TW200848757A - Testing apparatus, system, and method for testing at least one device with a connection interface - Google Patents

Description

200848757 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種用於測試具有一連接介面之至少一裝置之測 試設備、系統及方法；更具體而言，本發明係關於一種藉由感測 一過電流而測試具有一連接介面之至少一裝置之測試設備、系統 及方法。 【先前技術】 使用通用序列匯流排（universal serial bus ; USB )連接介面或 IEEE 13 94連接介面之裝置’其容量及功用不斷改良之同時，價格 亦曰趨合理。具有前述介面之裝置非常普遍，例如快閃記憶卡讀 卡器、USB快閃記憶體驅動器（USB flash drives ; UFDs )以及可 攜式硬碟。這些裝置皆可適用於電腦之USB連接埠。 而具有連接介面之各種裝置於製造後都必須加以測試，以控制 產品之品質。這些測試包含了斷路測試、短路測試以及功能測試， 其中功旎測试更進一步包含了寫入測試、讀取測試、自檢測 (self-test)、碼設定或是韌體更新。 一種用於測試具有連接介面之各種裝置的習知方法及測試系統 係利用亦具有連接介面之主機（例如電腦），連接至欲測試的裝 置，進而進行所有測試。該等連接介面可為USB連接介面及/或 IEEE 1394連接介面。在理想的測試條件之下，應執行斷路/短路 (過電流故障）測試及功能測試，以測試具有一 USB或ieee 1394 連接介面之裝置。然而，若需要同時執行斷路/短路及功能測試， 5 200848757 則需要-測試機器用以進行斷路/短路測試，並需要利用另一測試 機器來進行功能測試。而前述利用二測試機器來進行具有連接介 面之I置的測試將會非常耗時。因此，在傳統測試方法中，通常 會令略斷路/短路測試。而更由於在傳統測試方法中需要同時測試 所有被測裝置，因此被省略之斷路/短路測試（亦稱為過電流轉 測試）將致使整個職线停機並停止測試其它制I置。因而， 當至少-被賴裝置出現過電流故障時，將無法完朗試過程。 Γ —種用於測試具有—連接介面之裝置之習知測試系統丨如第1 圖所不。該連接介面係為USB連接介面或IEEE 1394連接介面等 等。主機11同時連接至複數個被測裝置1〇1、1〇2、1〇3、...、1%， 以便可透㈣連接介面而顺料被測裝置。由於主機11只能提 供從A至Z之磁碟字母，故主機}!所能同時測試之被測裝置不能 超過26個。此外，於測試系統！之傳統測試方法中，因同時測= 所有裝置，故無法隔離未通過測試之測試裴置。 因此，發明一種可測試具有連接介面之裝置且具有成本效益、 不會因裝置故障而中斷之測試系統甚為重要。 【發明内容】 本發明之一目的係提供一種用於使一測試設備測試具有一連接 介面之至少一裝置之方法。該測試設備包含一微處理器及至少_ 限流模組。該至少一限流模組係電性連接至該微處理器，同時該 至少一限流模組提供一電壓給至少一裝置。當流過至少一裝置之 一電流大於一預定值時，該至少一限流模組停止提供該電壓給至 200848757 少一l置，並發送一過電流訊號至該微處理器。 本發明之另一目的係提供一 一裝置之系統 種用於測試具有一連接介面之至少 包含一主機、一測試設備及一電源供應器。該主 機發送-測試訊號。該㈣設備係電性連接至該主機，並於接收 到該測試訊號後提供-電壓給至少—裝置。該電源供㈣係用以 提供一電壓至該測試設備。當流過至少—裝置之—電流大於一預 定值時試設備停止提供該電i給至少u，並發送一過

/ i 電流訊號至該主機。 本發明之再一目的係提供一種用於測試具有一連接介面之至少 -裝置之方法。該方法包含：發送_測試訊號；接收該測試訊號 後，提供一電壓給該至少一裝置；判斷流過該至少一裝置之一電 流疋否大於一預定值；若是，則停止提供該電壓給該至少一裝置； 以及發送一過電流訊號。 而若判斷出流過該至少一裝置之電流不大於該預定值，則該方 法更包3下列步驟：更新該至少一裝置之一韌體；以及對該至少 一裝置進行一讀/寫測試。 藉由上述配置，本發明能夠提供一種用於測試具有連接介面之 衣置之利。式δ又備及系統，其具有相當地成本效益且不會因被測試 裝置之故障而中斷整個測試流程。 在芩閱圖式及隨後描述之實施方式後，所屬技術領域具有通常 知識者便可瞭解本發明之其他目的，以及本發明之技術手段及實 施態樣。 ' 7 .200848757 【實施方式】 本發明之一第一實施例如第2圖所示，係為一用於測試具有一 連接介面之複數個裝置之系統2。該連接介面係為USB連接介面 或IEEE 1394連接介面等等。為簡明起見，圖中顯示四個待測試 I置（裝置215、217、219及221 )。系統2包含一主機21、一測 试σ又備23及龟源供應态25。測試設備23包含一微處理器203、 複數個限流模組205、207、209、211及一解碼器223。 主機21透過微處理器2〇3分別發送一致能訊號以卯w) 200至限流模組205、207、209及211 (下文中稱為2〇5〜211)， 以致能裝置215、217、219及221 (下文中稱為215〜221)。 各忒I置215〜221皆具有一連接介面。裝置215〜221分別透 過相應之連接介面而連接至相應之限流模組2〇5〜211。限流模組 205〜211可分別控制流過裝置215〜221之電流。電源供應器25 將一 5伏電壓214透過限流模組205提供至裝置215、透過限流模 組207提供至裝置217、透過限流模組2〇9提供至裝置219以及透 過限流模組211提供至裝置22卜於測試期間，主機2〇1透過微處 理器203及限流模組205〜211分別發送測試訊號2〇2、2〇4、2〇6、 208至裝置215〜221。 測試裝置215〜221時，限流模組205〜211將分別判斷流經裝 置215〜221之電流。若流過裝置215〜221其中之一（例如裝置 217)之電流被判斷為過電流，則相應之限流模組（例如限流模組 207)將發送-過電流訊號210至解碼器223。解碼器⑵解碼過 電流訊號210後，其將發送一解碼訊號212至微處理器2〇3。然 8 200848757 微處理器、203透過解碼訊號212記錄裝置2i7之測試為失敗。裝 置2im式失敗之貝戒將顯不於主機2〇1上。同時，微處理器⑽ 將心止衣置217之測蜮。更具體而言，微處理器2们將透過限流 柄組2 0 7切斷由電源2 5與/it 壯ga，，^ 挺i、、七衣置217之電壓214，藉以移除故 障^ 2Π，同時繼續進行對其它裝置2ΐ5、219及221之測試。 朴衣置 221之书流皆為正常，則主機21之一驅動器201 將透過測試設備23分別更新裝置215〜221之韋刃體（圖未緣示）， 亚辨識衣置215〜221中哪一者係為故障裝置。進一步地說，主機 2/之驅動器2〇1將透過測試設備23分別執行對裝置215〜如之 讀/寫測試’並藉由讀/寫測試之結果辨識裝置2丨5〜22丨中哪一者 係為一故障裝置。 t發明之—第二實施㈣為-種用於測試具有連接介面之複數 個L置之方法。該等介面包含咖連接介面或1EEE㈣連接介 〜杏/方法猎由—控制測試系統2之電腦程式而應用於如於 $ Λ例中所述之測試系統2。相應之流程圖料示於第3圖 中0 缺H執行步驟3Gl，發送—賴訊號明始測試複數個裝置。 置其令之^驟^〇3，接收到該測試訊號後’提供-電壓給該等裝 恭、I執仃步知3〇5，判斷流過接收到該電壓之裝置 並Ρ::::大於一預定值。若是’則判斷該裝置為-故障裝置， 3ΓΓ驟307,停止提供該電壓給該故障裝置並發送一過電 "丨L δΚ 5虎。然後，勃杆牛 置直令之—V &，判斷該《是否提供給其它正常裝 右叹有，則再次執行步驟3〇3，提供電壓至該等褒置 200848757 其t之另—者。 若於步驟305 t，流過接收到該電壓之裝置之^ 值，則辨識該裝置為一正常穿 电* 於預定 B ^ ㊉衣置然後執仃步驟309,判斷# +颅 疋否已提供給其它正常裝置。 丨断6亥电壓 若於步驟309中，麟已提 驟3U，更新这此不⑼恶 句止吊衣置，則執行步 此正… 之，。最後’執行步驟3U，對這 一 书衣置執行一讀/寫測試。 =二圖所示於第二實施例中所描緣之步驟外，第二實施 亦此執仃第一實施例之所有操作。孰習此頂# 一^此項技術者藉由第一實 σ ’、解第二實施例之相應步驟或操作，故不贅述。 :上所述，本發明能夠測試複數個裝置，而不限定被測裝置之 f。所有裝置皆可同時加以測試。因此，本發明可降低測試成 本’且整體測試流程不會因其中之_裝置的故障而中斷。 上述之貝％例僅用來例舉本發明之實施態樣，以及闇釋本發明 之技=特徵’並非絲限制本發明之料。任何熟悉此技術者可 幸二易凡成之改變或均等性之安排均屬於本發明所主張之範圍，本 發明之權利範圍應以申請專利範圍為準。 【圖式簡單說明】 第1圖係繪示一習知測試系統之方塊圖； 第2圖係績示本發明之—第—實施例之方塊圖·，以及 第3圖係緣示本發明之—第二實施例之—流程圖。 10 200848757 【主要元件符號說明】 2 :系統 21 :主機 25 :電源供應器 1 :測試系統 11 :主機 2 3 :測試設備 101、102、103、…、126 :待測裝置 200 :致能訊號 201 :驅動器 202 > 204、206、208 :測試訊號 203 :微處理器 210 :過電流訊號

205、207、209、211 :限流模組 212 :解碼訊號 214 :電壓 215、217、219、221 :裝置 223 :解碼器

Claims (1)

1. 200848757 十、申請專利範圍： 1. -種用於測試具有-連接介面之至少—裝置之_設備，白 含： ^ 一微處理器；以及 至少-限流模組，電性連接至該微處理器及該至少_裝 置，用以提供一電壓至該至少一裝置； f ;其中，當流過該至少-裝置之—電流大於―預定值時， 該至少-限频組停止提供該電壓至駐少_裝置，並發送 一過電流訊號至該微處理器。 2. 如請求項1之測試設備，更包含-解碼器，其中該微處理器 透過销碼H接㈣過電流城，㈣識駐少 故障裝置。 、置马一 3. :請求項1之職設備，其中該連接介面係為—通用序列匯 机排awrsal SeriaI Bus; USB)連接介面以及一 _⑽ 連接介面其中之一。 4. -種用於測試具有—連接介面之至少—裝置之系統，包含·· 一主機，用以發送一測試訊號； 一測試設備，電性連接至該主機及該至少一裝置，用以 於接收該測試訊號後提供—電壓至該至少m及 -電源供應器’用以提供該電屋至該測試設備； 其中，當流過該至少一裝置之一電流大於一預定值時， Γ測試設備停讀供該電駐該至少-裝置，並發送-過電 流矾號至該主機。 12 200848757 5·如明求項4之系統，其中該測試設備包含： 一微處理器；以及 至少一限流模組，電性連接至該微處理器、該至少一壯 置及4電源供應器，用以提供該電壓至該至少一裝置· 其中’當流過該至少-裝置之電流大於該料值時，該 微二理，讀組停止提供該電壓至該至少-裝置，並透過該 ^处里态發送該過電流訊號至該主機。

   6·如請求項5之系統，其中該測試設備更包含一解碼哭 處理器透過該解碼器接收該過電流訊號，以辨識該二：裝 置為一故障裝置。

   8. 9· 10. 如5月求項4之系統’其中該連接介面係為—通用序列匯流排 連接介面以及一 ΙΕΕΕ1394連接介面其中之一。 士。月求項4之系統’其中該主機包含—驅動器，用以透過該 測試設備更新該至少一裝置之一韌體。 立月长項8之系統，其中當該至少—裝置之勒體於更新時故 障，則該至少一裝置被辨識為一故障裝置。 月长員4之系統，其中該主機更包含一驅動器，用以透過 該測試設備執行該至少一裝置之一讀/寫測試。 ^明求項1〇之系統，其中該至少一裝置於該讀/寫測試時故 11早，則該至少一裝置被辨識為一故障裝置。 一種用於賴具有-連接介面之至少—裝置之方法，包含下 列步驟： 發送一測試訊號； 13 12. 200848757 接收該測試訊號後，提供一電壓至該至少一裝置· 當流過該至少一裝置之-電流大於一預定值時，停 供该電壓至該至少一裝置，·以及 發送一過電流訊號。 ^ 口巧〆 13 ^ Γ 'ψ ^ ^ 因應該過電流訊號，辨識該至少一壯 ,^ ^ 衣置為—故障裝置。 •“求項12之方法，其中該連接介 i奉接八二η ττ^ 通用序列匯流排 連接7丨面以及一 ΙΕΕΕ1394連接介面其中之一。 •士。月求項12之方法，更包含以下步驟· 當流過該至少-裝置之電流不大於 至少-裝置之-韌體。 …預义值時，更新該 14 奢广 \ 15 16·如請求項15之方法，更包含以下步驟： 對該至少一裝置執行―讀/寫㈣。 # Κ 14