TW202100973A - 自動化按鍵敲擊裝置 - Google Patents

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TW202100973A TW108122016A TW108122016A TW202100973A TW 202100973 A TW202100973 A TW 202100973A TW 108122016 A TW108122016 A TW 108122016A TW 108122016 A TW108122016 A TW 108122016A TW 202100973 A TW202100973 A TW 202100973A
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Abstract

一種自動化按鍵敲擊裝置包含一載台、一底座、一傳動模組、一第一敲擊模組與一第二敲擊模組。傳動模組可往返滑動地位於底座上。第一敲擊模組位於傳動模組上,且朝外延伸至載台上,用以隨著傳動模組之帶動而按壓鍵盤的其中一按鍵。第二敲擊模組位於底座上且朝外延伸至載台上,用以按壓鍵盤的另一按鍵。第一敲擊模組較第二敲擊模組更突出地伸至載台上方。控制單元電連接第一敲擊模組與第二敲擊模組與傳動模組。

Description

自動化按鍵敲擊裝置
本發明有關於一種按鍵敲擊裝置,尤指一種自動化按鍵敲擊裝置。
目前電腦產品的種種測試程序中,當在執行某一特定測試程式的過程中,必須透過操作人員逐一按壓電腦產品之鍵盤上之特定按鍵,才能准許測試程式進行後續測試程序。
然而,操作人員需要與特定程式交互配合,使得測試程式發出通知訊息之後,等待操作人員按壓特定按鍵,不僅容易出錯、延長工時,也無助提升測試過程自動化的程度。
本發明之一實施例提供了一種自動化按鍵敲擊裝置。自動化按鍵敲擊裝置包含一載台、一底座、一傳動模組、至少一第一敲擊模組、至少一第二敲擊模組與一控制單元。載台用以承載一電子裝置之一鍵盤。底座位於載台之一側。傳動模組可往返滑動地位於底座上。第一敲擊模組位於傳動模組 上,且朝外延伸至載台上,用以隨著傳動模組之帶動,而按壓鍵盤的其中一按鍵。第二敲擊模組位於底座上,且朝外延伸至載台上,用以按壓鍵盤的另一按鍵。第一敲擊模組較第二敲擊模組更突出地伸至載台上方。控制單元電連接第一敲擊模組與第二敲擊模組與傳動模組。
依據本發明一或複數個實施例,在上述之自動化按鍵敲擊裝置中,第一敲擊模組包含一樞設座、一延伸臂、一電磁元件與一彈性元件。樞設座位於傳動模組上。延伸臂樞接樞設座,且延伸臂之一末端具有一敲擊部。電磁元件位於樞設座與延伸臂之間,電性連接控制單元,用以可切換地磁吸延伸臂。彈性元件連接樞設座與延伸臂。故,當電磁元件磁吸並轉動延伸臂時,延伸臂透過敲擊部按壓其中一按鍵。
依據本發明一或複數個實施例,在上述之自動化按鍵敲擊裝置中,第一敲擊模組包含一伺服馬達、一桿體與一凸輪。伺服馬達位於傳動模組上,且電性連接控制單元。桿體同軸地連接伺服馬達之轉軸。凸輪同軸地連接桿體,用以受伺服馬達之連動而按壓其中一按鍵。
依據本發明一或複數個實施例,在上述之自動化按鍵敲擊裝置中,凸輪包含一本體及一凸出部。本體同軸地連接桿體。凸出部形成於本體之一周面。當伺服馬達透過不同之轉動角度轉動凸輪時,凸輪透過凸出部與本體其中之一按壓其中一按鍵,以致對按鍵產生不同之下壓距離。
依據本發明一或複數個實施例,在上述之自動化按鍵敲擊裝置中,傳動模組包含一承載座、二平台、二皮帶輪、 一傳動皮帶、一步徑馬達與至少一導引柱。平台相對地位於底座上。此二皮帶輪分別樞設於這些平台上。導引柱跨接至該些平台上。承載座可滑動地位於導引柱上,用以承載第一敲擊模組。傳動皮帶套接於此些皮帶輪上,固接承載座,用以隨著此些皮帶輪之轉動而連動。步徑馬達同軸地連接其中一皮帶輪,且電性連接控制單元,用以往返帶動承載座。
依據本發明一或複數個實施例,在上述之自動化按鍵敲擊裝置中,第二敲擊模組為多數個,此些第二敲擊模組固定地並排於底座上,用以按壓鍵盤之同一按鍵列上之多數個按鍵。
依據本發明一或複數個實施例,上述之自動化按鍵敲擊裝置更包含至少一第三敲擊模組。第三敲擊模組位於底座上,且沿一第一方向朝外延伸至載台上,用以按壓鍵盤的又一按鍵。第一敲擊模組與第二敲擊模組皆沿一第二方向朝外延伸至載台上,且第二方向與第一方向相交。
依據本發明一或複數個實施例,上述之自動化按鍵敲擊裝置更包含一支撐架與一攝影裝置。支撐架連接底座。攝影裝置懸空地固設於支撐架上,電性連接控制單元,用以對鍵盤或/及電子裝置之螢幕擷取影像。
依據本發明一或複數個實施例,在上述之自動化按鍵敲擊裝置中,載台更包含一底板與一移動板。底板具有一第一導軌。移動板具有一第二導軌,用以承載電子裝置。透過第二導軌可滑移地接合第一導軌,移動板可滑移地位於底板上。
本發明之另一實施例提供了一種自動化按鍵敲擊裝置。自動化按鍵敲擊裝置包含一底座、複數個敲擊模組與一控制單元。底座具有一測試區。測試區內用以放置一鍵盤。鍵盤具有複數個按鍵列,此些按鍵列彼此平行。此些敲擊模組沿著底座之一長軸方向並排於底座上,分別伸入測試區內,且沿長軸方向依序遞增其伸入測試區內之長度,用以分別按壓鍵盤之不同的此些按鍵列。控制單元用以分別觸發敲擊模組按壓鍵盤。
如此,藉由以上實施例所述之架構,自動化按鍵敲擊裝置能夠藉以在減少人工參與的前提下,實現鍵盤的自動測試,進而提高測試的準確性及效率。
以上所述僅係用以闡述本發明所欲解決的問題、解決問題的技術手段、及其產生的功效等等,本發明之具體細節將在下文的實施例及相關圖式中詳細介紹。
10‧‧‧自動化按鍵敲擊裝置
100‧‧‧載台
110‧‧‧底板
111‧‧‧第一導軌
120‧‧‧移動板
121‧‧‧第二導軌
122‧‧‧容置凹槽
200‧‧‧底座
201‧‧‧外側緣
202‧‧‧測試區
210‧‧‧第一部分
220‧‧‧第二部分
300‧‧‧傳動模組
310‧‧‧承載座
320‧‧‧平台
330‧‧‧皮帶輪
340‧‧‧傳動皮帶
350‧‧‧步徑馬達
360‧‧‧導引柱
370‧‧‧分隔柱
380‧‧‧間隔
400、500‧‧‧第一敲擊模組
410‧‧‧樞設座
411‧‧‧樞軸
420‧‧‧延伸臂
421‧‧‧金屬架
422‧‧‧懸臂
423‧‧‧敲擊部
430‧‧‧電磁元件
440‧‧‧彈性元件
510‧‧‧伺服馬達
520‧‧‧桿體
530‧‧‧凸輪
531‧‧‧本體
531P‧‧‧圓心
531R‧‧‧周面
531S‧‧‧預設位置
532‧‧‧凸出部
532T‧‧‧頂點
610‧‧‧第二敲擊模組
620‧‧‧第三敲擊模組
700‧‧‧支撐架
710‧‧‧立柱
720‧‧‧第一支臂
730‧‧‧第二支臂
740‧‧‧第一攝影裝置
750‧‧‧第二攝影裝置
800‧‧‧控制單元
900‧‧‧電子裝置
910‧‧‧鍵盤
911‧‧‧長軸方向
921‧‧‧第一按鍵列
922‧‧‧第二按鍵列
923‧‧‧第三按鍵列
924‧‧‧第四按鍵列
925‧‧‧第五按鍵列
926‧‧‧第六按鍵列
930‧‧‧按鍵
940‧‧‧螢幕
C1‧‧‧第一旋轉方向
C2‧‧‧第二旋轉方向
H‧‧‧高度
D1‧‧‧第一高度
D2‧‧‧第二高度
G‧‧‧間隙
L1、L2‧‧‧最小直線長度
X、Y、Z‧‧‧軸
為讓本發明之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂,所附圖式之說明如下:第1圖為依據本發明一實施例之自動化按鍵敲擊裝置之立體圖;第2圖為第1圖之自動化按鍵敲擊裝置之分解圖;第3圖為第1圖之載台移至測試區之示意圖;第4圖為一傳統鍵盤之正視圖;第5圖為第1圖之第一敲擊模組之側視圖;第6圖為第5圖之使用操作圖; 第7圖為依據本發明一實施例之第一敲擊模組之立體圖;第8圖為第7圖之按鍵被第一敲擊模組按壓之使用操作圖;以及第9圖為第7圖之按鍵被第一敲擊模組按壓之另一使用操作圖。
以下將以圖式揭露本發明之複數個實施例,為明確說明起見,許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而,應瞭解到,這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說,在本發明實施例中,這些實務上的細節是非必要的。此外,為簡化圖式起見,一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。
第1圖為依據本發明一實施例之自動化按鍵敲擊裝置10之立體圖。第2圖為第1圖之自動化按鍵敲擊裝置10之分解圖。第3圖為第1圖之載台100移至測試區202之示意圖。如第1圖與第2圖所示,自動化按鍵敲擊裝置10包含一載台100、一底座200、一傳動模組300、多個(例如10個)第一敲擊模組400、多個(例如5個)第二敲擊模組610與一控制單元800。載台100能夠用以承載一電子裝置900,電子裝置900例如為筆記型電腦或鍵盤裝置等等。底座200之其中一外側緣201定義出一測試區202。測試區202用以容納載台100上之電子裝置900。傳動模組300可往返滑動地位於底座200上,即傳動模組300能夠在底座200上沿著底座200之長軸方向(例如Y 軸)往返移動。這些第一敲擊模組400位於傳動模組300上,用以隨著傳動模組300往返移動。每個第一敲擊模組400沿一第一方向(例如X軸)朝外延伸至測試區202,用以模擬人為按壓電子裝置900之鍵盤910之其中一按鍵930。這些第二敲擊模組610位於底座200上,且沿著底座200之外側緣201依序排列。每個第二敲擊模組610沿第一方向(例如X軸)朝外延伸至測試區202,用以模擬人為按壓電子裝置900之鍵盤910之另一按鍵930。第一敲擊模組400較第二敲擊模組610更突出地伸至載台100上方。控制單元800電連接第一敲擊模組400與第二敲擊模組610與傳動模組300,用以控制傳動模組300之移動位置、以及控制第一敲擊模組400與第二敲擊模組610按壓電子裝置900之鍵盤910。
故,由於第一敲擊模組400較第二敲擊模組610更突出地伸至載台100上方,當控制單元800同時啟動第一敲擊模組400與第二敲擊模組610,第一敲擊模組400與第二敲擊模組610能夠同時按壓鍵盤910上不同按鍵列之按鍵。
如此,藉由以上實施例所述之架構,自動化按鍵敲擊裝置10能夠藉以在減少人工參與的前提下,實現鍵盤910的自動測試,進而提高測試的準確性及效率。
更具體地,在本實施例中,這些第一敲擊模組400並排地位於傳動模組300上,且這些第一敲擊模組400沿著底座200之外側緣201(例如Y軸)依序遞增其伸入測試區202內之長度。另外,這些第二敲擊模組610固定地設於底座200上,且並排於底座200之外側緣201,並且這些第二敲擊模組610 伸入測試區202內之長度彼此相同。
第4圖為一傳統鍵盤910之正視圖。如第3圖與第4圖所示,鍵盤910具有複數個(例如6個)按鍵列(如第一按鍵列921、第二按鍵列922、第三按鍵列923、第四按鍵列924、第五按鍵列925與第六按鍵列926),此些按鍵列彼此平行。每個按鍵列具有多個按鍵930。每個按鍵列之這些按鍵930沿鍵盤910之一長軸方向911單列排列。舉例來說,此鍵盤910中具有空白鍵之按鍵列為第一按鍵列921,即最外側之按鍵列,其餘依序為第二按鍵列922、第三按鍵列923、第四按鍵列924、第五按鍵列925與第六按鍵列926。
故,在載台100移入測試區202內以定位鍵盤910時,由於這些第一敲擊模組400依序遞增其伸入測試區202內之長度,這些第一敲擊模組400恰好分別同時伸至第二按鍵列922至第六按鍵列926,且這些第二敲擊模組610恰好同時伸至鍵盤910之第一按鍵列921,且分別對齊第一按鍵列921之每個按鍵930。
如此,控制單元800能夠控制任一第一敲擊模組400按壓對應之按鍵930,以及藉由移動傳動模組300,以控制任一第二敲擊模組610按壓對應按鍵列之任一按鍵930。如此,控制單元800可以控制任一第一敲擊模組400與任一第二敲擊模組610同時間下按壓任意組合之按鍵930。
如第1圖與第2圖所示,自動化按鍵敲擊裝置10更包含一支撐架700、第一攝影裝置740與第二攝影裝置750。支撐架700連接底座200。第一攝影裝置740與第二攝影裝置750 分別懸空地固設於支撐架700上,且電性連接控制單元800。第一攝影裝置740用以對電子裝置900之鍵盤910擷取影像。第二攝影裝置750用以對鍵盤910之螢幕940擷取影像。更具體地,支撐架700包含一立柱710、一第一支臂720與一第二支臂730。第一支臂720與第二支臂730分別固定於立柱710上,且分別延伸至傳動模組300及這些第一敲擊模組400上方。第一支臂720及第二支臂730相互平行。立柱710與第一支臂720相互垂直。第一攝影裝置740固定於第一支臂720背對立柱710之末端,且對準電子裝置900之鍵盤910。第二攝影裝置750固定於第二支臂730背對立柱710之末端,且對準鍵盤910之螢幕940。如此,控制單元800便能夠透過第一攝影裝置740之回傳影像進行上述之定位程序,以及透過第二攝影裝置750之回傳影像以確認對應之按鍵是否被有效按壓。
第5圖為第1圖之第一敲擊模組400之側視圖。第6圖為第5圖之使用操作圖。如第5圖與第6圖所示,在上述之自動化按鍵敲擊裝置10中,第一敲擊模組400包含一樞設座410、一延伸臂420、一電磁元件430與一彈性元件440。樞設座410位於傳動模組300上。延伸臂420樞接至樞設座410。例如,延伸臂420包含一金屬架421、一懸臂422與一敲擊部423。金屬架421透過樞軸411樞接至樞設座410。懸臂422之一端套設於金屬架421,敲擊部423呈柱狀,連接於延伸臂420之另端末端。電磁元件430位於樞軸411與延伸臂420之間,電性連接控制單元800(第1圖),用以可切換地控制以磁吸或不磁吸延伸臂420。電磁元件430面向金屬架421,且與金屬架421之間具 有間隙G。彈性元件440連接樞設座410與延伸臂420,例如為拉伸彈簧。
故,如第1圖與第6圖所示,當控制單元800開啟電磁元件430時,電磁元件430開始磁吸延伸臂420之金屬架421,使得受磁吸之延伸臂420開始朝一第一旋轉方向C1轉動(第6圖),直到金屬架421朝間隙G移動到電磁元件430,故,延伸臂420之敲擊部423便開始按壓對齊之按鍵930以及彈性元件440開始被延伸臂420形變而儲存一回復彈力。反之,如第1圖與第5圖所示,當控制單元800關閉電磁元件430,使得電磁元件430不再磁吸延伸臂420之金屬架421時,彈性元件440之回復彈力使得延伸臂420開始朝相反第一旋轉方向C1之第二旋轉方向C2轉動,直到將延伸臂420帶回原位。
此外,在本實施例中,如第1圖與第2圖所示,自動化按鍵敲擊裝置10更包含至少一第三敲擊模組620。第三敲擊模組620位於底座200上,用以模擬人為按壓電子裝置900之鍵盤910之又一按鍵930。又一按鍵930為鍵盤910上第一敲擊模組400與第二敲擊模組610無法按壓之按鍵。舉例來說,當鍵盤具有數字鍵(圖中未示)時,自動化按鍵敲擊裝置得以透過第三敲擊模組按壓任一數字鍵。
更具體地,底座200呈L型,包含第一部分210與第二部分220。第一部分210之長軸方向(如X軸)與第二部分220之長軸方向(如Y軸)彼此正交,使得第一部分210與第二部分220共同定義出上述測試區202。第二敲擊模組610位於第一部分210。第三敲擊模組620位於底座200之第二部分220,且 沿一第二方向(例如Y軸)朝外延伸至測試區202,且第二方向與第一方向彼此正交,或者至少彼此相交。然而,本發明不限於此,在其他實施例中,亦能夠將第一敲擊模組400與第三敲擊模組620改為可滑移地位於底座200上。
如第1圖與第2圖所示,載台100可滑移地設於測試區202內。更具體地,載台100更包含一底板110與一移動板120。底板110具有二個第一導軌111,此些第一導軌111對準測試區202。移動板120具有二第二導軌121,用以承載電子裝置900。透過第二導軌121可滑移地接合第一導軌111,移動板120可滑移地位於底板110上。如此,載台100便能夠沿著第一方向(例如X軸)於滑移至測試區202內,以便讓電子裝置900之鍵盤910完成定位作業。由於載台100能夠沿著第一方向(例如X軸)滑移,故,透過移動板120之滑移,第三敲擊模組620得以對齊並按壓數字鍵沿第一方向(例如X軸)排列之任一數字鍵。此外,移動板120更具有一容置凹槽122。容置凹槽122用以固定地放置例如為鍵盤裝置的電子裝置(圖中未示)。
在本實施例中,第二敲擊模組610與第三敲擊模組620的結構與第一敲擊模組400相同,故,在此不再加以贅述。然而,本發明不限第一敲擊模組400、第二敲擊模組610與第三敲擊模組620的結構必須相同。
如第2圖與第3圖所示,在本實施例中,傳動模組300包含一承載座310、二平台320、二皮帶輪330、一傳動皮帶340、一步徑馬達350與至少一導引柱360。平台320相對地位於底座200上。此二皮帶輪330分別樞設於這些平台320上。 導引柱360跨接至該些平台320上。承載座310可滑動地位於導引柱360上,用以承載上述這些第一敲擊模組400。傳動皮帶340套接於此些皮帶輪330上,固接承載座310,用以隨著此些皮帶輪330之轉動而連動。步徑馬達350同軸地連接其中一皮帶輪330,且電性連接控制單元800,用以往返帶動承載座310。故,透過控制步徑馬達350之特定轉動幅度(例如轉動格數),控制單元800能夠準確地讓特定之第一敲擊模組400到達預期的按鍵位置。
更具體地,傳動模組300與底座200之間保持一間隔380,使得且此些第二敲擊模組610有空間放置於間隔380內,以充分利用空間。舉例來說,平台320透過分隔柱370之分隔,使得傳動模組300可以與底座200之間保持間隔380,即間隔380位於分隔柱370與底座200之間。然而,本發明不限於此。
第7圖為依據本發明一實施例之第一敲擊模組500之立體圖。第8圖為第7圖之按鍵930被第一敲擊模組500按壓之使用操作圖。如第7圖所示,在本實施例中,第一敲擊模組500包含一伺服馬達510、一桿體520與一凸輪530。伺服馬達510位於傳動模組300上,且電性連接控制單元800。桿體520同軸地連接伺服馬達510之轉軸。凸輪530同軸地連接桿體520,用以受伺服馬達510之連動而按壓其中一按鍵930。第一敲擊模組500透過轉動凸輪530按壓按鍵930,此時,尚未被按壓之按鍵930的高度為H。更具體地,凸輪530包含一本體531及一凸出部532。本體531同軸地連接桿體520。凸出部532凸 設於本體531之一周面531R,且與本體531一體成形。
如此,如第1圖與第8圖所示,當控制單元800啟動伺服馬達510,使得伺服馬達510同軸地轉動桿體520及凸輪530時,第一敲擊模組500透過凸輪530之凸出部532按壓其中一按鍵930。更具體地,當控制單元800指示伺服馬達510轉動至一第一轉動角度時,桿體520透過凸出部532之頂點532T按壓按鍵930。此時,被按壓後之按鍵930的第一高度剩下為D1,且按鍵930被有效按壓之下壓幅度為最大下壓幅度。
在本實施例中,第二敲擊模組610與第三敲擊模組620的結構與第一敲擊模組500相同,故,在此不再加以贅述。然而,本發明不限第一敲擊模組400、第二敲擊模組610與第三敲擊模組620的結構必須相同。
第9圖為第7圖之按鍵被第一敲擊模組501按壓之另一使用操作圖。如第7圖與第9圖所示,由於不同款式鍵盤910之按鍵930達到有效按壓所需的下壓幅度不同,故,伺服馬達510能夠透過不同之轉動角度轉動上述凸輪530,藉由凸輪530之不同位置按壓此按鍵930,則能夠對按鍵產生不同之下壓幅度。
舉例來說,當控制單元800指示伺服馬達510轉動至一第二轉動角度時,桿體520透過本體531之預設位置531S按壓其中一按鍵930。此時,被按壓後之按鍵930的高度剩下為D2。凸出部532之預設位置531S至本體531之圓心531P的最小直線長度L1小於凸出部532之頂點532T至本體531之圓心531P的最小直線長度L2。故,按鍵930的第二高度D2大於 按鍵930的第一高度D1,換句話說,使用凸輪530之預設位置531S按壓的下壓幅度小於使用凸輪530之頂點532T按壓的下壓幅度。
須了解到,上述之控制單元800為硬體裝置,例如為控制系統、控制電路或控制電腦,不限位於底座200上或底座200旁。然而,本發明不限於此。
最後,上述所揭露之各實施例中,並非用以限定本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾,皆可被保護於本發明中。因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧自動化按鍵敲擊裝置
100‧‧‧載台
110‧‧‧底板
111‧‧‧第一導軌
120‧‧‧移動板
121‧‧‧第二導軌
122‧‧‧容置凹槽
200‧‧‧底座
201‧‧‧外側緣
202‧‧‧測試區
300‧‧‧傳動模組
380‧‧‧間隔
400‧‧‧第一敲擊模組
610‧‧‧第二敲擊模組
620‧‧‧第三敲擊模組
700‧‧‧支撐架
710‧‧‧立柱
720‧‧‧第一支臂
730‧‧‧第二支臂
740‧‧‧第一攝影裝置
750‧‧‧第二攝影裝置
800‧‧‧控制單元
900‧‧‧電子裝置
910‧‧‧鍵盤
930‧‧‧按鍵
940‧‧‧螢幕
X、Y、Z‧‧‧軸

Claims (10)

  1. 一種自動化按鍵敲擊裝置,包含:一載台,用以承載一電子裝置之一鍵盤;一底座,位於該載台之一側;一傳動模組,可往返滑動地位於該底座上;至少一第一敲擊模組,位於該傳動模組上,且朝外延伸至該載台上,用以隨著該傳動模組之帶動,而按壓該鍵盤的其中一按鍵;至少一第二敲擊模組,位於該底座上,且朝外延伸至該載台上,用以按壓該鍵盤的另一按鍵;以及一控制單元,電連接該第一敲擊模組與該第二敲擊模組與該傳動模組,其中該第一敲擊模組較該第二敲擊模組更突出地伸至該載台上方。
  2. 如請求項1所述之自動化按鍵敲擊裝置,其中該第一敲擊模組包含:一樞設座,位於該傳動模組上;一延伸臂,樞接該樞設座,該延伸臂之一末端具有一敲擊部;一電磁元件,位於該樞設座與該延伸臂之間,電性連接該控制單元,用以可切換地磁吸該延伸臂;以及一彈性元件,連接該樞設座與該延伸臂,其中,當該電磁元件磁吸該延伸臂以轉動該延伸臂時,該延伸臂透過該敲擊部按壓該其中一按鍵。
  3. 如請求項1所述之自動化按鍵敲擊裝置,其中該第一敲擊模組包含:一伺服馬達,位於該傳動模組上,且電性連接該控制單元;一桿體,同軸地連接該伺服馬達之一轉軸;以及一凸輪,同軸地連接該桿體,用以受該伺服馬達之連動而按壓該其中一按鍵。
  4. 如請求項3所述之自動化按鍵敲擊裝置,其中該凸輪,包含:一本體,同軸地連接該桿體;以及一凸出部,形成於該本體之一周面,其中,當該伺服馬達透過不同之轉動角度轉動該凸輪時,該凸輪透過該凸出部與該本體其中之一按壓該其中一按鍵,以致對該其中一按鍵產生不同之下壓距離。
  5. 如請求項1所述之自動化按鍵敲擊裝置,其中該傳動模組包含:二平台,相對地位於該底座上;二皮帶輪,分別樞設於該些平台上;至少一導引柱,跨接至該些平台上;一承載座,可滑動地位於該導引柱上,用以承載該第一敲擊模組;一傳動皮帶,套接於該些皮帶輪上,固接該承載座,用以隨著該些皮帶輪之轉動而連動;以及 一步徑馬達,同軸地連接該些皮帶輪其中之一,且電性連接該控制單元,用以往返帶動該承載座。
  6. 如請求項1所述之自動化按鍵敲擊裝置,其中該至少一第二敲擊模組為多數個,該些第二敲擊模組固定地並排於該底座上,用以按壓該鍵盤之同一按鍵列上之多數個按鍵。
  7. 如請求項1所述之自動化按鍵敲擊裝置,更包含:至少一第三敲擊模組,位於該底座上,且沿一第一方向朝外延伸至該載台上,用以按壓該鍵盤的又一按鍵,其中該第一敲擊模組與該第二敲擊模組皆沿一第二方向朝外延伸至該載台上,且該第二方向與該第一方向相交。
  8. 如請求項1所述之自動化按鍵敲擊裝置,更包含:一支撐架,連接該底座;以及一攝影裝置,懸空地固設於該支撐架上,電性連接該控制單元,用以對該鍵盤以及該電子裝置之一螢幕至少其中之一擷取影像。
  9. 如請求項1所述之自動化按鍵敲擊裝置,其中該載台更包含:一底板,具有一第一導軌;以及 一移動板,具有一第二導軌,用以承載該電子裝置,其中,透過該第二導軌可滑移地接合該第一導軌,該移動板可滑移地位於該底板上。
  10. 一種自動化按鍵敲擊裝置,包含:一底座,具有一測試區,該測試區內用以放置一鍵盤,該鍵盤具有複數個按鍵列,該些按鍵列彼此平行;複數個敲擊模組,沿著該底座之一長軸方向並排於該底座上,分別伸入該測試區內,且沿該長軸方向依序遞增其伸入該測試區內之長度,用以分別按壓該鍵盤之不同的該些按鍵列;以及一控制單元,用以分別觸發該些敲擊模組按壓該鍵盤。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI817737B (zh) * 2022-09-22 2023-10-01 達運精密工業股份有限公司 外加式浮空影像觸控模組

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW202144760A (zh) * 2020-05-26 2021-12-01 由田新技股份有限公司 自動按壓裝置
CN112958470B (zh) * 2021-02-04 2022-07-15 德州学院 一种计算机键盘批量化测试装置及测试方法
CN115980567B (zh) * 2023-03-20 2023-06-06 深圳市凯利非亚科技有限公司 一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6314825B1 (en) * 1999-02-18 2001-11-13 Behavior Tech Computer Corp. Keyboard testing apparatus
US6304830B1 (en) * 1999-05-28 2001-10-16 Behavior Tech Computer Corp. Automatic keyboard testing apparatus
TW387559U (en) * 1999-08-06 2000-04-11 Darfon Electronics Corp Air-buffered tester for key service life
TWM328568U (en) * 2007-04-23 2008-03-11 Darfon Electronics Corp Automatic keyboard inspection apparatus
US8099253B1 (en) * 2009-06-03 2012-01-17 Scout Analytics, Inc. Keyboard tester
US20110025606A1 (en) * 2009-07-29 2011-02-03 Stenograph, L.L.C. Method and apparatus for measuring keystroke
CN102650562B (zh) * 2011-02-28 2014-12-10 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 按键耐久测试机
CN102735953A (zh) * 2011-04-15 2012-10-17 纬创资通股份有限公司 自动化测试装置
CN202177686U (zh) * 2011-06-23 2012-03-28 袁闰湖 键盘自动检测机
CN103176063A (zh) * 2011-12-20 2013-06-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 输入装置测试仪
TWI479138B (zh) * 2013-03-22 2015-04-01 Quanta Comp Inc 鍵盤測試機
TWI474022B (zh) * 2013-04-15 2015-02-21 Quanta Comp Inc 鍵盤測試機
CN104182310B (zh) * 2013-05-23 2017-04-05 纬创资通股份有限公司 用来检测便携式电子装置的检测系统
CN103777101B (zh) * 2014-02-13 2016-03-16 陈晏 一种键盘电性功能测试机
US9417980B1 (en) * 2014-05-21 2016-08-16 Google Inc. Systems for testing a computer keyboard
CN204165729U (zh) * 2014-10-27 2015-02-18 苏州杰锐思自动化设备有限公司 一种敲击测试用敲击测试装置
CN206147055U (zh) * 2016-08-31 2017-05-03 东莞市精致自动化科技有限公司 机械键盘测试机
CN207623479U (zh) * 2017-12-26 2018-07-17 深圳市世纪福科技有限公司 一种键盘生产线

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI817737B (zh) * 2022-09-22 2023-10-01 達運精密工業股份有限公司 外加式浮空影像觸控模組

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Publication number Publication date
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