TW201308760A - 電纜總成、連接器及半導體測試器 - Google Patents

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Abstract

本發明之目的是提供一種可改良端子密度並且防止信號傳輸性質降級之連接器。在本發明之電纜總成中，當輔助之接地導體被設置來使其面向支撐式絕緣構件之下表面時，處於一彈性變形狀態之彈性變形件接觸從支撐式絕緣構件之下表面突出之接地端子之尖端。

Description

電纜總成、連接器及半導體測試器
本發明係關於一種電纜總成、連接器及半導體測試器；更具體而言本發明係關於一種改良信號傳輸性質之技術。
傳統上已知一種連接器，一同軸電纜插入至該連接器中並且該連接器電連接該同軸電纜與一電子裝置。對於此類同軸電纜，已使用其中一接地導體圍繞一信號導體之同軸結構；[其中]該接地導體阻擋外來電磁波。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1] kokai公佈2008-226736
順便提及，在同軸電纜尖端上，設置用來連接至一信號端子及一接地端子使得該同軸電纜連接至另一側之端子之一信號端子及一接地端子。在如上述構造之尖端上，接地端子優選採取圍繞信號端子之一同軸電纜構造。
然而，由於改良端子密度之需求，有時難以使用其中接地端子圍繞信號端子之一同軸結構。由此，信號傳輸性質可能劣化。
考慮到上述情況而開展本發明；本發明之主要目的是 提供一種可改良端子密度並且防止信號傳輸性質降級之電纜總成、連接器及半導體測試器。
為了解決上述問題，本發明之電纜總成如下：一種電纜總成，其包括：一同軸電纜；一絕緣構件，其設置於該同軸電纜之尖端上，並且具有沿著插入該同軸電纜之該尖端之方向彼此面向相反方向之一第一平面及一第二平面；一信號端子，其電連接至該同軸電纜之信號導體、在插入該同軸電纜之該尖端之該方向上延伸，並且設置於該絕緣構件之第一平面上；一接地端子，其電連接至該同軸電纜之接地導體、在插入該同軸電纜之該尖端之該方向上延伸，並且以與該信號端子平行之方式設置於該絕緣構件之該第一平面上，其中該尖端在該絕緣構件之該第二平面側上彎曲，並且從該絕緣構件之該第二平面突出；一輔助之接地導體，其在插入該同軸電纜之該尖端之該方向上延伸，以使之面向該絕緣構件之該第二平面之方式設置，並且具有在形成在該輔助之接地導體之尖端上之該絕緣構件上彎曲之一彈性變形件；其中當該輔助之導體被定位使之面向該絕緣構件之該第二平面時，處於一彈性變形形狀之該彈性變形件接觸 從該絕緣構件之該第二平面突出之該接地端子之該尖端。
本發明之連接器包括：一主體，在其上同軸電纜尖端插入至一插入孔中；一絕緣構件，其設置於該同軸電纜之該尖端上；一信號端子，其電連接至該同軸電纜之信號導體；一接地端子，其電連接至該同軸電纜之接地導體；及一輔助之接地導體。
絕緣構件具有沿著插入同軸電纜尖端之方向彼此面向相反方向之一第一平面及一第二平面。信號端子在插入同軸電纜尖端之方向上延伸，並且設置於絕緣構件之第一平面上。接地端子在插入同軸電纜尖端之方向上延伸，並且以與信號端子平行之一方式設置於絕緣構件之第一平面上；該接地端子之尖端在該絕緣構件之第二平面側上彎曲，並且從該絕緣構件之第二平面突出。輔助之接地導體在插入同軸電纜尖端之方向上延伸，以使之面向絕緣構件之第二平面之方式設置，並且具有在形成在該輔助之接地導體之尖端上之絕緣構件上彎曲之一彈性變形件。當輔助之接地導體被定位使之面向絕緣構件之第二平面時，處於一彈性變形狀態之彈性變形件接觸從該絕緣構件之第二平面突出之接地端子尖端。
此外，本發明之半導體包括本發明之電纜總成或本發明之連接器。此外，本發明之母板包括本發明之電纜總 成或本發明之連接器。
根據本發明，在插入同軸電纜尖端之方向上延伸之信號端子及接地端子以平行方式設置於絕緣構件之第一平面上；因此有可能改良該端子之密度。此外，輔助之接地導體定位在絕緣構件之第二平面上；因此有可能防止信號傳輸性質降級。具體而言，接地端子與輔助之接地導體接觸而具有相同之電位。因此，防止信號傳輸性質降級之效果增強。
此外，在本發明之實施例中，絕緣構件之第二平面具有接觸輔助之接地導體之一主平面及從該主平面凹入延伸之一底面，並且接地端子尖端從該底面突出以免延伸得遠於該主平面。利用上述構造，有可能防止接地端子尖端毀壞輔助之接地導體。
此外，在本發明之實施例中，插入接地端子尖端之一插入孔形成在絕緣構件上，並且該接地端子之該尖端穿過該插入孔且從第二平面突出。利用上述構造，有可能防止接地端子尖端在彈性變形件接觸[該接地端子尖端]時移位。
此外，在本發明之實施例中，主體在插入孔之內側上具有一凸形構件，並且輔助之接地導體之基底而非其尖端定位在該凸形構件與絕緣構件之間。利用上述構造，有可能藉由造成輔助之接地導體之彈性變形之範圍限制在該輔助之接地導體之尖端上而非在該主體之凸形構件 上而防止彈性回復廣泛地變化。
此外，在本發明之實施例中，輔助之接地導體之尖端進一步具有在與彈性變形件相反方向上彎曲之一防脫離件。利用上述構造，由於防脫離件被主體之凸形構件鎖定，所以有可能防止輔助之接地導體與該主體脫離。
此外，在本發明之實施例中，輔助之接地導體具有在其基底上而非在其尖端上接觸同軸電纜之接地導體之一臂。利用上述構造，由於[該臂]與該輔助之接地導體之間之接觸點增大，所以有可能會進一步使該輔助之接地導體之電位變得穩定。具體而言，藉由在輔助之接地導體尖端及基底尖端兩者上提供接觸點，有可能減少例如短線之分支部分。
藉由研習附圖可部分蒐集關於本發明之結構及操作二者之本發明之細節，其中相同參考數字指相同部件。
下文藉由參考本發明之圖式而提供本發明之電纜總成、連接器及半導體測試器之實施例之說明。
圖1是顯示半導體測試器100之一示意圖。半導體測試器100包括：測試頭105；母板104，其定位在測試頭105上；效能板103，其定位在母板104上；及裝置插座102，其定位在效能板103上。
待測試之半導體101被安裝在裝置插座102上。在效能板103之下表面上，提供多個連接器113。每個連接器 113藉由裝置插座102而電連接至半導體101。
在母板104之上表面上，提供多個連接器114。容納在母板104上之同軸電纜50之上端插入至每個連接器114中。在母板104之下表面上，提供多個連接器10。容納在母板104上之同軸電纜50之下端插入至每個連接器10中。
在測試頭105之上表面上，提供與連接器10嚙合之多個連接器80。每個連接器80被安裝在測試頭105之基板邊緣上，並且連接至測試模組106。測試模組106對由測試器主體107所發送之指令作出回應以將該指令之輸出發送至半導體101。
圖2A、圖2B及圖3是連接器10之斜視圖。在此等圖中，僅顯示一些插入孔20a及同軸電纜50。圖4是主體2之一橫截面圖。圖5A至圖5D是顯示同軸電纜50之尖端之斜視圖。圖6A及圖6B是顯示輔助之接地導體4之一平面圖及一側視圖。圖7A及圖7B是顯示輔助之接地導體4插入至其中之主體2之橫截面圖。圖8A及圖8B是顯示同軸電纜50之尖端及輔助之接地導體4插入至其中之主體2之橫截面圖。圖9A及圖9B是顯示電纜總成1之斜視圖。
在此等圖中，插入同軸電纜50之方向稱作向前方向，並且與該方向相反之方向稱作向後方向；輔助之接地導體4相對於同軸電纜50之尖端而定位之方向稱作向上方 向或向下方向。
如在圖2A及圖2B中所示，連接器10被構造為呈近似盒型形狀之插入式連接器，並且連接器10插入至其承插式配對連接器(連接器80)中。多個同軸電纜50被安裝至連接器10上。此外，配對連接器80被安裝至基板90之邊緣上。
如在圖3及圖4中所示，連接器10包括：呈近似盒型形狀之主體2，多個插入孔20a形成在主體2上；接地端子54，其定位在待插入至插入孔20a中之同軸電纜50之尖端上；信號端子56及支撐式絕緣構件58(見圖5A至圖5D)；及輔助之接地導體4，其插入至插入孔20a中。
主體2包括：呈近似盒型形狀之主體構件20，在前後方向上穿過之多個插入孔20a形成在主體構件20上；框架型形狀之延伸構件21，其從主體構件20之後平面上之輪緣延伸，並且圍繞主體構件20之後平面；及凸緣構件23，其在延伸構件21之垂直方向上從延伸構件21之邊緣展開。在插入孔20a之內側上提供：制動器201及203，其定位在垂直方向上之各自側上；凸形構件205，其定位在向前方向上之邊緣上；溝槽構件207，其在前後方向上延伸；及制動器209，其定位在上述構件之中間。
如在圖5A至圖5D中所示，在同軸電纜50中，在電纜構件52之尖端上安裝接地端子54、信號端子56及支撐式絕緣構件58。
電纜構件52包括：信號導體52a；圓筒型接地導體52b，其圍繞信號導體52a；介電構件52c，其定位在信號導體52a與接地導體52b之間；及外殼52d，其覆蓋接地導體52b。在電纜構件52之尖端上，接地導體52b、介電構件52c及信號導體52a按此順序朝向向前方向暴露。
由絕緣樹脂材料構成之支撐式絕緣構件58形成為在前後方向上延伸之具有上表面及下表面之近似板型形狀，並且被安裝至電纜構件52之介電構件52c上。在支撐式絕緣構件58後面提供：凹陷構件581，其以圓周方式凹入，以及一對夾持構件583，其在向上方向上突出。電纜構件52之介電構件52c粘附至凹陷構件581，並且電纜構件52之信號導體52a被一對夾持構件583夾持。在向前方向上支撐式絕緣構件58之邊緣上，在垂直方向上穿過之兩個插入孔58a及58b以平行方式水平地形成。
在右下角側上，在支撐式絕緣構件58之向前方向上之下表面上，形成凹形構件58c。換言之，支撐式絕緣構件58之下表面包括主表面588以及相對於主表面588凹入之底面589。凹形構件58c連著插入孔58b，並且插入孔58b之開口形成在底面589上。凹形構件58c不僅在向下方向上敞開，而且在正向方向上敞開。
信號端子56由導電金屬材料構成，形成為在前後方向 上延伸之一近似板型形狀，並且定位在支撐式絕緣構件58之上表面上。信號端子56包括：後構件56b，其焊接至電纜構件52之信號導體52a，及前構件56a，其在向左方向上相對於後構件56b而移動。定位在信號端子56之向前方向上之邊緣569在向下方向上彎曲，並且插入至支撐式絕緣構件58之插入孔58a中。此外，信號端子56及支撐式絕緣構件58可以藉由注塑成型方法以整合方式形成，或者此等構件首先可以分開地形成並且接著被組裝。
接地端子54由導電金屬材料構成；接地端子54被安裝至支撐式絕緣構件58上，並且焊接至電纜構件52之接地導體52b中。接地端子54包括：半圓筒構件54b，其軸向中心面向前後方向；及延伸構件54a，其在向前方向上從半圓筒構件54b之右手側延伸。在半圓筒構件54b上，提供用作為防脫離件之阻斷/彎曲件54c。此外，圖5A顯示半圓筒構件54b形成為半八邊形圓筒型形狀之實施例，並且圖5B顯示半圓筒構件54b形成為半圓筒型形狀之實施例。
支撐式絕緣構件58插入至半圓筒構件54b之內側中以供嚙合，並且支撐式絕緣構件58及半圓筒構件54b一起形成為圓筒。在由支撐式絕緣構件58及半圓筒構件54b形成之空間內，定位電纜構件52之尖端。電纜構件52之接地導體52b焊接至半圓筒構件54b。半圓筒構件54b 覆蓋電纜構件52之信號導體52a以及信號端子56之後構件56b之圓周之至少一半。
延伸構件54a形成為在前後方向上延伸之一近似板型形狀，並且在一橫截面圖中所見延伸構件54a之一部分彎曲成字母L形狀。延伸構件54a以與在水平方向上信號端子56之前構件56a平行之方式定位在支撐式絕緣構件58之上表面上。在延伸構件54a之向前方向上之邊緣549在向下方向上彎曲，並且插入至支撐式絕緣構件58之插入孔58b中。
在延伸構件54a之向前方向上之邊緣549穿過插入孔58b，並且從支撐式絕緣構件58之底面589突出以免延伸得遠於主平面588。換言之，邊緣549在向下方向上從底面589突出以容納在相對於底面589向下並且相對於主平面588向上之範圍內，並且邊緣549在向下方向上不會突出得遠於主平面588。
如在圖6A及圖6B中所示，輔助之接地導體4由導電金屬材料構成，並且藉由衝壓出一金屬板並且接著使之彎曲而形成。輔助之接地導體4在前後方向上延伸達與接地端子54之長度近似相同之長度。輔助之接地導體4包括：前構件42，其在向上方向上相對於後構件41而移動，及踏板43，其設置於後構件41與前構件42之間。
在後構件41上，提供採取一近似字母L形狀並且可在向下方向上彈性變形之臂46。在前構件42之向前方向上 之邊緣上，在向下方向上可彈性變形之可彈性變形件45及在向下方向上彎曲之掛鈎44是在水平方向上以平行方式設置。
下文提供關於連接器10之總成之說明。圖7A及圖7B是顯示輔助之接地導體4插入至主體2之插入孔20a中之狀態之橫截面圖。圖8A及圖8B是顯示同軸電纜50之尖端進一步插入至主體2之插入孔20a中之狀態之橫截面圖。
如在圖7A及圖7B中所示，輔助之接地導體4首先插入至主體2之插入孔20a中。輔助之接地導體4定位在垂直方向上之內側(在圖中顯示為下側)在主體2之插入孔20a內。輔助之接地導體4以使得後構件41在向後方向上相對於制動器203而定位並且前構件42在向前方向上相對於制動器203而定位之方式定位。由接觸制動器203之踏板43調節輔助之接地導體4之正向移動。
此外，設置於向前方向上前構件43邊緣上之可彈性變形件45及掛鈎44在正向方向上相對於凸形構件205而定位。由被凸形構件205鎖定之掛鈎44調節在背向方向上輔助之接地導體4之移動。此外，可彈性變形件45相對於定位支撐式絕緣構件58之主平面588(見圖5D)之位置D而定位在垂直方向上之外側(在圖中顯示為上側)。
輔助之接地導體4之插入是處於多個輔助之接地導體 4被標準化構件49連接之狀態下進行，標準化構件49設置於向後方向上其邊緣上(見圖6A)。在插入輔助之接地導體4後，標準化構件49折斷。此外，標準化構件49無須折斷而標準化輔助之接地導體4之電位。
如在圖8A及圖8B中所示，在插入輔助之接地導體4後，同軸電纜50之尖端插入至主體2之插入孔20a中。同軸電纜50之尖端以使得支撐式絕緣構件58面向輔助之接地導體4之方式定位在插入孔20a之內側。由撞擊制動器201之接地端子54之半圓筒構件54b之前邊緣調節在正向反向上同軸電纜50之尖端之移動。
設置於接地端子54之半圓筒構件54b上之阻斷/彎曲件54c插入至形成在插入孔20a之內側之溝槽207中，並且在正向反向上相對於制動器209而定位。由撞擊制動器209之阻斷/彎曲件54c調節在背向反向上同軸電纜50之尖端之移動。
當同軸電纜50之尖端插入至主體2之插入孔20a中時，設置於輔助之接地導體4之後構件41上之臂46在向下方向上彈性變形，其生成接觸壓力。具體而言，臂46接觸電纜構件52之接地導體52b(見圖5B及圖5C)。由於上述，電纜構件52之接地導體52b、接地端子54及輔助之接地導體4電連接，並且此等構件之電位被呈現為彼此處於相同位準。
此外，當同軸電纜50之尖端插入至主體2之插入孔20a 中時，支撐式絕緣構件58之主表面588(見圖5C及圖5D)滑動接觸輔助之接地導體4之前構件42。隨後，當同軸電纜50之尖端達到插入孔20a之深度時，設置於輔助之接地導體4之前構件42上之可彈性變形件45被支撐式絕緣構件58之凹形構件58c之底面589以及從底面589突出之接地端子54之延伸構件54a之邊緣549按下；因此，可彈性變形件45在向下方向上彈性變形。如上述，當處於彈性變形狀態之可彈性變形件45接觸延伸構件54a之邊緣549時，在此等構件之間生成接觸壓力。如此亦使電纜構件52之接地導體52b、接地端子54及輔助之接地導體4電連接，並且此等構件之電位被呈現為彼此處於相同位準。此外，在輔助之接地導體4之前構件42中，在向後方向上相對於可彈性變形件45定位之部分被支撐式絕緣構件58與凸形構件205夾持。
此外，插入至主體2之插入孔20a中之同軸電纜50之尖端以及輔助之接地導體4以例如在圖9A及圖9B中所示之方式定位在插入孔20a之內側。同軸電纜50之尖端及輔助之接地導體4一起構成電纜總成1。
根據上文所說明之實施例，由於輔助之接地導體具有與接地端子54及接地導體52b之電位相同之電位，所以有可能增大防止信號傳輸性質降級之效果。具體而言，藉由造成可彈性變形件45及輔助之接地導體4之臂46接觸接地端子54及接地導體52b，有可能使電位變得穩 定以及減少例如短線之分支部分。
上文已說明本發明之實施例。然而，本發明不受限於上述實施例。不言而喻可由熟悉此項技術者進行該實施例之各種修改。
在圖5A至圖9B中，由於目標是插入至設置於主體2之上側上之插入孔20a中之同軸電纜50之尖端以及輔助之接地導體4，所以輔助之接地導體4在向下方向上相對於同軸電纜50之尖端而定位。然而，如果同軸電纜50之尖端插入至設置於主體2之下側上之插入孔20a中，那麼向上方向及向下方向與在此等圖中所示之方向相反。
1‧‧‧電纜總成
10,80‧‧‧連接器
2‧‧‧主體
20‧‧‧主體構件
20a‧‧‧插入孔
21‧‧‧延伸構件
23‧‧‧凸緣構件
201,203‧‧‧制動器
205‧‧‧凸形構件
207‧‧‧溝槽構件
209‧‧‧制動器
4‧‧‧輔助之接地導體
41‧‧‧後構件
42‧‧‧前構件
43‧‧‧踏板
44‧‧‧掛鈎
45‧‧‧彈性變形構件
46‧‧‧臂
49‧‧‧標準化構件
50‧‧‧同軸電纜
52‧‧‧電纜構件
52a‧‧‧信號導體
52b‧‧‧接地導體
52c‧‧‧介電構件
52d‧‧‧外殼
54‧‧‧接地端子
54a‧‧‧延伸構件
54b‧‧‧半圓筒構件
54c‧‧‧阻斷/彎曲構件
549‧‧‧邊緣
56‧‧‧信號端子
56a‧‧‧前構件
56b‧‧‧後構件
569‧‧‧邊緣
58‧‧‧支撐式絕緣構件
58a,58b‧‧‧插入孔
58c‧‧‧凹形構件
581‧‧‧凹陷構件
583‧‧‧夾持構件
588‧‧‧主平面
589‧‧‧底面
80‧‧‧連接器
90‧‧‧基板
100‧‧‧半導體測試器
101‧‧‧半導體
102‧‧‧裝置插座
103‧‧‧效能板
104‧‧‧母板
105‧‧‧測試頭
106‧‧‧測試模組
107‧‧‧測試器主體
113,114‧‧‧連接器
[圖1]圖1是顯示本發明之一個實施例之半導體測試器之一示意圖。
[圖2A]圖2A是顯示本發明之一個實施例之連接器之一斜視圖。
[圖2B]圖2B是顯示上述連接器之一分解斜視圖。
[圖3]圖3是顯示上述連接器之一斜視圖。
[圖4]圖4是主體之一橫截面圖。
[圖5A]圖5A是顯示同軸電纜尖端之一斜視圖。
[圖5B]圖5B是顯示同軸電纜尖端之一分解斜視圖。
[圖5C]圖5C是顯示同軸電纜尖端之一斜視圖。
[圖5D]圖5D是顯示圖7C之基本部分之一放大圖。
[圖6A]圖6A是顯示輔助之接地導體之一平面圖。
[圖6B]圖6B是顯示輔助之接地導體之一側視圖。
[圖7A]圖7A是顯示輔助之接地導體插入至主體中之狀態之一橫截面圖。
[圖7B]圖7B是顯示圖5A之基本部分之一放大圖。
[圖8A]圖8A是顯示同軸電纜尖端及輔助之接地導體插入至主體中之狀態之一橫截面圖。
[圖8B]圖8B是顯示圖6A之基本部分之一放大圖。
[圖9A]圖9A是顯示本發明之一個實施例之電纜總成之一斜視圖。
[圖9B]圖9B是顯示圖9A之基本部分之一放大圖。
42‧‧‧前構件
44‧‧‧掛鈎
45‧‧‧彈性變形構件
54a‧‧‧延伸構件
58‧‧‧支撐式絕緣構件
549‧‧‧邊緣
589‧‧‧底面

Claims (11)

  1. 一種電纜總成，其包括：一同軸電纜；一絕緣構件，其設置於該同軸電纜之尖端上，並且具有沿著插入該同軸電纜之該尖端之方向彼此面向相反方向之一第一平面及一第二平面；一信號端子，其電連接至該同軸電纜之信號導體、在插入該同軸電纜之該尖端之該方向上延伸，並且設置於該絕緣構件之該第一平面上；一接地端子，其電連接至該同軸電纜之接地導體、在插入該同軸電纜之該尖端之該方向上延伸，以一與該信號端子平行之方式設置於該絕緣構件之該第一平面上，其中該尖端在該絕緣構件之該第二平面側上彎曲，並且從該絕緣構件之該第二平面突出；及一輔助之接地導體，其在插入該同軸電纜之該尖端之該方向上延伸，以使之面向該絕緣構件之該第二平面之方式設置，並且具有在形成在該輔助之接地導體之尖端上之該絕緣構件上彎曲之一彈性變形件；其中當該輔助之接地導體被定位使之面向該絕緣構件之該第二平面時，處於一彈性變形狀態之該彈性變形件接觸從該絕緣構件之該第二平面突出之該接地端子之該尖端。
  2. 一種連接器，其包括： 一主體，在其上該同軸電纜之該尖端插入至一插入孔中；一絕緣構件，其設置於該同軸電纜之該尖端上，並且具有沿著插入該同軸電纜之該尖端之該方向彼此面向相反方向之一第一平面及一第二平面；一信號端子，其電連接至該同軸電纜之該信號導體、在插入該同軸電纜之該尖端之該方向上延伸，並且設置於該絕緣構件之該第一平面上；一接地端子，其電連接至該同軸電纜之該接地導體、在插入該同軸電纜之該尖端之該方向上延伸，以一與該信號端子平行之方式設置於該絕緣構件之該第一平面上，其中該尖端在該絕緣構件之該第二平面側上彎曲，並且從該絕緣構件之該第二平面突出；及一輔助之接地導體，其在插入該同軸電纜之該尖端之該方向上延伸，以一使之面向該絕緣構件之該第二平面之方式設置，並且具有在形成在該輔助之接地導體之該尖端上之該絕緣構件上彎曲之一彈性變形件；其中當該輔助之接地導體被定位使之面向該絕緣構件之該第二平面時，處於一彈性變形狀態之該彈性變形件接觸從該絕緣構件之該第二平面突出之該接地端子之該尖端。
  3. 如請求項2之連接器， 其中該絕緣構件之該第二平面具有接觸該輔助之接地導體之一主平面及從該主平面凹入之底面，且該接地端子之該尖端從該底面突出以免延伸得遠於該主平面。
  4. 如請求項2或3之連接器，其中插入該接地端子之該尖端之一插入孔形成在該絕緣構件上，且該接地端子之該尖端穿過該插入孔並且從該第二平面突出。
  5. 如請求項2至4中任一項之連接器，其中該主體在該插入孔之內側上具有一凸形構件，且該輔助之接地導體之基底而非其該尖端定位在該凸形構件與該絕緣構件之間。
  6. 如請求項5之連接器，其中該輔助之接地導體之該尖端具有在與該彈性變形件相反方向上彎曲之一防脫離件。
  7. 如請求項2至6中任一項之連接器，其中該輔助之接地導體具有在其該基底而非其該尖端上接觸該同軸電纜之該接地導體之一臂。
  8. 一種母板，其包括如請求項1之電纜總成。
  9. 一種母板，其包括如請求項2至7中任一項之連接器。
  10. 一種半導體測試器，其包括如請求項1之電纜總成。
  11. 一種半導體測試器，其包括如請求項2至7中任一 項之連接器。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11009550B2 (en) 2013-02-21 2021-05-18 Advantest Corporation Test architecture with an FPGA based test board to simulate a DUT or end-point
US9952276B2 (en) 2013-02-21 2018-04-24 Advantest Corporation Tester with mixed protocol engine in a FPGA block
US10162007B2 (en) 2013-02-21 2018-12-25 Advantest Corporation Test architecture having multiple FPGA based hardware accelerator blocks for testing multiple DUTs independently
US10161993B2 (en) 2013-02-21 2018-12-25 Advantest Corporation Tester with acceleration on memory and acceleration for automatic pattern generation within a FPGA block
US9310427B2 (en) * 2013-07-24 2016-04-12 Advantest Corporation High speed tester communication interface between test slice and trays
US9472873B1 (en) * 2015-08-12 2016-10-18 Lattice Semiconductor Corporation Reversible receptacle connector
EP3327869B1 (de) * 2016-11-23 2019-01-09 MD Elektronik GmbH Elektrischer steckverbinder für ein mehradriges elektrisches kabel
US10976361B2 (en) 2018-12-20 2021-04-13 Advantest Corporation Automated test equipment (ATE) support framework for solid state device (SSD) odd sector sizes and protection modes
WO2020148823A1 (ja) * 2019-01-16 2020-07-23 オリンパス株式会社 内視鏡先端部、および内視鏡
US11137910B2 (en) 2019-03-04 2021-10-05 Advantest Corporation Fast address to sector number/offset translation to support odd sector size testing
US11237202B2 (en) 2019-03-12 2022-02-01 Advantest Corporation Non-standard sector size system support for SSD testing
US10884847B1 (en) 2019-08-20 2021-01-05 Advantest Corporation Fast parallel CRC determination to support SSD testing
CN113964614A (zh) * 2021-11-29 2022-01-21 广东电网有限责任公司 一种接地线辅助安装工具

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4270335B2 (ja) 1999-03-10 2009-05-27 モレックス インコーポレイテド 同軸細線の接続方法及びコネクタ
JP2001077608A (ja) * 1999-09-06 2001-03-23 Toyota Motor Corp 伝送線路
US6809265B1 (en) * 2003-04-15 2004-10-26 Delphi Technologies, Inc. Terminal assembly for a coaxial cable
JP4314589B2 (ja) 2007-03-14 2009-08-19 パナソニック電工株式会社 多極同軸コネクタ
JP5019174B2 (ja) * 2007-08-03 2012-09-05 山一電機株式会社 高速伝送用コネクタ
JP5186330B2 (ja) * 2008-10-07 2013-04-17 株式会社アドバンテスト 同軸コネクタ及び同軸多極コネクタ
JP5433322B2 (ja) * 2009-06-30 2014-03-05 株式会社アドバンテスト コネクタ、ケーブルアッセンブリ及び半導体試験装置
JP5256132B2 (ja) * 2009-06-30 2013-08-07 株式会社アドバンテスト コネクタ、ケーブルアッセンブリ、半導体試験装置、及びコネクタのハウジング
JP5300628B2 (ja) * 2009-06-30 2013-09-25 株式会社アドバンテスト コネクタ、ケーブルアッセンブリ、コネクタ用共通化導体および半導体試験装置
US7909646B2 (en) * 2009-08-10 2011-03-22 3M Innovative Properties Company Electrical carrier assembly and system of electrical carrier assemblies
TWM405736U (en) * 2010-11-30 2011-06-21 Bing Xu Prec Co Ltd Connector and connector assembly

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