TW202024664A - 多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法 - Google Patents

Abstract

本發明公開了一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述多波束同頻微波探測天線具有一振盪電路單元，且所述多波束同頻微波探測天線包括一參考地以及至少兩個輻射源，其中所述輻射源具有一饋電點，所述輻射源被間隔地設置於所述參考地，並在每個所述輻射源和所述參考地之間分別形成一輻射縫隙，且所述輻射源的所述饋電點被電連接於所述振盪電路單元。

Description

多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法

本發明涉及一天線領域，特別涉及一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法。

近年來，隨著微波技術的發展，應用微波技術的產品也越來越多的出現在市場上，比如說，微波探測器。常見的微波探測器能夠發射微波，並接收反射回來的微波信號，利用多普勒效應原理探測目的地區域內是否有運動的物體。微波探測器對反射微波的物體的移動具有較高的敏感度，並且，微波探測器產生的微波信號不受環境溫度和濕度等因素的影響，相較於紅外線探測器而言，具有較高的可靠性。因此，微波探測器被廣泛應用於工業生產和我們的日常生活中，比如說，車輛測速，超市自動門、自動燈、自動盥洗等。

現有的微波探測器利用一天線發射一特定頻率的微波波束，以在一目的地區域內檢測所述目的地區域內的物體的運動狀態，當遇到靜止的物體時，所述天線接收到的返回的微波的頻率不變，當所述天線發出的微波遇到運動的物體時，所述天線接收到的微波的頻率發生變化，以供在後續根據頻率的變化計算出物體的運動狀態，比如說物體的具體位置、移動速度、移動方向。但是，現有的微波探測器在被應用於檢測目的地區域內的物體的運動狀態的過程中，仍然存在不少問題。

首先，所述微波探測器產生的微波輻射到的區域固定，即，微波探測器的檢測區域有限，僅僅利用一個所述天線難以全面地檢測所述目的地區域內的物體的運動狀態，進而會影響檢測結果的準確性。

其次，儘管借助兩個或以上數量的所述微波探測器能夠擴大所述微波探測器的檢測區域，即通過增加微波探測器數量，並將不同的所述微波探測器分佈於不同的位置，來擴大檢測區域，如通過多個微波探測器以分層、分區間、分角度的方式覆蓋不同的探測空間，以實現對探測空間的分層、分區間、分角度的探測，從而獲取移動物體於探測空間的位置和分佈，並依此計算移動物體的移動軌跡、移動方向和移動速度等資訊，進而實現對移動物體的軌跡預測、行為目的判斷和狀態判斷。然而，需要計算多個所述微波探測器發射的微波和接收的微波的頻率變化才能判斷所述目的地區域內的物體的運動狀態，所述微波探測器的數量越多，必然需要複雜的信號傳輸與連接，計算的資料以及演算法就越複雜，並且需要配置額外的資訊處理中心，增加了成本的同時難以準確獲得所述目的地區域內的物體的運動狀態。

另外，在現有技術中，被設置於不同區域內的所述微波探測器具有各自獨立的電路，不同微波探測器的電路通過電線被接入到外部的電路中，通過變化的電場產生變化的磁場，而變化的磁場又產生變化的電場，這樣，變化的電場和變化的磁場相互依賴，並且相互激發，而且變化的電場和變化的磁場交替產生，進而產生了微波，且所述天線向外輻射微波。但是由於不同電路中的電器元件的參數存在差異，所述微波探測器向外輻射的微波的頻率難以實現一致和同步，當不同的微波探測器對同一個目的地區域進行檢測時，一方面各微波探測器所發射的微波會相互干擾，另一方面，不同微波探測器輻射的微波的檢測區域出現重合時，在重合區域內，各微波探測器所發射的微波的頻率難以一致，或即便頻率一致也可能會出現一個天線輻射的微波處於波峰，另一個天線輻射的微波處於波谷類的相位不一致的狀況，在後續的計算過程中，需要運用繁瑣的演算法來解決接收到的微波的頻率的相關參數，比如說，要計算接收到的不同的所述微波的頻率差的參數。這樣，更加增大了獲得所述目的地區域內的物體的運動狀態的難度。而且，在現階段中，本領域技術人員難以得到準確的演算法，同時複雜的計算邏輯會造成所述微波探測器的計算時間較長，造成獲取所述目的地區域內的物體的運動狀態的時間被滯後，進而影響所述微波探測器在檢測所述目的地區域內的物體運動時的準確性。

因此，微波探測器的數量的增加必然會增加成本以及將多個微波探測器連接為一個系統的複雜性，同時，被分佈安裝以覆蓋同一區域的微波探測器之間會產生相互干擾，而被集中安裝的微波探測器在工作時，各微波探測器所輻射的微波波束除主波瓣以外的副波瓣（如旁波瓣、後波瓣）之間也會產生相互干擾以致微波探測器不能正常工作。

本發明的一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述多波束同頻微波探測天線包括至少兩個輻射源，所述輻射源被電連接於同一振盪電路單元中，進而不同的所述輻射源能夠向外輻射具有相同頻率的微波波束，使得所述多波束同頻微波探測天線同時向外發射多束具有相同頻率且能各自獨立探測或組合探測的微波波束。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述多波束同頻微波探測天線利用具有相同頻率的多束所述微波波束形成的一檢測區域覆蓋一目的地區域，並對所述目的地區域進行檢測，以獲得所述目的地區域內的目標物體的運動狀態。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述多波束同頻微波探測天線能夠同時向外發射多束具有相同頻率的微波波束，以能夠避免各微波波束在發射和接收時產生相互干擾，從而更可靠地獲取所述目的地區域內的所述目標物體的運動狀態。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述多波束同頻微波探測天線利用具有相同頻率的多束微波波束同時檢測多個所述目標檢測區域，在擴大所述多波束同頻微波探測天線的檢測範圍的同時，提高了所述多波束同頻微波探測天線的檢測效率。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述多波束同頻微波探測天線向外輻射的相互獨立的所述微波波束具有相同頻率，以在計算所述目標物體的運動狀態時，不同的所述微波波束的頻率參數被統一，進而有利於簡化獲取所述目標物體的運動狀態的相關演算法。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述微波波束形成的所述檢測區域能夠被動態地調整，進而通過改變所述微波波束形成的所述檢測區域的方式更準確地確定所述目標物體在所述目的地區域內的位置和分佈。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中同頻的各微波波束形成的所述檢測區域能夠被動態地調整，以使得所述多波束同頻微波探測天線能夠獲取所述目的地區域的所述目標物體的位置和分佈，並依此計算所述目標物體的移動軌跡、移動方向和移動速度等運動狀態。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述多波束同頻微波探測天線能夠獲取所述目標物體於所述目的地區域的運動狀態，以能夠根據探測到的所述目標物體的運動狀態預測所述目標物體的運動目的，從而在所述目標物體為人體時實現對人體姿態的分析與判斷及行為目的的預測。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述微波波束的輻射方向和輻射角度能夠被改變，進而使得所述微波波束形成的所述檢測區域被動態地調節。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中至少一個所述輻射源相對其他所述輻射源的位置能夠被調整，進而改變所述輻射源向外輻射的所述微波波束的輻射方向。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述多波束同頻微波探測天線提供一參考地，所述輻射源被間隔地設置於所述參考地，通過改變所述參考地的延伸方向的方式改變所述輻射源的朝向，進而改變所述輻射源向外輻射的所述微波波束的輻射方向。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述多波束探測天線提供一基板，所述參考地被設置於所述基板，所述基板發生形變的同時改變所述參考地的延伸方向，進而改變被保持於所述參考地的一側的所述輻射源產生的所述微波波束的輻射方向。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述參考地包括與所述輻射源的數量相對應的至少兩個參考地主體，其中所述參考地主體被設置於所述基板，通過調節所述基板的延伸方向的方式改變所述參考地主體的延伸方向，以改變所述輻射源的朝向。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述多波束同頻微波探測天線進一步包括一反射件，其中所述反射件在所述輻射源的一側被可活動地保持於與所述輻射源相對應的所述參考地，通過改變所述反射件的一反射面與所述輻射源之間的相對角度的方式調整所述輻射源向外輻射的所述微波波束的輻射角度大小和輻射方向。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中同時藉由所述反射件和所述基板改變至少一個所述輻射源相對於其他所述輻射源的位置，以調整所述多波束同頻微波探測天線產生的微波波束所覆蓋的區域。

本發明的另一個目的在於提供一種多波束同頻微波探測天線及其製造方法和檢測方法，其中所述多波束同頻微波探測天線包括一混頻檢波電路，所述混頻檢波電路被分別連接於所述輻射源和所述振盪電路單元，所述混頻檢波電路接收對應的所述輻射源發射的微波波束和接收的回波分別產生的電信號，並通過所述電信號的變化確定所述多波束同頻微波探測天線檢測的所述目的地區域內的物體的運動狀態。

依本發明的一個方面，本發明進一步提供一種多波束同頻微波探測天線，所述多波束同頻微波探測天線具有一振盪電路單元，且所述多波束同頻微波探測天線包括：

一參考地；以及

至少兩個輻射源，其中所述輻射源具有一饋電點，所述輻射源被間隔地設置於所述參考地，並在每個所述輻射源和所述參考地之間分別形成一輻射縫隙，且所述輻射源的所述饋電點被電連接於所述振盪電路單元。

根據本發明的一實施例，所述多波束同頻微波探測天線進一步包括一基板，其中所述參考地被設置於所述基板的一側，所述基板能夠發生形變，並改變所述參考地的延伸方向。

根據本發明的一實施例，所述基板為柔性可變形的PCB板。

根據本發明的一實施例，所述參考地包括和所述輻射源數量對應的一參考地主體，其中所述輻射源被間隔地設置於所述參考地主體，並在每個所述輻射源和對應的所述參考地主體之間分別形成所述輻射縫隙，所述參考地主體被設置於所述基板，通過所述基板發生形變的方式改變所述參考地主體的延伸方向。

根據本發明的一實施例，所述多波束同頻微波探測天線進一步包括與所述參考地主體數量相對應的一遮罩罩，所述遮罩罩和所述參考地主體分別被保持於所述基板相對的兩側，以保障所述參考地主體對應於所述輻射源的部分始終被保持於一平面，且始終保持平整。

根據本發明的一實施例，所述遮罩罩和所述參考地主體被保持於所述基板的同一側，以保障所述參考地主體對應於所述輻射源的部分始終被保持於一平面，且始終保持平整。

根據本發明的一實施例，各所述參考地主體相互電性連接。

根據本發明的一實施例，各所述參考地主體一體成型為一整體導電金屬層。

根據本發明的一實施例，所述基板包括一第一基板和多個第二基板，多個所述第二基板相互間隔地延伸於所述第一基板，至少一個所述參考地主體被設置於所述第一基板，至少一個所述參考地主體被設置於所述第二基板，其中所述第一基板和每個所述第二基板之間的角度能夠被調節。

根據本發明的一實施例，所述的多波束同頻微波探測天線進一步包括一基板和一柔性連接件，所述基板包括一第一基板和至少一第二基板，所述參考地包括和所述輻射源數量對應的一參考地主體，至少一個所述參考地主體被設置於所述第一基板，至少一個所述參考地主體被設置於所述第二基板，所述柔性連接件的兩端分別被連接所述第一基板和所述第二基板，且所述柔性連接件分別被電連接對應於所述第一基板的所述參考地主體和對應於所述第二基板的所述參考地主體，所述柔性連接件發生變形時，被連接於所述柔性連接件的所述第一基板和/或所述第二基板的延伸方向被改變。

根據本發明的一實施例，所述第一基板為PCB板，所述第二基板為柔性可變形的PCB板。

根據本發明的一實施例，所述第一基板和所述第二基板為柔性可變形的PCB板。

根據本發明的一實施例，所述多波束同頻微波探測天線進一步包括一反射件，其中所述反射件具有一反射面，所述反射件被設置於所述參考地，所述反射件的所述反射面和所述輻射源之間形成夾角，且所述反射件的所述反射面能夠改變所述輻射源產生的微波波束的輻射方向。

根據本發明的一實施例，所述反射件被可活動地設置於所述參考地。

根據本發明的一實施例，所述反射件的長度大於等於所述輻射源的邊長的長度。

根據本發明的一實施例，所述反射件的寬度為參數γ，所述參數γ的取值範圍為：1/16λ≤γ≤λ。

根據本發明的一實施例，所述反射件由金屬製成。

根據本發明的一實施例，所述多波束同頻微波探測天線進一步包括至少一混頻檢波電路，其中所述混頻檢波電路的兩端分別電連接於所述振盪電路單元和所述輻射源的所述饋電點。

根據本發明的一實施例，每一個所述混頻檢波電路的一端被電連接於一個所述輻射源的所述饋電點，所述混頻檢波電路的另一端被電連接於所述振盪電路單元。

根據本發明的一實施例，每一個所述混頻檢波電路的一端被電連接於至少兩個所述輻射源的所述饋電點，所述混頻檢波電路的另一端被電連接於所述振盪電路單元。

根據本發明的一實施例，所述多波束同頻微波探測天線的所述輻射源被接地。

依本發明的一個方面，本發明進一步提供一種多波束同頻微波探測天線的製造方法，所述製造方法包括如下步驟：

（a）以在至少兩個輻射源和所述參考地之間分別形成一輻射縫隙的方式保持至少兩個所述輻射源於一參考地；和

（b）電連接所述輻射源的一饋電點於一振盪電路單元。

根據本發明的一實施例，在上述方法中，進一步包括步驟：設置所述參考地於一基板，其中所述基板發生形變時，所述參考地的延伸方向被改變。

根據本發明的一實施例，在上述方法中，進一步包括步驟：以一反射件的一反射面朝向所述輻射源的方式設置所述反射件於所述參考地。

根據本發明的一實施例，在上述方法中，進一步包括步驟：以一反射件的一反射面朝向所述輻射源的方式可活動地設置所述反射件於所述參考地。

根據本發明的一實施例，在上述方法中，進一步包括步驟：可拆卸地安裝至少一柔性連接件於所述基板的一第一基板以連接所述基板的至少一第二基板於所述第一基板。

依本發明的一個方面，本發明進一步提供一種多波束同頻微波探測天線的檢測方法，其特徵在於，所述檢測方法包括步驟（Ⅰ）：通過以至少兩個輻射源的一饋電點被接入一振盪電路單元的方式向外輻射具有相同頻率的微波波束。

根據本發明的一實施例，所述的檢測方法進一步包括步驟（Ⅱ）：動態地改變所述微波波束的輻射方向。

根據本發明的一實施例，所述步驟（Ⅱ）中進步一包括步驟（Ⅲ）：以一基板發生形變的方式改變至少一個所述輻射源相對於其他所述輻射源的位置。

根據本發明的一實施例，所述步驟（Ⅱ）中進步一包括步驟（Ⅳ）：藉由一反射件的一反射面反射與約束所述微波波束而改變所述微波波束的輻射角度和方向。

根據本發明的一實施例，所述步驟（Ⅳ）中進一步包括步驟：改變所述反射件的所述反射面與所述輻射源之間形成的夾角大小。

根據本發明的一實施例，所述步驟（Ⅱ）中進步一包括步驟：以一柔性連接件發生形變的方式一第一基板和至少一第二基板之間的相對位置，進而調節對應的所述輻射源向外輻射的所述微波波束的輻射方向。

根據本發明的一實施例，在所述步驟（I）之後進一步包括步驟（ii）：藉由至少一個混頻檢波電路接收至少一個所述輻射源產生的微波波束的回波所形成的一電信號。

根據本發明的一實施例，在所述步驟（ii）中，每一個所述混頻檢波電路接收一個所述輻射源產生的微波波束的回波所形成的所述電信號。

根據本發明的一實施例，在所述步驟（ii）中，每一個所述混頻檢波電路接收對應的兩個及以上數量的所述輻射源產生的回波形成的所述電信號。

以下描述用於揭露本發明以使本領域技術人員能夠實現本發明。以下描述中的優選實施例只作為舉例，本領域技術人員可以想到其他顯而易見的變型。在以下描述中界定的本發明的基本原理可以應用於其他實施方案、變形方案、改進方案、等同方案以及沒有背離本發明的精神和範圍的其他技術方案。

本領域技術人員應理解的是，在本發明的揭露中，術語“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“後”、“左”、“右”、“豎直”、“水準”、“頂”、“底” “內”、“外”等指示的方位或位置關係是基於附圖所示的方位或位置關係，其僅是為了便於描述本發明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此上述術語不能理解為對本發明的限制。

可以理解的是，術語“一”應理解為“至少一”或“一個或多個”，即在一個實施例中，一個元件的數量可以為一個，而在另外的實施例中，該元件的數量可以為多個，術語“一”不能理解為對數量的限制。

參照說明書附圖1A至圖2B，根據本發明的一較佳實施例的一種多波束同頻微波探測天線將在接下來的描述中被闡述，其中所述天線能夠被應用於檢測一目的地區域，並獲得所述目的地區域內的一目標物體的運動資訊。進一步地，所述天線能夠向外輻射頻率相同的至少兩束獨立的微波波束，所述微波波束形成一檢測區域，通過以所述檢測區域覆蓋所述目的地區域的方式檢測所述目的地區域內的所述目標物體的運動狀態。具體來說，所述天線向外輻射的所述微波波束具有一特定頻率，所述微波波束達到所述目的地區域內，當所述目的地區域內的所述目標物體為靜止狀態時，所述天線接收到的返回的所述微波波束仍然保持所述特定頻率，當所述目的地區域內的所述目標物體處於運動狀態時，所述天線接收到的所述微波波束的頻率發生變化，以供在後續根據所述微波波束變化的相關資料計算得到所述目的地區域內的所述目標物體的運動狀態。

參考圖1A至圖2B，所述天線包括一參考地10和至少兩個輻射源20，其中各所述輻射源20具有一饋電點21，所述輻射源20被間隔地設置於所述參考地10，並在每個所述輻射源20和所述參考地10之間分別形成一輻射縫隙40。更進一步地，所述天線具有一振盪電路單元30，所述輻射源20的所述饋電點21被電連接於所述振盪電路單元30，其中所述振盪電路單元30傳輸微波波束激勵電信號，進而所述輻射源20的所述饋電點21能夠被接入微波波束激勵電信號。進一步地，當所述微波波束激勵電信號自所述饋電點21被接入所述輻射源20後，所述天線產生在所述輻射源20處向外輻射所述微波波束，藉由所述微波波束能夠對所述目的地區域進行檢測，並獲得所述目的地區域內的所述目標物體的運動狀態。值得一提的是，不同的所述輻射源20的所述饋電點21被電連接於同一個所述振盪電路單元30，使得不同的所述輻射源20向外輻射的所述微波波束具有相同的頻率。這樣，一方面避免了不同的所述輻射源20在發射所述微波波束和接收相應的回波時的相互干擾，另一方面，在後續計算所述目標物體的運動狀態時，不同的所述微波波束的頻率參數被統一，進而有利於簡化獲取所述目標物體的運動狀態的相關演算法，提高所述天線獲得所述目的地區域內的所述目標物體的運動狀態的性能。

進一步地，所述輻射源20的所述饋電點21偏離所述輻射源20的物理中心，以降低所述輻射源20對所述振盪電路單元30產生的微波波束激勵電信號的激勵電流的強度要求，從而當所述振盪電路單元30產生的所述微波波束激勵電信號自所述輻射源20的所述饋電點21被接入所述輻射源20時，所述輻射源20更容易產生與形成初始的極化方向。

本領域技術人員應當理解，為使得不同的所述輻射源20能夠相互獨立地發射具有相同頻率的所述微波波束和／或接收相應的回波，優選地，各所述輻射源20具有不同的工作極化方向，即各所述輻射源20的物理中心至所述饋電點21的連線方向不同，也就是說，在本發明的描述中，具有相同極化方向的輻射源，以及由多個或多組呈陣列分佈以滿足不同的輻射角度、輻射距離以及增益要求的輻射源組合視為本發明的描述中的一個所述輻射源20，且所述微波波束的發射和相應的回波的接收既能夠藉由同一所述輻射源20實現，也能夠藉由不同的兩所述輻射源20分別實現，即在本發明的一些實施例中，所述輻射源20被設置為能夠發射所述微波波束並接收相應的回波，而在本發明的一些實施例中，所述微波波束的發射和相應的回波的接收藉由不同的兩所述輻射源20分別實現，本發明對比不作限制。

值得一提的是，所述天線的所述輻射源20的形狀不受限制，所述輻射源20的形狀可以被實施為但不限於多邊形、圓形或是橢圓形中的一種或是多種的組合。另外，所述天線的所述輻射源20的延伸方向也不受限制，儘管在本發明的說明書附圖中示出的所述輻射源20的延伸方向與所述參考地的延伸方向一致，但是在本發明其他的實施例中，所述輻射源20也可以被實施為所述參考地10的延伸方向相互垂直。本領域技術人員應該知曉的是，所述天線的所述輻射源20的具體實施方式僅僅作為示例，不能成為本發明所述天線的內容和範圍的限制。

參考圖1A至圖2B，所述天線進一步包括一基板50，其中所述基板50包括一第一側面51和一第二側面52，所述參考地10以貼裝於所述電路基本50的方式被保持於所述基板50的所述第一側面51，所述振盪電路單元30被設置於所述基板50。優選地，所述振盪電路單元30被嵌入所述基板50的所述第一側面51和第二側面52之間。優選地，所述振盪電路單元30被保持於所述基板50的所述第二側面52。 所述參考地10具有良好的導電性，且所述參考地10的具體材質不受限制，所述參考地10可以由銅、銅合金等導電材質製成的金屬層。應該理解的是，所述參考地10的具體實施方式不受限制。

進一步地，所述天線的所述輻射源20產生的所述微波波束的方向和角度能夠被動態地調節，進而動態地改變所述微波波束形成的所述檢測區域。一方面，通過動態地調整所述微波波束的輻射方向能夠擴大所述天線的所述檢測區域。比如說，通過改變所述天線的兩個所述輻射源20中的一個所述輻射源20產生的所述微波波束的方式可以減小兩個所述輻射源20產生的所述微波波束的重疊區域，進而能夠擴大所述天線的所述檢測區域。另一方面，通過調節所述微波波束的輻射方向更準確地確定所述目標物體在所述目的地區域內的準確位置和運動狀態。比如說，當確定所述目標物體位於兩個輻射源20輻射的兩個所述微波波束所形成的重疊區域內的時，改變所述天線的兩個輻射源20中的一個所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射方向減小兩個所述微波波束的重疊區域，進而有利於更準確地確定所述目標物體在所述目的地區域內的具體位置。並且，所述天線的所述輻射源20產生的所述微波波束具有相同的頻率，進而簡化了利用所述輻射源20產生的所述微波波束獲取所述目標物體的運動狀態的時間，有利於減少所述天線的回應時間，以提高獲取所述目標物體的運動狀態的效率和準確度。

值得一提的是，具有不同的極化方向的所述輻射源20輻射的所述微波波束及反射的對應回波能夠相互獨立工作而互不干擾，即各所述微波波束能夠獨立獲取各自的檢測結果，進而得到所述目標物體的數量及各目標物體的分佈位置、移動方向，移動速度等資料。

具體來說，在本發明的一些具體的實施例中，參照圖1A至圖6B所示，所述天線能夠藉由所述基板50發生形變的方式改變被設置於所述基板50的所述參考地10的延伸方向，進而改變所述輻射源20的朝向，並動態地調整所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射方向。具體來說，所述參考地10包括和所述輻射源20數量相對應的至少兩個相互連接的所述參考地主體11，所述輻射源20以在所述輻射源20和對應的所述參考地主體11之間形成所述輻射縫隙40的方式被間隔地設置於所述參考地主體11。所述參考地主體11被設置於所述基板50的所述第一側面51。優選地，相鄰的所述參考地主體11分別電性相連。優選地，各個所述參考地主體11一體成型為一整體導電金屬層。進一步地，所述基板50能夠發生形變，且被設置於所述基板50的所述參考地主體11能夠隨所述基板50的變化而改變延伸方向，進而改變被設置於所述參考地主體11的所述輻射源20的朝向，以動態地調節所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射方向。

優選地，所述基板50具有柔性，且所述基板50的任意部分能夠發生柔性形變，以使得被設置於所述基板50的任意一個所述參考地主體11發生形變，進而改變至少一個所述輻射源20的朝向，從而動態地調整至少一個所述輻射源20與其他所述輻射源20的相對位置，以改變所述多波束探測天線產生的至少一束微波波束的輻射方向。比如說，當處於水準狀態的所述基板50發生柔性形變，且所述基板50的一部分沿著一折線A向下彎折，與所述基板50向下彎折部分相對應的所述參考地主體11的延伸方向由水準狀態變成傾斜向下延伸，進而對應於所述參考地主體11的所述輻射源20的朝向被改變。從而，通過使得所述基板50發生變形的方式動態地調整所述天線形成的所述微波波束的輻射方向，進而調整所述多波探測天線的檢測區域。優選地，一個所述參考地主體11相對於另外一個所述參考地主體11向下活動的角度為參數α，所述參數α小於等於90°，即，所述基板50能夠發生形變向上彎折的角度小於等於90°，且所述基板50能夠發生形變向下彎折的角度小於等於90°。

優選地，所述基板50被實施為柔性可變形的PCB板，如FPC板，所述振盪電路單元30被嵌入所述基板50。

參照圖3A和圖3B，在本發明的一較佳實施例中，所述天線包括和所述參考地主體11數量對應的一遮罩罩60，相鄰的所述遮罩罩60被相互間隔地保持於所述基板50的所述第二側面52，所述遮罩罩60對應於所述參考地10的所述參考地主體11，即，所述參考地主體11和所述遮罩罩60分別被保持於所述基板50同一部分相對應的兩側。所述遮罩罩60能夠保障所述參考地主體11對應於所述輻射源20的部分始終被保持於一平面，且始終保持平整。具體來說，當所述基板50發生形變時，所述遮罩罩60不會發生形變，且所述遮罩罩60使得所述基板50對應於所述遮罩罩60的位置不會發生形變，進而，所述參考地主體11對應於所述遮罩罩60的位置不會發生形變而被始終被保持於同一平面，有利於避免所述參考地主體11的變化對所述輻射源20的干擾。也就是說，僅所述基板50對應於相鄰的所述遮罩罩60之間的部分能夠發生形變，進而改變所述參考地主體11的延伸方向以及所述輻射源20的輻射方向。

可以理解的是，所述遮罩罩60還可以與對應的所述參考地主體11被設置於所述基板50的同一側，如所述遮罩罩60也被設置於所述基板50的所述第一側面51，同時與該所述參考地主體11對應的所述輻射源20於所述基板50的所述第二側面52或所述第二側面52所對應的空間維持與所述參考地主體11相間隔地被設置，則所述遮罩罩60同樣能夠保障所述參考地主體11對應於所述輻射源20的部分始終被保持於一平面，且始終保持平整。從而當所述基板50發生形變時，所述遮罩罩60不會發生形變，且所述遮罩罩60使得所述基板50對應於所述遮罩罩60的位置不會發生形變，則使得所述基板50對應於相鄰的所述遮罩罩60之間的部分能夠發生形變，進而改變所述參考地主體11的延伸方向以改變所述輻射源20的輻射方向。

特別地，所述遮罩罩60在保障所述參考地主體11對應於所述輻射源20的部分始終被保持於一平面，且始終保持平整的同時，還能夠降低對應所述輻射源20的副波瓣對相應的所述微波波束的干擾，因此，在本發明的一些實施例中，所述遮罩罩60還能夠被實施為硬質板材，以僅保障所述參考地主體11對應於所述輻射源20的部分始終被保持於一平面，且始終保持平整，從而在所述基板50對應於相鄰的所述遮罩罩60之間的部分發生形變時，使得所述輻射源20的輻射方向被改變。

參照說明書附圖1A至圖3B，所述天線的所述輻射源20的具體數量為兩個，所述參考地主體11的具體數量為兩個，兩個所述輻射源20分別被間隔地設置於對應的所述參考地主體11。兩個所述參考地主體11並排地保持於所述基板50的所述第一側面51。當所述基板50平行于水平面時，兩個所述參考地主體11的延伸方向相同，且位於同一平面，當所述基板50對應於相鄰的所述遮罩罩60之間的部分發生形變時，至少一個所述參考地主體11的延伸方向被改變。

優選地，通過所述基板50發生形變的方式使得兩個所述參考地主體11中一個所述參考地主體11能夠相對於另外一個所述參考地主體11被向上翻轉或是向下翻轉，即，兩個輻射源20中的一個所述輻射源20的輻射方向被改變，進而改變所述天線的產生的一束微波波束的輻射方向，以改變所述天線的所述檢測區域。優選地，通過使得所述基板50發生形變的方式使得兩個所述參考地主體11同時相對地運動，進而改變所述天線的產生的兩束微波波束的輻射方向，以改變所述天線的所述檢測區域。舉例來說，兩個所述參考地主體11處於同一平面，即，兩個所述參考地主體之間呈180°，所述基板50發生形變使得兩個所述參考地主體11之間的夾角變小，進而兩個所述輻射源20相互靠近，使得所述輻射源20產生的微波波束覆蓋的重疊區域被增大；當所述參考地主體11之間的夾角增大，使得兩個所述輻射源20相互遠離，進而所述輻射源20產生的所述微波波束覆蓋的重疊區域被減小。

參照圖4A和圖4B，在本發明的其他實施例中，所述天線的所述輻射源20的具體數量為三個，所述參考地主體11的具體數量為三個，通過所述基板50發生形變的方式以改變至少一個所述參考地主體12的延伸方向，進而改變對應的所述輻射源20與其他所述輻射源20之間的相對位置，以調整所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射方向。優選地，間隔地保持於所述參考地主體11的三個所述輻射源20可以相互間隔地並排設置。優選地，間隔地保持於所述參考地10的三個所述輻射源20可以相互間隔地並列設置。優選地，間隔地保持於所述參考地10的三個所述輻射源20可以相互間隔地呈三角形分佈。應該理解的是，所述輻射源20的分佈方式僅僅作為示例，不能成為對本發明所述的內容和範圍的限制。

值得一提的是，所述輻射源20和所述參考地主體11的具體數量也可以被實施為四個、五個或是更多個，其中至少一個所述輻射源20相對於其他輻射源20的位置能夠被改變，進而改變所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射方向，參照圖5A至圖6B。並且，應該理解的是，說明書附圖及描述中所闡述的所述輻射源20被保持於所述參考地10一側的方式僅僅作為示例，不能成為對本發明所述天線的內容及範圍的限制，所述輻射源20可以被實施為相互環繞地保持於所述參考地10的一側，也可以被實施為成列或是成行地間隔設置於所述參考地10。

參照圖7A至圖9D，在本發明的一些較佳實施例中，所述天線進一步包括至少一反射件70，所述反射件70具有一反射面71，其中所述反射件70被設置於與所述輻射源20相對應的所述參考地主體11，且所述反射件70被保持於所述輻射源20的一側。進一步地所述反射面71與所述輻射源20之間形成夾角，其中所述反射面71與所述輻射源20之間的夾角的變化能夠形成對應的所述輻射源20所產生的所述微波波束的輻射角度大小和輻射方向的變化。優選地，所述反射件70由金屬材質製成，所述反射件70可以被實施為銅、銅合金等材質制得的金屬板。

更進一步地，所述反射件70被可活動地設置於所述輻射源20相對應的所述參考地主體11，且所述反射件70的所述反射面71與參考地主體11之間的角度能夠被動態地調整，以在某個或多個方向對相應的所述微波波束進行約束而改變所述微波波束的輻射角度大小和輻射方向，即所述反射件70能夠動態地改變所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射角度大小和輻射方向，以動態地改變所述天線的檢測區域。

優選地，所述反射件70被樞軸地設置於所述參考地10，通過轉動所述反射件70能夠改變所述反射件70的所述反射面71與所述輻射源20之間形成的角度大小，進而改變所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射角度大小和輻射方向。舉例來說，當所述反射件70以所述反射面71朝向所述輻射源20的方式轉動時，所述反射面71靠近所述輻射源20，所述反射面71與所述輻射源20之間的角度減小，能夠增大所述輻射源20產生的所述微波波束形成的重疊區域；當所述反射件70以所述反射面71遠離所述輻射源20的方式轉動時，所述反射面71與所述輻射源20相互遠離，所述反射面71與所述輻射源20之間的角度增大，能夠減小所述輻射源20產生的所述微波波束覆蓋的重疊區域，進而動態地調整所述天線的所述檢測區域。值得一提的是，調整所述反射件70的所述反射面71與所述輻射源20之間的角度的方式僅僅作為示例，不能成為對本發明所述天線的內容和範圍的限制。

所述反射件70的具體數量不受限制，所述反射件70的所述反射面71可以被實施為反射或約束一個所述輻射源20向外輻射的所述微波波束，也可以被實施為改變至少兩個所述輻射源20向外輻射的所述微波波束的輻射角度大小和輻射方向。

優選地，所述反射件70的數量被實施為一個，參照圖7A至圖7D。舉例來說，被設置於所述參考地主體11的所述反射件70以所述反射面71朝向所述輻射源20的方式被設置於至少兩個所述輻射源20中的一個所述輻射源20的一側，所述反射件70位於至少兩個位於所述輻射源20之間，且所述反射件70的所述反射面71靠近所述輻射源20，所述反射件70 的所述反射面71和相對應的所述輻射源20之間形成夾角。通過動態地調整所述反射面71和所述輻射源20之間的角度大小能夠改變所述輻射源20的產生的所述微波波束的輻射角度大小和輻射方向。進一步地，通過動態地調整一個輻射源20向外輻射的所述微波波束的輻射方向和輻射角度能夠動態地改變所述天線的所述檢測區域。

參照圖8A至圖8D，在本發明其他的實施例中，所述反射件70的數量被實施為一個，且所述反射件70以所述反射面71朝向所述輻射源20的方式被設置於所述參考地10的所述參考地主體11，所述反射面71能夠和至少一個所述輻射源20之間形成夾角，以反射所述輻射源20產生的微波波束，進而改變所述天線的所述檢測區域。進一步地，所述反射面71和所述輻射源20之間的夾角能夠被動態地調整，即，所述反射件70的所述反射面71能夠動態地反射至少一個所述輻射源20產生的所述微波波束，進而改變所述微波波束的輻射角度大小和輻射方向，以改變所述天線的所述檢測區域。

優選地，所述反射件70的數量和所述輻射源20的數量相一致，參照圖9A至圖9D。比如說，參照圖9A，兩個所述反射件70被設置於與所述輻射源20相對應的所述參考地主體11，兩個所述反射件70分別以所述反射面71與所述輻射源20相對應的方式被保持於兩個所述輻射源20的兩側，且所述反射件70的所述反射面71能夠分別地與相對應的所述輻射源20之間形成夾角。可選地，所述反射件70被保持於兩個所述輻射源20之間。可選地，兩個所述反射件70被保持於所述參考地10的相對的兩側。值得一提的是，所述反射件70和所述輻射源20的具體數量僅僅作為示例，所述反射件70的數量不受限制，所述反射件70可以被實施為三個，四個，五個甚至更多。

優選地，所述反射件70的長度大於等於所述輻射源20的長邊的長度，所述反射件70的寬度為參數γ，所述參數γ的取值範圍為：1/16λ≤γ≤λ，其中參數λ為所述輻射源20能夠接收或是產生的所述微波波束的波長。

根據本發明的一些較佳實施例，參照附圖10A至圖15B，其中所述基板50進一步包括一第一基板501和多個第二基板502，其中多個所述第二基板502相互間隔地延伸於所述第一基板501，且多個所述第二基板502環繞於所述第一基板501的周緣。至少一個所述參考地主體11被設置於所述第一基板501，所述輻射源20被間隔地保持於所述參考地主體11的一側，並在所述參考地主體11和所述輻射源20之間形成所述輻射間隙40。至少一個所述參考地主體11被設置於所述第二基板502，並在所述參考地主體11和所述輻射源20之間形成所述輻射間隙40。每個所述輻射源20的所述饋電點21均被電連接於同一個所述振盪電路單元30，使得不同的所述輻射源20向外輻射的所述微波波束具有相同的頻率。進一步地，所述輻射源20向外輻射的所述微波波束的輻射方向和角度能夠被調節，一方面，有利於擴大所述天線的檢測區域，另一方面，有利於提高所述天線的檢測效率和準確性。

特別地，所述第二基板502的數量並不限制，且在本發明的一些實施例中，所述第一基板501可以不設置所述輻射源20和／或所述參考地主體11，也就是說，通過所述第一基板501和所述第二基板502之間的柔性連接能夠形成所述第一基板501的所述輻射源20相對於所述第二基板502的所述輻射源20的位置的變化，以及不同的所述第二基板502的所述輻射源20之間的相對位置的變化，而在所述第一基板501並未被設置所述輻射源20和／或所述參考地主體11時，仍能夠通過所述第一基板501和所述第二基板502之間的柔性連接，形成不同的所述第二基板502的所述輻射源20之間的相對位置的變化，本發明對此並不限制。

參照圖10A和圖10B，任意一個所述第二基板502和所述第一基板501之間的角度能夠被調整。優選地，所述第一基板501和所述第二基板502具有柔性，所述第一基板501和/或所述第二基板502以產生形變的方式改變所述第一基板501和所述第二基板502之間的相對角度。比如說，所述第二基板502能夠發生柔性形變而相對於所述第一基板501向上翻折或是向下翻折。當所述第一基板501和/或所述第二基板502發生柔性形變時，對應的所述參考地主體11的延伸方向發生變化，對應於所述參考地主體11的所述輻射源20相對於其他所述輻射源20的位置發生變化，進而使得所述天線產生的所述微波波束的輻射覆蓋區域被改變。進一步地，相鄰的所述第二基板502相互獨立，以允許使用者單獨調節任意所述第二基板502的延伸方向，以改變對應的所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射方向，且保持其他的所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射方向不變，以利於通過動態地調節所述第二基板502來調節所述天線的檢測區域。優選地，所述第一基板501和所述第二基板502為柔性可變形的PCB板, 如FPC板，所述第一基板501和所述第二基板502的至少一部分能夠被彎折。優選地，所述第一基板501為PCB板，即所述第一基板501為剛性電路板，所述第一基板501不能通過發生形變而改變延伸方向，環繞於所述第一基板501的所述第二基板502為柔性可變形的PCB板，通過調節所述第二基板502的延伸方向而改變所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射方向。應該理解的是，在本發明的其他實施例中，通過在柔性的所述第一基板501的一側設置一剛性固定件的方式，使得所述第一基板501不能通過發生形變而改變延伸方向，以允許使用者僅通過調節所述第二基板502的延伸方向而改變所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射方向。

在本發明的一較佳實施例中，參照附圖11A和11B，所述第一基板501和所述第二第二基板502為PCB板，相鄰的所述第二基板502相互連接，所述反射板70被設置於所述輻射源20相對應的所述參考地主體11，所述反射件70被保持於所述第二基板502，多個所述反射件70相互環繞於所述第一基板501對應的所述輻射源20。優選地，至少一個所述反射件70的所述反射面71朝向所述第二基板502對應的所述輻射源20，即，所述反射件70的所述反射面71反射或約束所述第二基板502對應的所述輻射源20產生的所述微波波束。優選地，至少一個所述反射件70的所述反射面71朝向所述第一基板501對應的所述輻射源20，即，所述反射件70的所述反射面71反射或約束所述第一基板501對應的所述輻射源20產生的所述微波波束。更進一步地，參考圖14   A和圖14B，所述反射件70的所述反射面71與參考地主體11之間的角度能夠被動態地調整，進而所述反射件70能夠動態地改變所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射角度大小和輻射方向，以動態地改變所述天線的檢測區域。優選地，所述反射件70被樞軸地設置於所述參考地10，通過轉動所述反射件70能夠改變所述反射件70的所述反射面71與所述輻射源20之間形成的角度大小，進而改變所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射角度大小和輻射方向。

在本發明的一些實施例中，藉由所述第一基板501和/或所述第二基板502以及所述反射件70調節所述天線產生的所述微波波束的輻射方向和角度。舉例來說，參照圖13A和圖13B，所述第一基板501和所述第二基板502為柔性可變形的PCB板，且至少一所述反射件70以所述反射面71朝向所述第二基板502對應的所述輻射源20的方式被保持於所述第二基板502的一側。也就是說，所述第一基板501和所述第二基板502的至少一部分能夠發生形變而被彎折，以改變對應的所述輻射源20與其他輻射源20的相對位置，同時，藉由所述反射件70反射或約束所述反射件70對應的所述輻射源20產生微波波束，進而所述反射件70、所述第一基板501以及所述第二基板502相互配合以調節所述天線產生的所述微波波束的輻射方向和角度。

在本發明的一較佳實施例中，參照附圖12A和12B，所述天線進一步包括一柔性連接件80，所述柔性連接件80的兩端分別被連接所述第一基板501和所述第二基板502，且所述柔性連接件80分別被電連接對應於所述第一基板501的所述參考地主體11和對應於所述第二基板502的所述參考地主體11。所述柔性連接件80具有柔性，所述柔性連接件80發生柔性形變時，被連接於所述柔性連接件80一端的所述第一基板501和/或所述第二基板502的延伸方向被改變，以改變所述第一基板501和所述第二基板502之間的相對角度，進而調節對應的所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射方向。比如說，所述柔性連接件80能夠發生柔性形變使得所述第二基板502相對於所述第一基板501向上翻折或是向下翻折，對應的所述參考地主體11的延伸方向發生變化，對應於所述參考地主體11的所述輻射源20相對於其他所述輻射源20的位置發生變化，進而使得所述天線產生的所述微波波束的覆蓋區域被改變。優選地，參照圖12A和圖12B，所述第一基板501和所述第二基板502為PCB板。優選地，所述柔性連接件80被可拆卸地安裝於所述第一基板501，使得所述第二基板502被可拆卸地安裝於所述第一基板502，使用者可以根據使用需求通過增加或是減少所述第二基板502的數量的方式選擇所述天線的檢測範圍，進而提高了所述天線的靈活性。

在本發明的一些實施例中，藉由所述柔性連接件80以及所述反射件70調節所述天線產生的所述微波波束的輻射方向。舉例來說，參照圖15A和圖15B，所述第一基板501和所述第二基板502被實施為PCB板，連接所述第一基板501和所述第二基板502的所述柔性連接件80發生形變而改變所述第一基板501和/或所述第二基板502的延伸方向，同時，藉由所述藉由所述反射件70反射或約束所述反射件70對應的所述輻射源20產生微波波束，所述柔性連接件80和所述反射件70相互配合，以調節所述天線產生的所述微波波束的輻射方向和角度。

進一步地，所述天線接收經由所述輻射源20向外輻射的微波波束形成的一回波，並根據接收到的所述回波的頻率變化來確定所述目的地區域內的所述目標物體的運動狀態。具體來說，附圖16中示出了所述類比電路100，其中所述類比電路100為所述天線的每個所述輻射源20和所述參考地10于所述微波波束激勵信號的作用下的等效電氣連接狀態。應該理解的是，每個所述輻射源20對應於一個所述類比電路100。

值得一提的是，所述天線的不同的輻射源20可以向外輻射具有相同頻率的多束所述微波波束，使得所述天線利用多束微波波束同時對不同的目的地區域進行檢測，進而在擴大檢測範圍的同時提高了所述天線的檢測效率。

進一步地，所述天線包括至少一混頻檢波電路200，其中所述混頻檢波電路200的兩端分別被電連接於所述振盪電路單元30和所述輻射源20的所述饋電點21，所述天線接收的所述回波形成一電信號，且所述電信號自所述輻射源20經過與所述輻射源20電連接的所述混頻檢波電路200，從而在後續，根據所述混頻檢波電路200接收的所述電信號獲得所述回波的頻率變化資訊，進而確定所述天線檢測的所述目的地區域內的物體的運動狀態。優選地，所述混頻檢波電路200的具體數量被實施為一個，藉由經過一個所述混頻檢波電路200的所述電信號變化確定所述天線的至少兩個所述輻射源20產生的微波波束所檢測的所述目的地區域內的物體的運動狀態。具體來說，一個所述混頻檢波電路200的一端被電連接於至少兩個所述輻射源20的所述饋電點21，且所述混頻檢波電路200的另一端被電連接於所述振盪電路單元30，所述混頻檢波電路200能夠接收與其電連接的所述輻射源20向外輻射的微波波束形成的回波所產生的所述電信號。

參照附圖16A至圖17B，所述天線進一步包括一功分器300，以允許一信號被分成兩路或是多路輸出或是能將多路所述信號合成一路輸出，應該理解的是，所述信號可以被實施為電信號。參照圖16A和圖16B，所述功分器300的一端被電連接於所述混頻檢波電路200，另一端被電連接於至少兩個所述輻射源20的所述饋電點21。參照圖17A和圖17B，所述功分器300的一端被電連接於所述混頻檢波電路200，另一端被電連接於所述振盪電路單元30。

舉例來說，參考圖16A和圖16B，所述混頻檢波電路200的數量為一個，所述天線的所述輻射源20的數量被實施為三個，一個所述混頻檢測電路200的一端被電連接於三個所述輻射源20的所述饋電點21，且所述混頻檢波電路300的另一端被電連接於所述振盪電路單元30。所述天線的三個所述輻射源20能夠產生三束微波波束，並從三個角度對所述目的地區域進行檢測，即，通過將不同的所述輻射源20佈置於不同的位置或是朝向的方式將能夠擴大了所述天線的檢測範圍，以利於更準確地判斷所述目的地區域內的物體的運動狀態。進一步地，三個所述輻射源20均被電連接於所述振盪電路單元30，使得所述輻射源20向外輻射的微波波束的頻率一致，當三個所述輻射源20的中的每一個所述輻射源20產生的微波波束所形成的所述回波的頻率與對應的所述輻射源20產生的微波波束的頻率保持一致時，經過所述混頻檢波電路200的所述電信號保持不變，即所述混頻檢波電路200不輸出頻率差或相位差的差異電信號；當三個所述輻射源20中的任意一個所述輻射源20產生的微波波束所形成的所述回波的頻率發生變化，經過所述混頻檢波電路200的電信號也隨之變化，進而能夠根據電信號的變化確定所述目的地區域內的物體運動狀態。

在本發明其他的實施例中，所述混頻檢波電路200的具體數量被實施為兩個及以上數量。藉由經過兩個及以上和數量的所述混頻檢波電路200的所述電信號變化確定所述天線的至少兩個所述輻射源20產生的微波波束所檢測的所述目的地區域內的物體的運動狀態。優選地，每一個所述混頻檢波電路200的兩端分別被電連接於一個所述輻射源20的所述饋電點21和所述振盪電路單元30。通過這樣的方式能夠將所述目的地區域劃分成多個子區域，進而通過檢測每個所述子區域的方式縮小所述目的地區域內的物體的運動位置的範圍，進而能夠更準確地確定所述目的地區域內的物體的運動狀態。

舉例來說，參照圖17A和圖17B，當所述天線的所述輻射源20的數量被實施為三個，所述混頻檢波電路200也被實施為三個，三個所述混頻檢波電路200的一端分別被電連接於三個類比電路100所述輻射源20的所述饋電點21，且三個所述混頻檢波電路200的另一端均被電連接於所述振盪電路單元30。所述天線的三個所述輻射源20能夠產生三束微波波束，並從三個角度對所述目的地區域進行檢測，即，通過將不同的所述輻射源20佈置於不同的位置或是朝向的方式能夠將擴大所述天線的檢測範圍，並能夠將所述目的地區域劃分成至少三個子區域進行檢測，根據三個所述混頻檢波電路200接收的電信號能夠確定所述目的地區域內的物體的運動狀態，以及鎖定物體所在的區域範圍，如根據三個所述混頻檢波電路200依接收的電信號輸出的差異電信號，所述目的地區域內的物體的移動方向、移動速度以及移動軌跡能夠被獲取。

具體地，三個所述輻射源20均被電連接於所述振盪電路100，所述輻射源20向外輻射的微波波束的頻率一致，當三個所述輻射源20中的每個所述輻射源20產生的微波波束所形成的所述回波的頻率與對應的所述輻射源20產生的微波波束的頻率保持一致時，經過所述混頻檢波電路200的所述電信號保持不變，即所述混頻檢波電路200不輸出頻率差或相位差的差異電信號；當任意一個所述輻射源20產生的微波波束所形成的所述回波的頻率發生變化，經過與所述輻射源20電連接的所述混頻檢波電路200的電信號也隨之變化，進而能夠確定所述目的地區域內的物體的運動狀態，進一步地，根據所述混頻檢波電路200與所述輻射源20一一對應，進而能夠確定所述目的地區域內的物體在哪一個所述輻射源20形成的微波波束所檢測的區域內發生運動，進一步鎖定運動的物體所在的區域範圍。

更具體地說，當所述天線的三個輻射源20產生的三束微波波束形成了三個輻射區域，且三個輻射區域能夠將所述目的地區域劃分成五個子區域時，一旦經過三個所述混頻檢波電路200中的一個所述混頻檢波電路200的所述電信號產生變化，能夠確定物體在與所述混頻檢波電路200電連接的所述輻射源20產生的微波波束形成的輻射區域內運動；一旦經過三個所述混頻檢測電路200中的兩個所述混頻檢測電路200的所述電信號產生變化時，能夠確定物體在與兩個所述混頻檢波電路200分別電連接的兩個所述輻射源20產生的微波波束形成的輻射區域的重疊區域內運動。通過這樣的方式，不僅能夠確定所述目的地區域內的物體的運動狀態，而且能夠更準確地判斷運動物體的數量和位置分佈，並根據運動物體的位置分佈的變化判斷運動物體的運動軌跡。

進一步地，當提取所述混頻檢波電路200輸出的差異電信號中對應人體呼吸和／或心跳動作的波動信號，以依該波動信號將目的地區域內的運動物體確定為人（活）體時，則運動物體的數量和位置分佈即為目的地區域內人（活）體的數量和分佈，並且目的地區域內人（活）體的呼吸和／或心跳能夠被所述天線監測。

特別地，當所述天線的三個輻射源20產生的三束微波波束覆蓋豎直方向的分層輻射區域時，如獨立覆蓋分成豎直方向的三層的輻射區域，或重疊覆蓋分成豎直方向的四層或五層輻射區域，通過對不同層間的人體的探測結果，能夠確定被探測人體的姿態，如當三層輻射區域均探測到人體的存在，則判斷為被探測人體的姿態應當為站著的姿態，當僅在豎直方向居下的兩層輻射區域探測到人體的存在時，則判斷為被探測人體的姿態應當為坐著的姿態，當僅在豎直方向居下的最下一層輻射區域探測到人體的存在，則判斷為被探測人體的姿態應當為躺著的姿態。

進一步地，當每個所述混頻檢波電路200的兩端分別被連接一個所述輻射源20的所述饋電點21和所述振盪電路單元30時，可以依不同的檢測需求對每個所述輻射源20對應的檢測信號做不同的處理與定義而實現不同的功能與應用，以提高所述天線的適用性。比如說，所述天線被應用於檢測一房間內的使用者的活動狀態，所述天線的多個輻射源20可以分別朝向不同的位置的方式檢測使用者在房間內的不同區域內的活動狀態，並且可以進一步依使用者的活動狀態與所在區域為使用者提供對應不同區域和活動狀態的相應功能與服務，如按需照明，和按使用者狀態和位置的空氣調節等；其中一所述輻射源20通過朝向所述房間內床的位置的方式檢測使用者是否處於睡眠狀態還是處於其他區域內的活動狀態，進一步地，通過對與所述輻射源20電連接的所述混頻檢波電路200輸出的差異電信號進行放大和濾波處理，能夠檢測使用者呼吸和／或心跳的微動動作，以能夠更準確地獲得使用者是否存在於房間和在所述目的地區域內的位置與活動狀態，如依前述分層探測的方式，在檢測到使用者處於躺著的姿態的基礎上，進一步通過對處於躺著的姿態的該使用者的呼吸和／或心跳狀態的檢測判斷該使用者是否已經進入睡眠，以能夠智慧地啟用相應的情景模式所對應的功能與服務，從而提高了所述天線的適用性。

特別地，鑒於所述微波波束不能被人眼可視，為提高所述多波束同頻微波探測天線安裝調試時的便捷性與準確性，還能夠於各所述輻射源20或所述輻射源20的組合所對應的所述微波波束的輻射方向配置相應的光電指示裝置，以藉由所述光電指示裝置在所述多波束同頻微波探測天線被安裝調試時，確定不同的所述輻射源20或所述輻射源20的組合所對應的所述微波波束的輻射方向與覆蓋區域和範圍。

本領域技術人員應當理解，為更好的理解和闡述本發明，本發明的所述天線的應用被舉例說明，其中所述天線的不同應用方式和場景可以相互組合，如在探測人體姿態的同時，能夠監測處於睡姿狀態的人體的呼吸和／或心跳；如依探測到的人體的數量和位置分佈，結合人體的姿態探測，或進一步結合人體的呼吸和／或心跳探測，能夠判斷人（群）體的活動屬性，如聚餐，娛樂、會議等場景。其中不同的應用能夠相互結合而構成本發明的所述天線的應用，本發明不一一例舉。

應該理解的是，在本發明其他的實施例中，所述混頻檢波電路200的數量可以被實施為兩個及以上數量，且所述混頻檢波電路200的具體數量和所述輻射源20的數量不一致，即，所述混頻檢波電路200和所述輻射源20不是一一對應的。比如說，所述輻射源20為四個，對應的所述類比電路100的數量為四個，所述混頻檢波電路200的數量為兩個，其中一個所述混頻檢波電路200的一端被電連接於兩個所述類比電路100，所述混頻檢波電路200的另一端被電連接於所述振盪電路單元30，即，一個所述混頻檢波電路200對應於兩個所述輻射源20。所述混頻檢波電路200接收的對應所述輻射源20產生的微波波束的回波所形成的電信號，進而能夠確定所述目的地區域內的物體在所述輻射源20產生的微波波束形成的輻射區域內的運動狀態，通過這樣的方式也能夠擴大所述天線的檢測區域，提高所述天線的檢測效率。

優選地，參照圖17A和17B，在本發明的一些實施方式中，所述振盪電路單元30被實施為低阻抗振盪電路，對應地，所述天線的所述輻射源20能夠被接地，且所述天線的所述輻射源20接地的一接地點和所述輻射源20的饋電點21之間能夠呈電感特性而具有一定阻抗，以使得所述天線的阻抗降低，進而所述天線接收與輻射微波時的頻寬變窄，以利於降低所述天線接收與輻射的微波波束受到相鄰波段的微波波束的干擾。也就是說，所述振盪電路單元30具有低阻抗，且所述振盪電路單元30能夠為所述天線提供與所述天線的低阻抗相匹配的激勵電流，而使得所述天線能夠產生初始的極化方向並輻射微波。進一步地，所述混頻檢波電路200的兩端分別被電連接於所述輻射源20和所述振盪電路單元30之間，藉由所述混頻檢波電路200適配所述振盪電路單元30的低阻抗輸出和所述天線的對地低阻抗，從而保障所述天線的工作穩定性和可靠性。本領域技術人員應該理解的是，所述振盪電路單元30的具體實施方式僅僅作為示例，不能成為對本發明所述天線的內容及範圍的限制。

依本發明的一個方面，本發明進一步提供所述多波束同頻微波探測天線的製造方法，其中所述製造方法包括如下步驟：

（a）以在至少兩個所述輻射源20和所述參考地10之間形成至少一個所述輻射縫隙40的方式保持至少兩個所述輻射源20於所述參考地10的所述第一側面101；和

（b）電連接所述輻射源20的所述饋電點21於所述振盪電路單元30。

在上述方法中，進一步包括（c）：設置所述參考地10於所述基板50。具體來說，所述參考地10可以通過被貼裝於所述基板50的所述第一側面51的方式被保持於所述基板50的一側。進一步，所述基板50具有柔性，所述基板50能夠發生形變而改變被保持於所述基板50一側的所述參考地10的延伸方向。優選地，所述基板50為柔性可變形的PCB板，所述基板50的至少一部分能夠被彎折。

在上述方法中，進一步包括步驟（d）：設置所述振盪電路單元30於所述基板50。優選地，所述振盪電路單元30被嵌入所述基板50。優選地，所述振盪電路單元30被貼裝於所述基板50的一側。

優選地，在所述步驟（b）之後進一步包括步驟（e）：設置至少一個所述反射件70於所述參考地10，且所述反射件70的所述反射面71朝向所述輻射源20，所述反射件70的所述反射面71與所述輻射源20之間能夠形成夾角，所述反射件70的所述反射面71能夠反射或約束所述輻射源20向外輻射的所述微波波束。優選地，可活動地設置所述反射件70於所述參考地10，通過動態地調節所述反射件70的所述反射面71與所述輻射源20之間形成的夾角大小，進而能夠動態地改變所述微波波束覆蓋的所述檢測區域。優選地，所述反射件70由銅、銅合金或是其他金屬製成。

優選地，在上述方法中，進一步包括步驟：可拆卸地安裝一柔性連接件80於所述基板50的一第一基板501，且可拆卸地安裝所述第二基板502於所述柔性連接件80，使得所述第一基板502被可拆卸地延伸於所述第一基板501。

依本發明的另一個方面，本發明進一步提供所述多波束同頻微波探測天線的檢測方法，其中所述檢測方法包括如下步驟：

（Ⅰ）通過將至少兩個所述輻射源20的所述饋電點21接入所述振盪電路單元30的方式向外輻射具有相同頻率的微波波束；和

（Ⅱ）動態地改變所述輻射源20輻射的所述微波波束的輻射方向和／或角度。

優選地，在所述步驟（Ⅱ）中，進一步包括步驟（Ⅲ）：以改變一基板50的延伸方向的方式改變被設置於所述基板50的所述參考地10的延伸方向，進而改變至少一個輻射源20相對於其他輻射源20的位置，使得所述輻射源20產生的所述微波波束的輻射方向改變。具體來說，所述基板50發生形變而使得基板50的至少一部分的延伸方向改變，進而改變對應的所述參考地主體11的延伸方向，以使得被保持於所述參考地主體11的一側的所述輻射源20相對於其他輻射源20的位置被改變，以實現動態地調整所述多波束同頻微波探測天線的檢測區域。

優選地，在所述步驟（Ⅱ）中，進一步包括步驟（Ⅳ）：藉由所述反射件70的所述反射面71反射或約束所述微波波束。進一步地，動態地調整所述反射件70的所述反射面71與所述輻射源20之間的角度大小，並將所述輻射源20產生的所述微波波束反射或在一個或多個方向進行約束而形成所述檢測區域的改變。

優選地，在所述步驟（Ⅱ）中，進一步包括步驟：所述反射件70和所述基板50相互配合以改變對應的所述輻射源20產生的微波波束的輻射角度大小和輻射方向。

優選地，在所述步驟（Ⅱ）中，進一步包括步驟：改變連接一第一基板501和一第二基板502的一柔性連接件80的延伸方向的方式改變至少一輻射源20相對於其他輻射源20的相對位置，進而改變所述輻射源20產生的微波波束的輻射方向，以調節所述天線的檢測區域。優選地，所述柔性連接件80和所述反射件70相互配合以改變對應的所述輻射源20產生的微波波束的輻射方向和角度。

根據本發明的一較佳實施例，在所述步驟（I）之後進一步包括步驟（ii）：藉由至少一個所述混頻檢波電路200接收對應的至少一個所述輻射源20產生的微波波束的回波所形成的所述電信號。

優選地，在所述步驟（ii）中，每一個所述混頻檢波電路200接收一個所述輻射源20產生的微波波束的回波形成的電信號，藉由經過一個所述混頻檢波電路200的電信號變化確定所述多波束同頻微波探測天線的對應的一個所述輻射源20產生的微波波束對應的所述目的地區域內的物體的運動狀態。

優選地，在所述步驟（ii）中，每一個所述混頻檢波電路接收兩個及以上數量的所述輻射源20產生的回波所形成的所述電信號，藉由經過所述混頻檢波電路200的所述電信號變化確定所述多波束同頻微波探測天線的對應的至少兩個所述輻射源20產生的微波波束對應的所述目的地區域內的物體的運動狀態。

本領域的技術人員可以理解的是，以上實施例僅為舉例，其中不同實施例的特徵可以相互組合，以得到根據本發明揭露的內容很容易想到但是在附圖中沒有明確指出的實施方式。

本領域的技術人員應理解，上述描述及附圖中所示的本發明的實施例只作為舉例而並不限制本發明。本發明的目的已經完整並有效地實現。本發明的功能及結構原理已在實施例中展示和說明，在沒有背離所述原理下，本發明的實施方式可以有任何變形或修改。

10:參考地 11:參考地主體 20:輻射源 21:饋電點 30:振盪電路單元 40:輻射縫隙 50:基板 51:第一側面 52:第二側面 501:第一基板 502:第二基板 60:遮罩罩 70:反射件 71:反射面 80:柔性連接件 100:類比電路 200:混頻檢波電路 300:功分器 A:折線

圖1A是根據本發明的一較佳實施例的一種多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖1B是根據本發明的上述較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的俯視圖示意圖。 圖2A是根據本發明的上述較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的剖視圖示意圖。 圖2B是根據本發明的上述較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的剖視圖示意圖。 圖3A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的剖視圖示意圖。 圖3B是根據本發明的上述佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的剖視圖示意圖。 圖4A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖4B是根據本發明的上述較佳實施例的一種多波束同頻微波探測天線的俯視圖示意圖。 圖5A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖5B是根據本發明的上述較佳實施例的一種多波束同頻微波探測天線的俯視圖示意圖。 圖6A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖6B是根據本發明的上述較佳實施例的一種多波束同頻微波探測天線的俯視圖示意圖。 圖7A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的示意圖。 圖7B是根據本發明的上述較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的示意圖。 圖8A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖8B是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖8C是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖8D是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖9A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖9B是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖9C是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖9D是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖10A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖10B是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖10C是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖10D是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖11A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的立體結構示意圖。 圖11B是根據本發明的上述較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的剖視示意圖。 圖12A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的示意圖。 圖12B是根據本發明的上述較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的示意圖。 圖13A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的示意圖。 圖13B是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的示意圖。 圖14A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的示意圖。 圖14B是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的示意圖。 圖15A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的示意圖。 圖15B是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的示意圖。 圖16A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的電路示意圖。 圖16B是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的電路示意圖。 圖17A是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的電路示意圖。 圖17B是根據本發明的另一較佳實施例的所述多波束同頻微波探測天線的電路示意圖。

10:參考地

11:參考地主體

20:輻射源

21:饋電點

30:振盪電路單元

40:輻射縫隙

50:基板

51:第一側面

52:第二側面

A:折線

Claims (35)

1. 一種多波束同頻微波探測天線，其特徵在於，所述多波束同頻微波探測天線具有一振盪電路單元，且所述多波束同頻微波探測天線包括： 一參考地；以及 至少兩個輻射源，其中所述輻射源具有一饋電點，所述輻射源被間隔地設置於所述參考地，並在每個所述輻射源和所述參考地之間分別形成一輻射縫隙，且所述輻射源的所述饋電點被電連接於所述振盪電路單元。
2. 依申請專利範圍第1項所述的多波束同頻微波探測天線，進一步包括一基板，其中所述參考地被設置於所述基板的一側，所述基板能夠發生形變，以改變所述參考地的延伸方向。
3. 依申請專利範圍第2項所述的多波束同頻微波探測天線，其中所述基板為柔性可變形的PCB板。
4. 依申請專利範圍第2項所述的多波束同頻微波探測天線，其中所述參考地包括和所述輻射源數量對應的一參考地主體，其中所述輻射源被間隔地設置於所述參考地主體，並在每個所述輻射源和對應的所述參考地主體之間分別形成所述輻射縫隙，所述參考地主體被設置於所述基板，通過所述基板發生形變的方式能夠改變所述參考地主體的延伸方向。
5. 依申請專利範圍第4項所述的多波束同頻微波探測天線，進一步包括與所述參考地主體數量相對應的一遮罩罩，所述遮罩罩和所述參考地主體分別被保持於所述基板相對的兩側。
6. 依申請專利範圍第4項所述的多波束同頻微波探測天線，進一步包括與所述參考地主體數量相對應的一遮罩罩，所述遮罩罩和所述參考地主體分別被保持於所述基板的同一側。
7. 依申請專利範圍第5項或第6項所述的多波束同頻微波探測天線，其中各所述參考地主體相互電性連接。
8. 依申請專利範圍第5項或第6項所述的多波束同頻微波探測天線，其中各所述參考地主體一體成型為一整體導電金屬層。
9. 依申請專利範圍第4項所述的多波束同頻微波探測天線，其中所述基板包括一第一基板和多第二基板，多個所述第二基板相互間隔地延伸於所述第一基板，至少一個所述參考地主體被設置於所述第一基板，至少一個所述參考地主體被設置於所述第二基板，其中所述第一基板和每個所述第二基板之間的角度能夠被調節。
10. 依申請專利範圍第1項所述的多波束同頻微波探測天線，進一步包括一基板和一柔性連接件，所述基板包括一第一基板和至少一第二基板，所述參考地包括和所述輻射源數量對應的一參考地主體，至少一個所述參考地主體被設置於所述第一基板，至少一個所述參考地主體被設置於所述第二基板，所述柔性連接件的兩端分別被連接所述第一基板和所述第二基板，且所述柔性連接件分別被電連接對應於所述第一基板的所述參考地主體和對應於所述第二基板的所述參考地主體，所述柔性連接件發生變形時，被連接於所述柔性連接件的所述第一基板和/或所述第二基板的延伸方向被改變。
11. 依申請專利範圍第9項或第10項所述的多波束同頻微波探測天線，其中所述第一基板為PCB板，所述第二基板為柔性可變形的PCB板。
12. 依申請專利範圍第9項或第10項所述的多波束同頻微波探測天線，其中所述第一基板和所述第二基板為柔性可變形的PCB板。
13. 依申請專利範圍第1項至第12項任一項所述的多波束同頻微波探測天線，進一步包括一反射件，其中所述反射件具有一反射面，所述反射件被設置於所述參考地，所述反射件的所述反射面和所述輻射源之間形成夾角，且所述反射件的所述反射面能夠改變所述輻射源產生的微波波束的輻射角度和方向。
14. 依申請專利範圍第13項所述的多波束同頻微波探測天線，其中所述反射件被可活動地設置於所述參考地。
15. 依申請專利範圍第13項所述的多波束同頻微波探測天線，其中所述反射件的長度大於等於所述輻射源的邊長的長度。
16. 依申請專利範圍第15項所述的多波束同頻微波探測天線，其中所述反射件的寬度為參數γ，所述參數γ的取值範圍為：1/16λ≤γ≤λ。
17. 依申請專利範圍第16項所述的多波束同頻微波探測天線，其中所述反射件由金屬製成。
18. 依申請專利範圍第1項至第17項任一項所述的多波束同頻微波探測天線，進一步包括至少一混頻檢波電路，其中所述混頻檢波電路的兩端分別電連接於所述振盪電路單元和所述輻射源的所述饋電點。
19. 依申請專利範圍第18項所述的多波束同頻微波探測天線，其中每一個所述混頻檢波電路的一端被電連接於一個所述輻射源的所述饋電點，所述混頻檢波電路的另一端被電連接於所述振盪電路單元。
20. 依申請專利範圍第18項所述的多波束同頻微波探測天線，其中每一個所述混頻檢波電路的一端被電連接於至少兩個所述輻射源的所述饋電點，所述混頻檢波電路的另一端被電連接於所述振盪電路單元。
21. 依申請專利範圍第18項至第20項任一項所述的多波束同頻微波探測天線，其中所述多波束同頻微波探測天線的所述輻射源被接地。
22. 一種多波束同頻微波探測天線的製造方法，其特徵在於，所述製造方法包括如下步驟： （a）以在至少兩個輻射源和所述參考地之間分別形成一輻射縫隙的方式保持至少兩個所述輻射源於一參考地；和 （b）電連接所述輻射源的一饋電點於一振盪電路單元。
23. 依申請專利範圍第22項所述的製造方法，在上述方法中，進一步包括步驟：設置所述參考地於一基板，其中在所述基板發生變形時，所述參考地的延伸方向被改變，以形成不同的所述輻射源之間相對位置的變化。
24. 依申請專利範圍第22項或第23項所述的製造方法，在上述方法中，進一步包括步驟：以一反射件的一反射面朝向所述輻射源的方式設置所述反射件於所述參考地。
25. 依申請專利範圍第24項所述的製造方法，在上述方法中，進一步包括步驟：以一反射件的一反射面朝向所述輻射源的方式可活動地設置所述反射件於所述參考地。
26. 依申請專利範圍第22項所述的製造方法，在上述方法中，進一步包括步驟：可拆卸地安裝至少一柔性連接件於所述基板的一第一基板以連接所述基板的至少一第二基板於所述第一基板。
27. 一種多波束同頻微波探測天線的檢測方法，其特徵在於，所述檢測方法包括步驟（Ⅰ）：通過以至少兩個輻射源的一饋電點被接入一振盪電路單元的方式向外輻射具有相同頻率的至少兩微波波束。
28. 依申請專利範圍第27項所述的檢測方法，進一步包括步驟（Ⅱ）：動態地改變所述微波波束的輻射方向。
29. 依申請專利範圍第28項所述的檢測方法，其中所述步驟（Ⅱ）中進步一包括步驟（Ⅲ）：以一基板發生形變的方式改變至少一個所述輻射源相對於其他所述輻射源的位置而改變對應的微波波束的輻射方向。
30. 依申請專利範圍第28項或第29項所述的檢測方法，其中所述步驟（Ⅱ）中進步一包括步驟（Ⅳ）：藉由一反射件的一反射面改變所述微波波束的輻射角度和方向。
31. 依申請專利範圍第30項所述的檢測方法，其中所述步驟（Ⅳ）中進一步包括步驟：改變所述反射件的所述反射面與所述輻射源之間形成的夾角大小而改變對應該輻射源的所述微波波束的輻射角度和方向。
32. 依申請專利範圍第28項至第31項任一項所述的檢測方法，其中所述步驟（Ⅱ）中進步一包括步驟：以一柔性連接件發生形變的方式一第一基板和至少一第二基板之間的相對位置，進而調節對應的所述輻射源向外輻射的所述微波波束的輻射方向。
33. 依申請專利範圍第27項至第32項任一項所述的檢測方法，其中在所述步驟（I）之後進一步包括步驟（ii）：藉由至少一個混頻檢波電路接收至少一個所述輻射源產生的微波的回波所形成的一電信號。
34. 依申請專利範圍第33項所述的檢測方法，其中在所述步驟（ii）中，每一個所述混頻檢波電路接收一個所述輻射源產生的微波的回波所形成的所述電信號。
35. 依申請專利範圍第33項所述的檢測方法，其中在所述步驟（ii）中，每一個所述混頻檢波電路接收對應的兩個及以上數量的所述輻射源產生的回波形成的所述電信號。

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