TW201430328A - 光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法 - Google Patents

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Abstract

一種同心偏差測量方法，用來測量光纖耦合透鏡中光纖與透鏡之間的同心偏差，所述光纖耦合透鏡包括透鏡和容置槽，所述透鏡所在的表面具有定位結構，所述光纖位於所述容置槽中，所述同心偏差測量方法包括：將光纖組裝入所述光纖耦合透鏡中的容置槽內；將組裝入光纖的光纖耦合透鏡固定；以所述定位結構為基準，測量所述透鏡的位置；向所述光纖中輸入光線以點亮所述光纖；以所述定位結構為基準，測量所述光纖的位置；比較所述光纖和所述透鏡的位置，得到所述光纖與透鏡的同心偏差。

Description

光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法
本發明涉及一種光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法。
光纖耦合透鏡主要的功能在於光纖所發出的光束能夠透過透鏡聚焦使接收端能夠獲得更加集中的能量，或者，光束經過透鏡聚焦後也可以使得光纖能接收到更加集中的能量。如此，光纖與透鏡的同心度非常重要，一般光學設計所允許的偏差量在幾個微米以內，由此，測量透鏡與光纖的同心度時光纖耦合透鏡非常重要的課題。光纖耦合透鏡的組裝方式為將光纖插入空洞中，接著蓋體下壓並使蓋體推擠光纖至L型承靠上，之後採用膠水等將蓋體固定即可。
由於透鏡和光纖是處於相對的兩側，透鏡可以藉助同側的定位結構（例如，定位孔或定位柱）來測量，光纖組裝入光纖耦合透鏡後，無法由光纖側觀察到定位結構，因此，較難測量光纖和透鏡之間的同心偏差。
有鑒於此，有必要提供一種方便測量光纖與透鏡同心偏差的光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法。
一種同心偏差測量方法，用來測量光纖耦合透鏡中光纖與透鏡之間的同心偏差，所述光纖耦合透鏡包括透鏡和容置槽所述透鏡所在的表面具有定位結構，所述光纖位於所述容置槽中，所述同心偏差測量方法包括：將光纖組裝入所述光纖耦合透鏡中的容置槽內；將組裝入光纖的光纖耦合透鏡固定；以所述定位結構為基準，測量所述透鏡的位置；向所述光纖中輸入光線以點亮所述光纖；以所述定位結構為基準，測量所述光纖的位置；比較所述光纖和所述透鏡的位置，得到所述光纖與透鏡的同心偏差。
相較於先前技術，本實施例的光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法向光纖中輸入光線以點亮光纖，從而可從定位結構同時測量光纖和透鏡的位置，從而可方便測量光纖和透鏡的同心偏差；又光纖和透鏡位置的測量為同一測量基準，從而使得測量結果準確。
10．．．光纖耦合透鏡
11．．．本體
110．．．容置槽
1101．．．承靠部
111．．．透鏡
112．．．定位結構
12．．．蓋體
20．．．光纖
圖1是本發明實施例光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法的示意圖。
圖2是光纖耦合透鏡的示意圖。
圖3是光纖耦合透鏡的分解圖。
圖4是光纖與透鏡之間不存在偏心時的示意圖。
圖5是光纖與透鏡之間存在偏心時的示意圖。
下面將結合附圖對本發明實施例作進一步詳細說明。
請參閱圖1圖2及圖3，本發明實施例提供的同心偏差測量方法用測量光纖耦合透鏡中光纖與透鏡之間的同心偏差。
光纖耦合透鏡10包括本體11和蓋體12，本體11上具有複數容置槽110、複數透鏡111和兩個定位結構112。容置槽110靠近透鏡111的位置具有L型承靠部1101用來承靠光纖20。蓋體12蓋合在容置槽110內並抵頂在光纖20上以使光纖20緊密抵靠在承靠部1101上。透鏡111用來與光纖20光耦合以傳輸光訊號。定位結構112與透鏡111位於同一側且透鏡111位於兩個定位結構112之間，用來與光通訊模組（圖未示）中的其他結構進行定位，定位結構112可以為定位孔或定位柱。本實施方式中，定位結構112為定位孔。
本實施例提供的同心偏差測量方法包括如下步驟：
S1，將光纖組裝入光纖耦合透鏡中。
具體地，將光纖20置於容置槽110中，然後將蓋體12蓋合在容置槽110內並使蓋體12抵頂在光纖20上。
S2，將組裝入光纖的光纖耦合透鏡固定。
具體地，將光纖20組裝入容置槽110中，然後將蓋體12蓋合在容置槽110中，然後將具有光纖20的光纖耦合透鏡10固定。
S3，以所述定位結構為基準，測量所述透鏡的位置。
具體地，作一條通過兩個定位結構112的幾何中心的直線OO’，測量每一個透鏡111的光軸與定位結構112幾何中心直線OO’的關係，例如，光軸通過直線OO’、在直線OO’的同一側或者在直線OO’的不同側等。當光軸不通過直線OO’上時，測量光軸與直線OO’之間的距離。
S4，向所述光纖中輸入光線以點亮所述光纖。
具體地，通過未收容在容置槽110中的光纖20的端部向光纖20輸入光線，使得光線通過光纖20入射到透鏡111上。
S5，以所述定位結構為基準，測量所述光纖的位置。
具體地，由於光線通過光纖20，此時光纖20在透鏡111的位置會形成一個光圈，測量光圈的幾何中心與定位結構112直線OO’之間的關係，例如，在直線OO’上、在直線OO’的同一側或者在直線OO’的不同側等。當不在直線OO’上時，測量與直線OO’之間的距離。
S6，比較所述光纖和所述透鏡的位置，得到所述光纖與透鏡的同心偏差。
具體地，根據S4和S5，得到光纖20與透鏡111之間的同心偏差。
如圖4、圖5所示，當光纖20形成的光圈的幾何中心與透鏡111的光軸均通過直線OO’上時，則光纖20與透鏡111之間不存在同心偏差；均在直線OO’的同一側且與直線OO’的距離相等時，光纖20與透鏡111之間同樣不存在同心偏差；而當光纖20和透鏡111在同一側且與直線OO’之間的距離不同，或者光纖20與對應的透鏡111在直線OO’的不同側時，光纖20與透鏡111之間存在同心偏差。
光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測量方法向光纖中輸入光線以點亮光纖，從而可從定位結構同時測量光纖和透鏡的位置，從而可方便測量光纖和透鏡的同心偏差；又光纖和透鏡位置的測量為同一測量基準，從而使得測量結果準確。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

Claims (6)

  1. 一種同心偏差測量方法，用來測量光纖耦合透鏡中光纖與透鏡之間的同心偏差，所述光纖耦合透鏡包括透鏡和容置槽，所述透鏡所在的表面具有定位結構，所述光纖位於所述容置槽中，所述同心偏差測量方法包括：
    將光纖組裝入所述光纖耦合透鏡中的容置槽內；
    將組裝入光纖的光纖耦合透鏡固定；
    以所述定位結構為基準，測量所述透鏡的位置；
    向所述光纖中輸入光線以點亮所述光纖；
    以所述定位結構為基準，測量所述光纖的位置；
    比較所述光纖和所述透鏡的位置，得到所述光纖與透鏡的同心偏差。
  2. 如請求項1所述的同心偏差測量方法，其中，所述容置槽具有L型承靠部。
  3. 如請求項1所述的同心偏差測量方法，其中，所述定位結構為定位孔。
  4. 如請求項1所述的同心偏差測量方法，其中，所述定位結構為定位柱。
  5. 如請求項1所述的同心偏差測量方法，其中，所述光耦合透鏡進一步包括蓋體，所述蓋體蓋合在所述容置槽上並抵頂所述光纖。
  6. 如請求項1所述的同心偏差測量方法，其中，所述容置槽具有L形承靠部，所述蓋體將所述光纖抵靠在所述承靠部上。
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