TW201344659A - 有機發光顯示設備及其檢查方法 - Google Patents

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Abstract

揭露一種有機發光顯示設備及簡易地檢查該設備以判定是否產生電性故障之方法。該有機發光顯示設備包含複數個像素，其各包括像素電極、包含有機發光層之中間層及反向電極；對應至複數個像素之複數個掃描線與資料線；連結至複數個像素並延伸於第一方向之第一電源供應線；連結至第一電源供應線之第二電源供應線；及同時供應控制訊號至複數個像素且包含複數個控制線與共用線之控制器。共用線連結至各控制線之第一端且與各控制線之第二相反端分離。

Description

有機發光顯示設備及其檢查方法
相關申請案之交互參照
本申請案主張於2012年4月25日提出於韓國智慧財產局，韓國專利申請號為10-2012-0043479之權益，其全部揭露整合於此作為參考。
本發明之一或多種態樣係關於一種有機發光顯示設備及檢查其之方法，且更具體而言，係可簡易地檢查以判定是否產生電性故障之有機發光顯示設備及檢測該有機發光顯示設備之方法。
近來，顯示設備被可攜式薄膜平板顯示設備取代。有機發光顯示設備為自發光顯示設備且相較於其他平面顯示設備具有較大視角、較佳對比性能及較快反應速度。從而，有機發光顯示設備作為下一世代之顯示設備而引起注目。
有機發光顯示設備包含中間層、第一電極及第二電極。中間層包含有機發光層。當提供電壓於第一與第二電極時，自有機發光層發出可見光。
根據本發明之一態樣，提供有機發光顯示設備，包含複數個像素，其各包括像素電極、包含有機發光層之中間層及反向電極；對應至複數個像素之複數個掃描線與複數個資料線；連結至複數個像素並延伸於第一方向之第一電源供應線；連結至第一電源供應線之第二電源供應線；及同時供應控制訊號至複數個像素之控制器，該控制器包含複數個控制線與一共用線，其中該共用線連結至各控制線之第一端且與各控制線之第二相反端分離。
第二電源供應線可延伸於相交第一方向之第二方向。
控制線可延伸於第一方向。
控制線可設置於第一或第二電源供應線不設置於其上之層上，且第一或第二電源供應線，其設置於控制線不設置於其上之層上，可與相交於控制線。
控制線可設置於第一電源供應線設置於其上之層上，且可設置於第二電源供應線不設置於其上之層上以相交於第二電源供應線。
控制線可設置於資料線設置於其上之層上。
第一電源供應線可設置於資料線設置於其上之層上。
第二電源供應線可設置於掃描線設置於其上之層上。
各像素可包含至少三薄膜電晶體與至少兩電容。
控制器可電性連結至該至少三薄膜電晶體的其中之一之閘極電極。
該至少三薄膜電晶體的至少之一可包含主動層、第一閘極電極層、形成於第一閘極電極層上之第二閘極電極層、源極電極及汲極電極。像素電極可藉使用用以形成第一閘極電極層之相同材料形成於第一閘極電極形成於其上之層上。
根據本發明之另一態樣，提供檢查有機發光顯示設備之方法，該有機發光顯示設備包含複數個像素，其各包括像素電極、包含有機發光層之中間層及反向電極之；對應至複數個像素之複數個掃描線與複數個資料線；連結至複數個像素並延伸於第一方向之第一電源供應線；連結至第一電源供應線之第二電源供應線；及同時供應控制訊號至複數個像素且包含複數個控制線與連結至各控制線之第一端且與各控制線之第二相反端分離之共用線之控制器，該方法包含藉連結電源接收器至控制線第一端之區域，其與共用線隔開設置，以施加電壓至控制線的其中之一，並連結配電饋線至控制線之區域，其設置較連結至電源接收器之區域遠於共用線。
方法可更包含監控連結至電源接收器之控制線區域與連結至配電饋線之控制線區域間之電位差。
方法可更包含藉依序連結電源接收器與配電饋線至複數個控制線以依序施加電壓至複數個控制線。
電壓可依序供應至複數個控制線以檢查是否產生短路故障於各控制線與各第一電源供應線間或各控制線與各第二電源供應線間。
本發明之以上及其他特色及優點將藉參照附圖與一些實施例之詳細描述而顯而易見，其中：
第1圖 係為根據本發明一實施例之有機發光顯示設備之平面示意圖；
第2圖 係為根據本發明之一實施例，描繪包含於第1圖之區域II中之線路結構示意圖；
第3圖 係為根據本發明之一實施例，包含於第1圖之有機發光顯示設備之其中一像素之電路圖；

第4圖 係為根據本發明之一實施例，描繪包含於第1圖之有機發光顯示設備之一些線路之示意圖；
第5圖 係為第4圖之區域V之放大視圖；
第6A圖與第6B圖 係為根據本發明一實施例，描繪檢查有機發光顯示設備之方法之示意圖；
第7圖 係為根據本發明之一實施例，第1圖之有機發光顯示設備之各像素之某些元件之剖面圖。
各種線路安裝於有機發光顯示設備以驅動有機發光顯示設備。該些各種線路中，一些線路可設置於不同層上以彼此交疊。當短路故障產生於線路交疊之交疊區域時，應修復交疊之線路。
然而，檢測發生於此些交疊區域之短路故障位置係不容易的。特別係，線路之數量增加且線路具更複雜之結構，使檢測有機發光顯示設備越來越困難。
本發明之一或多個態樣提供可簡易地檢查以判定是否產生電性故障之有機發光顯示設備及檢查該有機發光顯示設備之方法。
下文中，本發明之某些實施例將藉參照附圖而更加詳細的描述。
如此處所使用，詞句「和/或」包含任何或所有一或多個關聯表列項目之結合。表述詞「至少之一」前綴於一表列元件時，修飾整個表列元件而非修飾表列中之個別元件。
第1圖係為根據本發明一實施例之有機發光顯示設備1之平面示意圖。第2圖係為根據本發明之一實施例描繪包含於第1圖之區域II中之線路結構示意圖。
參照第1圖與第2圖，於根據一實施例之有機發光顯示設備1中，顯示區域A1與非顯示區域A2形成於基板10上。
顯示區域A1顯示一影像於其中且可設置於包含基板10之中心之基板10之區域。非顯示區域A2可設置於基板10上包圍顯示區域A1。
如於第2圖中所見，形成影像之複數個像素P包含於顯示區域A1中。
複數個像素P可依於第一方向(像是例如於X軸方向)延伸之掃描線S及於垂直於第一方向(X軸方向)之第二方向(像是例如於Y軸方向)延伸之資料線D定義。自包含於非顯示區域A2中之資料驅動器(圖未示)提供之資料訊號經由資料線D供應至複數個像素P，而自包含於非顯示區域A2中之掃描驅動器(圖未示)提供之掃描訊號經由掃描線S供應至複數個像素P。雖然第2圖描繪掃描線S延伸於第一方向及資料線D延伸於第二方向，本發明不限於此。資料線D與掃描線S個別延伸之方向可與上述所提到者不同。
複數個像素P連結至於第二方向(Y軸方向)延伸之第一電源供應線V1。提供自第一電源供應驅動器(圖未示)之第一電源供應電壓ELVDD(見第3圖)通過第一電源供應線V1供應至複數個像素P。電源供應電壓ELVSS(見第3圖)供應至複數個像素P。根據資料訊號，複數個像素P控制供應自第一電源供應電壓ELVDD通過有機發光裝置OLED至供應電壓源ELVSS(t)之電流量。接著，有機發光裝置OLED產生具所需亮度之光。
於第一方向(X軸方向)延伸之第二電源供應線V2連結至第一電源供應線V1。因為長第一電源供應線V1的電阻，電壓降(IR降)可產生於第一電源供應線V1中。此問題可藉連結第二電源供應線V2至第一電源供應線V1解決。
各像素P連結至控制線單元(或控制器)之其中一條控制線GCB。複數個像素P連結至自一線路叉開且於第二方向延伸之控制線GCB。包含控制線GCB之控制單元藉參照以下第4圖描述。
自包含於非顯示區域A2之控制訊號驅動器(圖未示)提供之具預定電壓之控制訊號同時通過控制線GCB供應至複數個像素P。
第3圖係為根據本發明之一實施例，包含於第1圖之有機發光顯示設備1之其中一像素之電路圖。
參照第3圖，像素包含有機發光裝置OLED及用以供應電流至有機發光裝置OLED之像素電路C。
於有機發光裝置OLED中，像素電極連結至像素電路C且反向電極連結至電源供應電壓源ELVSS(t)。有機發光裝置OLED產生具有對應至自像素電路C供應之電流之亮度之光。
主動矩陣型有機發光顯示設備包含兩電晶體及一電容。主動矩陣型有機發光顯示設備包含用以傳輸資料訊號之開關電晶體、用以根據資料訊號驅動有機發光裝置之驅動電晶體及用以維持資料電壓為恆定之電容。
於此種包含兩電晶體及一電容之有機發光顯示設備中，電源之消耗低。流過有機發光裝置之電流強度可根據驅動有機發光裝置之驅動電晶體之閘極與源極間之電壓偏差而改變。像是例如，於驅動電晶體之門檻電壓偏差。從而，顯示品質可能退化。為解決此問題，於某些實施例中，可包含至少三電晶體或至少兩電容於有機發光顯示設備中。
於根據一實施例之有機發光顯示設備1中，各像素可包含三電晶體TR1至TR3及兩電容C1與C2，如第3圖中所示。
於第一電晶體T1中，閘極電極連結至掃描線S，第一電極連結至資料線D，而第二電極連結至第一節點N1。掃描訊號Scan(n)供應至第一電晶體TR1之閘極電極而資料訊號Data(t)供應至第一電晶體TR1之第一電極。
於電晶體TR2中，閘極電極連結至第二節點N2，第一電極連結至第一電源供應電壓源ELVDD(t)，而第二電極連結至有機發光裝置OLED之像素電極。第二電晶體TR2作為驅動電晶體。
第一電容C1連結於第一節點N1與第二電晶體TR2之第一電極，即第一電源供應電壓源ELVDD(t)間。第二電容C2連結於第一節點N1與第二節點N2間。
於第三電晶體TR3中，閘極電極連結至控制線單元GC，第一電極連結至第二電晶體TR2之閘極電極，而第二電極連結至有機發光顯示裝置OLED之像素電極，即第二電晶體TR2之第二電極。從而，控制訊號GC(t)供應至第三電晶體TR3之閘極電極。
雖然第3圖描繪一實例，其中各像素包含三電晶體及兩電容；本發明不限於此。為了補償門檻電壓，至少三電晶體和/或至少兩電容可包含於有機發光顯示設備之各像素中。
第4圖係為根據本發明之一實施例描繪包含於第1圖之有機發光顯示設備1之一些線路之示意圖。為便於解釋，僅描繪控制線單元GC、第一電源供應線V1及第二電源供應線V2於第4圖中。
控制線單元GC包含共用線GCA及複數個控制線GCB。如上所述，於第二方向(Y軸方向)延伸之控制線GCB供應控制訊號至像素。控制線GCB連結至共用線GCA。共用線GCA連結至各控制線GCB之一端。從而，通過共用線GCA接收之自共用訊號叉開之訊號可供應至控制線GCB。
第一電源供應線V1與第二電源供應線V2彼此連結。特別係，第一電源供應線V1與第二電源供應線V2可形成於不同層上通過接觸孔(圖未示)彼此連結。
控制線GCB形成於不同於第一電源供應線V1或第二電源供應線V2形成於其上之層。於一實施例中，控制線GCB與第二電源供應線V2形成於不同層上。為此，至少一絕緣層可設置於控制線GCB與第二電源供應線V2間。
於製造有機發光顯示設備1中，形成於不同層上之控制線GCB與第二電源供應線V2可能因為不想要的粒子而彼此連結，從而導致故障發生。具體而言，控制線GCB與第二電源供應線V2可能於第二電源供應線V2與控制線GCB彼此交疊之區域彼此連結，從而導致故障產生，如藉參照以下第5圖所述。
第5圖係為第4圖之區域V之放大視圖。參照第5圖，因為外來物質，例如不想要之粒子，短路故障ST產生於控制單元GC之一控制線GCB1與第二電源供應線V2交疊之區域。為改良有機發光顯示設備1之影像品質，執行修復程序以修正短路故障ST。為執行修復程序，應首先執行探測短路故障ST位置之程序。
第6A圖與第6B圖係為根據本發明一實施例之檢查有機發光顯示設備之方法之示意圖。
參照第6A圖，準備包含配電饋線131及電源接收器132之測試裝置130。接著，配電饋線131及電源接收器132依序連結至控制單元GC之控制線GCB。配電饋線131及電源接收器132連結至第一電源供應線V1與第二電源供應線V2。因為第一電源供應線V1與第二電源供應線V2以網格形狀連結，當電壓通過測試裝置130供應至第一電源供應線V1與第二電源供應線V2以檢查有機發光顯示設備時，電流流過所有的第一電源供應線V1與第二電源供應線V2。從而，其難以判定有機發光顯示設備中是否產生短路故障。
參照第6A圖，首先，配電饋線131與電源接收器132連結至控制線單元GC之控制線GCB2。
配電饋線131連結至控制線GCB2之下部部份而電源接收器132連結至控制線GCB2之上部部份。配電饋線131設置較遠於控制線單元GC之共用線GCA而電源接收器132設置較近於共用線GCA。接著，當電壓藉使用配電饋線131與電源接收器132供應至控制線GCB2時，電流流過控制線GCB2。於控制線GCB2之兩端產生電位差。此電位差係被監控的。與上述不同，當配電饋線131與電源接收器132各自連結至控制線GCB2之上部部份與下部部份時，電流可能因為經由配電饋線131供應之電壓流過相鄰於配電饋線131之共用線GCA。從而，其難以準確監控產生於控制線GCB2兩端之電位差。其係為什麼配電饋線131設置較遠於控制線單元GC之共用線GCA而電源接收器132設置較近於共用線GCA之原因。
接著，參照第6B圖，配電饋線131與電源接收器132與控制線GCB2分離並接著連結至控制線GCB1。配電饋線131連結至控制線GCB1之下部部份而電源接收器132連結至控制線GCB1之上部部份。然後當電壓藉使用配電饋線131與電源接收器132供應至控制線GCB1時，電流流過控制線GCB1。電位差產生於控制線GCB1之兩端。此電位差係被監控的。
當短路故障ST產生於控制線GCB1與其中一第二電源供應線V2彼此交疊之區域時，於控制線GCB1兩端之被監控之電位差與於控制線GCB2兩端之被監控之電位差不同於彼此。
藉如上述依序檢查控制線GCB，其可能簡易地檢測於與第二電源供應線V2交疊之區域之控制線GCB1與GCB2產生之短路故障ST。
於檢測短路故障ST產生於其中之控制線GCB後，可執行包含雷射切割之修復程序於控制線GCB1上。
第7圖係為根據本發明之一實施例第1圖之有機發光顯示設備之各像素之一些元件之剖面圖。
參照第7圖，為薄膜驅動電晶體之第二電晶體TR2、第一電容C1及有機發光裝置OLED(EL)設置於基板10上。如上所述，各像素可包含第一電晶體TR1、第三電晶體TR3、第二電容C2及各種線路，包含例如，掃描線S、資料線D、第一與第二電源供應線V1與V2及控制線單元GC，但為便於解釋，各像素中只有一些元件描繪於第7圖。
基板10可以二氧化矽系透明玻璃材料形成，但不限於此，且可以其他透明塑膠材料形成。
緩衝層11可更設置於基板10上。緩衝層11提供一扁平表面於基板10上並保護基板10對抗水氣與外來物質。
第二電晶體TR2之主動層212形成於緩衝層11上。主動層212可以無機半導體形成，像是例如非晶矽或多晶矽。於其他實施例中主動層212亦可以有機半導體、半導體氧化物或任何其他各種材料形成。主動層212包含源極區域212b、汲極區域212a及通道區域212c。
閘極絕緣層13設置於主動層212上。包含透明導電材料之第一閘極電極層214與第二閘極電極層215依序設置於位於閘極絕緣層13對應至主動層212之通道區域212c上之位置上。
源極電極216b與汲極電極216a於形成層間絕緣層15後形成於第二閘極電極層215上以各自連結至主動層之源極區域212b與汲極區域212a。
像素定義層18形成於層間絕緣層15上以覆蓋源極電極216b與汲極電極216a。
雖然並未顯示於第7圖，第一電晶體TR1與第三電晶體TR3可具有與第二電晶體TR2相同之結構。
資料線D可藉使用用以形成源極電極216b與汲極電極216a之材料形成於源極電極216b與汲極電極216a所設置之層上。與資料線D相同，控制線單元GC之控制線GCB可藉使用用以形成源極電極216b與汲極電極216a之材料形成於源極電極216b與汲極電極216a所設置之層上。第一電源供應線V1亦可藉使用用以形成源極電極216b與汲極電極216a之材料形成於源極電極216b與汲極電極216a所設置之層上。
掃描線S可藉使用用以形成第一閘極電極層214與第二閘極電極層215之材料形成於第一閘極電極層214與第二閘極電極層215所設置之層上。與掃描線S相同，第二電源供應線V2可藉使用用以形成第一閘極電極層214與第二閘極電極層215之材料形成於第一閘極電極層214與第二閘極電極層215所設置之層上。
像素電極114藉使用用以形成第一閘極電極層214之透明導電材料形成於閘極絕緣層13上。透明導電材料可包含至少一選自由氧化銦錫(ITO)、氧化銦鋅(IZO)、氧化鋅(ZnO)、氧化銦(In2O3)、氧化銦鎵(IGO)、氧化鋁鋅(AZO)組成之群組之材料。
包含有機發光層之中間層119形成於像素電極114上。
中間層119之發光層可以低分子量有機材料或高分子量有機材料形成。若使用低分子量有機材料，則電洞傳輸層(HTL)、電洞注入層(HIL)、電子傳輸層(ETL)、電子注入層(EIL)可堆疊於有機發光層周圍。另外，如有需要可更堆疊其他各種層。於此例中，有機材料之實例，例如酞菁銅(CuPc)、N'-二(萘-1-基)-N, N'-二苯基聯苯二胺(N'-Di(naphthalene-1-yl)-N, N'-diphenyl-benzidine, NPB)及三-8-羥基喹啉鋁(Alq3)可被使用。
若使用高分子量有機材料，中間層119可不但包含有機發光層且包含電洞傳輸層。電洞傳輸層可為聚-(3,4)-乙烯-二氧-噻吩(poly-(3,4)-ethylene-dihydroxy thiophene, PEDOT)或聚苯胺( polyaniline, PANI)。於此例中，可使用例如聚對苯撐乙烯撐(poly-phenylenevinylene, PPV)系高分子量有機材料或具芴系高分子有機材料之有機材料。
反向電極20形成於中間層119上作為共電極。於各種實施例中，像素電極114可作為陽極且反向電極20可作為陰極，或相反。
反向電極20可為包含反射材料之反射電極。於此些實施例中，反向電極20可包含至少一選自由鋁(Al)、鎂(Mg)、鋰(Li)、鈣(Ca)、氟化鋰/鈣(LiF/Ca)及氟化鋰/鋁(LiF/Al)組成之群組材料。
第一電容C1之下電極312與上電極314形成於基板10與緩衝層11上。下電極312以形成薄膜驅動電晶體之第二電晶體TR2之主動層212之材料形成。上電極314包含用以形成像素電極114之材料之透明導電材料。閘極絕緣層13設置於下電極312與上電極314間。
密封構件(圖未示)可設置於反向電極20上以面對基板10之一表面。密封構件係形成以保護中間層119免於外界水氣、氧或其他相似物之影響。密封構件可以玻璃或塑膠形成，或可具有機材料或無機材料彼此交堆疊之結構。
根據以上實施例，有機發光顯示設備可簡易地檢查以判定是否產生電性故障。
雖然本發明已藉參照其例示性實施例具體顯示與描述，習知技術者應可理解，對其所為之各種形式或細節上之改變不脫離如附隨申請專利範圍所定義之本發明之精神與範疇。
1．．．有機發光顯示設備
10．．．基板
11．．．緩衝層
13．．．閘極絕緣層
15．．．層間絕緣層
18．．．像素定義層
20．．．反向電極
114．．．像素電極
119．．．中間層
130．．．測試裝置
131．．．配電饋線
132．．．電源接收器
212．．．主動層
212a．．．汲極區域
212b．．．源極區域
212c．．．通道區域
214．．．第一閘極電極層
215．．．第二閘極電極層
216a．．．汲極電極
216b．．．源極電極
312．．．下電極
314．．．上電極
A1．．．顯示區域
A2．．．非顯示區域
C．．．像素電路
C1．．．第一電容
C2．．．第二電容
D．．．資料線
Data(t)．．．資料訊號
OLED．．．有機發光裝置
ELVDD(t)．．．第一電源供應電壓源
ELVSS(t)．．．電源供應電壓源
GC．．．控制線單元
GC(t)．．．控制訊號
GCA．．．共用線
GCB、GCB1、GCB2．．．控制線
N1．．．第一節點
N2．．．第二節點
P．．．像素
S．．．掃描線
Scan(n)．．．掃描訊號
ST．．．短路故障
TR1．．．第一電晶體
TR2．．．第二電晶體
TR3．．．第三電晶體
V1．．．第一電源供應線
V2．．．第二電源供應線
V、II．．．區域
GC．．．控制線單元
GCA．．．共用線
GCB．．．控制線
V1．．．第一電源供應線
V2．．．第二電源供應線
V．．．區域

Claims (15)

  1. 一種有機發光顯示設備，包含：
    複數個像素，各包含一像素電極、含有一有機發光層之一中間層及一反向電極；
    複數個掃描線與複數個資料線，對應至該些像素；
    複數個第一電源供應線，連結至該些像素並延伸於一第一方向;
    複數個第二電源供應線，連結至該些第一電源供應線;
    以及
    一控制器，用以同時供應複數個控制訊號至該些像素，該控制器包含複數個控制線及一共用線，其中該共用線連結至各該控制線之一第一端且與各該控制線之一第二相反端分離。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示設備，其中該些第二電源供應線延伸於相交於該第一方向之一第二方向。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示設備，其中該些控制線延伸於該第一方向。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示設備，其中該些控制線設置於該些第一電源供應線或該些第二電源供應線不設置於其上之層上，且該些第一電源供應線或該些第二電源供應線相交該些控制線。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示設備，其中該些控制線設置於該些第一電源供應線設置於其上之層上，且設置於該些第二電源供應線不設置於其上之層上以相交該些第二電源供應線。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示設備，其中該些控制線設置於該些資料線設置於其上之層上。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示設備，其中該些第一電源供應線設置於該些資料線設置於其上之層上。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示設備，其中該些第二電源供應線設置於該些掃描線設置於其上之層上。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示設備，其中各該像素包含至少三薄膜電晶體與至少兩電容。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之有機發光顯示設備，其中該控制器電性連結至該至少三薄膜電晶體的其中之一之一閘極電極。
  11. 如申請專利範圍第9項所述之有機發光顯示設備，其中該至少三薄膜電晶體的至少之一包含一主動層、一第一閘極電極層、形成於該第一閘極電極層上之一第二閘極電極層、一源極電極及一汲極電極，且該像素電極係藉使用用以形成該第一閘極電極層之一相同材料形成於該第一閘極電極形成於其上之層上。
  12. 一種檢查有機發光顯示設備之方法，該有機發光顯示設備包含複數個像素，各包含一像素電極、包含一有機發光層之一中間層及一反向電極; 對應至該些像素之複數個掃描線與複數個資料線; 連結至該些像素並延伸於一第一方向之複數個數第一電源供應線; 連結至該些第一電源供應線之複數個第二電源供應線;及同時供應複數控制訊號至該些像素且包含複數個控制線與連結至各該控制線之一第一端且與各該控制線之一第二相反端分離之一共用線之一控制器，該方法包含藉連結一電源接收器至該些控制線之該第一端之ㄧ區域，其與該共用線隔開設置，以施加一電壓至該些控制線的其中之一，並連結一配電饋線(power feeder)至該控制線之一區域，其設置較連結至該電源接收器之該區域遠於該共用線。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之方法，更包含監控於該控制線連結至該電源接收器之該區域與該控制線連結至該配電饋線之該區域間之一電位差。
  14. 如申請專利範圍第12項所述之方法，更包含藉依序連結該電源接收器與該配電饋線至該些控制線以依序供應該電壓至該些控制線。
  15. 如申請專利範圍第12項所述之方法，其中該電壓依序供應至該些控制線以檢查是否產生一短路故障於各該控制線與各該第一電源供應線間或各該控制線與各該第二電源供應線間。
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