TW201635455A - 散熱型封裝結構及其散熱件 - Google Patents
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Abstract
一種散熱型封裝結構,係包括:承載件、設於該承載件上之電子元件、以結合層設於該電子元件上之散熱件,該散熱件具有支撐腳與支架,該支撐腳與該支架係結合於該承載件上,且該支架係位於該電子元件與該支撐腳之間,以提供支撐力而避免封裝結構發生過大之翹曲。
Description
本發明係有關一種封裝結構,尤指一種散熱型封裝結構及其散熱件。
隨著電子產品在功能及處理速度之需求的提升,作為電子產品之核心組件的半導體晶片需具有更高密度之電子元件(Electronic Components)及電子電路(Electronic Circuits),故半導體晶片在運作時將隨之產生更大量的熱能,且包覆該半導體晶片之封裝膠體係為一種導熱係數僅0.8Wm-1k-1之不良傳熱材質(即熱量之逸散效率不佳),因而若不能有效逸散所產生之熱量,則會造成半導體晶片之損害或造成產品信賴性問題。
因此,為了迅速將熱能散逸至大氣中,通常在半導體封裝結構中配置散熱片(Heat Sink或Heat Spreader),且傳統散熱片係藉由散熱膠結合至晶片背面,以藉散熱膠與散熱片逸散出半導體晶片所產生之熱量,通常以散熱片之頂面外露出封裝膠體或直接外露於大氣中為佳,俾取得較佳之散熱效果。
然而,散熱膠已不符合製程需求,故遂發展出導熱介面材(Thermal Interface Material,簡稱TIM)製程。
習知TIM層係為低溫熔融之熱傳導材料(如銲錫材料),其設於半導體晶片背面與散熱片之間,而為了提升TIM層與晶片背面之間的接著強度,需於晶片背面上覆金(即所謂之Coating Gold On Chip Back),且需使用助焊劑(flux),以利於該TIM層接著於該金層上。
如第1A圖所示,習知半導體封裝結構1之製法係先將一半導體晶片11以其作用面11a利用覆晶接合方式(即透過導電凸塊110與底膠111)設於一封裝基板10上,且將一金層(圖略)形成於該半導體晶片11之非作用面11b上,再將一散熱件13以其頂片130藉由TIM層12(其包含銲錫層與助焊劑)回銲結合於該金層上,且該散熱件13之支撐腳131藉由黏著層14架設於該封裝基板10上。接著,進行封裝壓模作業,以供封裝膠體(圖略)包覆該半導體晶片11及散熱件13,並使該散熱件13之頂片130外露出封裝膠體而直接與大氣接觸。
於運作時,該半導體晶片11所產生之熱能係經由該非作用面11b、金層、TIM層12而傳導至該散熱件13以散熱至該半導體封裝結構1之外部。
惟,當習知半導體封裝結構1之厚度薄化,且其面積越來越大時,使該散熱件13與TIM層12之間的熱膨脹係數差異(CTE Mismatch)而導致變形的情況(即翹曲程度)更明顯,故當變形量過大時,該散熱件13之頂片130與
TIM層12’之間容易發生脫層(如第1B圖所示之間隙d),不僅造成導熱效果下降,且會造成半導體封裝結構1外觀上的不良,因而嚴重影響產品之信賴性。
因此,如何克服上述習知技術之問題,實已成為目前業界亟待克服之難題。
鑑於上述習知技術之種種缺失,本發明提供一種散熱型封裝結構,係包括:承載件;電子元件,係設於該承載件上;結合層,係設於該電子元件上;以及散熱件,係設於該結合層上,且該散熱件具有散熱體、設於該散熱體上之支撐腳與設於該散熱體上之至少一支架,該散熱體係接觸該結合層,且該支撐腳與該支架係結合於該承載件上,又該支架係位於該電子元件與該支撐腳之間。
前述之散熱型封裝結構中,該承載件係為封裝基板或導線架。
前述之散熱型封裝結構中,該電子元件係為主動元件、被動元件、封裝元件或其三者之組合。
前述之散熱型封裝結構中,該結合層係為導熱介面材或導熱膠。
前述之散熱型封裝結構中,該支架係鄰近於該電子元件之角落處。
本發明亦提供一種散熱件,係包括:一種散熱件,係包括:散熱體;支撐腳,係設於該散熱體上;以及至少一支架,係設於該散熱體上,且該支架較該支撐腳鄰近該散
熱體中央處。
前述之散熱型封裝結構及其散熱件中,該散熱體係為散熱片。
前述之散熱型封裝結構及其散熱件中,該支架之高度與該支撐腳之高度相同或不相同。
前述之散熱型封裝結構及其散熱件中,該支架係一體成型於該散熱體上。
前述之散熱型封裝結構及其散熱件中,該支架係黏貼於該散熱體上。
前述之散熱型封裝結構及其散熱件中,該支架之材質不同於該散熱體之材質。
前述之散熱型封裝結構及其散熱件中,該支架之材質係為不導熱材料。
前述之散熱型封裝結構及其散熱件中,該支架係為L形柱體。
由上可知,本發明之散熱型封裝結構,主要藉由增設支架,使該支架相較於該支撐腳更靠近該電子元件周圍,故相較於習知技術,當薄化該散熱型封裝結構之厚度,且該散熱型封裝結構之面積越來越大時,該支架能提供支撐力以維持該散熱體與該承載件之間的距離,因而能避免發生過大之翹曲程度,以避免該散熱體與結合層之間發生脫層,進而提升導熱效果,且能提升產品之信賴性。
1,2‧‧‧封裝結構
10‧‧‧封裝基板
11‧‧‧半導體晶片
11a,21a‧‧‧作用面
11b,21b‧‧‧非作用面
110,210‧‧‧導電凸塊
111,211‧‧‧底膠
12‧‧‧TIM層
12’‧‧‧TIM層
13,23‧‧‧散熱件
130‧‧‧頂片
131,231‧‧‧支撐腳
14,24‧‧‧黏著層
20‧‧‧承載件
21‧‧‧電子元件
22‧‧‧結合層
230‧‧‧散熱體
232,232’‧‧‧支架
d‧‧‧間隙
h1,h1’,h2‧‧‧高度
第1A圖係為習知半導體封裝結構之剖視示意圖;
第1B圖係為第1A圖之脫層情況之示意圖;第2及2’圖係為本發明散熱型封裝結構之不同實施例之剖視示意圖;以及第3A至3D圖係為第2圖之支架之各種態樣的上視圖。
以下藉由特定的具體實施例說明本發明之實施方式,熟悉此技藝之人士可由本說明書所揭示之內容輕易地瞭解本發明之其他優點及功效。
須知,本說明書所附圖式所繪示之結構、比例、大小等,均僅用以配合說明書所揭示之內容,以供熟悉此技藝之人士之瞭解與閱讀,並非用以限定本發明可實施之限定條件,故不具技術上之實質意義,任何結構之修飾、比例關係之改變或大小之調整,在不影響本發明所能產生之功效及所能達成之目的下,均應仍落在本發明所揭示之技術內容得能涵蓋之範圍內。同時,本說明書中所引用之如“上”、“下”及“一”等之用語,亦僅為便於敘述之明瞭,而非用以限定本發明可實施之範圍,其相對關係之改變或調整,在無實質變更技術內容下,當亦視為本發明可實施之範疇。
第2圖係為本發明之散熱型封裝結構2,其包括:一承載件20、一電子元件21、一結合層22以及一散熱件23。
所述之承載件20係為封裝基板,且有關封裝基板之種類繁多,並無特別限制;於其它實施例中,該承載件20亦可為導線架。
所述之電子元件21係設於該承載件20上,且該電子元件21係為主動元件、被動元件、封裝元件或其三者之組合。
於本實施例中,該主動元件係例如半導體晶片,該被動元件係例如電阻、電容及電感,且該封裝元件係包含基板、設於該基板上之晶片及包覆該晶片之封裝層。
再者,該電子元件21具有相對之作用面21a及非作用面21b,且該電子元件21之作用面21a具有複數導電凸塊210,而該電子元件21係藉由該些導電凸塊210結合並電性連接該承載件20,並以底膠211包覆該些導電凸塊210。
又,於其它實施例中,該電子元件21亦可以打線封裝方式電性連接該承載件20。
所述之結合層22係為導熱介面材或導熱膠,其設於該電子元件21之非作用面21b上。
所述之散熱件23係設於該結合層22上,且該散熱件23具有一散熱體230、設於該散熱體230下側之複數支撐腳231與設於該散熱體230下側之複數支架232,該散熱體230下側係接觸該結合層22,且該支撐腳231與該支架232係以黏著層24結合於該承載件20上,又於該承載件20上,該支架232係位於該電子元件21與該支撐腳231之間。
於本實施例中,該散熱體230係為散熱片,且該支架232較該支撐腳231鄰近該散熱體230中央處,使該支架232係鄰近於該電子元件21之角落處(如第3A至3D圖)。
再者,該支架232之高度h1與該支撐腳231之高度h2相同。
於其它實施例中,該支架232之高度h1’與該支撐腳231之高度h2可不相同,即該支架232與該支撐腳231可利用不同厚度之黏著層24結合於該承載件20上。如第2’圖所示,該支架232’之高度h1’小於該支撐腳231之高度h2。該支架232’之高度亦可大於該支撐腳231之高度h2。
又,該支架232與該支撐腳231係以機械加工同時形成,亦即該支架232與該散熱體230係一體成型。或者,可先以導熱或不導熱材料形成該支架232,再將該支架232黏貼於該散熱體230下側。因此,該支架232之材質可不同於該散熱體230之材質。
另外,該支架232係為各式形狀之柱體,如第3A至3D圖所示,較佳者為L形。
本發明之散熱型封裝結構2係藉由該散熱件23增設支架232,使該支架232相較於該支撐腳231更靠近該電子元件21周圍,故當薄化該散熱型封裝結構2之厚度,且該散熱型封裝結構2之面積越來越大時,該散熱型封裝結構2之翹曲(warpage)程度相較於習知封裝結構減少37%,且該電子元件21之表面分離應力(surface peeling stress)減少23%。
因此,該支架232能提供結合力以維持該散熱體230中央與該承載件20之間的距離,故能避免該散熱體230與結合層22之間發生脫層,因而不僅能提升導熱效果,且
能提升產品之信賴性。
上述實施例係用以例示性說明本發明之原理及其功效,而非用於限制本發明。任何熟習此項技藝之人士均可在不違背本發明之精神及範疇下,對上述實施例進行修改。因此本發明之權利保護範圍,應如後述之申請專利範圍所列。
2‧‧‧封裝結構
20‧‧‧承載件
21‧‧‧電子元件
21a‧‧‧作用面
21b‧‧‧非作用面
210‧‧‧導電凸塊
211‧‧‧底膠
22‧‧‧結合層
23‧‧‧散熱件
230‧‧‧散熱體
231‧‧‧支撐腳
232‧‧‧支架
24‧‧‧黏著層
h1,h2‧‧‧高度
Claims (20)
- 一種散熱型封裝結構,係包括:承載件;電子元件,係設於該承載件上;結合層,係設於該電子元件上;以及散熱件,係設於該結合層上,且該散熱件具有散熱體、設於該散熱體上之支撐腳與設於該散熱體上之至少一支架,該散熱體係接觸該結合層,且該支撐腳與該支架係結合於該承載件上,又該支架係位於該電子元件與該支撐腳之間。
- 如申請專利範圍第1項所述之散熱型封裝結構,其中,該承載件係為封裝基板或導線架。
- 如申請專利範圍第1項所述之散熱型封裝結構,其中,該電子元件係為主動元件、被動元件、封裝元件或其三者之組合。
- 如申請專利範圍第1項所述之散熱型封裝結構,其中,該結合層係為導熱介面材或導熱膠。
- 如申請專利範圍第1項所述之散熱型封裝結構,其中,該散熱體係為散熱片。
- 如申請專利範圍第1項所述之散熱型封裝結構,其中,該支架係鄰近於該電子元件之角落處。
- 如申請專利範圍第1項所述之散熱型封裝結構,其中,該支架之高度與該支撐腳之高度相同或不相同。
- 如申請專利範圍第1項所述之散熱型封裝結構,其中, 該支架係一體成型於該散熱體上。
- 如申請專利範圍第1項所述之散熱型封裝結構,其中,該支架係黏貼於該散熱體上。
- 如申請專利範圍第1項所述之散熱型封裝結構,其中,該支架之材質不同於該散熱體之材質。
- 如申請專利範圍第1項所述之散熱型封裝結構,其中,該支架之材質係為不導熱材料。
- 如申請專利範圍第1項所述之散熱型封裝結構,其中,該支架係為L形柱體。
- 一種散熱件,係包括:散熱體;支撐腳,係設於該散熱體上;以及至少一支架,係設於該散熱體上,且該支架較該支撐腳鄰近該散熱體中央處。
- 如申請專利範圍第13項所述之散熱件,其中,該散熱體係為散熱片。
- 如申請專利範圍第13項所述之散熱件,其中,該支架之高度與該支撐腳之高度相同或不相同。
- 如申請專利範圍第13項所述之散熱件,其中,該支架係一體成型於該散熱體上。
- 如申請專利範圍第13項所述之散熱件,其中,該支架係黏貼於該散熱體上。
- 如申請專利範圍第13項所述之散熱件,其中,該支架之材質不同於該散熱體之材質。
- 如申請專利範圍第13項所述之散熱件,其中,該支架之材質係為不導熱材料。
- 如申請專利範圍第13項所述之散熱件,其中,該支架係為L形柱體。
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Families Citing this family (6)
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