TW201825610A - 光吸收層、光電轉換元件及太陽能電池 - Google Patents
光吸收層、光電轉換元件及太陽能電池 Download PDFInfo
- Publication number
- TW201825610A TW201825610A TW106115577A TW106115577A TW201825610A TW 201825610 A TW201825610 A TW 201825610A TW 106115577 A TW106115577 A TW 106115577A TW 106115577 A TW106115577 A TW 106115577A TW 201825610 A TW201825610 A TW 201825610A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- absorbing layer
- band gap
- light
- perovskite compound
- gap energy
- Prior art date
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims abstract description 92
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 title claims abstract description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 63
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 title claims description 50
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 13
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 136
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 claims abstract description 131
- -1 halogen anion Chemical group 0.000 claims description 59
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 23
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 21
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 20
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims description 16
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 16
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 150000002367 halogens Chemical group 0.000 claims description 11
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 claims description 8
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 8
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M Bromide Chemical compound [Br-] CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 5
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 5
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 4
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 claims description 4
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical group [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 3
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 claims description 3
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-M iodide Chemical compound [I-] XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- 239000002798 polar solvent Substances 0.000 claims description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 2
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 45
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 35
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 27
- 229940049964 oleate Drugs 0.000 description 24
- XCAUINMIESBTBL-UHFFFAOYSA-N lead(ii) sulfide Chemical class [Pb]=S XCAUINMIESBTBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 19
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 17
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 17
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 15
- WRIDQFICGBMAFQ-UHFFFAOYSA-N (E)-8-Octadecenoic acid Natural products CCCCCCCCCC=CCCCCCCC(O)=O WRIDQFICGBMAFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- LQJBNNIYVWPHFW-UHFFFAOYSA-N 20:1omega9c fatty acid Natural products CCCCCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O LQJBNNIYVWPHFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- QSBYPNXLFMSGKH-UHFFFAOYSA-N 9-Heptadecensaeure Natural products CCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O QSBYPNXLFMSGKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000005642 Oleic acid Substances 0.000 description 14
- ZQPPMHVWECSIRJ-UHFFFAOYSA-N Oleic acid Natural products CCCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O ZQPPMHVWECSIRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- QXJSBBXBKPUZAA-UHFFFAOYSA-N isooleic acid Natural products CCCCCCCC=CCCCCCCCCC(O)=O QXJSBBXBKPUZAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- ZQPPMHVWECSIRJ-KTKRTIGZSA-N oleic acid Chemical compound CCCCCCCC\C=C/CCCCCCCC(O)=O ZQPPMHVWECSIRJ-KTKRTIGZSA-N 0.000 description 14
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 13
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 12
- 239000013110 organic ligand Substances 0.000 description 12
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 11
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 11
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 11
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 9
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 9
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 9
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 8
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 8
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 8
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 8
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 8
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 8
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 8
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 7
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 7
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 7
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 7
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 6
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 6
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 6
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 5
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 238000007611 bar coating method Methods 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 238000007607 die coating method Methods 0.000 description 5
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 5
- 238000007756 gravure coating Methods 0.000 description 5
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 5
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 5
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 5
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 5
- YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N (2,5-dioxopyrrolidin-1-yl) 4-pyren-1-ylbutanoate Chemical compound C=1C=C(C2=C34)C=CC3=CC=CC4=CC=C2C=1CCCC(=O)ON1C(=O)CCC1=O YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QGLWBTPVKHMVHM-KTKRTIGZSA-N (z)-octadec-9-en-1-amine Chemical compound CCCCCCCC\C=C/CCCCCCCCN QGLWBTPVKHMVHM-KTKRTIGZSA-N 0.000 description 4
- YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 4-Butyrolactone Chemical compound O=C1CCCO1 YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-O Methylammonium ion Chemical compound [NH3+]C BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 4
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004833 X-ray photoelectron spectroscopy Methods 0.000 description 4
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 4
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 4
- NIHNNTQXNPWCJQ-UHFFFAOYSA-N fluorene Chemical compound C1=CC=C2CC3=CC=CC=C3C2=C1 NIHNNTQXNPWCJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- HWSZZLVAJGOAAY-UHFFFAOYSA-L lead(II) chloride Chemical compound Cl[Pb]Cl HWSZZLVAJGOAAY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- 150000002892 organic cations Chemical class 0.000 description 4
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 4
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 4
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 4
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 4
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920000742 Cotton Polymers 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 3
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 description 3
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 3
- 238000005119 centrifugation Methods 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 3
- 150000002220 fluorenes Chemical class 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 3
- 229910021392 nanocarbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N nitrogen Substances N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 3
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 3
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 3
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 3
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- RMVRSNDYEFQCLF-UHFFFAOYSA-N thiophenol Chemical compound SC1=CC=CC=C1 RMVRSNDYEFQCLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 3
- DLFVBJFMPXGRIB-UHFFFAOYSA-N Acetamide Chemical compound CC(N)=O DLFVBJFMPXGRIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 102100025490 Slit homolog 1 protein Human genes 0.000 description 2
- 101710123186 Slit homolog 1 protein Proteins 0.000 description 2
- 102100027340 Slit homolog 2 protein Human genes 0.000 description 2
- 101710133576 Slit homolog 2 protein Proteins 0.000 description 2
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- HQABUPZFAYXKJW-UHFFFAOYSA-N butan-1-amine Chemical compound CCCCN HQABUPZFAYXKJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052980 cadmium sulfide Inorganic materials 0.000 description 2
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 2
- AOWKSNWVBZGMTJ-UHFFFAOYSA-N calcium titanate Chemical compound [Ca+2].[O-][Ti]([O-])=O AOWKSNWVBZGMTJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- GHVNFZFCNZKVNT-UHFFFAOYSA-N decanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCC(O)=O GHVNFZFCNZKVNT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SWXVUIWOUIDPGS-UHFFFAOYSA-N diacetone alcohol Chemical compound CC(=O)CC(C)(C)O SWXVUIWOUIDPGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FJBFPHVGVWTDIP-UHFFFAOYSA-N dibromomethane Chemical compound BrCBr FJBFPHVGVWTDIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002612 dispersion medium Substances 0.000 description 2
- POULHZVOKOAJMA-UHFFFAOYSA-N dodecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCC(O)=O POULHZVOKOAJMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 2
- DNJIEGIFACGWOD-UHFFFAOYSA-N ethanethiol Chemical compound CCS DNJIEGIFACGWOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- IPCSVZSSVZVIGE-UHFFFAOYSA-N hexadecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCC(O)=O IPCSVZSSVZVIGE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 2
- 229910000000 metal hydroxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004692 metal hydroxides Chemical class 0.000 description 2
- TZIHFWKZFHZASV-UHFFFAOYSA-N methyl formate Chemical compound COC=O TZIHFWKZFHZASV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CCCMONHAUSKTEQ-UHFFFAOYSA-N octadecene Natural products CCCCCCCCCCCCCCCCC=C CCCMONHAUSKTEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IOQPZZOEVPZRBK-UHFFFAOYSA-N octan-1-amine Chemical compound CCCCCCCCN IOQPZZOEVPZRBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N phosphine group Chemical group P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920003196 poly(1,3-dioxolane) Polymers 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 description 2
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 2
- 238000000634 powder X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 150000003346 selenoethers Chemical class 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 150000004763 sulfides Chemical class 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 2
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- TUQOTMZNTHZOKS-UHFFFAOYSA-N tributylphosphine Chemical compound CCCCP(CCCC)CCCC TUQOTMZNTHZOKS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UWRZIZXBOLBCON-VOTSOKGWSA-N (e)-2-phenylethenamine Chemical class N\C=C\C1=CC=CC=C1 UWRZIZXBOLBCON-VOTSOKGWSA-N 0.000 description 1
- PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N (fluoren-9-ylideneamino) n-naphthalen-1-ylcarbamate Chemical compound C12=CC=CC=C2C2=CC=CC=C2C1=NOC(=O)NC1=CC=CC2=CC=CC=C12 PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DHBXNPKRAUYBTH-UHFFFAOYSA-N 1,1-ethanedithiol Chemical compound CC(S)S DHBXNPKRAUYBTH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JRNVQLOKVMWBFR-UHFFFAOYSA-N 1,2-benzenedithiol Chemical compound SC1=CC=CC=C1S JRNVQLOKVMWBFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FJLUATLTXUNBOT-UHFFFAOYSA-N 1-Hexadecylamine Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCN FJLUATLTXUNBOT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VERMWGQSKPXSPZ-BUHFOSPRSA-N 1-[(e)-2-phenylethenyl]anthracene Chemical class C=1C=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C2C=1\C=C\C1=CC=CC=C1 VERMWGQSKPXSPZ-BUHFOSPRSA-N 0.000 description 1
- DURPTKYDGMDSBL-UHFFFAOYSA-N 1-butoxybutane Chemical compound CCCCOCCCC DURPTKYDGMDSBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BMVXCPBXGZKUPN-UHFFFAOYSA-N 1-hexanamine Chemical compound CCCCCCN BMVXCPBXGZKUPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LHENQXAPVKABON-UHFFFAOYSA-N 1-methoxypropan-1-ol Chemical compound CCC(O)OC LHENQXAPVKABON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NBUKAOOFKZFCGD-UHFFFAOYSA-N 2,2,3,3-tetrafluoropropan-1-ol Chemical compound OCC(F)(F)C(F)F NBUKAOOFKZFCGD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FFQALBCXGPYQGT-UHFFFAOYSA-N 2,4-difluoro-5-(trifluoromethyl)aniline Chemical compound NC1=CC(C(F)(F)F)=C(F)C=C1F FFQALBCXGPYQGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GGDYAKVUZMZKRV-UHFFFAOYSA-N 2-fluoroethanol Chemical compound OCCF GGDYAKVUZMZKRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QKPVEISEHYYHRH-UHFFFAOYSA-N 2-methoxyacetonitrile Chemical compound COCC#N QKPVEISEHYYHRH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 3-(oxolan-2-yl)propanoic acid Chemical compound OC(=O)CCC1CCCO1 WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DKIDEFUBRARXTE-UHFFFAOYSA-N 3-mercaptopropanoic acid Chemical compound OC(=O)CCS DKIDEFUBRARXTE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 102220465933 Beta-1,3-glucuronyltransferase LARGE2_R15A_mutation Human genes 0.000 description 1
- CXRVNRVRMMXKKA-UHFFFAOYSA-N CC(C)O[Ti+2]OC(C)C Chemical compound CC(C)O[Ti+2]OC(C)C CXRVNRVRMMXKKA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005632 Capric acid (CAS 334-48-5) Substances 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KMTRUDSVKNLOMY-UHFFFAOYSA-N Ethylene carbonate Chemical compound O=C1OCCO1 KMTRUDSVKNLOMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 102220475869 Keratin, type I cytoskeletal 10_R12A_mutation Human genes 0.000 description 1
- 239000005639 Lauric acid Substances 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylacetamide Chemical compound CN(C)C(C)=O FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- REYJJPSVUYRZGE-UHFFFAOYSA-N Octadecylamine Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCN REYJJPSVUYRZGE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000021314 Palmitic acid Nutrition 0.000 description 1
- 229910002665 PbTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M Propionate Chemical compound CCC([O-])=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005642 SnTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000021355 Stearic acid Nutrition 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PLZVEHJLHYMBBY-UHFFFAOYSA-N Tetradecylamine Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCN PLZVEHJLHYMBBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RHQDFWAXVIIEBN-UHFFFAOYSA-N Trifluoroethanol Chemical compound OCC(F)(F)F RHQDFWAXVIIEBN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021536 Zeolite Inorganic materials 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 238000013019 agitation Methods 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001409 amidines Chemical class 0.000 description 1
- 150000004982 aromatic amines Chemical class 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- IQONKZQQCCPWMS-UHFFFAOYSA-N barium lanthanum Chemical compound [Ba].[La] IQONKZQQCCPWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052454 barium strontium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021523 barium zirconate Inorganic materials 0.000 description 1
- DQBAOWPVHRWLJC-UHFFFAOYSA-N barium(2+);dioxido(oxo)zirconium Chemical compound [Ba+2].[O-][Zr]([O-])=O DQBAOWPVHRWLJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002115 bismuth titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000000609 carbazolyl group Chemical class C1(=CC=CC=2C3=CC=CC=C3NC12)* 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 125000002091 cationic group Chemical group 0.000 description 1
- ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce] ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001788 chalcone derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- PBAYDYUZOSNJGU-UHFFFAOYSA-N chelidonic acid Natural products OC(=O)C1=CC(=O)C=C(C(O)=O)O1 PBAYDYUZOSNJGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001309 chloro group Chemical group Cl* 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JAWGVVJVYSANRY-UHFFFAOYSA-N cobalt(3+) Chemical compound [Co+3] JAWGVVJVYSANRY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013329 compounding Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- HPXRVTGHNJAIIH-UHFFFAOYSA-N cyclohexanol Chemical compound OC1CCCCC1 HPXRVTGHNJAIIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 125000002704 decyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- ZASWJUOMEGBQCQ-UHFFFAOYSA-L dibromolead Chemical compound Br[Pb]Br ZASWJUOMEGBQCQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- NKDDWNXOKDWJAK-UHFFFAOYSA-N dimethoxymethane Chemical compound COCOC NKDDWNXOKDWJAK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N dioxido(oxo)titanium;lead(2+) Chemical compound [Pb+2].[O-][Ti]([O-])=O NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- IVUXZQJWTQMSQN-UHFFFAOYSA-N distrontium;oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Sr+2].[Sr+2].[Ta+5].[Ta+5] IVUXZQJWTQMSQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JRBPAEWTRLWTQC-UHFFFAOYSA-N dodecylamine Chemical compound CCCCCCCCCCCCN JRBPAEWTRLWTQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001493 electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000004993 emission spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000003527 fibrinolytic agent Substances 0.000 description 1
- 238000000445 field-emission scanning electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- ZULTVNRFZRQYKL-UHFFFAOYSA-M fluorotin Chemical compound [Sn]F ZULTVNRFZRQYKL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- WBJINCZRORDGAQ-UHFFFAOYSA-N formic acid ethyl ester Natural products CCOC=O WBJINCZRORDGAQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002334 glycols Chemical class 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000008282 halocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 150000003949 imides Chemical class 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000002779 inactivation Effects 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- LRDFRRGEGBBSRN-UHFFFAOYSA-N isobutyronitrile Chemical compound CC(C)C#N LRDFRRGEGBBSRN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000464 lead oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003473 lithium bis(trifluoromethanesulfonyl)imide Inorganic materials 0.000 description 1
- QSZMZKBZAYQGRS-UHFFFAOYSA-N lithium;bis(trifluoromethylsulfonyl)azanide Chemical compound [Li+].FC(F)(F)S(=O)(=O)[N-]S(=O)(=O)C(F)(F)F QSZMZKBZAYQGRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004668 long chain fatty acids Chemical class 0.000 description 1
- 239000006210 lotion Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- ISWNAMNOYHCTSB-UHFFFAOYSA-N methanamine;hydrobromide Chemical compound [Br-].[NH3+]C ISWNAMNOYHCTSB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IVUHDTWRNCXVCD-UHFFFAOYSA-N methylazanium;iodate Chemical compound [NH3+]C.[O-]I(=O)=O IVUHDTWRNCXVCD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- WQEPLUUGTLDZJY-UHFFFAOYSA-N n-Pentadecanoic acid Natural products CCCCCCCCCCCCCCC(O)=O WQEPLUUGTLDZJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 1
- 239000002071 nanotube Substances 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000484 niobium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- URLJKFSTXLNXLG-UHFFFAOYSA-N niobium(5+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Nb+5].[Nb+5] URLJKFSTXLNXLG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 1
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 1
- QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N octadecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCC(O)=O QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OQCDKBAXFALNLD-UHFFFAOYSA-N octadecanoic acid Natural products CCCCCCCC(C)CCCCCCCCC(O)=O OQCDKBAXFALNLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 235000021313 oleic acid Nutrition 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N oxolead Chemical compound [Pb]=O YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 150000004986 phenylenediamines Chemical class 0.000 description 1
- 238000001420 photoelectron spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001197 polyacetylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- UKDIAJWKFXFVFG-UHFFFAOYSA-N potassium;oxido(dioxo)niobium Chemical compound [K+].[O-][Nb](=O)=O UKDIAJWKFXFVFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- FVSKHRXBFJPNKK-UHFFFAOYSA-N propionitrile Chemical compound CCC#N FVSKHRXBFJPNKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RUOJZAUFBMNUDX-UHFFFAOYSA-N propylene carbonate Chemical compound CC1COC(=O)O1 RUOJZAUFBMNUDX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 230000005476 size effect Effects 0.000 description 1
- 238000000235 small-angle X-ray scattering Methods 0.000 description 1
- GROMGGTZECPEKN-UHFFFAOYSA-N sodium metatitanate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][Ti](=O)O[Ti](=O)O[Ti]([O-])=O GROMGGTZECPEKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002798 spectrophotometry method Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 229940071182 stannate Drugs 0.000 description 1
- 239000008117 stearic acid Substances 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 238000010301 surface-oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OCGWQDWYSQAFTO-UHFFFAOYSA-N tellanylidenelead Chemical compound [Pb]=[Te] OCGWQDWYSQAFTO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004772 tellurides Chemical class 0.000 description 1
- TUNFSRHWOTWDNC-HKGQFRNVSA-N tetradecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCC[14C](O)=O TUNFSRHWOTWDNC-HKGQFRNVSA-N 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004227 thermal cracking Methods 0.000 description 1
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J titanium tetrachloride Chemical compound Cl[Ti](Cl)(Cl)Cl XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- RMZAYIKUYWXQPB-UHFFFAOYSA-N trioctylphosphane Chemical compound CCCCCCCCP(CCCCCCCC)CCCCCCCC RMZAYIKUYWXQPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001132 ultrasonic dispersion Methods 0.000 description 1
- 238000009281 ultraviolet germicidal irradiation Methods 0.000 description 1
- 238000001291 vacuum drying Methods 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010457 zeolite Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/0352—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
- H01L31/035209—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions comprising a quantum structures
- H01L31/035218—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions comprising a quantum structures the quantum structure being quantum dots
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/50—Organic perovskites; Hybrid organic-inorganic perovskites [HOIP], e.g. CH3NH3PbI3
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K11/00—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
- C09K11/02—Use of particular materials as binders, particle coatings or suspension media therefor
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K11/00—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
- C09K11/08—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/054—Optical elements directly associated or integrated with the PV cell, e.g. light-reflecting means or light-concentrating means
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/30—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising bulk heterojunctions, e.g. interpenetrating networks of donor and acceptor material domains
- H10K30/35—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising bulk heterojunctions, e.g. interpenetrating networks of donor and acceptor material domains comprising inorganic nanostructures, e.g. CdSe nanoparticles
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/80—Constructional details
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/80—Constructional details
- H10K30/81—Electrodes
- H10K30/82—Transparent electrodes, e.g. indium tin oxide [ITO] electrodes
- H10K30/821—Transparent electrodes, e.g. indium tin oxide [ITO] electrodes comprising carbon nanotubes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/80—Constructional details
- H10K30/87—Light-trapping means
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/50—Photovoltaic [PV] devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/80—Constructional details
- H10K30/84—Layers having high charge carrier mobility
- H10K30/86—Layers having high hole mobility, e.g. hole-transporting layers or electron-blocking layers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/52—PV systems with concentrators
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/549—Organic PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/70—Nanostructure
- Y10S977/811—Of specified metal oxide composition, e.g. conducting or semiconducting compositions such as ITO, ZnOx
- Y10S977/812—Perovskites and superconducting composition, e.g. BaxSr1-xTiO3
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
本發明係關於一種光吸收層、具有該光吸收層之光電轉換元件及太陽能電池,該光吸收層用於形成耐久性及近紅外光區域之光電轉換效率優異之光電轉換元件及太陽能電池。本發明之光吸收層含有:具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能之鈣鈦礦化合物、及具有0.2 eV以上且上述鈣鈦礦化合物之帶隙能以下之帶隙能的量子點。
Description
本發明係關於一種光吸收層、具有該光吸收層之光電轉換元件、及具有該光電轉換元件之太陽能電池。
將光能變成電能之光電轉換元件應用於太陽能電池、光感測器、影印機等。尤其就環境、能源問題之觀點而言,著眼於利用無窮盡之綠色能源即太陽光之光電轉換元件(太陽能電池)。 一般之矽太陽能電池基於利用超高純度之矽、於高真空下藉由磊晶結晶成長等「乾式製程」而製造等原因,而無法期待大幅度降低成本。因此,業界期待將藉由塗佈製程等「濕式製程」而製造之太陽能電池作為低成本之下一代太陽能電池。 作為可藉由「濕式製程」而製造之下一代太陽能電池,有量子點太陽能電池。所謂量子點係指粒徑約20 nm以下之無機奈米粒子,且藉由量子尺寸效應之表現而顯示出與塊體不同之物性。例如,已知隨著量子點之粒徑之減少,帶隙能增大(吸收波長短波長化),報告有將粒徑約3 nm且帶隙能約1.2 eV之硫化鉛(PbS)量子點用於量子點太陽能電池(ACS Nano 2014, 8, 614-622)。 又,作為下一代太陽能電池之最有力候選,有近年來報告光電轉換效率遽增之鈣鈦礦太陽能電池。該鈣鈦礦太陽能電池例如具備如下光電轉換元件,該光電轉換元件係將包含甲基銨等陽離子與碘化鉛等鹵化金屬鹽之鈣鈦礦化合物(CH3
NH3
PbI3
)用於光吸收層(J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 6050-6051)。已知根據陽離子種、鹵素元素、金屬元素等組成,鈣鈦礦化合物之化學、物理特性發生變化。例如藉由將鹵素元素之碘置換為溴,雖然光電轉換元件之耐久性提高,但報告有鈣鈦礦化合物之吸收短波長化(帶隙能之增大)所伴隨之轉換效率降低(Nano Lett. 2013, 13, 1764-1769)。 又,報告有將利用碘系鈣鈦礦(CH3
NH3
PbI3
)進行表面處理之PbS量子點用於光吸收層之量子點太陽能電池(Nano Lett. 2015, 15, 7539-7543)。
然而,先前之光電轉換元件並未兼顧優異之耐久性與較高之轉換效率。例如,量子點由於在大氣中容易發生表面氧化,故而隨著時間經過光電轉換效率降低,而缺乏耐久性。又,鈣鈦礦化合物會因大氣中之水分等而發生分解,故而耐久性存在問題。若將鈣鈦礦化合物之鹵素組成從碘置換為溴,則耐久性提高,但隨著鈣鈦礦化合物之吸收短波長化(帶隙能之增大),近紅外光區域之光電轉換效率(量子效率)明顯降低。 本發明係關於一種光吸收層、具有該光吸收層之光電轉換元件及太陽能電池,該光吸收層用於形成耐久性及近紅外光區域之光電轉換效率優異之光電轉換元件及太陽能電池。 本發明者等人發現,藉由使用含有具有特定帶隙能之鈣鈦礦化合物、及具有特定帶隙能之量子點的光吸收層,光電轉換元件之耐久性與近紅外光區域之光電轉換效率(量子效率)均提高。 即,本發明係關於一種光吸收層,其含有:具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能之鈣鈦礦化合物、及具有0.2 eV以上且上述鈣鈦礦化合物之帶隙能以下之帶隙能的量子點。 藉由將具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能之鈣鈦礦化合物(例如CH3
NH3
PbBr3
)、及具有0.2 eV以上且上述鈣鈦礦化合物之帶隙能以下之帶隙能的量子點(例如PbS量子點)用作光吸收層之形成材料,除了能夠吸收鈣鈦礦化合物能夠吸收之短波長區域之光以外,亦吸收包含量子點能夠吸收之近紅外等長波長區域的廣範圍波長區域之光,故而可獲得於廣範圍波長區域具有光電轉換功能之光電轉換元件。 具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能之鈣鈦礦化合物(例如CH3
NH3
PbBr3
)與具有未達1.7 eV之帶隙能之鈣鈦礦化合物(例如CH3
NH3
PbI3
)相比耐久性(耐濕性)優異,但於實用化方面耐久性不充分。又,具有0.2 eV以上且上述鈣鈦礦化合物之帶隙能以下之帶隙能的量子點(例如PbS量子點)亦於耐久性(抗氧化性)方面不充分。 然而,藉由將具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能之鈣鈦礦化合物、及具有0.2 eV以上且上述鈣鈦礦化合物之帶隙能以下之帶隙能的量子點進行組合,令人驚訝地發現光電轉換元件之耐久性提高。其原因尚不確定,但推測如下。作為鈣鈦礦化合物之耐久性惡化之機制,推定因大氣中之水分導致鈣鈦礦化合物發生分解(例如CH3
NH3
PbBr3
→CH3
NH3
Br+PbBr2
)。推測藉由將鈣鈦礦化合物與量子點進行組合,量子點於鈣鈦礦化合物中相互作用,因此鈣鈦礦化合物之結晶結構穩定化,鈣鈦礦化合物之水解反應得到抑制,故而光電轉換元件之耐久性提高。進而,推測由於量子點表面存在鈣鈦礦化合物,故而量子點表面之氧化得到抑制,光電轉換元件之耐久性提高。 進而,藉由將具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能之鈣鈦礦化合物、及具有0.2 eV以上且上述鈣鈦礦化合物之帶隙能以下之帶隙能的量子點進行組合,令人驚訝地發現隨著時間經過(保存)光電轉換元件之光電轉換效率提高。其原因尚不確定,但推測因鈣鈦礦化合物與量子點之相互作用,而存在於鈣鈦礦化合物與量子點之界面之載子失活部位減少、電阻降低,故而光電轉換效率提高。 根據本發明,可獲得耐久性及近紅外光區域之光電轉換效率優異之光電轉換元件及太陽能電池。
<光吸收層> 本發明之光吸收層含有具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能之鈣鈦礦化合物、及具有0.2 eV以上且上述鈣鈦礦化合物之帶隙能之最大值以下之帶隙能的量子點作為光吸收劑。再者,本發明之光吸收層亦可於無損本發明之效果之範圍內含有上述以外之光吸收劑。 上述光吸收層有助於光電轉換元件之電荷分離,具有將因光吸收而產生之電子及電洞分別向相反方向之電極傳輸之功能,亦稱為電荷分離層或光電轉換層。 上述鈣鈦礦化合物係具有鈣鈦礦型結晶結構之化合物,就提高耐久性(耐濕性)及光電轉換效率之觀點而言,使用具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能者。鈣鈦礦化合物可單獨使用1種,亦可將帶隙能不同之2種以上併用。 上述鈣鈦礦化合物之帶隙能就提高光電轉換效率(電壓)之觀點而言較佳為2.0 eV以上,更佳為2.1 eV以上,進而較佳為2.2 eV以上,就提高光電轉換效率(電流)之觀點而言,較佳為3.6 eV以下,更佳為3.0 eV以下,進而較佳為2.4 eV以下。再者,鈣鈦礦化合物及量子點之帶隙能可藉由下述之實施例中所記載之方法由在25℃下所測得之吸收光譜而求出。將與由吸收光譜求出之帶隙能對應之波長稱為吸收端波長。 上述鈣鈦礦化合物只要為具有上述帶隙能者即可,可使用公知者,並無特別限制,較佳為選自下述通式(1)所表示之化合物及下述通式(2)所表示之化合物中之1種以上,就兼顧耐久性與光電轉換效率之觀點而言,更佳為下述通式(1)所表示之化合物。 RMX3
(1) (式中,R為一價陽離子,M為二價金屬陽離子,X為鹵素陰離子) R1
R2
R3 n - 1
Mn
X3n + 1
(2) (式中,R1
、R2
、及R3
分別獨立為一價陽離子,M為二價金屬陽離子,X為鹵素陰離子,n為1以上且10以下之整數) 上述R為一價陽離子,例如可列舉週期表第一族元素之陽離子、及有機陽離子。作為週期表第一族元素之陽離子,例如可列舉Li+
、Na+
、K+
、及Cs+
。作為有機陽離子,例如可列舉可具有取代基之銨離子、及可具有取代基之鏻離子。取代基並無特別限制。作為可具有取代基之銨離子,例如可列舉烷基銨離子、甲脒鎓離子及芳基銨離子,就兼顧耐久性與光電轉換效率之觀點而言,較佳為選自烷基銨離子及甲脒鎓離子中之1種以上,更佳為選自單烷基銨離子及甲脒鎓離子中之1種以上,進而較佳為選自甲基銨離子、乙基銨離子、丁基銨離子及甲脒鎓離子中之1種以上,進而更佳為甲基銨離子。 上述R1
、R2
、及R3
分別獨立為一價陽離子,R1
、R2
、及R3
之任一者或全部亦可相同。例如可列舉週期表第一族元素之陽離子、及有機陽離子。作為週期表第一族元素之陽離子,例如可列舉Li+
、Na+
、K+
、及Cs+
。作為有機陽離子,例如可列舉可具有取代基之銨離子、及可具有取代基之鏻離子。取代基並無特別限制。作為可具有取代基之銨離子,例如可列舉烷基銨離子、甲脒鎓離子及芳基銨離子,就兼顧耐久性與光電轉換效率之觀點而言,較佳為選自烷基銨離子及甲脒鎓離子中之1種以上,更佳為單烷基銨離子,進而較佳為選自甲基銨離子、乙基銨離子、丁基銨離子、己基銨離子、辛基銨離子、癸基銨離子、十二烷基銨離子、十四烷基銨離子、十六烷基銨離子、及十八烷基銨離子中之1種以上。 上述n為1以上且10以下之整數,就兼顧耐久性與光電轉換效率之觀點而言,較佳為1以上且4以下。 上述M為二價金屬陽離子,例如可列舉Pb2+
、Sn2+
、Hg2+
、Cd2+
、Zn2+
、Mn2+
、Cu2+
、Ni2+
、Fe2+
、Co2+
、Pd2+
、Ge2+
、Y2+
、及Eu2+
等。上述M就耐久性(耐濕性)及光電轉換效率優異之觀點而言較佳為Pb2+
、Sn2+
、或Ge2+
,更佳為Pb2+
、或Sn2+
,進而較佳為Pb2+
。 上述X為鹵素陰離子,例如可列舉氟陰離子、氯陰離子、溴陰離子、及碘陰離子。為了獲得目標之具有帶隙能之鈣鈦礦化合物,上述X較佳為氟陰離子、氯陰離子、或溴陰離子,更佳為氯陰離子、或溴陰離子,進而較佳為溴陰離子。 作為具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能的上述通式(1)所表示之化合物,例如可列舉CH3
NH3
PbCl3
、CH3
NH3
PbBr3
、CH3
NH3
PbBrI2
、CH3
NH3
PbBr2
I、CH3
NH3
SnCl3
、CH3
NH3
SnBr3
、CH3
NH3
SnI3
、CH(=NH)NH3
PbCl3
、及CH(=NH)NH3
PbBr3
等。該等中,就兼顧耐久性與光電轉換效率之觀點而言,較佳為CH3
NH3
PbBr3
、CH(=NH)NH3
PbBr3
,更佳為CH3
NH3
PbBr3
。 作為具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能的上述通式(2)所表示之化合物,例如可列舉(C4
H9
NH3
)2
PbI4
、(C6
H13
NH3
)2
PbI4
、(C8
H17
NH3
)2
PbI4
、(C10
H21
NH3
)2
PbI4
、(C12
H25
NH3
)2
PbI4
、(C4
H9
NH3
)2
(CH3
NH3
)Pb2
I7
、(C6
H13
NH3
)2
(CH3
NH3
)Pb2
I7
、(C8
H17
NH3
)2
(CH3
NH3
)Pb2
I7
、(C10
H21
NH3
)2
(CH3
NH3
)Pb2
I7
、(C12
H25
NH3
)2
(CH3
NH3
)Pb2
I7
、(C4
H9
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
I10
、(C6
H13
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
I10
、(C8
H17
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
I10
、(C10
H21
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
I10
、(C12
H25
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
I10
、(C4
H9
NH3
)2
PbBr4
、(C6
H13
NH3
)2
PbBr4
、(C8
H17
NH3
)2
PbBr4
、(C10
H21
NH3
)2
PbBr4
、(C4
H9
NH3
)2
(CH3
NH3
)Pb2
Br7
、(C6
H13
NH3
)2
(CH3
NH3
)Pb2
Br7
、(C8
H17
NH3
)2
(CH3
NH3
)Pb2
Br7
、(C10
H21
NH3
)2
(CH3
NH3
)Pb2
Br7
、(C12
H25
NH3
)2
(CH3
NH3
)Pb2
Br7
、(C4
H9
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
Br10
、(C6
H13
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
Br10
、(C8
H17
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
Br10
、(C10
H21
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
Br10
、(C12
H25
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
Br10
、(C4
H9
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
Cl10
、(C6
H13
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
Cl10
、(C8
H17
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
Cl10
、(C10
H21
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
Cl10
、及(C12
H25
NH3
)2
(CH3
NH3
)2
Pb3
Cl10
等。 光吸收層之鈣鈦礦化合物之微晶直徑就提高光電轉換效率之觀點而言較佳為10 nm以上,更佳為20 nm以上,進而較佳為40 nm以上,就同樣之觀點而言,較佳為1000 nm以下。再者,光吸收層之100 nm以下之範圍之微晶直徑可藉由下述之實施例中所記載之方法而測定。又,雖然超過100 nm之範圍之微晶直徑無法藉由下述之實施例中所記載之方法等而測定,但不會超過光吸收層之厚度。 鈣鈦礦化合物例如可如下所述由鈣鈦礦化合物之前驅物而製造。作為鈣鈦礦化合物之前驅物,例如於鈣鈦礦化合物為上述通式(1)所表示之化合物之情形時,可列舉MX2
所表示之化合物、與RNH3
X所表示之化合物之組合。又,於鈣鈦礦化合物為上述通式(2)所表示之化合物之情形時,可列舉MX2
所表示之化合物、與選自R1
NH3
X所表示之化合物、R2
NH3
X所表示之化合物及R3
NH3
X所表示之化合物中之1種以上的組合。 光吸收層之鈣鈦礦化合物例如可藉由元素分析、紅外線(IR)光譜、拉曼光譜、核磁共振(NMR)譜、X射線繞射圖樣、吸收光譜、發射光譜、電子顯微鏡觀察、及電子束繞射等常用方法而鑑定。 就補充上述鈣鈦礦化合物所不具有之帶隙能而提高近紅外光區域之光電轉換效率之觀點而言,上述量子點使用具有0.2 eV以上且上述鈣鈦礦化合物之帶隙能以下之帶隙能者。量子點可單獨使用1種,亦可將帶隙能不同之2種以上併用。 再者,於使用帶隙能不同之2種以上之鈣鈦礦化合物之情形時,所謂量子點之帶隙能之上述上限即「鈣鈦礦化合物之帶隙能以下之帶隙能」係指2種以上之鈣鈦礦化合物所具有之帶隙能之最大值以下之帶隙能。 以下,只要無特別說明,則量子點之較佳之態樣係除有機配位基之較佳之態樣以外,光吸收層與其原料共通之較佳之態樣。 上述量子點之帶隙能就提高光電轉換效率(電壓)之觀點而言較佳為0.8 eV以上,更佳為0.9 eV以上,進而較佳為1.0 eV以上,進而更佳為1.1 eV以上,就提高光電轉換效率(電流)之觀點而言,較佳為1.6 eV以下,更佳為1.5 eV以下,進而較佳為1.4 eV以下,進而更佳為1.3 eV以下。 關於上述量子點,例如若根據電子顯微鏡觀察、電子束繞射、及X射線繞射圖樣等而決定量子點之粒徑及種類,則亦可根據粒徑與帶隙能之關聯性(例如ACS Nano2014, 8, 6363-6371)而算出帶隙能。 上述鈣鈦礦化合物之帶隙能與上述量子點之帶隙能之差就提高光電轉換效率之觀點而言較佳為0.4 eV以上,更佳為0.6 eV以上,進而較佳為0.8 eV以上,且較佳為2.0 eV以下,更佳為1.5 eV以下,進而較佳為1.3 eV以下。 上述量子點之粒徑就提高穩定性及光電轉換效率之觀點而言較佳為1 nm以上,更佳為2 nm以上,進而較佳為3 nm以上,就提高成膜性及光電轉換效率之觀點而言,較佳為20 nm以下,更佳為10 nm以下,進而較佳為5 nm以下。上述量子點之粒徑可藉由XRD(X射線繞射)之微晶直徑解析或穿透式電子顯微鏡觀察等常用方法而測定。 上述量子點只要為具有上述帶隙能者即可,可使用公知者,並無特別限制。作為具有上述帶隙能之量子點,例如可列舉金屬氧化物、金屬硫屬化物(例如硫化物、硒化物、及碲化物等),具體而言,可列舉PbS、PbSe、PbTe、CdS、CdSe、CdTe、Sb2
S3
、Bi2
S3
、Ag2
S、Ag2
Se、Ag2
Te、Au2
S、Au2
Se、Au2
Te、Cu2
S、Cu2
Se、Cu2
Te、Fe2
S、Fe2
Se、Fe2
Te、In2
S3
、SnS、SnSe、SnTe、CuInS2
、CuInSe2
、CuInTe2
、EuS、EuSe、及EuTe等。上述量子點就耐久性(抗氧化性)及光電轉換效率優異之觀點而言較佳為包含Pb元素,更佳為包含PbS或PbSe,進而較佳為包含PbS。又,為了增強鈣鈦礦化合物與量子點之相互作用,構成鈣鈦礦化合物之金屬與構成量子點之金屬較佳為相同金屬。 上述量子點就量子點之於光吸收層及分散液中之分散性、製造容易性、成本、優異之性能表現等觀點而言較佳為亦可包含選自有機配位基及鹵素元素中之1種以上。 作為有機配位基,例如可列舉含羧基之化合物、含胺基之化合物、含硫醇基之化合物、及含膦基之化合物等。 作為含羧基之化合物,例如可列舉油酸、硬脂酸、棕櫚酸、肉豆蔻酸、月桂酸、及癸酸等。 作為含胺基之化合物,例如可列舉油胺、硬脂胺、棕櫚基胺、肉豆蔻基胺、月桂基胺、辛基胺(capryl amine)、辛基胺(octyl amine)、己基胺、及丁基胺等。 作為含硫醇基之化合物,例如可列舉乙硫醇、乙二硫醇、苯硫酚、苯二硫醇、癸硫醇、癸二硫醇、及巰基丙酸等。 作為含膦基之化合物,例如可列舉三辛基膦、及三丁基膦等。 上述有機配位基就量子點之製造容易性、分散穩定性、通用性、成本、優異之性能表現等觀點而言較佳為含羧基之化合物或含胺基之化合物,更佳為含羧基之化合物,進而較佳為長鏈脂肪酸,進而更佳為油酸。 於量子點中較佳為包含有機配位基之情形時,於在製造光吸收層時用作原料之量子點中,有機配位基相對於構成量子點之金屬元素之莫耳比就在製造光吸收層時促進有機配位基與鈣鈦礦化合物之前驅物的配位基交換之觀點而言較佳為0.01以上,更佳為0.05以上,進而較佳為0.1以上,進而更佳為0.12以上,就提高光吸收層中或分散液中之量子點之分散性之觀點而言,較佳為1以下,更佳為0.8以下,進而較佳為0.7以下,進而更佳為0.6以下。 於量子點中較佳為包含有機配位基之情形時,於光吸收層中,有機配位基相對於構成量子點之金屬元素的莫耳比並無特別限制,就提高光吸收層中之量子點之分散性而表現出優異之性能的觀點而言,較佳為0.01以上,更佳為0.05以上,進而較佳為0.09以上,進而更佳為0.1以上,且較佳為1以下,更佳為0.8以下,進而較佳為0.6以下,進而更佳為0.5以下。 於量子點中較佳為包含有機配位基之情形時,於光吸收層中,量子點中所含之有機配位基相對於構成上述鈣鈦礦化合物之金屬元素的莫耳比並無特別限制,就提高光吸收層中之量子點之分散性而表現出優異之性能的觀點而言,較佳為0.001以上,更佳為0.005以上,進而較佳為0.01以上,且較佳為0.1以下,更佳為0.06以下,進而較佳為0.05以下。 上述鹵素元素並無特別限制,例如可列舉氟、氯、溴、及碘。上述鹵素元素就量子點之製造容易性、分散穩定性、通用性、成本、優異之性能表現等觀點而言較佳為氯。 鹵素元素相對於構成上述量子點之金屬元素之原子比並無特別限制,就提高光吸收層中或分散液中之量子點之分散性之觀點、及抑制從鈣鈦礦化合物向量子點之載子遷移之觀點而言,較佳為0.1以上,更佳為0.2以上,進而較佳為0.3以上,且較佳為1以下,更佳為0.8以下,進而較佳為0.7以下。再者,認為於光吸收層中,鹵素元素相對於構成上述量子點之金屬元素之原子比為與用作光吸收層原料之上述量子點中之鹵素元素相對於構成量子點之金屬元素的原子比相同之程度。 光吸收層之量子點例如可藉由元素分析、紅外線(IR)光譜、拉曼光譜、核磁共振(NMR)譜、X射線繞射圖樣、吸收光譜、發射光譜、小角度X射線散射、電子顯微鏡觀察、及電子束繞射等常用方法而鑑定。 作為上述鈣鈦礦化合物與上述量子點之較佳之組合,就兼顧耐久性與光電轉換效率之觀點而言,較佳為包含相同金屬元素之化合物之組合,例如可列舉CH3
NH3
PbBr3
與PbS、CH3
NH3
PbBr3
與PbSe、CH(=NH)NH3
PbBr3
與PbS、CH(=NH)NH3
PbBr3
與PbSe等,較佳為CH3
NH3
PbBr3
與PbS之組合。 上述光吸收層為含有上述鈣鈦礦化合物及上述量子點者即可,較佳為包含由上述鈣鈦礦化合物及上述量子點所形成之複合物。藉由進行複合化,不僅可使量子點均一地存在於鈣鈦礦化合物之結晶結構中,亦可使鈣鈦礦化合物與量子點間之界面結構以原子、分子等級均一化,故而可期待進一步提高本發明之效果。為了使鈣鈦礦化合物與量子點間之界面結構以原子、分子等級均一化而形成複合物,有效的是鈣鈦礦化合物與量子點間之晶格匹配,例如關於Pb-Pb原子間距,由於CH3
NH3
PbBr3
(5.92 Å)與PbS(5.97 Å)近似,故而CH3
NH3
PbBr3
與PbS之組合對於形成複合物而言較佳。再者,可藉由高解析穿透式電子顯微鏡(HRTEM)觀察等而確認鈣鈦礦化合物與量子點之界面結構是否以原子、分子等級被均一化。 上述由鈣鈦礦化合物及上述量子點所形成之複合物之形成方法並無特別限定,可列舉將上述鈣鈦礦化合物之前驅物與上述量子點於分散液中進行混合之方法等。混合方法並無限制,就製造容易性、成本、分散液之保存穩定性、光電轉換效率之提高等觀點而言,混合溫度較佳為0℃以上,更佳為10℃以上,進而較佳為20℃以上,且較佳為50℃以下,更佳為40℃以下,進而較佳為30℃以下。又,就相同觀點而言,混合時間較佳為超過0小時,更佳為0.1小時以上,且較佳為72小時以下,更佳為24小時以下,進而較佳為1小時以下。又,就上述觀點而言,混合溫度較佳為0℃以上且50℃以下,更佳為10℃以上且40℃以下,進而較佳為20℃以上且30℃以下,混合時間較佳為超過0小時且72小時以下,更佳為超過0小時且24小時以下,進而較佳為0.1小時以上且1小時以下。 上述光吸收層中之上述鈣鈦礦化合物與上述量子點之含有比率並無特別限制,量子點相對於鈣鈦礦化合物與量子點之合計含量的含有比率就提高耐久性與光電轉換效率之觀點而言較佳為0.1質量%以上,更佳為1質量%以上,進而較佳為2質量%以上,進而更佳為4質量%以上,就提高成膜性與光電轉換效率之觀點而言,較佳為10質量%以下,更佳為8質量%以下,進而較佳為6質量%以下。 光吸收層之厚度並無特別限制,就增大光吸收而提高光電轉換效率之觀點而言,較佳為30 nm以上,更佳為50 nm以上,進而較佳為80 nm以上,進而更佳為100 nm以上,且就相同觀點而言,較佳為1000 nm以下,更佳為800 nm以下,進而較佳為600 nm以下,進而更佳為500 nm以下。再者,光吸收層之厚度可藉由膜剖面之電子顯微鏡觀察等測定方法而測定。 光吸收層之表面平滑性就提高電洞傳輸劑(HTM)層之強度之觀點而言較佳為100 nm以上,更佳為200 nm以上,進而較佳為300 nm以上,進而更佳為400 nm以上,就提高光電轉換效率之觀點而言,較佳為1000 nm以下,更佳為800 nm以下,進而較佳為700 nm以下。再者,光吸收層之表面平滑性可藉由下述實施例中所記載之方法而測定。 光吸收層對多孔質層之覆蓋率就提高光電轉換效率(電流)之觀點而言較佳為10%以上,更佳為20%以上,進而較佳為30%以上,進而更佳為40%以上,進而更佳為50%以上且100%以下。再者,光吸收層對多孔質層之覆蓋率可藉由下述實施例中所記載之方法而測定。 光吸收層中之量子點(QD)相對於鈣鈦礦化合物(P)之吸光度比(QD/P)就提高光電轉換效率(電壓)之觀點而言較佳為0.3以下,更佳為0.2以下,進而較佳為0.1以下,進而更佳為0。再者,光吸收層中之吸光度比(QD/P)係由藉由下述實施例所記載之方法所測得之光吸收層之吸收光譜獲得之至少1種量子點之吸光度之最大值相對於至少1種鈣鈦礦化合物之吸光度的比率。此處,至少1種量子點之吸光度與至少1種鈣鈦礦化合物之吸光度可分別作為於單獨測定該等之情形時之吸收峰值位置之吸光度而獲得。 於利用波長800 nm(能量1.55 eV)之光而激發光吸收層時,光吸收層中之發光峰值能量就提高光電轉換效率(電壓)之觀點而言較佳為0.2 eV以上,更佳為0.4 eV以上,進而較佳為0.6 eV以上,進而更佳為0.8 eV以上,且就提高光電轉換效率(電流)之觀點而言,較佳為1.4 eV以下,更佳為1.3 eV以下,進而較佳為1.2 eV以下,進而更佳為1.1 eV以下。 光吸收層中之發光峰值能量與鈣鈦礦化合物之帶隙能之差就提高光電轉換效率之觀點而言較佳為0.4 eV以上,更佳為0.8 eV,進而較佳為1.0 eV以上,進而更佳為1.2 eV以上,且較佳為3.4 eV以下,更佳為2.5 eV以下,進而較佳為2.0 eV以下,進而更佳為1.5 eV以下。 光吸收層中之發光峰值能量與量子點之帶隙能之差就提高光電轉換效率之觀點而言較佳為0.05 eV以上,更佳為0.1 eV,進而較佳為0.2 eV以上,且較佳為1.0 eV以下,更佳為0.5 eV以下,進而較佳為0.3 eV以下。 推定量子點之分散液中之發光峰值能量與光吸收層中之發光峰值能量之差(發光峰值位移)與光吸收層中之量子點之粒子間距、即分散性相關,就提高光電轉換效率之觀點而言,較佳為0.5 eV以下,更佳為0.4 eV以下,進而較佳為0.3 eV以下。為了提高光吸收層中之量子點之分散性,如上所述,較佳為將量子點之有機配位基之含量、粒徑等或分散液、光吸收層之製造方法控制於較佳之範圍。 再者,分散液中及光吸收層中之發光峰值能量如下述實施例所述,例如可作為於利用波長800 nm(能量1.55 eV)之光而激發光吸收層時的發射光譜之峰值波長(峰值能量)而求出。 <光電轉換元件> 本發明之光電轉換元件係具有上述光吸收層者。於本發明之光電轉換元件中,上述光吸收層以外之構成並無特別限制,可應用公知之光電轉換元件之構成。又,本發明之光電轉換元件除上述光吸收層以外可藉由公知之方法而製造。 以下,基於圖1對本發明之光電轉換元件之構成與製造方法進行說明,但圖1僅為一例,並不限定於圖1所示之態樣。 圖1係表示本發明之光電轉換元件之結構之一例的概略剖視圖。光電轉換元件1具有依序積層有透明基板2、透明導電層3、阻擋層4、多孔質層5、光吸收層6、及電洞傳輸層7之結構。光10入射側之透明電極基板包含透明基板2與透明導電層3,透明導電層3接合於成為用以與外部電路電性連接之端子之電極(負極)9。又,電洞傳輸層7接合於成為用以與外部電路電性連接之端子之電極(正極)8。 作為透明基板2之材料,只要具有強度、耐久性、光透過性即可,可使用合成樹脂及玻璃等。作為合成樹脂,例如可列舉聚萘二甲酸乙二酯(PEN)膜等熱塑性樹脂、聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚酯、聚碳酸酯、聚烯烴、聚醯亞胺、及氟樹脂等。就強度、耐久性、成本等觀點而言,較佳為使用玻璃基板。 作為透明導電層3之材料,例如可列舉摻錫氧化銦(ITO)、摻合氟氧化錫(FTO)、氧化錫(SnO2
)、氧化銦鋅(IZO)、氧化鋅(ZnO)、及具有高導電性之高分子材料等。作為高分子材料,例如可列舉聚乙炔系、聚吡咯系、聚噻吩系、聚苯乙炔系之高分子材料。又,亦可使用具有高導電性之碳系薄膜作為透明導電層3之材料。作為透明導電層3之形成方法,可列舉濺鍍法、蒸鍍法、及塗佈分散物之方法等。 作為阻擋層4之材料,例如可列舉氧化鈦、氧化鋁、氧化矽、氧化鈮、氧化鎢、氧化錫、及氧化鋅等。作為阻擋層4之形成方法,可列舉於透明導電層3直接濺鍍上述材料之方法、及噴霧熱裂解法等。又,可列舉如下方法:於透明導電層3上塗佈將上述材料溶解於溶劑中而成之溶液、或溶解有金屬氧化物之前驅物即金屬氫氧化物的溶液並進行乾燥,視需要進行焙燒。作為塗佈方法,可列舉凹版塗佈法、棒式塗佈法、印刷法、噴霧法、旋轉塗佈法、浸漬法、及模嘴塗佈法等。 多孔質層5係具有於其表面擔載光吸收層6之功能之層。為了於太陽能電池中提高光吸收效率,較佳為擴大接收光之部分之表面積。可藉由設置多孔質層5而擴大接收光之部分之表面積。 作為多孔質層5之材料,例如可列舉金屬氧化物、金屬硫屬化物(例如硫化物、及硒化物等)、具有鈣鈦礦型結晶結構之化合物(但上述光吸收劑除外)、矽氧化物(例如二氧化矽及沸石)、及奈米碳管(包含奈米碳線及奈米碳棒等)等。 作為金屬氧化物,例如可列舉鈦、錫、鋅、鎢、鋯、鉿、鍶、銦、鈰、釔、鑭、釩、鈮、鋁、及鉭之氧化物等,作為金屬硫屬化物,例如可列舉硫化鋅、硒化鋅、硫化鎘、及硒化鎘等。 作為具有鈣鈦礦型結晶結構之化合物,例如可列舉鈦酸鍶、鈦酸鈣、鈦酸鋇、鈦酸鉛、鋯酸鋇、錫酸鋇、鋯酸鉛、鋯酸鍶、鉭酸鍶、鈮酸鉀、鐵酸鉍、鈦酸鍶鋇、鈦酸鋇鑭、鈦酸鈣、鈦酸鈉、及鈦酸鉍等。 多孔質層5之形成材料較佳為以微粒子之形式使用,更佳為以含有微粒子之分散物之形式使用。作為多孔質層5之形成方法,例如可列舉濕式法、乾式法、其他方法(例如Chemical Review,第110卷,6595頁(2010年刊)中所記載之方法)。於該等方法中,較佳為於在阻擋層4之表面塗佈分散物(糊劑)後進行焙燒。藉由焙燒,可使微粒子彼此密接。作為塗佈方法,可列舉凹版塗佈法、棒式塗佈法、印刷法、噴霧法、旋轉塗佈法、浸漬法、及模嘴塗佈法等。 光吸收層6係上述之本發明之光吸收層。光吸收層6之形成方法並無特別限制,例如可較佳地列舉下述所謂濕式製程之方法,即製備包含上述鈣鈦礦化合物或其前驅物、與上述量子點之分散液,於多孔質層5之表面塗佈所製備之分散液並進行乾燥。 於上述濕式製程中,包含鈣鈦礦化合物或其前驅物、與上述量子點之分散液就成膜性、成本、保存穩定性、優異之性能(例如光電轉換特性)表現之觀點而言較佳為含有溶劑。作為溶劑,例如可列舉酯類(甲酸甲酯、甲酸乙酯等)、酮類(γ-丁內酯、N-甲基-2-吡咯啶酮、丙酮、二甲酮、二異丁酮等)、醚類(二乙醚、甲基第三丁基醚、二甲氧基甲烷、1,4-二㗁烷、四氫呋喃等)、醇類(甲醇、乙醇、2-丙醇、第三丁醇、甲氧基丙醇、二丙酮醇、環己醇、2-氟乙醇、2,2,2-三氟乙醇、2,2,3,3-四氟-1-丙醇等)、二醇醚(溶纖劑)類、醯胺系溶劑(N,N-二甲基甲醯胺、乙醯胺、N,N-二甲基乙醯胺等)、腈系溶劑(乙腈、異丁腈、丙腈、甲氧基乙腈等)、碳酸酯系(碳酸乙二酯、碳酸丙二酯等)、鹵化烴(二氯甲烷(methylene chloride)、二氯甲烷(dichloromethane)、氯仿等)、烴、及二甲基亞碸等。 上述分散液之溶劑就成膜性、成本、保存穩定性、優異之性能(例如光電轉換特性)表現之觀點而言較佳為極性溶劑,更佳為選自酮類、醯胺系溶劑、及二甲基亞碸中之至少1種溶劑,進而較佳為醯胺系溶劑,進而更佳為N,N-二甲基甲醯胺。 上述分散液中之上述鈣鈦礦化合物或其前驅物之金屬濃度就成膜性、成本、保存穩定性、優異之性能(例如光電轉換特性)表現之觀點而言較佳為0.1 mol/L以上,更佳為0.2 mol/L以上,進而較佳為0.3 mol/L以上,且較佳為1.5 mol/L以下,更佳為1.0 mol/L以下,進而較佳為0.5 mol/L以下。 上述分散液中之上述量子點之固形物成分濃度就成膜性、成本、保存穩定性、優異之性能(例如光電轉換特性)表現之觀點而言較佳為1 mg/mL以上,更佳為5 mg/mL以上,進而較佳為10 mg/mL以上,且較佳為100 mg/mL以下,更佳為50 mg/mL以下,進而較佳為30 mg/mL以下。 上述分散液之製備方法並無特別限定。再者,具體之製備方法如實施例所記載。 上述濕式製程中之塗佈方法並無特別限定,例如可列舉凹版塗佈法、棒式塗佈法、印刷法、噴霧法、旋轉塗佈法、浸漬法、及模嘴塗佈法等。 作為上述濕式製程中之乾燥方法,就製造容易性、成本、優異之性能(例如光電轉換特性)表現之觀點而言,例如可列舉熱乾燥、氣流乾燥、真空乾燥等,較佳為熱乾燥。 又,例如可適宜地列舉以下之形成方法作為形成包含上述鈣鈦礦化合物及上述量子點之光吸收層6的更詳細之方法。再者,具體之形成方法如實施例所記載。 首先,製備包含配位有配位基之量子點的分散液。作為配位於量子點之配位基,如上所述。 使配位基配位於量子點之方法並無限制,例如可藉由在配位基之存在下進行量子點之核產生與結晶成長而製備量子點表面配位有配位基之量子點。 其次,製備包含鈣鈦礦化合物之前驅物之溶液。作為溶劑,例如可列舉N,N-二甲基甲醯胺、二甲基亞碸、及γ-丁內酯等。 其後,將所製備之包含配位有配位基之量子點的分散液、與所製備之包含鈣鈦礦化合物之前驅物之溶液進行混合,將上述量子點之配位基交換為鈣鈦礦化合物之前驅物,從而製備包含配位有鈣鈦礦化合物之前驅物之量子點的分散液。再者,包含配位有配位基之量子點的分散液之分散介質、與包含鈣鈦礦化合物之前驅物的溶液之溶劑較佳為不溶混。藉此,可使包含已脫離之配位基的溶液、與包含配位有鈣鈦礦化合物之前驅物之量子點的分散液相分離,從而可萃取包含配位有鈣鈦礦化合物之前驅物之量子點的分散液。上述分散液之分散介質、與上述溶液之溶劑從上述溶劑中分別使用不溶混者即可。 然後,將所製備之包含配位有鈣鈦礦化合物之前驅物之量子點的分散液塗佈於多孔質層5之表面並進行乾燥,而形成光吸收層6。作為塗佈方法,例如可列舉凹版塗佈法、棒式塗佈法、印刷法、噴霧法、旋轉塗佈法、浸漬法、及模嘴塗佈法等。 作為電洞傳輸層7之材料,例如可列舉咔唑衍生物、多芳基烷烴衍生物、苯二胺衍生物、芳基胺衍生物、胺基取代查爾酮衍生物、苯乙烯基蒽衍生物、茀衍生物、腙衍生物、茋衍生物、矽氮烷衍生物、芳香族三級胺化合物、苯乙烯基胺化合物、芳香族二亞甲基系化合物、卟啉系化合物、酞菁系化合物、聚噻吩衍生物、聚吡咯衍生物、及聚對苯乙炔衍生物等。作為電洞傳輸層7之形成方法,例如可列舉塗佈法、及真空蒸鍍法等。作為塗佈方法,例如可列舉凹版塗佈法、棒式塗佈法、印刷法、噴霧法、旋轉塗佈法、浸漬法、及模嘴塗佈法等。 作為電極(正極)8及電極(負極)9之材料,例如可列舉鋁、金、銀、鉑等金屬;摻錫氧化銦(ITO)、氧化銦鋅(IZO)、氧化鋅(ZnO)等導電性金屬氧化物;導電性高分子等有機系導電材料;奈米管等碳系材料。作為電極(正極)8及電極(負極)9之形成方法,例如可列舉真空蒸鍍法、濺鍍法、及塗佈法等。 <太陽能電池> 本發明之太陽能電池係具有上述光電轉換元件者。於本發明之太陽能電池中,上述光吸收層以外之構成並無特別限制,可應用公知之太陽能電池之構成。 [實施例] 以下,基於實施例對本發明進行具體說明。表中只要無特別說明,則各成分之含量表示質量%。又,評價、測定方法如下所述。再者,只要無特別說明,則測定係於25℃下進行。 <I-V曲線> 將氙氣燈白色光作為光源(Peccell Technologies股份有限公司製造,PEC-L01),以相當於太陽光(AM1.5)之光強度(100 mW/cm2
)於光照射面積0.0363 cm2
(2 mm見方)之遮罩下,使用I-V特性測量裝置(Peccell Technologies股份有限公司製造,PECK2400-N)於掃描速度0.1 V/sec(0.01 V step)、電壓設定後等待時間50 msec、測定累計時間50 msec、開始電壓-0.1 V、結束電壓1.1 V之條件下測定電池單元之I-V曲線。再者,利用矽參考(BS-520,0.5714 mA)進行光強度補償。由I-V曲線求出短路電流密度(mA/cm2
)、開路電壓(V)、填充因數(FF)、及轉換效率(%)。 <耐久性> 將光電轉換元件於遮光室溫條件下(約25℃、濕度約60%)保存4天後測定I-V曲線,求出轉換效率。算出保存後之轉換效率相對於保存前之轉換效率之比。 <IPCE(incident photon-to-current(conversion)efficiency,光電轉換效率)> IPCE(外部轉換效率對入射光之波長相依性)係利用分光感度測定裝置(分光計器股份有限公司製造,CEP-2000MLR)於光照射面積0.0363 cm2
之遮罩下在300~1200 nm之波長範圍內進行測定。求出波長400 nm與900 nm之外部量子效率。 <吸收光譜> 光吸收層之吸收光譜係於在塗佈電洞傳輸劑前之試樣中,利用UV-Vis分光光度計(島津製作所股份有限公司製造,SolidSpec-3700)於掃描速度中速、樣本間距1 nm、狹縫寬度20、檢測器單元積分球之條件下對300~1200 nm之範圍進行測定。利用FTO(Fluorine-doped tin oxide,摻氟氧化錫)基板(Asahi Glass Fabry-Tech股份有限公司製造,25×25×1.8 mm)進行背景測定。 PbS量子點分散液之吸收光譜係於PbS量子點粉末0.1 mg/mL之濃度之己烷分散液中,利用1 cm見方之石英池同樣地測定。 再者,將橫軸:波長λ、縱軸:吸光度A之吸收光譜換為橫軸:能量hν、縱軸:(αhν)1/2
(α:吸光係數)之光譜,於吸收上升之部分擬合直線,將該直線與基準線之交點作為帶隙能。 <發射光譜> 光吸收層之發射光譜係於在塗佈電洞傳輸劑之前之試樣中,利用近紅外螢光分光計(堀場製作所股份有限公司製造,Fluorolog)於激發波長800 nm(實施例1~3、比較例1)或激發波長815 nm(比較例2、3)、激發光狹縫寬度10 nm、發射狹縫寬度15 nm、擷取時間0.1 sec、平均累計2次、暗補償開啟之條件下對820~1600 nm之範圍進行測定。 PbS量子點分散液之發射光譜係於PbS量子點粉末0.1 mg/mL之濃度之己烷分散液中,利用1 cm見方之四面透明池同樣地測定。 <光吸收層之表面平滑性> 光吸收層之表面平滑性係於在塗佈電洞傳輸劑之前之試樣中,利用奈米級複合顯微鏡(AFM,基恩士股份有限公司製造,VN-8010)於DFM-H模式、測定範圍100 μm×75 μm之條件下,對5處測定自動修正傾斜後之Ry(Rmax),求出其平均值。 <光吸收層之覆蓋率> 光吸收層之覆蓋率係於在塗佈電洞傳輸劑之前之試樣中,利用場發射型高解析掃描電子顯微鏡(FE-SEM,日立製作所股份有限公司製造,S-4800)測定光吸收層表面之SEM照片(放大倍率20000倍),對該SEM照片利用圖像分析軟體(Winroof)藉由筆工具指定光吸收層,根據光吸收層相對於總面積之面積比(面積率)而算出。 <實施例1、2及比較例1~3之X射線繞射解析(光吸收層之結晶性)> 光吸收層之結晶性係利用粉末X射線繞射裝置(Rigaku股份有限公司製造,RINT2500VPC,光源Cu Kα、管電壓40 kV、管電流120 mA)於取樣寬度0.02°、掃描速度2°/min、發散狹縫1/2°、縱發散1.2 mm、散射狹縫1/2°、受光狹縫0.15°之條件下對5~60°之範圍進行測定。光吸收層之鈣鈦礦化合物之微晶直徑係利用分析軟體(JADE)對於最強波峰而算出。 <實施例3之X射線繞射解析> 光吸收層之鈣鈦礦化合物之微晶直徑係於在塗佈電洞傳輸劑之前之試樣中,利用粉末X射線繞射裝置(Rigaku股份有限公司製造,MiniFlex600,光源CuKα、管電壓40 kV、管電流15 mA)於取樣寬度0.02°、掃描速度20°/min、太陽能狹縫(入射)5.0°、發散狹縫1.250°、縱發散13.0 mm、散射狹縫13.0 mm、太陽能狹縫(反射)5.0°、受光狹縫13.0 mm之條件下對5~60°之範圍進行測定。鈣鈦礦化合物之微晶直徑係利用分析軟體(PDXL,ver.2.6.1.2)對於鈣鈦礦化合物之最強波峰而算出。 PbS量子點之微晶直徑(粒徑)係於玻璃支架上之PbS量子點粉末中同樣地測定,利用分析軟體(PDXL,ver.2.6.1.2)對於PbS之立方體(220)波峰(2θ=42°)而算出。 <PbS量子點粉末之組成> PbS量子點粉末中之Pb濃度係於將PbS量子點粉末完全溶解於硝酸/過氧化氫混合溶液中之後,藉由高頻感應耦合電漿發射光譜(ICP)分析而定量。 PbS量子點粉末中之油酸根陰離子濃度係於重甲苯(Sigma-Aldrich Japan有限公司製造,含有99 atom%D、TMS0.03 vol%)溶劑中,將二溴甲烷(和光純藥股份有限公司製造)用作內部標準物質,藉由質子(1
H)核磁共振(NMR)法進行定量。利用NMR裝置(安捷倫公司製造,VNMRS400)於共振頻率400 HHz、延遲時間60秒、累計32次之條件下進行測定,由油酸根陰離子之乙烯基質子(5.5 ppm vs.TMS)之積分值相對於二溴甲烷(3.9 ppm vs.TMS)之積分值的比而求出PbS量子點粉末中之油酸根陰離子濃度。 PbS量子點粉末中之Cl濃度係於玻璃基板上之PbS量子點粉末中,藉由光電子光譜法(ESCA)進行定量。利用ESCA裝置(ULVAC-PHI公司製造,PHI Quantera SXM)於X射線源單色化AlKα(25 W,15 kV)、光束直徑100 μm、測定範圍1 mm2
、通過能量112 eV、步進0.2 eV、帶電補償中和劑及Ar+
照射、光電子掠出角度45°、鍵結能補償C1s(284.8 eV)之條件下進行ESCA測定,由Pb4f、S2p、Cl2p峰值而求出組成。 <油酸根陰離子去除率> PbS量子點之從油酸根陰離子向鈣鈦礦原料之配位基交換時之油酸根陰離子去除率係藉由NMR法定量配位基交換時之上相之己烷溶液中之油酸濃度,計算出己烷溶液中之油酸量相對於配位基交換前之PbS量子點之油酸根陰離子量的莫耳比。 油酸根陰離子去除率(%)=100×上相之己烷溶液中之油酸量/配位基交換前之PbS量子點之油酸根陰離子量 <光吸收層中之油酸根陰離子相對於構成PbS量子點之Pb元素之莫耳比> 光吸收層中之油酸根陰離子相對於構成PbS量子點之Pb元素之莫耳比係由配位基交換前之PbS量子點之油酸根陰離子量與該油酸根陰離子去除率而算出。 光吸收層中之油酸根陰離子相對於構成PbS量子點之Pb元素之莫耳比=(1-油酸根陰離子去除率/100)×(配位基交換前之PbS量子點之油酸根陰離子/Pb莫耳比) <光吸收層中之油酸根陰離子相對於構成鈣鈦礦之Pb元素之莫耳比> 光吸收層中之油酸根陰離子相對於構成鈣鈦礦之Pb元素之莫耳比係由配位基交換前之PbS量子點之油酸根陰離子量與該油酸根陰離子去除率、及調配組成(構成PbS量子點之Pb元素相對於構成鈣鈦礦之Pb元素的莫耳比)而算出。 光吸收層中之油酸根陰離子相對於構成鈣鈦礦之Pb元素之莫耳比=(1-油酸根陰離子去除率/100)×(配位基交換前之PbS量子點之油酸根陰離子/Pb莫耳比)×(PbS量子點之Pb莫耳/鈣鈦礦之Pb莫耳比) <配位有油酸之PbS量子點之合成> 將氧化鉛(和光純藥工業股份有限公司製造)0.45 g、十八碳烯(Sigma-Aldrich Japan有限公司製造)10 g、油酸(Sigma-Aldrich Japan有限公司製造)1.34 g加入至50 mL之三口燒瓶中,於80℃下攪拌2小時,藉此製備Pb源溶液。於利用真空泵對反應系內進行脫氣、氮氣置換後,進而於110℃下攪拌30分鐘。另一方面,將1,1,1,3,3,3-六甲基二矽雜硫雜環己烷(東京化成工業股份有限公司製造)210 μL溶解於十八碳烯4 mL中,而製備S源溶液。於110℃、攪拌、氮氣下利用注射器將S源溶液瞬間注入至Pb源溶液中,而生成配位有油酸之PbS量子點。於添加大為過量之丙酮而停止反應後,藉由離心分離(日立工機股份有限公司製造,CR21GIII:R15A轉子、2500 rpm、2分鐘)去除上清液。將沈澱物乾燥後,添加己烷使之再次分散,藉此製備包含配位有油酸之PbS量子點的己烷分散液(PbS=0.4質量%、粒徑3.5 nm、吸收峰值波長940 nm、吸收端波長1050 nm、發光峰值波長1040 nm(激發波長800 nm))。 <包含Cl元素之PbS量子點之合成> 將氯化鉛(Alfa Aesar公司製造,99.999%)8.34 g、油胺(Acros Organics公司製造,C18 80%以上)64.8 g加入至300 mL之三口燒瓶中,於在80℃下利用膜片型真空泵對反應系內進行脫氣、氮氣置換後,於140℃下攪拌30分鐘,冷卻至30℃,而製備Pb源白濁液。另一方面,於在120℃下將硫磺結晶(和光純藥股份有限公司製造,99.999%)0.321 g溶解於油胺8.10 g中之後,冷卻至80℃,而製備S源溶液。於氮氣氣氛、強力攪拌下,利用注射器以10秒鐘將S源溶液注入至Pb源白濁液(30℃)中,而生成包含Cl元素與油胺之PbS量子點(黑濁液)。進而攪拌40秒後,添加冷己烷200 mL,使PbS量子點之結晶成長停止。於利用離心分離(日立工機股份有限公司製造,CR21GIII:R12A轉子、4000 rpm、3分鐘)去除灰色沈澱物(氯化鉛)後,向黑色上清液中添加等量之乙醇,而獲得黑色沈澱物。於將經減壓乾燥之黑色沈澱物4 g再次分散於己烷100 g中,並利用離心分離去除灰色沈澱物(氯化鉛)後,向黑色上清液中添加並混合油酸(Sigma-Aldrich Japan有限公司製造,90%)10 g,其後靜置18小時。進而,於利用離心分離去除灰色沈澱物(氯化鉛)後,向黑色上清液添加等量之乙醇,而獲得黑色沈澱物。於減壓過濾(孔徑0.2 μm、材質PTFE(Polytetrafluoroethylene,聚四氟乙烯))、乙醇洗淨後,對黑色過濾物進行減壓乾燥,而合成配位有Cl元素與油酸根陰離子之PbS量子點粉末。 根據ESCA分析結果,Pb/S/Cl原子比=1/1.2/0.65,根據NMR及ICP分析結果,油酸根陰離子/Pb莫耳比=0.13,根據X射線繞射結果,微晶直徑為3.6 nm,根據吸收光譜,吸收端波長為1240 nm,根據發射光譜,發光峰值波長為1260 nm。 <實施例1> 依序進行以下之(1)~(7)步驟,而製作電池單元。 (1)FTO基板之蝕刻、洗淨 將25 mm見方之附帶摻氟氧化錫(FTO)之玻璃基板(Asahi Glass Fabry-Tech股份有限公司製造,25×25×1.8 mm,以下稱為FTO基板)之一部分利用Zn粉末與2 mol/L鹽酸水溶液進行蝕刻。利用1質量%中性洗劑、丙酮、2-丙醇(IPA)、離子交換水,按照該順序各進行10分鐘超音波洗淨。 (2)臭氧洗淨 於即將形成緻密TiO2
層之步驟前,進行FTO基板之臭氧洗淨。使FTO面朝上,將基板放入臭氧產生裝置(MEIWAFOSIS股份有限公司製造之臭氧清潔器,PC-450UV)中,進行30分鐘UV照射。 (3)緻密TiO2
層(阻擋層)之形成 使雙(2,4-戊二酸)雙(2-丙醇合)鈦(IV)(75%IPA溶液,東京化成工業股份有限公司製造)4.04 g溶解於乙醇(脫水,和光純藥工業股份有限公司製造)123.24 g中,而製備噴霧溶液。向加熱板(450℃)上之FTO基板,從高度約30 cm處以0.3 MPa進行噴霧。於重複2次20 cm×8列噴霧約7 g後,於450℃下乾燥3分鐘。藉由再次進行2次該操作,而合計噴霧約21 g之溶液。其後,將該FTO基板浸漬於氯化鈦(和光純藥工業股份有限公司製造)水溶液(50 mM)中,於70℃下加熱30分鐘。於水洗、乾燥後,於500℃下焙燒20分鐘(升溫15分鐘),藉此形成緻密TiO2
(cTiO2
)層。 (4)中孔TiO2
層(多孔質層)之形成 向銳鈦礦型TiO2
糊劑(PST-18NR,日揮觸媒化成股份有限公司製造)0.404 g中加入乙醇(脫水,和光純藥工業股份有限公司製造)1.41 g,進行1小時超音波分散,而製備TiO2
塗佈液。於乾燥室內,在上述cTiO2
層上利用旋轉塗佈機(Mikasa股份有限公司製造,MS-100)旋轉塗佈TiO2
塗佈液(5000 rpm×30 sec)。於在125℃之加熱板上乾燥30分鐘後,於500℃下焙燒30分鐘(升溫時間60分鐘),藉此形成中孔TiO2
(mTiO2
)層。 (5)光吸收層之形成 光吸收層及電洞傳輸層之形成係於手套箱內進行。將溴化鉛(PbBr2
,鈣鈦礦前驅物用,東京化成工業股份有限公司製造)0.114 g、甲基胺氫溴酸鹽(CH3
NH3
Br,東京化成工業股份有限公司製造)0.035 g、脫水N,N-二甲基甲醯胺(脫水DMF,和光純藥工業股份有限公司製造)1 mL進行混合並於室溫下攪拌,而製備0.3 M溴系鈣鈦礦(CH3
NH3
PbBr3
)原料之DMF溶液(無色透明)。於室溫、攪拌下,向上述之包含配位有油酸之PbS量子點之己烷分散液(PbS量子點粉末10 mg/mL己烷)1 mL中添加溴系鈣鈦礦原料之DMF溶液0.5 mL,攪拌10分鐘後靜置1小時。去除上相之無色透明己烷溶液後,利用孔徑0.45 μm之PTFE過濾器而過濾下相之包含配位有溴系鈣鈦礦原料之PbS量子點的分散液(PbS相對於PbS與鈣鈦礦之合計含量的質量比為5.1%)。於上述mTiO2
層上利用旋轉塗佈機(Mikasa股份有限公司製造之MS-100)旋轉塗佈上述分散液(5000 rpm×30 sec)。再者,旋轉開始20秒後,將作為不良溶劑之甲苯(脫水,和光純藥工業股份有限公司製造)1 mL瞬間滴下至旋轉中心部。旋轉塗佈後,立即在100℃加熱板上乾燥10分鐘。於利用浸入有DMF之棉棒擦拭與FTO之接觸部分後,於70℃下使之乾燥60分鐘,而形成光吸收層。該光吸收層中包含溴系鈣鈦礦化合物CH3
NH3
PbBr3
及量子點PbS。鈣鈦礦化合物之生成係藉由X射線繞射圖樣、吸收光譜及電子顯微鏡觀察而確認,又,量子點之形成係根據螢光光譜而確認。 (6)電洞傳輸層之形成 將雙(三氟甲磺醯)亞胺鋰(LiTFSI,和光純藥工業股份有限公司製造)9.1 mg、[三(2-(1H-吡唑-1-基)-4-第三丁基吡啶)鈷(III)]三(雙(三氟甲磺醯亞胺)(鈷(4-第三丁基吡啶基-2-1H-吡唑)3.3TFSI,和光純藥工業股份有限公司製造)8.7 mg、2,2',7,7'-四[N,N-二-p-甲氧基苯基胺]-9,9'-螺二茀(Spiro-OMeTAD,和光純藥工業股份有限公司製造)72.3 mg、氯苯(Nacalai Tesque股份有限公司製造)1 mL、三丁基膦(TBP,Sigma-Aldrich製造)28.8 μL進行混合,於室溫下攪拌,而製備電洞傳輸劑(HTM)溶液(黑紫色透明)。即將使用前,利用孔徑0.45 μm之PTFE過濾器對HTM溶液進行過濾。於上述光吸收層上利用旋轉塗佈機(Mikasa股份有限公司,MS-100)旋轉塗佈HTM溶液(4000 rpm×30 sec)。旋轉塗佈後,立即在70℃加熱板上乾燥30分鐘。於乾燥後,利用浸入有氯苯之棉棒擦拭與FTO之接觸部分,其後利用浸入有DMF之棉棒擦拭基板反面整體,進而於70℃之加熱板上使之乾燥數分鐘,而形成電洞傳輸層。 (7)金電極之蒸鍍 利用真空蒸鍍裝置(ULVAC機工業股份有限公司製造之VTR-060M/ERH),於真空下(4~5×10-3
Pa),在上述電洞傳輸層上蒸鍍100 nm金(蒸鍍速度8~9 Å/sec),而形成金電極。 <實施例2> 於實施例1之(5)光吸收層之形成中,向上述包含配位有油酸之PbS量子點之己烷分散液1 mL中添加溴系鈣鈦礦原料之DMF溶液1 mL(PbS相對於PbS與鈣鈦礦之合計含量之質量比為2.6%),除此以外,藉由與實施例1相同之方式形成光吸收層,而製作電池單元。 <實施例3> 於實施例1之(5)光吸收層之形成中,向上述含有包含Cl元素之PbS量子點之己烷分散液2 mL中添加溴系鈣鈦礦原料之DMF溶液1 mL(PbS相對於PbS與鈣鈦礦之合計含量之質量比為6.3%),除此以外,藉由與實施例1相同之方式形成光吸收層,而製作電池單元。 <比較例1> 於實施例1之(5)光吸收層之形成中,未添加上述包含配位有油酸之PbS量子點之己烷分散液(PbS相對於PbS與鈣鈦礦之合計含量之質量比為0%),除此以外,藉由與實施例1相同之方式形成光吸收層,而製作電池單元。 <比較例2> 於實施例1之(5)光吸收層之形成中,將碘化鉛(PbI2
,鈣鈦礦前驅物用,東京化成工業股份有限公司製造)0.143 g、甲基胺氫碘酸鹽(CH3
NH3
I,東京化成工業股份有限公司製造)0.050 g、脫水N,N-二甲基甲醯胺(脫水DMF,和光純藥工業股份有限公司製造)1 mL進行混合,於室溫下攪拌,而製備0.3 M碘系鈣鈦礦(CH3
NH3
PbI3
)原料之DMF溶液(黃色透明)。於實施例1之(5)光吸收層之形成中,使用上述所製備之碘系鈣鈦礦原料之DMF溶液代替溴系鈣鈦礦原料之DMF溶液(PbS相對於PbS與鈣鈦礦之合計含量之質量比為5.6%),除此以外,藉由與實施例1相同之方式形成光吸收層,而製作電池單元。 <比較例3> 於比較例2中,未添加上述包含配位有油酸之PbS量子點之己烷分散液(PbS相對於PbS與鈣鈦礦之合計含量之質量比為0%),除此以外,藉由與比較例2相同之方式形成光吸收層,而製作電池單元。 [表1]
[產業上之可利用性] 本發明之光吸收層及光電轉換元件可適宜地用作下一代太陽能電池之構成構件。
1‧‧‧光電轉換元件
2‧‧‧透明基板
3‧‧‧透明導電層
4‧‧‧阻擋層
5‧‧‧多孔質層
6‧‧‧光吸收層
7‧‧‧電洞傳輸層
8‧‧‧電極(正極)
9‧‧‧電極(負極)
10‧‧‧光
圖1係表示本發明之光電轉換元件之結構之一例的概略剖視圖。
Claims (22)
- 一種光吸收層,其含有:具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能之鈣鈦礦化合物、及具有0.2 eV以上且上述鈣鈦礦化合物之帶隙能以下之帶隙能的量子點。
- 如請求項1之光吸收層,其中上述鈣鈦礦化合物為選自下述通式(1)所表示之化合物及下述通式(2)所表示之化合物中之1種以上, RMX3 (1) (式中,R為一價陽離子,M為二價金屬陽離子,X為鹵素陰離子) R1 R2 R3 n - 1 Mn X3n + 1 (2) (式中,R1 、R2 、及R3 分別獨立為一價陽離子,M為二價金屬陽離子,X為鹵素陰離子,n為1以上且10以下之整數)。
- 如請求項2之光吸收層,其中上述X為氟陰離子、氯陰離子、溴陰離子、或碘陰離子。
- 如請求項2或3之光吸收層,其中上述R為選自烷基銨離子及甲脒鎓離子中之1種以上。
- 如請求項2或3之光吸收層,其中上述R1 、R2 、及R3 為選自烷基銨離子及甲脒鎓離子中之1種以上。
- 如請求項2或3之光吸收層,其中上述M為Pb2 + 、Sn2 + 、或Ge2 + 。
- 如請求項1至3中任一項之光吸收層,其中上述鈣鈦礦化合物之帶隙能為2.0 eV以上且3.6 eV以下。
- 如請求項1至3中任一項之光吸收層,其中上述量子點之帶隙能為0.8 eV以上且1.6 eV以下。
- 如請求項1至3中任一項之光吸收層,其中上述鈣鈦礦化合物之帶隙能與上述量子點之帶隙能之差為0.4 eV以上且2.0 eV以下。
- 如請求項1至3中任一項之光吸收層,其中上述量子點包含金屬氧化物或金屬硫屬化物。
- 如請求項1至3中任一項之光吸收層,其中上述量子點包含Pb元素。
- 如請求項1至3中任一項之光吸收層,其中上述量子點相對於上述鈣鈦礦化合物與上述量子點之合計含量的含有比率為0.1質量%以上且10質量%以下。
- 一種光吸收層,其係含有具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能之鈣鈦礦化合物者,並且於利用波長800 nm(能量1.55 eV)之光而激發光吸收層時,於0.2 eV以上且1.4 eV以下之範圍顯示出發射光譜之峰值。
- 一種分散液,其含有:具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能之鈣鈦礦化合物或其前驅物、及具有0.2 eV以上且上述鈣鈦礦化合物之帶隙能以下之帶隙能的量子點。
- 如請求項14之分散液,其中上述分散液含有溶劑,且上述分散液之溶劑為極性溶劑。
- 如請求項14或15之分散液,其中上述分散液中之上述鈣鈦礦化合物或其前驅物之金屬濃度為0.1 mol/L以上且1.5 mol/L以下。
- 如請求項14或15之分散液,其中上述分散液中之上述量子點之固形物成分濃度為1 mg/mL以上且100 mg/mL以下。
- 一種光吸收層,其係由如請求項14至17中任一項之分散液所獲得。
- 一種光吸收層之製造方法,該光吸收層含有具有1.7 eV以上且4.0 eV以下之帶隙能之鈣鈦礦化合物、與具有0.2 eV以上且上述鈣鈦礦化合物之帶隙能以下之帶隙能的量子點,並且該製造方法包括將上述鈣鈦礦化合物或其前驅物、與上述量子點進行混合之步驟。
- 如請求項19之光吸收層之製造方法,其中上述進行混合之步驟為濕式製程之步驟。
- 一種光電轉換元件,其具有如請求項1至13及18中任一項之光吸收層。
- 一種太陽能電池,其具有如請求項21之光電轉換元件。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016072968 | 2016-08-04 | ||
WOPCT/JP2016/072968 | 2016-08-04 | ||
PCT/JP2017/013455 WO2018025445A1 (ja) | 2016-08-04 | 2017-03-30 | 光吸収層、光電変換素子、分散液、光電変換素子、及び、太陽電池、並びに、光吸収層の製造方法 |
WOPCT/JP2017/013455 | 2017-03-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201825610A true TW201825610A (zh) | 2018-07-16 |
TWI653300B TWI653300B (zh) | 2019-03-11 |
Family
ID=61073305
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW106115577A TWI653300B (zh) | 2016-08-04 | 2017-05-11 | 光吸收層、光電轉換元件及太陽能電池 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11133428B2 (zh) |
EP (1) | EP3496171B1 (zh) |
JP (2) | JP6297242B1 (zh) |
KR (1) | KR102046740B1 (zh) |
CN (1) | CN109075257A (zh) |
TW (1) | TWI653300B (zh) |
WO (1) | WO2018025445A1 (zh) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US12009379B2 (en) * | 2017-05-01 | 2024-06-11 | Visera Technologies Company Limited | Image sensor |
WO2019058448A1 (ja) * | 2017-09-20 | 2019-03-28 | 花王株式会社 | 光吸収層とその製造方法、分散液、光電変換素子、及び中間バンド型太陽電池 |
JPWO2019193910A1 (ja) * | 2018-04-06 | 2021-08-19 | Gsアライアンス株式会社 | 量子ドットを含有するマスターバッチ |
CN112088442A (zh) * | 2018-04-10 | 2020-12-15 | 花王株式会社 | 光吸收层、光电转换元件和太阳能电池 |
JP7000258B2 (ja) | 2018-06-06 | 2022-02-04 | トヨタ自動車株式会社 | ホルムアミジニウムハロゲン化鉛ペロブスカイト量子ドットの調製方法 |
US20210257167A1 (en) * | 2018-06-19 | 2021-08-19 | Kao Corporation | Layered perovskite, light absorption layer, light-absorption-layer-equipped substrate, photoelectric conversion element, and solar cell |
US20210234056A1 (en) * | 2018-09-12 | 2021-07-29 | Ns Materials Inc. | Infrared sensor and manufacturing method for the same |
KR20210093239A (ko) * | 2018-11-19 | 2021-07-27 | 카오카부시키가이샤 | 광 흡수층, 광전 변환 소자, 및 태양 전지 |
CN110176508A (zh) * | 2019-06-05 | 2019-08-27 | 中南大学 | 基于量子点修饰无机反式钙钛矿太阳能电池的制备方法 |
JP7489635B2 (ja) * | 2020-01-22 | 2024-05-24 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | 太陽電池 |
CN112371104B (zh) * | 2020-12-08 | 2022-09-16 | 陕西科技大学 | 一种钛酸钙/钛酸铋复合光催化剂及其制备方法和应用 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6031657B2 (ja) * | 2012-08-31 | 2016-11-24 | ペクセル・テクノロジーズ株式会社 | ペロブスカイト化合物を用いた光電変換素子およびその製造方法 |
CN104737254B (zh) * | 2012-09-12 | 2018-02-27 | 韩国化学研究院 | 具备光吸收结构体的太阳能电池 |
CN106684246B (zh) * | 2012-09-18 | 2020-01-21 | 牛津大学科技创新有限公司 | 光电器件 |
JP6106130B2 (ja) | 2013-07-31 | 2017-03-29 | 富士フイルム株式会社 | 光電変換素子および太陽電池 |
WO2015092397A1 (en) * | 2013-12-17 | 2015-06-25 | Isis Innovation Limited | Photovoltaic device comprising a metal halide perovskite and a passivating agent |
JP2016009737A (ja) | 2014-06-24 | 2016-01-18 | 株式会社リコー | ペロブスカイト型太陽電池の製造方法 |
CN104183704B (zh) | 2014-09-05 | 2016-08-17 | 中南大学 | 一种量子点共敏化型钙钛矿太阳能电池的制备方法 |
WO2016109902A2 (en) * | 2015-01-05 | 2016-07-14 | The Governing Council Of The University Of Toronto | Quantum-dot-in-perovskite solids |
-
2017
- 2017-03-30 JP JP2017562382A patent/JP6297242B1/ja active Active
- 2017-03-30 WO PCT/JP2017/013455 patent/WO2018025445A1/ja unknown
- 2017-03-30 EP EP17836552.4A patent/EP3496171B1/en active Active
- 2017-03-30 CN CN201780028015.0A patent/CN109075257A/zh active Pending
- 2017-03-30 KR KR1020187033355A patent/KR102046740B1/ko active IP Right Grant
- 2017-03-30 US US16/318,633 patent/US11133428B2/en active Active
- 2017-05-11 TW TW106115577A patent/TWI653300B/zh not_active IP Right Cessation
-
2018
- 2018-02-20 JP JP2018027591A patent/JP6317535B1/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3496171B1 (en) | 2021-06-23 |
KR102046740B1 (ko) | 2019-11-19 |
JP6297242B1 (ja) | 2018-03-20 |
KR20180129959A (ko) | 2018-12-05 |
CN109075257A (zh) | 2018-12-21 |
EP3496171A1 (en) | 2019-06-12 |
US20190165192A1 (en) | 2019-05-30 |
JP6317535B1 (ja) | 2018-04-25 |
US11133428B2 (en) | 2021-09-28 |
JPWO2018025445A1 (ja) | 2018-08-02 |
JP2018107465A (ja) | 2018-07-05 |
EP3496171A4 (en) | 2020-07-15 |
WO2018025445A1 (ja) | 2018-02-08 |
TWI653300B (zh) | 2019-03-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI653300B (zh) | 光吸收層、光電轉換元件及太陽能電池 | |
TWI743274B (zh) | 光吸收層、光電轉換元件、及太陽電池 | |
KR102046739B1 (ko) | 광 흡수층과 그 제조 방법, 분산액, 광전 변환 소자, 및 중간 밴드형 태양전지 | |
KR102165379B1 (ko) | 광 흡수층, 광전 변환 소자, 및 태양 전지 | |
KR102540430B1 (ko) | 광 흡수층, 광전 변환 소자, 및 태양전지 | |
WO2021112072A1 (ja) | 光吸収層及びその製造方法、分散液、光電変換素子、並びに太陽電池 | |
KR20210093239A (ko) | 광 흡수층, 광전 변환 소자, 및 태양 전지 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |