TW201101344A - Positive temperature coefficient (PTC) thermistor component and manufacturing method thereof - Google Patents
Positive temperature coefficient (PTC) thermistor component and manufacturing method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- TW201101344A TW201101344A TW98121302A TW98121302A TW201101344A TW 201101344 A TW201101344 A TW 201101344A TW 98121302 A TW98121302 A TW 98121302A TW 98121302 A TW98121302 A TW 98121302A TW 201101344 A TW201101344 A TW 201101344A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- ptc
- aluminum
- temperature coefficient
- positive temperature
- barrier layer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Thermistors And Varistors (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Description
201101344 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種熱敏電阻元件及其製造方法,詳言 之,係關於一種正溫度係數熱敏電阻(PTC)元件及其製造 .方法。 【先前技術】 在習知技術中’正溫度係數熱敏電阻(PTC)元件為達到 歐姆接觸’ PTC元件(如PTC陶瓷)常電鍍一層約1〜5微米 (μιη)之鎳(Ni)層’且於Ni層之表面塗覆銀膠並燒結,以降 低Ni層的氧化。然而,因pTC元件在電鍍Ni層時會含有水 份,故進行燒結時會膨脹造成Ni層的龜裂,因而降低pTc 元件之良率。除此之外,當Ni層厚度大於2 μη1,Νί層與銀 膠之介面強度會大幅下降。 為解決上述習知技術之問題,除增加低溫烘烤以去除電 鍍時Ni層内含的水份外(參考美國專利第5,337,〇38號),另 -方式則是使用歐姆接觸之銀膠n PTC元件在長期 使用下易造成銀遷移,而使整體電阻增加。 為達到毆姆接觸且有效阻絕銀遷移 ’減少長期使用下因
造成本。
敏電阻元件及其製造方法, 【發明内容】 139181.doc 201101344 本發明提供一種正溫度係數熱敏電阻(pTC)元件包 括:一 PTC陶瓷、二鋁系阻絕層及二電極。該等鋁系阻絕 層係以濺鍍或蒸鍍方式形成於該PTC陶瓷之相對二側面。 該等電極分別形成於該等鋁系阻絕層之一表面。 本發明另提供一種正溫度係數熱敏電阻元件之製造方 法,包括以下步驟:(a)提供一 PTC陶瓷;(b)以濺鍍或蒸鍍 方式形成二鋁系阻絕層於該PTC陶瓷之相對二側面;及(c) 形成二電極於每一鋁系阻絕層之一表面。 Ο 本發明正溫度係數熱敏電阻(PTC)元件及其製造方法 中’係以濺鍍或蒸鍍方式形成該等鋁系阻絕層於該PTC陶 瓷之相對二侧面,該等鋁系阻絕層可阻絕銀遷移’以避免 導致該PTC元件損毀,且該等鋁系阻絕層與該PTC陶瓷及 該等電極間產生殿姆接觸’以避免電阻增加。 另外’該等鋁系阻絕層(純鋁或鋁合金(A1_Ti合金))價格 較Ni-Cr系列合金低,且該等鋁系阻絕層不僅阻絕銀遷移 Q 之效果與^^-心合金相當,並可有效節省該PTC元件之製作 成本。此外,Al-Ti合金之抗氧化性佳,可減少表面氧化 所造成的介面電阻。 ' 再者,本發明之該等鋁系阻絕層係採用濺鍍或蒸鍍方式 形成,除較電鍍環保外,過程令該PTC元件亦不含水份, 故該等鋁系阻絕層不會在該等電極(銀膠)燒附過程中產生 裂痕。 【實施方式】 圖1顯示本發明正溫度係數熱敏電阻(pTC)元件之示意 139181.doc 201101344 圖;圖2顯示本發明正溫度係數熱敏電阻元件之製造方法 流程圖。參考圖i,本發明之正溫度係數熱敏電阻(PTC)元 件1包括:一PTC陶瓷11、二鋁系阻絕層12及二電極13。 本發明該正溫度係數熱敏電阻元件1之該等鋁系阻絕層 12係以濺鍍或蒸鍍方式形成於該PTC陶瓷11之相對二側 面。該等電極13分別形成於該等鋁系阻絕層丨2之一表面。 較佳地,該等電極13係為銀電極。 Ο
該等銘系阻絕層12較佳之厚度為1〇〇至〗000奈米(nm), 而該等鋁系阻絕層12可為純鋁(A1)或鋁合金。在本實施例 中,該等鋁系阻絕層12係為鋁-鈦(A丨_Ti)合金,該鋁_鈦合 金中鈦之成份較佳係不大於5重量百分比(5 wt %)。其中, 該紹系阻絕層可以有效阻絕銀遷移。 再配合參考圖1及圖2,首先參考步驟S21,提供一 pTc 陶瓷11 ^在本實施例中,在步驟S21之前另包括一第一燒 結步驟’以燒結成形該PTC陶瓷丨j。 參考步驟S22,以濺鍍或蒸鍍方式形成二鋁系阻絕層 12(純結或紹合金(A1_Ti合金))於該PTC陶竞U之相對二側 面’其中在步驟S22中所形成該等紹系阻絕層 佳為100至l〇〇H 厚度較 參考步驟S23,形成二電極13於每一銘系阻絕層η之一 面’其中該等電極13係為銀電極。在本實施例t,步驟 S23係包括以下步驟:步 步 -紹系阻絕層〗2之表面. 纟覆導電膠(銀膠)於每 6層12之表面,及步驟S232,推仁也 驟’以製作完成本發明之正 一燒結步 正/皿度係數熱敏電阻元件】。其 13918i.doc 201101344 中’在步驟S232中該第二燒結步驟係於45〇至5〇〇。〇燒結4 至8分鐘。較佳地’該第二燒結步驟係於5〇(rc燒結6分 鐘。 兹以下列實例予以詳細說明本發明’唯並不意謂本發明 僅侷限於此實例所揭示之内容。 實例: 在本實例中,PTC陶瓷成形燒結後,利用濺鍍方式(或蒸 鍍方式)’形成二Al-Ti合金薄膜(Ti含量為1 wt.°/〇)於一 PTC 陶瓷之相對二側面。另外,形成二Ni-Cr合金薄膜於另一 PTC陶瓷之相對二側面,最後分別塗覆銀膠(作為銀電極) 於該Al-Ti合金薄膜上及該Ni-Cr合金薄膜上,並於50〇〇C燒 結6分鐘’以製作成PTC元件。其中,該等Al-Ti合金薄膜 及該Ni-Cr合金薄膜之厚度為300 nm。 比較不具阻絕層(僅具銀膠)、具有Al-Ti合金薄膜(鋁系 阻絕層)及具有Ni-Cr合金薄膜之PTC元件之電阻變化量, 其相應之電阻變化量如圖3之阻抗頻率響應圖所示。其 中,曲線L3 1表示不具阻絕層之PTC元件之電阻變化曲 線;曲線L32表示具有Al-Ti合金薄膜之PTC元件之電阻變 化曲線;曲線L33表示具有Ni-Cr合金薄膜之PTC元件之電 阻變化曲線。 比較曲線L31至L33可知,曲線L31代表的不具阻絕層之 PTC元件之電阻具有極大之變化量,即表示產生接觸電 阻;而曲線L32及L33代表的具有Al-Ti合金薄膜及具有Ni-Cr合金薄膜之PTC元件之電阻變化量極小,表示無接觸電 139181.doc 201101344 阻產生,故具有Al-Ti合金薄膜及具有Ni-Cr合金薄膜之 PTC元件性能相近,並無接觸電阻且皆具有較佳之歐姆接 觸功效。 在本實例中,完成之PTC元件除量測其阻抗頻率響應以 評估其接觸電阻外,並於電壓220V下經20秒達到高溫,電 壓關閉(switch off)後220秒内以吹風降至室溫,定義上述 該等步驟為1個循環(cycle);每隔200個循環,量測PTC元 件之電阻變化量。
Al-Ti合金 Ni-Cr 無阻.絕層 200 2.82% 2.62% 108.59% 400 5.94% 4.39% 226.51% 600 5.15% 4.30% 342.86% 800 5.61% 4.96% 407.95% 1000 5.21% 4.48% 587.01% 1200 4.69% 4.74% 1400 5.84% 5.63% 1600 6.10% 5.45% - 1800 4.89% 4.88% 表一顯示不具阻絕層(僅具銀膠)、具有Al-Ti合金薄膜 (鋁系阻絕層)及具有Ni-Cr合金薄膜之PTC元件之電阻老化 測試結果(即PTC元件之電阻變化量)。可得知Al-Ti合金薄 膜與PTC陶瓷及電極間之介面,以及Ni-Cr合金薄膜與PTC 陶瓷及電極間之介面,其電阻變化量極小,並且,Al-Ti 合金薄膜與Ni-Cr合金薄膜之差異極小,因此Al-Ti合金薄 139181.doc 201101344 膜可取代價格較高昂之Ni-Cr合金。 本發明正溫度係數熱敏電阻(PTC)元件1及其製造方法 中’係以濺鍍或蒸鍍方式形成該等鋁系阻絕層丨2於該PTC 陶曼11之相對二側面,該等鋁系阻絕層丨2可阻絕銀遷移, 以避免導致該PTC元件1損毀,且該等鋁系阻絕層12與該 PTC陶瓷1及該等電極13間產生毆姆接觸,以避免電阻增 加。 〇 另外’該等鋁系阻絕層12(純鋁或鋁合金(Al-Ti合金))價 格較Ni-Cr系列合金低,且該鋁系阻絕層不僅阻絕銀遷移 之效果與Ni-Cr合金相當’並可有效節省該PTc元件1之製 作成本。此外’ Al-Ti合金之抗氧化性佳,可減少表面氧 化所造成的介面電阻。 〇 再者’本發明之該等鋁系阻絕層12係採用濺鍍或蒸鍍方 式形成’除較電鍍環保外,過程中該PTC元件1亦不含水 份’故該等鋁系阻絕層12不會在該等電極13(銀膠)燒附過 程中產生裂痕。 上述實施例僅為說明本發明之原理及其功效,並非限制 本發明。因此習於此技術之人士對上述實施例進行修改及 變化仍不脫本發明之精神。本發明之權利範圍應如後述之 申請專利範圍所列。 【圖式簡單說明】 圖1顯示本發明正溫度係數熱敏電阻元件之示意 圖, 圖2顯示本發明正溫度係數熱敏電阻元件之製造方法流 139181.doc 201101344 程圖;及 圖3顯示不具阻絕層(僅具銀膠)、具有Al-Ti合金薄膜及 具有Ni-Cr合金薄膜之PTC元件之阻抗頻率響應圖。 【主要元件符號說明】 1 本發明之正溫度係數熱敏電阻元件 11 PTC陶瓷 12 鋁系阻絕層 13 〇 電極 〇 139181.doc
Claims (1)
- 201101344 七、申請專利範圍: 1. 一種正溫度係數熱敏電阻(PTC)元件,包括: 一 PTC陶瓷; 二紹系阻絕層,以濺鍍或蒸鍍方式形成於該PTC陶瓷 之相對二側面;及 二電極,分別形成於該等鋁系阻絕層之一表面。 2. 如請求項1之正溫度係數熱敏電阻元件,其中該鋁系阻 絕層係為純鋁。 ^ 3,如請求項1之正溫度係數熱敏電阻元件,其中該鋁系阻 絕層係為鋁合金。 4.如請求項3之正溫度係數熱敏電阻元件,其t該鋁合金 係為銘-欽合金。 5. 如請求項4之正溫度係數熱敏電阻元件,其中該等鋁系 阻絕層之厚度為100至1000奈米(nm)。 6. 如請求項4之正溫度係數熱敏電阻元件,其中該鋁-鈦合 金中鈦之成份係不大於5重量百分比(5 wt.°/〇) 〇 7. 如請求項1之正溫度係數熱敏電阻元件’其令該等電極 係為銀電極。 8. 種正溫度係數熱敏電阻元件之製造方法,包括以下步 驟: (a) 提供一PTC陶瓷; (b) 以殘鍍或蒸鍍方式形成二鋁系阻絕層於該PTC陶兗之 孝目對二側面;及 ()开>成—電極於每一結系阻絕層之一表面。 139181.doc 201101344 9·如嘴求項8之製造方法 -燒結步驟,以燒^ 步驟⑷之前另包括1 10如社七 成形該PTC陶竟。 累 H).如明求項8之製造方法, 聰100。奈米之該等紹= 步驟(b)中係形成厚度為 侧面。 系阻絕層於該PTC陶究之相對二 11. 0 如請求項8之製造方法,其中步驟⑷包括以下步概 (cl)塗覆導電膠於每—鋁系阻絕層之表面;及 (c2)進行一第二燒結步驟。 12.如請求項η之製造方法 係選用銀膠。 其中在步驟(cl)令之該導電膠 13. 如請求項丨〗之製造方法,其中在步驟(c2)中該第二燒結 步驟係於450至600°C燒結4至8分鐘。 ° 14. 如請求項13之製造方法,其中在步驟(c2)中該第二燒結 步驟係於500°C燒結6分鐘。139181.doc
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW98121302A TW201101344A (en) | 2009-06-25 | 2009-06-25 | Positive temperature coefficient (PTC) thermistor component and manufacturing method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW98121302A TW201101344A (en) | 2009-06-25 | 2009-06-25 | Positive temperature coefficient (PTC) thermistor component and manufacturing method thereof |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201101344A true TW201101344A (en) | 2011-01-01 |
Family
ID=44836993
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW98121302A TW201101344A (en) | 2009-06-25 | 2009-06-25 | Positive temperature coefficient (PTC) thermistor component and manufacturing method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TW201101344A (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019104707A1 (zh) * | 2017-12-01 | 2019-06-06 | 桑胜伟 | 一种热敏电阻铜电极复合层的制备方法 |
TWI684189B (zh) * | 2018-09-27 | 2020-02-01 | 聚鼎科技股份有限公司 | 正溫度係數元件 |
-
2009
- 2009-06-25 TW TW98121302A patent/TW201101344A/zh unknown
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019104707A1 (zh) * | 2017-12-01 | 2019-06-06 | 桑胜伟 | 一种热敏电阻铜电极复合层的制备方法 |
TWI684189B (zh) * | 2018-09-27 | 2020-02-01 | 聚鼎科技股份有限公司 | 正溫度係數元件 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9001495B2 (en) | High power and high energy electrodes using carbon nanotubes | |
TWI308348B (zh) | ||
TWI480384B (zh) | 用於製造過電流保護元件的正溫度係數材料組成及正溫度係數過電流保護元件 | |
WO2021000806A1 (zh) | 发热体及其制备方法、电子烟具 | |
TW201101920A (en) | Segmented electroluminescent device with resistive interconnect layers | |
TW201101344A (en) | Positive temperature coefficient (PTC) thermistor component and manufacturing method thereof | |
TW201250968A (en) | Semiconductor device apply to copper plating process | |
JP2019052348A (ja) | Pzt薄膜積層体の製造方法 | |
CN101399100A (zh) | 热敏电阻芯片及其制造方法 | |
TWI482870B (zh) | 電阻體材料、電阻薄膜形成用濺鍍靶、電阻薄膜、薄膜電阻器,以及製造方法 | |
JP2006269588A (ja) | 厚膜抵抗体ペースト、厚膜抵抗器およびその製造方法 | |
JP2021002517A (ja) | 厚膜アルミ電極ペースト組成物、及びその金属メッキ予処理によって作製されるチップ抵抗器 | |
TWM593657U (zh) | 薄膜電阻元件 | |
CN112992448A (zh) | 薄膜电阻元件 | |
JP2009076838A (ja) | サーミスターチップおよびその製造方法 | |
CN215815611U (zh) | 一种适用于mems继电器的银基多层膜复合金属电触头 | |
CN205508540U (zh) | 一种新型电阻 | |
WO2023190658A1 (ja) | 積層体、放熱基板および積層体の製造方法 | |
WO2019109808A1 (zh) | 高可靠的电动机起动/间歇运行电容器及电容器芯子 | |
JP3548586B2 (ja) | 正特性サーミスタ装置 | |
Cen et al. | Ti/NiCu/Ag and Al/NiCu/Ag thin film deposited on positive temperature coefficient (PTC) thermistor by direct current magnetron sputtering | |
US9831018B2 (en) | Electronic component | |
JPS5854481B2 (ja) | チタン系酸化物用電極の製造法 | |
JP3837838B2 (ja) | 正特性サーミスタ | |
JP2559524Y2 (ja) | 正特性サーミスタ装置 |