TWI474022B - 鍵盤測試機 - Google Patents

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TWI474022B
TWI474022B TW102113325A TW102113325A TWI474022B TW I474022 B TWI474022 B TW I474022B TW 102113325 A TW102113325 A TW 102113325A TW 102113325 A TW102113325 A TW 102113325A TW I474022 B TWI474022 B TW I474022B
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Lungchiang Chu
Hungwei Wang
Chinshun Lai
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Quanta Comp Inc
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Description

鍵盤測試機
本發明是有關於一種鍵盤測試機,特別是有關於一種測試筆記型電腦的鍵盤的鍵盤測試機。
在現今資訊化的社會中,鍵盤幾乎是各種電子設備不可或缺的資料輸入裝置,例如常見的個人電腦、筆記型電腦、電子計算機、電話機…等,皆以鍵盤做為控制命令或資料輸入的主要裝置。因此,鍵盤的功能正常與否將影響到輸入電子設備的訊號,確有必要對鍵盤進行測試以判斷按鍵的功能是否正常。
目前業界對於鍵盤按鍵的測試,一般採用人工或機器來測試。人工測試方式乃是以雇用大量勞工逐一按壓鍵盤中每一個按鍵。然而,採用人工測試方式存在一些缺點:(1)需要操作人員與測試軟體交互配合,在測試軟體發出命令之後,等待操作人員按壓按鍵;(2)測試時間較長且效率低;(3)操作人員按壓按鍵時可能出錯,需要多次反復測試;以及(4)操作人員可能怠工…等等。
為了解決上述習知技術中的問題與缺陷,本發明的 目的在於提供一種可自動測試電子裝置之鍵盤的鍵盤測試機,藉以在減少人工參與的前提下,實現鍵盤的自動測試,進而提高測試的準確性及效率。
本發明提供一種鍵盤測試機,其係用以測試電子裝置的鍵盤。電子裝置承載於輸送帶上。鍵盤測試機包含機架、三維移動裝置、線性編碼器、第一驅動模組以及按壓模組。機架位於輸送帶上方,並具有第一滑軌。第一滑軌平行於輸送帶的輸送方向。三維移動裝置可滑動地設置於第一滑軌上。線性編碼器毗鄰輸送帶,用以感測輸送帶的輸送速度。第一驅動模組設置於機架上,並電連接線性編碼器,用以驅動三維移動裝置以輸送速度沿著第一滑軌相對機架移動。按壓模組操作性連接三維移動裝置。三維移動裝置係使按壓模組按壓鍵盤,並使按壓模組沿著按壓路徑相對鍵盤移動。
於本發明的一實施方式中,上述的三維移動裝置包含第一滑動座、第二滑動座以及第二驅動模組。第一滑動座可滑動地設置於第一滑軌上,並具有第二滑軌。第二滑軌平行於第一滑軌。第二滑動座可滑動地設置於第二滑軌上。第二驅動模組設置於第一滑動座上,用以驅動第二滑動座沿著第二滑軌相對第一滑動座移動,進而使按壓模組沿著輸送方向移動。
於本發明的一實施方式中,上述的第二滑動座具有 第三滑軌。第三滑軌沿著平行於輸送帶並垂直於輸送方向的水平方向設置。三維移動裝置還包含第三滑動座以及第三驅動模組。第三滑動座可滑動地設置於第三滑軌上。第三驅動模組設置於第二滑動座上,用以驅動第三滑動座沿著第三滑軌相對第二滑動座移動,進而使按壓模組沿著水平方向移動。
於本發明的一實施方式中,上述的第三滑動座具有第四滑軌。第四滑軌沿著垂直於輸送帶的鉛直方向設置。三維移動裝置還包含第四滑動座以及第四驅動模組。第四滑動座可滑動地設置於第四滑軌上。按壓模組固定至第四滑動座。第四驅動模組設置於第三滑動座上,用以驅動第四滑動座沿著第四滑軌相對第三滑動座移動,進而使按壓模組沿著鉛直方向移動。
於本發明的一實施方式中,上述的鍵盤測試機還包含讀取器以及處理器。讀取器毗鄰輸送帶,用以讀取電子裝置上的條碼。處理器電連接讀取器、第二驅動模組、第三驅動模組與第四驅動模組,用以根據條碼驅動第二驅動模組、第三驅動模組與第四驅動模組。
於本發明的一實施方式中,上述的處理器係根據條碼所對應之機台位移參數驅動第二驅動模組、第三驅動模組與第四驅動模組,進而使按壓模組移動至初始按壓位置。
於本發明的一實施方式中,上述的鍵盤測試機還包含光感應器。光感應器毗鄰輸送帶,並電連接至處理器,用以於電子裝置通過時產生遮光訊號。處理器係根據遮光 訊號以及條碼驅動第二驅動模組、第三驅動模組與第四驅動模組。
於本發明的一實施方式中,上述的處理器係根據條碼所對應之按壓路徑參數驅動第二驅動模組、第三驅動模組與第四驅動模組,進而使按壓模組由初始按壓位置沿著按壓路徑相對鍵盤移動。
於本發明的一實施方式中,上述的按壓模組包含第一桿件、導引塊、至少一第二桿件、擋塊、按壓件以及彈簧。第一桿件的一端連接第四滑動座。導引塊連接第一桿件的另一端。第二桿件穿設至導引塊,並平行於第一桿件。擋塊連接第二桿件的一端。按壓件連接第二桿件的另一端,用以按壓鍵盤。彈簧套設至第二桿件上,並壓縮於導引塊與按壓件之間。
於本發明的一實施方式中,上述的按壓件包含膠輪,用以按壓鍵盤。
綜上所述,本發明的鍵盤測試機所包含的按壓模組,係採用三維移動裝置驅動按壓模組以滑動按壓的方式按壓電子裝置的鍵盤,藉以達到節省人力的功效。並且,本發明的鍵盤測試機可搭配讀取器讀取電子裝置上的條碼來辨別電子裝置的機型,進而可達到因應不同機型的電子裝置,精準地控制三維移動裝置調整按壓模組相對於鍵盤的水平位置與鉛直位置的功效。再者,本發明的鍵盤測試機還利用線性編碼器感測輸送帶的輸送速度,藉以使三維移動裝置以相同的速度跟隨電子裝置移動,進而可使三維 移動裝置驅動按壓模組進行水平移動的過程簡單化。此外,本發明的鍵盤測試機還設置光感應器以感應輸送帶上的電子裝置是否通過,藉以於電子裝置通過光感應器時驅動三維移動裝置移動按壓模組,藉以達到自動化滑動按壓測試鍵盤的功效。
1‧‧‧鍵盤測試機
10‧‧‧機架
100‧‧‧第一滑軌
12‧‧‧三維移動裝置
120‧‧‧第一滑動座
120a‧‧‧第二滑軌
122‧‧‧第二滑動座
122a‧‧‧第三滑軌
124‧‧‧第二驅動模組
126‧‧‧第三滑動座
126a‧‧‧第四滑軌
182‧‧‧導引塊
184‧‧‧第二桿件
186‧‧‧擋塊
188‧‧‧按壓件
188a‧‧‧膠輪
190‧‧‧彈簧
20‧‧‧讀取器
22‧‧‧處理器
24‧‧‧光感應器
3‧‧‧電子裝置
30‧‧‧鍵盤
128‧‧‧第三驅動模組
130‧‧‧第四滑動座
132‧‧‧第四驅動模組
14‧‧‧線性編碼器
16‧‧‧第一驅動模組
18‧‧‧按壓模組
180‧‧‧第一桿件
32‧‧‧條碼
4‧‧‧輸送帶
A1‧‧‧輸送方向
A2‧‧‧水平方向
A3‧‧‧鉛直方向
P‧‧‧按壓路徑
第1圖為繪示本發明一實施方式之鍵盤測試機的立體圖。
第2圖為繪示第1圖中之鍵盤測試機的局部立體圖。
第3圖為繪示第2圖中之按壓模組的局部正視圖。
第4圖為繪示本發明一實施方式之鍵盤測試機的電路示意圖。
以下將以圖式揭露本發明之複數個實施方式,為明確說明起見,許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而,應瞭解到,這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說,在本發明部分實施方式中,這些實務上的細節是非必要的。此外,為簡化圖式起見,一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。
請參照第1圖、第2圖以及第3圖。第1圖為繪示本發明一實施方式之鍵盤測試機1的立體圖。第2圖為繪 示第1圖中之鍵盤測試機1的局部立體圖。第3圖為繪示第2圖中之按壓模組18的局部正視圖。
如第1圖、第2圖與第3圖所示,於本實施方式中,鍵盤測試機1係用以測試電子裝置3的鍵盤30。電子裝置3承載於輸送帶4上。電子裝置3為筆記型電腦,然而本發明並不以此為限。只要是具有鍵盤的電子裝置(或是單獨鍵盤本身),皆可使用本發明的鍵盤測試機1進行按壓測試。
鍵盤測試機1包含機架10、三維移動裝置12、線性編碼器14、第一驅動模組16以及按壓模組18。鍵盤測試機1的機架10位於輸送帶4上方,並具有第一滑軌100。機架10的第一滑軌100平行於輸送帶4的輸送方向A1。鍵盤測試機1的三維移動裝置12可滑動地設置於機架10的第一滑軌100上。鍵盤測試機1的線性編碼器14毗鄰輸送帶4,用以感測輸送帶4的輸送速度。鍵盤測試機1的第一驅動模組16設置於機架10上,並電連接線性編碼器14。藉此,第一驅動模組16即可驅動三維移動裝置12以輸送帶4的輸送速度沿著第一滑軌100相對機架10移動。鍵盤測試機1的按壓模組18操作性連接三維移動裝置12。鍵盤測試機1的三維移動裝置12係使按壓模組18按壓電子裝置3的鍵盤30,並使按壓模組18沿著一按壓路徑P(如第2圖所示)相對鍵盤30移動。
因此,本發明的鍵盤測試機1可利用線性編碼器14感測輸送帶4的輸送速度,藉以使三維移動裝置12以相同的速度跟隨電子裝置3移動(亦即,三維移動裝置12與 電子裝置3之間並無相對位移),進而可使三維移動裝置12驅動按壓模組18進行水平移動的過程簡單化。
換句話說,本發明的鍵盤測試機1使三維移動裝置12以同樣速度隨著電子裝置3移動的作法,即已先解決了三維移動裝置12與輸送帶4之間的位移關係,因此三維移動裝置12驅動按壓模組18相對電子裝置3的鍵盤30進行水平移動的位移計算過程即可簡單化。
於本實施方式中,鍵盤測試機1的三維移動裝置12使按壓模組18相對鍵盤30移動的按壓路徑P,係由鍵盤30的右下角的最右鍵向左方依序按壓鍵盤30為第一行,再向上一排由最左鍵向右依序按壓鍵盤30為第二行,再向上一排由最右鍵向左依序按壓鍵盤30為第三行,再向上一排由最左鍵向右依序按壓鍵盤30為第四行,再向上一排由最右鍵向左依序按壓鍵盤30為第五行,最後再向上一排由最左鍵向右依序按壓鍵盤30為第六行(如第2圖所示),藉以將鍵盤30上的所有按鍵都按壓過一遍。
然而,本發明並不以此為限。於實際應用中,鍵盤測試機1的三維移動裝置12使按壓模組18相對鍵盤30移動的按壓路徑P,可依據實際需求或機構限制(例如,機台的規格要求)而彈性地調整。
以下進一步說明鍵盤測試機1的三維移動裝置12如何使按壓模組18移動並滑動按壓電子裝置3的鍵盤30的一實施方式。
如第1圖所示,於本實施方式中,鍵盤測試機1的 三維移動裝置12包含第一滑動座120、第二滑動座122以及第二驅動模組124。三維移動裝置12的第一滑動座120可滑動地設置於機架10的第一滑軌100上,並具有第二滑軌120a。第一滑動座120的第二滑軌120a平行於機架10的第一滑軌100。三維移動裝置12的第二滑動座122可滑動地設置於第一滑動座120的第二滑軌120a上。三維移動裝置12的第二驅動模組124設置於第一滑動座120上,用以驅動第二滑動座122沿著第二滑軌120a相對第一滑動座120移動,進而可達到使按壓模組18沿著輸送方向A1移動的目的。
於本實施方式中,三維移動裝置12的第二滑動座122具有第三滑軌122a。第二滑動座122的第三滑軌122a沿著平行於輸送帶4並垂直於輸送方向A1的水平方向A2設置。三維移動裝置12還包含第三滑動座126以及第三驅動模組128。三維移動裝置12的第三滑動座126可滑動地設置於第二滑動座122的第三滑軌122a上。三維移動裝置12的第三驅動模組128設置於第二滑動座122上,用以驅動第三滑動座126沿著第三滑軌122a相對第二滑動座122移動,進而可達到使按壓模組18沿著水平方向A2移動的目的。
於本實施方式中,三維移動裝置12的第三滑動座126具有第四滑軌126a。第三滑動座126的第四滑軌126a沿著垂直於輸送帶4(亦即,垂直於輸送方向A1與水平方向A2)的鉛直方向A3設置。三維移動裝置12還包含第四滑動 座130以及第四驅動模組132。三維移動裝置12的第四滑動座130可滑動地設置於第三滑動座126的第四滑軌126a上。按壓模組18固定至三維移動裝置12的第四滑動座130。三維移動裝置12的第四驅動模組132設置於第三滑動座126上,用以驅動第四滑動座130沿著第四滑軌126a相對第三滑動座126移動,進而達到使按壓模組18沿著鉛直方向A3移動的目的。
藉此,本發明的鍵盤測試機1即可利用上述實施方式所揭露的三維移動裝置12,達到調整按壓模組18相對於鍵盤30的水平位置與鉛直位置的功效。
然而,本發明並不以此為限。於實際應用中,第一滑動座120上的第二滑軌120a的設置方向、第二滑動座122上的第三滑軌122a的設置方向,以及第三滑動作上的第四滑軌126a的設置方向並不須兩兩相互垂直,可依據其他三維座標系統而設定。
於一實施方式中,鍵盤測試機1的第一驅動模組16以及三維移動裝置12的第二驅動模組124、第三驅動模組128與第四驅動模組132,皆可由線性滑軌或螺桿與螺塊的組合搭配等類似機構所構成。
再回到第2圖與第3圖,於本實施方式中,鍵盤測試機1的按壓模組18包含第一桿件180、導引塊182、兩第二桿件184、擋塊186、按壓件188以及兩彈簧190。按壓模組18的第一桿件180的一端連接三維移動裝置12的第四滑動座130。按壓模組18的導引塊182連接第一桿件 180的另一端。按壓模組18的第二桿件184穿設至導引塊182,並平行於第一桿件180。按壓模組18的導引塊182用以導引第二桿件184線性地滑動。按壓模組18的擋塊186連接第二桿件184的一端。按壓模組18的按壓件188連接第二桿件184的另一端,用以按壓電子裝置3的鍵盤30。按壓模組18的彈簧190分別套設至第二桿件184上,並壓縮於導引塊182與按壓件188之間。
由於按壓模組18的擋塊186、第二桿件184與按壓件188三者相互固定,且第二桿件184又受導引塊182的導引,因此在按壓模組18的按壓件188按壓電子裝置3的鍵盤30的過程中,按壓模組18的擋塊186、第二桿件184與按壓件188三者係一起相對導引塊182線性移動,而壓縮於導引塊182與按壓件188之間的彈簧190則提供緩衝按壓模組18的按壓力道以及鍵盤30的反作用力的作用。
為了進一步緩衝按壓模組18與電子裝置3的鍵盤30之間的衝擊力道,於本實施方式中,按壓模組18的按壓件188包含蕭氏硬度約為60度的膠輪188a,用以按壓鍵盤30,但本發明並不以此為限。
於本實施方式中,按壓模組18的第二桿件184的數量為2,但本發明並不以此為限,可依據實際需求或限制而彈性地調整。
第4圖為繪示本發明一實施方式之鍵盤測試機1的電路示意圖。
如第4圖所示,並配合參照第1圖,於本實施方式 中,鍵盤測試機1還包含處理器22。鍵盤測試機1的處理器22係電連接至線性編碼器14與第一驅動模組16,藉以根據線性編碼器14所感測的輸送速度使三維移動裝置12跟隨電子裝置3一起移動。
此外,鍵盤測試機1還包含讀取器20。鍵盤測試機1的讀取器20毗鄰輸送帶4,用以讀取電子裝置3上的條碼32。鍵盤測試機1的處理器22電連接至讀取器20以及三維移動裝置12的第二驅動模組124、第三驅動模組128與第四驅動模組132,用以根據條碼32驅動第二驅動模組124、第三驅動模組128與第四驅動模組132。
於一實施方式中,鍵盤測試機1的處理器22設置於一工業電腦(圖未示)中,且工業電腦還包含資料庫(圖未示),用以記錄不同機型的電子裝置3所對應的機台位移參數(包含水平位移參數以及鉛直位移參數)。藉此,當讀取器20讀取到電子裝置3上的條碼32時,工業電腦即根據條碼32辨識出電子裝置3的機型,並以處理器22根據電子裝置3所對應的機台位移參數分別驅動第二驅動模組124、第三驅動模組128與第四驅動模組132,進而使按壓模組18精準地移動至電子裝置3的鍵盤30正上方的一初始位置以等待按壓測試的程序啟動。
由此可知,本發明的鍵盤測試機1可搭配讀取器20讀取電子裝置3上的條碼32來辨別電子裝置3的機型,進而可達到因應不同機型的電子裝置3,精準地控制三維移動裝置12調整按壓模組18相對於鍵盤30的水平位置與鉛 直位置的功效。
同樣示於第1圖與第4圖,於本實施方式中,鍵盤測試機1還包含光感應器24。鍵盤測試機1的光感應器24毗鄰輸送帶4,並電連接至處理器22,用以於電子裝置3通過時產生遮光訊號。鍵盤測試機1的處理器22可進一步根據光感應器24所產生的遮光訊號以及條碼32驅動第二驅動模組124、第三驅動模組128與第四驅動模組132。
於一實施方式中,工業電腦的資料庫還記錄不同機型的電子裝置3所對應的按壓路徑參數。藉此,當光感應器24於電子裝置3通過而產生遮光訊號時,工業電腦立即以處理器22根據電子裝置3所對應的按壓路徑參數分別驅動第二驅動模組124、第三驅動模組128與第四驅動模組132,進而使按壓模組18由初始按壓位置沿著按壓路徑P相對電子裝置3的鍵盤30移動,藉以達到自動化滑動按壓測試鍵盤30的功效。
由以上對於本發明之具體實施例之詳述,可以明顯地看出,本發明的鍵盤測試機所包含的按壓模組,係採用三維移動裝置驅動按壓模組以滑動按壓的方式按壓電子裝置的鍵盤,藉以達到節省人力的功效。並且,本發明的鍵盤測試機可搭配讀取器讀取電子裝置上的條碼來辨別電子裝置的機型,進而可達到因應不同機型的電子裝置,精準地控制三維移動裝置調整按壓模組相對於鍵盤的水平位置與鉛直位置的功效。再者,本發明的鍵盤測試機還利用線性編碼器感測輸送帶的輸送速度,藉以使三維移動裝置以 相同的速度跟隨電子裝置移動,進而可使三維移動裝置驅動按壓模組進行水平移動的過程簡單化。此外,本發明的鍵盤測試機還設置光感應器以感應輸送帶上的電子裝置是否通過,藉以於電子裝置通過光感應器時驅動三維移動裝置移動按壓模組,藉以達到自動化滑動按壓測試鍵盤的功效。
雖然本發明已以實施方式揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
1‧‧‧鍵盤測試機
10‧‧‧機架
100‧‧‧第一滑軌
12‧‧‧三維移動裝置
120‧‧‧第一滑動座
120a‧‧‧第二滑軌
122‧‧‧第二滑動座
122a‧‧‧第三滑軌
124‧‧‧第二驅動模組
126‧‧‧第三滑動座
126a‧‧‧第四滑軌
128‧‧‧第三驅動模組
130‧‧‧第四滑動座
132‧‧‧第四驅動模組
14‧‧‧線性編碼器
16‧‧‧第一驅動模組
18‧‧‧按壓模組
20‧‧‧讀取器
24‧‧‧光感應器
3‧‧‧電子裝置
30‧‧‧鍵盤
32‧‧‧條碼
4‧‧‧輸送帶
A1‧‧‧輸送方向
A2‧‧‧水平方向
A3‧‧‧鉛直方向

Claims (10)

  1. 一種鍵盤測試機,用以測試一電子裝置的一鍵盤,該電子裝置承載於一輸送帶上,該鍵盤測試機包含:一機架,位於該輸送帶上方,並具有一第一滑軌,其中該第一滑軌平行於該輸送帶的一輸送方向;一三維移動裝置,可滑動地設置於該第一滑軌上;一線性編碼器,毗鄰該輸送帶,用以感測該輸送帶的一輸送速度;一第一驅動模組,設置於該機架上,並電連接該線性編碼器,用以驅動該三維移動裝置以該輸送速度沿著該第一滑軌相對該機架移動;以及一按壓模組,操作性連接該三維移動裝置,其中該三維移動裝置係使該按壓模組按壓該鍵盤,並使該按壓模組沿著一按壓路徑相對該鍵盤移動。
  2. 根據申請專利範圍第1項之鍵盤測試機,其中該三維移動裝置包含:一第一滑動座,可滑動地設置於該第一滑軌上,並具有一第二滑軌,其中該第二滑軌平行於該第一滑軌;一第二滑動座,可滑動地設置於該第二滑軌上;以及一第二驅動模組,設置於該第一滑動座上,用以驅動該第二滑動座沿著該第二滑軌相對該第一滑動座移動,進而使該按壓模組沿著該輸送方向移動。
  3. 根據申請專利範圍第2項之鍵盤測試機,其中該第二滑動座具有一第三滑軌,沿著平行於該輸送帶並垂直於該輸送方向的一水平方向設置,該三維移動裝置還包含:一第三滑動座,可滑動地設置於該第三滑軌上;以及一第三驅動模組,設置於該第二滑動座上,用以驅動該第三滑動座沿著該第三滑軌相對該第二滑動座移動,進而使該按壓模組沿著該水平方向移動。
  4. 根據申請專利範圍第3項之鍵盤測試機,其中該第三滑動座具有一第四滑軌,沿著垂直於該輸送帶的一鉛直方向設置,該三維移動裝置還包含:一第四滑動座,可滑動地設置於該第四滑軌上,其中該按壓模組固定至該第四滑動座;以及一第四驅動模組,設置於該第三滑動座上,用以驅動該第四滑動座沿著該第四滑軌相對該第三滑動座移動,進而使該按壓模組沿著該鉛直方向移動。
  5. 根據申請專利範圍第4項之鍵盤測試機,還包含:一讀取器,毗鄰該輸送帶,用以讀取該電子裝置上的一條碼;以及一處理器,電連接該讀取器、該第二驅動模組、該第三驅動模組與該第四驅動模組,用以根據該條碼驅動該第二驅動模組、該第三驅動模組與該第四驅動模組。
  6. 根據申請專利範圍第5項之鍵盤測試機,其中該處 理器係根據該條碼所對應之一機台位移參數驅動該第二驅動模組、該第三驅動模組與該第四驅動模組,進而使該按壓模組移動至一初始按壓位置。
  7. 根據申請專利範圍第6項之鍵盤測試機,還包含:一光感應器,毗鄰該輸送帶,並電連接至該處理器,用以於該電子裝置通過時產生一遮光訊號,其中該處理器係根據該遮光訊號以及該條碼驅動該第二驅動模組、該第三驅動模組與該第四驅動模組。
  8. 根據申請專利範圍第7項之鍵盤測試機,其中該處理器係根據該條碼所對應之一按壓路徑參數驅動該第二驅動模組、該第三驅動模組與該第四驅動模組,進而使該按壓模組由該初始按壓位置沿著該按壓路徑相對該鍵盤移動。
  9. 根據申請專利範圍第4項之鍵盤測試機,其中該按壓模組包含:一第一桿件,其一端連接該第四滑動座;一導引塊,連接該第一桿件的另一端;至少一第二桿件,穿設至該導引塊,並平行於該第一桿件;一擋塊,連接該第二桿件的一端;一按壓件,連接該第二桿件的另一端,用以按壓該鍵盤;以及 一彈簧,套設至該第二桿件上,並壓縮於該導引塊與該按壓件之間。
  10. 根據申請專利範圍第9項之鍵盤測試機,其中該按壓件包含一膠輪,用以按壓該鍵盤。
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