TW201418738A - 終端檢驗系統 - Google Patents

Abstract

一種終端檢驗系統，包含主機、顯微鏡、條碼掃描器、承載治具、信號接收傳送裝置及電磁筆，條碼掃描器用以掃描裝設於承載治具中之電路板上的條碼，主機依照條碼從資料庫選出對應的線路佈局圖案，信號接收傳送裝置與主機及電磁筆電氣連接，當顯微鏡下檢驗電路板上的檢驗區發現缺陷時，在檢驗區上以電磁筆劃記，信號接收傳送裝置接收劃記位置，並將劃記位置傳送到主機中，主機根據原點補正時定義的原點與劃記位置的相對位置運算出報廢區域座標，自動讀取電路板資料並運算出報廢位置，取代傳統以黑筆與白漆標記，而減低工作板件污染的風險。

Description

終端檢驗系統

本發明涉及一種終端檢驗系統，尤其是信號接收傳送裝置而能更直覺地進行檢驗標記，而避免標示錯誤。

終端檢驗是在光學檢驗後，以人工的方式逐步地進行將電路板放到顯微鏡或是放大鏡下檢測電路板上的檢驗區，作為出貨時的最終檢驗。傳統的人工作業檢查，當發現缺陷時再以黑筆或白漆筆劃記為報廢區，在完成乾燥等作業程序後，其可作為後續雷射標示報廢與產出電子缺陷檔之依據。然而，在缺陷紀錄電子化同時，這樣的作業模式有幾項的缺點：第一，透過人工檢驗時，由於作業員必須在輸入電腦時，開啟與電路板相關的佈局圖案檔，在將報廢區的位置輸入，在作業程序上不夠自動化，且可能有開啟檔案錯誤的潛在問題；第二，隨著電路板微小精密化之趨勢，單一區塊排佈的檢驗區也越來越多，人工必須透過數行、列來判定檢驗區，這也可能使得人工劃記時與電腦輸入的位置不一致的問題產生；第三，傳統黑筆與白漆筆標示，其表面容易脫落，而後造成板便污染等問題。

由於終端檢驗後，產品將直接送至客戶端，若發生而良品、報廢區分辨錯誤與標記脫落造成板件污染等問題，會導致後續客戶端產品的報廢，衍生的成本提高，公司的商譽也可能受損，因此，需要一種更直覺性並改善習用檢驗時間較長、容易發生錯誤的檢驗系統。

本發明的主要目的在於提供一種終端檢驗系統，主要用於電路板作出貨前的最終檢驗，終端檢驗系統包含主機、顯微鏡、條碼掃描器、承載治具、信號接收傳送裝置及電磁筆。終 端檢驗系統主要用於在出貨前以人工方式檢查電路板的每個檢驗區，以標示出報廢區。

主機，具有一資料庫以儲存複數個線路佈局圖案；承載治具，用以承載一電路板；顯微鏡，具有目鏡、至少物鏡、載台以及支架，該載台用以承載裝設該電路板的該承載治具，且能移動，該目鏡及該至少一物鏡用以檢查該電路板上的複數個檢驗區，該支架用以將該目鏡、該至少一物鏡以及該載台連接。條碼掃描器，與該主機電氣連接，用以掃描該電路板上的一條碼，當該條碼被掃描後，該主機依照該條碼從該資料庫選取出對應該電路板的資料及線路佈局圖案。信號接收傳送裝置，設置於該承載治具上，與該主機電氣連接；電磁筆，與該信號接收傳送裝置電氣連接。

在該條碼掃描器讀取掃描該條碼，而該主機選取出對應該電路板的該資料及該線路佈局圖案後，以該電磁筆在該電路板的邊緣至少以對角線的兩點劃記作為初始標記位置，信號接收傳送裝置接收初始標記位置並傳送到主機中，主機根據初始標記位置及該線路佈局圖案定義出主機板輪廓，並定義一原點，接著將裝設在該承載治具中的該電路板在該顯微鏡下檢驗該等檢驗區，當發現缺陷時，在觀察到該缺陷的檢驗區上以該電磁筆劃記，而該信號接收傳送裝置接收劃記位置，並將劃記位置傳送到該主機中，該主機可以根據原點與劃記位置的相對位置運算出報廢區域的座標，並儲存於出貨的檔案中。

此外，也可將信號發射器結合腳踏板，以固定於顯微鏡載台的方式來取代電磁筆，此時，需在檢測之前，先進行一次機具校正。

本發明藉由主機、條碼讀取器、信號接收傳送裝置，以及電磁筆，或信號發射器及腳踏板的組合，能夠自動地讀取電路板的資料、並運算出劃記位置，而能避免資料輸入錯誤、劃記與輸入資料不合的問題，同時取代傳統以黑筆與白漆標記，而減低工作板件污染的風險。

以下配合圖式及元件符號對本創作之實施方式做更詳細的說明，俾使熟習該項技藝者在研讀本說明書後能據以實施。

參閱第一圖，本發明終端檢驗系統第一實施例的單元示意圖。如第一圖所示，終端檢驗系統1主要用於電路板作出貨前的最終檢驗，終端檢驗系統1包含主機10、顯微鏡20、條碼掃描器30、承載治具40、信號接收傳送裝置51及電磁筆53。終端檢驗系統1主要用於在出貨前以人工方式檢查電路板100的每個檢驗區110，以標示出報廢區。

主機10具有一資料庫以儲存複數個線路佈局圖案(layout)，條碼掃描器30與主機電氣連接，用以掃描電路板100上的條碼120，當條碼120被掃描後，主機10依照條碼120從該資料庫中選取出對應該電路板100的資料及線路佈局圖案。

顯微鏡20包含目鏡21、至少一物鏡23、載台25以及支架27，目鏡21的放大倍率為10X~100X，物鏡23的放大倍率為1X~10X，載台25用以放置承載電路板100的承載治具40並可移動，以在目鏡21及物鏡23下檢查電路板100上的檢驗區，支架27用以將目鏡21、至少一物鏡23以及載台25連接。

信號接收傳送裝置51設置於承載治具40上，與主機10及電磁筆53電氣連接，當在顯微鏡20下發現缺陷時，以電磁筆53進行劃記，而信號接收傳送裝置51接收劃記位置，並將劃記位置傳送到主機10中。

終端檢驗系統1在操作上，首先以條碼掃描器30讀取掃描裝設在承載治具40中的電路板100上的條碼120，而主機10依照條碼120讀取出對應該電路板100的資料及線路佈局圖案，接著以電磁筆53在電路板100的邊緣至少以對角線的兩點(例如左上、右下)劃記，而產生至少兩個初始標記位置，信號接收傳送裝置51接收該等初始標記位置，並傳送給主機 10，從而主機10依據線路布局圖按即該等初始標記位置定義出電路板100輪廓，並以電路板100上的一點作為原點。接著將裝設在承載治具40中的電路板100在顯微鏡下檢驗，當發現缺陷時，在觀察到缺陷的檢驗區110上以電磁筆53劃記，而信號接收傳送裝置51接收劃記位置，並將劃記位置傳送到主機10中，主機10可以根據原點與劃記位置的相對位置運算出報廢區域的座標，並儲存於出貨的檔案中。

其中主機10與條碼掃描器30、主機10與信號接收傳送裝置51以有線或無線方式電氣連接，無線電氣連接可以藉由藍芽或無線網路的方式來進行信號傳輸/接收，而信號接收傳送裝置51與電磁筆53之間係以有線或無線方式電氣連接，無線電氣連接，可以藉由超音波、藍芽、紅外線的方式來進行。

參閱第二圖，第一圖中承載治具40的剖面示意圖。如第二圖所示，承載治具40包含一基座41、一基板載台43，基座41具有凹槽以容置基板載台43，基板載台43同樣地具有凹槽以承載電路板100，基板載台43可依據電路板100的大小、形狀可以更換。而信號接收傳送裝置51是設置在基座41上。

參閱第三圖，本發明終端檢驗系統第二實施例的單元示意圖。如第二圖所示，終端檢驗系統2是第一實施例終端檢驗系統1的變化形式，終端檢驗系統2包含主機10、顯微鏡20、條碼掃描器30、承載治具40、信號接收傳送裝置51、信號發射器55、腳踏板57以及電池59，主機10、顯微鏡20、條碼掃描器30、承載治具40，與第一實施例相同，在此不在贅述。信號發射器55設置在顯微鏡20的載台27上，與信號接收傳送裝置51及主機10電氣連接，腳踏板57與信號發射器55電氣連接。電池59提供電力給信號發射器55，可設置在顯微鏡的載台27上。

其中信號發射器55與信號接收傳送裝置57及主機10電氣連接，是以有線或無線的連接，信號發射器55與信號接收 傳送裝置57無線連接的方式可以為超音波、藍芽或紅外線，而與主機無線連接的方式可以為藍芽或無線網路。

同時參閱第四圖，第三圖中終端檢驗系統的機具校準的示意圖。如第三圖及第四圖所示，第二實施例的終端檢驗系統2在操作上，首先將顯微鏡20中所看到的十字區域與信號發射器55對準，並踩踏腳踏板57而使得顯微鏡20與信號發射器55的位置相對應，此時，信號發射器55發送一定位信號發送給主機10以完成機具校準定位。接著，以條碼掃描器30讀取掃描裝設在承載治具40中的電路板100上的條碼120，而主機10條碼120讀取出對應該電路板100的資料及線路佈局圖案；之後移動顯微鏡20的載台27，將顯微鏡20中所看到的十字區域對準到裝設在承載治具40中電路板100的對角線兩點(例如左上、右下)作為初始對準位置，並在移動到時邊緣兩點時踩踏腳踏板57，此時，信號接收傳送裝置51接收初始對準位置，並位置傳送到主機10中，此時主機10一據線路佈局圖案及初始對準位置定義電路板100的輪廓，並以電路板100上的某一點作為一原點。接著，接著在顯微鏡20下檢驗電路板100的檢驗區110，當發現缺陷時，將顯微鏡20中所看到的十字區域對準檢驗區110的位置並踩踏腳踏板57而產生複數個缺陷對準位置，而信號接收傳送裝置51接收缺陷對準位置，並將對準位置傳送到主機10中，主機10可以根據原點與缺陷對準位置的相對位置運算出報廢區域的座標，並儲存於出貨的檔案中。

進一步地，第二實施例的終端檢驗系統2還包含一雷射筆60，該雷射筆60安裝於顯微鏡20的支架27上提供光源來提升亮度，而在機具校準時，除了將顯微鏡20中所看到的十字區域與信號發射器55對準，還需要將雷射筆60所產生的光點與十字區域對準，再踩下腳踏板，以完成機具校準。

本發明的一特點在於，透過主機、條碼讀取器、信號接收傳送裝置，以及電磁筆的組合，來能夠自動地讀取電路板的資 料、並運算出劃記位置，而能避免資料輸入錯誤、劃記與輸入資料不合的問題。

本發明的另一特點在於透過主機、條碼讀取器、信號接收傳送裝置、信號發射器及腳踏板的組合，藉由信號發射器及腳踏板標記位置，而能避免資料輸入錯誤、劃記與輸入資料不合的問題，同時取代傳統以黑筆與白漆標記，而減低工作板件污染的風險。

以上所述者僅為用以解釋本發明之較佳實施例，並非企圖據以對本發明做任何形式上之限制，是以，凡有在相同之發明精神下所作有關本發明之任何修飾或變更，皆仍應包括在本發明意圖保護之範疇。

1‧‧‧終端檢驗系統

2‧‧‧終端檢驗系統

10‧‧‧主機

20‧‧‧顯微鏡

21‧‧‧目鏡

23‧‧‧物鏡

25‧‧‧載台

27‧‧‧支架

30‧‧‧條碼掃描器

40‧‧‧承載治具

51‧‧‧信號接收傳送裝置

53‧‧‧電磁筆

55‧‧‧信號發射器

57‧‧‧腳踏板

59‧‧‧電池

60‧‧‧雷射筆

100‧‧‧電路板

110‧‧‧檢驗區

120‧‧‧條碼

第一圖為本發明終端檢驗系統第一實施例的單元示意圖。

第二圖為第一圖中承載治具的剖面示意圖。

第三圖為本發明終端檢驗系統第二實施例的單元示意圖。

第四圖為第三圖中終端檢驗系統的機具校準的示意圖。

1‧‧‧終端檢驗系統

10‧‧‧主機

20‧‧‧顯微鏡

21‧‧‧目鏡

23‧‧‧物鏡

25‧‧‧載台

27‧‧‧支架

30‧‧‧條碼掃描器

40‧‧‧承載治具

51‧‧‧信號接收傳送裝置

53‧‧‧電磁筆

100‧‧‧電路板

110‧‧‧檢驗區

120‧‧‧條碼

Claims (16)

1. 一種終端檢驗系統，包含：一主機，具有一資料庫以儲存複數個線路佈局圖案；一承載治具，用以承載一電路板；一顯微鏡，具有一目鏡、至少一物鏡、一載台以及一支架，該載台用以承載裝設該電路板的該承載治具，且能移動，該目鏡及該至少一物鏡用以檢查該電路板上的複數個檢驗區，該支架用以將該目鏡、該至少一物鏡以及該載台連接；一條碼掃描器，與該主機電氣連接，用以掃描該電路板上的一條碼，當該條碼被掃描後，該主機依照該條碼從該資料庫選取出對應該電路板的資料及線路佈局圖案；一信號接收傳送裝置，設置於該承載治具上，與該主機電氣連接；以及一電磁筆，與該信號接收傳送裝置電氣連接，其中該電磁筆用以在發現缺陷時，在觀察到該缺陷的檢驗區劃記，而該信號接收傳送裝置接收劃記位置，並將該劃記位置傳送到該主機中，該主機根據一原點與該劃記位置的相對位置運算出報廢區域的座標，並儲存於出貨的檔案中。
2. 如申請專利範圍第1項所述之終端檢驗系統，其中該條碼掃描器用以讀取掃描該條碼，而該主機選取出對應該電路板的該資料及該線路佈局圖案後，以該電磁筆在該電路板的邊緣至少以對角線的兩點劃記，而產生至少兩個初始標記位置，該信號接收傳送裝置接收該等初始標記位置並傳送給該主機，該主機依據該線路佈局圖案及該等初始標記位置定義出該電路板的輪廓，並以該電路板上的一點作為該原點。
3. 如申請專利範圍第1項所述之終端檢驗系統，其中該目鏡的放大倍率為10X~100X，而該至少一物鏡的放大倍率為 1X~10X。
4. 如申請專利範圍第1項所述之終端檢驗系統，其中該主機與該條碼掃描器，以及該主機與信號接收傳送裝置以有線或無線電氣連接。
5. 如申請專利範圍第4項所述之終端檢驗系統，其中該無線電氣連接藉由藍芽或無線網路的方式來進行信號傳輸/接收。
6. 如申請專利範圍第4項所述之終端檢驗系統，其中該信號接收傳送裝置與該電磁筆之間係以有線或無線電氣連接，無線電氣連接係藉由超音波、藍芽、紅外線的方式來進行信號傳輸/接收。
7. 如申請專利範圍第1項所述之終端檢驗系統，其中該承載治具包含一基座以及一基板載台，該基座具有一凹槽以容置該基板載台，而該基板載台具有另一凹槽以承載該電路板。
8. 一種終端檢驗系統，包含：一主機，具有一資料庫以儲存複數個線路佈局圖案；一承載治具，用以承載一電路板；一顯微鏡，具有一目鏡、至少一物鏡、一載台以及一支架，該載台用以承載裝設該電路板的該承載治具，且能移動，該目鏡及該至少一物鏡用以檢查該電路板上的複數個檢驗區，該支架用以將該目鏡、該至少一物鏡以及該載台連接；一條碼掃描器，與該主機電氣連接，用以掃描該電路板上的一條碼，當該條碼被掃描後，該主機依照該條碼從該資料庫選取出對應該電路板的資料及線路佈局圖案；一信號接收傳送裝置，設置於該承載治具上，與該主機電氣連接；以及 一信號發射器，設置在該顯微鏡的該載台上，與該信號接收傳送裝置及該主機電氣連接；以及一腳踏板，與該信號發射器連接，其中當發現缺陷時，將該顯微鏡中所看到的一十字位置對該缺陷位置並踩踏該腳踏板，而產生複數個缺陷對準位置，該信號接收傳送裝置接收該等缺陷對準位置，並將該對準位置傳送到主機中，該主機根據一原點與該等缺陷對準位置的相對位置運算出報廢區域的座標，並儲存於出貨的檔案中。
9. 如申請專利範圍第8項所述之終端檢驗系統，其中操作時先將該顯微鏡的該目鏡中所看到的該十字區域與該信號發射器對準，並踩踏該腳踏板，而使得該顯微鏡與該信號發射器的位置相對應，此時，該信號發射器將信號發送一定位信號給主機以完成機具校準定位，接著，以該條碼掃描器掃描裝設該條碼，而該主機根據該條碼從該資料庫選取出對應該電路板的資料及線路佈局圖案，再移動該顯微鏡的載台，將該顯微鏡中所看到的該十字區域對準該電路板的對角線兩點，並在對準後踩踏該腳踏板，以產生複數個初始對準位置，該信號接收傳送裝置該等接收初始對準位置並傳送至該主機，該主機中依據該線路佈局圖案及該等初始對準位置定義該電路板的輪廓，並以該電路板上的一點作為該原點。
10. 如申請專利範圍第8項所述之終端檢驗系統，其中該承載治具包含一基座以及一基板載台，該基座具有一凹槽以容置該基板載台，而該基板載台具有另一凹槽以承載該電路板。
11. 如申請專利範圍第8項所述之終端檢驗系統，進一步包含一雷射筆，該雷射筆安裝於該顯微鏡的該支架上提供光源來提升亮度，而在機具校準時，除了將該顯微鏡中所看到的十字區域與該信號發射器對準外，還需要將雷射筆所產生的光點與十 字區域對準，再踩下腳踏板，以完成機具校準。
12. 如申請專利範圍第8項所述之終端檢驗系統，其中該目鏡的放大倍率為10X~100X，而該至少一物鏡的放大倍率為1X~10X。
13. 如申請專利範圍第8項所述之終端檢驗系統，其中該主機與該條碼掃描器、該主機與信號接收傳送裝置，以及該主機與該信號發射器以有線或無線電氣連接。
14. 如申請專利範圍第13項所述之終端檢驗系統，其中該無線電氣連接藉由藍芽或無線網路的方式來進行信號傳輸/接收。
15. 如申請專利範圍第8項所述之終端檢驗系統，進一步包含一電池，該電池設置在顯微鏡的載台上，提供電力給該信號發射器。
16. 如申請專利範圍第8所述之終端檢驗系統，其中該信號接收傳送裝置與該信號發射器之間係以有線或無線電氣連接，無線電氣連接係藉由超音波、藍芽、紅外線的方式來進行信號傳輸/接收。