TW201248172A - Electronic device, and open circuit detecting system, detecting method thereof - Google Patents

Electronic device, and open circuit detecting system, detecting method thereof Download PDF

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TW201248172A TW100129702A TW100129702A TW201248172A TW 201248172 A TW201248172 A TW 201248172A TW 100129702 A TW100129702 A TW 100129702A TW 100129702 A TW100129702 A TW 100129702A TW 201248172 A TW201248172 A TW 201248172A
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201248172 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 一種電子 本發明係涉及一種電路檢測技術,特別係指 設備及其斷路檢測系統。 曰 【先前技術】 兩大^前’電財衫存在斷路的檢_齡交流和直流 待松2 —圖麻,對於交流電路,根據的等效原理, 兔個等效電阻串聯—個等效電容來模擬。 為=測待檢__情況,設置—個交流信號源(ac)及 交流信號源的—端接地,另―端與待㈣ 踹人知目’待檢測模組的另一端連接檢測模組的-體的3模組的另—端接地。整個系統構成—個完整的實 炫錢源發出的交流诚通過紐測模組回 通過讀取交流信號的頻率或峰值判 待檢等效原理, > 寺文雜來她。為了檢測待檢測模 模組的另一端連接檢測模組的一 ’设置一個直流信號源(DC)及一個檢測模組。直 源的—端接地,另—端與待檢測模組相連,待檢測 端 ’檢測模組的另一端接 成一個完整的實體的回路。直流信號源發 過讀取檢職纟卿丨檢繼組,檢測模组通 路。“躺電以f壓鮮请電路巾衫存在斷 201248172 上述的兩類測試系統都構成了一個實體的電路回路, 細長的測試線及接地回路都會對斷路檢測系統造成影響, 造成誤判。對於交流電路,細長的測試線及接地回路將形 成很大的線阻z(/㈣,根據^㈣= /(_)*z(/M,微弱的干擾 信號/(⑽加)通過大的線阻z御e)放大,將會形成一個大的干擾 信號^㈣,造成斷路檢測系統誤判。為支 現今制时妓在t針增加 組只能遽掉特定的頻率,有時當遽波模組滤除信號中不需 要的頻率時,會—併濾除所需的頻率,而造成信號的損失。 ::如果電路回財存在低值電料,需提高交流信號 m到高頻。但在高_情況下,電财存在的分佈電 =(或稱雜散電容)和⑽阻抗都會導致技㈣的電位下 =長:力1娜電路較流錢進行補償。對时流電路, :==路除了會引入雜訊外’也會降低電壓。因此, 在上Μ統中’需提高電壓及 性。而本發明能解決上述的問題。附斤度才此保證準確 【發明内容】 本發明的目的在於通過待檢測模 :測模組的狀態,並且得以在不受各==斷 間相互影響職生的雜 電路讀及其之 一種斷路檢測系統,用於與待Liti?動作。 待4:r—地’獲得 201248172 檢測模組斷路時的分佈電容。 在優選的實施例中,所述斷路檢測系統包括用於與所 述待檢測模組電連接,測試所述分佈電容的大小的測試單 疋、與所述測試單元相連,㈣述分佈電容的大小反映為 所述電信號的取樣單元。 在優選的實施例中,所述測試單元提供暫態短脈波對 所述分佈電容進行充電,所述測試單元對所述分佈電容進 行充電後,所述分佈電容通過所述取樣單元進行放電。 在優選的實施例中,所述暫態短脈波為上升沿在前, 下降沿在後的方波。 在優選的實施例中,所述斷路檢測系統還包括與所述 待檢測模組、測試單元、取樣單元分別相連,用於將所述 分佈電容充放電效應放大的電容效益倍增單元。 在優選的實施例中,所述電容效益倍增單元為雙極型 功率管、三極管或達林頓管。 在優選的實施例中,所述取樣單元為取樣電阻。 在優選的實施例中,所述斷路檢測系統還包括與所述 取樣單元相連,將所述電信號進一步處理成識別信號的信 虎處理軍元。 在優選的實施例中,所述信號處理單元將所述電信號 轉變成與所述分佈電容的大小相應數目的脈衝。 在優選的實施例中,所述信號處理單元包括反向器、 與所述反向器相連的比較器、與所述比較器相連的及閘電 路。 在優選的實施例中,戶斤述斷路檢測系統包括測試單 元、電容效益倍增單元、取樣單元、信號處理單元,所述 201248172 取樣單元為取樣電阻,所述信號處理單元包括反向器、與 所述反向器相連的比較器、與所述比較器相連的及閘電 路’所述測試單元一端與電源相連,所述測試單元的另〆 端連接到所述電容效益倍增單元的第一輸入端,所述電容 政盈倍增單元的第二輸入端用於與待檢測模組連接,所述 電容效益倍增單元的輸出端與所述取樣電阻的一端相連, 所述取樣電阻的另一端用於接地,所述反向器的輸入端與 所j電容效益倍增單元和取樣電阻的公共端相連,所述反 向器的輸出端與所述比較器的負端相連,所述比較器的正 接收參考電位’所述比較器的輸出端與所述及閘電 收遇娜^端相連’所述及問電路的第二輸入端用於接 佈電容的二’:述及閘電路的輸出端用於輸出與所述分 冲冤合的大小相應數目的脈衝。 -種斷路檢測方法,包括如下步驟: 得』:_模_分佈電容產生特性阻抗虛接地以獲 ===斷所述待檢測模組是否存在斷路。 電容大物分佈 一種斷路檢測方法,包括如下步驟:夺 通過待檢測模組的分佈電 測試所述分佈電容的A小,產生紐阻抗虛接地; 分佈電容大小的電信號; ,產生表示所述待檢蜊模組 ,據所述電信號判斷所 在優選的實施例中,所 1顺組疋否存在斷路。 電容大於所述待檢測模組斷測模組未斷路時的分佈 寺的分佈電容。 201248172 在優選的實施例中,所述測試所述分佈電容的大小, 產生表示所述待檢測模組分佈電容大小的電信號的步驟包 括如下步驟: 產生暫態短脈波對所述分佈電容進行充電,充電後, 所述分佈電容通過取樣單元放電形成所述電信號。 在優選的實施例中,所述根據所述電信號判斷所述待 檢測模組是否存在斷路包括如下步驟: 將所述電信號進一步處理成識別信號; 根據硪別信號判斷所述待檢測模組是否存在斷路。 、-種電子設備,包括待檢測模組與斷路檢測系統 述斷路檢m與所獅檢測餘連接並通齡佈 生特性阻抗虛接地獲得電㈣,並根_電錢確定待 測模組是否内部斷路或者沒有與斷路檢測系統電連接。铋 在優_實施财,_檢_賴㈣電信 路時的分佈電容大於待檢測模組内部斷路 或者沒有與斷路檢測系統電連接時的分佈電容。晴 刹田t述電子賴、斷路m細枝通過待檢測模组 /刀佈電容虛接地方式獲得合適的參考電位 實際構成回路的電路實體,避免 ’又有 政3ΙΧΛΛΜ < 避尤了細長的測試線及接地回 路引入的雜和陳輯路檢_ 了斷路檢測系統的精確性。 、成〜響從而k冋 進一 $ = 的詳細說明及附圖’皆是為了能 進明本呶明為達成預定目的m 功效。而有關本發明的其他目的及/Μ之方式、手段及 及圖式中加以闡述。 優點,將在後續的說明 201248172 【實施方式】 以下結合具體的實施例和附圖進行說明。 塊圖如第三圖所示’其為實施例―的斷路檢測系統功能方 相連斷=測系統UG —端接地,另1與待檢測模組120 η«組12。為需娜岐科在斷路情況的電路 二=在正常的電路中,待檢測模組12〇的一端與斷路 =虛二,連接’另—端通過分佈電容i3G產生特性阻 二之門;2電容m是指在存在於電路導體之間、元 =間、或導體與地之間的電容,並不是實體的電容元件。 於2於描述’在圖中虛構一個分佈電容130來表示存在 於待松測模組120的所有分佈電容。 2物理定律可知,分佈電容的大小與導體的長度成正 。虽待檢賴組i2g不存在斷路情況時,分佈電容】30 ^於待U彳模組12G存在斷路情況時的分佈電容⑽,故〇 道分佈電容的大小區別,即可通過人的經驗判斷i ;曰〆別判斷斷路疋否存在。也就是說,斷路檢測系統no 獲传的電信號表示待檢測模組120未斷路時的分佈電容大 於待檢測模組丨20斷路時的分佈電容。 在工=頻率下,系統的分佈電容13〇產生特性阻抗虛 …,即實際並沒有接地,但與地的電位差為零。斷路檢 挪系統110、待檢_組】2〇有合適的參考電位,系統開始 2作’斷路檢測系统110對待檢測模組120進行檢測,獲 件用於满待檢顺幻2G是否存⑽路的電信號,觸 201248172 待檢測模組12G是否存在斷路的情況。 在-實施例中,第三圖所示的系統更加具體的如第四 ,所不,由於分佈電容並碎在實體,它—般指、線與線之 y板的上下層之間形成的電容,為了便於描述,第四圖 中虛構—個分佈電容挪代表系統的分佈電容進行描述。 由物理定律可知,分佈電容的大小與導體的長度成正 =’虽待檢賴組220不存在斷路情科,㈣的分佈電 奋大於待檢測模組22〇存在斷路情況時的分佈電容,故只 需要知道分佈電容的大小區別,即可通過人的經驗判斷或 機,識別判斷斷路是否存在。也就是說,斷路檢測系統21〇 後得的電信號表示待檢測模組220未斷路時的分佈電容大 於待檢測模組220斷路時的分佈電容。斷路檢測系統21〇 一端接地’另一端與待檢測模組220相連。 斷路檢測系統210為具有檢測斷路是否存在功能的電 路或設備。斷路檢測系統210包括與待檢測模組22〇電連 接的測試單元212、與測試單元212相連的取樣單元214、 與取樣單元214相連的信號處理單元216。 測試單元212測試系統的分佈電容230的大小。測試 單元212通過向分佈電容230充電或與分佈電容230形成 諧振電路得到分佈電容230的大小。在相同的情況下广不 同的分佈電容充放電的時間常數不一樣。 取樣單元214反映測試單元212對分佈電容23〇的測 試情況。取樣單元214可以是一個取樣電阻,也可以是其 他具有取樣功能的電路。在測試單元212的激勵或組成^ 振下’分佈電容230的大小在取樣單元2】4上反映為便於 人觀測或機器處理的電信號。待檢測模組220存在斷路時 201248172 的充電時間小於待檢測模組22〇不存在斷路時的充電時 間,通過人的經驗判斷或機器識別即可判斷斷路是否存 在。同樣地,也可以在測試單元212向分佈電容23〇充電 後,分佈電容230通過取樣單元214進行放電,放電的情 況反映在取樣單元214上,形成便於觀測處理的電壓信號, 待檢測桓組220存在斷路時的放電時間小於待檢測模組22〇 不存在斷路時的放電_,通過人的經驗騎或機器識別 即可判斷_衫存在。㈣的分佈電額㈣的電阻、 電感細成的譜振電路的諳振頻率不同,因此,可通過測試 單=212與分佈電容23〇形成諧振電路,取樣單元214取 樣得到諸振信號’通過人的經驗判斷或機器識別即可判斷 斷路是否存在。 為了使系統更加自動化,還可以在取樣單元214後加 上將電錢進—步處理成便域11識_朗信號的信號 處理單元216。信號處理單元216將從取樣單元214得_ 電信★號通過邏輯的“及(AND),,、‘‘或(OR),,、“非(N0T)”、“比 較”等算,或與其他信號結合得到便於機器識別的識別信 旒。得到識別信號後,可將識別信號送入處理器,如電腦、 (數位訊號處理器)、ARM (AdvancedRISC Machines) 等等進行計算或顯示。 在工作頻率下,系統的分佈電容230產生特性阻抗虛 接地,即與地的電位差為零,但實際與地並沒有連接。斷 路檢測系統210、待檢測模組22〇有合適的參考電位,系統 開始工作,斷路檢測系統210對待檢測模組220進行檢測, 單元212向分佈電容23〇充電或與分佈電容23〇形成 諧振。由於不存在斷路時系統的分佈電容大於存在斷路時 201248172 ΐ統的分佈電容。在測試單元的激勵或組成賴下,取樣 早兀214上反映的電信號呈現差異,通過人的經驗或 識別即可判崎路是否存在。為了㈣統更加自動化,還 可以在取樣單70 214後加·Mt號處理單元216。信號處理單 疋2 =通過邏輯的“及”、“或,,、“非,,、“比較”等運算,或與 仏號、、’,將電信號進一步處理成便於機器識別的識 另Η:號。㈣識職號後,可將識別信號送人處理器 計算或顯示。 在另貫施例巾,第三圖所示的系統更加具體的如第 五圖及第六圖所示,斷路檢測系統310 一端接地,另一端 與待k測模組32〇相連。由於分佈電容並不存在實體,它 -般指線與線之間、板的上下層之間形成的電容,為了便 於!!述二第五圖中虛構一個分佈電容330代表系統的分佈 電谷進行描述。且斷路檢測系統31G對待檢測模組娜的 檢測只與分佈電容㈣,為了使描述更加清楚明確,第六 圖中省略了待檢測模組。线的其他部分的分佈電容與待 檢測系統的分佈電容為串聯關係,故可用一個等效電容表 示,而勿佈電容本身也有一定的電阻,故最終採用一個等 效電容串聯一個等效電阻等效替代分佈電容33〇。 斷路檢測系統310為具有檢測斷路是否存在功能的電 路或設備。斷路檢測系統31〇包括測試單元312、與測試單 元312及分佈電容330相連的電容效益倍增單元313,與電 容效益倍增單元313相連的取樣單元314、與取樣單元314 相連的信號處理單元316。 測试單元312用於產生暫態短脈波。測試單元312 — 端接入到供電電源VCC中,另一端連接到電容效益倍增單 201248172 兀313的第一輸入端。測試單元312通過電容效益倍增單 元313與分佈電容33〇電連接,因此’測試單元^^^通 過電容效益倍增單元313對分佈電容33〇進行充電。 電谷政盈倍增單元313用於將分佈電容33〇充放電效 應放大,它可以是一個雙極型功率管、三極管、達林頓管, 或其他具有將分佈電容33〇充放電效應放大的電路。電容 效盈倍增單元313的第一輸入端與測試單元3丨2相連,第 二輸入端與分佈電容33〇相連’輸出端同時與取樣單元 314、信號處理單元316相連。下面以三極管為例進行說明。 電谷效盈倍増單元313的第一輸入端為發射極,第二輸入 端為基極’輸出端為集電極。測試單^ 312產生的暫態短 脈波通過發射極-基極向分佈電容33〇進行充電,三極管基 極與發射極之間在分佈電容33〇未達到特定電位前呈正二 ,置。由於三極管工作在線性區,具有放大效應,分佈電 谷330的充放電效應被放大。放電電流通過取樣單元314 後形成電壓信號。 取樣單元314用來反映分佈電容33〇的狀態,其可以 為一個取樣電阻,或多個電阻的串並聯,也可以是具有取 樣功此的其它電路。取樣電路的一端同時與電容效益倍增 單元313、信號處理單元316相連,另一端接地。分佈電容 330通過取樣單元314由電容效益倍增單元313向接地端進 行放電。放電電流通過取樣單元314後形成電壓信號,送 入信號處理單元316。 信號處理單元316包括反向器3162、與反向器3162 相連的比較器3164、與比較器3164相連的及閘電路3丨66。 反向器3162的輸入端同時與電容效益倍增單元313、 12 201248172 取樣單元314相連,反向器3162的輸出端與比較器 的負端相連。反向$ 3162將取樣單元314形成的電壓信號 反相。同時’反向H 3162具有很高的輸人阻抗,可實 離作用。 比車乂器3164正端接收參考電位,負端與反向器3⑹ 的輸出端相連。虽比較器3164的正端電壓大於比較器3164 的負端電壓時’也就是參考電位高於反向器3162的輸出電 位時,比較器316 4輸出端輸出高電位,反之則輸出低電位。 一及閘電路3166的第一輸入端與比較器3164相連,第 -輸入端接收週期性脈衝。由於及閘電路3166是邏輯“及 (AN= ’只有當及閘電路3166的第—輸人端和第二輸人同 ,為高電位時’及閘電路3166的輸出端方為高電位。也就 是’當及閘電路3166的第-輸人端為高電位時,輸出端輸 出週期性脈衝錢;當及閘電路3166的第-輸入端為低電 位時,輸出端輸出低電位,即不輸出信號。 下面結合時序圖,如第七圖所示,對本實施例的工作 過知進行描述。 在工作頻率下,系統的分佈電容330產生特性阻抗虛 接地,即與地的電位差為零,但實際與地並沒有連接。系 統有了合適的參考電位,斷路檢測系統31〇開始進行檢測。 測試單元312產生暫態短脈波41〇,暫態短脈波41〇為 上升沿在前,下降沿在後的方波。暫態短脈波410為高電 位時,打開反向器3162、比較器3164和及閘電路3166, 使匕們處於工作狀態。暫態短脈波410對分佈電容330進 行充電,由於分佈電容33〇的等效電阻很小,充電過程瞬 間元成。充電後,分佈電容330通過電容效益倍增單元313 13 201248172 將放電電流放大,放大後的放電電流在取樣單元314上形 成電壓信號,電壓信號通過反向器3162取反輸出反向器輸 出號420。反向器輸出信號42〇輸入到比較器3164負端, 與輸入比較器3164正端的參考電位402進行比較,當參考 電位高於反向器輸出信號420時,比較器3164輸出高電 位,反之,則輸出低電位。比較器3164輸出的信號與及閘 電路3166第二輸入端輸入的週期性脈衝進行與運算,比較 器3164輸出咼電位時,及閘電路3ι66輸出週期性脈衝, 即便於機器識別的識別信號,反之,不輸出信號。 因為待檢測模組沒斷路時的分佈電容比待檢測模組存 在斷路時的分佈電容大,為了方便描述,下面將沒斷路時 的分佈電容稱為大電容,存在斷路時的分佈電容稱為小電 容。由於電容的放電特性,反向器輸出信號42〇緩慢上升, 而且大電谷的k號線422上升過程比小電容的信號線424 上升過程更為緩慢,比較器3164輸出端輸出的大電容比較 器輸出信號430要比小電容比較器輸出信號44〇占空比 大。比較器3164輸出端的信號輸入到及閘電路3166的第 一輸入端,與輸入到及閘電路3166第二輸入端的週期性脈 衝450進行與運算。由於比較器3164輸出端輸出的大電容 比較器輸出信號430要比小電容比較器輸出信號44〇占空 比大,及閘電路3166輸出端輸出的大電容及閘電路輸出信 號460的週期性脈衝的脈衝數要比小電容及閘電路3丨66輸 出信號470的脈衝數多。將及閘電路3166輸出端輸出的與 分佈電容的大小相應數目的脈衝送入處理器,如電腦或 DSP(數位 sfl 號處理器)或 ARM ( Advanced RISC Machines ) 等等進行計算或顯示,即可判斷待檢測模組是否存在斷路 14 201248172 的情況。 地獲得電信號。在X作頻率下,使系統的分佈 性阻抗虛接地,即實際與线並沒有 t產生特 位差為零。斷路檢測系統、待檢測模縣適 位,系統開始工作,斷路檢測系統對待=的t考電 獲得用於_料躲賴妓 、測由 ==測到,分:=電: S820,根據所述電信號判斷 ==後,即,經驗二= 佈電容大於斷路時时電㈣麵未斷路時的分 所示在巾,“_示方法更加具_如第九圖 地 地,即實際與大地並沒有連接 ^性阻抗虛接 測模的::、產生表示所述待檢 的分佈電容比待檢測模組存在斷路:的==斷:時 路。分佈電谷的大小不可直接觀測處理,因而需 201248172 將分佈電容的大小轉化為便於觀測處理的電㈣ S930,將所述電信號進—步處理 二 別信號。為了使系統更加自動化,通過邏輯的;=,識 “非,,、“比較”等運算,或與其他信號結合 處理成便於機器識別的識別户號。 、琥進一步 路。信號判斷所述待檢測模組是否存在斷 或顯不,即可知道待檢測模組是否存在斷路。如之 未斷路時的分佈電容大於斷路時的分佈電容。 “ 容虛分佈電 電路沒有實_ d j 避免了長的K線及接地回路引入的雜 路檢測系统造成影響,從而提高了斷路檢測 “::=:=:=:r, =系統被整合在電子組:= =路部分。上述斷路檢測系統與待编 ίΪΪ 電容產生特餘抗虛接地獲得電信號, 二乂錢域確幻彻賴妓否内部斷路或者沒有ϋ盘 斷路檢測系統電連接。斷路檢測系統獲得的電^表干待 未斷路時的分佈電容大於待檢測模組内部斷路或 控Ϊί幕連接時的分佈電容。以包含有觸 曰 中動電活為例’斷路檢測系統可以集成在一個 二線測模組可以是可'f曲的線缓或是玻璃基板上 導 果可料的線鐵或是破璃基板上的導線内部斷 201248172 路或是沒有電連接到該晶片,分佈電容將小 分佈電容。 以上所述實施例僅表達了本發明的幾種實施方式,i 較為具體和詳細’但並不能因此㈣解為對本發明 圍的限制。應當指出的是,對於本領域的普通技術人員來 在不脫縣發明構思的前提下,射賴出若干變形 ^文進,這些都屬於本發明的保護範圍。因此,本發明專 利的保護範圍應以所附權利要求為準。 【圖式簡單說明】 第-圖為傳統的交流斷路檢啦統功能方塊圖 第二圖為傳統的直流斷路檢測系統功能方塊圖 第三圖為實施例-的斷路檢測系統功能方塊圖 第四圖為實施例二的斷路檢測系統功能方塊圖 第五圖為實施例三的斷路檢測系統功能方塊圖 第六圖為實施例三崎路檢_·统電路方塊圖 第七圖為第六圖的斷路檢剛系統工作時序圖; 第八圖為實關-的斷路檢測方法流程圖;及 第九圖為實施例二的斷路檢測方法流程圖。 【主要元件符號說明】 110 ’ 210,310斷路檢測系統 120 ’ 220,320待檢測模紐 130 ’ 230 ’ 330分佈電容 212,312測試單元 214,314取樣單元 216,316信號處理單元 17 201248172 313電容效益倍增單元 3162反向器 3164比較器 3166及閘電路 402參考電位 410暫態短脈波 420反向器輸出信號 422大電容的信號線 424小電容的信號線 430大電容比較器輸出信號 440小電容比較器輸出信號 450週期性脈衝 460大電容及閘電路輸出信號 470小電容及閘電路輸出信號 S810至S820流程圖步驟說明 S910至S940流程圖步驟說明 18

Claims (1)

  1. 201248172 七、申清專利範圍: 1. -種斷路檢測系統,其特徵在於 於與-待檢測模組電連接,並通過所=檢測系統用 分佈電容產生特性阻抗虛接地二:==組的-測模組是否存在斷路的一電信號。、清斤述待檢 2. ,申請專利範圍第〗項所述之斷路檢測系統, =檢測系統獲得的所述電信號表示所述待檢測模: 未斷,時的分佈電容大於所述待檢測模組斷路時的分 佈電谷。 3. 如申請專利範圍第2項所述之斷路檢測系統,其中所述 斷路檢測系統包括-用於與所述待檢測模㈣連接,^ 試所述分佈電容的大小的測試單元、一與所述測試單元 相連’將所述分佈電容的大小反映為所述電信號的取樣 00 — 早兀。 4. 如申請專利範圍第3項所述之斷路檢測系統,其中所述 測試單元提供一暫態短脈波對所述分佈電容進行充 電,所述測試單元對所述分佈電容進行充電後所述分佈 電容通過所述取樣單元進行放電。 5. 如申請專利範圍第4項所述之斷路檢測系統,其中所述 暫態短脈波為上升沿在前’下降沿在後的方波。 6. 如申請專利範圍第4項所述之斷路檢測系統,其中所述 斷路檢測系統還包括一與所述待檢測模組、測試單元、 取樣單元分別相連,用於將所述分佈電容充放電效應放 大的電容效益倍增單元。 7. 如申請專利範圍第6項所述之斷路檢測系統,其中所述 電容效益倍增單元為雙極型功率管、三極管或達林頓 201248172 管。 8. 如申,專利範圍第3項所述之斷 取樣單元為取樣電阻。 川糸統,其中所述 9. 如申請專利範圍第3項所述之斷 斷路檢測系統還包括與所述取樣π _’、彳系統,其中所述 號進一步處理成識別信號的—传相連,將所述電信 10. 如申請專利範圍第9項所述之斷ς:單元。 信號處理單元將所述電信號轉:糸統,其中所述 大小相應數目的脈衝。 /、所述分佈電容的 11. 如申請專利範圍第9項所述之斷 信號處理單元包括一反向器、—與/ =糸統,其中所述 較器、一與所述比較器相連的及閘^述反向器相連的比 12·如中請專利範圍第2項所述之斷路二: 斷路檢測系統包括一測試單元、一、”、’先,其中所述 一取樣單元、一信號處理單元,所述令致,倍增單元、 阻,所述信號處理單元包括一反向^取樣單元為取樣電 相連的比較器一與所述比㈣相連^與所述反向器 測試單元一端與電源相連,所述剩試d<j _閘電路,所述 到所述電容效益倍增單元的第—輪的另一端連接 倍增單元的第二輸入端用於與所:待:測=::效: 述電容效益倍增單元的輸出端與所述取樣電,二所 相連,所述取樣電阻的另—端用於接地,所述反 輸入端與所述電容效益倍増單元和取樣電阻的二2 相連,所述反向器的輸出端與所逃比較器的广 所述比較器的正端用於接收參考電位,所述比 , 出端與所述及閘電路的第一輸入端相遠又斋的輪 伯建所述及閘電路 20 201248172 SI用用於接收週期性脈衝,所述及閘電路的輸 13' -種斷路檢測==的大小相應數目的脈衝。 通η:.组:-分体電容產生特性阻抗虚接地 14. 如斷所述待檢測模組是否存在斷路。 述待檢測模i未斷=項所述之斷路檢測方法,其中所 組斷路時的分佈電容。夺的分怖電容大於所述待檢測模 15. 一種斷路檢測方法’包括步驟·· 佈生特性阻抗虛接地; 佈電容大小的一電作號·及、不所述待檢測模組分 待檢測模組是否存在斷路。 述待二未^5=所;^斷::測方法,其中所 組斷路時的分佈電容。’ 合大於所述待檢測模 17. 如申請專利範圍第15 述測η所述分佈電容的大小檢測方法’其中所 ^電容大小的電信號的步驟包括=所述待檢測模組 進行充電, 18. 如申請專利範圍第15 :::成所述電信號。 一所述待 將所述電信號進—步處理成-識別信號;及 21 201248172 根據所述識別信號判斷所述待檢測模組是否存在斷路。 19. 一種電子設備,其特徵在於,包括一待檢測模組與一斷 路檢測系統,所述斷路檢測系統與所述待檢測模組連接 並通過分佈電容產生特性阻抗虛接地獲得電信號,並根 據該電信號確定該待檢測模組是否内部斷路或者沒有 與該斷路檢測系統電連接。 20. 如申請專利範圍第19項所述之電子設備,其中所述斷 路檢測糸統獲得的電信號表不該待檢測模組未斷路時 的分佈電容大於該待檢測模組内部斷路或者沒有與該 斷路檢測系統電連接時的分佈電容。 22
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