CN209514047U - 多波束同频微波探测天线 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线具有一振荡电路单元，且所述多波束同频微波探测天线包括一参考地以及至少两个辐射源，其中所述辐射源具有一馈电点，所述辐射源被间隔地设置于所述参考地，并在每个所述辐射源和所述参考地之间分别形成一辐射缝隙，且所述辐射源的所述馈电点被电连接于所述振荡电路单元。

Description

多波束同频微波探测天线

技术领域

本实用新型涉及微波天线领域，特别涉及一多波束同频微波探测天线。

背景技术

近年来，随着微波技术的发展，应用微波技术的产品也越来越多的出现在市场上，比如说，微波探测器。常见的微波探测器能够发射微波，并接收反射回来的微波信号，利用多普勒效应原理探测目标区域内是否有运动的物体。微波探测器对反射微波的物体的移动具有较高的敏感度，并且，微波探测器产生的微波信号不受环境温度和湿度等因素的影响，相较于红外线探测器而言，具有较高的可靠性。因此，微波探测器被广泛应用于工业生产和我们的日常生活中，比如说，车辆测速，超市自动门、自动灯、自动盥洗等。

现有的微波探测器利用一天线发射一特定频率的微波波束，以在一目标区域内检测所述目标区域内的物体的运动状态，当遇到静止的物体时，所述天线接收到的返回的微波的频率不变，当所述天线发出的微波遇到运动的物体时，所述天线接收到的微波的频率发生变化，以供在后续根据频率的变化计算出物体的运动状态，比如说物体的具体位置、移动速度、移动方向。但是，现有的微波探测器在被应用于检测目标区域内的物体的运动状态的过程中，仍然存在不少问题。

首先，所述微波探测器产生的微波辐射到的区域固定，即，微波探测器的检测区域有限，仅仅利用一个所述天线难以全面地检测所述目标区域内的物体的运动状态，进而会影响检测结果的准确性。

其次，尽管借助两个或以上数量的所述微波探测器能够扩大所述微波探测器的检测区域，即通过增加微波探测器数量，并将不同的所述微波探测器分布于不同的位置，来扩大检测区域，如通过多个微波探测器以分层、分区间、分角度的的方式覆盖不同的探测空间，以实现对探测空间的分层、分区间、分角度的探测，从而获取移动物体于探测空间的位置和分布，并依此计算移动物体的移动轨迹、移动方向和移动速度等信息，进而实现对移动物体的轨迹预测、行为目的判断和状态判断。然而，需要计算多个所述微波探测器发射的微波和接收的微波的频率变化才能判断所述目标区域内的物体的运动状态，所述微波探测器的数量越多，必然需要复杂的信号传输与连接，计算的数据以及算法就越复杂，并且需要配置额外的信息处理中心，增加了成本的同时难以准确获得所述目标区域内的物体的运动状态。

另外，在现有技术中，被设置于不同区域内的所述微波探测器具有各自独立的电路，不同微波探测器的电路通过电线被接入到外部的电路中，通过变化的电场产生变化的磁场，而变化的磁场又产生变化的电场，这样，变化的电场和变化的磁场相互依赖，并且相互激发，而且变化的电场和变化的磁场交替产生，进而产生了微波，且所述天线向外辐射微波。但是由于不同电路中的电器元件的参数存在差异，所述微波探测器向外辐射的微波的频率难以实现一致和同步，当不同的微波探测器对同一个目标区域进行检测时，一方面各微波探测器所发射的微波会相互干扰，另一方面，不同微波探测器辐射的微波的检测区域出现重合时，在重合区域内，各微波探测器所发射的微波的频率难以一致，或即便频率一致也可能会出现一个天线辐射的微波处于波峰，另一个天线辐射的微波处于波谷类的相位不一致的状况，在后续的计算过程中，需要运用繁琐的算法来解决接收到的微波的频率的相关参数，比如说，要计算接收到的不同的所述微波的频率差的参数。这样，更加增大了获得所述目标区域内的物体的运动状态的难度。而且，在现阶段中，本领域技术人员难以得到准确的算法，同时复杂的计算逻辑会造成所述微波探测器的计算时间较长，造成获取所述目标区域内的物体的运动状态的时间被滞后，进而影响所述微波探测器在检测所述目标区域内的物体运动时的准确性。

因此，微波探测器的数量的增加必然会增加增加成本以及将多个微波探测器连接为一个系统的复杂性，同时，被分布安装以覆盖同一区域的微波探测器之间会产生相互干扰，而被集中安装的微波探测器在工作时，各微波探测器所辐射的微波波束除主波瓣以外的副波瓣(如旁波瓣、后波瓣)之间也会产生相互干扰以致微波探测器不能正常工作。

实用新型内容

本实用新型的一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线包括至少两个辐射源，所述辐射源被电连接于同一振荡电路单元中，进而不同的所述辐射源能够向外辐射具有相同频率的微波波束，使得所述多波束同频微波探测天线同时向外发射多束具有相同频率且能各自独立探测或组合探测的微波波束。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线利用具有相同频率的多束所述微波波束形成的一检测区域覆盖一目标区域，并对所述目标区域进行检测，以获得所述目标区域内的目标物体的运动状态。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线能够同时向外发射多束具有相同频率的微波波束，以能够避免各微波波束在发射和接收时产生相互干扰，从而更可靠地获取所述目标区域内的所述目标物体的运动状态。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线利用具有相同频率的多束微波波束同时检测多个所述目标检测区域，在扩大所述多波束同频微波探测天线的检测范围的同时，提高了所述多波束同频微波探测天线的检测效率。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线向外辐射的相互独立的所述微波波束具有相同频率，以在计算所述目标物体的运动状态时，不同的所述微波波束的频率参数被统一，进而有利于简化获取所述目标物体的运动状态的相关算法。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述微波波束形成的所述检测区域能够被动态地调整，进而通过改变所述微波波束形成的所述检测区域的方式更准确地确定所述目标物体在所述目标区域内的位置和分布。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中同频的各微波波束形成的所述检测区域能够被动态地调整，以使得所述多波束同频微波探测天线能够获取所述目标区域的所述目标物体的位置和分布，并依此计算所述目标物体的移动轨迹、移动方向和移动速度等运动状态。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线能够获取所述目标物体于所述目标区域的运动状态，以能够根据探测到的所述目标物体的运动状态预测所述目标物体的运动目的，从而在所述目标物体为人体时实现对人体姿态的分析与判断及行为目的的预测。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述微波波束的辐射方向和辐射角度能够被改变，进而使得所述微波波束形成的所述检测区域被动态地调节。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中至少一个所述辐射源相对其他所述辐射源的位置能够被调整，进而改变所述辐射源向外辐射的所述微波波束的辐射方向。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线提供一参考地，所述辐射源被间隔地设置于所述参考地，通过改变所述参考地的延伸方向的方式改变所述辐射源的朝向，进而改变所述辐射源向外辐射的所述微波波束的辐射方向。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述多波束探测天线提供一基板，所述参考地被设置于所述基板，所述基板发生形变的同时改变所述参考地的延伸方向，进而改变被保持于所述参考地的一侧的所述辐射源产生的所述微波波束的辐射方向。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述参考地包括与所述辐射源的数量相对应的至少两个参考地主体，其中所述参考地主体被设置于所述基板，通过调节所述基板的延伸方向的方式改变所述参考地主体的延伸方向，以改变所述辐射源的朝向。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线进一步包括一反射件，其中所述反射件在所述辐射源的一侧被可活动地保持于与所述辐射源相对应的所述参考地，通过改变所述反射件的一反射面与所述辐射源之间的相对角度的方式调整所述辐射源向外辐射的所述微波波束的辐射角度大小和辐射方向。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中同时藉由所述反射件和所述基板改变至少一个所述辐射源相对于其他所述辐射源的位置，以调整所述多波束同频微波探测天线产生的微波波束所覆盖的区域。

本实用新型的另一个目的在于提供一多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线包括一混频检波电路，所述混频检波电路被分别连接于所述辐射源和所述振荡电路单元，所述混频检波电路接收对应的所述辐射源发射的微波波束和接收的回波分别产生的电信号，并通过所述电信号的变化确定所述多波束同频微波探测天线检测的所述目标区域内的物体的运动状态。

依本实用新型的一个方面，本实用新型进一步提供一多波束同频微波探测天线，所述多波束同频微波探测天线具有一振荡电路单元，且所述多波束同频微波探测天线包括：

一参考地；以及

至少两个辐射源，其中所述辐射源具有一馈电点，所述辐射源被间隔地设置于所述参考地，并在每个所述辐射源和所述参考地之间分别形成一辐射缝隙，且所述辐射源的所述馈电点被电连接于所述振荡电路单元。

根据本实用新型的一实施例，所述多波束同频微波探测天线进一步包括一基板，其中所述参考地被设置于所述基板的一侧，所述基板能够发生形变，并改变所述参考地的延伸方向。

根据本实用新型的一实施例，所述基板为柔性可变形的PCB板。

根据本实用新型的一实施例，所述参考地包括和所述辐射源数量对应的一参考地主体，其中所述辐射源被间隔地设置于所述参考地主体，并在每个所述辐射源和对应的所述参考地主体之间分别形成所述辐射缝隙，所述参考地主体被设置于所述基板，通过所述基板发生形变的方式改变所述参考地主体的延伸方向。

根据本实用新型的一实施例，所述多波束同频微波探测天线进一步包括与所述参考地主体数量相对应的一屏蔽罩，所述屏蔽罩和所述参考地主体分别被保持于所述基板相对的两侧，以保障所述参考地主体对应于所述辐射源的部分始终被保持于一平面，且始终保持平整。

根据本实用新型的一实施例，所述屏蔽罩和所述参考地主体被保持于所述基板的同一侧，以保障所述参考地主体对应于所述辐射源的部分始终被保持于一平面，且始终保持平整。

根据本实用新型的一实施例，各所述参考地主体相互电性连接。

根据本实用新型的一实施例，各所述参考地主体一体成型为一整体导电金属层。

根据本实用新型的一实施例，所述基板包括一第一基板和多个第二基板，多个所述第二基板相互间隔地延伸于所述第一基板，至少一个所述参考地主体被设置于所述第一基板，至少一个所述参考地主体被设置于所述第二基板，其中所述第一基板和每个所述第二基板之间的角度能够被调节。

根据本实用新型的一实施例，所述的多波束同频微波探测天线进一步包括一基板和一柔性连接件，所述基板包括一第一基板和至少一第二基板，所述参考地包括和所述辐射源数量对应的一参考地主体，至少一个所述参考地主体被设置于所述第一基板，至少一个所述参考地主体被设置于所述第二基板，所述柔性连接件的两端分别被连接所述第一基板和所述第二基板，且所述柔性连接件分别被电连接对应于所述第一基板的所述参考地主体和对应于所述第二基板的所述参考地主体，所述柔性连接件发生变形时，被连接于所述柔性连接件的所述第一基板和/或所述第二基板的延伸方向被改变。

根据本实用新型的一实施例，所述第一基板为PCB板，所述第二基板为柔性可变形的PCB板。

根据本实用新型的一实施例，所述第一基板和所述第二基板为柔性可变形的 PCB板。

根据本实用新型的一实施例，所述多波束同频微波探测天线进一步包括一反射件，其中所述反射件具有一反射面，所述反射件被设置于所述参考地，所述反射件的所述反射面和所述辐射源之间形成夹角，且所述反射件的所述反射面能够改变所述辐射源产生的微波波束的辐射方向。

根据本实用新型的一实施例，所述反射件被可活动地设置于所述参考地。

根据本实用新型的一实施例，所述反射件的长度大于等于所述辐射源的边长的长度。

根据本实用新型的一实施例，所述反射件的宽度为参数γ，所述参数γ的取值范围为：1/16λ≤γ≤λ。

根据本实用新型的一实施例，所述反射件由金属制成。

根据本实用新型的一实施例，所述多波束同频微波探测天线进一步包括至少一混频检波电路，其中所述混频检波电路的两端分别电连接于所述振荡电路单元和所述辐射源的所述馈电点。

根据本实用新型的一实施例，每一个所述混频检波电路的一端被电连接于一个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

根据本实用新型的一实施例，每一个所述混频检波电路的一端被电连接于至少两个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

根据本实用新型的一实施例，所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

附图说明

图1A是根据本实用新型的一较佳实施例的一多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图1B是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的俯视图示意图。

图2A是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的剖视图示意图。

图2B是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的剖视图示意图。

图3A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的剖视图示意图。

图3B是根据本实用新型的上述佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的剖视图示意图。

图4A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图4B是根据本实用新型的上述较佳实施例的一多波束同频微波探测天线的俯视图示意图。

图5A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图5B是根据本实用新型的上述较佳实施例的一多波束同频微波探测天线的俯视图示意图。

图6A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图6B是根据本实用新型的上述较佳实施例的一多波束同频微波探测天线的俯视图示意图。

图7A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图7B是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图7C是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图7D是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图8A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图8B是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图8C是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图8D是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图9A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图9B是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图9C是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图9D是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图10A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图10B是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图11A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的立体结构示意图。

图11B是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的剖视示意图。

图12A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图12B是根据本实用新型的上述较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图13A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图13B是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图14A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图14B是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图15A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图15B是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的示意图。

图16A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的电路示意图。

图16B是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的电路示意图。

图17A是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的电路示意图。

图17B是根据本实用新型的另一较佳实施例的所述多波束同频微波探测天线的电路示意图。

具体实施方式

以下描述用于揭露本实用新型以使本领域技术人员能够实现本实用新型。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本实用新型的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本实用新型的精神和范围的其他技术方案。

本领域技术人员应理解的是，在本实用新型的揭露中，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系是基于附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术语不能理解为对本实用新型的限制。

可以理解的是，术语“一”应理解为“至少一”或“一个或多个”，即在一个实施例中，一个元件的数量可以为一个，而在另外的实施例中，该元件的数量可以为多个，术语“一”不能理解为对数量的限制。

参照说明书附图1A至图2B，根据本实用新型的一较佳实施例的一多波束同频微波探测天线将在接下来的描述中被阐述，其中所述天线能够被应用于检测一目标区域，并获得所述目标区域内的一目标物体的运动信息。进一步地，所述天线能够向外辐射频率相同的至少两束独立的微波波束，所述微波波束形成一检测区域，通过以所述检测区域覆盖所述目标区域的方式检测所述目标区域内的所述目标物体的运动状态。具体来说，所述天线向外辐射的所述微波波束具有一特定频率，所述微波波束达到所述目标区域内，当所述目标区域内的所述目标物体为静止状态时，所述天线接收到的返回的所述微波波束仍然保持所述特定频率，当所述目标区域内的所述目标物体处于运动状态时，所述天线接收到的所述微波波束的频率发生变化，以供在后续根据所述微波波束变化的相关数据计算得到所述目标区域内的所述目标物体的运动状态。

参考图1A至图2B，所述天线包括一参考地10和至少两个辐射源20，其中各所述辐射源20具有一馈电点21，所述辐射源20被间隔地设置于所述参考地 10，并在每个所述辐射源20和所述参考地10之间分别形成一辐射缝隙40。更进一步地，所述天线具有一振荡电路单元30，所述辐射源20的所述馈电点21 被电连接于所述振荡电路单元30，其中所述振荡电路单元30传输微波波束激励电信号，进而所述辐射源20的所述馈电点21能够被接入微波波束激励电信号。进一步地，当所述微波波束激励电信号自所述馈电点21被接入所述辐射源20后，所述天线产生在所述辐射源20处向外辐射所述微波波束，藉由所述微波波束能够对所述目标区域进行检测，并获得所述目标区域内的所述目标物体的运动状态。值得一提的是，不同的所述辐射源20的所述馈电点21被电连接于同一个所述振荡电路单元30，使得不同的所述辐射源20向外辐射的所述微波波束具有相同的频率。这样，一方面避免了不同的所述辐射源20在发射所述微波波束和接收相应的回波时的相互干扰，另一方面，在后续计算所述目标物体的运动状态时，不同的所述微波波束的频率参数被统一，进而有利于简化获取所述目标物体的运动状态的相关算法，提高所述天线获得所述目标区域内的所述目标物体的运动状态的性能。

进一步地，所述辐射源20的所述馈电点21偏离所述辐射源20的物理中心，以降低所述辐射源20对所述振荡电路单元30产生的微波波束激励电信号的激励电流的强度要求，从而当所述振荡电路单元30产生的所述微波波束激励电信号自所述辐射源20的所述馈电点21被接入所述辐射源20时，所述辐射源20更容易产生与形成初始的极化方向。

本领域技术人员应当理解，为得到相互独立的具有相同频率的微波波束，优选地，各所述辐射源20具有不同的工作极化方向，即各所述辐射源20的物理中心至所述馈电点21的连线方向不同，也就是说，在本实用新型的描述中，具有相同极化方向的辐射源，以及由多个或多组呈阵列分布的辐射源以满足不同的辐射角度、辐射距离以及增益要求的辐射源组合视为本实用新型的描述中的一个所述辐射源20。

值得一提的是，所述天线的所述辐射源20的形状不受限制，所述辐射源20 的形状可以被实施为但不限于多边形、圆形或是椭圆形中的一种或是多种的组合。另外，所述天线的所述辐射源20的延伸方向也不受限制，尽管在本实用新型的说明书附图中示出的所述辐射源20的延伸方向与所述参考地的延伸方向一致，但是在本实用新型其他的实施例中，所述辐射源20也可以被实施为所述参考地10的延伸方向相互垂直。本领域技术人员应该知晓的是，所述天线的所述辐射源20的具体实施方式仅仅作为示例，不能成为本实用新型所述天线的内容和范围的限制。

参考图1A至图2B，所述天线进一步包括一基板50，其中所述基板50包括一第一侧面51和一第二侧面52，所述参考地10以贴装于所述电路基本50的方式被保持于所述基板50的所述第一侧面51，所述振荡电路单元30被设置于所述基板50。优选地，所述振荡电路单元30被嵌入所述基板50的所述第一侧面 51和第二侧面52之间。优选地，所述振荡电路单元30被保持于所述基板50的所述第二侧面52。所述参考地10具有良好的导电性，且所述参考地10的具体材质不受限制，所述参考地10可以由铜、铜合金等导电材质制成的金属层。应该理解的是，所述参考地10的具体实施方式不受限制。

进一步地，所述天线的所述辐射源20产生的所述微波波束的方向和角度能够被动态地调节，进而动态地改变所述微波波束形成的所述检测区域。一方面，通过动态地调整所述微波波束的辐射方向能够扩大所述天线的所述检测区域。比如说，通过改变所述天线的两个所述辐射源20中的一个所述辐射源20产生的所述微波波束的方式可以减小两个所述辐射源20产生的所述微波波束的重叠区域，进而能够扩大所述天线的所述检测区域。另一方面，通过调节所述微波波束的辐射方向更准确地确定所述目标物体在所述目标区域内的准确位置和运动状态。比如说，当确定所述目标物体位于两个辐射源20辐射的两个所述微波波束所形成的重叠区域内的时，改变所述天线的两个辐射源20中的一个所述辐射源 20产生的所述微波波束的辐射方向减小两个所述微波波束的重叠区域，进而有利于更准确地确定所述目标物体在所述目标区域内的具体位置。并且，所述天线的所述辐射源20产生的所述微波波束具有相同的频率，进而简化了利用所述辐射源20产生的所述微波波束获取所述目标物体的运动状态的时间，有利于减少所述天线的响应时间，以提高获取所述目标物体的运动状态的效率和准确度。

值得一提的是，具有不同的极化方向的所述辐射源20辐射的所述微波波束及反射的对应回波能够相互独立工作而互不干扰，即各所述微波波束能够独立获取各自的检测结果，进而得到所述目标物体的数量及各目标物体的分布位置、移动方向，移动速度等数据。

具体来说，在本实用新型的一些具体的实施例中，参照图1A至图6B所示，所述天线能够藉由所述基板50发生形变的方式改变被设置于所述基板50的所述参考地10的延伸方向，进而改变所述辐射源20的朝向，并动态地调整所述辐射源20产生的所述微波波束的辐射方向。具体来说，所述参考地10包括和所述辐射源20数量相对应的至少两个相互连接的所述参考地主体11，所述辐射源20 以在所述辐射源20和对应的所述参考地主体11之间形成所述辐射缝隙40的方式被间隔地设置于所述参考地主体11。所述参考地主体11被设置于所述基板50 的所述第一侧面51。优选地，相邻的所述参考地主体11分别电性相连。优选地，各个所述参考地主体11一体成型为一整体导电金属层。进一步地，所述基板50 能够发生形变，且被设置于所述基板50的所述参考地主体11能够随所述基板50的变化而改变延伸方向，进而改变被设置于所述参考地主体11的所述辐射源 20的朝向，以动态地调节所述辐射源20产生的所述微波波束的辐射方向。

优选地，所述基板50具有柔性，且所述基板50的任意部分能够发生柔性形变，以使得被设置于所述基板50的任意一个所述参考地主体11发生形变，进而改变至少一个所述辐射源20的朝向，从而动态地调整至少一个所述辐射源20与其他所述辐射源20的相对位置，以改变所述多波束探测天线产生的至少一束微波波束的辐射方向。比如说，当处于水平状态的所述基板50发生柔性形变，且所述基板50的一部分沿着一折线A向下弯折，与所述基板50向下弯折部分相对应的所述参考地主体11的延伸方向由水平状态变成倾斜向下延伸，进而对应于所述参考地主体11的所述辐射源20的朝向被改变。从而，通过使得所述基板 50发生变形的方式动态地调整所述天线形成的所述微波波束的辐射方向，进而调整所述多波探测天线的检测区域。优选地，一个所述参考地主体11相对于另外一个所述参考地主体11向下活动的角度为参数α，所述参数α小于等于 90°，即，所述基板50能够发生形变向上弯折的角度小于等于90°，且所述基板50能够发生形变向下弯折的角度小于等于90°。

优选地，所述基板50被实施为柔性可变形的PCB板，如FPC板，所述振荡电路单元30被嵌入所述基板50。

参照图3A和图3B，在本实用新型的一较佳实施例中，所述天线包括和所述参考地主体11数量对应的一屏蔽罩60，相邻的所述屏蔽罩60被相互间隔地保持于所述基板50的所述第二侧面52，所述屏蔽罩60对应于所述参考地10的所述参考地主体11，即，所述参考地主体11和所述屏蔽罩60分别被保持于所述基板50同一部分相对应的两侧。所述屏蔽罩60能够保障所述参考地主体11对应于所述辐射源20的部分始终被保持于一平面，且始终保持平整。具体来说，当所述基板50发生形变时，所述屏蔽罩60不会发生形变，且所述屏蔽罩60使得所述基板50对应于所述屏蔽罩60的位置不会发生形变，进而，所述参考地主体11对应于所述屏蔽罩60的位置不会发生形变而被始终被保持于同一平面，有利于避免所述参考地主体11的变化对所述辐射源20的干扰。也就是说，仅所述基板50对应于相邻的所述屏蔽罩60之间的部分能够发生形变，进而改变所述参考地主体11的延伸方向以及所述辐射源20的辐射方向。

可以理解的是，所述屏蔽罩60还可以与对应的所述参考地主体11被设置于所述基板50的同一侧，如所述屏蔽罩60也被设置于所述基板50的所述第一侧面51，同时与该所述参考地主体11对应的所述辐射源20于所述基板50的所述第二侧面52或所述第二侧面52所对应的空间维持与所述参考地主体11相间隔地被设置，则所述屏蔽罩60同样能够保障所述参考地主体11对应于所述辐射源 20的部分始终被保持于一平面，且始终保持平整。从而当所述基板50发生形变时，所述屏蔽罩60不会发生形变，且所述屏蔽罩60使得所述基板50对应于所述屏蔽罩60的位置不会发生形变，则使得所述基板50对应于相邻的所述屏蔽罩 60之间的部分能够发生形变，进而改变所述参考地主体11的延伸方向以改变所述辐射源20的辐射方向。

特别地，所述屏蔽罩60在保障所述参考地主体11对应于所述辐射源20的部分始终被保持于一平面，且始终保持平整的同时，还能够降低对应所述辐射源 20的副波瓣对相应的所述微波波束的干扰，因此，在本实用新型的一些实施例中，所述屏蔽罩60还能够被实施为硬质板材，以仅保障所述参考地主体11对应于所述辐射源20的部分始终被保持于一平面，且始终保持平整，从而在所述基板50对应于相邻的所述屏蔽罩60之间的部分发生形变时，使得所述辐射源20 的辐射方向被改变。

参照说明书附图1A至图3B，所述天线的所述辐射源20的具体数量为两个，所述参考地主体11的具体数量为两个，两个所述辐射源20分别被间隔地设置于对应的所述参考地主体11。两个所述参考地主体11并排地保持于所述基板50 的所述第一侧面51。当所述基板50平行于水平面时，两个所述参考地主体11 的延伸方向相同，且位于同一平面，当所述基板50对应于相邻的所述屏蔽罩60 之间的部分发生形变时，至少一个所述参考地主体11的延伸方向被改变。

优选地，通过所述基板50发生形变的方式使得两个所述参考地主体11中一个所述参考地主体11能够相对于另外一个所述参考地主体11被向上翻转或是向下翻转，即，两个辐射源20中的一个所述辐射源20的辐射方向被改变，进而改变所述天线的产生的一束微波波束的辐射方向，以改变所述天线的所述检测区域。优选地，通过使得所述基板50发生形变的方式使得两个所述参考地主体11 同时相对地运动，进而改变所述天线的产生的两束微波波束的辐射方向，以改变所述天线的所述检测区域。举例来说，两个所述参考地主体11处于同一平面，即，两个所述参考地主体之间呈180°，所述基板50发生形变使得两个所述参考地主体11之间的夹角变小，进而两个所述辐射源20相互靠近，使得所述辐射源20产生的微波波束覆盖的重叠区域被增大；当所述参考地主体11之间的夹角增大，使得两个所述辐射源20相互远离，进而所述辐射源20产生的所述微波波束覆盖的重叠区域被减小。

参照图4A和图4B，在本实用新型的其他实施例中，所述天线的所述辐射源 20的具体数量为三个，所述参考地主体11的具体数量为三个，通过所述基板50 发生形变的方式以改变至少一个所述参考地主体12的延伸方向，进而改变对应的所述辐射源20与其他所述辐射源20之间的相对位置，以调整所述辐射源20 产生的所述微波波束的辐射方向。优选地，间隔地保持于所述参考地主体11的三个所述辐射源20可以相互间隔地并排设置。优选地，间隔地保持于所述参考地10的三个所述辐射源20可以相互间隔地并列设置。优选地，间隔地保持于所述参考地10的三个所述辐射源20可以相互间隔地呈三角形分布。应该理解的是，所述辐射源20的分布方式仅仅作为示例，不能成为对本实用新型所述的内容和范围的限制。

值得一提的是，所述辐射源20和所述参考地主体11的具体数量也可以被实施为四个、五个或是更多个，其中至少一个所述辐射源20相对于其他辐射源20 的位置能够被改变，进而改变所述辐射源20产生的所述微波波束的辐射方向，参照图5A至图6B。并且，应该理解的是，说明书附图及描述中所阐述的所述辐射源20被保持于所述参考地10一侧的方式仅仅作为示例，不能成为对本实用新型所述天线的内容及范围的限制，所述辐射源20可以被实施为相互环绕地保持于所述参考地10的一侧，也可以被实施为成列或是成行地间隔设置于所述参考地10。

参照图7A至图9D，在本实用新型的一些较佳实施例中，所述天线进一步包括至少一反射件70，所述反射件70具有一反射面71，其中所述反射件70被设置于与所述辐射源20相对应的所述参考地主体11，且所述反射件70被保持于所述辐射源20的一侧。进一步地所述反射面71与所述辐射源20之间形成夹角，其中所述反射面71与所述辐射源20之间的夹角的变化能够形成对应的所述辐射源20所产生的所述微波波束的辐射角度大小和辐射方向的变化。优选地，所述反射件70由金属材质制成，所述反射件70可以被实施为铜、铜合金等材质制得的金属板。

更进一步地，所述反射件70被可活动地设置于所述辐射源20相对应的所述参考地主体11，且所述反射件70的所述反射面71与参考地主体11之间的角度能够被动态地调整，以在某个或多个方向对相应的所述微波波束进行约束而改变所述微波波束的辐射角度大小和辐射方向，即所述反射件70能够动态地改变所述辐射源20产生的所述微波波束的辐射角度大小和辐射方向，以动态地改变所述天线的检测区域。

优选地，所述反射件70被枢轴地设置于所述参考地10，通过转动所述反射件70能够改变所述反射件70的所述反射面71与所述辐射源20之间形成的角度大小，进而改变所述辐射源20产生的所述微波波束的辐射角度大小和辐射方向。举例来说，当所述反射件70以所述反射面71朝向所述辐射源20的方式转动时，所述反射面71靠近所述辐射源20，所述反射面71与所述辐射源20之间的角度减小，能够增大所述辐射源20产生的所述微波波束形成的重叠区域；当所述反射件70以所述反射面71远离所述辐射源20的方式转动时，所述反射面71与所述辐射源20相互远离，所述反射面71与所述辐射源20之间的角度增大，能够减小所述辐射源20产生的所述微波波束覆盖的重叠区域，进而动态地调整所述天线的所述检测区域。值得一提的是，调整所述反射件70的所述反射面71与所述辐射源20之间的角度的方式仅仅作为示例，不能成为对本实用新型所述天线的内容和范围的限制。

所述反射件70的具体数量不受限制，所述反射件70的所述反射面71可以被实施为反射或约束一个所述辐射源20向外辐射的所述微波波束，也可以被实施为改变至少两个所述辐射源20向外辐射的所述微波波束的辐射角度大小和辐射方向。

优选地，所述反射件70的数量被实施为一个，参照图7A至图7D。举例来说，被设置于所述参考地主体11的所述反射件70以所述反射面71朝向所述辐射源20的方式被设置于至少两个所述辐射源20中的一个所述辐射源20的一侧，所述反射件70位于至少两个位于所述辐射源20之间，且所述反射件70的所述反射面71靠近所述辐射源20，所述反射件70的所述反射面71和相对应的所述辐射源20之间形成夹角。通过动态地调整所述反射面71和所述辐射源20之间的角度大小能够改变所述辐射源20的产生的所述微波波束的辐射角度大小和辐射方向。进一步地，通过动态地调整一个辐射源20向外辐射的所述微波波束的辐射方向和辐射角度能够动态地改变所述天线的所述检测区域。

参照图8A至图8D，在本实用新型其他的实施例中，所述反射件70的数量被实施为一个，且所述反射件70以所述反射面71朝向所述辐射源20的方式被设置于所述参考地10的所述参考地主体11，所述反射面71能够和至少一个所述辐射源20之间形成夹角，以反射所述辐射源20产生的微波波束，进而改变所述天线的所述检测区域。进一步地，所述反射面71和所述辐射源20之间的夹角能够被动态地调整，即，所述反射件70的所述反射面71能够动态地反射至少一个所述辐射源20产生的所述微波波束，进而改变所述微波波束的辐射角度大小和辐射方向，以改变所述天线的所述检测区域。

优选地，所述反射件70的数量和所述辐射源20的数量相一致，参照图9A 至图9D。比如说，参照图9A，两个所述反射件70被设置于与所述辐射源20相对应的所述参考地主体11，两个所述反射件70分别以所述反射面71与所述辐射源20相对应的方式被保持于两个所述辐射源20的两侧，且所述反射件70的所述反射面71能够分别地与相对应的所述辐射源20之间形成夹角。可选地，所述反射件70被保持于两个所述辐射源20之间。可选地，两个所述反射件70被保持于所述参考地10的相对的两侧。值得一提的是，所述反射件70和所述辐射源20的具体数量仅仅作为示例，所述反射件70的数量不受限制，所述反射件 70可以被实施为三个，四个，五个甚至更多。

优选地，所述反射件70的长度大于等于所述辐射源20的长边的长度，所述反射件70的宽度为参数γ，所述参数γ的取值范围为：1/16λ≤γ≤λ，其中参数λ为所述辐射源20能够接收或是产生的所述微波波束的波长。

根据本实用新型的一些较佳实施例，参照附图10A至图15B，其中所述基板 50进一步包括一第一基板501和多个第二基板502，其中多个所述第二基板502 相互间隔地延伸于所述第一基板501，且多个所述第二基板502环绕于所述第一基板501的周缘。至少一个所述参考地主体11被设置于所述第一基板501，所述辐射源20被间隔地保持于所述参考地主体11的一侧，并在所述参考地主体 11和所述辐射源20之间形成所述辐射间隙40。至少一个所述参考地主体11被设置于所述第二基板502，并在所述参考地主体11和所述辐射源20之间形成所述辐射间隙40。每个所述辐射源20的所述馈电点21均被电连接于同一个所述振荡电路单元30，使得不同的所述辐射源20向外辐射的所述微波波束具有相同的频率。进一步地，所述辐射源20向外辐射的所述微波波束的辐射方向和角度能够被调节，一方面，有利于扩大所述天线的检测区域，另一方面，有利于提高所述天线的检测效率和准确性。

特别地，所述第二基板502的数量并不限制，且在本实用新型的一些实施例中，所述第一基板501可以不设置所述辐射源20和/或所述参考地主体11，也就是说，通过所述第一基板501和所述第二基板502之间的柔性连接能够形成所述第一基板501的所述辐射源20相对于所述第二基板502的所述辐射源20的位置的变化，以及不同的所述第二基板502的所述辐射源20之间的相对位置的变化，而在所述第一基板501并未被设置所述辐射源20和/或所述参考地主体11 时，仍能够通过所述第一基板501和所述第二基板502之间的柔性连接，形成不同的所述第二基板502的所述辐射源20之间的相对位置的变化，本实用新型对此并不限制。

参照图10A和图10B，任意一个所述第二基板502和所述第一基板501之间的角度能够被调整。优选地，所述第一基板501和所述第二基板502具有柔性，所述第一基板501和/或所述第二基板502以产生形变的方式改变所述第一基板 501和所述第二基板502之间的相对角度。比如说，所述第二基板502能够发生柔性形变而相对于所述第一基板501向上翻折或是向下翻折。当所述第一基板 501和/或所述第二基板502发生柔性形变时，对应的所述参考地主体11的延伸方向发生变化，对应于所述参考地主体11的所述辐射源20相对于其他所述辐射源20的位置发生变化，进而使得所述天线产生的所述微波波束的辐射覆盖区域被改变。进一步地，相邻的所述第二基板502相互独立，以允许使用者单独调节任意所述第二基板502的延伸方向，以改变对应的所述辐射源20产生的所述微波波束的辐射方向，且保持其他的所述辐射源20产生的所述微波波束的辐射方向不变，以利于通过动态地调节所述第二基板502来调节所述天线的检测区域。优选地，所述第一基板501和所述第二基板502为柔性可变形的PCB板,如FPC 板，所述第一基板501和所述第二基板502的至少一部分能够被弯折。优选地，所述第一基板501为PCB板，即所述第一基板501为刚性电路板，所述第一基板501不能通过发生形变而改变延伸方向，环绕于所述第一基板501的所述第二基板502为柔性可变形的PCB板，通过调节所述第二基板502的延伸方向而改变所述辐射源20产生的所述微波波束的辐射方向。应该理解的是，在本实用新型的其他实施例中，通过在柔性的所述第一基板501的一侧设置一刚性固定件的方式，使得所述第一基板501不能通过发生形变而改变延伸方向，以允许使用者仅通过调节所述第二基板502的延伸方向而改变所述辐射源20产生的所述微波波束的辐射方向。

在本实用新型的一较佳实施例中，参照附图11A和11B，所述第一基板501 和所述第二基板502为PCB板，相邻的所述第二基板502相互连接，所述反射板 70被设置于所述辐射源20相对应的所述参考地主体11，所述反射件70被保持于所述第二基板502，多个所述反射件70相互环绕于所述第一基板501对应的所述辐射源20。优选地，至少一个所述反射件70的所述反射面71朝向所述第二基板502对应的所述辐射源20，即，所述反射件70的所述反射面71反射或约束所述第二基板502对应的所述辐射源20产生的所述微波波束。优选地，至少一个所述反射件70的所述反射面71朝向所述第一基板501对应的所述辐射源 20，即，所述反射件70的所述反射面71反射或约束所述第一基板501对应的所述辐射源20产生的所述微波波束。更进一步地，参考图14A和图14B，所述反射件70的所述反射面71与参考地主体11之间的角度能够被动态地调整，进而所述反射件70能够动态地改变所述辐射源20产生的所述微波波束的辐射角度大小和辐射方向，以动态地改变所述天线的检测区域。优选地，所述反射件70被枢轴地设置于所述参考地10，通过转动所述反射件70能够改变所述反射件70 的所述反射面71与所述辐射源20之间形成的角度大小，进而改变所述辐射源 20产生的所述微波波束的辐射角度大小和辐射方向。

在本实用新型的一些实施例中，藉由所述第一基板501和/或所述第二基板 502以及所述反射件70调节所述天线产生的所述微波波束的辐射方向和角度。举例来说，参照图13A和图13B，所述第一基板501和所述第二基板502为柔性可变形的PCB板，且至少一所述反射件70以所述反射面71朝向所述第二基板 502对应的所述辐射源20的方式被保持于所述第二基板502的一侧。也就是说，所述第一基板501和所述第二基板502的至少一部分能够发生形变而被弯折，以改变对应的所述辐射源20与其他辐射源20的相对位置，同时，藉由所述反射件 70反射或约束所述反射件70对应的所述辐射源20产生微波波束，进而所述反射件70、所述第一基板501以及所述第二基板502相互配合以调节所述天线产生的所述微波波束的辐射方向和角度。

在本实用新型的一较佳实施例中，参照附图12A和12B，所述天线进一步包括一柔性连接件80，所述柔性连接件80的两端分别被连接所述第一基板501和所述第二基板502，且所述柔性连接件80分别被电连接对应于所述第一基板501 的所述参考地主体11和对应于所述第二基板502的所述参考地主体11。所述柔性连接件80具有柔性，所述柔性连接件80发生柔性形变时，被连接于所述柔性连接件80一端的所述第一基板501和/或所述第二基板502的延伸方向被改变，以改变所述第一基板501和所述第二基板502之间的相对角度，进而调节对应的所述辐射源20产生的所述微波波束的辐射方向。比如说，所述柔性连接件80能够发生柔性形变使得所述第二基板502相对于所述第一基板501向上翻折或是向下翻折，对应的所述参考地主体11的延伸方向发生变化，对应于所述参考地主体11的所述辐射源20相对于其他所述辐射源20的位置发生变化，进而使得所述天线产生的所述微波波束的覆盖区域被改变。优选地，参照图12A和图12B，所述第一基板501和所述第二基板502为PCB板。优选地，所述柔性连接件80 被可拆卸地安装于所述第一基板501，使得所述第二基板502被可拆卸地安装于所述第一基板502，使用者可以根据使用需求通过增加或是减少所述第二基板502的数量的方式选择所述天线的检测范围，进而提高了所述天线的灵活性。

在本实用新型的一些实施例中，藉由所述柔性连接件80以及所述反射件70 调节所述天线产生的所述微波波束的辐射方向。举例来说，参照图15A和图15B，所述第一基板501和所述第二基板502被实施为PCB板，连接所述第一基板501 和所述第二基板502的所述柔性连接件80发生形变而改变所述第一基板501和/ 或所述第二基板502的延伸方向，同时，藉由所述藉由所述反射件70反射或约束所述反射件70对应的所述辐射源20产生微波波束，所述柔性连接件80和所述反射件70相互配合，以调节所述天线产生的所述微波波束的辐射方向和角度。

进一步地，所述天线接收经由所述辐射源20向外辐射的微波波束形成的一回波，并根据接收到的所述回波的频率变化来确定所述目标区域内的所述目标物体的运动状态。具体来说，附图16A中示出了所述模拟电路100，其中所述模拟电路100为所述天线的每个所述辐射源20和所述参考地10于所述微波波束激励信号的作用下的等效电气连接状态。应该理解的是，每个所述辐射源20对应于一个所述模拟电路100。

值得一提的是，所述天线的不同的辐射源20可以向外辐射具有相同频率的多束所述微波波束，使得所述天线利用多束微波波束同时对不同的目标区域进行检测，进而在扩大检测范围的同时提高了所述天线的检测效率。

进一步地，所述天线包括至少一混频检波电路200，其中所述混频检波电路 200的两端分别被电连接于所述振荡电路单元30和所述辐射源20的所述馈电点 21，所述天线接收的所述回波形成一电信号，且所述电信号自所述辐射源20经过与所述辐射源20电连接的所述混频检波电路200，从而在后续，根据所述混频检波电路200接收的所述电信号获得所述回波的频率变化信息，进而确定所述天线检测的所述目标区域内的物体的运动状态。优选地，所述混频检波电路200 的具体数量被实施为一个，藉由经过一个所述混频检波电路200的所述电信号变化确定所述天线的至少两个所述辐射源20产生的微波波束所检测的所述目标区域内的物体的运动状态。具体来说，一个所述混频检波电路200的一端被电连接于至少两个所述辐射源20的所述馈电点21，且所述混频检波电路200的另一端被电连接于所述振荡电路单元30，所述混频检波电路200能够接收与其电连接的所述辐射源20向外辐射的微波波束形成的回波所产生的所述电信号。

参照附图16A至图17B，所述天线进一步包括一功分器300，以允许一信号被分成两路或是多路输出或是能将多路所述信号合成一路输出，应该理解的是，所述信号可以被实施为电信号。参照图16A和图16B，所述功分器300的一端被电连接于所述混频检波电路200，另一端被电连接于至少两个所述辐射源20的所述馈电点21。参照图17A和图17B，所述功分器300的一端被电连接于所述混频检波电路200，另一端被电连接于所述振荡电路单元30。

举例来说，参考图16A和图16B，所述混频检波电路200的数量为一个，所述天线的所述辐射源20的数量被实施为三个，一个所述混频检测电路200的一端被电连接于三个所述辐射源20的所述馈电点21，且所述混频检波电路300的另一端被电连接于所述振荡电路单元30。所述天线的三个所述辐射源20能够产生三束微波波束，并从三个角度对所述目标区域进行检测，即，通过将不同的所述辐射源20布置于不同的位置或是朝向的方式将能够扩大了所述天线的检测范围，以利于更准确地判断所述目标区域内的物体的运动状态。进一步地，三个所述辐射源20均被电连接于所述振荡电路单元30，使得所述辐射源20向外辐射的微波波束的频率一致，当三个所述辐射源20的中的每一个所述辐射源20产生的微波波束所形成的所述回波的频率与对应的所述辐射源20产生的微波波束的频率保持一致时，经过所述混频检波电路200的所述电信号保持不变，即所述混频检波电路200不输出频率差或相位差的差异电信号；当三个所述辐射源20中的任意一个所述辐射源20产生的微波波束所形成的所述回波的频率发生变化，经过所述混频检波电路200的电信号也随之变化，进而能够根据电信号的变化确定所述目标区域内的物体运动状态。

在本实用新型其他的实施例中，所述混频检波电路200的具体数量被实施为两个及以上数量。藉由经过两个及以上和数量的所述混频检波电路200的所述电信号变化确定所述天线的至少两个所述辐射源20产生的微波波束所检测的所述目标区域内的物体的运动状态。优选地，每一个所述混频检波电路200的两端分别被电连接于一个所述辐射源20的所述馈电点21和所述振荡电路单元30。通过这样的方式能够将所述目标区域划分成多个子区域，进而通过检测每个所述子区域的方式缩小所述目标区域内的物体的运动位置的范围，进而能够更准确地确定所述目标区域内的物体的运动状态。

举例来说，参照图17A和图17B，当所述天线的所述辐射源20的数量被实施为三个，所述混频检波电路200也被实施为三个，三个所述混频检波电路200 的一端分别被电连接于三个模拟电路100所述辐射源20的所述馈电点21，且三个所述混频检波电路200的另一端均被电连接于所述振荡电路单元30。所述天线的三个所述辐射源20能够产生三束微波波束，并从三个角度对所述目标区域进行检测，即，通过将不同的所述辐射源20布置于不同的位置或是朝向的方式能够将扩大所述天线的检测范围，并能够将所述目标区域划分成至少三个子区域进行检测，根据三个所述混频检波电路200接收的电信号能够确定所述目标区域内的物体的运动状态，以及锁定物体所在的区域范围，如根据三个所述混频检波电路200依接收的电信号输出的差异电信号，所述目标区域内的物体的移动方向、移动速度以及移动轨迹能够被获取。

具体地，三个所述辐射源20均被电连接于所述振荡电路100，所述辐射源 20向外辐射的微波波束的频率一致，当三个所述辐射源20中的每个所述辐射源 20产生的微波波束所形成的所述回波的频率与对应的所述辐射源20产生的微波波束的频率保持一致时，经过所述混频检波电路200的所述电信号保持不变，即所述混频检波电路200不输出频率差或相位差的差异电信号；当任意一个所述辐射源20产生的微波波束所形成的所述回波的频率发生变化，经过与所述辐射源20电连接的所述混频检波电路200的电信号也随之变化，进而能够确定所述目标区域内的物体的运动状态，进一步地，根据所述混频检波电路200与所述辐射源20一一对应，进而能够确定所述目标区域内的物体在哪一个所述辐射源20形成的微波波束所检测的区域内发生运动，进一步锁定运动的物体所在的区域范围。

更具体地说，当所述天线的三个辐射源20产生的三束微波波束形成了三个辐射区域，且三个辐射区域能够将所述目标区域划分成五个子区域时，一旦经过三个所述混频检波电路200中的一个所述混频检波电路200的所述电信号产生变化，能够确定物体在与所述混频检波电路200电连接的所述辐射源20产生的微波波束形成的辐射区域内运动；一旦经过三个所述混频检测电路200中的两个所述混频检测电路200的所述电信号产生变化时，能够确定物体在与两个所述混频检波电路200分别电连接的两个所述辐射源20产生的微波波束形成的辐射区域的重叠区域内运动。通过这样的方式，不仅能够确定所述目标区域内的物体的运动状态，而且能够更准确地判断运动物体的数量和位置分布，并根据运动物体的位置分布的变化判断运动物体的运动轨迹。

进一步地，当提取所述混频检波电路200输出的差异电信号中对应人体呼吸和/或心跳动作的波动信号，以依该波动信号将目标区域内的运动物体确定为人 (活)体时，则运动物体的数量和位置分布即为目标区域内人(活)体的数量和分布，并且目标区域内人(活)体的呼吸和/或心跳能够被所述天线监测。

特别地，当所述天线的三个辐射源20产生的三束微波波束覆盖竖直方向的分层辐射区域时，如独立覆盖分成竖直方向的三层的辐射区域，或重叠覆盖分成竖直方向的四层或五层辐射区域，通过对不同层间的人体的探测结果，能够确定被探测人体的姿态，如当三层辐射区域均探测到人体的存在，则判断为被探测人体的姿态应当为站着的姿态，当仅在竖直方向居下的两层辐射区域探测到人体的存在时，则判断为被探测人体的姿态应当为坐着的姿态，当仅在竖直方向居下的最下一层辐射区域探测到人体的存在，则判断为被探测人体的姿态应当为躺着的姿态。

进一步地，当每个所述混频检波电路200的两端分别被连接一个所述辐射源 20的所述馈电点21和所述振荡电路单元30时，可以依不同的检测需求对每个所述辐射源20对应的检测信号做不同的处理与定义而实现不同的功能与应用，以提高所述天线的适用性。比如说，所述天线被应用于检测一房间内的使用者的活动状态，所述天线的多个辐射源20可以分别朝向不同的位置的方式检测使用者在房间内的不同区域内的活动状态，并且可以进一步依使用者的活动状态与所在区域为使用者提供对应不同区域和活动状态的相应功能与服务，如按需照明，和按使用者状态和位置的空气调节等；其中一所述辐射源20通过朝向所述房间内床的位置的方式检测使用者是否处于睡眠状态还是处于其他区域内的活动状态，进一步地，通过对与所述辐射源20电连接的所述混频检波电路200输出的差异电信号进行放大和滤波处理，能够检测使用者呼吸和/或心跳的微动动作，以能够更准确地获得使用者是否存在于房间和在所述目标区域内的位置与活动状态，如依前述分层探测的方式，在检测到使用者处于躺着的姿态的基础上，进一步通过对处于躺着的姿态的该使用者的呼吸和/或心跳状态的检测判断该使用者是否已经进入睡眠，以能够智能地启用相应的情景模式所对应的功能与服务，从而提高了所述天线的适用性。

特别地，鉴于所述微波波束不能被人眼可视，为提高所述多波束同频微波探测天线安装调试时的便捷性与准确性，还能够于各所述辐射源20或所述辐射源 20的组合所对应的所述微波波束的辐射方向配置相应的光电指示装置，以藉由所述光电指示装置在所述多波束同频微波探测天线被安装调试时，确定不同的所述辐射源20或所述辐射源20的组合所对应的所述微波波束的辐射方向与覆盖区域和范围。

本领域技术人员应当理解，为更好的理解和阐述本实用新型，本实用新型的所述天线的应用被举例说明，其中所述天线的不同应用方式和场景可以相互组合，如在探测人体姿态的同时，能够监测处于睡姿状态的人体的呼吸和/或心跳；如依探测到的人体的数量和位置分布，结合人体的姿态探测，或进一步结合人体的呼吸和/或心跳探测，能够判断人(群)体的活动属性，如聚餐，娱乐、会议等场景。其中不同的应用能够相互结合而构成本实用新型的所述天线的应用，本实用新型不一一例举。

应该理解的是，在本实用新型其他的实施例中，所述混频检波电路200的数量可以被实施为两个及以上数量，且所述混频检波电路200的具体数量和所述辐射源20的数量不一致，即，所述混频检波电路200和所述辐射源20不是一一对应的。比如说，所述辐射源20为四个，对应的所述模拟电路100的数量为四个，所述混频检波电路200的数量为两个，其中一个所述混频检波电路200的一端被电连接于两个所述模拟电路100，所述混频检波电路200的另一端被电连接于所述振荡电路单元30，即，一个所述混频检波电路200对应于两个所述辐射源20。所述混频检波电路200接收的对应所述辐射源20产生的微波波束的回波所形成的电信号，进而能够确定所述目标区域内的物体在所述辐射源20产生的微波波束形成的辐射区域内的运动状态，通过这样的方式也能够扩大所述天线的检测区域，提高所述天线的检测效率。

优选地，参照图17A和17B，在本实用新型的一些实施方式中，所述振荡电路单元30被实施为低阻抗振荡电路，对应地，所述天线的所述辐射源20能够被接地，且所述天线的所述辐射源20接地的一接地点和所述辐射源20的馈电点 21之间能够呈电感特性而具有一定阻抗，以使得所述天线的阻抗降低，进而所述天线接收与辐射微波时的频宽变窄，以利于降低所述天线接收与辐射的微波波束受到相邻波段的微波波束的干扰。也就是说，所述振荡电路单元30具有低阻抗，且所述振荡电路单元30能够为所述天线提供与所述天线的低阻抗相匹配的激励电流，而使得所述天线能够产生初始的极化方向并辐射微波。进一步地，所述混频检波电路200的两端分别被电连接于所述辐射源20和所述振荡电路单元 30之间，藉由所述混频检波电路200适配所述振荡电路单元30的低阻抗输出和所述天线的对地低阻抗，从而保障所述天线的工作稳定性和可靠性。本领域技术人员应该理解的是，所述振荡电路单元30的具体实施方式仅仅作为示例，不能成为对本实用新型所述天线的内容及范围的限制。

本领域的技术人员可以理解的是，以上实施例仅为举例，其中不同实施例的特征可以相互组合，以得到根据本实用新型揭露的内容很容易想到但是在附图中没有明确指出的实施方式。

本领域的技术人员应理解，上述描述及附图中所示的本实用新型的实施例只作为举例而并不限制本实用新型。本实用新型的目的已经完整并有效地实现。本实用新型的功能及结构原理已在实施例中展示和说明，在没有背离所述原理下，本实用新型的实施方式可以有任何变形或修改。

Claims (57)

1.多波束同频微波探测天线，其特征在于，所述多波束同频微波探测天线具有一振荡电路单元，且所述多波束同频微波探测天线包括：

一参考地；以及

至少两个辐射源，其中所述辐射源具有一馈电点，所述辐射源被间隔地设置于所述参考地，并在每个所述辐射源和所述参考地之间分别形成一辐射缝隙，且所述辐射源的所述馈电点被电连接于所述振荡电路单元。

2.根据权利要求1所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括一基板，其中所述参考地被设置于所述基板的一侧，所述基板能够发生形变，以改变所述参考地的延伸方向。

3.根据权利要求2所述的多波束同频微波探测天线，其中所述基板为柔性可变形的PCB板。

4.根据权利要求2所述的多波束同频微波探测天线，其中所述参考地包括和所述辐射源数量对应的一参考地主体，其中所述辐射源被间隔地设置于所述参考地主体，并在每个所述辐射源和对应的所述参考地主体之间分别形成所述辐射缝隙，所述参考地主体被设置于所述基板，通过所述基板发生形变的方式能够改变所述参考地主体的延伸方向。

5.根据权利要求4所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括与所述参考地主体数量相对应的一屏蔽罩，所述屏蔽罩和所述参考地主体分别被保持于所述基板相对的两侧。

6.根据权利要求4所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括与所述参考地主体数量相对应的一屏蔽罩，所述屏蔽罩和所述参考地主体分别被保持于所述基板的同一侧。

7.根据权利要求5所述的多波束同频微波探测天线，其中各所述参考地主体相互电性连接。

8.根据权利要求6所述的多波束同频微波探测天线，其中各所述参考地主体相互电性连接。

9.根据权利要求5所述的多波束同频微波探测天线，其中各所述参考地主体一体成型为一整体导电金属层。

10.根据权利要求6所述的多波束同频微波探测天线，其中各所述参考地主体一体成型为一整体导电金属层。

11.根据权利要求4所述的多波束同频微波探测天线，其中所述基板包括一第一基板和多第二基板，多个所述第二基板相互间隔地延伸于所述第一基板，至少一个所述参考地主体被设置于所述第一基板，至少一个所述参考地主体被设置于所述第二基板，其中所述第一基板和每个所述第二基板之间的角度能够被调节。

12.根据权利要求1所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括一基板和一柔性连接件，所述基板包括一第一基板和至少一第二基板，所述参考地包括和所述辐射源数量对应的一参考地主体，至少一个所述参考地主体被设置于所述第一基板，至少一个所述参考地主体被设置于所述第二基板，所述柔性连接件的两端分别被连接所述第一基板和所述第二基板，且所述柔性连接件分别被电连接对应于所述第一基板的所述参考地主体和对应于所述第二基板的所述参考地主体，所述柔性连接件发生变形时，被连接于所述柔性连接件的所述第一基板和/或所述第二基板的延伸方向被改变。

13.根据权利要求11所述的多波束同频微波探测天线，其中所述第一基板为PCB板，所述第二基板为柔性可变形的PCB板。

14.根据权利要求12所述的多波束同频微波探测天线，其中所述第一基板为PCB板，所述第二基板为柔性可变形的PCB板。

15.根据权利要求11所述的多波束同频微波探测天线，其中所述第一基板和所述第二基板为柔性可变形的PCB板。

16.根据权利要求12所述的多波束同频微波探测天线，其中所述第一基板和所述第二基板为柔性可变形的PCB板。

17.根据权利要求1至16任一所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括一反射件，其中所述反射件具有一反射面，所述反射件被设置于所述参考地，所述反射件的所述反射面和所述辐射源之间形成夹角，且所述反射件的所述反射面能够改变所述辐射源产生的微波波束的辐射角度和方向。

18.根据权利要求17所述的多波束同频微波探测天线，其中所述反射件被可活动地设置于所述参考地。

19.根据权利要求17所述的多波束同频微波探测天线，其中所述反射件的长度大于等于所述辐射源的边长的长度。

20.根据权利要求19所述的多波束同频微波探测天线，其中所述反射件的宽度为参数γ，所述参数γ的取值范围为：1/16λ≤γ≤λ。

21.根据权利要求20所述的多波束同频微波探测天线，其中所述反射件由金属制成。

22.根据权利要求1至16任一所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括至少一混频检波电路，其中所述混频检波电路的两端分别电连接于所述振荡电路单元和所述辐射源的所述馈电点。

23.根据权利要求17所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括至少一混频检波电路，其中所述混频检波电路的两端分别电连接于所述振荡电路单元和所述辐射源的所述馈电点。

24.根据权利要求18所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括至少一混频检波电路，其中所述混频检波电路的两端分别电连接于所述振荡电路单元和所述辐射源的所述馈电点。

25.根据权利要求19所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括至少一混频检波电路，其中所述混频检波电路的两端分别电连接于所述振荡电路单元和所述辐射源的所述馈电点。

26.根据权利要求20所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括至少一混频检波电路，其中所述混频检波电路的两端分别电连接于所述振荡电路单元和所述辐射源的所述馈电点。

27.根据权利要求21所述的多波束同频微波探测天线，进一步包括至少一混频检波电路，其中所述混频检波电路的两端分别电连接于所述振荡电路单元和所述辐射源的所述馈电点。

28.根据权利要求22所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于一个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

29.根据权利要求23所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于一个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

30.根据权利要求24所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于一个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

31.根据权利要求25所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于一个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

32.根据权利要求26所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于一个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

33.根据权利要求27所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于一个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

34.根据权利要求22所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于至少两个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

35.根据权利要求23所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于至少两个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

36.根据权利要求24所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于至少两个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

37.根据权利要求25所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于至少两个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

38.根据权利要求26所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于至少两个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

39.根据权利要求27所述的多波束同频微波探测天线，其中每一个所述混频检波电路的一端被电连接于至少两个所述辐射源的所述馈电点，所述混频检波电路的另一端被电连接于所述振荡电路单元。

40.根据权利要求22所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

41.根据权利要求23所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

42.根据权利要求24所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

43.根据权利要求25所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

44.根据权利要求26所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

45.根据权利要求27所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

46.根据权利要求28所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

47.根据权利要求29所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

48.根据权利要求30所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

49.根据权利要求31所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

50.根据权利要求32所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

51.根据权利要求33所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

52.根据权利要求34所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

53.根据权利要求35所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

54.根据权利要求36所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

55.根据权利要求37所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

56.根据权利要求38所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。

57.根据权利要求39所述的多波束同频微波探测天线，其中所述多波束同频微波探测天线的所述辐射源被接地。