TW201721155A - 測量裝置 - Google Patents

Abstract

一種測量裝置，用以測量流經檢測電阻的電流。檢測電阻耦接於第一節點與第二節點之間。測量裝置包括干擾抵消單元、第一分壓單元、第二分壓單元以及處理單元。干擾抵消單元耦接第一及第二節點，並根據控制信號選擇性地輸出第一及第二節點中的至少一個的電壓。第一分壓單元耦接干擾抵消單元，並處理第一或第二節點的電壓，用以產生第一處理信號。第二分壓單元耦接干擾抵消單元，並處理第一或第二節點的電壓，用以產生第二處理信號。處理單元耦接第一及第二分壓單元，用以接收第一及第二處理信號，並根據第一及第二處理信號計算流經檢測電阻的電流。

Description

測量裝置

本發明係有關於一種測量裝置，特別是有關於一種測量流經檢測電阻的電流的測量裝置。

雖然有多種方法可量測電流，但是最常見的方法是透過精確的電阻器量測電壓，並使用歐姆定律(Ohm’s law)，藉由量測電阻器的電壓，以求得通過電阻器的電流。為了避免電阻器干擾電流的量測，通常會使用阻值較低的電阻。然而，由於小阻值的電阻器產生較小的電壓降(Voltage drop)，因此，很容易受到其它信號的干擾，進而影響電流測量的準確度。

有鑑於此，本發明的目的在於提供一種測量裝置，用以精準地測量出流經檢測電阻的電流。為達上述目的，本發明的測量裝置包括一干擾抵消單元、一第一分壓單元、一第二分壓單元以及一處理單元。干擾抵消單元耦接一檢測電阻的一第一節點及一第二節點，並根據一控制信號選擇性地輸出第一及第二節點中的至少一個的電壓。第一分壓單元耦接干擾抵消單元，並處理第一或第二節點的電壓，用以產生一第一處理信號。第二分壓單元耦接干擾抵消單元，並處理第一或第二節點的電壓，用以產生一第二處理信號。處理單元耦接第一及第二 分壓單元，用以接收第一及第二處理信號，並根據第一及第二處理信號計算流經檢測電阻的電流。

藉由使用本發明的測量裝置，能夠在檢測電阻的阻值非常小的時候，仍然得到精確的測量結果，而不受到雜訊的影響。

為讓本發明之特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉出較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

100‧‧‧測量裝置

R_S‧‧‧偵測電阻

VCONN‧‧‧電源

110‧‧‧負載

102、103‧‧‧分壓單元

104‧‧‧處理單元

120、130、301、302‧‧‧節點

140‧‧‧控制信號

CSS、CSH‧‧‧控制成分

V₁₂₀、V₁₃₀‧‧‧電壓

S_P1、S_P2‧‧‧處理信號

R₁~R₈‧‧‧電阻

C₁、C₂‧‧‧電容

GND‧‧‧接地端

210A~280A‧‧‧開關

305‧‧‧轉換單元

Q₁~Q₄‧‧‧電晶體

360‧‧‧切換信號

VCONN_CSN、VCONN_CSP‧‧‧切換成分

101、200A、200B、200C‧‧‧干擾抵消單元

第1圖為本發明的測量裝置的示意圖。

第2A~2C圖為本發明的干擾抵消單元的示意圖。

第3圖為本發明的測量裝置的另一實施例的示意圖。

第1圖為本發明的測量裝置的示意圖。如圖所示，測量裝置100並聯耦接檢測電阻R_S，用以測量流經檢測電阻R_S的電流。在本實施例中，檢測電阻R_S接收電源VCONN並耦接負載110。在一個實施例中，負載110為USB Type-C型連接埠。電源VCONN透過檢測電阻R_S供電給USB Type-C型連接埠的電源接腳，如VBUS接腳。

在本實施例中，測量裝置100包括干擾抵消單元101、分壓單元102、103以及處理單元104。干擾抵消單元101耦接檢測電阻R_S的兩端，分別為節點120與130，並根據控制信號140選擇性地輸出節點120的電壓V₁₂₀及/或節點130的電壓V₁₃₀。稍後將透過第2A~2C圖說明本案的干擾抵消單元101的實 施方式。

分壓單元102耦接干擾抵消單元101，並處理干擾抵消單元101所輸出的電壓，用以產生處理信號S_P1。在本實施例中，分壓單元102包括電阻R₁與R₂，但並非用以限制本發明。在其它實施例中，只要具有調整電壓功能的電路，均可作為分壓單元102。如圖所示，電阻R₁與R₂彼此串聯，用以對干擾抵消單元101的輸出電壓進行分壓，並將分壓結果作為處理信號S_P1提供給處理單元104。在其它實施例中，分壓單元102還具有電容C₁，用以消除雜訊。

分壓單元103耦接干擾抵消單元101，並處理干擾抵消單元101所輸出的電壓，用以產生處理信號S_P2。在本實施例中，分壓單元103的架構與分壓單元102相同，但並非用以限制本發明。在其它實施例中，分壓單元103的電路架構可能不同於分壓單元102的電路架構。

分壓單元103包括電阻R₃與R₄，但並非用以限制本發明。在其它實施例中，只要具有調整電壓功能的電路，均可作為分壓單元103。電阻R₃與R₄彼此串聯，用以對干擾抵消單元101的輸出電壓進行分壓，並將分壓結果作為處理信號S_P2提供給處理單元104。在其它實施例中，分壓單元103還具有電容C₂，用以消除雜訊。

處理單元104耦接分壓單元102與103，用以接收處理信號S_P1與S_P2，並根據處理信號S_P1與S_P2計算流經檢測電阻R_S的電流。本發明並不限定處理單元104的內部架構。只要能夠根據檢測電阻R_S的電壓計算求得流經檢測電阻R_S的電流的 電路，均可作為處理單元104。在一個實施例中，處理單元104為一類比數位轉換器(ADC)或是一放大器。在另一可能實施例中，控制信號140由處理單元104所提供。在其它實施例中，控制信號140由測量裝置100之外的元件所提供。

在一個實施例中，負載110為具有USB Type-C連接埠的晶片，測試裝置100需要檢測流經該USB Type-C連接埠的電流，所以採用阻值非常小的檢測電阻R_S連接在該USB Type-C連接埠的接腳上，測量裝置100對檢測電阻R_S兩端的電壓進行測量，並最終得出流經USB Type-C連接埠的電流。在一個實施例中，由於節點120的電壓V₁₂₀及/或節點130的電壓V₁₃₀過高，處理單元104不能在這樣高的電壓下工作，所以使用分壓單元102和103來進行分壓。在設計時，使用具有相同阻值的電阻R1~R4。但是在實際應用中，電阻R₁~R₄之間會存在較小的阻值誤差，由於檢測電阻R_S的阻值極小，所以上述電阻R₁~R₄的阻值誤差可能與檢測電阻R_S的阻值差不多甚至比檢測電阻R_S的阻值還大，從而對測量結果產生極大影響，使測量結果完全不能反映真實的情況。在這種情況下使用干擾抵消單元101將電阻R₁~R₄的阻值誤差消除掉，從而得出正確的測試結果。

第2A圖為本發明的干擾抵消單元的一個實施例。在本實施例中，干擾抵消單元200A固定地提供節點120的電壓V₁₂₀給分壓單元102，並根據控制信號140選擇性地提供節點120的電壓V₁₂₀或是節點130的電壓V₁₃₀給分壓單元103。

在第一取樣期間，干擾抵消單元200A將節點120的電壓V₁₂₀提供給分壓單元102與103。分壓單元102與103處理節 點120的電壓V₁₂₀，分別產生處理信號S_P1與S_P2。接著，處理單元104根據處理信號S_P1與S_P2的差值，產生第一取樣結果。

在第二取樣期間，干擾抵消單元200A繼續將節點120的電壓V₁₂₀提供給分壓單元102。此時，干擾抵消單元200A將節點130的電壓V₁₃₀提供給分壓單元103。分壓單元102與103分別處理節點120的電壓V₁₂₀與節點130的電壓V₁₃₀，用以產生處理信號S_P1與S_P2。處理單元104根據處理信號S_P1與S_P2的差值，產生第二取樣結果， 在第三取樣期間，處理單元104根據第一取樣結果及第二取樣結果計算得知流經檢測電阻R_S的電流。舉例而言，在第一取樣期間，處理信號S_P1等於V₁₂₀*(R₂/R₁+R₂)，而S_P2等於V₁₂₀*(R₄/R₃+R₄)。在一個實施例中，在設計上使用具有相同阻值的電阻R₁~R₄。因此，第一取樣結果V_S1應該等於0。然而，實際上，由於分壓單元102與103裡的電阻R₁~R₄具有阻值誤差(mismatch)，因此，第一取樣結果V_S1可能不等於0。在本實施例中，第一取樣結果V_S1能夠表現電阻R₁~R₄的阻值誤差所產生的誤差成分。

在第二取樣期間，處理信號S_P1等於V₁₂₀*(R₂/R₁+R₂)，處理信號S_P2等於V₁₃₀*(R₄/R₃+R₄)。因此，第二取樣結果V_S2等於[V₁₂₀*(R₂/R₁+R₂)]-[V₁₃₀*(R₄/R₃+R₄)]。在本實施例中，第二取樣結果V_S2除了包含有效信號外，即除了包括檢測電阻R_S的電壓外，也包含電阻R₁~R₄的阻值誤差所產生的誤差成分。

在第三取樣期間，處理單元104處理第一取樣結果 及第二取樣結果，去除電阻R₁~R₄的阻值誤差所產生的誤差成分。在一個實施例中，處理單元104計算第一取樣結果與第二取樣結果的差值V_S1-V_S2，去除誤差成分，並得知檢測電阻R_S的電壓。處理單元104再根據檢測電阻R_S的電壓以及檢測電阻R_S的阻值，計算得知流經檢測電阻R_S的電流。

在本實施例中，干擾抵消單元200A包括開關210A與220A。開關210A耦接於節點120與分壓單元103之間，並根據控制信號140中的控制成分CSS，將節點120的電壓V₁₂₀傳送至分壓單元103。開關220A耦接於節點130與分壓單元103之間，並根據控制信號140中的控制成分CSH，將節點130的電壓V₁₃₀傳送至分壓單元103。

在本實施例中，開關210A與220A不會同時導通。在一個實施例中，開關210A與220A均為P型或N型電晶體。在此例中，控制信號CSS與CSH為反相信號，但並非用以限制本發明。在其它實施例中，開關210A與220A接收同一控制成分。在此例中，開關210A與220A為不同種類的電晶體。舉例而言，開關210A與220A中的一個為P型電晶體，另一個為N型電晶體。

第2B圖為本發明的干擾抵消單元的另一可能實例。在本實施例中，干擾抵消單元200B固定地將節點130的電壓V₁₃₀提供給分壓單元103，並根據控制信號140，選擇性地將節點120的電壓V₁₂₀或是節點130的電壓V₁₃₀提供給分壓單元102。

在第一取樣期間，干擾抵消單元200B將節點120的 電壓V₁₂₀提供給分壓單元102，並將節點130的電壓V₁₃₀提供給分壓單元103。分壓單元102處理節點120的電壓V₁₂₀，產生處理信號S_P1。分壓單元103處理節點130的電壓V₁₃₀，產生處理信號S_P2。處理單元104根據處理信號S_P1與S_P2的差值，產生第一取樣結果V_S1。在本實施例中，第一取樣結果V_S1除了包含有效信號外，即除了包括檢測電阻R_S的電壓外，也包含電阻R₁~R₄的阻值誤差所產生的誤差成分。

在第二取樣期間，干擾抵消單元200B將節點130的電壓V₁₃₀提供給分壓單元102與103。分壓單元102處理節點130的電壓V₁₃₀，更新處理信號S_P1。分壓單元103處理節點130的電壓V₁₃₀，產生處理信號S_P2。處理單元104根據處理信號S_P1與S_P2的差值，產生第二取樣結果V_S2。在本實施例中，第二取樣結果V_S2為電阻R₁~R₄的阻值誤差所產生的誤差成分。

在第三取樣期間，處理單元104根據第一取樣結果及第二取樣結果計算得知流經檢測電阻R_S的電流。在本實施例中，處理單元104計算第一取樣結果及第二取樣結果的差值，用以消除電阻R₁~R₄的阻值誤差所產生的誤差成分，並求得檢測電阻R_S的電壓，再根據檢測電阻R_S的電壓計算出流經檢測電阻R_S的電流。

在本實施例中，干擾抵消單元200B包括開關230A與240A。開關230A耦接於節點120與分壓單元102之間，並根據控制信號140中的控制成分CSS，將節點120的電壓V₁₂₀傳送至分壓單元102。開關240A耦接於節點130與分壓單元102之間，並根據控制信號140中的控制成分CSH，將節點130的電壓V₁₃₀ 傳送至分壓單元102。由於開關230A與240A的特性與第2A圖的開關210A與220A相似，故不再贅述。

第2C圖為本發明的干擾抵消單元的另一實施例的示意圖。在本實施例中，干擾抵消單元200C根據控制信號140，將節點120的電壓V₁₂₀及節點130的電壓V₁₃₀中的一個提供給分壓單元102，並將節點120的電壓V₁₂₀及節點130的電壓V₁₃₀中的另一個提供給分壓單元103。舉例而言，當干擾抵消單元200C想節點120的電壓V₁₂₀提供給分壓單元102時，干擾抵消單元200C將節點130的電壓V₁₃₀提供予分壓單元103。同樣地，當干擾抵消單元200C將節點130的電壓V₁₃₀提供給分壓單元102時，干擾抵消單元200C將節點120的電壓V₁₂₀提供給分壓單元103。

在第一取樣期間，干擾抵消單元200C將節點120的電壓V₁₂₀提供給分壓單元102，並將節點130的電壓V₁₃₀提供給分壓單元103。分壓單元102對節點120的電壓V₁₂₀進行分壓，並將分壓結果作為處理信號S_P1。同樣地，分壓單元103對節點130的電壓V₁₃₀進行分壓，並將分壓結果作為處理信號S_P2。在此期間，處理單元104根據處理信號S_P1與S_P2的差值，產生第一取樣結果。在本實施例中，第一取樣結果除了包含有效信號外，即除了檢測電阻R_S的電壓外，也包含電阻R₁~R₄的阻值誤差所產生的誤差成分。在一個實施例中，處理信號S_P1等於V₁₂₀*(R₂/R₁+R₂)，而處理信號S_P2等於V₁₃₀*(R₄/R₃+R₄)，第一取樣結果等於V₁₂₀*(R₂/R₁+R₂)-V₁₃₀*(R₄/R₃+R₄)。

在第二取樣期間，干擾抵消單元200C將節點130的 電壓V₁₃₀提供給分壓單元102，並將節點120的電壓V₁₂₀提供給分壓單元103。分壓單元102對節點130的電壓V₁₃₀進行分壓，並根據分壓結果更新處理信號S_P1。分壓單元103對節點120的電壓V₁₂₀進行分壓，並根據分壓結果更新處理信號S_P2。在此期間，處理單元104根據處理信號S_P1與S_P2的差值，產生第二取樣結果。在本實施例中，第二取樣結果包含有效信號，即除了包括檢測電阻R_S的電壓，以及電阻R₁~R₄的阻值誤差所產生的誤差成分。在此例中，第二取樣結果裡的有效信號的極性相反於第一取樣結果裡的有效信號的極性。處理信號S_P1等於V₁₃₀*(R₂/R₁+R₂)，而處理信號S_P2等於V₁₂₀*(R₄/R₃+R₄)，第二取樣結果等於V₁₂₀*(R₄/R₃+R₄)-V₁₃₀*(R₂/R₁+R₂)。

在第三取樣期間，處理單元104根據第一取樣結果及第二取樣結果計算得知流經檢測電阻R_S的電流。舉例而言，在第一取樣期間，處理信號S_P1等於V₁₂₀*(R₂/R₁+R₂)，處理信號S_P2等於V₁₃₀*(R₄/R₃+R₄)。因此，第一取樣結果V_S1等於[V₁₂₀*(R₂/R₁+R₂)]-[V₁₃₀*(R₄/R₃+R₄)]。然而，由於電阻R₁~R₄的阻值誤差影響，第一取樣結果V_S1具有電阻R₁~R₄的阻值誤差所產生的誤差成分。

在第二取樣期間，處理信號S_P1等於V₁₃₀*(R₂/R₁+R₂)，處理信號S_P2等於V₁₂₀*(R₄/R₃+R₄)。因此，第二取樣結果V_S2等於[V₁₃₀*(R₂/R₁+R₂)]-[V₁₂₀*(R₄/R₃+R₄)]。同樣地，第二取樣結果V_S2也具有電阻R₁~R₄的阻值誤差所產生的誤差成分。

因此，在第三取樣期間，處理單元104根據第一及 第二取樣結果的差值V_S1-V_S2，去除電阻R₁~R₄的阻值誤差所產生的誤差成分，並得知檢測電阻R_S的電壓。處理單元104再根據檢測電阻R_S的電壓以及檢測電阻R_S的阻值，計算得知流經檢測電阻R_S的電流。在本實施例中，第2C圖的處理單元104在第三取樣期間所求得的檢測電阻R_S的電壓為第2A及2B圖的處理單元104在第三取樣期間所求得的檢測電阻R_S的電壓的2倍。

在本實施例中，干擾抵消單元200C包括開關250A~280A。開關250A耦接於節點120與分壓單元102之間，並根據控制信號140中的控制成分CSS，將節點120的電壓V₁₂₀傳送至分壓單元102。開關260A耦接於節點130與分壓單元102之間，並根據控制信號140中的控制成分CSH，將節點130的電壓V₁₃₀傳送至分壓單元102。

開關270A耦接於節點120與分壓單元103之間，並根據控制成分CSH，將節點120的電壓V₁₂₀傳送至分壓單元103。開關280A耦接於節點130與分壓單元103之間，並根據控制成分CSS，將節點130的電壓V₁₃₀傳送至分壓單元103。

在一個實施例中，開關250A~280A均為P型或N型電晶體。在其它實施例中，開關250A~280A具有P型及N型電晶體。在本實施例中，開關250A與280A同時導通，開關260A與270A同時導通。然而，當開關250A與280A導通時，開關260A與270A不導通。同樣地，當開關260A與270A導通時，開關250A與280A不導通。

第3圖為本發明的測量裝置的另一實施例的示意圖。第3圖與第1圖相似，不同之處在於測量裝置300還包括轉 換單元305。轉換單元305耦接干擾抵消單元101，並將切換信號360轉換成控制信號140。在一個實施例中，切換信號360由測量裝置300以外的元件所提供。在另一可能實施例中，切換信號360由處理單元104所提供。在一些實施例中，轉換單元305為一電壓轉換器(level shifter)。

在本實施例中，轉換單元305包括電晶體Q₁~Q₄以及電阻R₅~R₈，但並非用以限制本發明。在其它實施例中，只要能夠產生足以推動干擾抵消單元101的信號的電路架構，均可作為轉換單元305。

電晶體Q₁、電阻R₅、R₆以及電晶體Q₃串聯於電源VCONN與接地端GND之間。電晶體Q₂、電阻R₇、R₈以及電晶體Q₄也串聯於電源VCONN與接地端GND之間。電晶體Q₁的閘極耦接電阻R₇與R₈之間的節點301。電晶體Q₂的閘極耦接電阻R₅與R₆之間的節點302。電晶體Q₃的閘極接收切換信號360的切換成分VCONN_CSP，用以在節點302中產生控制成分CSM。電晶體Q₄的閘極接收切換信號360的另一切換成分VCONN_CSN，用以在節點301中產生控制成分CSS。在一個實施例中，控制成分CSM與CSS作為控制信號140。

在其它實施例中，切換信號360由處理單元104所產生。舉例而言，當處理單元104的操作電壓較低時，處理單元104所產生的切換信號360可能不足以推動干擾抵消單元101裡的開關。因此，透過轉換單元305增加切換信號360的驅動能力。在一些實施例中，若處理單元104所產生的切換信號360足以推動干擾抵消單元101裡的開關時，則可省略轉換單元305。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧測量裝置

R_S‧‧‧偵測電阻

VCONN‧‧‧電源

110‧‧‧負載

101‧‧‧干擾抵消單元

102、103‧‧‧分壓單元

104‧‧‧處理單元

120、130‧‧‧節點

140‧‧‧控制信號

V₁₂₀、V₁₃₀‧‧‧電壓

S_P1、S_P2‧‧‧處理信號

R₁~R₄‧‧‧電阻

C₁、C₂‧‧‧電容

GND‧‧‧接地端

Claims (20)

1. 一種測量裝置，用以測量流經一檢測電阻的電流，該檢測電阻耦接於一第一節點與一第二節點之間，該測量裝置包括：一干擾抵消單元，耦接該第一節點及該第二節點，並根據一控制信號選擇性地輸出該第一節點及該第二節點之間的至少一個的電壓；一第一分壓單元，耦接該干擾抵消單元，並處理該第一節點或該第二節點的電壓，產生一第一處理信號；一第二分壓單元，耦接該干擾抵消單元，並處理該第一節點或該第二節點的電壓，產生一第二處理信號；以及一處理單元，耦接該第一分壓單元及該第二分壓單元，用以接收該第一處理信號及該第二處理信號，並根據該第一處理信號及該第二處理信號計算流經該檢測電阻的電流。
2. 如申請專利範圍第1項所述的測量裝置，其中該干擾抵消單元將該第一節點的電壓提供給該第一分壓單元，並根據該控制信號，選擇性地將該第一節點或該第二節點的電壓提供給該第二分壓單元。
3. 如申請專利範圍第2項所述的測量裝置，其中：該干擾抵消單元將該第一節點的電壓提供給該第二分壓單元，並且該處理單元根據該第一處理信號及該第二處理信號的差值，產生一第一取樣結果，該干擾抵消單元將該第二節點的電壓提供給該第二分壓單元，並且該處理單元根據該第一處理信號及該第二處理信號的差值，產生一第二取樣結果，以及 該處理單元根據該第一取樣結果及該第二取樣結果計算得知流經該檢測電阻的電流。
4. 如申請專利範圍第2項所述的測量裝置，其中該干擾抵消單元包括：一第一開關，耦接於該第一節點與該第二分壓單元之間，並根據該控制信號中的第一控制成分，將該第一節點的電壓傳送至該第二分壓單元；以及一第二開關，耦接於該第二節點與該第二分壓單元之間，並根據該控制信號中的第二控制成分，將該第二節點的電壓傳送至該第二分壓單元，其中該第一控制信號及該第二控制信號為反相信號。
5. 如申請專利範圍第2項所述的測量裝置，其中該第一開關及該第二開關為電晶體。
6. 如申請專利範圍第1項所述的測量裝置，其中該干擾抵消單元將該第二節點的電壓提供給該第二分壓單元，並根據該控制信號將該第一節點或該第二節點的電壓提供給該第一分壓單元。
7. 如申請專利範圍第6項所述的測量裝置，其中：該干擾抵消單元將該第一節點的電壓提供給該第一分壓單元，並且該處理單元根據該第一處理信號及該第二處理信號的差值，產生一第一取樣結果，該干擾抵消單元將該第二節點的電壓提供給該第一分壓單元，並且該處理單元根據該第一處理信號及該第二處理信號的差值，產生一第二取樣結果， 該處理單元根據該第一取樣結果及該第二取樣結果計算得知流經該檢測電阻的電流。
8. 如申請專利範圍第6項所述的測量裝置，其中該干擾抵消單元包括：一第一開關，耦接於該第一節點與該第一分壓單元之間，並根據該控制信號中的第一控制成分，將該第一節點的電壓傳送至該第一分壓單元；以及一第二開關，耦接於該第二節點與該第一分壓單元之間，並根據該控制信號中的第二控制成分，將該第二節點的電壓傳送至該第一分壓單元，其中該第一控制信號及該第二控制信號為反相信號。
9. 如申請專利範圍第8項所述的測量裝置，其中該第一開關及該第二開關為電晶體。
10. 如申請專利範圍第1項所述的測量裝置，其中該干擾抵消單元根據該控制信號，將該第一節點或該第二節點的電壓提供給該第一分壓單元或該第二分壓單元，當該干擾抵消單元將該第一節點的電壓提供給該第一分壓單元時，該干擾抵消單元將該第二節點的電壓提供給該第二分壓單元，當該干擾抵消單元將該第二節點的電壓提供給該第一分壓單元時，該干擾抵消單元將該第一節點的電壓提供給該第二分壓單元。
11. 如申請專利範圍第10項所述的測量裝置，其中：該干擾抵消單元將該第一節點的電壓提供給該第一分壓單元，並將該第二節點的電壓提供給該第二分壓單元，該處 理單元根據該第一處理信號及該第二處理信號的差值，產生一第一取樣結果，干擾抵消單元將該第二節點的電壓提供給該第一分壓單元，並將該第一節點的電壓提供給該第二分壓單元，該處理單元根據該第一處理信號及該第二處理信號的差值，產生一第二取樣結果，該處理單元根據該第一及第二取樣結果計算得知流經該檢測電阻的電流。
12. 如申請專利範圍第10項所述的測量裝置，其中該干擾抵消單元包括：一第一開關，耦接於該第一節點與該第一分壓單元之間，並根據該控制信號中的第一控制成分，將該第一節點的電壓傳送至該第一分壓單元；一第二開關，耦接於該第二節點與該第一分壓單元之間，並根據該控制信號中的第二控制成分，將該第二節點的電壓傳送至該第一分壓單元；一第三開關，耦接於該第一節點與該第二分壓單元之間，並根據該第二控制成分，將該第一節點的電壓傳送至該第二分壓單元；以及一第四開關，耦接於該第二節點與該第二分壓單元之間，並根據該第一控制成分，將該第二節點的電壓傳送至該第二分壓單元。
13. 如申請專利範圍第12項所述的測量裝置，其中該第一開關至該第四開關為電晶體。
14. 如申請專利範圍第1項所述的測量裝置，其中該控制信號由該處理單元提供。
15. 如申請專利範圍第1項所述的測量裝置，其中該處理單元為一類比數位轉換器或是一放大器。
16. 如申請專利範圍第1項所述的測量裝置，其中該第一分壓單元包括：一第一電阻，耦接於該干擾抵消單元與節點之間；以及一第二電阻，耦接於該節點與接地端之間，其中該第一電阻及該第二電阻對該第一節點或該第二節點的電壓進行分壓，產生該第一處理信號，並透過該節點輸出該第一處理信號。
17. 如申請專利範圍第1項所述的測量裝置，還包括：一轉換單元，耦接該干擾抵消單元，並將一切換信號轉換成該控制信號。
18. 如申請專利範圍第17項所述的測量裝置，其中該切換信號由該處理單元提供。
19. 如申請專利範圍第17項所述的測量裝置，其中該轉換單元為一電壓轉換器。
20. 如申請專利範圍第1項所述的測量裝置，其中該檢測電阻耦接USB Type-C型連接埠的電源接腳。