TW201705504A - 具有差異化p型及n型架構並整合多用途之鈍化層與接觸層之太陽能電池射極區的製造 - Google Patents

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Abstract

本發明揭示一種製造具有差異化P型及N型架構並整合多用途之鈍化層與接觸層之太陽能電池射極區的方法。在一實施例中，一種太陽能電池，其包含具有光接收面與背面的基板、設置於基板之背面上的P型射極區、設置於形成在基板之背面上的溝槽中的N型射極區、設置於N型射極區上的N型鈍化層、與P型射極區電性連接的第一導電接觸結構以及與N型射極區電性連接且與N型鈍化層直接接觸的第二導電接觸結構。

Description

具有差異化P型及N型架構並整合多用途之鈍化層與接觸層之太陽能電池射極區的製造
本揭示的實施例關於再生能源領域，特別是製造具有差異化P型及N型架構並整合多用途之鈍化層與接觸層之太陽能電池射極區的方法、及其所得之太陽能電池。
光伏電池，一般稱為太陽能電池，如眾所皆知，其為用以將太陽輻射能直接轉化為電能的裝置。一般來說，太陽能電池以半導體製程技術製造於半導體晶片或基板上，以形成接近於基板表面的p-n接面。太陽輻射能照射於基板表面並進入其內部，以在塊狀基板中產生電子及電洞對。電子及電洞對移動至基板中的P摻雜及N摻雜區，從而於摻雜區域間產生電位差。摻雜區域連接至太陽能電池上之導電區域，以將來自電池之電流引導至與其耦接之外部電路。
效能為太陽能電池的重要特性，因其與太陽能電池產生電能之性能直接相關。同樣地，生產太陽能電池的效率與太陽能電池的成本效益直接相關。因此，普遍期望用於提高太陽能電池效能之技術或提高製造太陽能電池之生產效率。本發明之一些實施例允許提供製造太陽能電池結構之新穎的製程以增加太陽能電池的生產效率。本發明之一些實施例允許提供新穎的太陽能電池結構以增加太陽能電池效率。
以下的詳細說明僅止於概念性的說明，並不侷限於某個主題或應用之實施例，亦不僅限於此描述之實施例中。於本文中，此「示例性」的用語表示「實施例、例子或是說明」。於本文中，所提之示例性的實現方式並不表示一定較佳或優於其它的實施方式。再者，本發明之實施方式並不受前述的技術領域、先前技術、發明內容或以下實施方式中明示或暗示的理論所束縛。
本說明書所提包含對「一實施例」或「一個實施例」之兩種說法。於「在一實施例中」或「在一個實施例中」短語並不一定指的是同一實施例的引用。於此發明中之具體特徵、結構或特性均可以與本發明一致之任何合適方式結合。
術語，以下段落提供本發明中之術語之定義或說明(包含所附之申請專利範圍)：
「包含」這個詞是開放式的說明方式。當用於所附之申請專利範圍時，此用語不排除其他結構或步驟。
「配置以」係指各個單元或組件可描述或主張「配置以」 執行某一項或多項工作。在這樣的意涵下，使用「配置以」指出單元/組件包含在操作期間執行那些一或多個工作的結構而暗示結構。因此，即使當特定單元/組件不是目前正在運作的(例如不是開啟/活動的)，單元/組件也可說是被配置以進行工作。對於單元/電路/組件「被配置以」完成某一項或多項工作時，並非明示此單元或組件不遵循 35 U.S.C. §112第六段。
「第一」、「第二」等。如在本文中使用，這些用語係用作為其名詞的前綴詞，並不意味著任何形式的排序(例如空間、時間與邏輯等)。 舉例來說，「第一」太陽能電池並不意味著在順序上屬於第一太陽能電池，反過來說，「第一」只作為太陽能電池與另一太陽能電池(例如「第二太陽能電池」)之區分。
「耦接」─在本說明書中，此術語係指元件或節點或特徵被「耦接」在一起。如在本文中使用，除非明確揭示，否則「耦接」一詞意味著某元件或節點或特徵直接或間接連接另一元件或節點或特徵，但不必然為機械上的。
「抑制」─如本文所使用的，「抑制」使用於描述減少或是最小化影響。當組件或特徵被宣稱為抑制動作、運動或是狀況時，其可完全避免其結果或成果或未來的狀態。除此之外，「抑制」亦可指其他任何可發生的成果、表現及/或影響之降低與減輕。因此，當組件、元件與特徵被宣稱為抑制結果或狀態時，其並不需要完全避免或消除其輸出結果與狀態。
除此之外，某些術語也可僅為了參考之目的而使用在以下描述中，並因此不意圖作為限制。  舉例來說，用語例如「上」、「下」、 「上方」與「下方」係參照圖式中的方向。用語例如「前」、「後 」、 「後側」、「側邊」、「外側」與「內側」係指以下文與參照所繪圖式之任一基準點明確指出某一組件部分的方位/位置。此類術語可包含上述具體提到的文字、其衍生及類似含意的文字。
本發明揭示一種製造具有差異化P型及N型架構並整合多用途之鈍化層與接觸層之太陽能電池射極區的方法、及其所得之太陽能電池。差異化在以下文中，闡述許多具體的細節，例如具體操作流程，以提供本發明之實施例之充分瞭解。對於所屬技術領域中具有通常知識者顯而易見的是，本發明之實施方式不具有具體詳細操作流程時仍可輕易地實施。在其它情況中，習知的製程技術，例如微影與圖案化技術，將不進行詳細說明以免混淆本發明之實施例。再者，必須注意圖式中之各種實施例均屬說明性之示意，並不必然按比例繪製。
本發明揭示一種太陽能電池。在一實施例中，一種太陽能電池，其包含具有光接收面與背面的基板、設置於基板之背面上的P型射極區、設置於形成在基板之背面上的溝槽中的N型射極區、設置於N型射極區上的N型鈍化層、與P型射極區電性連接的第一導電接觸結構、以及與N型射極區電性連接且與N型鈍化層直接接觸的第二導電接觸結構。
在另一實施例，一種太陽能電池，其包含具有光接收面與背面的基板、設置於基板之背面上的N型射極區、設置於形成在基板之背面上的溝槽中的P型射極區、設置於P型射極區上的P型鈍化層、與N型射極區電性連接的第一導電接觸結構、以及與P型射極區電性連接且與P型鈍化層直接接觸的第二導電接觸結構。
在另一實施例中，一種背接觸式太陽能電池，其包含具有光接收面與背面的基板、設置於在基板之背面上的第一薄介電層上的P型多晶矽射極區、設置於在基板之背面上的溝槽中的第二薄介電層上的N型多晶矽射極區、直接橫向地設置於N型多晶矽射極區與P型多晶矽射極區之間的第三薄介電層、設置於N型多晶矽射極區上的N型矽層、與P型多晶矽射極區電性連接的第一導電接觸結構、以及與N型多晶矽射極區電性連接且與N型矽層直接接觸的第二導電接觸結構。
本發明也揭示製造太陽能電池之方法。在一實施例中， 一種製造太陽能電池之差異化N型與P型射極區之方法，其包含形成P型矽層於形成在基板之背面上的第一薄介電層上；形成絕緣層於P型矽層上；圖案化絕緣層以及P型矽層，以形成具有位於其上的絕緣罩的P型矽區；形成第二薄介電層於P型矽區之曝露側；形成N型矽層於形成在基板之背面上的第三薄介電層上、以及第二薄膜介電層及P型矽區之絕緣罩上；形成N型非晶矽層於N型矽層上；圖案化N型非晶矽層以及N型矽層，以形成隔絕的N型射極區並在位於P型矽區之絕緣罩上方的N型非晶矽層以及N型矽層之區域中形成接觸開口；通過接觸開口圖案化絕緣罩以曝露部分的P型矽區；形成導電接觸至P型矽區與N型射極區，P型矽區之導電接觸形成於接觸開口，且N型射極區之導電接觸可與N型射極區之N型非晶矽層直接接觸。
本文所描述之一或多個實施例揭示非晶矽層的使用及製造，其係用於差異化或混合架構之鈍化，並簡化用於差異化或混合架構之多晶矽射極區之底層的接觸製程。在一具體實施例中，非晶矽層含有用於多晶矽射極區之底層的鈍化的氫。 在一具體實施例中，由於對非晶矽層形成適當的導電接觸，射極區之底層不需要直接接觸製程。
於此文中，差異化或混合背接觸式太陽能電池存在缺少用於N型多晶矽射極區之氫源的問題。氫源可使用於降低高飽和電流密度(J0 )以解決N型射極區之問題。以氮化矽(SiN)或其它介電質提供氫源可能並不是一個最佳的方法， 因為如此介電層需要額外接觸製程條件以形成導電接觸至射極區之底層。
根據前面所提之一個或多個問題，在一實施例中，N型a-Si層沉積於N型多晶矽層射極區上。N型a-Si層含有N型射極區底層之氫源。N型a-Si層亦含有保留的直接金屬接觸而不必執行接觸開口製程。因此，N型a-Si層可被直接整合而不需要再去修正典型的混合式金屬化流程。在一實施例中，N型a-Si層以接觸形成的方式保護N型射極區之底層，例如抑制鋁層與N型射極區之底層間的反應作用。
在示例性流程圖中，第1~7圖係繪示太陽能電池之製程中之各個階段之剖視圖。第8圖係繪示根據本發明之實施例列出對應於第1~7圖之製造太陽能電池的方法之操作之流程圖800。
請參照第1圖與對應的流程圖800之操作802，製作太陽能電池之差異化N型與P型射極區之方法包含形成P型矽層106於形成在基板102之背面上的第一薄介電層104上。
在一實施例中，基板102為單晶矽基板，例如塊狀單晶N型矽摻雜基板。然而，應當理解的是，基板102可例如為設置於整個太陽能電池基板上的多晶矽層。在一實施例中，第一薄介電層104可為薄膜氧化層，例如具有厚度約為2奈米(nanometer)或更小之穿隧介電氧化矽層。
在一實施例中，P型矽層106為原位摻雜(situ doping)、或沉積後植入、或其組合摻雜的P型多晶矽層。在另一實施例中，P型矽層106首先被形成非晶矽層，例如在非晶矽層之沉積後植入摻質的a-Si:H所代表之氫化矽層。在此實施例中，P型矽層106隨後執行退火(至少一些的處理流程之後續階段)以形成P型多晶矽層。在一實施例中，對於多晶矽層亦或是非晶矽層而言，若沉積後執行植入，植入是藉由使用離子束植入或電漿浸入植入來執行。在此實施例中，使用遮罩來植入。在此具體的實施例中，P型導電性可由硼雜質原子所實現。
再次參照第1圖與對應的流程圖800之操作804，絕緣層108形成於P型矽層106上。在一實施例中，絕緣層108包含二氧化矽。
請參照第2圖與對應的流程圖800之操作806，絕緣層108與P型矽層106可被圖案化以形成其上具有絕緣罩112之第一P型矽區110。在一實施例中，雷射剝蝕製程(例如直接寫入(write))使用於圖案化絕緣層108與P型矽層106。在適用的情況下，在一實施例中，第一薄介電層104亦在此製程中被圖案化，如第2圖所示。
在一實施例中，絕緣層108與P型矽層106是使用雷射剝蝕製程執行圖案化。在此實施例中，雷射剝蝕製程曝露出N型單晶矽基板102之複數個區域109。N型單晶矽基板102之每一個區域109可視為形成在N型單晶矽基板102上的複數個非連續溝槽。如第2圖所示，溝槽 109具有進入基板102的一深度或厚度111。在此實施例中，每個非連續溝槽109在雷射剝蝕下形成具有進入基板102的小於大約10微米的非零深度111。在一實施例中，利用雷射剝蝕製程提供各具有介於約30-60微米之範圍內的厚度 (例如最大直徑)的非連續溝槽。在一實施例中，雷射剝蝕製程涉及使用具有近似高斯分佈或具有近似平頂(flat-top)分佈的雷射光束。
請參照第3圖，溝槽109之表面可被紋理化以在基板102中形成具有紋理化表面116的紋理化凹槽114或溝槽。在相同或類似的製程中，基板102之光接收面101亦可被紋理化，如第3圖所示。在一實施例中，氫氧化物濕蝕刻劑被用以形成至少一部分的凹槽114及/或紋理化基板102之曝露部分。紋理化表面可具有散射太陽能電池之光接收表面及/或曝露表面的入射光、降低其光反射量的規則或不規則形狀的表面。然而，可理解的是，背面乃至凹槽形成的紋理化可從製造流程中省略。也可理解的是，溝槽109之紋理化之深度可於應用上增加原形成之深度。
請參照第4圖與對應的流程圖800之操作808，第二薄介電層118形成於P型矽區110之曝露側上。在一實施例中，第二薄介電層118在氧化製程中形成且為薄氧化層，例如具有厚度約為2奈米或更少的穿隧介電氧化矽層。在另一實施例中，第二薄介電層118可被以沉積製程形成，且可為薄氮化矽層或氮氧化矽層。
請再參照第4圖與對應的流程圖700之操作810，N型矽層120形成於在基板102之背面之暴露側上的第三薄介電層120上(例如形成在 N型單晶矽基板102之每一個區域109之數個非連續溝槽中)。N型矽層120更進一步形成於第二薄介電層118與P型矽區110之絕緣罩112上。N型矽層120(從上往下的角度)覆蓋溝槽區域109。
請再參照第4圖，在相同或類似的製程中，對應的薄介電層122’與N型矽層120’亦可形成於基板102之光接收面101上。除此之外，儘管未繪及，抗反射塗層可形成於對應的N型矽層120’上。
在一實施例中，第三薄介電層122可在氧化製程中形成且為薄氧化層，例如具有大約2奈米或更小厚度的穿隧介電氧化矽層。在一實施例中，N型矽層120為透過原位摻雜、沉積後植入、或是其組合而被摻雜的多晶矽層。在另一實施例中，N型矽層120為非晶矽層，例如在非晶矽層的沉積之後植入摻質的a-Si：H所表示之氫化矽層。在此實施例中，N型矽層1206隨後被退火以最終形成N型多晶矽層(至少一些處理流程之後續階段)。在一實施例中，對於多晶矽層亦或是對於非晶矽層而言，若沉積後執行植入，植入是藉由使用離子束植入或電漿浸入植入來執行。在此實施例中，遮罩將於植入時被使用。在此具體的實施例中，P型導電性可由硼雜質原子所實現。
請參照第5圖與對應的流程圖800之操作812，N型非晶矽層121形成於N型矽層120上。在一實施例中，於低於溫度攝氏400度下，藉由電漿輔助化學氣相沈積法以形成N型非晶矽層121。在此實施例中，N型非晶矽層121形成為具有總氫含量濃度約占總薄膜組合物之5-20%，且其總磷摻雜劑濃度介於約1E19–5E20 atoms/cm3 之範圍內。在一實施例中，N型非晶矽層121形成具有約5-50奈米之厚度。然而，在另一實施例中，N型非晶矽層121形成具有大於約50奈米之厚度。
請參照第6圖與對應的流程圖800之操作814，N型非晶矽層121與N型矽層120被圖案化以形成圖案化的N型非晶矽層121’與隔絕的N型射極區124。圖案化製程係用以在位於P型矽區110之絕緣罩112上方的圖案化的N型非晶矽層121’與N型矽層之區域(原層120)中形成接觸開口126與隔離口127。在一實施例中，每一個隔絕的N型矽區124電性耦接N型單晶矽基板102之對應的一個(或多個)區域109。在一實施例中，N型矽125之離散區可保留作為圖樣化製程的人工產物(artifact)。在一實施例中，雷射剝蝕製程使用於圖案化N型非晶矽層121與N型矽層120。
請再次參照第6圖與對應的流程圖800之操作816，絕緣罩121通過接觸開口126被圖案化以曝露部分的P型矽區110。在一實施例中，使用雷射剝蝕製程來圖案化絕緣罩112。舉例來說，在一實施例中，第一雷射階段用以圖案化N型非晶矽層121與N型矽層120，其包含形成接觸開口126。於接觸開口126之相同位置上，第二雷射階段用以圖案化絕緣罩121。
請參照第7圖與對應的流程圖800之操作818，複數個導電接觸被形成，每個導電接觸電性連接P型矽區之一或是隔絕的N型矽區之一。具體地說，導電接觸132形成在P型矽區110之接觸開口126中。在一實施例中，導電接觸130與對應的P型矽區110直接接觸。導電接觸134形成於N型射極區(N型矽層120之隔絕的N型射極區)之圖案化之N型非晶矽層121’之一部分上。在一實施例中，導電接觸134與N型非晶矽層121’直接接觸，但沒有暴露隔絕的N型射極區124之表面。
在一示例性實施例中，金屬晶種層128形成於P型矽區110與絕緣矽區124之曝露部分上。金屬層130鍍於金屬晶種層上，以形成分別用於P型矽區110與隔絕的N型矽區124的導電接觸132與134。在一實施例中，金屬晶種層128為鋁系金屬晶種層，且金屬層130為銅層。在一實施例中，遮罩首先被形成以僅曝露P型矽區110與隔絕的N型矽區124之曝露部分，以導引金屬晶種層128形成於某特定位置。
因此，本文描述的一個或多個實施例揭示形成用於太陽能電池的P +和N+多晶矽射極區，其中P+和N+多晶矽射極區之各個結構是彼此不同的。如此的實現方法可簡化太陽能電池的製程。再者，此所提之架構相對其他太陽能電池架構可提供較低的崩潰電壓與較低的功率損失。
請再次參照第7圖，在一實施例中，完成的太陽能電池包含具有光接收面101與對應的背面的基板102。P型多晶矽射極區110設置於在基板102之背面上的第一薄介電層104上。N型多晶矽射極區124設置於在基板102之背面上的溝槽(如第7圖之剖視圖所繪示之凹槽)中的第二薄介電層122上。N型矽層 121’設置於N型多晶矽層射極區124上。
在一實施例中，N型矽層121’包含多用途的鈍化層與接觸層。在一實施例中，基板102可為N型單晶矽基板。在一實施例中，太陽能電池可為背接觸式太陽能電池，如第7圖所示。在一實施例中，N型矽層121’進一步設置於P型多晶矽區110上，但並未與其接觸，亦如第7圖所示。
在一實施例中，N型矽層121’為N型非晶矽層。在此實施例中，N型非晶矽層之總組合物具有約為總薄膜組合物之5-20%的氫濃度。在另一實施例中，N型非晶矽層之總組合物具有介於約1E19–5E20 atoms/cm3 之範圍內的磷摻雜物濃度。
在一實施例中，N型矽層121’的厚度介於約5-50奈米之範圍內。在一實施例中，N型多晶矽射極區124具有約30奈米之厚度，而N型矽層121’具有約20奈米之厚度。在一實施例中，N型多晶矽射極區形成於具有一紋理化表面的溝槽中，如第7圖所示。在另一實施例中，N型單晶矽層121’ 具有大於約50奈米之厚度。
請再次參照第7圖，在一實施例中，太陽能電池包含直接橫向設置於第一多晶矽射極區110以及第二多晶矽射極區124之間的第三薄介電層118。在一實施例中，太陽能電池更包含與P型多晶矽射極區110電性連接的第一導電接觸結構132。第二導電接觸結構134電性連接N型多晶矽射極區124。第二導電接觸結構134與N型矽層121’直接接觸。
在一實施例中，太陽能電池更包含設置於P型多晶矽射極區110上的絕緣層112，如第7圖所示。第一導電接觸結構132設置通過絕緣層112。在此實施例中，N型多晶矽射極區124之一部份與絕緣層112重疊，但與第一導電接觸結構132分離，如第7圖所示。在另一實施例中，N型多晶矽區125(例如作為與N型多晶矽射極區124隔絕的部分)設置於絕緣層112上。N型矽層121’之一部分設置於與絕緣層112以及N型多晶矽區125重疊的N型多晶矽射極區124之一部份上。第一導電接觸結構132設置通過N型矽層121’、第二導電體之N型多晶矽區125、以及絕緣層112，如第7圖所示。
請再次參照第7圖，太陽能電池更包含設置於基板102之光接收面上的第四薄介電層122’。多晶矽層120’設置於第四薄膜電層上且可為N型多晶矽層120’。雖然圖中未繪及，反射塗層(ARC) 可設置於多晶矽層102’上。在一具體實施例中，基板102可為N型單晶矽基板，且所有第一、第二與第三薄介電層(以及若存在的第四薄介電層)包含二氧化矽。
雖然上述實施例已具體描述特定材料，但某些材料可輕易的以其他材料取代，且其它這樣的實施例仍在本發明的實施例的精神和範疇之內。舉例來說，在一實施例中，不同材料的基板，例如III-V族材料基板，可取代矽基板。除此之外， 雖然本文明確指出參照背接觸式太陽能電池的配置，但應可理解本文所述之方法亦可應用於前接觸式太陽能電池。在另一實施例中，上述方法可適用於其它太陽能電池的製造。舉例來說，發光二極體之製造可受益於本案所述的方法。
此外，應可理解的，以下針對N+ 與 P+型摻雜進行具體說明，其他預設的實施例可包含相反的導電類型，例如分別為N+ 與 P+型摻雜。如此，在一實施例中，在處理N型射極後，可僅接著加工處理P型射極以製造具有P型鈍化層之架構。此實施例亦可適用於P型矽基板。作為一示例，第9圖係為根據本發明之實施例列出製造太陽能電池之另一方法之操作之流程圖。
請參照流程圖900之操作902，製造太陽能電池之差異化N型與P型射極區之方法包含形成N型矽層於形成在基板之背面上的第一薄介電層上。請參照流程圖900之操作904，絕緣層形成於N型矽層上。請參照流程圖900之操作906，絕緣層與N型矽層被圖案化以形成其上具有絕緣罩的第一N型矽區。請參照流程圖900之操作908，第二薄介電層形成於N型矽區之曝露側。請參照流程圖900之操作910，P型矽層形成於形成在基板之背面之暴露部分上的第三薄介電層上。請參照流程圖900之操作912，P型非單晶矽層形成於P型矽層上。請參照流程圖900之操作914，P型非單晶矽層與型矽層被圖案化以形成圖案化之P型非單晶矽層與隔絕的P型射極區。請參照流程圖900之操作916，絕緣罩通過接觸開口被圖案化，以曝露部分的N型矽區。請參照流程圖900之操作918，複數個導電接觸被形成，其中每個導電接觸電性連接N型矽區之一或是隔絕的P型矽區之一。
因此，本發明係揭示製造具有差異化P型和N型架構並整合多用途之鈍化層和接觸層之太陽能電池之射極區之方法、以及所得的太陽能電池。
雖然已在前描述了具體的實施例，然而即使關於特定的特徵僅描述單一實施例，這些實施例並不意圖限制本揭示的範疇。除非另有說明，否則在本發明中所提供的特徵之示例是意圖為說明性的而非限制性的。對所屬技術領域中具有通常知識者而言，前面的描述係意在涵蓋具有本發明的利益之此類替代物、修改物及等效物。
本發明的範疇包含在本文中所揭示的任何特徵或特徵的組合(明顯地或隱含地)，或者其任何概括，而不論其是否減輕了本文中所解決的任何問題或所有問題。因此，在本申請(或其聲明優先權的申請案)的審查期間，可制定新的申請專利範圍成任何這樣的特徵組合。特別是，參照所附的申請專利範圍，來自附屬項的特徵可與獨立項的特徵組合，且來自各獨立項的特徵可以任何適當的方式組合，而不僅為所附的申請專利範圍中所列舉的特定組合。
101‧‧‧光接收面
102‧‧‧基板
104‧‧‧薄介電層
106‧‧‧P型矽層
108‧‧‧絕緣層
109‧‧‧溝槽、區域
110‧‧‧P型矽區
111‧‧‧深度、厚度
112‧‧‧絕緣罩
114‧‧‧凹槽
116‧‧‧紋理化表面
118、122、122'‧‧‧薄介電層
120、120'‧‧‧N型矽層
121、121'‧‧‧N型非晶矽層
124‧‧‧N型多晶矽層射極區
125‧‧‧N型多晶矽區
126‧‧‧接觸開口
127‧‧‧隔離口
128‧‧‧金屬晶種層
130‧‧‧金屬層
132、134‧‧‧導電接觸結構
800、900‧‧‧流程圖
802、804、806、808、810、812、814、816、818、902、904、906、908、910、912、914、916、918‧‧‧操作
第1~7圖繪示根據本發明之實施例之太陽能電池製造之各個階段之剖視圖，其中：
第1圖繪示太陽能電池製造中涉及在形成於基板之背面上的第一薄介電層上形成P型矽層、以及在P型矽層上形成絕緣層的階段之剖視圖；
第2圖繪示第1圖之絕緣層與P型矽層的圖案化以形成其上具有絕緣罩的P型矽區後的結構剖視圖；
第3圖繪示第2圖之基板中的溝槽之表面的紋理化以形成具有紋理化凹槽或具有紋理表面之溝槽的結構剖視圖；
第4圖繪示第3圖之第二與第三薄介電層以及N型矽層之形成之結構剖視圖；
第5圖繪示第4圖之N型非晶矽層形成在N型矽層上之結構剖視圖；
第6圖繪示第5圖之N型非晶矽層與N型矽層的圖案化以形成隔絕的N型射極區以及在位於P型矽區之絕緣帽上方的N型非晶矽層與N型矽層之區域中形成的接觸開口的結構剖視圖；以及
第7圖繪示第6圖之複數個導電接觸之形成的結構剖視圖。
第8圖係為根據本發明之實施例列出對應於第1~7圖之製造太陽能電池的方法之操作之流程圖；
第9圖係為根據本發明之實施例列出製造太陽能電池之另一方法之操作之流程圖。
101‧‧‧光接收面
102‧‧‧基板
104‧‧‧薄介電層
110‧‧‧P型矽區
112‧‧‧絕緣罩
118、122、122'‧‧‧薄介電層
120'‧‧‧N型矽層
121'‧‧‧N型非晶矽層
124‧‧‧N型多晶矽層射極區
125‧‧‧N型多晶矽區
127‧‧‧隔離口
128‧‧‧金屬晶種層
130‧‧‧金屬層
132、134‧‧‧導電接觸結構

Claims (25)

  1. 一種太陽能電池，包含： 一基板，其具有一光接收面以及一背面； 一P型射極區，其設置於該基板之該背面上； 一N型射極區，其設置於形成在該基板之該背面上的一溝槽中； 一N型鈍化層，其設置於該N型射極區上； 一第一導電接觸結構，其電性連接該P型射極區；以及 一第二導電接觸結構，其電性連接該N型射極區且與該N型鈍化層直接接觸。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之太陽能電池，其中該N型鈍化層為N型非晶矽層。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之太陽能電池，其中該N型非晶矽層之總組合物之氫濃度約為總薄膜組合物之5-20%。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之太陽能電池，其中 該N型非晶矽層之總組合物之磷摻雜物濃度介於約1E19–5E20 atoms/cm3 之範圍內。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之太陽能電池，其中該N型鈍化層之厚度介於約5-50奈米之範圍內。
  6. 一種背接觸式太陽能電池，包含： 一基板，其具有一光接收面與一背面； 一P型多晶矽射極區，其設置於在該基板之該背面上的一第一薄介電層上； 一N型多晶矽射極區，其設置於在該基板之該背面上的一溝槽中的一第二薄介電層上； 一第三薄介電層，其直接橫向地設置於該N型多晶矽射極區與該P型多晶矽射極區之間； 一N型矽層，其設置於該N型多晶矽射極區上； 一第一導電接觸結構，其電性連接該P型多晶矽射極區；以及 一第二導電接觸結構，其電性連接該N型多晶矽射極區，且與該N型矽層直接接觸。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之背接觸式太陽能電池，其中該N型矽層進一步設置於該P型多晶矽射極區上，但不與其直接接觸。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之背接觸式太陽能電池，其中該N型矽層為N型非晶矽層。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之背接觸式太陽能電池，其中該N型非晶矽層之總組合物之氫濃度約為總薄膜組合物之5-20%。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之背接觸式太陽能電池，其中該N型非晶矽層之總組合物之磷摻雜物濃度介於約1E19–5E20 atoms/cm3之範圍內。
  11. 如申請專利範圍第8項所述之背接觸式太陽能電池，其中該N型矽層之厚度介於約5-50奈米之範圍內。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之背接觸式太陽能電池，其中該N型多晶矽射極區之厚度約為30奈米，而該N型矽層之厚度約為20奈米。
  13. 如申請專利範圍第6項所述之背接觸式太陽能電池，更包含： 一絕緣層，其設置於該P型多晶矽射極區上，其中該第一導電接觸結構設置通過該絕緣層，且其中該N型多晶矽射極區之一部分以及該N型矽層之一部分與該絕緣層互相重疊。
  14. 如申請專利範圍第6項所述之背接觸式太陽能電池，其中該溝槽具有一紋理表面。
  15. 如申請專利範圍第6項所述之背接觸式太陽能電池，更包含： 一第四薄介電層，其設置於該基板上； 一多晶矽層，其設置於該第四薄介電層上；以及 一抗反射塗層，其設置於該多晶矽層上。
  16. 如申請專利範圍第6項所述之背接觸式太陽能電池，其中該基板為N型單晶矽基板，其中該第一薄介電層、該第二薄介電層以及該第三薄介電層皆包含二氧化矽。
  17. 一種製造太陽能電池之差異化N型與P型射極區之方法，包含： 形成一P型矽層於形成在一基板之一背面上的一第一薄介電層上； 形成一絕緣層於該P型矽層上； 圖案化該絕緣層以及該P型矽層，以形成其上具有一絕緣罩的一P型矽區； 形成一第二薄介電層於P型矽區之曝露側； 形成一N型矽層於形成在該基板之該背面上的一第三薄介電層上、該第二薄介電層及該P型矽區之該絕緣罩上； 形成一N型非晶矽層於該N型矽層上； 圖案化該N型非晶矽層及該N型矽層，以形成該隔絕的N型射極區並在位於該P型矽區之該絕緣罩上的該N型非晶矽層以及該N型矽層之區域中形成接觸開口； 通過該接觸開口以圖案化該絕緣罩，以曝露部分的該P型矽區； 形成導電接觸於該P型矽區與該N型射極區，該P型矽區之該導電接觸成於該接觸開口中，且該N型射極區之該導電接觸可與該N型射極區之該N型非晶矽層直接接觸。
  18. 如申請專利範圍第17項所述之製造太陽能電池之差異化N型與P型射極區之方法，其中形成該N型非晶矽層包含於攝氏溫度約400度以下，以電漿輔助化學氣相沈積法沉積該N型非晶矽層。
  19. 如申請專利範圍第18項所述之製造太陽能電池之差異化N型與P型射極區之方法，其中形成N型非晶矽層包含形成氫濃度約為總薄膜組合物之5-20%、磷摻雜物濃度約為總組合物之1E19–5E20 atoms/cm3 、以及厚度介於約5-50奈米之範圍內的一N型非晶矽層。
  20. 一種太陽能電池，其係根據如申請專利範圍第17項所述之方法製造。
  21. 一種太陽能電池，包含： 一基板，其具有一光接收面與一背面； 一N型射極區，其設置於該基板之該背面上； 一P型射極區，其設置於形成在該基板之該背面上的一溝槽中； 一P型鈍化層，其設置於該P型射極區上； 一第一導電接觸結構，其電性連接該N型射極區；以及 一第二導電接觸結構，其電性連接該P型射極區且與該P型鈍化層直接接觸。
  22. 如申請專利範圍第21項所述之太陽能電池，其中該P型鈍化層為P型非晶矽層。
  23. 如申請專利範圍第22項所述之太陽能電池，其中該P型非晶矽層之總組合物的氫濃度約為總薄膜組合物之5-20%。
  24. 如申請專利範圍第22項所述之太陽能電池，其中該P型非晶矽層之總組合物的磷摻雜物濃度介於約1E19–5E20 atoms/cm3 之範圍內。
  25. 如申請專利範圍第22項所述之太陽能電池，其中該P型鈍化層之厚度介於約5-50奈米之範圍內。
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