CN115980567B - 一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，涉及设备测试技术领域，包括平台、测试键盘，平台上方设置有夹持辅助组件，夹持辅助组件上设置有无序按压测试组件，夹持辅助组件包括有左卡块，左卡块设置在测试键盘的左侧，测试键盘右侧设置有右卡块，右卡块上开设有插接腔，插接腔内壁与紧固簧体一端固定连接，紧固簧体另一端固定连接在左卡块上，通过无序按压测试组件的设置，按压柱杆会对所要测试的键盘按键进行不同频率以及不同力量的按压，在这种按压测试下能最有效地模拟实际使用过程，区别于现有技术中每次击打按压的力度完全相同的测试方式，从而可降低测试误差，使收集得到的数据更准确。

Description

一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置

技术领域

本发明涉及设备测试技术领域，具体为一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置。

背景技术

随着生活水平的提高，人们对电子产品的质量要求也越来越高。为了保证电子产品的质量，在电子产品出货前都会对按键进行耐久（信赖性）测试，一般是在寿命测试机上经过万次下压后，将键盘取出安装到规格型号的机台上来验证每个按键的功能是否合格，如果合格则继续安装在寿命测试机上测试，如果不合格则取下进行分析改善。

但现有技术中，用于键盘按键寿命测试的装置，每次击打按压的力度完全相同，而实际使用过程中敲打按键的力度存在差异，这种匀速、同等按压力度的测试结果对正常使用的方式来说误差较大，从而导致测试数据不符合实际应用；

此外，现有测试装置一般是对于所有键盘进行统一次数的测试，但根据正常使用情况的不同，各键使用次数是不同的，这种同一测试的方式存在局限性，另外，现有测试装置较大，且对于不同种类的键盘，适配性低。

故而我们提出了一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，来解决以上的问题。

发明内容

（一）解决的技术问题

有鉴于此，针对现有技术的不足，本发明提供了一种按压频率、按压力度可变的；可适用不同种类大小键盘的便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

（二）技术方案

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，包括平台、测试键盘，所述平台上方设置有夹持辅助组件，所述夹持辅助组件上设置有无序按压测试组件；

所述夹持辅助组件包括有左卡块，所述左卡块设置在测试键盘的左侧，所述测试键盘右侧设置有右卡块，所述右卡块上开设有插接腔，所述插接腔内壁与紧固簧体一端固定连接，所述紧固簧体另一端固定连接在左卡块上，所述左卡块通过插接腔插接在右卡块上；

所述无序按压测试组件包括有转动盘，所述转动盘上开设有调节槽，所述调节槽内开设有内滑槽道，所述内滑槽道内滑动连接有滑动板，所述滑动板外壁上固定连接有偏心柱，所述调节槽内壁上固定连接有电伸缩杆，所述转动盘外侧设置有环槽体，所述偏心柱滑动在环槽体中，所述环槽体底端固定连接有竖杆，所述滑动块上设置有计数器和随机控制器，所述竖杆底端固定连接有第二辅助簧，所述第二辅助簧底端固定连接有按压柱杆，所述按压柱杆上端活动插接在竖杆内部；

随着转动盘的转动，偏心柱会在环槽体中滑动并在滑动中推挤着环槽体向下移动，在环槽体向下移动过程中会带着其下设置的竖杆向下移动，进一步的，移动的竖杆会带着其下设置的按压柱杆逐渐靠近并最终按压到测试键盘上的键盘按键。

作为优选的，所述左卡块内壁上设置有支撑杆，所述支撑杆上均等距设置有卡接块，所述卡接块中卡接有卡接杆，所述卡接杆上等距开设有贯通的插接孔A。

作为优选的，所述卡接杆上滑动连接有滑动块，所述转动盘转动连接在滑动块侧壁上，所述滑动块上开设有贯通的插接孔B，所述滑动块上表面固定连接有第一辅助簧，所述第一辅助簧顶端固定连接有插杆，所述插杆可插接在插接孔A和插接孔B中。

作为优选的，所述竖杆上开设有贯通的方孔。

作为优选的，所述滑动块底端固定连接有L形辅助体，所述L形辅助体下端开设有贯通的限制口，所述L形辅助体下端设置有红外发射管、光敏接收管，所述红外发射管与光敏接收管相对应设置。

作为优选的，所述竖杆上半部分为实心，下半部分为空心结构。

（三）有益效果

与现有技术相比，本发明提供了一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，具备以下有益效果：

1、通过无序按压测试组件的设置，按压柱杆会对所要测试的键盘按键进行不同频率以及不同力量的按压，在这种按压测试下能最有效地模拟实际使用过程，区别于现有中每次击打按压的力度完全相同的方式，从而可降低测试误差，使收集得到的数据更准确；

2、通过第二辅助簧的设置，可在偏心柱位于调节槽较右端，间接使竖杆移动进程变长时，有效避免按压柱杆按压在测试键盘上键盘按键时继续向下移动，损坏测试键盘按键的情况；

3、通过夹持辅助组件的设置，可适配不同种类大小的测试键盘，适配性广，且已知无序按压测试组件设置在滑动块上，卡接杆上可根据不同的测试需求设置多个滑动块，以此满足不同数量、不同位置的键盘按键寿命测试需求，这种设置区别于现有测试装置仅对所有键盘按键进行统一次数的测试方式，有效规避了实际情况下，根据正常使用情况的不同，各键使用次数不同的测试局限性，且整体装置体积较小，较为轻便。

附图说明

图1为本发明主体结构图；

图2为本发明主体结构前视图；

图3为本发明中右卡块剖切时主体结构图；

图4为本发明图3中A处结构局部放大图；

图5为本发明图3中B处结构局部放大图；

图6为本发明中卡接杆、插接孔A、滑动块、插接孔B、插杆相关结构图；

图7为本发明中无序按压测试组件结构拆解图；

图8为本发明中无序按压测试组件工作前相关结构图；

图9为本发明中无序按压测试组件工作时相关结构图；

图10为本发明主体结构安装使用前相关图。

图中：

1、平台；2、测试键盘；

夹持辅助组件包括：301、左卡块；302、右卡块；303、插接腔；304、紧固簧体；305、支撑杆；306、卡接块；307、卡接杆；308、插接孔A；309、滑动块；310、插接孔B；311、第一辅助簧；312、插杆；

无序按压测试组件包括：401、转动盘；402、调节槽；403、内滑槽道；404、滑动板；405、偏心柱；406、电伸缩杆；407、环槽体；408、竖杆；409、方孔；410、L形辅助体；411、限制口；412、红外发射管；413、光敏接收管；414、计数器；415、随机控制器；416、第二辅助簧；417、按压柱杆。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

下面根据附图和实施例对本发明作进一步详细说明。

实施例

请参照图1至图10所示：

为解决技术方案中所提到的问题，本申请实施例提供了一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，包括平台1、测试键盘2，平台1上方设置有夹持辅助组件，夹持辅助组件上设置有无序按压测试组件；

夹持辅助组件包括有左卡块301，左卡块301与右卡块302相适配，左卡块301设置在测试键盘2的左侧，测试键盘2右侧设置有右卡块302，右卡块302上开设有插接腔303，插接腔303内壁与紧固簧体304一端固定连接，紧固簧体304主要用于辅助左卡块301、右卡块302夹持在不同种类大小的测试键盘2上，紧固簧体304另一端固定连接在左卡块301上，左卡块301通过插接腔303插接在右卡块302上，左卡块301内壁上设置有支撑杆305，支撑杆305以及支撑杆305上的卡接块306设置有两组，一组位于左卡块301上，一组位于右卡块302上，因其工作方式一致，本文仅对左卡块301上的一组进行描述，支撑杆305上均等距设置有卡接块306，卡接块306与卡接杆307相适配，卡接块306中卡接有卡接杆307，卡接杆307上等距开设有贯通的插接孔A308，卡接杆307上滑动连接有滑动块309，转动盘401转动连接在滑动块309侧壁上，滑动块309上开设有贯通的插接孔B310，滑动块309上表面固定连接有第一辅助簧311，第一辅助簧311顶端固定连接有插杆312，插杆312与插接孔A308、插接孔B310相适配，插杆312可插接在插接孔A308、插接孔B310中；

无序按压测试组件包括有转动盘401，转动盘401由电机驱动，该电机与随机控制器415之间存在电性连接关系，随机控制器415可控制该电机进行随机速度转动，转动盘401上开设有调节槽402，调节槽402内开设有内滑槽道403，内滑槽道403内滑动连接有滑动板404，滑动板404与内滑槽道403相适配，滑动板404外壁上固定连接有偏心柱405，位于调节槽402不同位置的偏心柱405可以间接改变竖杆408竖向移动的进程，偏心柱405位于调节槽402最左端时，偏心柱405通过环槽体407、竖杆408的辅助恰好可间接使按压柱杆417按压到测试键盘2上的键盘按键，以此对其进行一次按压测试，调节槽402内壁上固定连接有电伸缩杆406，电伸缩杆406由随机控制器415控制，转动盘401外侧设置有环槽体407，偏心柱405滑动在环槽体407中，环槽体407底端固定连接有竖杆408，竖杆408上半部分为实心，下半部分为空心结构，主要用于按压柱杆417的竖向移动，竖杆408上开设有贯通的方孔409，当方孔409与红外发射管412、光敏接收管413处于同一水平线上时，红外发射管412发射的信号可被光敏接收管413接收，并将其传递给计数器414进行计数，滑动块309底端固定连接有L形辅助体410，L形辅助体410下端开设有贯通的限制口411，限制口411主要用于辅助竖杆408的竖向移动，L形辅助体410下端设置有红外发射管412、光敏接收管413，红外发射管412与光敏接收管413相对应设置，滑动块309上设置有计数器414、随机控制器415，随机控制器415类似于交替控制器，区别是交替控制器是按顺序控制，这个是无序控制的，随机控制器415主要用于控制转动盘401的电机无序转动，以此使转动盘401转动的速度频率是随机的，另外可控制电伸缩杆406随机伸缩，以此间接达到随机改变偏心柱405在调节槽402中的位置，竖杆408底端固定连接有第二辅助簧416，第二辅助簧416底端固定连接有按压柱杆417，按压柱杆417上端活动插接在竖杆408内部。

通过上述实施例中的所有内容的工作原理如下：

初始状态下：插接腔303未被拉伸，卡接杆307未卡接在卡接块306中，第一辅助簧311未被拉伸，方孔409未与红外发射管412、光敏接收管413处于同一直线上，按压柱杆417未被压缩。

分过程：

以下为夹持辅助组件的工作过程：

在使用时，将左卡块301与右卡块302相向反向拉动，此时插接腔303中的紧固簧体304会随着拉动被拉伸，可参考图3、图10，进一步的，将拉动的左卡块301与右卡块302放置在测试键盘2的两端，松开拉动的手，以此紧固簧体304在复位中会使左卡块301与右卡块302夹在测试键盘2上，进一步的，根据需要测试的位置将卡接杆307卡接在不同位置的卡接块306上，然后将插杆312向上拉动，此时第一辅助簧311被拉伸，可参考图6，使原先插接在插接孔A308中的插杆312离开插接孔A308，进一步的，此时滑动卡接杆307上的滑动块309调至所需测试位置，松开被拉动的插杆312，在第一辅助簧311的复位中，插杆312会通过插接到插接孔A308中，从而在插接孔B310、插接孔A308的辅助下将滑动块309限制住，此时夹持辅助工作结束，可进行后续键盘按键寿命测试工作；

上述工作过程请参考图1至图4、图6、图10。

以下为无序按压测试组件的工作过程：

更进一步的，启动驱动转动盘401转动的电机，可参考图8、图9，顺时针转动的转动盘401会带着其上的偏心柱405进行运动，运动的偏心柱405会以转动盘401的轴心进行圆周旋转运动，进一步的，随着转动盘401的转动，偏心柱405会在环槽体407中滑动并在滑动中推挤着环槽体407向下移动，在环槽体407向下移动过程中会带着其下设置的竖杆408向下移动，进一步的，在限制口411中移动的竖杆408会带着其下设置的按压柱杆417逐渐靠近并最终按压到测试键盘2上的键盘按键，此时第二辅助簧416未压缩，并且，在竖杆408带着按压柱杆417向下移动时，竖杆408上开设的方孔409会在此过程中逐渐与红外发射管412、光敏接收管413处于同一水平线上，此时红外发射管412发射的信号可被光敏接收管413接收，并将其传递给计数器414，进一步的，随着竖杆408的继续下移，红外发射管412便无法给光敏接收管413发送信号，但当随着转动盘401的继续转动，通过偏心柱405、环槽体407的运动可使竖杆408向上移动，在此过程中，方孔409又会与红外发射管412、光敏接收管413处于同一水平线上，此时又会有信号的传递，两次信息传递，可使计数器414计数一次，以此进行了一次按压寿命测试；

更进一步的，已知驱动转动盘401转动的电机，以及电伸缩杆406均由随机控制器415控制，偏心柱405位于调节槽402最左端时，偏心柱405通过环槽体407、竖杆408的辅助恰好可间接使按压柱杆417按压到测试键盘2上的键盘按键，以此对其进行一次按压测试，进一步的，在随机控制器415的控制中，电伸缩杆406会在伸长中将滑动板404上的偏心柱405从调节槽402左端移向右端，进而可间接改变竖杆408竖向移动的进程，即当偏心柱405不再位于调节槽402最左端时，会间接使竖杆408向下移动的距离变长，此时按压在测试键盘2上键盘按键的按压柱杆417会继续向下移动，此时第二辅助簧416被压缩，此时第二辅助簧416欲从压缩状态恢复，这个恢复力会作用到测试键盘2上的键盘按键上，此时测试键盘2上键盘按键所受的力会大于第二辅助簧416未被压缩时的力，进一步的，在随机控制器415的控制下，电伸缩杆406会间接带着偏心柱405在调节槽402中无序移动，进而使按压柱杆417每次按压到测试键盘2上键盘按键的力均不相同，且在转动盘401不同频率的转动中，可模拟敲打键盘按键的时间间隙，即通过无序按压测试组件的设置，按压柱杆417会对所要测试的键盘按键进行不同频率以及不同力量的按压，在这种按压测试下能最有效地模拟实际使用过程，区别于现有中每次击打按压的力度完全相同的方式，从而可降低测试误差，使收集得到的数据更准确；

更进一步的，通过第二辅助簧416的设置，可在偏心柱405位于调节槽402较右端，间接使竖杆408移动进程变长时，有效避免按压柱杆417按压在测试键盘2上键盘按键时继续向下移动，损坏测试键盘2按键的情况；

上述工作过程请参考图2至图9。

通过夹持辅助组件的设置，可适配不同种类大小的测试键盘2，适配性广，且已知无序按压测试组件设置在滑动块309上，卡接杆307上可根据不同的测试需求设置多个滑动块309，以此满足不同数量、不同位置的键盘按键寿命测试需求，这种设置区别于现有测试装置仅对所有键盘按键进行统一次数的测试方式，有效规避了实际情况下，根据正常使用情况的不同，各键使用次数不同的测试局限性，且整体装置体积较小，较为轻便。

总述：

通过夹持辅助组件的设置，可适配不同种类大小的测试键盘2，且可通过需要测试的位置将卡接杆307卡接在不同位置的卡接块306上，进一步的，将卡接杆307上的滑动块309滑动到需要抽查的键的上方，进而，进行后续键盘按键寿命测试工作，在无序按压测试组件的设置下，按压柱杆417会对所要测试的键盘按键进行不同频率以及不同力量的按压，在这种按压测试下能最有效地模拟实际使用过程，区别于现有中每次击打按压的力度完全相同的方式，从而可降低测试误差，使收集得到的数据更准确。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，包括平台（1）、测试键盘（2）、计数器（414）和随机控制器（415），其特征在于：所述平台（1）上方设置有夹持辅助组件，所述夹持辅助组件上设置有无序按压测试组件；

所述夹持辅助组件包括有左卡块（301），所述左卡块（301）设置在测试键盘（2）的左侧，所述测试键盘（2）右侧设置有右卡块（302），所述右卡块（302）上开设有插接腔（303），所述插接腔（303）内壁与紧固簧体（304）一端固定连接，所述紧固簧体（304）另一端固定连接在左卡块（301）上，所述左卡块（301）通过插接腔（303）插接在右卡块（302）上；

所述无序按压测试组件包括有转动盘（401），所述转动盘（401）上开设有调节槽（402），所述调节槽（402）内开设有内滑槽道（403），所述内滑槽道（403）内滑动连接有滑动板（404），所述滑动板（404）外壁上固定连接有偏心柱（405），所述调节槽（402）内壁上固定连接有电伸缩杆（406），所述转动盘（401）外侧设置有环槽体（407），所述偏心柱（405）滑动在环槽体（407）中，所述环槽体（407）底端固定连接有竖杆（408），所述竖杆（408）底端固定连接有第二辅助簧（416），所述第二辅助簧（416）底端固定连接有按压柱杆（417），所述按压柱杆（417）上端活动插接在竖杆（408）内部；

随着转动盘（401）的转动，偏心柱（405）会在环槽体（407）中滑动并在滑动中推挤着环槽体（407）向下移动，在环槽体（407）向下移动过程中会带着其下设置的竖杆（408）向下移动，进一步的，移动的竖杆（408）会带着其下设置的按压柱杆（417）逐渐靠近并最终按压到测试键盘（2）上的键盘按键。

2.根据权利要求1所述的一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，其特征在于：所述左卡块（301）内壁上设置有支撑杆（305），所述支撑杆（305）上均等距设置有卡接块（306），所述卡接块（306）中卡接有卡接杆（307），所述卡接杆（307）上等距开设有贯通的插接孔A（308）。

3.根据权利要求2所述的一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，其特征在于：所述卡接杆（307）上滑动连接有滑动块（309），所述转动盘（401）转动连接在滑动块（309）侧壁上，所述滑动块（309）上开设有贯通的插接孔B（310），所述滑动块（309）上表面固定连接有第一辅助簧（311），所述第一辅助簧（311）顶端固定连接有插杆（312），所述插杆（312）可插接在插接孔A（308）和插接孔B（310）中。

4.根据权利要求1所述的一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，其特征在于：所述竖杆（408）上开设有贯通的方孔（409）。

5.根据权利要求3所述的一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，其特征在于：所述滑动块（309）底端固定连接有L形辅助体（410），所述L形辅助体（410）下端开设有贯通的限制口（411），所述L形辅助体（410）下端设置有红外发射管（412）、光敏接收管（413），所述红外发射管（412）与光敏接收管（413）相对应设置。

6.根据权利要求1所述的一种便于多轴距调节的键盘按键寿命测试装置，其特征在于：所述竖杆（408）上半部分为实心，下半部分为空心结构。

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