JPS61100824A - キ−ボ−ド自動試験システム - Google Patents
キ−ボ−ド自動試験システムInfo
- Publication number
- JPS61100824A JPS61100824A JP59222603A JP22260384A JPS61100824A JP S61100824 A JPS61100824 A JP S61100824A JP 59222603 A JP59222603 A JP 59222603A JP 22260384 A JP22260384 A JP 22260384A JP S61100824 A JPS61100824 A JP S61100824A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- keyboard
- robot
- pallet
- test
- conveyor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はロボットを使用し、打鍵、ランプ点灯、磁気カ
ード読取り等の試験を連続して行うキーボード自動試験
装置に関する。 近来工場自動化（Ｆ Ａ ： Ｆａｃｔｏｒｙ Ａｕｔ
ｏｍａｔｉｏｎ）の推進に伴ない、各種のロボットが試
験或いは製造ラインに積極的に導入されている。 〔従来の技術〕 第４図は従来行っていたキーボードの試験方法を示す斜
視図である。 キーボードｌにはキー１ａの他、キー１ａを押下した時
点灯するランプ２ （キートップに備えられたランプを
含む）及び、機種に依っては磁気カード３の読取り機能
等を備えている。 斯かる場合、試験はキー１ａの押下、ランプ２の点灯確
認、磁気カード３の読取り等の各種所定の試験を行って
いる。キー１ａの押下（打鍵）は指頭４ａで、ランプ２
の点灯は目４ｂに依る視認に依って、又、磁気カード３
の読取りは手、４ｃで磁気カード３を摘持して読取り溝
１ｂに挿入し、矢印Ａ−Ｂの如くスライドさせて行って
いた。 尚、上記読取り試験は１台のキーボードｌに対して所定
の回数繰り返して行っていた。 〔発明が解決しようとする問題点〕 以上説明した如く、キーボードに対する各種の機能試験
は、総て人間が目及び、手を使用して直接行っていた。 この為に能率が悪（、試験者の熟練度に依存して試験結
果が不安定になると言う問題点があった。 〔問題点を解決するための手段〕 上記問題点は、キーボードを搭載して搬送する移動テー
ブルと、該移動テーブルの駆動及び、停止させる駆動手
段と、前記移動テーブルに対向して設けられハンドに前
記キーボードのキーの押下、ランプの点灯確認及び、磁
気カード読取り等の各種機能確認手段及び、前記移動テ
ーブル上のキーボードを位置決めする手段とを備えたロ
ボットと、更に上記各手段を制御する制御手段とを設け
た本発明のキーボード試験システムに依って解決される
。 〔作用〕 即ち、キーボードの各種機能試験にロボットを導入する
ことに依り、試験の自動化が実現出来、人手が省けて能
率が向上し、併せて試験ノックビン信頼性を向上させる
ことが出来る。 〔実施例〕 以下本発明の一実施例を第１図乃至第３図を参照して説
明する。 第１図はロボットを使用してキーボードの自動試験を行
う試験装置を例示する斜視図、第２図は第１図の制御系
統を示すブロック図、第３図（ａ）、はキーの押下及び
、ランプの点灯試験の状態を示す斜視図、同図［ｂ）は
同図（ａ）のＤ部拡大詳細図、同図（Ｃ）は磁気カード
の読取り試験の状態を示す斜視図である。 図に於いて、５はロボット、５ａはロボットハンド、５
ｂはロボットフィンガ、６は移動テーブル、８はエアシ
リンダ、９はコンヘア、１０はコンベアパレット、１１
はパレットストッパ、１２は押下機構、１３は受光セン
サ、１４は揺動機構、１４ａは保持部、１５は主制御部
、１６はロボット制御部、１７はシリンダ制御部、１８
は移動テーブル制御部、１９はパレットセンサ、２０は
コンベア制御部である。全図を通じて同一部分には同一
符号を付して示した。 第１図に示す如く、本発明のキーボード試験システムは
、ロボット５を搭載してロボット５を所定方向（矢印Ａ
−Ｂ方向）に所定量移動させる移動テーブル６と、ロ
ボット５の支持台７に設けられ前記キーボードｌの前端
部ＩＣに対向し、前端部１ｃを所定位置に定置する伸縮
自在な突出部８ａを備えた複数のエアシリンダ８と、常
に走行しているコンベア９上を移送されて来るコンベア
パレットｌＯの位置を検出するパレットセンサ（図示省
略）、並びにパレットセンサの検出情報に依ってコンベ
アパレット１０を停止させるパレットストッパ１１と、
ロボットアーム５ａ・の先端部のロボットフィンガー５
ｂに設けられたプランジャーマグネットを使用した押下
機構１２、受光素子を使用した受光センサ１３、磁気カ
ード３を摘持して揺動する揺動機構１４及び、上記シス
テムを制御する主制御部１５等から構成されている。
次に第２図のブロック図に依って自動試験システムの制
御系の構成を説明する。 自動試験システムの制御系は、主制御部１５と、主制御
部１５に接続されたロボット５の制御を行うロボット制
御部１６、エアシリンダ８の制御を行うシリンダ制御部
１７、移動テーブル６の制御を行う移動テーブル制御部
１８、及びコンベア９上を移送されて来るコンベアパレ
ット１０の位置を検出するパレットセンサ１９、並びに
パレットセンサ１９の検出情報に依ってコンベアパレッ
ト１０を停止させるパレットストッパ１９及び、これら
を制御するコンベア制御部２０等で構成されている。 以下、上記ブロック図及び、第１図、第３図ｆａ）、（
ｂ）に依って試験の実施方法を説明する。 先ずシステムをスタートする。 コンベア９は上記した通り、常に一定方向に一定速度で
流れており、コンベアパレット１０は上記コンヘア９に
載置されて一定方向に一定速度で移送されている。 パレットセンサ１９が所定位置に達したパレット１０を
検出すると、コンベア制御部２０に検出信号を発し、コ
ンヘア制御部２０は直ちに指令を発して第１図に示すパ
レットストッパ１１を駆動し、コンベア９内から突出さ
せてコンベアパレット１０を停止させる。 コンヘアパレット１０を停止させた主制御部１５は、移
動テーブル制御部１８に指令を発し、移動テーフル６を
駆動して搭載したロボット５を移動テーブル６の所定位
置迄移動させパレ７ＮＯに搭載されたキーボード１との
位置合わせを行う。 次に主制御部工５はシリンダ制御部１７に指令を発し、
複数のエアシリンダ８を駆動してその突出部８ａを第１
図に示す矢印Ｃ方向に所定量突出させ、キーボード１の
前端部ＩＣを押圧して、キーボード１をパレット１０上
の所定位置に移動する。 斯くてロボット５とキーボード１との相対位置設定は終
了し、キーボード１の機能試験に入る。 第３図（ａ）に依ってキーボード１のキー１ａの押下試
験と、押下試験と共に行うランプ２の点灯確認試験を説
明する。 押下機構１２は、同図（ａ）に示す如くロボットフィン
ガー５ｂの縦方向にキーボードエのキー１ａと同数設け
られており、従って一度に縦方向の一列ずつ同時に試験
を行うことが出来るようになっている。 同図（ｂｌに示す如く、押下機構１２には受光センサ１
３が併設してあって、押下機構１２に依ってキー１ａが
押下された時キー１ａに設けられたランプ２が発光する
光を受光出来るようになっており、同時にランプ２の発
光確認試験が行えるようになっている。 次に同図（Ｃ）に依って磁気カート３の読取り試験を説
明する。 磁気カード３はロボットハンド５ａの先端部に設けられ
たロボットフィンガー５ｂの揺動機構１４の保持部１４
ａに保持されて、キーボード川の読取り溝１ｂに挿入さ
れ、図に示す如く矢印六方向にスライドさせて磁気カー
ド２の読取り試験を行う。 この読取り試験は、１台のキーボード１に対して一度に
複数回繰返して行われる。従って磁気カード３は読取り
溝ｌｂ内で複数回往復運動をさせる必要があり、上記揺
動は磁気カード３の磁気ストライプの長さ以上行ってい
る。 上記試験は図に示す如く、ａボ、トフィンガー５ｂに揺
動機構１４を設け、ロボ・ノドハンド５ａ自体は動かさ
ず、揺動機構１４を駆動して揺動し、保持部１４ａに保
持された磁気カート３を高速で揺動するようになってい
る。 尚、上記試験は成る特定のキーボードに付いて説明を行
ったが、主制御部のプログラムを変えることに依り、各
種のキーボードの試験に対応出来ることは勿論である。 〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明のキーボード自動試験シス
テムを適用することに依り、システムの無人化、及び試
験の高能率化並びに高信頼化を果たすことが出来た。
ード読取り等の試験を連続して行うキーボード自動試験
装置に関する。 近来工場自動化（Ｆ Ａ ： Ｆａｃｔｏｒｙ Ａｕｔ
ｏｍａｔｉｏｎ）の推進に伴ない、各種のロボットが試
験或いは製造ラインに積極的に導入されている。 〔従来の技術〕 第４図は従来行っていたキーボードの試験方法を示す斜
視図である。 キーボードｌにはキー１ａの他、キー１ａを押下した時
点灯するランプ２ （キートップに備えられたランプを
含む）及び、機種に依っては磁気カード３の読取り機能
等を備えている。 斯かる場合、試験はキー１ａの押下、ランプ２の点灯確
認、磁気カード３の読取り等の各種所定の試験を行って
いる。キー１ａの押下（打鍵）は指頭４ａで、ランプ２
の点灯は目４ｂに依る視認に依って、又、磁気カード３
の読取りは手、４ｃで磁気カード３を摘持して読取り溝
１ｂに挿入し、矢印Ａ−Ｂの如くスライドさせて行って
いた。 尚、上記読取り試験は１台のキーボードｌに対して所定
の回数繰り返して行っていた。 〔発明が解決しようとする問題点〕 以上説明した如く、キーボードに対する各種の機能試験
は、総て人間が目及び、手を使用して直接行っていた。 この為に能率が悪（、試験者の熟練度に依存して試験結
果が不安定になると言う問題点があった。 〔問題点を解決するための手段〕 上記問題点は、キーボードを搭載して搬送する移動テー
ブルと、該移動テーブルの駆動及び、停止させる駆動手
段と、前記移動テーブルに対向して設けられハンドに前
記キーボードのキーの押下、ランプの点灯確認及び、磁
気カード読取り等の各種機能確認手段及び、前記移動テ
ーブル上のキーボードを位置決めする手段とを備えたロ
ボットと、更に上記各手段を制御する制御手段とを設け
た本発明のキーボード試験システムに依って解決される
。 〔作用〕 即ち、キーボードの各種機能試験にロボットを導入する
ことに依り、試験の自動化が実現出来、人手が省けて能
率が向上し、併せて試験ノックビン信頼性を向上させる
ことが出来る。 〔実施例〕 以下本発明の一実施例を第１図乃至第３図を参照して説
明する。 第１図はロボットを使用してキーボードの自動試験を行
う試験装置を例示する斜視図、第２図は第１図の制御系
統を示すブロック図、第３図（ａ）、はキーの押下及び
、ランプの点灯試験の状態を示す斜視図、同図［ｂ）は
同図（ａ）のＤ部拡大詳細図、同図（Ｃ）は磁気カード
の読取り試験の状態を示す斜視図である。 図に於いて、５はロボット、５ａはロボットハンド、５
ｂはロボットフィンガ、６は移動テーブル、８はエアシ
リンダ、９はコンヘア、１０はコンベアパレット、１１
はパレットストッパ、１２は押下機構、１３は受光セン
サ、１４は揺動機構、１４ａは保持部、１５は主制御部
、１６はロボット制御部、１７はシリンダ制御部、１８
は移動テーブル制御部、１９はパレットセンサ、２０は
コンベア制御部である。全図を通じて同一部分には同一
符号を付して示した。 第１図に示す如く、本発明のキーボード試験システムは
、ロボット５を搭載してロボット５を所定方向（矢印Ａ
−Ｂ方向）に所定量移動させる移動テーブル６と、ロ
ボット５の支持台７に設けられ前記キーボードｌの前端
部ＩＣに対向し、前端部１ｃを所定位置に定置する伸縮
自在な突出部８ａを備えた複数のエアシリンダ８と、常
に走行しているコンベア９上を移送されて来るコンベア
パレットｌＯの位置を検出するパレットセンサ（図示省
略）、並びにパレットセンサの検出情報に依ってコンベ
アパレット１０を停止させるパレットストッパ１１と、
ロボットアーム５ａ・の先端部のロボットフィンガー５
ｂに設けられたプランジャーマグネットを使用した押下
機構１２、受光素子を使用した受光センサ１３、磁気カ
ード３を摘持して揺動する揺動機構１４及び、上記シス
テムを制御する主制御部１５等から構成されている。
次に第２図のブロック図に依って自動試験システムの制
御系の構成を説明する。 自動試験システムの制御系は、主制御部１５と、主制御
部１５に接続されたロボット５の制御を行うロボット制
御部１６、エアシリンダ８の制御を行うシリンダ制御部
１７、移動テーブル６の制御を行う移動テーブル制御部
１８、及びコンベア９上を移送されて来るコンベアパレ
ット１０の位置を検出するパレットセンサ１９、並びに
パレットセンサ１９の検出情報に依ってコンベアパレッ
ト１０を停止させるパレットストッパ１９及び、これら
を制御するコンベア制御部２０等で構成されている。 以下、上記ブロック図及び、第１図、第３図ｆａ）、（
ｂ）に依って試験の実施方法を説明する。 先ずシステムをスタートする。 コンベア９は上記した通り、常に一定方向に一定速度で
流れており、コンベアパレット１０は上記コンヘア９に
載置されて一定方向に一定速度で移送されている。 パレットセンサ１９が所定位置に達したパレット１０を
検出すると、コンベア制御部２０に検出信号を発し、コ
ンヘア制御部２０は直ちに指令を発して第１図に示すパ
レットストッパ１１を駆動し、コンベア９内から突出さ
せてコンベアパレット１０を停止させる。 コンヘアパレット１０を停止させた主制御部１５は、移
動テーブル制御部１８に指令を発し、移動テーフル６を
駆動して搭載したロボット５を移動テーブル６の所定位
置迄移動させパレ７ＮＯに搭載されたキーボード１との
位置合わせを行う。 次に主制御部工５はシリンダ制御部１７に指令を発し、
複数のエアシリンダ８を駆動してその突出部８ａを第１
図に示す矢印Ｃ方向に所定量突出させ、キーボード１の
前端部ＩＣを押圧して、キーボード１をパレット１０上
の所定位置に移動する。 斯くてロボット５とキーボード１との相対位置設定は終
了し、キーボード１の機能試験に入る。 第３図（ａ）に依ってキーボード１のキー１ａの押下試
験と、押下試験と共に行うランプ２の点灯確認試験を説
明する。 押下機構１２は、同図（ａ）に示す如くロボットフィン
ガー５ｂの縦方向にキーボードエのキー１ａと同数設け
られており、従って一度に縦方向の一列ずつ同時に試験
を行うことが出来るようになっている。 同図（ｂｌに示す如く、押下機構１２には受光センサ１
３が併設してあって、押下機構１２に依ってキー１ａが
押下された時キー１ａに設けられたランプ２が発光する
光を受光出来るようになっており、同時にランプ２の発
光確認試験が行えるようになっている。 次に同図（Ｃ）に依って磁気カート３の読取り試験を説
明する。 磁気カード３はロボットハンド５ａの先端部に設けられ
たロボットフィンガー５ｂの揺動機構１４の保持部１４
ａに保持されて、キーボード川の読取り溝１ｂに挿入さ
れ、図に示す如く矢印六方向にスライドさせて磁気カー
ド２の読取り試験を行う。 この読取り試験は、１台のキーボード１に対して一度に
複数回繰返して行われる。従って磁気カード３は読取り
溝ｌｂ内で複数回往復運動をさせる必要があり、上記揺
動は磁気カード３の磁気ストライプの長さ以上行ってい
る。 上記試験は図に示す如く、ａボ、トフィンガー５ｂに揺
動機構１４を設け、ロボ・ノドハンド５ａ自体は動かさ
ず、揺動機構１４を駆動して揺動し、保持部１４ａに保
持された磁気カート３を高速で揺動するようになってい
る。 尚、上記試験は成る特定のキーボードに付いて説明を行
ったが、主制御部のプログラムを変えることに依り、各
種のキーボードの試験に対応出来ることは勿論である。 〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明のキーボード自動試験シス
テムを適用することに依り、システムの無人化、及び試
験の高能率化並びに高信頼化を果たすことが出来た。
図に於いて、
第１図はロボットを使用してキーボードの自動試験を行
う試験装置を例示する斜視図、第２図は第１図の制御ブ
ロック図、 第３図＋ａｌはキーの押下及び、ランプの点灯試験の状
態を示す斜視図、 第３図（ｂ）は同図（ａ）のＤ部拡大詳細図、第３図（
Ｃ）は磁気カードの読取り試験の状態を示す斜視図、 第４図は従来行っていたキーホードの試験方法を示す斜
視図である。 図に於いて、 １はキーボード、 １ａはキー、１ｂは読取り溝
、 ２はランプ、３は磁気カード、 ５は
ロボット、５ａはロボットハンド、５ｂはロボットフィ
ンガ、６は移動テーブル、 ８はエアシリンダ、９は
コンベア、 １０はコンベアパレット、１１は
パレットストッパ、１２は押下機構、１３は受光センサ
、・ １４は揺動機構、１４ａは保持部、 １
５は主制御部、１６はロボット制御部、 １７はシリン
ダ制御部、１８は移動テーブル制御部、１９はパレット
センサ、２０はコンベア制御部である。 第１ 囚 第２ 図 茎 ３ 図 （Ｃ）
う試験装置を例示する斜視図、第２図は第１図の制御ブ
ロック図、 第３図＋ａｌはキーの押下及び、ランプの点灯試験の状
態を示す斜視図、 第３図（ｂ）は同図（ａ）のＤ部拡大詳細図、第３図（
Ｃ）は磁気カードの読取り試験の状態を示す斜視図、 第４図は従来行っていたキーホードの試験方法を示す斜
視図である。 図に於いて、 １はキーボード、 １ａはキー、１ｂは読取り溝
、 ２はランプ、３は磁気カード、 ５は
ロボット、５ａはロボットハンド、５ｂはロボットフィ
ンガ、６は移動テーブル、 ８はエアシリンダ、９は
コンベア、 １０はコンベアパレット、１１は
パレットストッパ、１２は押下機構、１３は受光センサ
、・ １４は揺動機構、１４ａは保持部、 １
５は主制御部、１６はロボット制御部、 １７はシリン
ダ制御部、１８は移動テーブル制御部、１９はパレット
センサ、２０はコンベア制御部である。 第１ 囚 第２ 図 茎 ３ 図 （Ｃ）
Claims (1)
- キーボードを搭載して搬送する移動テーブルと、該移動
テーブルの駆動手段と、前記移動テーブルに対向して設
けられハンドに前記キーボードの機能確認手段及び、前
記移動テーブル上のキーボードを位置決めする手段とを
備えたロボットと、更に上記各手段を制御する制御手段
とを設けてなるキーボード試験システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59222603A JPS61100824A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | キ−ボ−ド自動試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59222603A JPS61100824A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | キ−ボ−ド自動試験システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61100824A true JPS61100824A (ja) | 1986-05-19 |
| JPH0518131B2 JPH0518131B2 (ja) | 1993-03-11 |
Family
ID=16785049
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59222603A Granted JPS61100824A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | キ−ボ−ド自動試験システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61100824A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6648531B1 (en) * | 2002-06-11 | 2003-11-18 | Systemax, Inc. | Simultaneous keyboard key press |
| EP2372335A1 (fr) * | 2010-03-30 | 2011-10-05 | Eurocopter Espagne | Banc de test d'un équipement muni d'une pluralité de boutons et d'un écran de visualisation |
| CN104062577A (zh) * | 2013-03-22 | 2014-09-24 | 广达电脑股份有限公司 | 键盘测试机 |
| US20140305231A1 (en) * | 2013-04-15 | 2014-10-16 | Quanata Computer Inc. | Keyboard testing machine |
| CN105258731A (zh) * | 2015-10-30 | 2016-01-20 | 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 | 圆盘式自动化测试设备 |
| US9685259B2 (en) | 2009-06-19 | 2017-06-20 | 3M Innovative Properties Company | Shielded electrical cable |
| CN106895967A (zh) * | 2017-02-27 | 2017-06-27 | 中山市捷信科技服务有限公司 | 一种圆盘式自动化测试设备 |
| US9715951B2 (en) | 2009-06-19 | 2017-07-25 | 3M Innovative Properties Company | Shielded electrical cable |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4937483A (en) * | 1987-11-18 | 1990-06-26 | Tokyo-Buhin Kogyo Co., Ltd. | Eddy-current brake |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5689066A (en) * | 1979-12-21 | 1981-07-20 | Fujitsu Ltd | Automatic tester of keyboard switch |
-
1984
- 1984-10-23 JP JP59222603A patent/JPS61100824A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5689066A (en) * | 1979-12-21 | 1981-07-20 | Fujitsu Ltd | Automatic tester of keyboard switch |
Cited By (17)
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| US9883620B2 (en) | 2009-06-19 | 2018-01-30 | 3M Innovative Properties Company | Shielded electrical cable |
| US9715951B2 (en) | 2009-06-19 | 2017-07-25 | 3M Innovative Properties Company | Shielded electrical cable |
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| US10306819B2 (en) | 2009-06-19 | 2019-05-28 | 3M Innovative Properties Company | Shielded electrical cable |
| US10080319B2 (en) | 2009-06-19 | 2018-09-18 | 3M Innovative Properties Company | Shielded electrical cable |
| US9685259B2 (en) | 2009-06-19 | 2017-06-20 | 3M Innovative Properties Company | Shielded electrical cable |
| US9763369B2 (en) | 2009-06-19 | 2017-09-12 | 3M Innovative Properties Company | Shielded electrical cable |
| EP2372335A1 (fr) * | 2010-03-30 | 2011-10-05 | Eurocopter Espagne | Banc de test d'un équipement muni d'une pluralité de boutons et d'un écran de visualisation |
| ES2384843A1 (es) * | 2010-03-30 | 2012-07-13 | Eurocopter España S.A. | Banco de pruebas de un equipo electrónico. |
| US9336104B2 (en) * | 2013-03-22 | 2016-05-10 | Quanta Computer Inc. | Keyboard testing machine |
| US20140283629A1 (en) * | 2013-03-22 | 2014-09-25 | Quanta Computer Inc. | Keyboard testing machine |
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| CN105258731A (zh) * | 2015-10-30 | 2016-01-20 | 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 | 圆盘式自动化测试设备 |
| CN106895967A (zh) * | 2017-02-27 | 2017-06-27 | 中山市捷信科技服务有限公司 | 一种圆盘式自动化测试设备 |
| CN106895967B (zh) * | 2017-02-27 | 2019-03-26 | 中山市捷信科技服务有限公司 | 一种圆盘式自动化测试设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0518131B2 (ja) | 1993-03-11 |
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