TW201035392A - Quartz glass crucible for pulling silicon single crystal and method for producing silicon single crystal - Google Patents

Quartz glass crucible for pulling silicon single crystal and method for producing silicon single crystal Download PDF

Info

Publication number
TW201035392A
TW201035392A TW099104108A TW99104108A TW201035392A TW 201035392 A TW201035392 A TW 201035392A TW 099104108 A TW099104108 A TW 099104108A TW 99104108 A TW99104108 A TW 99104108A TW 201035392 A TW201035392 A TW 201035392A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
quartz glass
crystallization
glass crucible
single crystal
layer
Prior art date
Application number
TW099104108A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaru Fujishiro
Fumio Takahashi
Fumihito Abe
Shinichi Nakajima
Shinobu Tsutsui
Original Assignee
Kuramoto Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kuramoto Co Ltd filed Critical Kuramoto Co Ltd
Publication of TW201035392A publication Critical patent/TW201035392A/zh

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/09Other methods of shaping glass by fusing powdered glass in a shaping mould
    • C03B19/095Other methods of shaping glass by fusing powdered glass in a shaping mould by centrifuging, e.g. arc discharge in rotating mould
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B20/00Processes specially adapted for the production of quartz or fused silica articles, not otherwise provided for
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/10Crucibles or containers for supporting the melt
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/02Elements
    • C30B29/06Silicon
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P40/00Technologies relating to the processing of minerals
    • Y02P40/50Glass production, e.g. reusing waste heat during processing or shaping
    • Y02P40/57Improving the yield, e-g- reduction of reject rates
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus
    • Y10T117/1024Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
    • Y10T117/1032Seed pulling

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Glass Melting And Manufacturing (AREA)

Description

201035392 * 六、發明說明: .. 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種使用在太陽電池或半.導體元件之 基板等所用的矽單結晶之製造的石英玻璃坤蜗、及使用= 石英玻璃掛瑪之石夕單結晶的製造方法。 【先前技術】 矽早結晶係藉由FZ ( Floating zone,浮域)法咬 (Czochralski,丘克拉斯基)法由多晶矽所製造者。特別 是,目前藉由CZ法所製造之矽單結晶係佔市場之7成γ 上。在該CZ方法中,將多晶矽投入石英破璃坩堝内,= 藉由加熱進行熔解,並利用種結晶拉升矽單結晶。 , 石英玻璃坩堝係作為與矽融液接觸之唯一的 為決定碎單結晶之良率或品f的重要構件。發單結 而 率會因以下原因而降低:由於⑪融液在高溫下與石良 掛堝產生反應而在界面散布地產生之φ2至巾 墙 結晶化物質(第4圖)會從石英玻璃襲的=的 :附著在彻晶端而多結晶化。因此,檢討一 玻璃襲之絲面全面㈣地結晶化的方法。種使石央 士例+如’在專利文獻1中,揭示有一種將高濃度之㈣ 布在石英破璃坩堝之内表面全面之肉 表面在使用前全面結晶化成厚結晶層的方法购之内 在專利文獻2中,揭示有一種利用上述專利 掛禍的石夕單結晶之拉升良率的提升方法。 獻1之 然而’在上述專利文獻卜2記載之方法中,必須進 321800 4 201035392 ' 行濃度相當高之鋇的塗布,而有因混入於石夕結晶成 .. 鋇而產生缺陷的疑虞。再者,在大口徑發妹Β 之 ^ '"°日日成長之情报 - 時’由於要求更嚴酷之熱環境,因此經厚結晶化 璃坩堝的劣化變得顯著。而且,由於使用高濃度央坡 此處理更為困難。 因 ο κ 在專利文獻3中,揭示有-種在石英坡璃㈣之内表 面1mm以内形成結晶化促進劑之塗布膜或固溶層,以提^ ㈣之耐久性的方法。在使用2a族元素化合物作為結.μ 促進劑時’係將該2a族元素化合物之溶液塗布在坩堝内 面,並使之乾燥而形成塗布膜。另一方面,在使用讣扩一 素化合物作為結晶化促進劑日夺,係藉由將摻雜有該补二几 素化合物之粉在熔融中予以散佈而形成固溶層。 矢 “然而,由於不諸何種方法,結晶化促進k濃度皆纪 ο ::=!會,英破_之内表面分_ 離而難以提⑲單結晶拉升之良率。 利文獻4中’揭示有以下技術内容:石英玻璃赶 ,表面的結晶化促進劑 高'= 掛瑪強度高、,可穩定地進行石夕單結晶之拉升Λ 使二:促二二:拉升中之石英玻璃_的強度, t曰曰 劑含有層增厚至1至2咖,⑽段性地堆精 成效率高。斬欠问之石央如’而難謂層之筇 此外,該方法係在結晶化促進劑之濃度低且如小口徑 石英玻璃㈣在低溫下使用時,結晶化速度慢,且產生在 321800 5 201035392 石英玻璃坩堝之内表面的結晶化物質會從内表面剝離,而 .* 難以穩定地提升矽單結晶拉升之良率。 (先前技術文獻) (專利文獻1)曰本特開平9_11〇590號公報 (專利文獻2)日本特開平9_11〇579號公報 (專利文獻3)日本特開平8_〇〇2932號公報 (專利文獻4)日本特開2007-001806號公報 【發明内容】 〇 (發明所欲解決之課題) π丄必心尤剛技術中,為了抑制散布地產生在 1英玻璃襲之内表面之φ 2至φ 6之大小的結晶化物質 (第4圖)之剝離时,而重視使内表 〇 f未針對結晶相過度之結晶化騎m玻==之 :表面剝離提出-種有效之解決對策。转,依據本發明 等=究,在石英麵料之内表面全面形成結晶層 =,存在於切單結晶拉升時之高溫下膨㈣石英玻璃掛 ::之氣體丄例如氧切、氣泡中之空氣、氣體之雜質等) 居而:ί:央玻璃掛堝之内表面全面均句地結晶化的結晶 路’因而結晶層之一部分會略微剝離 ,之氣體釋出孔進入結晶層與其下之_層(=】 透:層)方之:ΚΛ7圖、第8圖 ,右為了避免結晶層從石英_獅之内表 321800 6 201035392 ' 面剝離而使結晶化度降低時,將無法抑制散布地產生於石 , 英玻璃坩堝之内表面之Φ 2至φ 6之大小的結晶化物質之 -- 剝離落下。 本發明者係鑑於上述情事而研創者,其課題在於提供 一種石英玻璃坩堝及使用該石英玻璃坩堝之矽單結晶的製 造方法,其不會發生散布地產生於内表面之結晶化物質的 剝離落下,且不會有如在將結晶層形成在内表面全面時結 晶層之一部分略微剝離而形成氣體釋出孔之情事,熔解矽 ^ 亦不會從因略微剝離而產生之氣體釋出孔進入結晶層與其 下之玻璃層之間,藉此可獲得高的良率。/ (解決課題之手段) 為了要解決上述課題,本發明之特徵係如'下所述。 第1 :一種石英玻璃坩堝,係矽單結晶拉升用之石英 玻璃掛禍,在内表面具有結晶化促進劑含有層,在進行石夕 .單結晶的拉升時,藉由結晶化促進劑在内表面形成有斑狀 ❹之結晶化區域。 第2 :如上述第1項之石英玻璃坩堝,其中,斑狀之 結晶化區域係在進行碎早結晶的拉升時‘,在石英玻璃掛塌 之内表面散布地產生的結晶化物質所連續地結合而形成 者。 第3:如上述第1項或第2項之石英玻璃坩堝,其中, 斑狀之結晶化區域係包含:具有實質上周緣部關閉而獨立 之形狀,且該形狀之面積在10至100mm2之範圍的單位區 域。 7 321800 201035392 - 第4 :如上述第3項之石英玻璃坩堝,其中,斑狀之 結晶化區域之單位區域中的至少一部分復連續地結合有單 > 位區域彼此’而斑狀之結晶化區域之全面積係佔石英玻璃 坩堝之内表面的30至80%。 第5 :如上述第4項之石英玻璃坩堝,其中,在斑狀 之結晶化區域,於進行矽單結晶的拉升時不產生10至100 "m之微小孔。 第6:如上述第1項至第5項中任一項之石英玻璃坩 〇 堝,其中,結晶化促進劑係從鎂、鰓、鈣及鋇中選出之2a 族元素之至少一種。 第7:如上述第1項至第6項中任一項之石英玻璃坩 堝,其中,結晶化促進劑係為鋇,而結晶化促進劑含有層 係藉由將塗覆有鋇之高純度二氧化石夕粉供給至石英玻璃掛 堝之内表面,並使之熔融而形成者。 第8 :如上述第7項之石英玻璃坩堝,其中,結晶化 ❹促進劑含有層之厚度係為30至200//m。 第9:如上述第7項或第8項之石英玻璃坩堝,其中, 結晶化促進劑含有層之鋇濃度係為100至200ppm。 第10:如上述第7項至第9項中任一項之石英玻璃掛 堝,其中,結晶化促進劑含有層之鋇濃度係為130至 170ppm 〇 第11: 一種矽單結晶的製造方法,係利用上述第1 項至第.10項中任一項之石英玻璃坩堝者,該矽單結晶之製 造方法包含:將多晶矽投入石英玻璃坩堝内之步驟;將多 8 321800 201035392 ' 晶矽予以加熱熔解而成為矽融液之步驟;及利用種結晶從 .. 石英玻璃堆塌内之石夕融液拉升石夕單結晶之步驟。 : (發明之效果) 依據本發明,在進行矽單結晶拉升時,在石英破璃坩 堝之内表面不會形成散布地產生的結晶化物質,而形成有 結晶化物質所連績地結合之斑狀的結晶化區域。如此,藉 由形成斑狀的結晶化區域,而抑制散布地產生於該石英玻 璃坩堝之内表面之結晶化物質的剝離。特別是,由於在石 英玻璃坩堝之内表面的深度方向具有結晶化促進劑,因此 斑狀的結晶化區域之結晶化係在内表面之深度方向進行。 因此,可大幅地抑制散布地產生於該内表面之結晶化物質 的剝離。 再者,在進行矽單結晶拉升時,存在於石英玻璃坩堝 内之氣體會從石英玻璃坩堝之内表面之斑狀的結晶化區域 以外之區域釋出。因此,不會因斑狀的結晶化區域之結晶 〇層略微剝離而形成氣體釋出孔,且熔解矽不會進入斑狀的 結晶化區域之結晶層與其下之玻璃層之間。因此,不會發 生斑狀的結晶化區域之結晶層的剝離。 如此,本發明之石英玻璃坩堝,不會如習知發生散布 地產生於内表面之結晶化物質的落下,且不會如在内表面 全面形成結晶層之情形時結晶層之一部分略微剝離而形成 氣體釋出孔,熔解矽亦不會從因略微剝離而產生之氣體釋 出孔進入結晶層與其下之玻璃層之間。因此,可提供一種 良率極高之矽單結晶拉升用石英玻璃坩堝。 9 321800 201035392 • 【實施方式】 . 以下,詳細說明本發明。 · 第1圖係概略性顯示本發明之矽單結晶拉升用石英玻 璃坩堝之—實施形態的剖面圖。如第1圖所示,本發明之 石英玻螭坩堝丨係在内表面具有結晶化促進劑含有層4。 在本發明中含有在結晶化促進劑含有層之結晶化促 進劑係在進行⑦單結晶拉升時,石英玻璃掛瑪之内表面會 與高溫之矽融液產生反應,而助長結晶化物質,在其界面產 〇生者’就其具祕而言’可列舉2a族元素之H轉及 鋇等。該等元素可單獨使用—種,亦可併用二種以上。 由於該等結晶化促進劑中之鋇的偏析(segregation) 係數小,因此具有在進行石夕單結晶拉升時難以導入石夕單处 晶之優異特性,在本發明中特別以使用鋇作為結晶化促進 劑為佳。 〇 而且,在本發明中之特徵點為,在進行石夕單結晶拉升 日將斑_結晶倾_成在内表面。 在此’參照弟2圖之示音·总银2 的結晶化區域。在第2圖及;=3=說明斑狀 的結晶化區域。 及43圖中,4符號5係斑狀 該斑狀的結晶倾域係在進㈣單結晶拉升時,散 '而开石Sr:瑪之内表面的結晶化Μ連續地結合 質皆明顯之不、同 與f知之散布地產生之結Ml 亦即,散布地產生之結晶化物質係如第4圖所示,以 321800 10 201035392 ' φ 2至φ 6之圓形狀者為代表,與本發明中之斑狀的結晶 .. 化區域相比較,形狀及大小係在一定之範圍且被認為有一 -- 定之秩序。此外,散布地產生之結晶化物質係以面積未達 10mm2者佔多數。 相對於此’本發明中之斑狀的結晶化區域係具有整體 不定形且不均勻之外觀。如第2圖之示意性所示,斑狀的 結晶化區域5係包含:具有實質上周緣部關閉而獨立之形 狀之例示為以圖中虛線惰圓所包圍者的單位區域5a。 f% u (斑狀的結晶化區域雖係如第3圖之照片所示者為不定 形且不均勻者,且如第2圖之一例所示,亦包含經由細部 分連續形成有單位區域5ai、單位區域5a2、單位區域5a3、 等複數個單位區域5a者,惟在視覺上之方便,單位區域 5a係可掌握為可辨識成實質上周緣部關閉而獨立之形狀 者。 . 、 該單位區域係在進行矽單結晶拉升時,高溫之矽融液 ◎與石英玻璃坩堝之内表面產生反應,在其界面產生之結晶 化物質藉由含有在石英玻璃坩堝之内表面的結晶化促進劑 之作用而連續地結合者。亦即,連續地結合上述φ 2至φ 6之圓形狀的結晶化物質並予以放大者,且為明顯地比該 結晶化物質之尺寸大者。就單位區域之典型者而言,包含 其面積在10至1 〇〇mm2之範圍者。此外,單位區域亦存在 具有超過l〇〇mm2之面積者。 藉由連續地使石英玻璃坩堝之内表面的結晶化物質 結合而形成不均勻之斑狀的結晶化區域,並且使結晶化促 11 321800 201035392 -進劑含有在石英玻璃掛塥之内表面的深度方向,石英麵 ,‘ 襲之内表面的結晶化即會在深度方向進行,而可抑制產 :生在内表面之結晶化物質的剥離。此外,在石英玻璃堆瑪 之内表面形成不均句之斑狀的結晶化區域,係為了在進行 石夕翠結晶拉升時’可藉由第2圖之斑狀的結.晶化區域以外 之區域使存在於石英玻璃㈣内之氣體釋出,並且防止 斑狀的結晶化區域之結晶層從石英玻璃獅内表面剝離。 料,在本發明之較佳態樣巾,斑狀的結晶化區域之 〇單位區域中之至少.-部分係如第2圖之單位區域%、單 位區域5 a 2、單位區域5 a 3 f所例示,單位區域彼此係進— 步連續地結合,且斑狀的結晶化區域之全面積係佔石英玻 璃坩=之内表面的30至80%,較佳為3〇至7〇%。 右斑狀的結晶化區域之全面積未達石英玻璃坩堝之 内表面之30%,在進行石夕單結晶拉升時,會有φ 2至φ 6 之圓形狀的結晶化物質存在於多數内表面,且其剝離頻 Q繁’石夕單結晶拉升之良率降低的情形。 另一方面’若斑狀的結晶化區域之結晶化區域的全面 =超過;δ央玻璃_之内表面的,在進行砍單結晶拉 ,會有無法使存在於石英玻璃坩堝内且在高溫下膨脹 體充》地釋出的情形。此時,該氣體會使結晶層略微 .6而產生氣體釋出孔,該氣體即由氣體釋出孔釋出(第 此Β夺’由本發明人等確認出在結晶層會產生多數之 f之微小的氣體釋出孔(第5圖)。 著彳又入於石英破螭坩堝内之經加熱溶解之熔融矽 12 321800 201035392 •係從該數10// m之微小的氣體釋出孔流入位於結晶層下之 石英玻璃坩堝之玻璃層(透明層或其外周部之不透明層) , (第7圖),玻璃層係藉由高溫之熔融矽而熔解,熔融矽會 進入結晶層與玻璃層之間,而結晶層係從石英玻璃坩堝剝 離(第8圖)。 在本發明之較佳態樣中,結晶化促進劑係為鋇,結晶 化促進劑含有層係藉由將塗布有鋇之高純度二氧化矽粉供 給至石英玻璃坩堝之内表面,並使之熔融而形成者。如以 ^ 上方式形成之結晶化促進劑含有層之厚度較佳為30·至200 # m。藉由使其在上述之厚度的範圍含有鋇,使結晶化在 石英玻璃坩堝之内表面的深度方向進行,即可抑制產生在 内表面之結晶化物質的剝離。 在以從内表面算起使結晶促進劑含有未達30 m 時,與塗布在内表面之情形同樣地,若不使結晶化促進劑 含有高濃度,即不能促進結晶化,且產生在内表面之結晶 ❹化物質會剝離。 此外,在以從内表面算起使結晶促進劑含有200 /z m 以上時,結晶化會進行,而石英玻璃坩堝内表面之全面會 結晶化,而無法獲得不均勻之斑狀區域。亦即,結晶層會 從石英玻璃坩堝之内表面剝離。 此外,上述結晶化促進劑含有層之鋇濃度較佳為100 至 200ppm,更佳為 130 至 170ppm。 鋇濃度未達1 OOppm時,由於作為結晶化促進劑之鋇 濃度低,因而不會促進結晶化,而有產生在石英玻璃坩堝 13 321800 201035392 , 之内表面的結晶化物質之剝離發生的情形。 當鋇濃度超過200ppm時,結晶化會過度進行,石英 »* . 玻璃坩堝之内表面全面會結晶化,而無法獲得斑狀的結晶 化區域。’因此,會有結晶層從石英玻璃坩堝之内表面剝離 之情形。 另一方面,藉由將結晶化促進劑含有層之鋇濃度設定 為130至170ppm,即可確實將石英玻璃坩堝之内表面的 30至80%之區域作成為斑狀的結晶化區域。亦即,矽單結 〇晶拉升時之條件中之施加於石英玻璃坩堝的熱量係因石英. 玻璃坩堝之口徑等而異。此外,石英玻璃坩堝之内表面之 斑狀的結晶化區域之狀態係受到施加於石英玻璃坩堝之熱 量所影響,因此為了不依存矽單結晶拉升時之條件而確實 地使内表面之30至80%之區域成為不均句之斑狀態,必 須以130至170ppm之濃度使鋇分佈在結晶化促進劑結晶 化促進劑含有層。例如石英玻璃坩堝之口徑尺寸為16吋 ^ 時,可在鋇濃度130至200ppm之範圍確實地將斑狀之結 晶化區域形成在内表面之30至80%。另一方面,石英玻 璃坩堝之口徑尺寸為24吋時,可在鋇濃度100至170ppm 之範圍確實地將斑狀之結晶化區域形成在内表面之30至 80% 〇 利用以上說明之本發明之石英玻璃坩堝,藉由例如習 知之一般條件,即可製造作為適於太陽電池或半導體之元 件使用之屬於石夕基板之根本的石夕單結晶鑄塊(ingot)。亦 即,使用該石英玻璃坩堝之矽單結晶鑄塊之一般製造方法 14 321800 201035392 ' 係將必要量之客曰 夕aa珍填充在石英玻璃蚶堝,並將矽單結晶 拉升裝置内置拖士、& ^ 。 尾佚战虱氣體,藉由黑鉛(graphite)發熱體加熱 至M2〇C以上之l5〇〇°C至1600°C,以熔解多晶矽。接著, 緩緩地降低溫度並進行將融液表面之溫度降至142〇^等 至8匪角柱狀)浸漬在融液,以 $_結晶之表面。為了核存在於種結晶中之位移及植 日日N·因熱震而新產生之位移等’以比較快之拉升速度㈠ 〇至5mm/min)形成直徑3至5mm、長度1〇〇至3〇〇mm之 細長的頸部。將石英玻璃坩堝内融液上面附近之溫度降 低’並且使拉升速度變慢至〇1至〇 5mm/min,從細直徑 之頸部至預定之直徑.的定徑部,形成短時間且急劇增徑之 肩部。調整溫度及拉升速度,進行定徑部之育成,以使結 晶直徑成為一定。成為預定長度後使溫度略微降低,且增 加拉升速度而使結晶變細,使直徑從定徑部逐漸地減少, 形成將直徑設為零之尾部,在矽單結晶鑄塊從融液分離 〇後,元成拉升製造作業,而能以高良率製造石夕單結晶。 (實施例) 以下,利用實施例更詳細地說明本發明,但本發明並 非由該等實施例所限定者。 <實施例> 在將天然石英粉投人至旋轉之_(_d)後,對黑錯 電極施加電壓,而藉由流通有電流之電⑯熱,從塑模内 面形成石英玻璃掛禍之不透明層。接著,將天然石英粉缓 慢地散佈供給至電弧火焰中,以形成透明層。然後,連續 321800 15 201035392 • 地缓慢地散佈供給藉由將含有屬於本發明之結晶化促進劑 之鋇的溶液塗布在天然石英粉所獲得之塗布有鋇之天然石 * * , 英粉,以形成結晶化促進劑含有層並結束熔融。之後,藉 由公知之步驟,如第1圖所示製作石英玻璃坩堝,該石英 玻璃坩堝係在外周部具有石英玻璃之不透明層2,在其内 側具有石英玻璃之透明層3,且在其内側具有結晶化促進 劑含有層4。 此外,分別以下述條件製作石英玻璃坩堝:將結晶化 〇 促進劑含有層之厚度在30至200//m之範圍内分成三階 段、將結晶化促進劑含有層之鋇濃度在100至200ppm之 範圍内分成四階段、石英玻璃坩堝口徑尺寸為16吋及24 口寸〇 利用以上述方式所得之口徑尺寸分別為16吋及24吋 之石英玻璃坩堝,進行矽單結晶之拉升後的結果,在拉升 時在内表面形成有斑狀之結晶化區域。如第2圖所示,斑 Q 狀之結晶化區域係整體具有不定形且不均勻之外觀,且在 其單位區域包含有面積在10至100mm2之範圍者。itb外, 斑狀之結晶化區域的單位區域中之至少一部分係復連續地 結合有單位區域彼此,而斑狀之結晶化區域的全面積係佔 石英坩堝之内表面的30至80%。 本實施例之石英玻璃坩堝皆係抑制產生在内表面之 結晶化物質的剝離,結晶層不會因氣體釋出孔之產生而從 石英玻璃坩堝内表面剝離,而達成75%以上之高單結晶化 良率。將結果顯示在表1。 16 321800 201035392 <比較例> 在上述貫施例中’將結晶化促進劑含有層之厚产設為 -:l〇#m或220/zm,將結晶化促進劑含有層之鋇濃度設為 Oppm、70ppm或230ppm,除此之外,與實施例同樣地, 製作口徑尺寸為16吋及24吋之石英玻璃坩堝。利用該等 石英玻璃坩堝,進行矽單結晶之拉升。將結果顯示在表L。 當結晶化促進劑含有層之厚度為未達之 m時,在石英玻璃坩堝之内表面生成有多數個在未含有結 Θ 晶化促進劑時產生之Φ 2至φ 6之大小的結晶化物質,且 該結晶化物質會從石英玻璃坩堝内表面剝離。因此,無法 使單結晶拉升良率提升。 當結晶化促進劑含有層之厚度為超過200//m之220 em時,石英玻璃坩堝之内表面之超過80%的大致全面會 結晶化,且在結晶層表面確認出多數個屬於數l〇ym之小 孔的氣體釋出孔,且熔解矽會從該氣體釋出孔進入結晶層 〇與不透明層之間(第7圖)。因此,無法使單結晶拉升良率 提升。 此外,在石英玻璃坩堝之口徑尺寸為16吋且結晶化 促進劑含有層之鋇濃度未達130ppm時、及石英玻璃坩堝 之口徑尺寸為24吋且鋇濃度未達l〇〇ppm時,在石英玻璃 坩堝之内表面生成有多數個在未含有結晶化促進劑時產生 之Φ 2至φ 6之大小的結晶化物質,且該結晶化物質會從 石英玻璃坩堝内表面剝離。因此,無法使單結晶拉升良率 提升。 17 321800 201035392 • 在石英玻璃坩堝之口徑尺寸為16吋且結晶化促進劑 含有層之鋇濃度超過200ppm時、及石英玻璃坩堝之口徑 . 尺寸為24对且鋇濃度超過170ppm時,石英玻璃掛塌之内 表面之超過80%的大致全面會結晶化,且在結晶層表面確 認出多數個屬於數10//m之小孔的氣體釋出孔,且熔解矽 會從該氣體釋出孔進入結晶層與不透明層之間(第7圖)。 因此,無法使單結晶拉升良率提升。 [表1] 結晶化促進劑(鋇)濃度(ppm) 0 70 100 130 170 200 230 16吋 結晶化促進劑含有層 厚度 10 Δ A:a — △ :a — △ :b 一 30 — △ :a 〇:b 〇:b 〇:b 〇:b 100 △ :a △ :b 〇:b 〇:b 〇:b 〇:c 200 — 〇:b 〇:b 〇:b 〇:b X:c 220 〇:b - 〇:b — X:c - 24吋 结晶化促進劑含有層 厚度(//m) 10 Δ △ :a 一 △ :a 一 △ :b 一 30 一 〇:b 0:b 0:b 〇:b — 100 △ :a 〇:b 〇:b 〇:b 〇:c x:c 200 - 〇:b 0:b 0:b X:c 一 220 〇:b — 〇:b 一 — - 〇:無結晶層剝離及單結晶化良率為75%以上 △:無結晶層剝離及單結晶化良率未達75% X :確認出氣體釋出孔(第4圖、第5圖)或有一部分結 晶層剝離。單結晶化良率未達75%。 内表面之結晶化區域面積:a · 0%至未達30%,b · 30% 以上至未達80%,c · 80%以上。 【圖式簡單說明】 第1圖係概略性顯示本發明之矽單結晶拉升用石英玻 璃坩堝之一實施形態的剖面圖。 18 321800 201035392 第2圖係示意性顯示 • 玻璃坩堝之内表面的圖。 第3圖係利用實施例 拉升後之形成有斑狀之結 面的照片。 形成有斑狀之結晶化區域的石英 之石英玻璃坩堝進行矽單結晶的 晶化區域的石英玻璃坩堝之内表 第4圖係產生在比較例之石英玻璃掛禍之内表面之 Φ2至φ6之大小的結晶化物質之照片。 產生在比較例之石英玻璃坩堝之内表面的結 a曰層表面之數l0/z m的氣體釋出孔之照片。 曰屉產生在比較例之石英破璃掛堝之内表面的結 ㈣的氣體之電子顯微鏡照片。 糸產生在比較例之石英破璃掛瑪之約 Π)二的氣體釋出孔流入結晶層下之狀態的照片。 社曰生在比較例之石英破璃掛堝之溶解矽進入 …曰層與石域狀不透㈣之間且結晶層從石英玻璃之 〇不透明層剝離之狀態的照片。 【主要元件符號說明】 1 石英玻璃坩堝 2 石英破璃之不透明層 3 石英玻璃之透明層 4 Ί.日日化促進劑含有層 5 斑狀之結晶化區域 5a > %、5a2、5a3單位區域 6 氣體釋出孔 7 矽 8 結晶層表面 9 結晶層 10 矽 11 石英破璃之不透明層 12 斑狀之結晶化區域以外的區域 321800 19

Claims (1)

  1. 201035392 • 七、申請專利範圍: 1. 一種石英玻璃坩堝,係矽單結晶拉升用之石英玻璃坩 » 堝,在内表面具有結晶化促進劑含有層,在進行矽單結 •t 晶的拉升時,藉由結晶化促進劑在内表面形成有斑狀之 結晶化區域。 2. 如申請專利範圍第1項之石英玻璃坩堝,其中,斑狀之 結晶化區域係在進行矽單結晶的拉升時,散布地產生在 石英玻璃坩堝之内表面的結晶化物質所連續地結合而 〇 形成者。 3. 如申請專利範圍第1項或第2項之石英玻璃坩堝,其 中,斑狀之結晶化區域係包含:具有實質上周緣部關閉 而獨立之形狀,且該形狀之面積在10至l〇〇mm2之範 圍的/單位區域。 4. 如申請專利範圍第3項之石英玻璃坩堝,其中,斑狀之 結晶化區域之單位區域中的至少一部分復連續地結合 ^ 有單位區域彼此,而斑狀之結晶化區域之全面積係佔石 英玻璃坩堝之内表面的30至80%。 5. 如申請專利範圍第4項之石英玻璃坩堝,其中,在斑狀 之結晶化區域,於進行矽單結晶的拉升時不產生10至 100 // m之微小孔。 6. 如申請專利範圍第1項至第5項中任一項之石英玻璃坩 堝,其中,結晶化促進劑係從鎂、勰、鈣及鋇中選出之 2a族元素之至少一種。 7. 如申請專利範圍第1項至第6項中任一項之石英玻璃坩 20 321800 201035392 ' 堝,其中,結晶化促進劑係為鋇,而結晶化促進劑含有 層係藉由將塗覆有鋇之高純度二氧化矽粉供給至石英 , 玻璃坩堝之内表面,並使之熔融而形成者。 8. 如申請專利範圍第7項之石英玻璃坩堝,其中,結晶化 促進劑含有層之厚度係為30至200//m。 9. 如申請專利範圍第7項或第8項之石英玻璃坩堝,其 中,結晶化促進劑含有層之鋇濃度係為100至200ppm。 10. 如申請專利範圍第7項至第9項中任一項之石英玻璃坩 堝,其中,結晶化促進劑含有層之鋇濃度係為130至 170ppm ° 11. 一種矽單結晶的製造方法,係利用申請專利範圍第1項 至第10項中任一項之石英玻璃坩堝者,該矽單結晶之 製造方法包含:將多晶矽投入石英玻璃坩堝内之步驟; 將多晶矽予以加熱熔解而成為矽融液之步驟;及利用種 結晶從石英玻璃坩堝内之矽融液拉升矽單結晶之步驟。 21 321800
TW099104108A 2009-02-10 2010-02-10 Quartz glass crucible for pulling silicon single crystal and method for producing silicon single crystal TW201035392A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009028444A JP4866924B2 (ja) 2009-02-10 2009-02-10 シリコン単結晶引き上げ用の石英ガラスルツボおよびシリコン単結晶の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201035392A true TW201035392A (en) 2010-10-01

Family

ID=42561797

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW099104108A TW201035392A (en) 2009-02-10 2010-02-10 Quartz glass crucible for pulling silicon single crystal and method for producing silicon single crystal

Country Status (8)

Country Link
US (1) US20120006254A1 (zh)
EP (1) EP2397582A1 (zh)
JP (1) JP4866924B2 (zh)
KR (1) KR20120013300A (zh)
CN (1) CN102317511A (zh)
SG (1) SG173618A1 (zh)
TW (1) TW201035392A (zh)
WO (1) WO2010092955A1 (zh)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5610570B2 (ja) * 2010-07-20 2014-10-22 株式会社Sumco シリカガラスルツボ、シリコンインゴットの製造方法
CN102453956B (zh) * 2010-10-27 2016-03-23 杭州先进石英材料有限公司 一种石英玻璃坩埚及其制备方法
JP5509188B2 (ja) * 2011-12-26 2014-06-04 ジルトロニック アクチエンゲゼルシャフト 単結晶シリコンの製造方法
JP5509189B2 (ja) 2011-12-26 2014-06-04 ジルトロニック アクチエンゲゼルシャフト 単結晶シリコンの製造方法
KR101680215B1 (ko) * 2015-01-07 2016-11-28 주식회사 엘지실트론 실리콘 단결정 잉곳 제조 방법 및 그 제조방법에 의해 제조된 실리콘 단결정 잉곳
KR101829291B1 (ko) * 2016-08-05 2018-02-19 에스케이실트론 주식회사 도가니 및 이를 포함하는 단결정 성장 장치
JP6773121B2 (ja) * 2016-09-23 2020-10-21 株式会社Sumco 石英ガラスルツボ及びその製造方法並びに石英ガラスルツボを用いたシリコン単結晶の製造方法
TWI651283B (zh) * 2017-04-28 2019-02-21 友達晶材股份有限公司 坩堝結構及其製作方法與矽晶結構及其製作方法
DE102020000701A1 (de) * 2020-02-03 2021-08-05 Siltronic Ag Quarzglastiegel zur Herstellung von Siliciumkristallen und Verfahren zur Herstellung von Quarzglastiegel
CN115142121B (zh) * 2021-03-31 2023-06-20 晶科能源股份有限公司 提高复投单晶硅成晶率的方法及单晶硅制备装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6641663B2 (en) * 2001-12-12 2003-11-04 Heracus Shin-Estu America Silica crucible with inner layer crystallizer and method
JP2003095678A (ja) * 2001-07-16 2003-04-03 Heraeus Shin-Etsu America シリコン単結晶製造用ドープ石英ガラスルツボ及びその製造方法
JP2005145731A (ja) * 2003-11-12 2005-06-09 Kuramoto Seisakusho Co Ltd 結晶化石英ルツボ
JP2006021985A (ja) * 2004-06-10 2006-01-26 Kuramoto Seisakusho Co Ltd 石英ルツボ

Also Published As

Publication number Publication date
EP2397582A1 (en) 2011-12-21
JP4866924B2 (ja) 2012-02-01
US20120006254A1 (en) 2012-01-12
SG173618A1 (en) 2011-09-29
KR20120013300A (ko) 2012-02-14
CN102317511A (zh) 2012-01-11
JP2010184819A (ja) 2010-08-26
WO2010092955A1 (ja) 2010-08-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201035392A (en) Quartz glass crucible for pulling silicon single crystal and method for producing silicon single crystal
JP5909276B2 (ja) 最初のチャージだけをドーピングすることによる、均一にドーピングされたシリコンインゴットの成長
JP5007126B2 (ja) 多結晶シリコンインゴットの製造方法
JP4995069B2 (ja) 内面結晶化ルツボおよび該ルツボを用いた引上げ方法
TW201012986A (en) Systems and methods for growing monocrystalline silicon ingots by directional solidification
TW200909619A (en) Methods and apparatuses for manufacturing cast silicon from seed crystals
TW201026915A (en) Methods for preparing a melt of silicon powder for silicon crystal growth
TW201139763A (en) High throughput recrystallization of semiconducting materials
TWI266815B (en) Method for growing silicon single crystal and method for manufacturing silicon wafer
TW201247948A (en) Method of fabricating crystalline silicon ingot
TW200844272A (en) Single crystal pulling apparatus
TW200811319A (en) Method for melting semiconductor wafer raw material and crystal growing method for semiconductor wafer
TW201128002A (de) Verfahren zum ziehen eines einkristalls aus silicium aus einer in einem tiegel enthaltenen schmelze und dadurch hergestellter einkristall
TWI324642B (zh)
JP6719718B2 (ja) Siインゴット結晶の製造方法及びその製造装置
TW200902774A (en) Method for manufacturing silicon single crystal
JP2011157239A (ja) シリコン単結晶の製造方法およびシリコン単結晶のインゴット
JP4726138B2 (ja) 石英ガラスルツボ
TW201000688A (en) Method for growing single crystal and apparatus for pulling up single crystal
WO2004084308A1 (ja) Soiウェーハ及びその製造方法
TW498114B (en) Method for manufacturing silicon single crystals and wafers adapted for producing semiconductors
JPH03115188A (ja) 単結晶製造方法
WO2016017055A1 (ja) 単結晶シリコン引き上げ用石英ガラスるつぼ及びその製造方法
WO2002014587A1 (fr) Creuset en quartz et procede de fabrication d'un monocristal
TWI338728B (zh)