TW201738632A - 製造光學顯示裝置的方法 - Google Patents

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Abstract

本發明的課題為提供一種製造光學顯示裝置的方法，可在光學功能膜與面板構件的貼合時適當修正黏著劑層產生之條狀的變形。其解決手段為本方法，包括：將載體膜一邊在剝離體的頂部回折並進行搬運，藉以使片狀光學功能膜與黏著劑層一起從載體膜剝離的步驟；片狀光學功能膜僅預定出頭長度被剝離時，停止載體膜的搬運，檢測前端部的步驟；使片狀光學功能膜的前端部前進至貼合位置為止的步驟；將從前端部至片狀光學功能膜上之出頭長度更上游側的預定位置為止，以第1貼合速度貼合於面板構件的步驟；及將從預定的位置到片狀光學功能膜的後端部為止的至少一部份，以較第1貼合速度更快的速度貼合於面板構件的步驟。

Description

製造光學顯示裝置的方法
本發明是關於製造光學顯示裝置的方法。更具體而言，本發明是關於可以低速之片狀光學功能膜與矩形面板的初期貼合速度，消除從載體膜剝離後的片狀光學功能膜之前端部檢測時黏著劑層產生的條狀的變形的製造光學顯示裝置的方法。
近年來，在光學顯示裝置的製造現場，採用roll to panel(RTP)方式的製造裝置及方法(例如，專利文獻1)。RTP方式是通常如以下製造光學顯示裝置。首先，從輥送出具有預定寬的帶狀的光學膜層疊體。帶狀的光學膜層疊體是包括：帶狀的載體膜；形成在該載體膜一方的面的黏著劑層；及透過該黏著劑層支撐於載體膜上的光學膜所構成。光學膜可以是單層或複數層。在所送出的帶狀的光學膜層疊體，於寬方向連續地切設切入線，藉此在鄰接的切入線之間形成有片狀光學功能膜。
連續支撐在載體膜上的片狀光學功能膜通常為無缺點的正常薄膜，藉配置在貼合位置附近的剝離手段 從載體膜與黏著劑層一起剝離，送至貼合位置。到達貼合位置後的片狀光學功能膜是藉具有上下一對的貼合輥的貼合手段，與朝著另外貼合位置搬運的面板構件對應的貼合面貼合。
剝離手段是將光學功能膜層疊體的載體膜側捲繞在具有與貼合位置相對之頂部的大致斜錐形的剝離手段的該頂部。片狀光學功能膜是將捲繞在剝離手段的載體膜，一邊與朝著貼合位置的片狀光學功能膜的搬運方向大致相反的方向回折並進行搬運，藉此從載體膜與黏著劑層一起剝離。本說明書中，稱片狀光學功能膜從載體膜剝離之處的裝置上的位置為剝離位置，剝離位置是存在於剝離手段的頂部附近。
如上述的RTP系統中，載體膜上的片狀光學功能膜會有其姿勢從理想的姿勢偏位的狀態送至與面板構件的貼合位置的場合。在此一場合，有在對應片狀光學功能膜的任意狀態修正面板構件的姿勢(「定位」)之後，貼合面板構件與片狀光學功能膜的必要。為獲得此修正所需之片狀光學功能膜的姿勢，貼合前的片狀光學功能膜的前端部是例如藉光學攝影機等的攝影手段攝影來檢測。前端部的檢測是以在片狀光學功能膜的搬運方向前方的一部份從載體膜剝離，當前端部位於剝離位置與貼合位置之間時，檢測前端部為佳(例如，專利文獻2)。本說明書中，稱為了進行前端部的檢測而從載體膜剝離之片狀光學功能膜的長度為出頭長度。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特許第4377964號
[專利文獻2]日本專利特許第5458212號
片狀光學功能膜的前端部位於剝離位置與貼合位置之間的檢測位置時檢測前端部的構成的裝置中，在片狀光學功能膜僅出頭長度被剝離，前端部到達檢測位置時，載體膜停止其搬運。此時，黏著劑層從前端部到對應出頭長度的位置為止是與片狀光學功能膜一起被從載體膜剝離，而從該位置到後端部為止的位置依然是貼合於載體膜的狀態。
如以上出頭的狀態停止搬運時，在對應停止時的剝離位置的黏著劑層的部份中，黏著劑層的載體膜側的面產生條狀的變形。第1圖是表示在黏著劑層產生條狀的變形。黏著劑層的變形是如第1(a)圖表示，在片狀光學功能膜的搬運方向前方部份中，具有沿著前端部朝寬方向延伸的高度所形成。第1(b)圖也顯示以顯微鏡觀察在黏著劑層產生條狀變形的一部份的結果。將具有產生如上述條狀變形的黏著劑層的片狀光學功能膜貼合於面板構件時，會產生因變形之黏著劑層的片狀光學功能膜的變形，或面 板構件與黏著劑層之間的氣泡封入的產生，而有該等成為影像顯示裝置的缺陷原因的場合。
第2(a)圖及第2(b)圖表示在本發明中所使用之光學膜層疊體F的構成例。如第2(a)圖及第2(b)圖表示，隨後貼合於矩形面板成為載體膜F3側的黏著劑層F2(圖中表示為第1黏著劑層的層)的厚度通常為25μm左右。相對於此，如第2(a)圖之比較厚的光學功能膜(第1保護膜、偏振片、第2保護膜、第2黏著劑層及表面保護膜)F1的厚度為255μm左右，黏著劑層F2的厚度僅是光學功能膜F1的10分之1左右。如上述較厚之光學功能膜的場合，即使在黏著劑層產生條狀的缺陷，其缺陷仍不能被辨識成光學顯示裝置的影像上之缺陷程度的變形。但是，隨著光學功能膜的薄型化，如第2(b)圖表示，例如厚度110μm左右的薄型光學功能膜出現時，與現今為止的厚的光學功能膜的場合比較相對於光學功能膜F1之厚度的黏著劑層F2的厚度的比例變大。伴隨著如上述薄型光學功能膜的普及，形成在黏著劑層之條狀的變形成為光學顯示裝置之影像上的缺陷不容忽視。
本發明是以提供一種盡可能不犧牲片狀光學功能膜與面板構件之貼合所需的時間，可適當修正於光學功能膜與面板構件之貼合時在黏著劑層產生的條狀的變形之製造光學顯示裝置的方法為課題。
為解決上述的課題，本發明在其一樣態中，提供一種從包括載體膜；形成在該載體膜一方的面的黏著劑層；及透過該黏著劑層連續支撐在載體膜上的複數片狀光學功能膜的帶狀的光學膜層疊體的載體膜，藉著與黏著劑層一起剝離片狀光學功能膜，並將剝離後的片狀光學功能膜在貼合位置貼合於面板構件製造光學顯示裝置的方法。
該方法包括：將載體膜一邊以配置在與貼合位置相對位置的具有頂部的剝離體的該頂部回折並進行搬運，藉以使片狀光學功能膜與黏著劑層一起從載體膜剝離的步驟，及片狀光學功能膜從前端部僅預定出頭長度被剝離時，停止載體膜的搬運，檢測前端部的步驟。為檢測前端部而停止載體膜的搬運時，即在片狀光學功能膜出頭狀態停止時，在對應停止時之剝離位置的黏著劑層的部份，在黏著劑層的載體膜側的面上，產生如第1圖表示的條狀的變形。
本發明進一步包括：在前端部的檢測結束之後，搬運載體膜，使片狀光學功能膜上的前端部前進至貼合位置為止的步驟，及將片狀光學功能膜貼合於面板構件的步驟。
將片狀光學功能膜貼合於面板構件的步驟，包括：從前端部將由片狀光學功能膜上的出頭長度至上游側的預定位置為止，以第1貼合速度為最大速度貼合於面板構件的步驟，及將從預定位置到片狀光學功能膜的後端 部為止的至少一部份，以較第1貼合速度快的第2貼合速度貼合於面板構件的步驟。檢測前端部的步驟中產生於黏著劑層的條狀的變形是由其變形存在的場所到位於上游側位置的預定位置為止，以較第2速度緩慢的第1速度貼合片狀光學功能膜與面板構件，可藉此適當加以修正。本說明中條狀的變形「被適當修正」不僅是將黏著劑層的條狀變形完全修正的狀態(變形的高度成為零的狀態)，並意味著修正至後步驟進行的檢查中不能被辨識成光學顯示裝置的影像上之缺陷程度的狀態。
本發明之一實施形態中，預定的位置是以從片狀光學功能膜的前端部的50mm~200mm的位置為佳。第1貼合速度是以2mm/秒~100mm/秒為佳，為檢測前端部而停止載體膜的搬運之後，檢測後至載體膜的搬運開始為止的待機時間是以3秒~5秒為佳。
1‧‧‧連續製造裝置
11‧‧‧光學膜層疊體F’的輥
13、17‧‧‧進料輥
14、18‧‧‧擺動輥
15‧‧‧裁斷部
20‧‧‧貼合部
21‧‧‧剝離手段
22‧‧‧剝離手段的頂部
23、24‧‧‧貼合輥
25‧‧‧前端部檢測手段
26‧‧‧貼合位置
30‧‧‧搬運手段
32‧‧‧定位部
33‧‧‧面板位置檢測手段
40‧‧‧捲繞手段
41‧‧‧進料輥
50‧‧‧控制部
51‧‧‧控制手段
52‧‧‧記憶手段
F’、F‧‧‧光學膜層疊體
F1’‧‧‧帶狀光學功能膜
F1‧‧‧片狀光學功能膜
F2‧‧‧黏著劑層
F3‧‧‧載體膜
FA‧‧‧片狀光學功能膜的前端部
FB‧‧‧片狀光學功能膜的後端部
FC‧‧‧片狀光學功能膜上的預定位置
W‧‧‧面板構件
P‧‧‧面板層疊體
D‧‧‧黏著劑層的條狀的變形
d1‧‧‧片狀光學功能膜的出頭長度
d2‧‧‧以第1貼合速度貼合之片狀光學功能膜的長度(從FA至FC為止的長度)
d3‧‧‧片狀光學功能膜的殘餘長度(從FC至FB為止的長度)
v1‧‧‧第1貼合速度
v2‧‧‧第2貼合速度
第1圖表示在黏著劑層產生之條狀的變形，(a)是表示在黏著劑層的載體膜側的面產生之條狀變形的位置的圖，(b)為條狀變形的一部份攝影的顯微鏡照片。
第2圖表示本發明中使用之光學膜層疊體的例，(a)為習知所使用的光學膜層疊體的構成，(b)為薄型光學膜層疊體的構成。
第3圖是藉本發明之一實施形態連續製造光學顯示裝 置的連續製造裝置1的整體構成的概念圖。
第4圖是表示在貼合部中，將片狀光學功能膜剝離，檢測前端部，並貼合片狀光學功能膜與面板構件為止的動作的圖。
第5圖是表示將片狀光學功能膜與面板構件貼合時之貼合速度變化的圖。
第6圖是表示片狀光學功能膜及面板構件的貼合速度與貼合後之條狀的變形高度的關係的圖。
第7圖是表示本發明的實施例及比較例的表。
以下，一邊參閱圖示並詳細說明本發明的實施形態。本發明不限於該等的實施形態。
第3圖是藉本發明之一實施形態連續製造光學顯示裝置的裝置1的整體構成的概念圖。連續製造裝置1是例如可使用第2圖表示的構成的光學膜層疊體F。光學膜層疊體F是在帶狀的載體膜F3上，透過黏著劑層F2，將複數的片狀光學功能膜F1在長度方向連續地層疊。連續製造裝置1中，將片狀光學功能膜F1與黏著劑層F2一起從帶狀的載體膜F3剝離，使用一對貼合輥23、24貼合剝離後的片狀光學功能膜F1與面板構件W，可藉此連續製造光學顯示裝置。連續製造裝置1的各部的動作是可藉控制部50的控制手段51控制，在各部所使用的數據等是記憶在記憶手段52，依需要加以利用。本發明中，片狀光學功 能膜F1可包括偏光膜、反射防止膜、相位差膜、光擴散膜、提升輝度膜及表面保護膜的其中之一或該等的組合，面板構件W可以是液晶面板、有機EL面板等。
連續製造裝置1是如以下進行動作。首先，帶狀的光學膜層疊體F’被從輥11送出。光學膜層疊體F’是在帶狀載體膜F3之上透過黏著劑層F2層疊帶狀光學功能膜F1’。接著，在設置於搬運路的中途具備刀刃的裁斷部15，可對光學膜層疊體F’，在光學膜層疊體F’的寬方向切入到達黏著劑層F2為止的切入線CL(將此動作也稱為「半切」。)。如上述在光學膜層疊體F’切入切入線CL為光學膜層疊體F。其他的實施形態中，也可以使用預先形成有切入線CL的光學膜層疊體。此時，不需要裁斷部15。
光學膜層疊體F是根據需要，透過傳送膜的進料輥13及17；調整膜的傳送速度的擺動輥14及18；及排除存在有缺點的片狀光學功能膜的排除部(未圖示)等，送至貼合部20。
另一方面，貼合片狀光學功能膜F1之被貼合體的面板構件W是例如從收納有複數面板構件W的匣盒(未圖示)被逐片地送出，例如藉輥式輸送機等的搬運手段30搬運。面板構件W是藉定位部32的面板位置檢測手段33檢測姿勢，對應片狀光學功能膜F1的偏位狀態在修正(定位)姿勢之後，送至貼合部20。
貼合部20是藉剝離手段21，將片狀光學功能 膜F1與黏著劑層F2一起從載體膜F3剝離。剝離後的片狀光學功能膜F1藉著貼合輥23及24貼合於面板構件W。將片狀光學功能膜F1及黏著劑層F2剝離後的載體膜F3被以捲繞手段40捲繞。面板構件W貼合著片狀光學功能膜F1的面板層疊體P是以搬運手段30被從貼合部20搬出。
接著，使用第4圖，說明貼合部20的動作。第4圖是表示從(a)到(d)為止的順序進行處理。貼合部20是將片狀光學功能膜F1剝離，檢測片狀光學功能膜F1的前端部，貼合片狀光學功能膜F1與面板構件W。
貼合部20是如第3圖及第4圖表示，具備：從帶狀載體膜F3與黏著劑層F2一起將片狀光學功能膜F1剝離用的剝離手段21；檢測剝離後的片狀光學功能膜F1之前端部FA的姿勢用的前端部檢測手段25；及透過黏著劑層F2貼合片狀光學功能膜F1與面板構件W用的一對貼合輥23及24。
如第4(a)圖表示，光學膜層疊體F被搬運至貼合部20。並且，第4(a)圖表示先行之片狀光學功能膜F1貼合於面板構件W隨後的狀態。光學膜層疊體F是沿著剝離手段21的下面搬運載體膜F3側的面。載體膜F3被捲繞於剝離手段21的頂部22，朝著與貼合位置26的方向大致相反方向回折，而藉捲繞手段40捲繞。
接著，如第4(b)圖表示，片狀光學功能膜F1是以捲繞手段40捲繞載體膜F3，藉此從前端部FA朝著 後方與黏著劑層F2一起從載體膜F3剝離。片狀光學功能膜F1及黏著劑層F2在從前端部FA被僅剝離預定長度時停止捲繞手段40的驅動，藉此停止朝貼合位置26方向的搬運。此時，片狀光學功能膜F1的前端部FA是在從剝離手段21的頂部22到貼合位置26為止之間的任一位置，在此位置中，藉前端部檢測手段25檢測前端部FA。
本說明書中，在近剝離手段21的頂部22稱黏著劑層F2從載體膜F3分離之裝置上的位置為剝離位置RP，稱由前端部FA到相當於剝離位置RP的位置為止的片狀光學功能膜F1的長度為出頭長度d1。連續製造裝置1中，從剝離手段21的頂部22到貼合位置26為止的距離，通常多是設計約20mm~約50mm以致不產生剝離後之片狀光學功能膜F1的下垂等。因此，檢測前端部FA用的片狀光學功能膜F1的出頭長度d1以設定比50mm短，較20mm短更佳。
藉前端部檢測手段25檢測前端部FA之後，再起動捲繞手段40的驅動。伴隨著捲繞手段40的驅動的再起動再度搬運載體膜F3時，出頭後的片狀光學功能膜F1的殘餘部份與黏著劑層F2一起被從載體膜F3剝離。如第4(c)圖表示，在片狀光學功能膜F1的前端部FA到達貼合位置26的前後，搬運面板構件W使貼合著片狀光學功能膜F1的前端部FA的面板構件W上的位置來到貼合位置26。在朝著貼合位置26搬運而來的時間點，面板構件W是對應片狀光學功能膜F1的偏移位置的狀態定 位。
片狀光學功能膜F1的前端部FA(更詳細而言，對應前端部FA的黏著劑層F2的前端部)在以和面板構件W的貼合面接觸的狀態，將片狀光學功能膜F1與面板構件W朝向貼合輥23及24推壓，且伴隨貼合輥23及24的旋轉，使得片狀光學功能膜F1與面板構件W貼合(第4(d)圖)。
在片狀光學功能膜F1僅以出頭長度d1出頭的狀態停止搬運，進行前端部FA的檢測時(第4(b)圖)，黏著劑層F2與載體膜F3分離的位置RP中，在黏著劑層F2的載體膜側的面產生變形D。變形D是如第1圖表示，朝片狀光學功能膜F1的寬方向延伸所形成的條狀的變形。將層疊有產生如以上條狀的變形D之黏著劑層F2的片狀光學功能膜F1貼合於面板構件W時，會有因變形後之黏著劑的片狀光學功能膜F1的變形，或在面板構件W與黏著劑層F2之間氣泡的封入等產生，導致該等異常成為影像顯示裝置的缺陷之原因的場合。根據本發明人的研究，在黏著劑層F2產生的條狀的變形D是在前端部FA的檢測時因片狀光學功能膜F1的搬運停止而產生，可得知停止的時間(本說明書中，也稱待機時間)越長，變形高度變得越高的傾向。
本發明是將為檢測前端部FA的待機時間中產生的黏著劑層的變形D修正為在片狀光學功能膜F1與面板構件W的貼合時，可藉此解決上述的問題。具體而 言，本發明中，黏著劑層的變形D是將從片狀光學功能膜F1的前端部FA到至少預定的位置FC(參閱第4(d)圖)為止以第1貼合速度v1為最大速度地貼合於面板構件W，將從預定的位置FC到片狀光學功能膜F1的後端部FB為止的至少一部份，以較第1貼合速度v1快的第2貼合速度v2貼合，可藉此修正。
第5圖是表示將片狀光學功能膜F1與面板構件W貼合時之貼合速度變化的圖。第5圖的橫軸是表示從片狀光學功能膜F1的前端部FA到後端部FB為止的長度，縱軸表示貼合速度。如第5圖表示，一邊緩緩提高貼合速度並開始片狀光學功能膜F1與面板構件W的貼合，從前端部FA貼合至預定的位置FC為止的部份，即長度d2的部份為止是以第1貼合速度v1作為最大速度進行片狀光學功能膜F1與面板構件W的貼合。以第1貼合速度v1進行貼合的結果，在第4(d)圖表示的狀態時，適當修正黏著劑層F2的變形D。
從前端部FA到預定的位置FC為止的長度d2是設定比前端部FA之檢測時的片狀光學功能膜F1的出頭長度d1更長。亦即，片狀光學功能膜F1上的預定位置FC是比片狀光學功能膜F1的出頭長度d1更位在搬運方向上游側(後端部FB側)的位置。預定的位置FC是以考慮貼合輥23、24的直徑，及貼合時之貼合輥23、24的變形所形成之貼合面的大小，從片狀光學功能膜F1的前端部FA至少50mm的位置為佳。另一方面，預定的位置FC即 使在片狀光學功能膜F1的出頭長度d1長的場合，最大只要在200mm的位置則已足夠。
黏著劑的變形D是可考慮藉著以貼合輥23及24貼合片狀光學功能膜F1與面板構件W時的推壓力被壓潰來適當修正。因此，第1貼合速度v1從修正黏著劑的變形的觀點，以越緩慢使得變形部份長時間受推壓力的影響為佳，但過於遲緩時則貼合所需的時間變長，會使得每單位時間之光學顯示裝置的製造數量減少。本發明中，第1貼合速度v1是將變形D修正到至少不致在後步驟進行的檢查中不能辨識成光學顯示裝置的影像上之缺陷程度為止的速度，以2mm/秒~100mm/秒為佳。設第1速度v1較100mm/秒快時，在黏著劑層的變形D未適當修正的期間會有貼合輥23、24的推壓力從變形部份解除的可能性。但是，根據光學功能膜F1的厚度，即使以較100mm/秒快的速度貼合時仍會有不能辨識為影像上之缺陷的場合，因此第1速度v1是以和膜F1的厚度的關係來決定為佳。
如第5圖表示，超過預定的位置FC時進一步提高貼合速度，片狀光學功能膜F1的殘餘部份，即從預定的位置FC到後端部FB為止的長度d3依序與面板構件W貼合。貼合殘餘部份時之速度的第2貼合速度v2是以較第1貼合速度v1大為佳，考慮貼合的精度與貼合所需的時間時，以500mm/秒~800mm/秒更佳。即使第2貼合速度與第1貼合速度v1為相同的速度，對於貼合殘餘的 部份本身並無問題，但由於貼合時間變長而會犧牲每單位時間的製造數量。因此，在長度d3的貼合時，針對長度d3的至少一部份，以第2貼合速度v2進行片狀光學功能膜F1與面板構件W的貼合為佳，盡可能增長以第2貼合速度v2貼合的長度，使得貼合時間盡可能地縮短為佳。
[實施例]
以下，說明本發明的實施例及比較例。
第6圖是表示片狀光學功能膜F1及面板構件W的貼合速度與貼合後之條狀的變形D的高度的關係的圖，針對結合光學功能膜F1與黏著劑層F2的厚度為135μm的薄膜，表示黏著劑層F2產生的條狀變形在貼合後成為何程度的高度。橫軸是從由光學功能膜F1的前端部FA出頭長度d1貼合至上游側的預定位置FC為止時的第1貼合速度v1，縱軸是在進行貼合後所測量之變形D的高度。待機時間是為檢測光學功能膜F1的前端部FA而停止載體膜F3的搬運之後，到檢測後開始載體膜F3的搬運為止的時間。設出頭長度d1為20mm，預定的位置FC為從前端部FA 50mm的位置。
從第6圖可得知，第1貼合速度v1越是緩慢黏著劑層F2的變形高度越小，以相同貼合速度來看，待機時間越短變形高度越小。根據本發明人的實驗，從黏著劑層的變形D的高度小於約60μm左右，其變形在檢查中不能辨識為光學顯示裝置之影像上的缺陷，因此前端部 FA之檢測時的待機時間在5秒以下時，設第1貼合速度v1為100mm/秒即可貼合光學功能膜F1與面板構件W。第1貼合速度v1低於10mm/秒為止時，即使待機時間為10秒的場合，仍可修正黏著劑層F2的變形D至不能辨識為影像上之缺陷的程度為止。
第7圖是表示本發明的實施例及比較例的表，變更結合光學功能膜F1及黏著劑層F2的厚度、前端部FA之檢測時的出頭長度d1，及貼合條件的場合，檢查透過黏著劑層F2貼合光學功能膜F1與面板構件W之後條狀的變形D是否可以目視確認的結果。檢查是針對藉著透過黏著劑層F2貼合光學功能膜F1與面板構件W所生成的光學顯示裝置，藉著確認背部照明的光穿透時之條狀的變形是否可以目視來進行。
實施例1及從實施例3至實施例7是將結合光學功能膜F1與黏著劑層F2的厚度為135μm的薄膜(F1+F2)貼合於面板構件W的場合，實施例2是將厚度為175μm的薄膜(F1+F2)貼合於面板構件W的場合的檢查結果，其中任一方，黏著劑層的條狀的變形D皆不能以目視確認。
比較例1、比較例2及比較例5是使用與實施例1及從實施例3至實施例7相同厚度之薄膜(F1+F2)的場合的結果，比較例3及比較例4是使用與實施例2相同厚度之薄膜(F1+F2)的場合的結果。如比較例1及比較例3所示，從前端部FA到後端部FB為止以相同且快的速度 (200mm/秒)貼合的場合，可確認出黏著劑層F2的條狀的變形D。並且，如比較例2、比較例4及比較例5所示，從前端部FA到預定的位置FC為止的長度d2與出頭長度d1相同(20mm或50mm)的場合，到預定的位置FC為止即使是以低速(50mm/秒)貼合，仍可確認出黏著劑層F2的條狀的變形D。
並且，參考例是使用厚度280μm的薄膜(F1+F2)，進行與比較例相同之目視檢查的結果。可得知只要是此程度之厚度的薄膜，即使從前端部FA以快的速度貼合的場合，仍不能確認出條狀的變形D。
d1‧‧‧片狀光學功能膜的出頭長度
d2‧‧‧以第1貼合速度貼合之片狀光學功能膜的長度(從FA至FC為止的長度)
d3‧‧‧片狀光學功能膜的殘餘長度(從FC至FB為止的長度)
v1‧‧‧第1貼合速度
v2‧‧‧第2貼合速度
FA‧‧‧片狀光學功能膜的前端部
FB‧‧‧片狀光學功能膜的後端部
FC‧‧‧片狀光學功能膜上的預定位置

Claims (4)

  1. 一種製造光學顯示裝置的方法，係從包括：載體膜；形成在該載體膜一方的面的黏著劑層；及透過該黏著劑層連續支撐在上述載體膜上的複數片狀光學功能膜的帶狀的光學膜層疊體的上述載體膜，藉著與上述黏著劑層一起剝離上述片狀光學功能膜，並將剝離後的上述片狀光學功能膜在貼合位置貼合於面板構件製造光學顯示裝置的方法，包括：將上述載體膜一邊以配置在與上述貼合位置相對位置的具有頂部的剝離體的該頂部回折並進行搬運，藉以使上述片狀光學功能膜與上述黏著劑層一起從上述載體膜剝離的步驟；上述片狀光學功能膜從前端部僅預定出頭長度被剝離時，停止上述載體膜的搬運，檢測上述前端部的步驟；搬運上述載體膜，使上述片狀光學功能膜的上述前端部前進至上述貼合位置為止的步驟；從上述前端部，將由上述片狀光學功能膜上的上述出頭長度至上游側的預定位置為止，以第1貼合速度為最大速度貼合於上述面板構件的步驟；及將從上述預定位置到上述片狀光學功能膜的後端部為止的至少一部份，以較上述第1貼合速度快的第2貼合速度貼合於上述面板構件的步驟。
  2. 如申請專利範圍第1項記載的製造光學顯示裝置的方法，其中，上述預定的位置是從上述片狀光學功能膜的 上述前端部的50mm~200mm的位置。
  3. 如申請專利範圍第1項或第2項記載的製造光學顯示裝置的方法，其中，上述第1貼合速度為2mm/秒~100mm/秒。
  4. 如申請專利範圍第1項至第3項中任一項記載的製造光學顯示裝置的方法，其中，為檢測上述前端部而停止上述載體膜的搬運之後，檢測後至上述載體膜的搬運開始為止的待機時間為3秒~5秒。
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