二叔丁基-4-羟基苯甲酸2,4-二叔戊基苯酯、3,5-二叔丁基-4-羟基苯甲酸十六烷基酯等。

作为三嗪系紫外线吸收剂，没有特别限定，可举出2-(2-羟基-4-辛氧基苯基)-4,6-双(2,4-二甲基苯基)均三嗪、2-(2-羟基-4-己基氧基苯基)-4,6-二苯基均三嗪、2-(2-羟基-4-丙氧基-5-甲基苯基)-4,6-双(2,4-二甲基苯基)均三嗪、2-(2-羟基-4-己基氧基苯基)-4,6-二联苯基均三嗪、2,4-双(2-羟基-4-辛氧基苯基)-6-(2,4-二甲基苯基)均三嗪、2,4,6-三(2-羟基-4-辛氧基苯基)均三嗪、2-(4-异辛基氧基羰基乙氧基苯基)-4,6-二苯基均三嗪等三芳基三嗪类等。

作为其它紫外线吸收剂，对于水杨酸系，也可以利用例如水杨酸苯酯、水杨酸叔丁基苯酯、水杨酸对辛基苯酯等，此外，也可以利用天然物系(例如谷维素(oryzanol)、牛油树脂(shea butter)、黄芩苷(baicalin)等)、生物系(例如角质细胞、黑色素、尿刊宁(urocanin)等)等。在这些紫外线吸收剂中，也可以并用受阻胺系化合物作为稳定剂。无机系的紫外线吸收剂与成为基底的树脂不相容而导致雾度的上升，使在认证器件进行图像显示时的可见性恶化，因此是不优选的。

在利用紫外线吸收剂的情况下，可以添加在作为本发明的优选方案的进行了叠层的双轴取向膜的包含最外层的A层或作为内层的B层或这两者中。其中，最优选仅在B层中含有紫外线吸收剂。如果在最外层中添加紫外线吸收剂，则添加的紫外线吸收剂析出到膜表面的现象、和其挥发的现象易于发生，由此膜制膜机被污染，析出物在加工工序中带来不良影响，因此是不优选的。通过仅在内层中添加，从而最外层发挥作为防止紫外线吸收剂的挥发的盖的作用，因此析出现象不易发生，是优选的。

可以对膜表面实施赋予耐损伤性等功能性的涂布。作为涂布方法，可以使用以固化性树脂作为主成分，加入三聚氰胺/

唑啉等交联剂，通过紫外光使其固化的方法。

作为固化性树脂，优选为高透明且具有耐久性的固化性树脂，例如可以将丙烯酸系树脂、氨基甲酸酯树脂、氟系树脂、硅树脂、聚碳酸酯系树脂、氯乙烯系树脂单独或混合使用。特别是，在固化性、挠性、生产性方面，固化性树脂优选由以聚丙烯酸酯树脂为代表的丙烯酸系树脂等活性能量射线固化型树脂构成。此外，在附加对应用于要求曲面追随性的部位的膜所要求的、弯折时的耐擦伤性的情况下，固化性树脂优选由热固性氨基甲酸酯树脂构成。

此外在认证器件以例如存在于表皮的黑色素的分布图案作为识别对象的情况下，黑色素从紫外线强烈吸收蓝色光，因此光源波长为蓝色光(最大峰的波长为415nm以上且495nm以下)，膜的面内相位差为距光源波长的整数倍±120nm的范围，即存在满足下述(V)式的整数n，这从可获得清楚的图案方面考虑是优选的。在光源波长短于415nm的情况下，有时因由紫外线引起的光源的劣化、黑色素以外的吸收也变大而成为错误认证的问题。

(V)A×n-120≤Re≤A×n+120，并且，415≤A≤495。

此外，例如在如静脉认证那样以血红蛋白的分布图案作为识别对象的情况下，血红蛋白在红外线区域具有强的吸收峰，因此光源波长为红外线区域(最大峰的波长为800nm以上且1200nm以下)，膜的面内相位差为距光源波长的整数倍±150nm的范围，即存在满足下述(VIII)式的整数n，这从可获得清楚的图案方面考虑是优选的。此外，在视网膜、虹膜、面部认证等情况下也由于认证对象者直接看到光，因此从可以缓和认证对象者的不快感方面考虑有时优选使用红外线。

(VIII)A×n-150≤Re≤A×n+150，并且，800≤A≤1200。

同样地根据认证对象的颜色、设计性等，有时优选光源波长为绿色(最大峰的波长为495nm以上且570nm以下)，即存在满足下述(VI)式的整数n。此外有时优选黄～红色(最大峰的波长为570nm以上且800nm以下)，即存在满足下述(VII)式的整数n。

(VI)A×n-100≤Re≤A×n+100，并且，495≤A≤570。

(VII)A×n-120≤Re≤A×n+120，并且，570≤A≤800。

此外为了提高认证精度，将上述波长多个组合也是有效的，但为了获得本发明的效果，优选使膜的面内相位差为所使用的各光源波长的大致公倍数、或对各光源使用不同的面内相位差的膜。

本发明的认证器件中的能够认证的区域的面积没有特别限定，根据认证对象物、用途来适当调节。本发明的认证器件由于使用具有均匀的面内相位差和主取向轴的膜，因此可以取得较大的能够认证的区域的面积。即，本发明的认证器件可以适合用于能够认证的区域的面积为100cm²以上、进一步为225cm²以上、进一步为400cm²以上的器件。

本发明的认证器件如上述那样可以精度好地识别各种认证对象物，因此可以适合用于以指纹、虹膜、面部、手印、体形、静脉中的至少1种作为认证对象的认证器件。此外，本发明的认证器件由于即使起偏器的透射轴与膜的主取向轴所成的角大也可以使认证精度良好，因此可以减少成品率。

[特性的评价方法]

膜的评价

A.面内相位差(Re)和面内相位差之差(Δ相位差)

使用王子计测机器(株)制“KOBRA-21ADH”，测定了入射角0°时的波长587.8nm的面内相位差和慢轴。将慢轴的方向设为主取向轴。改变位置以5处×4cm×4cm从膜切出样品，使用了分别测定的平均值。

面内相位差的不均是测定在膜面内显示最大长度的两端(A、B)、以及通过连接点A、B的直线AB的中点且与直线AB正交的直线的膜的两端(C、D)这合计4点的面内相位差，使用了最大值与最小值之差。

B.PT(45)和PT(0)

(1)将认证器件所使用的起偏器、或具有与所使用的起偏器同等的偏光度的起偏器(TS线栅偏光膜(エドモンドオプティクスジャパン(株)制))切割为2片，以2片起偏器的面与以50W钨灯作为光源的分光光度计的光轴成为垂直，并且2片起偏器的透射轴彼此成为平行的方式配置，进行光源熄灭状态和光源点亮状态下的背景测定。将在光源熄灭状态下测得的透射光量设为PT(D)，将在光源点亮状态下测得的透射光量设为PT(L)。

(2)在2片起偏器之间以膜的面与分光光度计的光轴成为垂直的方式配置上述膜。

(3)仅使上述膜在与分光光度计的光轴垂直的面内旋转，同时测定从上述光源出射的光线的具有最强强度的波长下的透射光量。将2片起偏器的透射轴与上述膜的主取向轴所成的角为0°时的透射光量设为PT’(0)，将2片起偏器的透射轴与上述膜的主取向轴所成的角为45°时的透射光量设为PT’(45)。

(4)由下述式获得PT(0)、PT(45)。

PT(0)＝(PT’(0)-PT(D))/(PT(L)-PT(D))

PT(45)＝(PT’(45)-PT(D))/(PT(L)-PT(D))

C.光源光线透射率和380nm透射率

使用(株)日立ハイテクノロジーズ制分光光度计(U-4100Spectrophotometer)测定了入射角度＝0°时的透射率。

测定条件：狭缝设为2nm，增益设定为2，使扫描速度为600nm/分钟。改变位置以5处×4cm×4cm从膜切出样品，使用了分别测定的平均值。

积分球的反射板使用氧化铝，测光方式使用了双光束直接比率测光方式，分光器使用了棱镜、光栅/光栅型双单色器(double monochromator)。

所谓光源光线透射率，表示从认证器件的光源出射的光线在具有最强强度的波长下的透射率。

D.断裂伸长率

将膜从样品宽度中央部以10mm宽度×150mm宽度切出。使用数字式测微计(松尾产业制HKT-1208)、拉伸试验机(RTG1210)，按照JIS-C-2151、ASTM-D-882进行了测定。沿主取向轴方向用夹盘把持，以速度200mm/min拉伸，求出试样切断(断裂)时的强度(将拉伸荷重值除以试验片的截面积而得的值)、和伸长率。拉伸伸长率通过下式算出。

拉伸伸长率(％)＝100×(L-Lo)/Lo

Lo：试验前的试样长度L：断裂时的试样长度

测定进行5次，使用了其平均值。同样地操作，也测定了与主取向轴正交的方向的断裂伸长率。测定在保持于25℃的房间中进行。

E.光源波长和光源半宽度

在浜松ホトニクス制小型分光光度器(C10083MD，C9914GB)安装NA0.22的光纤，计测了光源的光。将在320nm以上且1500nm以下的范围具有最高强度的波长设为光源波长，将光源波长的峰的强度的1/2的强度下的峰的宽度设为半宽度。

F.厚度

使用数字式测微计(松尾产业制HKT-1208)，按照JIS-C-2151对膜中央部分进行了测定。测定进行3次，使用了其平均值。

认证器件的评价

G.认证性

在23℃65RH％的环境下，登记认证对象物α。在实施例10的情况下以虹膜作为认证对象物，在其以外的情况下以指纹作为认证对象物。然后，使认证器件交替识别认证对象物α和未登记的认证对象物β各200次。识别的时间设为各2秒。由拒绝α的概率(本人拒绝率：FRR)、接受β的概率(他人接受率：FAR)如以下那样评价。将A设为良好，将B设为合格，将C、D设为不合适。

A：FRR≤1.0％，FAR≤0.5％

B：1.0％＜FRR≤3.0％，FAR≤0.5％

C：3.0％＜FRR≤5.0％或/并且0.5％＜FAR≤1.0％

D：5.0％＜FRR或1.0％＜FAR。

H.光源耐久性

将认证器件在23℃65RH％气氛下维持1000h光源点亮状态，评价了试验前后的认证性能的变化。判定基准如下所述。其中，ΔFRR、ΔFAR分别表示从试验后的FRR、FAR减去试验前的FRR、FAR而得的值。

A：ΔFRR＝0，并且ΔFAR＝0。

B：“0＜ΔFRR≤1.0，并且0＜ΔFAR≤0.5”

C：“1.0＜ΔFRR≤2.0，并且0＜ΔFAR≤0.5”，“0＜ΔFRR≤1.0，并且0.5＜ΔFAR≤1.5”或“1.0＜ΔFRR≤2.0，并且0.5＜ΔFAR≤1.5”

D：A、B、C都不适用。

I.冲击耐久性

通过膜冲击试验机(东洋精机制作所制)，使用直径1/2英寸的半球状冲击头，在温度23℃、湿度65％RH的气氛下进行了冲击值的测定。测定对每1个样品进行5次。进一步，将每1次的冲击值除以附属于测定样品的膜厚度，设为每单位厚度的冲击值，由5次测定的平均值求出。由测定值如下述那样评价。

A：1.0N·m/mm以上

B：0.5N·m/mm以上且小于1.0N·m/mm

C：小于0.5N·m/mm。

J：热收缩率

针对膜的MD方向和TD方向，各自切出宽度10mm、长度200mm(测定方向)的试样5条，在距两端25mm的位置作记号作为标线，用万能投影机测定标线间的距离而设为试验长度(10)。接下来，将试验片夹入纸中，在荷重零的状态下在保温于100℃的烘箱内加热30分钟后取出，在室温下冷却后，用万能投影机测定尺寸(11)并利用下述式求出，将5条的平均值设为热收缩率。

热收缩率＝{(10-11)/10}×100(％)

实施例

以下，举出实施例对本发明进行说明，但本发明不一定限定于此。

(实施例1)

光源和光敏传感器使用了Synaptics制ClearID FS9500(光源波长525nm，光源半宽度30nm)。

起偏器使用了偏光度80％以上的作为一般偏光膜的クラレ制VF-PS#7500。膜通过以下方法制作。

(膜制作所使用的树脂)

树脂A：聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)(特性粘度：0.65)

树脂B：相对于二醇成分整体共聚了螺环二醇25mol％、相对于二羧酸成分整体共聚了环己烷二甲酸30mol％的聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET/SPG/CHDC)(特性粘度：0.72)

树脂C：将树脂B(90重量％)与作为紫外线吸收剂的2,2’-亚甲基双[6-(2H-苯并三唑-2-基)-4-(1,1,3,3,-四甲基丁基)苯酚](10重量％)使用挤出机进行混合，进行了制粒。

树脂D：将树脂A(90重量％)与作为紫外线吸收剂的2,2’-亚甲基双[6-(2H-苯并三唑-2-基)-4-(1,1,3,3,-四甲基丁基)苯酚](10重量％)使用挤出机进行混合，进行了制粒。

树脂E：含有平均粒径0.70μm的二乙烯基苯/苯乙烯共聚物粒子0.8重量％和平均二次粒径0.08μm的凝集氧化铝粒子1.5重量％的、聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)(特性粘度：0.65)。

(膜的制作)

作为构成A层的树脂，使用了树脂A，作为构成B层的树脂，使用了树脂C。另外，该树脂C为特性粘度为0.72的非晶性树脂，膜化后的面内平均折射率为1.55。使热塑性树脂A和热塑性树脂C分别利用挤出机在280℃下熔融，经由5片FSS型叶盘过滤器后，一边利用齿轮泵以排出比(叠层比)成为树脂A/树脂C＝1.5/1，并且双轴拉伸后的膜厚度成为35μm的方式计量，一边利用201层进料块(A层为101层，B层为100层)使其交替合流。接着，供给到T模头，成型为片状后，一边用线施加8kV的静电施加电压，一边在被保持为表面温度25℃的流延鼓上骤冷固化，获得了未拉伸多层叠层膜。对该未拉伸膜实施了逐次双轴拉伸。首先在105℃下利用テフロン(注册商标)辊进行输送后，一边用输出为500W的红外线加热器加热，一边在95℃下沿长度方向拉伸2.8倍而获得了单轴拉伸膜。将该单轴拉伸膜在拉幅机内沿宽度方向在100℃下拉伸4.5倍，接着在220℃下进行热定形，此时沿宽度方向松弛1.7％，在输送工序中使其冷却后，将边缘切断后卷绕，获得了膜。将所得的膜的物性示于表1和表3中。

(认证器件的制作)

按照ClearID(光源、光敏传感器)、起偏器、膜的顺序使用光学用透明粘着剂(OCA：Optically Clear Adhesive)进行粘接，获得了认证器件。此时，以膜的主取向轴与起偏器的透射轴成为平行的方式配置。认证器件的能够认证的面积设为1cm²。将所得的认证器件的特性示于表2和表4中。获得了具有优异的认证性和耐久性的认证器件。

(实施例2)

使粘贴于器件的膜的主取向轴相对于起偏器的透射轴为45°，除此以外，与实施例1同样地操作而获得了认证器件。如表2所示那样，获得了具有优异的认证性和耐久性的认证器件。

(实施例3)

使宽度方向的拉伸倍率为5.5倍，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。获得了具有优异的认证性和耐久性的认证器件。

(实施例4)

使长度方向的拉伸倍率为3.0倍，除此以外，与实施例1同样地操作而获得了膜、和认证器件。获得了具有优异的认证性和耐久性的认证器件。

(实施例5)

使膜的主取向轴相对于起偏器的透射轴为10°，除此以外，与实施例4同样地操作而获得了认证器件。获得了具有良好的认证性和优异的耐久性的认证器件。

(实施例6)

使膜的主取向轴相对于起偏器的透射轴为45°，除此以外，与实施例4同样地操作而获得了认证器件。获得了具有良好的认证性和优异的耐久性的认证器件。

(实施例7)

使长度方向的拉伸倍率为2.6倍，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。获得了具有良好的认证性和优异的耐久性的认证器件。

(实施例8)

作为构成B层的树脂，使用树脂D，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。获得了具有良好的认证性和耐久性的认证器件。

(实施例9)

使沿长度方向拉伸时的温度为90℃，使沿宽度方向拉伸时的温度为120℃，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。获得了具有良好的认证性和优异的耐久性的认证器件。

(实施例10)

代替ClearID而使用パナソニック制BM ET-200作为光源和光敏传感器，使长度方向的拉伸倍率为3.2倍，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。获得了具有优异的认证性和耐久性的认证器件。

(实施例11)

使用3层进料块(A层为外侧2层，B层为内侧1层)，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。成为具有优异的认证性的认证器件。

(实施例12)

作为构成B层的树脂，使用树脂B，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。成为具有优异的认证性的认证器件。

(实施例13)

使长度方向的拉伸倍率为1.05倍，使宽度方向的拉伸倍率为1.05倍，不进行热处理，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。成为具有优异的认证性的认证器件。

(实施例14)

作为膜，使用聚碳酸酯膜(帝人制パンライトPC-7129)，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。成为具有优异的认证性的认证器件。

(实施例15)

使能够认证的面积为50cm²，除此以外，与实施例1同样地操作而获得了认证器件。成为具有优异的认证性的认证器件。

(实施例16)

使长度方向的拉伸倍率为4.2倍，使宽度方向的拉伸倍率为2.3倍，除此以外，与实施例15同样地操作而获得了膜、和认证器件。成为具有良好的认证性的认证器件。

(实施例17)

使宽度方向的拉伸倍率为4.4倍，除此以外，与实施例1同样地操作而获得了膜、和认证器件。另外，本膜在测定面内相位差时，使光源波长为587.8nm进行测定，并且利用滤色器使光源波长为525nm也进行了测定。在525nm下测定的结果在表3内的Re(nm)列的括号内显示。如表4所示那样，在认证性试验中，成为具有FRR＝0％的特别优异的认证性的认证器件。

(实施例18)

使宽度方向的拉伸倍率为4.4倍，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。另外，本膜在测定面内相位差时，使光源波长为587.8nm进行测定，并且利用滤色器使光源波长为525nm也进行了测定。在525nm下测定的结果在表3内的Re(nm)列的括号内显示。如表4所示那样，在认证性试验中，成为具有FRR＝0％的特别优异的认证性的认证器件。

(实施例19)

同时使用ClearID的光源和光敏传感器、与BM ET-200的光源和光敏传感器，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了认证器件。在ClearID和BM ET-200中ClearID的光源的光线的强度更高。成为仅来自ClearID的光敏传感器的数据具有优异的认证性的认证器件。在表3和表4内的测定项目中，针对就测定而言需要光源波长的项目，在括号外记载了525nm下的测定结果，在括号内记载了850nm下的结果。

(实施例20)

使宽度方向的拉伸倍率为5.7倍，除此以外，与实施例19同样地操作而获得了膜、和认证器件。在ClearID和BM ET-200中ClearID的光源的光线的强度更高。成为来自ClearID的光敏传感器、与BM ET-200的光敏传感器中的任一者的数据都具有优异的认证性的认证器件。在表3和表4内的测定项目中，针对就测定而言需要光源波长的项目，在括号外记载了525nm下的测定结果，在括号内记载了850nm下的结果。

(实施例21)

使热处理温度为240℃，除此以外，与实施例5同样地操作而获得了膜、和认证器件。如表4所示那样，成为具有良好的认证性的认证器件。

(实施例22)

使长度方向的拉伸倍率为2.6倍，使宽度方向的拉伸倍率为4.0倍，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。如表4所示那样，虽然面内相位差的偏差稍微大，但是作为整体而成为具有良好的认证性的认证器件。

(实施例23)

代替树脂A而使用树脂E，除此以外，与实施例5同样地操作而获得了膜、和认证器件。如表4所示那样，成为具有良好的认证性的认证器件。

(实施例24)

使用9层进料块(A层为外侧5层，B层为内侧4层)，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。如表4所示那样，成为具有优异的认证性的认证器件。

(实施例25)

使用101层进料块(A层为外侧51层，B层为内侧50层)，并且调整排出量而使拉伸后的厚度为18μm，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。因薄膜化而使耐冲击性稍微降低，但成为也能够应用于要求薄膜的用途。如表4所示那样，成为具有优异的认证性的认证器件。

(比较例1)

使长度方向的拉伸倍率为3.2倍，使膜的主取向轴相对于起偏器的透射轴为10°，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。成为认证性稍微差的认证器件。

(比较例2)

使长度方向的拉伸倍率为3.2倍，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。成为认证性差的认证器件。

(比较例3)

使宽度方向的拉伸倍率为4.9倍，除此以外，与实施例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。成为认证性差的认证器件。

(比较例4)

使长度方向的拉伸倍率为3.2倍，使宽度方向的拉伸倍率为4.4倍，除此以外，与比较例2同样地操作而获得了膜、和认证器件。成为认证性差的认证器件。

产业可利用性

本发明的认证器件的认证性能不依赖于膜的取向角，通过膜吸收、反射紫外线从而提高光源、起偏器的耐久性，此外可以以便宜的聚酯作为膜的原料。因此，具有良好的认证性能和耐久性，便宜并且生产性优异。

符号的说明

1：光源

2：起偏器

3：膜

4：光敏传感器

5：从光源射出的光被认证对象物反射了的光

6：从光源射出的光。

Claims (20)

1.一种认证器件，其特征在于，是具有光源、起偏器、膜、和光敏传感器的认证器件，所述膜配置在起偏器与认证对象物之间，并且满足下述(1)和(2)，

(1)从所述光源出射的光线的透射率在该光线的最强强度的波长下为70％以上且100％以下，

(2)存在满足下述(I)式的整数n，

(I)A×n-150≤Re≤A×n+150

其中，A为在从所述光源出射的光线中显示最强强度的波长，其单位为nm，

Re为将所述膜使用平行尼科尔旋转法在入射角0°时的波长587.8nm下测定的面内相位差，其单位为nm。

2.根据权利要求1所述的认证器件，其满足所述(I)式，并且存在满足下述(II)式的整数m，

(II)B×m-150≤Re≤B×m+150

其中，B为在从所述光源出射的光线中显示第2强的强度的波长，其单位为nm，

Re为将所述膜使用平行尼科尔旋转法在入射角0°时的波长587.8nm下测定的面内相位差，其单位为nm。

3.根据权利要求1或2所述的认证器件，所述膜满足下述式(III)、和式(IV)，

(III)PT(45)≥0.65

(IV)1≥PT(45)/PT(0)≥0.6

其中，PT(45)和PT(0)如下所述求出，

(1)将起偏器切割为2片，以2片起偏器的面与以50W钨灯作为光源的分光光度计的光轴成为垂直，并且2片起偏器的透射轴彼此成为平行的方式配置，进行光源熄灭状态和光源点亮状态下的背景测定；将在光源熄灭状态下测得的透射光量设为PT(D)，将在光源点亮状态下测得的透射光量设为PT(L)；

(2)在2片起偏器之间以膜的面与分光光度计的光轴成为垂直的方式配置所述膜，

(3)仅使所述膜在与分光光度计的光轴垂直的面内旋转，同时测定从所述光源出射的光线的具有最强强度的波长下的透射光量；将2片起偏器的透射轴与所述膜的主取向轴所成的角为0°时的透射光量设为PT’(0)，将2片起偏器的透射轴与所述膜的主取向轴所成的角为45°时的透射光量设为PT’(45)，

(4)由下述式获得PT(0)、PT(45)，

PT(0)＝(PT’(0)-PT(D))/(PT(L)-PT(D))

PT(45)＝(PT’(45)-PT(D))/(PT(L)-PT(D))。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的认证器件，在从所述光源出射的光线中显示最强强度的峰的半宽度为5nm以上且70nm以下。

5.根据权利要求1～4中任一项所述的认证器件，存在满足下述(V)式的整数n，

(V)A×n-120≤Re≤A×n+120，并且，415≤A≤495。

6.根据权利要求1～4中任一项所述的认证器件，存在满足下述(VI)式的整数n，

(VI)A×n-100≤Re≤A×n+100，并且，495≤A≤570。

7.根据权利要求1～4中任一项所述的认证器件，存在满足下述(VII)式的整数n，

(VII)A×n-120≤Re≤A×n+120，并且，570≤A≤800。

8.根据权利要求1～4中任一项所述的认证器件，存在满足下述(VIII)式的整数n，

(VIII)A×n-150≤Re≤A×n+150，并且，800≤A≤1600。

9.根据权利要求1～8中任一项所述的认证器件，所述膜的面内相位差为400nm以上且3000nm以下。

10.根据权利要求1～9中任一项所述的认证器件，所述膜为将由树脂A形成的层与由不同于树脂A的树脂B形成的层交替地叠层了5层以上的叠层膜。

11.根据权利要求10所述的认证器件，其特征在于，构成所述膜的树脂B包含环己烷二甲醇、螺环二醇、新戊二醇、间苯二甲酸、环己烷二甲酸、异山梨醇之中的至少一种，并以聚酯作为主成分。

12.根据权利要求1～11中任一项所述的认证器件，所述膜的主取向轴方向和与主取向轴正交的方向的25℃下的断裂伸长率都为30％以上且300％以下。

13.根据权利要求1～12中任一项所述的认证器件，所述膜在100℃下处理了30分钟时的主取向轴方向和与主取向轴正交的方向的热收缩率的最大值与最小值之比即最大值/最小值为1.7以上。

14.根据权利要求1～13中任一项所述的认证器件，所述膜的主取向轴与所述起偏器的透射轴所成的角度小于10°。

15.根据权利要求1～14中任一项所述的认证器件，所述膜在膜面内显示最大长度的两端(A、B)、以及通过直线AB的中点且与将点A、B连接的直线AB正交的直线的膜的两端(C、D)这合计4点的面内相位差中，最大值与最小值之差为200nm以下。

16.根据权利要求1～15中任一项所述的认证器件，能够认证的区域的面积为10cm²以上。

17.根据权利要求1～16中任一项所述的认证器件，所述光源包含有机EL即有机电致发光元件、发光二极管LED中的任一者，所述膜的波长380nm的光线透射率为5％以下。

18.根据权利要求1～17中任一项所述的认证器件，所述光敏传感器为CMOS传感器即互补金属氧化物半导体传感器。

19.一种膜，是具有光源、起偏器、膜、和光敏传感器的认证器件所使用的膜，其满足下述(1)和(2)，

(1)所述膜的从所述光源出射的光线的透射率在该光线的最强强度的波长下为70％以上且100％以下，

(2)存在满足下述(I)式的整数n，

(I)A×n-150≤Re≤A×n+150

其中，A为在从所述光源出射的光线中显示最强强度的波长，其单位为nm，

Re为将所述膜使用平行尼科尔旋转法在入射角0°时的波长587.8nm下测定的面内相位差，其单位为nm。

20.根据权利要求19所述的膜，所述膜满足下述式(III)、和式(IV)，

(III)PT(45)≥0.65

(IV)1≥PT(45)/PT(0)≥0.6

其中，PT(45)和PT(0)如下所述求出，

(1)将起偏器切割为2片，以2片起偏器的面与以50W钨灯作为光源的分光光度计的光轴成为垂直，并且2片起偏器的透射轴彼此成为平行的方式配置，进行背景测定；将在光源熄灭状态下测得的透射光量设为PT(D)，将在光源点亮状态下测得的透射光量设为PT(L)，

(2)在2片起偏器之间以膜的面与分光光度计的光轴成为垂直的方式配置所述膜，

(3)仅使所述膜在与分光光度计的光轴垂直的面内旋转，同时测定在从所述光源出射的光线中显示最强强度的波长下的透射光量；将2片起偏器的透射轴与所述膜的主取向轴所成的角为0°时的透射光量设为PT’(0)，将2片起偏器的透射轴与所述膜的主取向轴所成的角为45°时的透射光量设为PT’(45)，

(4)由下述式获得PT(0)、PT(45)，

PT(0)＝(PT’(0)-PT(D))/(PT(L)-PT(D))

PT(45)＝(PT’(45)-PT(D))/(PT(L)-PT(D))。

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