TW201232658A - Method of fabricating patterned substrate - Google Patents
Method of fabricating patterned substrate Download PDFInfo
- Publication number
- TW201232658A TW201232658A TW100101976A TW100101976A TW201232658A TW 201232658 A TW201232658 A TW 201232658A TW 100101976 A TW100101976 A TW 100101976A TW 100101976 A TW100101976 A TW 100101976A TW 201232658 A TW201232658 A TW 201232658A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- substrate
- manufacturing
- temperature
- steps
- aluminum
- Prior art date
Links
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Led Devices (AREA)
Description
201232658 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一種圖形化基板之製造方法,特別是 一種無須藉由蝕刻製裎以製作圖形化基板之製造方法。 【先前技術】 隨著科技的日新月異,近年來發光二極體 (Light-EmmitingDi〇de,LED)因其具有耗電量低、元件壽命 長、無須暖燈時間、反應速度快以及體積小的優點,使其 愈來愈廣泛地被應用在各式場合。 發光二極體通常設置於具有圖形化表面之藍寶石基板 上’藉以提昇其發級率。⑼,於先前技術巾藍寶石基 板,經過乾蝕刻製程或溼蝕刻製程以形成圖形化表面 ,監寶石基板上,於蝕刻過程中必須利用金屬,氧化物或 ^化物保護部分的藍寶^基板,而關過程結束後得需對 藍寶石基板作清潔,又受限黃光製程,僅能製作出微米等 級之圖形化藍寶石基板。此過程不僅繁項費時,更必須搭 配有叩貴的機台設備而導致製造成本高昂。 人風緣疋,本發明人有感上述之課題,乃特潛心研究並配 。予理之運用,終於提出—種設計合理且有效改善上述缺 失之本發明。 【發明内容】 本發明提供一種圖形化基板之製造方法,包含下述步 驟··⑻提供基板,基板具有上表面;⑻升高溫度至6〇〇〜9〇〇 C且通入三甲基铭(TrimethyUlumi麵,TMAL),以於基板 之上表面形成鋁層;(c)保持溫度於6〇〇〜9〇〇 j 集成為多她粒,分佈於上表面,同時使基板之部份j 3/11 201232658 面未被鋁粒遮住而露出;以及(d)通入反應氣體,使多個鋁 粒與反應氣體化合形成圖形化結構於上表面。 本發明提供另一種圖形化基板之製造方法,包含下述 步驟:(a)提供基板,基板具有上表面;(b)鍍設金屬層於基 板之上表面;(c)升高溫度至使金屬層聚集為不規則圖形金 屬粒’分佈於上表面,同時使基板之部份上表面未被金屬 粒遮住而露出;以及(d)通入反應氣體,使不規則圖形金屬 粒與反應氣體化合形成圖形化結構於上表面。
本發明具有以下有益的效果:本發明利用成長之方式 製作藍賃石基板,相較於習知以蝕刻之方式製作藍寶石基 板,可省卻不少繁瑣步驟及僅須使用最基本的機台設備, 即可衣作出奈米等級的圖形化結構於藍寶石基板上。 為使旎更進一步瞭解本發明的特徵及技術内容,請參 閱以下有關本發明的詳細說明與關,然而所關式僅提 供參考與說_,麟絲對本伽純限制者。 【實施方式】
清參閱圖1至圖3’依序為本發明實施圖形化基板1之 製造方法時,基板1之職®面㈠〜㈢,_化基板1 之製is·方法包3下列步驟:(a)提供基板丨,基板1具有上 表面1〇;(b)於基板1之上表㈣沉積銘層2(c)升高溫度至 使紹層2轉形❹健粒分佈於上表面1();⑷通入反應 氣體’使多_粒與反應氣體化合形形化結構於上表 面10。而詳細内容則更進一步敘述如下。 α ί併參關4,首先執行步驟⑻提供基板卜基板1 ip置=’7"步_中’基板1通常為藍寳石基板, 以i、汉置發先二極體,藉以使發光二極體能夠提供良好的 4/11 201232658 發光效率’然基板1並不限於使用藍寶石基板。步驟⑻後 。’執仃步驟(b)。於步驟(b)中’將整體溫度升高至6〇〇〜9〇〇 C後,並通入三甲基鋁(Trimethyl-aluminum,丁MAL),以於 基板1之上表面1〇形成鋁層2 ;於步驟中鋁層2之詳細 形成步驟如下:(bl)升高溫度至600〜90(TC ; (b2)以1〜200 升刀之速率通入二甲基在呂(Trimethyi_aiuminum, TMAL)l〇〜12〇秒’以於基板丨之上表面1〇形成紹層2。在 步驟(b)後執行步驟⑻停止通入三甲基紹,且保持溫度於 _ 6⑻900 C至使紹層2聚集成為多個紹粒3,分佈於上表面 ,保持溫度1〜12〇秒,以形成100nm〜2〇〇nm之鋁粒3。 最後執行步驟⑹通人反應氣體,使多個絲3與反應氣體 化合形成圖形化結構於上表面1〇。其中,反應氣體通常為 氧氣、氨氣或氮氣,但不限於氧氣、氨氣和氮氣,而於步 驟(d)之詳細步驟如下:(dl)持溫6〇〇〜9〇(rc ;以及(犯)通入 氧氣10〜1800秒、’使多個铭粒3與反應氣體化合形成多晶 氧化銘於基板1之上表面1〇。若欲形成單晶氧化紹,於步 • 驟(c)後’步驟(d)之詳細步驟可改為:(dl,)升溫至n〇〇〜13〇〇 °C ;以及(d2’)通入氧氣10〜則〇秒,使所述多個铭粒3與 反應氣體化合形成單晶氧化鋁於基板丨之上表面1〇 ;或者 ,若欲形成單晶氮化鋁,可於步驟(c)後依下述步驟執行: (dl”)持溫600〜90(TC ;以及(d2,,)通入氨氣1〇〜】8⑻秒,使 多個姉3與反應氣體化合形成單晶氮化链於基板i之上 表面10。 請參閱圖5至圖7,依序為本發明實施另一種圖形化基 板之製造找時,絲丨之似圖面㈠〜(三)。請合併參 考圖8所示,本發明圖形化基板之製造方法,包含下列步 5/11 201232658 驟:(a)提供基板1,基板1具有上表面1〇 ;於步驟(a)中, 基板1通常為藍寶石基板,以使發光二極體能達到良好的 發光效率,但不限定為藍寶石基板。接著,執行步驟(b)錢 设金屬層5於基板1之上表面10 ;可使用化鑛或電鍵的方 式,可隨製造者選擇。步驟(b)後,執行步驟(c)升高溫度以 使金屬層5形成為不規則圖形金屬粒6,分佈於上=1〇 ;於步驟(c)中不規則圖形金屬層5之詳細形成步驟二下, (cl)升高溫度至200〜90(TC之間;以及(c2)保持200〜9〇(rc之 溫度1〜400分鐘,以使金屬層5形成為不規則圖形金屬粒6 ’分佈於上表面10,同時使基板之部份上表面未被金屬粒籲 6遮住而露出,金屬粒6高度和大小會接近於金屬層5厚度 。接著,執行步驟(d)通入一反應氣體,使不規則圖形金屬 粒6與反應氣體化合形成圖形化結構於上表面ι〇,所需時 間和金屬粒6大小相關,金屬粒6越大所需時間越久。其 中’金屬層5較佳為紹層’反應氣體可為氧氣或氮氣,使 鋁層與氧氣或氮氣結合成氧化鋁或氮化鋁,但在此不作限 定。於步驟(d)中,單晶氧化鋁之詳細形成步驟如下:(^) 升高溫度至11GG〜13GG°C ;以及(d2)通人氧氣!〜购分鐘· ,使不規則圖形金屬層5與反應氣體化合形成單晶氧化鋁 於基板之上表面1 〇。 於製備一圖形化基板後,即可將基板放入磊晶機台内 磊晶,最廣為使用的磊晶機台為使用有機金屬化學氣相沉 積法(Metal-organic Chemical Vapor Deposition,M0CVD)之 磊晶機台。綜上所述,本發明之圖形化基板之製造方法採 用晶體成長之技術取代習知以蝕刻製程,改善過於繁複的 習知圖形化基板之製造方法,且可省略額外的蝕刻設備, 6/11 201232658 例如感應麵合電漿離子蝕刻(Inductive Coupling Plasma, ICP)、溼蝕刻及黃光等設備皆不需要,只利用磊晶機台即 可完成。由於本發明之圖形化基板之製造方法不再需要上 述餘刻設備’因此清除蝕刻原料及花費在不同設備間運送 的時間亦可省下。再者,由於本發明之圖形化基板之製造 方法是採用晶體成長之技術,因此圖形尺寸更可達奈米等 級。 、 惟以上所述僅為本發明之較佳實施例,非意欲侷限本 發明的專利保護範圍,故舉凡運用本發明說明書及圖式内 容所為的等效變化,均同理皆包含於本發明的權利保護範 圍内’合予陳明。 【圖式簡單說明】 圖1為本發明之第一實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(一:); 圖2為本發明之第一實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(二); 圖3為本發明之第一實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(三); 圖4係為本發明之第一實施例之圖形化基板之製造方法之 之流程圖。 圖5為本發明之第二實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(一); 圖6為本發明之第二實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(二); ° 圖7為本發明之第二實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(三);以及 。 7/11 201232658 圖8係為本發明之第二實施例之圖形化基板之製造方法之 之流程圖。 【主要元件符號說明】 1 基板 10 上表面 2 鋁層 3 鋁粒 4 圖形化結構 5 金屬層 6 金屬粒 8/11
Claims (1)
- 201232658 七、申請專利範圍: 1· 一種_化基板之製造方法,包含下列步驟: ⑷提供—基板,該基板具有-上表面; ()於《亥基板之s玄上表面沉積—金屬層; (C)升高溫度至使該金屬層聚集形❹個金屬粒分佈於 上表面’同時使該基板之部份該上表面未被所述多個金屬 粒遮住而露出;以及 ⑷通入一反應氣體’使所述多個金屬粒與該反應氣體 化合形成圖形化結構於該上表面。 2. —種圖形化基板之製造方法,包含下列步驟: (a) &供一基板,該基板具有一上表面; (b) 升高溫度至6〇〇〜900 〇c且通入三曱基鋁 (Trimethyl-a—m,TMAL)’以於該基板之該上表面形成 一鋁層; (c) 停止通入三甲基鋁’且保持溫度於6⑻〜9〇〇。〇至使 該鋁層聚集成為多個鋁粒,分佈於該上表面;以及 ⑹通入-反應氣體,使所述多個錄與該反應氣體化 合形成圖形化結構於該上表面。 3. 如申请專利範圍第2項所述之製造方法,其中該基板為—駐 寶石基板,該反應氣體為氧氣、氨氣或氮氣,且步驟(b)包 含下述步驟: (bl)升高溫度至600〜900°C ;以及 (b2)以1〜200毫升/分之速率通入三甲基在呂 (Trimethyl-aluminum,TMAL)10〜120 秒,以於該基板之, 9/11 201232658 上表面形成該銘層。 士申。月專利範圍第3項所述之製造方法,其中步驟(幻包含 下述步驟: (dl)持溫600〜900°C ;以及 (d2)通入氧氣1〜12〇秒’使所述多個鋁粒與該反應氣體 化合形成多晶氧化鋁於該基板之該上表面。 5.如申請專利範圍第3項所述之製造方法’其中步驟(d)包含 下述步驟: (dl,)升溫至1100〜1300t ;以及 (d2’)通入氧氣1〇〜i8〇〇秒,使所述多個鋁粒與該反應 氣體化合形成單晶氧化鋁於該基板之該上表面。 6‘如申請專利範圍第3項所述之製造方法,其中步驟(d)包含 下述步驟: (dl”)持溫600〜900°C ;以及 (d2”)通入氨氣或氮氣1〇〜18〇〇秒,使所述多個鋁粒與 泫反應氣體化合形成單晶氮化鋁於該基板之該上表面。 7·—種圖形化基板之製造方法,包含下列步驟: (a) 提供一基板,該基板具有一上表面; (b) 鍵設一金屬層於該基板之該上表面; (c) 升高溫度以使該金屬層形成為不規則圖形金屬層, 分佈於該上表面;以及 (d) 通入一反應氣體,使該不規則圖形金屬層與該反應 氣體化合形成圖形化結構於該上表面。 8.如申請專利範圍第7項所述之製造方法,其中該基板為—藍 £ 10/11 201232658 寶石基板,該金屬層為一鋁層,該反應氣體為氧氣、氨氣或 氮氣。 9. 如申請專利範圍第8項所述之製造方法,其中步驟(c)包含 下述步驟: (cl)升高溫度至200〜9⑻。C之間;以及 (c2)保持200〜900°C之溫度1〜400分,以使該金屬層形 成為不規則圖形金屬粒,分佈於該上表面。 10. 如申請專利範圍第9項所述之製造方法,其中步驟(d)包含 下述步驟: (dl)升高溫度至1100〜1300°C ;以及 (d2)通入氧氣1〜1440分鐘,使不規則圖形金屬層與該 反應氣體化合形成單晶氧化鋁於該基板之該上表面。 11/11
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW100101976A TWI408746B (zh) | 2011-01-19 | 2011-01-19 | 圖形化基板之製造方法 |
CN2011102193823A CN102610710A (zh) | 2011-01-19 | 2011-07-28 | 图形化基板的制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW100101976A TWI408746B (zh) | 2011-01-19 | 2011-01-19 | 圖形化基板之製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201232658A true TW201232658A (en) | 2012-08-01 |
TWI408746B TWI408746B (zh) | 2013-09-11 |
Family
ID=46527962
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW100101976A TWI408746B (zh) | 2011-01-19 | 2011-01-19 | 圖形化基板之製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN102610710A (zh) |
TW (1) | TWI408746B (zh) |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69825939T2 (de) * | 1997-05-30 | 2005-09-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma | Anordnung mit Quanten-Schachteln |
JP4833616B2 (ja) * | 2004-09-13 | 2011-12-07 | 昭和電工株式会社 | Iii族窒化物半導体の製造方法 |
JP5032145B2 (ja) * | 2006-04-14 | 2012-09-26 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
JP5272361B2 (ja) * | 2006-10-20 | 2013-08-28 | 豊田合成株式会社 | スパッタ成膜装置およびスパッタ成膜装置用のバッキングプレート |
CN101295636A (zh) * | 2007-04-25 | 2008-10-29 | 中国科学院半导体研究所 | 高晶体质量氮化物外延生长所用图形衬底的制备方法 |
KR100990226B1 (ko) * | 2007-11-21 | 2010-10-29 | 우리엘에스티 주식회사 | 3차원 구조의 전방향 반사경을 구비한 질화물계 발광소자및 그 제조방법 |
JP5232972B2 (ja) * | 2008-10-20 | 2013-07-10 | 豊田合成株式会社 | 半導体発光素子及び半導体発光素子の製造方法 |
JP2010161354A (ja) * | 2008-12-08 | 2010-07-22 | Showa Denko Kk | 半導体発光素子用テンプレート基板、半導体発光素子用テンプレート基板の製造方法、半導体発光素子の製造方法及び半導体発光素子 |
KR100994643B1 (ko) * | 2009-01-21 | 2010-11-15 | 주식회사 실트론 | 구형 볼을 이용한 화합물 반도체 기판의 제조 방법과 이를 이용한 화합물 반도체 기판 및 화합물 반도체 소자 |
CN101599466B (zh) * | 2009-07-10 | 2012-08-29 | 中山大学 | 一种外延生长用的图形衬底及其制作方法 |
-
2011
- 2011-01-19 TW TW100101976A patent/TWI408746B/zh active
- 2011-07-28 CN CN2011102193823A patent/CN102610710A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI408746B (zh) | 2013-09-11 |
CN102610710A (zh) | 2012-07-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104037287B (zh) | 生长在Si衬底上的LED外延片及其制备方法 | |
EP2704215B1 (en) | Ultra small led and method for manufacturing same | |
JP5201566B2 (ja) | 化合物半導体発光素子及びその製造方法 | |
CN101283456B (zh) | Ⅲ-ⅴ族氮化物半导体的制造方法和发光器件的制造方法 | |
WO2007007774A1 (ja) | 基板及び半導体発光素子 | |
TWI495142B (zh) | 半導體裝置、發光裝置及其製造方法 | |
TW200834666A (en) | Compound semiconductor subtrate grown on metal layer, method for manufacturing the same, and compound semiconductor device using the same | |
TW200840096A (en) | Method of producing group-III nitride semiconductor layer, group-III nitride semiconductor light-emitting device and lamp thereof | |
WO2007105782A1 (ja) | 3-5族窒化物半導体基板の製造方法 | |
TW200405585A (en) | Substrate for growing gallium nitride, method for preparing substrate for growing gallium nitride and method for preparing gallium nitride substrate | |
CN104022201A (zh) | 晶片产品及包含其的氮化镓基半导体光元件 | |
JP2007220865A (ja) | 3族窒化物半導体発光素子およびその製造方法 | |
TWI412069B (zh) | 氮化物半導體基板及其製造方法 | |
Zhao et al. | Progress and prospects of GaN-based LEDs using nanostructures | |
CN107251196A (zh) | 氮化物半导体模板及其制造方法、以及外延片 | |
CN103959439B (zh) | 半导体衬底以及形成方法 | |
CN103531447A (zh) | 一种降低氮化镓纳米线阵列晶体缺陷密度的方法 | |
JP2006261659A (ja) | 半導体発光素子の製造方法 | |
CN106298450B (zh) | 一种纳米级图形化蓝宝石衬底及其制备方法和应用 | |
CN104576840A (zh) | 在硅衬底上制备氮化镓led的方法 | |
TW201243980A (en) | Substrate carrier with multiple emissivity coefficients for thin film processing | |
CN107075729A (zh) | 氮化物半导体模板的制造方法 | |
TW201232658A (en) | Method of fabricating patterned substrate | |
CN209561451U (zh) | GaN基发光二极管外延片 | |
US20150144964A1 (en) | Silicon carbide epi-wafer and method of fabricating the same |