TW201232658A - Method of fabricating patterned substrate - Google Patents

Method of fabricating patterned substrate Download PDF

Info

Publication number
TW201232658A
TW201232658A TW100101976A TW100101976A TW201232658A TW 201232658 A TW201232658 A TW 201232658A TW 100101976 A TW100101976 A TW 100101976A TW 100101976 A TW100101976 A TW 100101976A TW 201232658 A TW201232658 A TW 201232658A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
substrate
manufacturing
temperature
steps
aluminum
Prior art date
Application number
TW100101976A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI408746B (zh
Inventor
Wen-Teng Liang
Original Assignee
Lextar Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lextar Electronics Corp filed Critical Lextar Electronics Corp
Priority to TW100101976A priority Critical patent/TWI408746B/zh
Priority to CN2011102193823A priority patent/CN102610710A/zh
Publication of TW201232658A publication Critical patent/TW201232658A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI408746B publication Critical patent/TWI408746B/zh

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Description

201232658 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一種圖形化基板之製造方法,特別是 一種無須藉由蝕刻製裎以製作圖形化基板之製造方法。 【先前技術】 隨著科技的日新月異,近年來發光二極體 (Light-EmmitingDi〇de,LED)因其具有耗電量低、元件壽命 長、無須暖燈時間、反應速度快以及體積小的優點,使其 愈來愈廣泛地被應用在各式場合。 發光二極體通常設置於具有圖形化表面之藍寶石基板 上’藉以提昇其發級率。⑼,於先前技術巾藍寶石基 板,經過乾蝕刻製程或溼蝕刻製程以形成圖形化表面 ,監寶石基板上,於蝕刻過程中必須利用金屬,氧化物或 ^化物保護部分的藍寶^基板,而關過程結束後得需對 藍寶石基板作清潔,又受限黃光製程,僅能製作出微米等 級之圖形化藍寶石基板。此過程不僅繁項費時,更必須搭 配有叩貴的機台設備而導致製造成本高昂。 人風緣疋,本發明人有感上述之課題,乃特潛心研究並配 。予理之運用,終於提出—種設計合理且有效改善上述缺 失之本發明。 【發明内容】 本發明提供一種圖形化基板之製造方法,包含下述步 驟··⑻提供基板,基板具有上表面;⑻升高溫度至6〇〇〜9〇〇 C且通入三甲基铭(TrimethyUlumi麵,TMAL),以於基板 之上表面形成鋁層;(c)保持溫度於6〇〇〜9〇〇 j 集成為多她粒,分佈於上表面,同時使基板之部份j 3/11 201232658 面未被鋁粒遮住而露出;以及(d)通入反應氣體,使多個鋁 粒與反應氣體化合形成圖形化結構於上表面。 本發明提供另一種圖形化基板之製造方法,包含下述 步驟:(a)提供基板,基板具有上表面;(b)鍍設金屬層於基 板之上表面;(c)升高溫度至使金屬層聚集為不規則圖形金 屬粒’分佈於上表面,同時使基板之部份上表面未被金屬 粒遮住而露出;以及(d)通入反應氣體,使不規則圖形金屬 粒與反應氣體化合形成圖形化結構於上表面。
本發明具有以下有益的效果:本發明利用成長之方式 製作藍賃石基板,相較於習知以蝕刻之方式製作藍寶石基 板,可省卻不少繁瑣步驟及僅須使用最基本的機台設備, 即可衣作出奈米等級的圖形化結構於藍寶石基板上。 為使旎更進一步瞭解本發明的特徵及技術内容,請參 閱以下有關本發明的詳細說明與關,然而所關式僅提 供參考與說_,麟絲對本伽純限制者。 【實施方式】
清參閱圖1至圖3’依序為本發明實施圖形化基板1之 製造方法時,基板1之職®面㈠〜㈢,_化基板1 之製is·方法包3下列步驟:(a)提供基板丨,基板1具有上 表面1〇;(b)於基板1之上表㈣沉積銘層2(c)升高溫度至 使紹層2轉形❹健粒分佈於上表面1();⑷通入反應 氣體’使多_粒與反應氣體化合形形化結構於上表 面10。而詳細内容則更進一步敘述如下。 α ί併參關4,首先執行步驟⑻提供基板卜基板1 ip置=’7"步_中’基板1通常為藍寳石基板, 以i、汉置發先二極體,藉以使發光二極體能夠提供良好的 4/11 201232658 發光效率’然基板1並不限於使用藍寶石基板。步驟⑻後 。’執仃步驟(b)。於步驟(b)中’將整體溫度升高至6〇〇〜9〇〇 C後,並通入三甲基鋁(Trimethyl-aluminum,丁MAL),以於 基板1之上表面1〇形成鋁層2 ;於步驟中鋁層2之詳細 形成步驟如下:(bl)升高溫度至600〜90(TC ; (b2)以1〜200 升刀之速率通入二甲基在呂(Trimethyi_aiuminum, TMAL)l〇〜12〇秒’以於基板丨之上表面1〇形成紹層2。在 步驟(b)後執行步驟⑻停止通入三甲基紹,且保持溫度於 _ 6⑻900 C至使紹層2聚集成為多個紹粒3,分佈於上表面 ,保持溫度1〜12〇秒,以形成100nm〜2〇〇nm之鋁粒3。 最後執行步驟⑹通人反應氣體,使多個絲3與反應氣體 化合形成圖形化結構於上表面1〇。其中,反應氣體通常為 氧氣、氨氣或氮氣,但不限於氧氣、氨氣和氮氣,而於步 驟(d)之詳細步驟如下:(dl)持溫6〇〇〜9〇(rc ;以及(犯)通入 氧氣10〜1800秒、’使多個铭粒3與反應氣體化合形成多晶 氧化銘於基板1之上表面1〇。若欲形成單晶氧化紹,於步 • 驟(c)後’步驟(d)之詳細步驟可改為:(dl,)升溫至n〇〇〜13〇〇 °C ;以及(d2’)通入氧氣10〜則〇秒,使所述多個铭粒3與 反應氣體化合形成單晶氧化鋁於基板丨之上表面1〇 ;或者 ,若欲形成單晶氮化鋁,可於步驟(c)後依下述步驟執行: (dl”)持溫600〜90(TC ;以及(d2,,)通入氨氣1〇〜】8⑻秒,使 多個姉3與反應氣體化合形成單晶氮化链於基板i之上 表面10。 請參閱圖5至圖7,依序為本發明實施另一種圖形化基 板之製造找時,絲丨之似圖面㈠〜(三)。請合併參 考圖8所示,本發明圖形化基板之製造方法,包含下列步 5/11 201232658 驟:(a)提供基板1,基板1具有上表面1〇 ;於步驟(a)中, 基板1通常為藍寶石基板,以使發光二極體能達到良好的 發光效率,但不限定為藍寶石基板。接著,執行步驟(b)錢 设金屬層5於基板1之上表面10 ;可使用化鑛或電鍵的方 式,可隨製造者選擇。步驟(b)後,執行步驟(c)升高溫度以 使金屬層5形成為不規則圖形金屬粒6,分佈於上=1〇 ;於步驟(c)中不規則圖形金屬層5之詳細形成步驟二下, (cl)升高溫度至200〜90(TC之間;以及(c2)保持200〜9〇(rc之 溫度1〜400分鐘,以使金屬層5形成為不規則圖形金屬粒6 ’分佈於上表面10,同時使基板之部份上表面未被金屬粒籲 6遮住而露出,金屬粒6高度和大小會接近於金屬層5厚度 。接著,執行步驟(d)通入一反應氣體,使不規則圖形金屬 粒6與反應氣體化合形成圖形化結構於上表面ι〇,所需時 間和金屬粒6大小相關,金屬粒6越大所需時間越久。其 中’金屬層5較佳為紹層’反應氣體可為氧氣或氮氣,使 鋁層與氧氣或氮氣結合成氧化鋁或氮化鋁,但在此不作限 定。於步驟(d)中,單晶氧化鋁之詳細形成步驟如下:(^) 升高溫度至11GG〜13GG°C ;以及(d2)通人氧氣!〜购分鐘· ,使不規則圖形金屬層5與反應氣體化合形成單晶氧化鋁 於基板之上表面1 〇。 於製備一圖形化基板後,即可將基板放入磊晶機台内 磊晶,最廣為使用的磊晶機台為使用有機金屬化學氣相沉 積法(Metal-organic Chemical Vapor Deposition,M0CVD)之 磊晶機台。綜上所述,本發明之圖形化基板之製造方法採 用晶體成長之技術取代習知以蝕刻製程,改善過於繁複的 習知圖形化基板之製造方法,且可省略額外的蝕刻設備, 6/11 201232658 例如感應麵合電漿離子蝕刻(Inductive Coupling Plasma, ICP)、溼蝕刻及黃光等設備皆不需要,只利用磊晶機台即 可完成。由於本發明之圖形化基板之製造方法不再需要上 述餘刻設備’因此清除蝕刻原料及花費在不同設備間運送 的時間亦可省下。再者,由於本發明之圖形化基板之製造 方法是採用晶體成長之技術,因此圖形尺寸更可達奈米等 級。 、 惟以上所述僅為本發明之較佳實施例,非意欲侷限本 發明的專利保護範圍,故舉凡運用本發明說明書及圖式内 容所為的等效變化,均同理皆包含於本發明的權利保護範 圍内’合予陳明。 【圖式簡單說明】 圖1為本發明之第一實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(一:); 圖2為本發明之第一實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(二); 圖3為本發明之第一實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(三); 圖4係為本發明之第一實施例之圖形化基板之製造方法之 之流程圖。 圖5為本發明之第二實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(一); 圖6為本發明之第二實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(二); ° 圖7為本發明之第二實施例之製造方法之圖形化基板之剖 視圖(三);以及 。 7/11 201232658 圖8係為本發明之第二實施例之圖形化基板之製造方法之 之流程圖。 【主要元件符號說明】 1 基板 10 上表面 2 鋁層 3 鋁粒 4 圖形化結構 5 金屬層 6 金屬粒 8/11

Claims (1)

  1. 201232658 七、申請專利範圍: 1· 一種_化基板之製造方法,包含下列步驟: ⑷提供—基板,該基板具有-上表面; ()於《亥基板之s玄上表面沉積—金屬層; (C)升高溫度至使該金屬層聚集形❹個金屬粒分佈於 上表面’同時使該基板之部份該上表面未被所述多個金屬 粒遮住而露出;以及 ⑷通入一反應氣體’使所述多個金屬粒與該反應氣體 化合形成圖形化結構於該上表面。 2. —種圖形化基板之製造方法,包含下列步驟: (a) &供一基板,該基板具有一上表面; (b) 升高溫度至6〇〇〜900 〇c且通入三曱基鋁 (Trimethyl-a—m,TMAL)’以於該基板之該上表面形成 一鋁層; (c) 停止通入三甲基鋁’且保持溫度於6⑻〜9〇〇。〇至使 該鋁層聚集成為多個鋁粒,分佈於該上表面;以及 ⑹通入-反應氣體,使所述多個錄與該反應氣體化 合形成圖形化結構於該上表面。 3. 如申请專利範圍第2項所述之製造方法,其中該基板為—駐 寶石基板,該反應氣體為氧氣、氨氣或氮氣,且步驟(b)包 含下述步驟: (bl)升高溫度至600〜900°C ;以及 (b2)以1〜200毫升/分之速率通入三甲基在呂 (Trimethyl-aluminum,TMAL)10〜120 秒,以於該基板之, 9/11 201232658 上表面形成該銘層。 士申。月專利範圍第3項所述之製造方法,其中步驟(幻包含 下述步驟: (dl)持溫600〜900°C ;以及 (d2)通入氧氣1〜12〇秒’使所述多個鋁粒與該反應氣體 化合形成多晶氧化鋁於該基板之該上表面。 5.如申請專利範圍第3項所述之製造方法’其中步驟(d)包含 下述步驟: (dl,)升溫至1100〜1300t ;以及 (d2’)通入氧氣1〇〜i8〇〇秒,使所述多個鋁粒與該反應 氣體化合形成單晶氧化鋁於該基板之該上表面。 6‘如申請專利範圍第3項所述之製造方法,其中步驟(d)包含 下述步驟: (dl”)持溫600〜900°C ;以及 (d2”)通入氨氣或氮氣1〇〜18〇〇秒,使所述多個鋁粒與 泫反應氣體化合形成單晶氮化鋁於該基板之該上表面。 7·—種圖形化基板之製造方法,包含下列步驟: (a) 提供一基板,該基板具有一上表面; (b) 鍵設一金屬層於該基板之該上表面; (c) 升高溫度以使該金屬層形成為不規則圖形金屬層, 分佈於該上表面;以及 (d) 通入一反應氣體,使該不規則圖形金屬層與該反應 氣體化合形成圖形化結構於該上表面。 8.如申請專利範圍第7項所述之製造方法,其中該基板為—藍 £ 10/11 201232658 寶石基板,該金屬層為一鋁層,該反應氣體為氧氣、氨氣或 氮氣。 9. 如申請專利範圍第8項所述之製造方法,其中步驟(c)包含 下述步驟: (cl)升高溫度至200〜9⑻。C之間;以及 (c2)保持200〜900°C之溫度1〜400分,以使該金屬層形 成為不規則圖形金屬粒,分佈於該上表面。 10. 如申請專利範圍第9項所述之製造方法,其中步驟(d)包含 下述步驟: (dl)升高溫度至1100〜1300°C ;以及 (d2)通入氧氣1〜1440分鐘,使不規則圖形金屬層與該 反應氣體化合形成單晶氧化鋁於該基板之該上表面。 11/11
TW100101976A 2011-01-19 2011-01-19 圖形化基板之製造方法 TWI408746B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW100101976A TWI408746B (zh) 2011-01-19 2011-01-19 圖形化基板之製造方法
CN2011102193823A CN102610710A (zh) 2011-01-19 2011-07-28 图形化基板的制造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW100101976A TWI408746B (zh) 2011-01-19 2011-01-19 圖形化基板之製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201232658A true TW201232658A (en) 2012-08-01
TWI408746B TWI408746B (zh) 2013-09-11

Family

ID=46527962

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW100101976A TWI408746B (zh) 2011-01-19 2011-01-19 圖形化基板之製造方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN102610710A (zh)
TW (1) TWI408746B (zh)

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69825939T2 (de) * 1997-05-30 2005-09-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma Anordnung mit Quanten-Schachteln
JP4833616B2 (ja) * 2004-09-13 2011-12-07 昭和電工株式会社 Iii族窒化物半導体の製造方法
JP5032145B2 (ja) * 2006-04-14 2012-09-26 株式会社東芝 半導体装置
JP5272361B2 (ja) * 2006-10-20 2013-08-28 豊田合成株式会社 スパッタ成膜装置およびスパッタ成膜装置用のバッキングプレート
CN101295636A (zh) * 2007-04-25 2008-10-29 中国科学院半导体研究所 高晶体质量氮化物外延生长所用图形衬底的制备方法
KR100990226B1 (ko) * 2007-11-21 2010-10-29 우리엘에스티 주식회사 3차원 구조의 전방향 반사경을 구비한 질화물계 발광소자및 그 제조방법
JP5232972B2 (ja) * 2008-10-20 2013-07-10 豊田合成株式会社 半導体発光素子及び半導体発光素子の製造方法
JP2010161354A (ja) * 2008-12-08 2010-07-22 Showa Denko Kk 半導体発光素子用テンプレート基板、半導体発光素子用テンプレート基板の製造方法、半導体発光素子の製造方法及び半導体発光素子
KR100994643B1 (ko) * 2009-01-21 2010-11-15 주식회사 실트론 구형 볼을 이용한 화합물 반도체 기판의 제조 방법과 이를 이용한 화합물 반도체 기판 및 화합물 반도체 소자
CN101599466B (zh) * 2009-07-10 2012-08-29 中山大学 一种外延生长用的图形衬底及其制作方法

Also Published As

Publication number Publication date
TWI408746B (zh) 2013-09-11
CN102610710A (zh) 2012-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104037287B (zh) 生长在Si衬底上的LED外延片及其制备方法
EP2704215B1 (en) Ultra small led and method for manufacturing same
JP5201566B2 (ja) 化合物半導体発光素子及びその製造方法
CN101283456B (zh) Ⅲ-ⅴ族氮化物半导体的制造方法和发光器件的制造方法
WO2007007774A1 (ja) 基板及び半導体発光素子
TWI495142B (zh) 半導體裝置、發光裝置及其製造方法
TW200834666A (en) Compound semiconductor subtrate grown on metal layer, method for manufacturing the same, and compound semiconductor device using the same
TW200840096A (en) Method of producing group-III nitride semiconductor layer, group-III nitride semiconductor light-emitting device and lamp thereof
WO2007105782A1 (ja) 3-5族窒化物半導体基板の製造方法
TW200405585A (en) Substrate for growing gallium nitride, method for preparing substrate for growing gallium nitride and method for preparing gallium nitride substrate
CN104022201A (zh) 晶片产品及包含其的氮化镓基半导体光元件
JP2007220865A (ja) 3族窒化物半導体発光素子およびその製造方法
TWI412069B (zh) 氮化物半導體基板及其製造方法
Zhao et al. Progress and prospects of GaN-based LEDs using nanostructures
CN107251196A (zh) 氮化物半导体模板及其制造方法、以及外延片
CN103959439B (zh) 半导体衬底以及形成方法
CN103531447A (zh) 一种降低氮化镓纳米线阵列晶体缺陷密度的方法
JP2006261659A (ja) 半導体発光素子の製造方法
CN106298450B (zh) 一种纳米级图形化蓝宝石衬底及其制备方法和应用
CN104576840A (zh) 在硅衬底上制备氮化镓led的方法
TW201243980A (en) Substrate carrier with multiple emissivity coefficients for thin film processing
CN107075729A (zh) 氮化物半导体模板的制造方法
TW201232658A (en) Method of fabricating patterned substrate
CN209561451U (zh) GaN基发光二极管外延片
US20150144964A1 (en) Silicon carbide epi-wafer and method of fabricating the same